JP2021075353A

JP2021075353A - 診断装置

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Publication number: JP2021075353A
Application number: JP2019202584A
Authority: JP
Inventors: 妙子吉岡; Taeko Yoshioka
Original assignee: Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd
Current assignee: Mitsubishi Electric Building Solutions Corp
Priority date: 2019-11-07
Filing date: 2019-11-07
Publication date: 2021-05-20
Anticipated expiration: 2039-11-07
Also published as: CN112777440B; CN112777440A; JP6996540B2

Abstract

【課題】エレベーターの点検を行う作業者が、インジケーターの診断を主観に因らず且つ容易に行うことができる診断装置を提供する。
【解決手段】診断装置１４は、例えばカバー１５、輝度計１６、判定部２２、表示器１９、及び表示制御部２３を備える。カバー１５は、インジケーター１１の表面の少なくとも一部を覆う。輝度計１６は、カバー１５に覆われた上記一部の輝度を計測する。判定部２２は、輝度計１６によって計測された輝度に基づいて、インジケーター１１の劣化状態を判定する。表示制御部２３は、判定部２２による判定結果を表示器１９に表示する。
【選択図】図２

Description

この発明は、エレベーターに備えられたインジケーターを診断する装置に関する。

特許文献１に、エレベーター装置が記載されている。特許文献１に記載されたエレベーター装置は、かごにインジケーターを備える。インジケーターは、多数のＬＥＤ素子を備える。かごに備えられた監視カメラによってインジケーターが撮影され、その画像データからＬＥＤ素子の劣化が検出される。

特開２０１７−２０２８９０号公報

特許文献１に記載されたエレベーター装置では、インジケーターの劣化を検出するために、監視カメラからの画像データを解析する装置をかごに設置しなければならない。上記装置を備えていない既設のエレベーター装置では、例えば定期的に行われる点検時に、作業者が目視によってインジケーターの診断を行わなければならず、診断結果が作業者の主観に依存するといった問題があった。

この発明は、上述のような課題を解決するためになされた。この発明の目的は、エレベーターの点検を行う作業者が、インジケーターの診断を主観に因らず且つ容易に行うことができる診断装置を提供することである。

この発明に係る診断装置は、インジケーターの表面の少なくとも一部を覆うためのカバーと、カバーに覆われた一部の明るさを計測する計測器と、計測器によって計測された明るさに基づいて、インジケーターの劣化状態を判定する判定手段と、表示器と、判定手段による判定結果を表示器に表示する表示制御手段と、を備える。

この発明に係る診断装置を使用することにより、エレベーターの点検を行う作業者は、インジケーターの診断を主観に因らず且つ容易に行うことができる。

エレベーター装置の例を示す図である。実施の形態１における診断装置の例を示す図である。図２のＡ−Ａ断面を示す図である。診断装置を使用した診断方法の例を示すフローチャートである。記憶部に記憶された第１関数を説明するための図である。記憶部に記憶された第２関数を説明するための図である。診断装置を使用してインジケーターの他の部分を診断する例を示す。本体のハードウェア資源の例を示す図である。本体のハードウェア資源の他の例を示す図である。

添付の図面を参照し、本発明を説明する。重複する説明は、適宜簡略化或いは省略する。各図において、同一の符号は同一の部分又は相当する部分を示す。

実施の形態１．
図１は、エレベーター装置の例を示す図である。エレベーター装置は、かご１及びつり合いおもり２を備える。かご１は、昇降路３を上下に移動する。つり合いおもり２は、昇降路３を上下に移動する。かご１及びつり合いおもり２は、主ロープ４によって昇降路３に吊り下げられる。

主ロープ４は、巻上機５の駆動綱車６に巻き掛けられる。かご１は、巻上機５によって駆動される。巻上機５は、制御装置７によって制御される。図１は、昇降路３の上方の機械室８に巻上機５及び制御装置７が設置される例を示す。巻上機５及び制御装置７は、昇降路３に設置されても良い。巻上機５が昇降路３に設置される場合、巻上機５は、昇降路３の頂部に設置されても良いし、昇降路３のピットに設置されても良い。

図１は、かご１がある階の乗場９に停止している例を示す。乗場９にインジケーター１０が設けられる。インジケーター１０は、乗場９にいるエレベーターの利用者に情報を提供する機能を有する。例えば、インジケーター１０は、ＬＥＤディスプレイを備える。インジケーター１０は、乗場９にいる利用者が呼びを登録するための機能を有しても良い。例えば、インジケーター１０は、乗場釦或いは行先釦を備える。乗場釦にＬＥＤランプが内蔵される。行先釦にＬＥＤランプが内蔵される。

