JP2021057646A - 方向性結合器、および、電子部品モジュール - Google Patents
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Abstract
【課題】形状の大型化を抑制しながら、大きな結合度を得る。【解決手段】方向性結合器10は、基板11、主線路121、主線路122、および、副線路131を備える。主線路121および122主線路とは、基板11に形成された導体パターンを含み、並列接続されている。副線路131は、基板11に形成された導体パターンを含む。副線路131は、基板11の平面視において、主線路121と少なくとも一部で重なる位置に、配置されている。【選択図】 図1
Description
本発明は、基板に主線路と副線路とを形成した方向性結合器、および、この方向性結合器を含む電子部品モジュールに関する。
特許文献1、2には、方向性結合器が開示されている。特許文献1、2に示す方向性結合器は、誘電体の基板、それぞれが導体パターンからなる主線路および副線路を備える。主線路と副線路とは、基板の同一層に配置されている。
しかしながら、特許文献1、2に記載の方向性結合器では、全体形状を大型化することなく、主線路と副線路との結合度を大きくすることが難しい。例えば、特許文献1、2に記載の方向性結合器では、所望の(大きな)結合度を得るために、主線路と副線路における結合に寄与する部分を長くしなければならず、基板が大型化してしまう。
したがって、本発明の目的は、形状の大型化を抑制しながら、大きな結合度を得やすい方向性結合器を提供することにある。
この発明の方向性結合器は、基板、第1主線路、第2主線路、および、第1副線路を備える。基板は、互いに対向する第1主面と第2主面とを有する。第1主線路および第2主線路とは、基板に形成された導体パターンを含み、並列接続されている。第1副線路は、基板に形成された導体パターンを含む。線路と少なくとも一部で重なる位置に、配置されている。
この構成では、第1主線路と第1副線路とは、導体パターンの主面が対向するように配置される。導体パターンは、通常、側面の面積に比べて主面の面積が大きい。これにより、第1主線路と第1副線路と電界結合が大きくなり、結合度は、向上する。
この発明によれば、形状の大型化を抑制しながら、大きな結合度を得やすい。
[第1の実施形態]
本発明の第1の実施形態に係る方向性結合器および電子部品モジュールについて、図を参照して説明する。図1(A)は、第1の実施形態に係る電子部品モジュールの構成を示す概略的な側面断面図であり、図1(B)は、第1の実施形態に係る方向性結合器の主要構成を示す概略的な側面断面図である。図2は、第1の実施形態に係る電子部品モジュールの構成を示す分解斜視図である。なお、図1(A)、図1(B)、図2において、構成を分かり易くするため、寸法は、適宜、強調している。
本発明の第1の実施形態に係る方向性結合器および電子部品モジュールについて、図を参照して説明する。図1(A)は、第1の実施形態に係る電子部品モジュールの構成を示す概略的な側面断面図であり、図1(B)は、第1の実施形態に係る方向性結合器の主要構成を示す概略的な側面断面図である。図2は、第1の実施形態に係る電子部品モジュールの構成を示す分解斜視図である。なお、図1(A)、図1(B)、図2において、構成を分かり易くするため、寸法は、適宜、強調している。
(方向性結合器10の構造)
図1(A)、図1(B)、図2に示すように、方向性結合器10は、基板11、主線路121、主線路122、副線路131、外部端子導体141、および、ランド導体142を備える。主線路121が、本発明の「第1主線路」に対応し、主線路122が、本発明の「第2主線路」に対応する。副線路131が、本発明の「第1副線路」に対応する。
図1(A)、図1(B)、図2に示すように、方向性結合器10は、基板11、主線路121、主線路122、副線路131、外部端子導体141、および、ランド導体142を備える。主線路121が、本発明の「第1主線路」に対応し、主線路122が、本発明の「第2主線路」に対応する。副線路131が、本発明の「第1副線路」に対応する。
基板11は、絶縁性材料を基材とした平板形状である。基板11は、平板形状の厚み方向に直交し、互いに対向する第1主面101と第2主面102とを有する。基板11は、例えば、絶縁性樹脂、半導体基板、または、LTCC(低温焼成セラミック基板)等によって実現される。
主線路121、主線路122、および、副線路131は、それぞれに線状または帯状の導体パターンによって形成されている。外部端子導体141、および、ランド導体142は、例えば、それぞれに矩形の導体パターンによって形成されている。なお、ここで指す「導体パターン」には、基板11に形成される、基板11の第1主面101や第2主面102に平行な導体パターンの他、基板11の厚み方向に延びる導体パターン(層間接続導体等)も含まれる。
主線路121と主線路122とは、並列接続している。主線路121と主線路122とは、外部端子導体141に接続する。副線路131は、ランド導体142に接続する。
副線路131は、主線路121および主線路122のそれぞれに対して電磁界結合する。この際、副線路131と主線路121および主線路122とにおける方向性結合器として寄与する結合部(主たる電磁界結合を生じる部分)の長さは、主線路121および主線路122に伝送され、検波の対象となる高周波信号の波長、必要とする結合度の強さ等によって決められている。
