JP2020524309A - 光学系における倍率補正及び/又はビームステアリング - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、その全体が参照により本明細書に組み込まれる、2017年6月19日に出願された「MAGNIFICATION COMPENSATION AND/OR BEAM STEERING IN OPTICAL SYSTEMS」という名称の米国仮特許出願第62/522,062号に対する優先権及び利益を主張するものである。
1つ以上の実施形態は、概して光学系に関し、より具体的には、例えば、光学系における倍率補正及びビームステアリングに関する。
極端1:最大対称倍率補正+最大非対称倍率補正
X+250ppm、Y+300ppm
極端2:最大対称倍率補正+最小非対称倍率補正
X+250ppm、Y+200ppm
極端3:最小対称倍率補正+最大非対称倍率補正
X−250ppm、Y−200ppm
極端4:最小対称倍率補正+最小非対称倍率補正
X−250ppm、Y−300ppm
Claims (27)
- 光学系であって、
物体に関連付けられた第1の放射線を受容し、前記物体の像に関連付けられた第2の放射線を像平面に向けて方向付けるように構成されている、レンズシステムを備え、前記レンズシステムは、
前記第1の放射線を受容し、選択的に拡大するように構成されている、第1のレンズセットと、
前記第1のレンズセットを選択的に調整して、前記像に関連付けられた倍率を第1の方向及び第2の方向に沿って対称的に調整するように構成されている、アクチュエータシステムと、
前記第1のレンズセットによって選択的に拡大された前記第1の放射線を、少なくともビームステアリングレンズの傾斜に基づいて方向付けて、前記第2の放射線を提供するように構成されている、ビームステアリングレンズであって、前記ビームステアリングレンズの前記傾斜は、前記アクチュエータシステムによって調製可能である、該ビームステアリングレンズと、を含む、光学系。 - 複数のレンズを含むレンズアセンブリと、
前記第1の放射線を前記レンズアセンブリまで通過させるように構成されている、第1のプリズムであって、前記第1のレンズセットは、前記第1の放射線を前記第1のプリズムまで通過させるように構成されている、該第1のプリズムと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記第1のプリズムから前記第1の放射線を受容し、前記第1の放射線を反射するように構成されている、ミラーと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記ミラーから反射された前記第1の放射線を受容し、光路上の前記第1の放射線を前記像平面に向けて方向付けるように構成されている、第2のプリズムと、を更に備える、請求項1に記載の光学系。 - 前記第1の放射線を受容し、選択的に拡大するように構成されている第2のレンズセットを更に備え、前記アクチュエータシステムは、前記第2のレンズセットを選択的に調整し、前記第1の方向又は前記第2の方向に沿って前記倍率を調整するように更に構成されており、前記ビームステアリングレンズは、前記第1のレンズセット及び第2のレンズセットによって選択的に拡大された前記第1の放射線を、少なくとも前記ビームステアリングレンズの前記傾斜に基づいて方向付けて、前記第2の放射線を提供するように構成されている、請求項1に記載の光学系。
- 複数のレンズを含むレンズアセンブリと、
前記第1の放射線を前記レンズアセンブリまで通過させるように構成されている、第1のプリズムと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記第1のプリズムから前記第1の放射線を受容し、前記第1の放射線を反射するように構成されている、ミラーと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記ミラーから反射された前記第1の放射線を受容し、光路上の前記第1の放射線を前記像平面に向けて方向付けるように構成されている、第2のプリズムと、を更に備え、
前記第1のレンズセットは、前記第1の放射線を前記第1のプリズムまで通過させるように構成されており、前記第2のプリズムは、前記第1の放射線を前記第2のレンズセットまで通過させるように構成されている、請求項3に記載の光学系。 - 前記アクチュエータシステムが、前記第2のレンズセットを調整して、前記第1の方向に沿った第1の倍率補正値を前記倍率に適用し、かつ、前記第2の方向に沿った第2の倍率補正値を前記倍率に適用するように構成されており、
前記第1の倍率補正値は、前記第2の倍率補正値と異なり、
前記第1の方向は、前記第2の方向に直交している、請求項3に記載の光学系。 - 前記アクチュエータシステムが、前記第1のレンズセットの少なくとも1つのレンズを第1の位置から第2の位置に、及び/又は、前記第2のレンズセットの少なくとも1つのレンズを第3の位置から第4の位置に移動させて、前記倍率を調整するように構成されている、請求項3に記載の光学系。
- 前記第2のレンズセットが単レンズを含み、前記アクチュエータシステムが、前記単レンズを屈曲及び/又は回転させて、前記倍率を調整するように構成されている、請求項3に記載の光学系。
- 前記光学系が、リソグラフィシステムであり、
前記物体が、マスクのパターンを含み、
前記像平面が、ウェハを含み、
前記像が、前記ウェハ上の前記物体の投影を含み、
前記光学系が、前記ウェハの位置に対する前記マスクの位置に少なくとも基づく前記倍率に対する調整に関連付けられた、1つ以上の制御信号を生成するように構成されている倍率コントローラを更に備え、
前記アクチュエータシステムが、前記1つ以上の制御信号を受信し、前記1つ以上の制御信号に応答して前記倍率の調整を引き起こすように構成されている、請求項1に記載の光学系。 - 前記マスクの前記位置に対する前記ウェハの前記位置を調整して、前記ウェハ上の前記像の位置を遷移させるように構成されている、ウェハ位置決めコントローラを更に備える、請求項8に記載の光学系。
- 前記レンズシステムは、前記パターンのそれぞれの部分を前記ウェハのそれぞれの部分上に投影するように構成されており、
前記アクチュエータシステムは、前記1つ以上の制御信号に応答して前記ビームステアリングレンズの前記傾斜を調整するように更に構成されており、
前記ウェハのそれぞれの部分は、前記ビームステアリングレンズのそれぞれの傾斜に関連付けられている、請求項8に記載の光学系。 - 方法であって、
物体に関連付けられた第1の放射線を受容するステップと、
選択的に拡大された第1の放射線を得るために、前記第1の放射線を少なくとも第1のレンズセットを通して方向付けるステップであって、前記第1の放射線を方向付ける前記ステップ中に、前記第1のレンズセットを選択的に調整して、前記物体の像に関連付けられた倍率を第1の方向及び第2の方向に沿って対称的に調整する、該ステップと、
像平面に向かう第2の放射線を提供するために、前記選択的に拡大された第1の放射線を、少なくともビームステアリングレンズの傾斜に基づいて方向付けるステップと、を含む、方法。 - 前記第1の放射線を方向付ける前記ステップが、前記選択的に拡大された第1の放射線を得るために、前記第1の放射線を少なくとも前記第1のレンズセット及び第2のレンズセットを通して方向付けるステップを含み、前記第1の放射線を方向付ける前記ステップ中に、前記第2のレンズセットを選択的に調整して、前記第1の方向又は前記第2の方向に沿って前記倍率を調整する、請求項11に記載の方法。
- 前記第2のレンズセットを選択的に調整するステップが、前記第2のレンズセットを選択的に調整して、前記第1の方向に沿った第1の倍率補正値を前記倍率に適用し、かつ、前記第2の方向に沿った、前記第1の倍率補正値とは異なる第2の倍率補正値を前記倍率に適用するステップを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第1のレンズセットが複数のレンズを含み、前記第1のレンズセットを選択的に調整するステップが、前記複数のレンズのうちの少なくとも2つの間の距離を調整するステップを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記物体が、マスクのパターンを含み、
前記像平面が、ウェハを含み、
前記像が、前記ウェハ上の前記物体の投影を含み、
前記選択的に拡大された第1の放射線を方向付ける前記ステップが、前記パターンのそれぞれの部分を前記ウェハのそれぞれの部分上に投影するステップを含む、請求項11に記載の方法。 - 少なくとも前記ウェハの位置に対する前記マスクの位置に基づく前記倍率に対する調整に関連付けられた、1つ以上の制御信号を生成するステップであって、前記第1のレンズセットを選択的に調整するステップは、前記1つ以上の制御信号に基づく、該ステップと、
前記1つ以上の制御信号に応答してビームステアリングレンズの傾斜を調整するステップであって、前記ウェハのそれぞれの部分は、前記ビームステアリングレンズのそれぞれの傾斜に関連付けられている、該ステップと、を更に含む、請求項15に記載の方法。 - 方法であって、
物体に関連付けられた放射線を受容するステップと、
少なくとも第1のレンズセット及び第2のレンズセットを通して、前記放射線を像平面に向けて方向付けるステップであって、前記方向付けるステップの間に、
前記第1のレンズセットを選択的に調整して、前記物体の像に関連付けられた倍率を第1の方向及び第2の方向に沿って対称的に調整するステップと、
前記第2のレンズセットを選択的に調整して、前記第1の方向又は第2の方向に沿って前記倍率を調整するステップと、を含む、該ステップと、を含む、方法。 - 前記物体が、マスクのパターンを含み、
前記像平面が、ウェハを含み、
前記像が、前記ウェハ上の前記物体の投影を含み、
前記放射線を方向付ける前記ステップが、前記パターンのそれぞれの部分を前記ウェハのそれぞれの部分上に投影するステップを含む、請求項17に記載の方法。 - 少なくとも前記ウェハの位置に対する前記マスクの位置に基づいて、1つ以上の制御信号を生成するステップと、
前記1つ以上の制御信号に応答してビームステアリングレンズの傾斜を調整するステップであって、前記ウェハのそれぞれの部分は、前記ビームステアリングレンズのそれぞれの傾斜に関連付けられている、該ステップと、を更に含む、請求項18に記載の方法。 - 光学系であって、
物体に関連付けられた第1の放射線を受容し、前記物体の像に関連付けられた第2の放射線を像平面に向けて方向付けるように構成されている、レンズシステムを備え、前記レンズシステムは、
前記第1の放射線を受容し、選択的に拡大するように構成されている、第1のレンズセットと、
前記第1の放射線を受容し、選択的に拡大するように構成されている、第2のレンズセットと、
アクチュエータシステムであって、
前記第1のレンズセットを選択的に調整して、前記像に関連付けられた倍率を第1の方向及び第2の方向に沿って対称的に調整するように、かつ
前記第2のレンズセットを選択的に調整して、前記第1の方向又は第2の方向に沿って前記倍率を調整するように構成されている、該アクチュエータシステムと、を含む、光学系。 - 前記レンズシステムが、前記第1の放射線を少なくともビームステアリングレンズの傾斜に基づいて方向付けて、前記第2の放射線を提供するように構成されている、ビームステアリングレンズを更に含み、前記ビームステアリングレンズの前記傾斜は、前記アクチュエータシステムによって調整可能である、請求項20に記載の光学系。
- 複数のレンズを含むレンズアセンブリと、
前記第1の放射線を前記レンズアセンブリまで通過させるように構成されている、第1のプリズムと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記第1のプリズムから前記第1の放射線を受容し、前記第1の放射線を反射するように構成されている、ミラーと、
前記レンズアセンブリの前記複数のレンズを介して前記ミラーから反射された前記第1の放射線を受容し、光路上の前記第1の放射線を前記像平面に向けて方向付けるように構成されている、第2のプリズムと、を更に備える、請求項20に記載の光学系。 - 前記第1のレンズセットが、前記第1の放射線を前記第1のプリズムまで通過させるように構成されており、前記第2のプリズムが、前記第1の放射線を前記第2のレンズセットまで通過させるように構成されている、請求項22に記載の光学系。
- 前記アクチュエータシステムが、前記第2のレンズセットを調整して、前記第1の方向に沿った第1の倍率補正値を前記倍率に適用し、かつ、前記第2の方向に沿った第2の倍率補正値を前記倍率に適用するように構成されており、
前記第1の倍率補正値は、前記第2の倍率補正値と異なり、
前記第1の方向は、前記第2の方向に直交している、請求項20に記載の光学系。 - 前記アクチュエータシステムが、前記第1のレンズセットの少なくとも1つのレンズを第1の位置から第2の位置に、及び/又は、前記第2のレンズセットの少なくとも1つのレンズを第3の位置から第4の位置に移動させて、前記倍率を調整するように構成されている、請求項20に記載の光学系。
- 前記光学系が、リソグラフィシステムであり、
前記物体が、マスクのパターンを含み、
前記像平面が、ウェハを含み、
前記像が、前記ウェハ上の前記物体の投影を含む、請求項20に記載の光学系。 - 少なくとも前記ビームステアリングレンズの傾斜に基づいて、前記第2の放射線を提供するように構成されている、ビームステアリングレンズを更に含み、
前記レンズシステムは、前記パターンのそれぞれの部分を前記ウェハのそれぞれの部分上に投影するように構成されており、
前記アクチュエータシステムは、1つ以上の制御信号に応答して前記ビームステアリングレンズの傾斜を調整するように更に構成されており、
前記ウェハのそれぞれの部分は、前記ビームステアリングレンズのそれぞれの傾斜に関連付けられている、請求項26に記載の光学系。
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