かご１は、インジケーター１１を備える。インジケーター１１は、かご１の中にいる利用者に情報を提供する機能を有する。例えば、インジケーター１１は、ＬＥＤディスプレイ１２を備える。インジケーター１１は、かご１の中にいる利用者が呼びを登録するための機能を有しても良い。例えば、インジケーター１１は複数の行先釦１３を備える。かご１の中にいる利用者は、自分が行きたい階の行先釦１３を押すことにより、行先呼びを登録することができる。各行先釦１３にＬＥＤランプが内蔵される。ＬＥＤランプは、行先釦１３が押されると発光する発光体の一例である。例えば、ある行先釦１３が押されると、その行先釦１３に内蔵されたＬＥＤランプが点灯する。

図２は、実施の形態１における診断装置１４の例を示す図である。図３は、図２のＡ−Ａ断面を示す図である。診断装置１４は、エレベーターの点検を行う作業者が、インジケーター１０及び１１を診断する際に用いる装置である。以下においては、診断装置１４によってインジケーター１１を診断する例について詳しく説明する。診断装置１４は、例えばカバー１５、輝度計１６、ケーブル１７、及び本体１８を備える。

カバー１５は、インジケーター１１の表面のうち診断の対象となる部分を覆うための部材である。カバー１５によって覆われた部分は遮光される。図２及び図３は、カバー１５によってインジケーター１１の表面の一部、即ちＬＥＤディスプレイ１２が覆われる例を示す。インジケーター１１が行先釦１３を備えていなければ、カバー１５によってインジケーター１１の表面全体が覆われても良い。

輝度計１６は、カバー１５によって覆われた部分の明るさを計測する計測器の一例である。輝度計１６は、カバー１５に設けられる。輝度計１６は、カバー１５によって覆われた部分の輝度を計測する。図２及び図３に示す例では、カバー１５によって覆われたＬＥＤディスプレイ１２の輝度が輝度計１６によって計測される。輝度計１６によって計測された輝度の情報は、ケーブル１７を介して本体１８に送られる。輝度計１６によって計測された輝度の情報は、本体１８に無線送信されても良い。

本体１８は、例えば表示器１９、記憶部２０、算出部２１、判定部２２、及び表示制御部２３を備える。判定部２２は、輝度計１６によって計測された輝度に基づいて、インジケーター１１の劣化状態を判定する。判定部２２は、記憶部２０に記憶された内容及び算出部２１による算出結果に基づいて、上記判定を行う。表示制御部２３は、表示器１９を制御する。判定部２２による判定結果は、表示制御部２３によって表示器１９に表示される。

以下に、図４から図６も参照し、診断装置１４の機能について説明する。図４は、診断装置１４を使用した診断方法の例を示すフローチャートである。

例えば、作業者は、エレベーターの点検時に診断装置１４によるインジケーター１１の診断を行う。作業者は、先ず、図２及び図３に示すようにカバー１５によってＬＥＤディスプレイ１２を覆う（Ｓ１０１）。カバー１５によってＬＥＤディスプレイ１２が覆われると、かご１内を照らす照明からの光は、ＬＥＤディスプレイ１２の表面に当たらない。

次に、作業者は、カバー１５によって覆われた部分の輝度、即ちＬＥＤディスプレイ１２の輝度を輝度計１６によって計測する（Ｓ１０２）。例えば、インジケーター１１に備えられた特定のスイッチを入れると、ＬＥＤディスプレイ１２の明るさが最大になる。他の例として、インジケーター１１が本体１８から特定の信号を受信すると、ＬＥＤディスプレイ１２の明るさが最大になる。輝度計１６による輝度の計測は、ＬＥＤディスプレイ１２の明るさが最大の状態で行われる。Ｓ１０２では、例えば、ＬＥＤディスプレイ１２の表面に含まれる複数の箇所の輝度が輝度計１６によって計測される。輝度計１６によって計測された輝度の情報は、本体１８に送信される。