主線路121、主線路122、および、副線路131の、より具体的な位置関係は、次の通りである。
主線路121と主線路122とは、基板11の厚み方向において、異なる位置に配置されている。主線路121と主線路122とは、基板11の第1主面101および第2主面102に直交する厚み方向に視て、すなわち、基板11を平面視して、異なる位置に配置されている。ここで、「主線路121と主線路122とは、厚み方向において異なる位置に配置されている」とは、基板11が複数の層を積層してなる多層基板であった場合には、主線路121と主線路122とが、複数の層のうち互いに異なる層に形成されることである。
主線路121と主線路122とは、基板11の厚み方向において、異なる位置に配置されている。主線路121と主線路122とは、基板11の第1主面101および第2主面102に直交する厚み方向に視て、すなわち、基板11を平面視して、異なる位置に配置されている。ここで、「主線路121と主線路122とは、厚み方向において異なる位置に配置されている」とは、基板11が複数の層を積層してなる多層基板であった場合には、主線路121と主線路122とが、複数の層のうち互いに異なる層に形成されることである。
副線路131は、平面視して、主線路121に重なっている。さらに、副線路131は、厚み方向において、主線路122と同じ位置に配置されている。ここで、「副線路131は、厚み方向において、主線路122と同じ位置に配置されている」とは、例えば、基板11が複数の層を積層してなる多層基板であった場合、副線路131と主線路122とが、複数の層のうち同一の層に形成されることである。したがって、主線路121の厚み方向における位置と主線路122の厚み方向における位置とが全く同じでなく、多少のばらつきがある場合も含まれる。
そして、副線路131の少なくとも一部は、主線路121、および、主線路122に対して、所定長で並走している。なお、線路同士が並走する場合には、線路同士が平行になる場合のみではなく、線路同士が略並行になる(例えば、線路同士の間の角度が180°±10°となる)場合も含まれる。
このような構成によって、主線路121と副線路131とは、互いの主面が対向するように配置される。ここで、主線路121および副線路131を形成する導体パターンは、高さと比較して幅が大きくなりやすい。すなわち、主線路121の主面(主線路121において、基板11の厚み方向に配置される面(基板11の第1主面101や第2主面102に略平行な面))の面積は、主線路121の側面(主線路121において、基板11の厚み方向に直交する方向に配置される面(基板11の第1主面101や第2主面102に略直交する面))の面積よりも大きい。
同様に、副線路131の主面(副線路131において、基板11の厚み方向に配置される面(基板11の第1主面101や第2主面102に略平行な面))の面積は、副線路131の側面(副線路131において、基板11の厚み方向に配置される面(基板11の第1主面101や第2主面102に略直交する面))の面積よりも大きい。したがって、主線路121と副線路131とは、厚み方向の同じ位置において側面が対向するように配置する従来の構成よりも、大きな電界結合(容量結合)を得やすくなる。
また、主線路121と副線路131とは、比較的近接して配置されている。例えば、主線路121と副線路131とは、基板11を形成する誘電体層の厚み程度(例えば、15μmから50μm程度)の距離で配置されている。これにより、主線路121と副線路131とは、大きな磁界結合(誘導結合)を得られる。
この結果、方向性結合器10は、従来構成よりも、主線路121および副線路131を長くすることなく、大きな電磁界結合を得られる。すなわち、方向性結合器10は、大型化を抑制しながら、大きな結合度を得やすくなる。
また、逆に、方向性結合器10は、従来構成と同じ結合度を得るための形状を小さくできる。すなわち、方向性結合器10は、従来構成と同じ結合度を得ながら、小型化できる。
さらに、主線路122と副線路131とは、基板11の厚み方向における同じ位置に配置され、近接して配置されている。例えば、主線路122と副線路131とは、15μmから50μm程度の間隔で配置されている。なお、この間隔は、導体パターンの形成精度等によって、より短くすることも可能であり、適宜調整も可能である。この構成によって、主線路122と副線路131とは、電磁界結合する。
このため、副線路131には、並列接続された主線路121および主線路122のそれぞれに対する電磁界結合で得た検波用の高周波信号が流れる。これにより、副線路131に流れる検波用の高周波信号は大きくなり、実質的に電磁界結合をさらに大きくできる。したがって、方向性結合器10は、大型化をさらに抑制しながら、従来構成よりもさらに大きな結合度を得ることができる。
また、この構成では、主線路121と主線路122とが重なる箇所が無い。これにより、主線路121と主線路122とに流れる電流分布の偏りを小さくできる。したがって、方向性結合器10は、結合部での等価直列抵抗を小さくでき、挿入損失ILを小さくできる。
また、この構成では、主線路121と主線路122とが並列接続されている。これにより、結合部における主線路の幅は、実質的に大きくなる。したがって、方向性結合器10は、挿入損失ILを小さくできる。
(方向性結合器10の構造の具体的な実現例)
このような構成の方向性結合器10は、例えば、図2に示すような構成によって実現できる。
