JP2020522125A - ハイパワー用積層セラミックコンデンサ構造 - Google Patents
ハイパワー用積層セラミックコンデンサ構造 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020522125A JP2020522125A JP2019563104A JP2019563104A JP2020522125A JP 2020522125 A JP2020522125 A JP 2020522125A JP 2019563104 A JP2019563104 A JP 2019563104A JP 2019563104 A JP2019563104 A JP 2019563104A JP 2020522125 A JP2020522125 A JP 2020522125A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat dissipation
- internal electrode
- ceramic capacitor
- electrode
- dissipation channel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims abstract description 89
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 16
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 5
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 28
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 20
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 12
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 11
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 11
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 4
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012700 ceramic precursor Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 3
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMQJEAYHLZJPGS-UHFFFAOYSA-N N-Pentanol Chemical compound CCCCCO AMQJEAYHLZJPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002480 mineral oil Substances 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- 150000003891 oxalate salts Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/258—Temperature compensation means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/08—Cooling arrangements; Heating arrangements; Ventilating arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
- H01G4/012—Form of non-self-supporting electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/38—Multiple capacitors, i.e. structural combinations of fixed capacitors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
Description
P=I2R
ここで、Iは電流、Rは等価直列抵抗(ESR)である。従って、発熱はコンデンサで発生するリップル電流の二乗で増加する。さらに発熱は周波数に依存し、周波数が増加するにつれてESRが減少するときこの自己発熱もまたそれにより減少する。MLCCのESRを減少させようとする継続的な要請により上記課題に過去より取り組んできた。電流が増加する中さらにESRを減少させることは、熱の発生を抑制するにはもはや十分とは言えず、熱発生を軽減するための改善や発生中の熱の除去が必要になっている。
C=εrε0An/t
ここで、εrは誘電体の比誘電率であり;ε0はフリースペースの誘電率に等しい定数であり;Aは誘電体によって分離される2つの逆極性内部導電層のオーバラップエリアでありアクティブとも呼ばれ;nはアクティブの数であり、tは分離距離即ち電極間の厚さである。従って、より高いキャパシタンスを求めれば層の数とオーバラップエリアが増大するとともに層の分離距離は減少する。しかしながら、所定のMLCCの容積においてセラミックのアクティブ厚さを減少させてキャパシタンスを増加させると、利用可能な容積の中により多くのアクティブ層及び電極を組み込むことができるが、MLCCの耐電圧特性がさらに低下する。電極数を増やすことは熱を伝導により発散させるので望ましいが、耐電圧特性が低下するので到達されねばならない妥協点が存在する。さらに、MLCCの中心部で発生する過剰な熱は除去するのがより困難となり、従ってそれは表面温度よりも内部がはるかに高温となり得ることを意味するので、内部温度の指標として表面温度を測定することが信頼できないものとなる。より薄いセラミックアクティブを実現するために行うコンデンサ構造におけるいかに微細な変更であっても、高温スポット、即ちACハイパワーの下で結果的には故障に繋がる「ホットスポット」を出現させることが可能であり、しかも内部で発生する高温を検出するのは困難である。
第1内部電極前駆体と、前記第1内部電極前駆体と平行な第2内部電極前駆体と、誘電体前駆体とを含み、前記誘電体前駆体の少なくとも一部が前記第1内部電極前駆体と前記第2内部電極前駆体との間にあり、少なくとも一部のエリアがプレチャネル材料を含む積層配置を形成することと;
前記第1内部電極前駆体から生成される第1内部電極と、前記第2内部電極前駆体から生成される第2内部電極と、前記誘電体前駆体から生成される誘電体と、前記プレチャネル材料から生成される前記誘電体内の放熱チャネルとを含むコンデンサ本体を形成するために、前記積層配置を加熱することと;
第1外部終端が前記第1内部電極と電気的に接触する前記コンデンサ本体上に第1外部終端を形成することと;
第2外部終端が前記第2内部電極と電気的に接触するが前記第1内部電極とは電気的に接触しない前記コンデンサ本体上に第2外部終端を形成することと;
前記放熱チャネルに熱伝達媒体を挿入することと;
を含む。
Claims (50)
- 第1内部電極が第2内部電極に対して平行かつ逆極性に配置される第1内部電極及び第2内部電極と;
前記第1内部電極と前記第2内部電極との間の誘電体層と;
前記誘電体層のうち少なくとも1つの誘電体層内の放熱チャネルと;
前記放熱チャネル内の熱伝達媒体と;