図４のＳ１０３からＳ１１０に示す処理は、本体１８の動作を示す。本体１８では、輝度計１６から輝度の情報を取得したか否かが判定される（Ｓ１０３）。Ｓ１０３でＹｅｓと判定されると、算出部２１は、インジケーター１１の診断に必要な値を算出する（Ｓ１０４）。本実施の形態では、算出部２１が、上記複数の箇所の輝度の平均値Ｖ_Ａと上記複数の箇所の輝度のばらつきに関する評価値Ｖ_ＤとをＳ１０４において算出する例を示す。算出部２１は、Ｓ１０４において平均値Ｖ_Ａのみを算出しても良い。算出部２１は、Ｓ１０４において評価値Ｖ_Ｄのみを算出しても良い。算出部２１は、評価値Ｖ_Ｄとして、標準偏差を算出しても良いし、最大値と最小値との差を算出しても良い。算出部２１は、Ｓ１０４において、前回算出した平均値Ｖ_Ａと今回算出した平均値Ｖ_Ａとの差を求めても良い。

判定部２２は、算出部２１が算出した値に基づいて、インジケーター１１の劣化状態を判定する。本実施の形態では、算出部２１が、算出した平均値Ｖ_ＡからＬＥＤディスプレイ１２の残り寿命Ｙ_ＡＲを更に算出する例を示す。また、本実施の形態に示す例では、算出部２１は、算出したから評価値Ｖ_Ｄから残り寿命Ｙ_ＤＲを更に算出する。

例えば、記憶部２０に、Ｓ１０４で算出された平均値Ｖ_Ａから診断対象部品の残り寿命Ｙ_ＡＲを導くための第１関数が記憶される。図２及び図３に示す例では、上記診断対象部品はＬＥＤディスプレイ１２である。図５は、記憶部２０に記憶された第１関数を説明するための図である。図５に示す寿命曲線Ｃ_Ａは、実験データ等から求められ、記憶部２０に予め登録される。寿命曲線Ｃ_ＡからＬＥＤディスプレイ１２の寿命年数Ｙ_ＡＬを導くための閾値Ｖ_ＡＴＨは、予め設定される。

算出部２１は、寿命曲線Ｃ_ＡとＳ１０４で算出した平均値Ｖ_ＡとからＬＥＤディスプレイ１２の現在の使用年数Ｙ_Ａを求める。算出部２１は、寿命年数Ｙ_ＡＬから現在の使用年数Ｙ_Ａを減算することにより、ＬＥＤディスプレイの残り寿命Ｙ_ＡＲを算出する（Ｓ１０５）。

判定部２２は、算出部２１によって算出された残り寿命Ｙ_ＡＲが０より大きいか否かを判定する（Ｓ１０６）。残り寿命Ｙ_ＡＲが０以下の場合（Ｓ１０６のＮｏ）、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定する。例えば、判定部２２は、ＬＥＤディスプレイ１２の交換、或いはＬＥＤディスプレイ１２を構成するモジュールの交換が必要なことを判定する。Ｓ１０６でＮｏと判定されると、表示制御部２３は、判定部２２による判定結果を表示器１９に表示する（Ｓ１０７）。例えば、Ｓ１０６でＮｏと判定されると、十分な明るさが得られていない旨が表示器１９に表示される。

Ｓ１０６でＹｅｓと判定されると、評価値Ｖ_Ｄに基づく判定が行われる。例えば、記憶部２０に、Ｓ１０４で算出された評価値Ｖ_Ｄから診断対象部品の残り寿命Ｙ_ＤＲを導くための第２関数が記憶される。図６は、記憶部２０に記憶された第２関数を説明するための図である。図６に示す寿命曲線Ｃ_Ｄは、実験データ等から求められ、記憶部２０に予め登録される。寿命曲線Ｃ_ＤからＬＥＤディスプレイ１２の寿命年数Ｙ_ＤＬを導くための閾値Ｖ_ＤＴＨは、予め設定される。

算出部２１は、寿命曲線Ｃ_ＤとＳ１０４で算出した評価値Ｖ_ＤとからＬＥＤディスプレイ１２の現在の使用年数Ｙ_Ｄを求める。算出部２１は、寿命年数Ｙ_ＤＬから現在の使用年数Ｙ_Ｄを減算することにより、ＬＥＤディスプレイの残り寿命Ｙ_ＤＲを算出する（Ｓ１０８）。