このような構成の方向性結合器10は、例えば、図2に示すような構成によって実現できる。
基板11は、誘電体層112、誘電体層113、および、誘電体層114を備える。誘電体層112、誘電体層113、および、誘電体層114は、この順で積層されている。
誘電体層112における誘電体層113側の面には、主線路121が配置されている。主線路121は、例えば、一部が欠けた環状の導体パターンである。
誘電体層113における誘電体層114に当接する面には、主線路122および副線路131が配置されている。主線路122と副線路131とは、それぞれに、例えば、一部が欠けた環状の導体パターンである。
主線路122を構成する導体パターンと副線路131を構成する導体パターンとは、それぞれの導体パターンが延びる方向に沿って、部分的に並走している。この並走する距離によって、主線路122と副線路131との結合度は調整される。
副線路131を構成する導体パターンは、平面視において、主線路121を構成する導体パターンに、部分的に重なっている。主線路121を構成する導体パターンと副線路131を構成する導体パターンとは、それぞれの導体パターンが延びる方向に沿って、部分的に並走している。これら重なる面積、並走する距離によって、主線路121と副線路131との結合度は調整される。
そして、このように、主線路121、主線路122、副線路131を構成する導体パターンが形成された誘電体層を積層することで、方向性結合器10が形成されるので、方向性結合器10は、容易な製造方法によって製造できる。また、主線路121、主線路122、副線路131を、誘電体層に配置(形成)された導体パターンによって実現するため、形状(導体パターンの形状および誘電体層の厚み)を調整可能であり、方向性結合器10は、所望の結合度を得る構造を実現し易い。
さらに、方向性結合器10は、次の構成を備える。
誘電体層112における誘電体層113に当接する面と反対側の面には、外部端子導体141が配置されている。言い換えれば、外部端子導体141は、基板11の第1主面101に配置されている(図1(A)参照)。
誘電体層112における誘電体層113に当接する面と反対側の面には、外部端子導体141が配置されている。言い換えれば、外部端子導体141は、基板11の第1主面101に配置されている(図1(A)参照)。
外部端子導体141は、例えば、矩形の導体パターンである。外部端子導体141は、平面視において、主線路121を構成する導体パターンおよび主線路122を構成する導体パターンの端部に重なっている。外部端子導体141は、基板11の厚み方向に延びる層間接続導体151を介して、主線路121および主線路122に接続する。
誘電体層114における誘電体層113に当接する面と反対側の面には、ランド導体142が配置されている。言い換えれば、ランド導体142は、基板11の第2主面102に配置されている(図1(A)参照)。
ランド導体142は、例えば、矩形の導体パターンである。ランド導体142は、平面視において、副線路131を構成する導体パターンの端部に重なっている。ランド導体142は、基板11の厚み方向に延びる層間接続導体152を介して、副線路131に接続する。
なお、図1に示す構成は一例である。方向性結合器10における誘電体層の層数、導体パターンの形成位置は、上述の、主線路121、主線路122、および、副線路132の位置関係を保持していれば、他の構成であってもよい。
(方向性結合器10の回路構成例)
このような構成によって、方向性結合器10は、図3に示す回路を実現する。図3は、第1の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
このような構成によって、方向性結合器10は、図3に示す回路を実現する。図3は、第1の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図3に示すように、方向性結合器10は、RF端子P11、RF端子P12、検波用端子P21、および、検波用端子P22を備える。RF端子P11とRF端子P12との間には、主線路121と主線路122との並列回路が接続する。検波用端子P21と検波用端子P22との間には、副線路131が接続する。
主線路121および主線路122と、副線路131とは、電磁界結合する。この構成によって、方向性結合器10は、例えば、RF端子P11から、検波対象の高周波信号を入力し、RF端子P12から、検波対象の高周波信号を出力する。また、方向性結合器10は、RF端子P11から入力された高周波信号によって励起した高周波信号(入力測定用信号)を、検波用端子P22から出力し、RF端子P12から入力された高周波信号の反射信号によって励起した高周波信号(反射測定用信号)を、検波用端子P21から出力する。
なお、方向性結合器10は、RF端子P12から入力された高周波信号によって励起した高周波信号(入力測定用信号)を、検波用端子P22から出力し、RF端子P12から入力された高周波信号の反射信号によって励起した高周波信号(反射測定用信号)を、検波用端子P21から出力してもよい。すなわち、方向性結合器10は、主線路に対する外部回路の接続方向を問わない。したがって、使い勝手の良い方向性結合器を実現できる。