を含む、積層セラミックコンデンサ。 - 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極のうちの1つの第1内部電極と前記第2内部電極のうちの1つの第2内部電極との間に存在する、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つと流れ接触する、請求項2に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つと流れ接触しない、請求項2に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記第1内部電極および前記第2内部電極は交互に配置される、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記第1内部電極のうちの第1の第1内部電極と前記第2内部電極のうちの第1の第2内部電極が第1共通面にあり、前記第1内部電極のうちの第2の第1内部電極と前記第2内部電極のうちの第2の第2内部電極が第2共通面にある、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記第1共通面と前記第2共通面との間にさらに浮遊電極を含む、請求項6に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネルは前記第1共通面と前記第2共通面との間にある、請求項6に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネルは前記第1共通面および前記第2共通面の少なくとも1つにある、請求項6に記載の積層セラミックコンデンサ。
- さらにシールド電極を含む、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネルは前記シールド電極と同一平面上にある、請求項10に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 複数の放熱チャネルを含む、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記複数の放熱チャネルの隣接する放熱チャネルの間にバリアをさらに含む、請求項12に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 複数の放熱チャネルは放熱チャネルの共通面にある、請求項12に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 放熱チャネルの前記共通面は、前記内部電極のうちの1つの第1内部電極と平行である、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネル内に少なくとも1つの支柱をさらに含む、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記放熱チャネル内にコーティングをさらに有する、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つは、ニッケル、銅、貴金属、及びそれらの合金からなるグループから選択された材料を含む、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- クレーム1に記載の積層セラミックコンデンサを複数含むアレイ。
- クレーム1に記載の積層セラミックコンデンサを少なくとも1つ含む電子デバイス。
- 前記積層セラミックコンデンサのアレイを含む、請求項20に記載の電子デバイス。
- 前記熱伝達媒体の循環および冷却の少なくとも1つを補助することができる熱伝達装置をさらに含む、請求項20に記載の電子デバイス。
- 前記熱伝達媒体は閉ループ内にある、請求項20に記載の電子デバイス。
- 前記熱伝達媒体は開ループ内にある、請求項20に記載の電子デバイス。
- 前記熱伝達媒体は前記放熱チャネルを通って流れる、請求項20に記載の電子デバイス。
- 第1内部電極前駆体と、前記第1内部電極前駆体と平行な第2内部電極前駆体と、誘電体前駆体とを含み、前記誘電体前駆体の少なくとも一部が前記第1内部電極前駆体と前記第2内部電極前駆体との間にあり、少なくとも一部のエリアがプレチャネル材料を含む積層配置を形成することと;
前記第1内部電極前駆体から生成される第1内部電極と、前記第2内部電極前駆体から生成される第2内部電極と、前記誘電体前駆体から生成される誘電体と、前記プレチャネル材料から生成される前記誘電体内の放熱チャネルとを含むコンデンサ本体を形成するために、前記積層配置を加熱することと;
第1外部終端が前記第1内部電極と電気的に接触する前記コンデンサ本体上に第1外部終端を形成することと;
第2外部終端が前記第2内部電極と電気的に接触するが前記第1内部電極とは電気的に接触しない前記コンデンサ本体上に第2外部終端を形成することと;
前記放熱チャネル内に熱伝達媒体を挿入することと;
を含む、積層セラミックコンデンサの形成方法。 - 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極のうちの1つの第1内部電極と前記第2内部電極のうちの1つの第2内部電極との間にある、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つと流れ接触する、請求項27に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネルは、前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つと流れ接触しない、請求項27に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記第1内部電極と前記第2内部電極は交互に配置される、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記第1内部電極のうちの第1の第1内部電極と前記第2内部電極のうちの第1の第2内部電極が第1共通面にあり、前記第1内部電極のうちの第2の第1内部電極と前記第2内部電極のうちの第2の第2内部電極が第2共通面にある、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記第1共通面と前記第2共通面との間に浮遊電極をさらに含む、請求項31に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネルは前記第1共通面と前記第2共通面との間にある、請求項31に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネルは前記第1共通面および前記第2共通面の少なくとも1つにある、請求項31に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- さらにシールド電極を含む、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネルは前記シールド電極と同一平面上にある、請求項35に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 複数の放熱チャネルを含む、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記複数の放熱チャネルの隣接する放熱チャネルの間にバリアをさらに含む、請求項37に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 複数の放熱チャネルは放熱チャネルの共通面にある、請求項37に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 放熱チャネルの前記共通面は、前記内部電極のうちの1つの第1内部電極と平行である、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネル内に少なくとも1つの支柱をさらに含む、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記放熱チャネル内にコーティングを形成することをさらに含む、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 前記第1内部電極および前記第2内部電極の少なくとも1つは、ニッケル、銅、貴金属、及びそれらの合金からなるグループから選択された材料を含む、請求項26に記載の積層セラミックコンデンサの形成方法。
- 請求項26に記載の積層セラミックコンデンサを複数、基板に取付けることを含むアレイ形成方法。
- 請求項26に記載の積層セラミックコンデンサを少なくとも1つ、基板に電気接続することを含む電子デバイス形成方法。
- 前記積層セラミックコンデンサのアレイを前記基板に電気接続することをさらに含む、請求項45に記載の電子デバイスの形成方法。
- 前記熱伝達媒体の循環および冷却の少なくとも1つを補助することができる熱伝達装置を設けることをさらに含む、請求項45に記載の電子デバイスの形成方法。
