JP2021085077A - 複合めっき材およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
まず、炭素粒子として平均粒径5μmの人造黒鉛粒子(日本黒鉛工業株式会社製の塊状黒鉛PAG−3000)を用意した。この炭素粒子の平均粒径は、レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(マイクロトラック・ベル株式会社製のMT3000II)により測定した。この炭素粒子について、卓上型X線回折装置(BRUKER社製のD2 PHASER)により、CuKα管球を用いて、管電圧を30kV、管電流10mAとして、X線回折(XRD)測定を行った。このX線回折測定により得られたX線回折パターンから、この炭素粒子は、菱面体晶系と六方晶系の黒鉛構造を含んでいることがわかった。また、炭素粒子のX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合(%)を算出したところ、炭素粒子の菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度をそれぞれr(101)およびr(102)とし、六方晶系の回折ピークの積分強度をそれぞれh(101)およびh(102)とすると、[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]=26%であった。
炭素粒子としてX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]が21%である以外は、実施例1と同様の人造黒鉛粒子を用意し、実施例1と同様の方法により、この炭素粒子の酸化処理を行うとともに、Agストライクめっきを行った後に、電気めっき時間を50秒間とした以外は、実施例1と同様の方法により、複合めっき皮膜(Ag−Cめっき皮膜)が素材上に形成された複合めっき材を作製した。
炭素粒子としてX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]が24%である以外は、実施例1と同様の人造黒鉛粒子を用意し、実施例1と同様の方法により、この炭素粒子の酸化処理を行うとともに、Agストライクめっきを行った後に、電気めっき時間を500秒間とした以外は、実施例1と同様の方法により、複合めっき皮膜(Ag−Cめっき皮膜)が素材上に形成された複合めっき材を作製した。
炭素粒子としてX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]が26%である以外は、実施例1と同様の人造黒鉛粒子を用意し、実施例1と同様の方法により、この炭素粒子の酸化処理を行った。また、素材をカソード、Ni電極板をアノードとして使用して、80g/Lのスルファミン酸ニッケルと45g/Lのホウ酸からなるニッケルめっき浴中において、液温45℃、電流密度4A/dm2で攪拌しながら30秒間電気めっき(Niめっき)を行って、素材上に厚さ0.3μmのNiめっき皮膜を形成した。次に、実施例1と同様の方法により、Agストライクめっきを行った後、複合めっき皮膜(Ag−Cめっき皮膜)が素材上に形成された複合めっき材を作製した。
実施例1と同様の方法により、Agストライクめっきを行った後に、炭素粒子を添加しない銀めっき液を使用した以外は、実施例1と同様の方法により、Agめっき皮膜が素材上に形成された銀めっき材を作製した。
3g/Lのシアン化銀カリウムと90g/Lのシアン化カリウムを含むシアン系Agストライクめっき液を使用して、電流密度3A/dm2で10秒間電気めっきを行った以外は、実施例1と同様の方法により、Agストライクめっきを行い、シアン化銀とシアン化ナトリウムとアンチモンと60g/LのAgを含むシアン系AgSbめっき液(日進化成株式会社製)を使用して、このシアン系AgSbめっき液に炭素粒子を添加しないで、電流密度1A/dm2で450秒間電気めっきを行った以外は、実施例1と同様の方法により、AgSbめっき皮膜が素材上に形成されたAgSbめっき材を作製した。
まず、炭素粒子として平均粒径5μmの鱗片状黒鉛粒子(SEC社製のSN−5)を用意した。この炭素粒子について、実施例1と同様の方法により、X線回折(XRD)測定を行い、このX線回折測定により得られたX線回折パターンから、この炭素粒子は、菱面体晶系と六方晶系の黒鉛構造を含み、炭素粒子のX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合(%)を算出したところ、[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]=45%であることがわかった。
まず、炭素粒子として平均粒径5μmの鱗片状黒鉛粒子(日本黒鉛工業株式会社製のJ−CPB)を用意した。この炭素粒子について、実施例1と同様の方法により、X線回折(XRD)測定を行い、このX線回折測定により得られたX線回折パターンから、この炭素粒子は、菱面体晶系と六方晶系の黒鉛構造を含み、炭素粒子のX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合(%)を算出したところ、[r(101)+r(102)]×100/[r(101)+r(102)+h(101)+h(102)]=51%であることがわかった。
Claims (14)
- 炭素粒子を添加した銀めっき液を使用して電気めっきを行うことにより、銀層中に炭素粒子を含有する複合材からなる複合めっき皮膜を素材上に形成して複合めっき材を製造する方法において、炭素粒子として人造黒鉛粒子を使用することを特徴とする、複合めっき材の製造方法。
- 前記炭素粒子が菱面体晶系と六方晶系の黒鉛構造を含み、前記炭素粒子のX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合が40%以下であることを特徴とする、請求項1に記載の複合めっき材の製造方法。
- 前記銀めっき液がスルホン酸系銀めっき液であることを特徴とする、請求項1または2に記載の複合めっき材の製造方法。
- 前記炭素粒子が、酸化処理を行った炭素粒子であることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれかに記載の複合めっき材の製造方法。
- 前記素材が銅または銅合金からなることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれかに記載の複合めっき材の製造方法。
- 前記複合めっき皮膜を形成する前に、前記素材上に下地めっき皮膜を形成することを特徴とする、請求項1乃至5のいずれかに記載の複合めっき材の製造方法。
- 銀層中に炭素粒子を含有する複合材からなる複合めっき皮膜が素材上に形成された複合めっき材において、炭素粒子が人造黒鉛粒子であることを特徴とする、複合めっき材。
- 前記炭素粒子が菱面体晶系と六方晶系の黒鉛構造を含み、前記炭素粒子のX線回折測定による菱面体晶系および六方晶系のそれぞれの(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計に対する菱面体晶系の(101)面および(102)面の回折ピークの積分強度の合計の割合が40%以下であることを特徴とする、請求項7に記載の複合めっき材。
- 前記複合めっき皮膜中の炭素含有量が0.5〜5質量%であることを特徴とする、請求項7または8に記載の複合めっき材。
- 前記複合めっき皮膜の厚さが0.5〜15μmであることを特徴とする、請求項7乃至9のいずれかに記載の複合めっき材。
- 前記複合めっき皮膜の表面のビッカース硬さHVが100以下であることを特徴とする、請求項7乃至10のいずれかに記載の複合めっき材。
- 前記素材が銅または銅合金からなることを特徴とする、請求項7乃至11のいずれかに記載の複合めっき材。
- 前記複合めっき皮膜と前記素材との間に下地めっき皮膜が形成されていることを特徴とする、請求項7乃至12のいずれかに記載の複合めっき材。
- 前記複合めっき材から切り出した試験片を平板状試験片とするとともに、インデント加工として内側R=1.0mmの半球状の打ち出し加工をした素材に厚さ5μmのAgSbめっき皮膜が形成されたビッカース硬さHV180のAgSbめっき材をインデント付き試験片とし、摺動摩耗試験機により、平板状試験片にインデント付き試験片を一定の加重2Nで押し当てながら、摺動距離10mm、摺動速度3mm/sで往復摺動動作を行ったときの300回目の往復摺動動作の往路の摩擦係数が0.4以下であることを特徴とする、請求項7乃至13のいずれかに記載の複合めっき材。
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