具体的には、この測定の際、検波用端子P21および検波用端子P22には、入力測定用信号の測定時と、反射測定用信号の測定時において、結合出力端子または終端器が接続される。結合出力端子は、方向性結合器10の副線路を伝送する検波用信号を、検波回路などの外部回路へと出力する端子であり、終端器は方向性結合器10の副線路を伝送する検波用信号と逆方向の信号を終端させる回路である。
例えば、入力測定用信号の測定時には、結合出力端子は、検波用端子P21に接続され、終端器は、検波用端子P22に接続される。一方、反射測定用信号の測定時には、結合出力端子は、検波用端子P22に接続され、終端器は、検波用端子P21に接続される。
なお、終端器は可変であってもよい。また、上記のほかにアッテネータ、整合回路、フィルタなどが副線路と結合出力端子との間に接続されてもよい。アッテネータ、整合回路、フィルタはそれぞれその減衰量やインピーダンス、通過帯域が可変であってもよい。
そして、このような回路構成に対して、方向性結合器10が上述の構成を備えていることによって、形状を大型化することを抑制しながら、入力測定用信号および反射測定用信号のレベルを高くできる。したがって、方向性結合器10は、従来構成よりも確実に、入力測定用信号および反射測定用信号を出力できる。
(電子部品モジュール1の構成)
図1(A)、図2に示すように、電子部品モジュール1は、方向性結合器10、および、IC80を備える。方向性結合器10は、上述の構成を備える。
図1(A)、図2に示すように、電子部品モジュール1は、方向性結合器10、および、IC80を備える。方向性結合器10は、上述の構成を備える。
IC80は、機能的には、副線路131を伝搬する高周波信号から、上述の入力測定用信号および反射測定用信号を生成する回路等を備える。例えば、IC80は、上述の結合出力端子、可変終端器、および、これらの接続を切り替えるスイッチ回路を備える。なお、IC80は、これらの全てを備えていなくてもよく、一部を備えていてもよい。
IC80は、構成的には、半導体等からなる本体81とはんだバンプ82とを備える。本体81に、上述の各主回路が形成されている。IC80は、方向性結合器10に実装される。より具体的には、IC80は、はんだバンプ82をランド導体142に接合することによって、方向性結合器10の基板の第2主面102に実装される。
このような構成の電子部品モジュール1は、検波の対象となる高周波信号が伝送するマザー回路基板90に実装される。より具体的には、方向性結合器10の第1主面101に配置された外部端子導体141と、マザー回路基板90のランド導体900とを、はんだ等の導電性接合材によって接合する。
この構成では、主線路121は、副線路131よりもマザー回路基板90の近くに配置され、主線路121とマザー回路基板90との接続距離は、短くなる。これにより、方向性結合器10を伝送する高周波信号(検波対象の高周波信号)の伝送距離は、短くでき、方向性結合器10は、高周波信号(検波対象の高周波信号)の挿入損失ILを小さくできる。
また、この構成では、副線路131は、主線路121よりもIC80の近くに配置され、副線路131とIC80との接続距離は、短くなる。これにより、副線路131に励起した高周波信号(入力測定用信号および反射測定用信号の元となる信号)の伝送距離は、短くでき、方向性結合器10は、副線路131に励起した高周波信号(入力測定用信号および反射測定用信号の元となる信号)の挿入損失ILを小さくできる。
なお、上述の説明では、主線路121と副線路131とが幅方向において、完全に重なる態様を示した。しかしながら、主線路121と副線路131とは、幅方向において部分的に重なる態様であってもよい。
また、上述の説明では、主線路122と副線路131とが厚み方向の同じ位置に配置される態様を示した。しかしながら、主線路122と副線路131とは、電磁界結合すれば、厚み方向の位置が異なる態様であってもよい。
なお、方向性結合器が半導体基板に形成されている場合、IC80はなくてもよい。図4は、第1の実施形態に係る電子部品モジュールの構成の別態様を示す概略的な側面断面図である。
図4に示すように、電子部品モジュール1Zでは、マザー回路基板90に、上述の方向性結合器10の導体パターンの構成を含む基板11Zのみが実装されている。そして、図示を省略しているが、この基板11Zに、上述のIC80に形成されていた結合出力端子、可変終端器、および、これらの接続を切り替えるスイッチ回路等が、形成されている。
[第2の実施形態]
本発明の第2の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図5は、第2の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図6は、第2の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
本発明の第2の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図5は、第2の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図6は、第2の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図5、図6に示すように、第2の実施形態に係る方向性結合器10Aは、第1の実施形態に係る方向性結合器10に対して、副線路132を追加した点で異なる。方向性結合器10Aの他の構成は、方向性結合器10と同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
