JP2020517965A - 物体を光学式に検査するための検査装置及び物体検査システム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の枠内においては、請求項1の特徴を備えた、物体を光学式に、特に偏向計測式に検査するための検査装置が提案される。さらに、請求項13に記載の特徴を備えた検査装置を備えた物体検査システムが提案される。本発明の好適な及び/又は有利な実施形態は、従属請求項、以下の説明及び添付の図面より明らかになる。
Claims (15)
- 物体(7)を光学式に、特に偏向計測式に検査するための検査装置(1)であって、
前記検査装置(1)は、ハウジング(3)と、メインカメラ(2)とを備え、
前記ハウジング(3)は、開口部(4)を備えた中空体であり、前記物体(7)は、検査のために前記開口部(4)に位置決め可能であり、
前記メインカメラ(2)は、撮影方向及び撮影面を有し、前記メインカメラ(2)は、前記ハウジング(3)の前記開口部(4)に向けられた撮影方向を備えるように配置され、
前記検査装置(1)は、複数の光源(6)を含み、前記光源(6)は、前記開口部(4)の周囲に配置され、前記光源(6)は、前記撮影面を可変に照明するように構成されており、
前記メインカメラ(2)は、前記撮影面に位置する前記物体(7)に関して、複数の物体画像を撮影するように構成されている、
検査装置(1)において、
前記物体画像に基づいて、前記物体(7)の幾何学形態を特定するように構成されている評価ユニット(10)が設けられていることを特徴とする、検査装置(1)。 - 前記ハウジング(1)は、切欠(8)を有しており、前記切欠(8)は、前記物体(7)の保持部及び/又は操作装置のための通路及び/又は収容部を形成する、請求項1に記載の検査装置(1)。
- 前記切欠(8)は、前記開口部(4)に接している、請求項2に記載の検査装置(1)。
- 前記切欠(8)は、扇形及び/又は楕円形である、請求項2又は3に記載の検査装置(1)。
- 前記光源(6)は、前記開口部(4)の周囲に、月桂冠状に配置されている、及び/又は、前記切欠(8)による中断個所を有するように配置されている、請求項2乃至4のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記検査装置(1)は、特殊検査状態を有し、前記保持部及び/又は前記操作装置は、部分的に前記切欠(8)に配置され、前記物体(7)は、前記撮影面に位置決めされる、請求項2乃至4のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記光源(6)は、前記開口部(4)の周囲に均等に及び/又は等間隔で配置されている、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記光源(6)は、放射方向を有し、各光源(6)の前記放射方向は、前記撮影方向とそれぞれ1つの照明角度を成し、前記光源(6)のうちの少なくとも1つの照明角度は、可変である、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記ハウジング(3)は、ドーム状及び/又は半球である、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 複数の補助カメラ(9,9a,9b)が設けられ、前記補助カメラ(9,9a,9b)は、前記ハウジングにおいて、前記メインカメラの周囲に配置され、前記補助カメラ(9,9a,9b)は、前記物体(7)の補助画像を撮影するように構成されており、前記評価ユニット(10)は、前記補助画像に基づいて前記物体(7)の幾何学形態を特定する、及び/又は、特定された前記幾何学形態を改善するように構成されている、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 各前記補助カメラ(9,9a,9b)は、異なる焦点距離を有している、及び/又は、異なる撮影領域を結像する、請求項10に記載の検査装置(1)。
- 前記補助カメラ(9,9a,9b)は、電子回路基板(13)及びカメラユニット(11)を有しており、前記電子回路基板(13)は、可撓性の接続部(12)を用いて前記カメラユニット(11)に接続されており、前記カメラユニット(11)は、前記ハウジング(3)内に配置されており、前記電子回路基板(13)は、前記ハウジング(3)の外側に配置されている、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記ハウジング(3)は、内面において反射性又は吸収性である、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 前記開口部(4)は、開口面を画定し、前記開口面と前記撮影面とは、一致する、請求項1乃至13のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 請求項1乃至14のいずれか一項に記載の検査装置(1)と、前記物体(7)の操作及び/又は保持のための操作装置とが設けられ、前記操作装置は、前記物体(7)を前記撮影面において少なくとも部分的に回動及び/又は方向転換させるように構成されていることを特徴とする、物体検査システム。
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Families Citing this family (29)
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---|---|---|---|---|
US11815465B2 (en) * | 2019-03-08 | 2023-11-14 | Gemological Institute Of America, Inc. (Gia) | Portable high-resolution gem imaging system |
DE102020205535A1 (de) | 2020-04-30 | 2021-11-04 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Charakterisierung, Training und Anwendung von Bildklassifikatoren |
DE102020207323A1 (de) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Messung der Empfindlichkeit von Bildklassifikatoren anhand realistischer Änderungen, die Klassengrenzen überschreiten |
EP3923193B1 (de) | 2020-06-12 | 2024-03-27 | Robert Bosch GmbH | Messung der empfindlichkeit von bildklassifikatoren gegen veränderungen des eingabebildes |
DE102020207324A1 (de) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Plausibilisierung der Ausgabe eines Bildklassifikators mit einem Generator für abgewandelte Bilder |
CN111678458A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-09-18 | 东莞市小可智能设备科技有限公司 | 一种锡球视觉测量装置及其测量方法 |