判定部２２は、算出部２１によって算出された残り寿命Ｙ_ＤＲが０より大きいか否かを判定する（Ｓ１０９）。残り寿命Ｙ_ＤＲが０以下の場合（Ｓ１０９のＮｏ）、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定する。例えば、判定部２２は、ＬＥＤディスプレイ１２の交換、或いはＬＥＤディスプレイ１２を構成するモジュールの交換が必要なことを判定する。Ｓ１０９でＮｏと判定されると、表示制御部２３は、判定部２２による判定結果を表示器１９に表示する（Ｓ１０７）。例えば、Ｓ１０９でＮｏと判定されると、十分な明るさが得られていない旨が表示器１９に表示される。

Ｓ１０９でＹｅｓと判定されると、判定部２２は、Ｓ１０５で算出された残り寿命Ｙ_ＡＲとＳ１０８で算出された残り寿命Ｙ_ＤＲとを比較する（Ｓ１１０）。Ｓ１０９でＹｅｓと判定されると、表示制御部２３は、例えば残り寿命Ｙ_ＡＲが残り寿命Ｙ_ＤＲより短ければ、残り寿命Ｙ_ＡＲに基づく表示を表示器１９に行う。例えば、表示器１９に、「あと２．５年使用可能です。」と表示される。

このように、本実施の形態に示す診断装置１４を使用することにより、作業者は、インジケーター１１の診断を主観に因らず且つ容易に行うことができる。

本実施の形態では、表示器１９に、ＬＥＤディスプレイ１２の使用可能年数が表示される例について説明した。これは一例である。例えば、Ｓ１０４で平均値Ｖ_Ａが算出されると、判定部２２は、算出された平均値Ｖ_Ａに基づいて、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じているか否かのみを判定しても良い。例えば、判定部２２は、Ｓ１０４で平均値Ｖ_Ａが算出されると、算出された平均値Ｖ_Ａが閾値Ｖ_ＡＴＨ以下であるか否かを判定する。平均値Ｖ_Ａが閾値Ｖ_ＡＴＨ以下であれば、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定する。平均値Ｖ_Ａが閾値Ｖ_ＡＴＨ以下より大きければ、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定しない。

同様に、Ｓ１０４で評価値Ｖ_Ｄが算出されると、判定部２２は、算出された評価値Ｖ_Ｄに基づいて、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じているか否かのみを判定しても良い。例えば、判定部２２は、Ｓ１０４で評価値Ｖ_Ｄが算出されると、算出された評価値Ｖ_Ｄが閾値Ｖ_ＤＴＨ以上であるか否かを判定する。評価値Ｖ_Ｄが閾値Ｖ_ＤＴＨ以上であれば、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定する。評価値Ｖ_Ｄが閾値Ｖ_ＤＴＨより小さければ、判定部２２は、インジケーター１１に部品の交換が必要な劣化が生じていることを判定しない。

他の例として、本体１８は、通信部２４及び更新部２５を更に備えても良い。通信部２４は、外部の情報センターと通信する。情報センターは、多数のエレベーター装置から情報を取得する。これにより、情報センターにおいて第１関数及び第２関数が学習される。通信部２４は、学習された第１関数及び第２関数を情報センターから取得する。更新部２５は、通信部２４が情報センターから取得した情報に基づいて、記憶部２０に記憶された第１関数及び第２関数を更新する。

また、本体１８が通信部２４を備える場合、第１関数及び第２関数は情報センターに記憶されても良い。例えば、通信部２４は、Ｓ１０５で算出部２１が残り寿命Ｙ_ＡＲを算出する際に情報センターから第１関数を取得する。これにより、常に最新の第１関数に基づいて残り寿命Ｙ_ＡＲを算出することができる。同様に、通信部２４は、Ｓ１０８で算出部２１が残り寿命Ｙ_ＤＲを算出する際に情報センターから第２関数を取得する。これにより、常に最新の第２関数に基づいて残り寿命Ｙ_ＤＲを算出することができる。

また、情報センターに、エレベーター装置の機種ごとの第１関数及び第２関数が記憶されても良い。かかる場合、通信部２４は、Ｓ１０５で算出部２１が残り寿命Ｙ_ＡＲを算出する際に情報センターに機種の情報を送信し、その機種に対応する第１関数を情報センターから取得する。同様に、通信部２４は、Ｓ１０８で算出部２１が残り寿命Ｙ_ＤＲを算出する際に情報センターに機種の情報を送信し、その機種に対応する第２関数を情報センターから取得する。これにより、残り寿命Ｙ_ＡＲ及び残り寿命Ｙ_ＤＲをより高精度に算出することが可能となる。

図７は、診断装置１４を使用してインジケーター１１の他の部分を診断する例を示す。図７に示す例では、カバー１５によって複数の行先釦１３が覆われる。かかる場合、行先釦１３に内蔵されたＬＥＤランプの輝度が輝度計１６によって計測される。なお、図７に示す行先釦１３ａは行先釦１３の一つであり、ロビー階に対応した行先釦である。インジケーター１１に備えられた行先釦１３の中で行先釦１３ａが最も押される回数が多い。このため、行先釦１３ａに内蔵されたＬＥＤランプは、行先釦１３に内蔵されたＬＥＤランプの中で最も点灯回数が多い。図７に示す例では、カバー１５が複数の行先釦１３を覆う特定の位置に配置されると、行先釦１３ａに内蔵されたＬＥＤランプは、輝度計１６が輝度を計測する複数の箇所の一つに配置されることが望ましい。

本実施の形態において、符号２０〜２５に示す各部は、本体１８が有する機能を示す。図８は、本体１８のハードウェア資源の例を示す図である。本体１８は、ハードウェア資源として、プロセッサ３１とメモリ３２とを含む処理回路３０を備える。記憶部２０の機能は、メモリ３２によって実現される。メモリ３２は、例えば半導体メモリである。本体１８は、メモリ３２に記憶されたプログラムをプロセッサ３１によって実行することにより、符号２１〜２５に示す各部の機能を実現する。

図９は、本体１８のハードウェア資源の他の例を示す図である。図９に示す例では、本体１８は、プロセッサ３１、メモリ３２、及び専用ハードウェア３３を含む処理回路３０を備える。図９は、本体１８が有する機能の一部を専用ハードウェア３３によって実現する例を示す。本体１８が有する機能の全部を専用ハードウェア３３によって実現しても良い。専用ハードウェア３３として、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、又はこれらの組み合わせを採用できる。

１かご、２つり合いおもり、３昇降路、４主ロープ、５巻上機、６駆動綱車、７制御装置、８機械室、９乗場、１０インジケーター、１１インジケーター、１２ＬＥＤディスプレイ、１３行先釦、１４診断装置、１５カバー、１６輝度計、１７ケーブル、１８本体、１９表示器、２０記憶部、２１算出部、２２判定部、２３表示制御部、２４通信部、２５更新部、３０処理回路、３１プロセッサ、３２メモリ、３３専用ハードウェア

Claims

エレベーターに備えられたインジケーターを診断するための装置であって、
前記インジケーターの表面の少なくとも一部を覆うためのカバーと、
前記カバーに覆われた前記一部の明るさを計測する計測器と、
前記計測器によって計測された明るさに基づいて、前記インジケーターの劣化状態を判定する判定手段と、
表示器と、
前記判定手段による判定結果を前記表示器に表示する表示制御手段と、
を備えた診断装置。
前記計測器は、前記カバーに設けられた請求項１に記載の診断装置。
算出手段を更に備え、
前記計測器は、前記一部に含まれる複数の箇所の明るさを計測し、
前記算出手段は、前記計測器によって計測された前記複数の箇所の明るさの平均値を算出し、
前記判定手段は、前記算出手段によって算出された前記平均値に基づいて、前記インジケーターに部品の交換が必要な劣化が生じているか否かを判定する請求項１又は請求項２に記載の診断装置。
前記算出手段によって算出された前記平均値から前記部品の残り寿命を導くための関数を記憶する記憶手段と、
外部の情報センターと通信する通信手段と、
前記通信手段が前記情報センターから取得した情報に基づいて、前記関数を更新する更新手段と、
を更に備えた請求項３に記載の診断装置。
前記算出手段は、前記計測器によって計測された前記複数の箇所の明るさのばらつきに関する評価値を算出し、
前記判定手段は、前記算出手段によって算出された前記評価値に基づいて、前記インジケーターに部品の交換が必要な劣化が生じているか否かを判定する請求項３又は請求項４に記載の診断装置。
前記インジケーターは、
複数の行先釦と、
前記複数の行先釦のうち最も押される回数が多い行先釦が押されると発光する発光体と、
を備え、
前記計測器は、前記一部に含まれる複数の箇所の明るさを計測し、
前記カバーが前記複数の行先釦を覆う特定の位置に配置されると、前記発光体は前記複数の箇所の一つに配置される請求項１から請求項５の何れか一項に記載の診断装置。