図5に示すように、副線路132は、線状または帯状の導体パターンからなり、基板11に配置されている。副線路132は、基板11を平面視して、主線路122に重なっている。副線路132は、基板11の厚み方向において、主線路121と同じ位置に配置されている。副線路132が、本発明の「第2副線路」に対応する。
副線路132は、主線路122および主線路121の双方に対して電磁界結合する。
図6に示すように、副線路132は、副線路131に並列接続されている。
このような構成によって、方向性結合器10Aは、複数の主線路と複数の副線路とを備え、それぞれが電磁界結合する。これにより、方向性結合器10Aの全体として、主線路と副線路との間の電磁界結合は、さらに強くなる。したがって、方向性結合器10Aは、大型化をさらに抑制しながら、従来構成よりもさらに大きな結合度を得ることができる。
なお、上述の説明では、主線路122と副線路131とが厚み方向の同じ位置に配置され、主線路121と副線路132とが厚み方向の同じ位置に配置される態様を示した。しかしながら、主線路122と副線路131とは、電磁界結合すれば、厚み方向の位置が異なる態様であってもよい。また、主線路121と副線路132とは、電磁界結合すれば、厚み方向の位置が異なる態様であってもよい。
図7は、第2の実施形態に係る方向性結合器の別態様の構成を示す概略的な側面断面図である。例えば、図7に示すように、方向性結合器10AZでは、主線路122および主線路121が、副線路131および副線路132よりもマザー回路基板90の近くに配置されていてもよい。なお、図7における、主線路122と主線路121との位置関係は逆であってもよく、同様に、副線路131と副線路132との位置関係は逆であってもよい。
[第3の実施形態]
本発明の第3の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図8は、第3の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。
本発明の第3の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図8は、第3の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。
図8に示すように、第3の実施形態に係る方向性結合器10Bは、第2の実施形態に係る方向性結合器10Aに対して、主線路121と主線路122との位置関係において異なる。方向性結合器10Bの他の構成は、方向性結合器10Aと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
主線路121と主線路122とは、基板11の平面視において、部分的に重なっている。より具体的には、主線路121における副線路132側の端部と、主線路122における副線路131側の端部とは、重なっている。
このような構成では、方向性結合器10Bは、方向性結合器10Aと比較して、主線路122および副線路132を、副線路131および主線路121側に近づくように配置できる。したがって、図6に示すように、主線路122および副線路132よりも基板11Bの側面側の領域の大きさを、基板11と同じにした場合、基板11Bの形状を小さくできる。すなわち、方向性結合器10Bは、さらに小型になる。
[第4の実施形態]
本発明の第4の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図9は、第4の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図10は、第4の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
本発明の第4の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図9は、第4の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図10は、第4の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図9、図10に示すように、第4の実施形態に係る方向性結合器10Cは、第2の実施形態に係る方向性結合器10Aに対して、副線路1311、副線路1312、副線路1313を備える点で異なる。方向性結合器10Cの他の構成は、方向性結合器10Aと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
図9に示すように、方向性結合器10Cは、基板11C、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313を備える。
副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、それぞれに、線状または帯状の導体パターンからなり、基板11Cに配置されている。副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、基板11Cを平面視して、主線路121に重なっている。