DE102020208474B4 (de) | 2020-07-07 | 2022-01-27 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Messung der Empfindlichkeit von Klassifikatoren anhand zusammenwirkender Störungen |
DE102020208545A1 (de) | 2020-07-08 | 2022-01-13 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Kontrolle des Verhaltens eines Bildklassifikators über genetisch erarbeitete Störungen |
DE102020208621A1 (de) | 2020-07-09 | 2022-01-13 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zum Ermitteln von Bildbereichen, auf die ein Bildklassifikator seine Entscheidungen stützt |
DE102020210732A1 (de) | 2020-08-25 | 2022-03-03 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zur Messung der Relevanz von Bildbereichen für Entscheidungen eines Bildklassifikators |
DE102020210729A1 (de) | 2020-08-25 | 2022-03-03 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Training von Klassifikatornetzwerken auf eine bessere Erklärbarkeit der erhaltenen Klassifikations-Scores |
CN112040138B (zh) * | 2020-08-31 | 2021-12-14 | 英华达(上海)科技有限公司 | 立体光源系统、摄像方法、装置、存储介质及电子设备 |
DE102020211166A1 (de) | 2020-09-04 | 2022-03-10 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Klassifikatornetzwerk mit transparenter, besser erklärbarer Arbeitsweise |
DE102020211995A1 (de) | 2020-09-24 | 2022-03-24 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bestimmung der für einen Bildklassifikator entscheidungsrelevanten Bildanteile im latenten Raum des Bildklassifikators |
DE102020212005B4 (de) | 2020-09-24 | 2022-06-02 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zur Bestimmung der für einen Bildklassifikator entscheidungsrelevanten Bildanteile |
US11825182B2 (en) | 2020-10-12 | 2023-11-21 | Waymo Llc | Camera module with IR LEDs for uniform illumination |
DE102020214944A1 (de) | 2020-11-27 | 2022-06-02 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bestimmung der für einen Bildklassifikator entscheidungsrelevanten Bildanteile mit vermindertem Rechenzeitbedarf |
DE102020214996A1 (de) | 2020-11-27 | 2022-06-02 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Messung der Empfindlichkeit eines Bildklassifikators gegenüber Änderungen des Eingabe-Bildes |
DE102020215814A1 (de) | 2020-12-14 | 2022-06-15 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bestimmung der für einen Bildklassifikator entscheidungsrelevanten Bildanteile mittels binärer Masken |
EP4012611A1 (de) | 2020-12-14 | 2022-06-15 | Robert Bosch GmbH | Bestimmung der für einen bildklassifikator entscheidungsrelevanten bildanteile durch zielgerichtetes abwandeln im latenten raum |
DE102020216054A1 (de) | 2020-12-16 | 2022-06-23 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Ermitteln der Wirkung des Eingabe-Bildes eines Bildklassifikators auf ein durch Faltungsschichten gebildetes Zwischenprodukt |
DE102021200877A1 (de) | 2021-02-01 | 2022-08-04 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Quantitative Beurteilung von Relevanzbewertungsfunktionen für die Ausgabe eines Bildklassifikators |
DE102021104661A1 (de) | 2021-02-26 | 2022-09-01 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bildklassifikator mit Indikatorschicht für Nachvollziehbarkeit der Entscheidungen |
DE102021104672A1 (de) | 2021-02-26 | 2022-09-01 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Erzeugen von kontrafaktischen Bildern für die Auswertung von Bildklassifikatoren |