- 前記熱伝達媒体は閉ループ内にある、請求項45に記載の電子デバイスの形成方法。
- 前記熱伝達媒体は開ループ内にある、請求項45に記載の電子デバイスの形成方法。
- 前記熱伝達媒体は前記放熱チャネルを通って流れる、請求項45に記載の電子デバイスの形成方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/601,323 US10147544B1 (en) | 2017-05-22 | 2017-05-22 | Multilayer ceramic capacitor structures for use at high power |
US15/601,323 | 2017-05-22 | ||
PCT/US2018/031847 WO2018217463A1 (en) | 2017-05-22 | 2018-05-09 | Multilayer ceramic capacitor structures for use at high power |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020522125A true JP2020522125A (ja) | 2020-07-27 |
JP7108637B2 JP7108637B2 (ja) | 2022-07-28 |
Family
ID=64271913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019563104A Active JP7108637B2 (ja) | 2017-05-22 | 2018-05-09 | ハイパワー用積層セラミックコンデンサ構造 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10147544B1 (ja) |
EP (1) | EP3631824A4 (ja) |
JP (1) | JP7108637B2 (ja) |
CN (1) | CN110692114B (ja) |
WO (1) | WO2018217463A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102304250B1 (ko) * | 2018-08-01 | 2021-09-23 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
JP2020072136A (ja) * | 2018-10-30 | 2020-05-07 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品およびセラミック電子部品の製造方法 |
US11037871B2 (en) * | 2019-02-21 | 2021-06-15 | Kemet Electronics Corporation | Gate drive interposer with integrated passives for wide band gap semiconductor devices |
US10950688B2 (en) * | 2019-02-21 | 2021-03-16 | Kemet Electronics Corporation | Packages for power modules with integrated passives |
CN114762105A (zh) | 2020-01-17 | 2022-07-15 | 凯米特电子公司 | 用于高密度电子器件的部件组件和嵌入 |
WO2021211559A1 (en) * | 2020-04-14 | 2021-10-21 | Avx Corporation | Component array including one or more heat sink layers |
US20210327646A1 (en) * | 2020-04-20 | 2021-10-21 | Kemet Electronics Corporation | Multi-Terminal MLCC for Improved Heat Dissipation |
CN113725005B (zh) * | 2021-09-06 | 2022-06-07 | 四川特锐祥科技股份有限公司 | 一种贴片安规陶瓷电容器 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001319826A (ja) * | 2000-05-08 | 2001-11-16 | Okaya Electric Ind Co Ltd | 金属化フィルムコンデンサ |
JP2006278565A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Tdk Corp | 積層電子部品及びその製造方法 |
JP2008109020A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Kyocera Corp | 多連チップ部品および多連チップ実装基板 |
US20100134947A1 (en) * | 2007-01-25 | 2010-06-03 | Ion A-Z, Llc | Fluid cooled electrical capacitor and methods of making and using |
JP2015207750A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4584629A (en) | 1984-07-23 | 1986-04-22 | Avx Corporation | Method of making ceramic capacitor and resulting article |
US4758926A (en) | 1986-03-31 | 1988-07-19 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Fluid-cooled integrated circuit package |
US5214564A (en) | 1992-04-23 | 1993-05-25 | Sunstrand Corporation | Capacitor assembly with integral cooling apparatus |
JPH08213278A (ja) | 1995-02-03 | 1996-08-20 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波電力用積層セラミックコンデンサブロック |
US5866244A (en) * | 1996-12-20 | 1999-02-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Ceramic structure with backfilled channels |
US6627019B2 (en) * | 2000-12-18 | 2003-09-30 | David C. Jarmon | Process for making ceramic matrix composite parts with cooling channels |
US6530539B2 (en) * | 2001-02-09 | 2003-03-11 | Raytheon Company | Internal fluid cooled window assembly |
US8238075B2 (en) * | 2006-02-22 | 2012-08-07 | Vishay Sprague, Inc. | High voltage capacitors |
WO2008092083A2 (en) * | 2007-01-25 | 2008-07-31 | Ion A-Z, Llc | Electrical ionizer and methods of making and using |
WO2008132902A1 (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Kyocera Corporation | 誘電体磁器および積層セラミックコンデンサ |
US8576537B2 (en) | 2008-10-17 | 2013-11-05 | Kemet Electronics Corporation | Capacitor comprising flex crack mitigation voids |