副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、基板11Cの厚み方向において、異なる位置に配置されている。より具体的には、副線路1311は、基板11Cの厚み方向において、主線路122と同じ位置に配置されている。副線路1312は、副線路1311よりも第2主面102側に配置されており、副線路1313は、副線路1312よりも第2主面102側に配置されている。副線路1312、および、副線路1313は、少なくとも主線路121と電磁界結合可能な距離に配置されており、主線路122と電磁界結合可能な距離に配置されていることが好ましい。
図10に示すように、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、直列接続されている。この直列回路は、副線路132に並列接続されている。
このような構成では、主として主線路121に電磁界結合する副線路の個数は、多くなる。したがって、方向性結合器10Cは、さらに強い電磁家界結合を得られ、より大きな結合度を得ることができる。
また、この構成では、例えば、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313における電磁界結合に寄与する部分の長さを異ならせることによって、方向性結合器10Cは、励起する高周波信号の周波数を異ならせることができる。したがって、方向性結合器10Cは、広い周波数帯域において、大きな結合度を得ることができる。すなわち、方向性結合器10Cは、所望の結合度を得られる周波数帯域を広くでき、周波数特性を広帯域化できる。
また、この構成では、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、基板11の厚み方向において、主線路121に対して、同じ側に配置されている。これにより、方向性結合器10Cの全体としての結合度を、より高くし易い。また、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、基板11の厚み方向において、主線路121に対して、第2主面102側に配置されている。これにより、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313と、IC80が実装されるランド導体(図1のランド導体142を参照)との距離は、短くなる。したがって、方向性結合器10Cは、入力測定用信号および反射測定用信号の元となる高周波信号の挿入損失ILを小さくできる。
[第5の実施形態]
本発明の第5の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図11は、第5の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
本発明の第5の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図11は、第5の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図11に示すように、第5の実施形態に係る方向性結合器10Dは、第2の実施形態に係る方向性結合器10Aに対して、副線路131と副線路132との接続態様において異なる。方向性結合器10Dの他の構成は、方向性結合器10Aと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
副線路131と副線路132とは、並列接続されていない。より具体的には、方向性結合器10Dは、検波用端子P211、検波用端子P221、検波用端子P212、および、検波用端子P222を備える。副線路131は、検波用端子P211と検波用端子P221との間に接続されている。副線路132は、検波用端子P212と検波用端子P222との間に接続されている。
この構成において、例えば、副線路131と主線路121および主線路122との結合度は、副線路132と主線路121および主線路122との結合度と異なる。これは、例えば、主線路121および主線路122に対する副線路131の位置関係と、主線路121および主線路122に対する副線路132の位置関係とを異ならせることによって、実現可能である。
これにより、方向性結合器10Dは、異なる複数の種類の結合度によって、入力測定用信号と反射測定用信号とを得ることができる。
また、この構成において、例えば、副線路131と副線路132の電磁界結合に寄与する部分の長さが異なる。これは、例えば、副線路131を構成する導体パターンの長さと副線路132を構成する導体パターンの長さを異ならせることによって、実現可能である。
これにより、方向性結合器10Dは、異なる複数の周波数の高周波信号に対して、入力測定用信号と反射測定用信号とを得ることができる。そして、方向性結合器10Dは、各周波数の入力測定用信号と反射測定用信号とを、それぞれに個別の端子から出力できる。
[第6の実施形態]
本発明の第6の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図12(A)は、第6の実施形態に係る方向性結合器の一例の等価回路図であり、図12(B)は、第6の実施形態に係る方向性結合器の他の一例の等価回路図である。
本発明の第6の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図12(A)は、第6の実施形態に係る方向性結合器の一例の等価回路図であり、図12(B)は、第6の実施形態に係る方向性結合器の他の一例の等価回路図である。
図12(A)に示すように、第6の実施形態に係る方向性結合器10EAは、第4の実施形態に係る方向性結合器10Cと、第5の実施形態に係る方向性結合器10Dの構成を組み合わせた構成を備える。この組み合わせた箇所を除いて、方向性結合器10EAの構成は、方向性結合器10Cまたは方向性結合器10Dと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
より具体的には、第5の実施形態に係る方向性結合器10Dにおける副線路131を、第4の実施形態に係る方向性結合器10Cにおける副線路1311、副線路1312、および、副線路1313の直列回路に置き換えた構成を備える。すなわち、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313は、検波用端子P211と検波用端子P221の間との間に直列接続されている。
このような構成によって、方向性結合器10EAは、方向性結合器10Cの作用効果、および、方向性結合器10Dの作用効果を奏することができる。
図12(B)に示すように、第6の実施形態に係る方向性結合器10EBは、図12(A)に示す方向性結合器10EAに対して、副線路1311、副線路1312、および、副線路1313の接続構成において異なる。この接続構成を除いて、方向性結合器10EBの構成は、方向性結合器10EAと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
副線路1311および副線路1312は、検波用端子P211Aと検波用端子P221Aの間との間に直列接続されている。副線路1313は、検波用端子P211Bと検波用端子P221Bの間との間に接続されている。
このような構成であっても、方向性結合器10EBは、上述の方向性結合器10EAと同様の作用効果を奏することができる。また、方向性結合器10EBは、さらに多様な結合度や周波数に対応することができる。
なお、方向性結合器10EBでは、副線路1311、および、副線路1312が直列接続されている。しかしながら、副線路1311が接続される検波用端子と、副線路1312が接続される検波用端子を異ならせることも可能である。
また、図10EAおよび図10EBに示した方向性結合器においては、複数ある副線路のうちから1つ以上の副線路を選択できるスイッチをさらに備えていても良い。このスイッチを用いて副線路13の長さなどを切り替えることにより、広い周波数帯域において適切な結合度を得られる。
[第7の実施形態]
本発明の第7の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図13は、第7の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
本発明の第7の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図13は、第7の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図13に示すように、第7の実施形態に係る方向性結合器10Fは、第2の実施形態に係る方向性結合器10Aに対して、スイッチ回路21、および、スイッチ回路22を追加した点で異なる。方向性結合器10Fの他の構成は、方向性結合器10Aと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
方向性結合器10Fは、スイッチ回路21、および、スイッチ回路22を備える。スイッチ回路21は、検波用端子P21Fに対して、副線路131または副線路132を選択的に接続する。スイッチ回路22は、検波用端子P22Fに対して、副線路131または副線路132を選択的に接続する。スイッチ回路21が検波用端子P21Fと副線路131とを接続する場合、スイッチ回路22は、検波用端子P22Fと副線路131とを接続する。スイッチ回路21が検波用端子P21Fと副線路132とを接続する場合、スイッチ回路22は、検波用端子P22Fと副線路132とを接続する。
このようなスイッチ回路21およびスイッチ回路22は、例えば、IC80に形成されていている。
このような構成によって、方向性結合器10Fは、副線路131による出力と、副線路132による出力とを切り替えることができる。これにより、例えば、副線路131と副線路132とで長さが異なる場合、方向性結合器10Fは、周波数の異なる複数種類の高周波信号に対して、入力測定用信号および反射測定用信号を選択的に出力できる。
なお、方向性結合器10Fは、スイッチ回路21が検波用端子P21Fと副線路131および副線路132の両方とを接続し、スイッチ回路22は、検波用端子P22Fと副線路131および副線路132の両方とを接続することも可能である。
[第8の実施形態]
本発明の第8の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図14は、第8の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図15は、第8の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
本発明の第8の実施形態に係る方向性結合器について、図を参照して説明する。図14は、第8の実施形態に係る方向性結合器の構成を示す概略的な側面断面図である。図15は、第8の実施形態に係る方向性結合器の等価回路図である。
図14、図15に示すように、第8の実施形態に係る方向性結合器10Gは、第1の実施形態に係る方向性結合器10に対して、主線路の個数と副線路の個数とが入れ替わった点で異なる。方向性結合器10Gの他の構成は、方向性結合器10と同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
方向性結合器10Gは、主線路121、副線路131、および、副線路132を備える。主線路121と副線路131は、基板11を平面視して、重なっている。主線路121と副線路132とは、基板11の厚み方向において同じ位置に配置されている。副線路131と副線路132とは、並列接続されている。
このような構成であっても、方向性結合器10Gは、方向性結合器10と同様の効果を奏することができる。
なお、主線路の個数と副線路の個数は、上述の限りではなく、各実施形態の概念に適用する範囲において、主線路の個数と副線路の個数とは適宜設定できる。
また、上述の各実施形態に示す構成は、適宜組み合わせることができる。そして、各組合せに応じた作用効果を奏することができる。
1、1Z:電子部品モジュール
10、10A、10AZ、10B、10C、10D、10EA、10EB、10F、10G:方向性結合器
11、11B、11C:基板
21、22:スイッチ回路
80:IC
81:本体
82:はんだバンプ
90:マザー回路基板
101:第1主面
102:第2主面
112、113、114:誘電体層
121、122:主線路
131、132、1311、1312、1313:副線路
141:外部端子導体
142:ランド導体
151、152:層間接続導体
900:ランド導体
10、10A、10AZ、10B、10C、10D、10EA、10EB、10F、10G:方向性結合器
11、11B、11C:基板
21、22:スイッチ回路
80:IC
81:本体
82:はんだバンプ
90:マザー回路基板
101:第1主面
102:第2主面
112、113、114:誘電体層
121、122:主線路
131、132、1311、1312、1313:副線路
141:外部端子導体
142:ランド導体
151、152:層間接続導体
900:ランド導体
Claims (13)
- 互いに対向する第1主面と第2主面とを有する基板と、
前記基板に形成された導体パターンを含む、並列接続された第1主線路および第2主線路と、
前記基板に形成された導体パターンを含む、第1副線路と、
を備え、
前記第1副線路は、前記第1主面と前記第2主面に直交する厚み方向に視る平面視において、前記第1主線路と少なくとも一部で重なる位置に、配置されている、
方向性結合器。 - 前記第2主線路と前記第1副線路とは、前記厚み方向における同じ位置に配置されている、
請求項1に記載の方向性結合器。 - 前記第1主面は、方向性結合器で検波する高周波信号が伝送される別基板への接続面であり、
前記第1主線路は、前記第1副線路よりも前記第1主面側に配置されている、
請求項1または請求項2に記載の方向性結合器。 - 前記平面視において、
前記第1主線路と前記第2主線路とは、異なる位置に配置されている、
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の方向性結合器。 - 前記平面視において、
前記第1主線路の少なくとも一部と前記第2主線路との少なくとも一部とは、重なっている、
請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の方向性結合器。 - 前記平面視において、前記第1副線路の少なくとも一部は、前記第1主線路および第2主線路に電磁気的に結合している、
請求項5に記載の方向性結合器。 - 前記基板に形成された導体パターンからなる、第2副線路を備え、
前記第2副線路は、前記厚み方向において前記第1副線路と異なる位置に配置されている、
請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の方向性結合器。 - 前記平面視において、前記第2副線路の少なくとも一部は、前記第2主線路の少なくとも一部と重なる位置に、配置されている、
請求項7に記載の方向性結合器。 - 前記厚み方向において、前記第1主線路と前記第2副線路とは、前記厚み方向における同じ位置に配置されている、
請求項8に記載の方向性結合器。 - 前記第1副線路と前記第2副線路とは、並列接続されている、
請求項7乃至請求項9のいずれかに記載の方向性結合器。 - 前記第1副線路は、前記厚み方向における異なる複数の位置に配置された複数の導体パターンによって構成されている、
請求項1乃至請求項10のいずれかに記載の方向性結合器。 - 互いに対向する第1主面と第2主面とを有する基板と、
前記基板に形成された導体パターンからなる、主線路と、
前記基板に形成された導体パターンからなり、並列接続された第1副線路および第2副線路と、
を備え、
前記主線路は、前記第1主面と前記第2主面に直交する厚み方向に視る平面視において、前記第1副線路または前記第2副線路と少なくとも一部で重なる位置に、配置されている、
方向性結合器。 - 請求項1乃至請求項12のいずれかに記載の方向性結合器と、
前記第2主面に実装され、前記第1副線路に接続し、前記第1副線路を流れる高周波信号から測定用信号を生成する回路を備えるICと、
を備える、電子部品モジュール。
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