DE102021206877A1 (de) | 2021-06-14 | 2022-12-15 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Quantitative Bewertung eines Bildverarbeiters für die Erzeugung kontrafaktischer Bilder |
DE102021214253A1 (de) | 2021-12-13 | 2023-06-15 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bestimmung der für eine Bildverarbeitung mit einem Transformer-Netzwerk entscheidungsrelevanten Bildanteile |
DE102021214465A1 (de) | 2021-12-15 | 2023-06-15 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Analyse des Verhaltens von Bildklassifikatoren |
DE102022200060A1 (de) | 2022-01-05 | 2023-07-06 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bestimmung der Relevanz von Bildanteilen für das Ergebnis einer Verarbeitung des Bildes durch ein Transformer-Netzwerk |
US20240073520A1 (en) * | 2022-08-29 | 2024-02-29 | Sony Interactive Entertainment Inc. | Dual camera tracking system |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300702A (ja) * | 1990-02-23 | 1994-10-28 | Control Autom Inc | プリント回路基板検査装置 |
US20020179679A1 (en) * | 2001-05-03 | 2002-12-05 | Kim Chang-Hyo | Three-dimensional soldering inspection apparatus and method |
US20040150822A1 (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Soldering inspection apparatus |
JP2010060312A (ja) * | 2008-09-01 | 2010-03-18 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置及び異物検査システム |
JP2013185994A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-19 | Omron Corp | 画像処理装置およびその制御方法 |
KR101376274B1 (ko) * | 2013-11-04 | 2014-03-26 | 주식회사 서울금속 | 비전 검사 장치 |
JP2015508499A (ja) * | 2012-01-05 | 2015-03-19 | ヘルミー イメージング オーワイ | 光学測定用配置および関連方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19623949C2 (de) | 1996-06-15 | 1999-06-10 | Ibea Ingenieurbuero Fuer Elekt | Vorrichtung zur optischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit von Gegenständen |
FR2806478B1 (fr) * | 2000-03-14 | 2002-05-10 | Optomachines | Dispositif et procede de controle optique de pieces de vaisselle comme des assiettes emaillees ou tout produit ceramique emaille |
TW561796B (en) * | 2001-10-12 | 2003-11-11 | Japan Aqua Co Ltd | Magnified photography device, measuring device, and measuring program |
CA2604718C (en) * | 2005-04-12 | 2012-03-13 | Tiffen Acquisition, Llc | Folding hinge |
CN201434664Y (zh) * | 2009-05-31 | 2010-03-31 | 吉林大学 | 汽车前照灯前端面位置与车体偏斜角测量辅助装置 |
CN201532192U (zh) * | 2009-11-30 | 2010-07-21 | 哈尔滨科瑞精密仪器有限公司 | 一种大量程高精度轮廓测量位移传感器 |
JP4985752B2 (ja) * | 2009-12-10 | 2012-07-25 | カシオ計算機株式会社 | 針位置検出装置および電子時計 |
JP6878781B2 (ja) * | 2016-06-30 | 2021-06-02 | オムロン株式会社 | 検査システム |
-
2017
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300702A (ja) * | 1990-02-23 | 1994-10-28 | Control Autom Inc | プリント回路基板検査装置 |
US20020179679A1 (en) * | 2001-05-03 | 2002-12-05 | Kim Chang-Hyo | Three-dimensional soldering inspection apparatus and method |
US20040150822A1 (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Soldering inspection apparatus |
JP2010060312A (ja) * | 2008-09-01 | 2010-03-18 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置及び異物検査システム |
JP2015508499A (ja) * | 2012-01-05 | 2015-03-19 | ヘルミー イメージング オーワイ | 光学測定用配置および関連方法 |
JP2013185994A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-19 | Omron Corp | 画像処理装置およびその制御方法 |
KR101376274B1 (ko) * | 2013-11-04 | 2014-03-26 | 주식회사 서울금속 | 비전 검사 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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