JP5351107B2 (ja) | 2010-07-23 | 2013-11-27 | 三菱電機株式会社 | コンデンサの冷却構造およびインバータ装置 |
US20130180593A1 (en) * | 2012-01-16 | 2013-07-18 | Exxonmobil Research And Engineering Company | Heat pipe with controlled fluid charge and hydrophobic coating |
WO2013148567A1 (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Kemet Electronics Corporation | Asymmetric high voltage capacitor |
CN204102710U (zh) * | 2014-06-20 | 2015-01-14 | 中南林业科技大学 | 一种具有石墨烯导电层的贴片电容 |
KR102163046B1 (ko) * | 2014-10-15 | 2020-10-08 | 삼성전기주식회사 | 칩 부품 |
US10410794B2 (en) * | 2016-07-11 | 2019-09-10 | Kemet Electronics Corporation | Multilayer ceramic structure |
-
2017
- 2017-05-22 US US15/601,323 patent/US10147544B1/en active Active
-
2018
- 2018-05-09 EP EP18806793.8A patent/EP3631824A4/en active Pending
- 2018-05-09 CN CN201880033964.2A patent/CN110692114B/zh active Active
- 2018-05-09 WO PCT/US2018/031847 patent/WO2018217463A1/en active Application Filing
- 2018-05-09 JP JP2019563104A patent/JP7108637B2/ja active Active
- 2018-10-30 US US16/175,186 patent/US10840023B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001319826A (ja) * | 2000-05-08 | 2001-11-16 | Okaya Electric Ind Co Ltd | 金属化フィルムコンデンサ |
JP2006278565A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Tdk Corp | 積層電子部品及びその製造方法 |
JP2008109020A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Kyocera Corp | 多連チップ部品および多連チップ実装基板 |
US20100134947A1 (en) * | 2007-01-25 | 2010-06-03 | Ion A-Z, Llc | Fluid cooled electrical capacitor and methods of making and using |
JP2015207750A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180337002A1 (en) | 2018-11-22 |
CN110692114A (zh) | 2020-01-14 |
US20190066927A1 (en) | 2019-02-28 |
CN110692114B (zh) | 2022-07-01 |
US10840023B2 (en) | 2020-11-17 |
EP3631824A1 (en) | 2020-04-08 |
EP3631824A4 (en) | 2020-07-15 |
WO2018217463A1 (en) | 2018-11-29 |
JP7108637B2 (ja) | 2022-07-28 |
US10147544B1 (en) | 2018-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7108637B2 (ja) | ハイパワー用積層セラミックコンデンサ構造 | |
US10622157B2 (en) | Multilayer ceramic structure | |
US10770233B2 (en) | Multilayer ceramic capacitor and board having the same | |
US7291235B2 (en) | Thermal dissipating capacitor and electrical component comprising same | |
US9779874B2 (en) | Sintering of high temperature conductive and resistive pastes onto temperature sensitive and atmospheric sensitive materials | |
CN103887063B (zh) | 多层陶瓷电子器件 | |
US20130258546A1 (en) | Multilayer ceramic electronic component and fabrication method thereof | |
JP5628250B2 (ja) | 内部電極用導電性ペースト組成物、積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
KR102097324B1 (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 | |
CN105719834B (zh) | 多层陶瓷电子组件及其制造方法 | |
CN107026016B (zh) | 陶瓷电子元件 | |
JP7512562B2 (ja) | 誘電体組成物及びこれを含む積層型電子部品 | |
US9099243B2 (en) | Multilayer ceramic electronic component and method of manufacturing the same | |
US7545623B2 (en) | Interposer decoupling array having reduced electrical shorts | |
KR20190118293A (ko) | 적층형 커패시터 | |
JP2023071576A (ja) | キャパシタ部品 | |
JP6940371B2 (ja) | チップ型電子部品およびモジュール | |
JP5569102B2 (ja) | 積層正特性サーミスタ及び積層正特性サーミスタの製造方法 | |
US20230207191A1 (en) | Mutilayer electronic component | |
KR20190012988A (ko) | 적층 세라믹 커패시터 제조 방법 및 동일 방법으로 제조된 적층 세라믹 커패시터 | |
US20230170148A1 (en) | Ceramic electronic component | |
EP4139945A1 (en) | Multi-terminal mlcc for improved heat dissipation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191125 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220621 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220715 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7108637 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |