JP2020515406A - オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法およびその応用 - Google Patents

オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法およびその応用 Download PDF

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Abstract

本発明は、オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法およびその応用を開示する。上記方法は、シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませる工程と、シリカゲル担体を乾燥処理する工程と、化学蒸着法によってシリカゲル担体上にチタン塩(好ましくはTiCl4)を取り込ませる工程と、焼成して金属酸化物助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルを得る工程と、水蒸気洗浄によって触媒前駆体(Ti−MeO−SiO2複合酸化物)を得る工程と、化学蒸着法によって触媒前駆体の表面上にアルキルシリケート(好ましくはテトラエチルオルトシリケート)を取り込ませる工程と、触媒前駆体を焼成して表面を被覆するSiO2層を有しているTi−MeO−SiO2複合酸化物を得る工程と、シリル化処理して触媒を得る工程とを含む。上記触媒は、プロピレンのエポキシ化の化学プロセスに応用して、プロピレンオキシドを製造することができ、POに対する平均選択率は96.7%であり、本発明の方法およびその応用は、工業的利用可能性を有する。

Description

本発明は、オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法、具体的には、SiO−Ti−MeO−SiO複合酸化物触媒の製造方法、および上記方法に従って製造された触媒に関し、さらに、プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造する際の上記触媒の使用に関する。
ハルコン法としても知られる共酸化法は、プロピレンオキシドを製造するための重要な方法であり、イソブタン共酸化法(PO/TBA)およびエチルベンゼン共酸化法(PO/SM)を含む。まず、イソブタンとエチルベンゼンをそれぞれ酸化することによって過酸化物を得、次いで、プロピレンを酸化することによってプロピレンオキシドを得、tert−ブチルアルコールまたはスチレンが共生成される。
共酸化法は、強い腐食性、クロロヒドリン法による汚染水の大量生産などの欠点を克服し、製品コストが低く(共生成物がコストを共有する)、環境汚染が少ないなどの利点を有する。共酸化法は、1969年に工業化されて以来、世界中で急速に発展してきた。現在、共酸化法によるプロピレンオキシドの生産割合は、世界の総生産割合の約55%を占めている。共酸化法では、PO/SMプロセスはスチレンを共生成し、スチレンは大量に生成される化学生成物であり、樹脂およびゴムを合成するための重要なモノマーである。共生成物が比較的広い市場を持つため、このプロセスは、瞬く間に広まっている。
PO/SMプロセスは、プロセスの重要な手順(エポキシ化手順)で使用される、異なる触媒に応じて、均質PO/SMプロセスおよび不均質PO/SMプロセスに分けることができる。不均質PO/SMプロセスのエポキシ化手順に使用される触媒は、Ti−SiO複合酸化物触媒である。米国特許出願US 3829392およびUS 2003166951 A1ならびに中国特許出願CN 1894030 AおよびCN 1720100 Aに開示されている製造方法の主な工程は、以下の通りである:初めに、シリカゲル担体を乾燥させ、次いで、Nまたは他の不活性ガスを使用して、ハロゲン化チタン蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させ(この工程は化学蒸着と呼ばれる)、高温焼成し、最後に水洗などの工程を通して触媒を製造する。この方法で製造された触媒は、使用中にTi活性中心が容易に失われ、触媒活性が急速に低下し、触媒の寿命が短いなどの問題がある。
上記の問題を解決するために、Ti活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善するためのプロピレンのエポキシ化触媒の新しい製造方法を探求することが必要である。
本発明の目的は、オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法を提供することである。本発明の製造方法によって製造されたオレフィンをエポキシ化する触媒は、使用中のTi活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善することができる。
本発明では、以下のようにして触媒を得る:初めに、シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませ、乾燥後、化学蒸着し、得られた生成物を焼成してTi種を取り込ませ、水洗した後、再度、化学蒸着、焼成を行い、Ti−MeO−SiOの表面上にSiO層を取り込ませ、最後にシリル化処理する。本発明の製造方法によって製造される触媒は、特にプロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを生成するために応用される場合、使用中、Ti活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善することができる。
本発明の別の目的は、上記方法によって製造された触媒(SiO−Ti−MeO−SiO複合酸化物触媒とも称される)の使用を提供することであり、上記触媒はエポキシドを生成するためのオレフィンをエポキシ化のための触媒、とりわけプロピレンオキシドを生成するためのプロピレンのエポキシ化のための触媒として使用することができ、上記触媒は、良好な触媒活性を有するだけでなく、PO(プロピレンオキシド)に対して高い選択性を有する。
上記目的を達成するために、本発明は、以下の技術的解決手段を採用する:
オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法であって、以下の工程を含む、製造方法:
(1)シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませて、金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体Aを得る工程、ここで、特定の実施形態では、初期湿式含浸法などの含浸法を用いて上記金属塩助剤をシリカゲル担体上に取り込ませてもよい;
(2)工程(1)で得られたAを、乾燥処理する工程;
(3)乾燥させたAをチタン塩蒸気(好ましくは、TiCl蒸気)で化学蒸着して、上記金属塩助剤および上記チタン塩(好ましくは、TiCl)を取り込んだシリカゲルBを得る工程、ここで、いくつかの好ましい実施形態では、工程(3)において、乾燥させたAを反応管(好ましくは、固定床反応器)内に充填して、好ましくは、反応管にチタン塩蒸気を導入するために窒素を使用して、化学蒸着する;
(4)工程(3)で得られたBを焼成して、金属塩助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルCを得る工程、ここで、好ましくはN雰囲気下で焼成を行う;
(5)工程(4)で得られたCを水蒸気で洗浄する工程、ここで、水洗によって得られた生成物をTi−MeO−SiO複合酸化物と称する;
(6)工程(5)で得られた上記Ti−MeO−SiO複合酸化物をアルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気で蒸着して、表面にケイ素含有化合物を取り込んだTi−MeO−SiO複合酸化物Dを得る工程、ここで、好ましくは、蒸着を反応管内にて行い、上記アルキルシリケート蒸気を反応管に注入して、Ti−MeO−SiO複合酸化物を蒸着する、さらに好ましくは、窒素を用いて上記アルキルシリケート蒸気を反応管に導入して蒸着する;
(7)工程(6)で得られたDを焼成して、表面を被覆するSiO層を有しているTi−MeO−SiO複合酸化物を得る工程(このTi−MeO−SiO複合酸化物を、SiO−Ti−MeO−SiOと称する);
(8)工程(7)で得られたSiO−Ti−MeO−SiOを、シリル化処理する工程。
本発明の製造方法において現れる生成物の記号「A」、「B」、「C」、「D」は、特別な意味を有さず、説明を容易にするためにのみ生成物の記号として使用される。本明細書に記載されるTi種は、当技術分野で一般に使用される用語であり、Ti種は、四配位骨格チタン、遊離二酸化チタンを含む。
さらに、いくつかの特定の実施形態では、工程(3)〜(8)はすべて、同じ反応管中で実施される。
本発明の工程(1)における金属塩助剤としては、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、La(NOの1種類以上を用いることができる。計算のために金属塩助剤の金属酸化物の量を使用して、金属塩助剤を、シリカゲル担体の質量に基づいて、好ましくは0.6〜2.4重量%の範囲の量で添加する。上記金属酸化物は、金属塩助剤の高温焼成後の分解から得られる酸化物を指す。例えば、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、およびLa(NOに対応する酸化物は、それぞれCeO、Pr11、TbO、およびLaである。
工程(1)における含浸方法は、初期湿式含浸法または他の含浸法であってもよく、シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませることができる方法であれば特に限定されない。初期湿式含浸法を用いて金属塩助剤を取り込ませる具体的な操作は、例えば、以下のように行うことができる:まず、シリカゲル担体の単位質量当たりの吸水を測定し、シリカゲル担体の飽和吸水量を計算し、飽和吸水量をaとして記録する;ある量の金属塩助剤を秤量し、aグラムの水に塩を溶解し、水溶液をb溶液として記録する;次いでシリカゲル担体の表面上にb溶液を均一に噴霧し、その後静置し、具体的には2〜5時間静置し、さらに80〜120℃で乾燥させる;具体的な含浸操作は、当技術分野では従来の手段であり、詳細には説明しない。
本発明の工程(1)で添加する金属塩助剤は、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、La(NOの1種類以上の金属塩助剤であることが好ましい。金属塩助剤を添加する目的は、後続の焼成工程中に金属塩助剤から形成される酸化物のアルカリ性を利用し、工程(4)以降で不可避的に生成される遊離TiOの酸性を中和し、過酸化物の自己分解反応を低減し、触媒の選択性を向上させることである。
本発明の工程(1)で使用されるシリカゲル担体は、C型シリカゲルである。上記シリカゲル担体の具体的な形状は、球形または塊状などであり得るが、これらに限定されず、特に具体的な形状である必要はない。例えば、シリカゲルは、不定形塊状のC型シリカゲルであることができるが、これらに限定されない。好ましくは、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の、比表面積は100〜350m/gであり、平均細孔径は8〜11nmであり、細孔容積は0.7〜1.2mL/gであり、NaO不純物の含有量は100ppm未満であり、Fe不純物の含有量は500ppm未満であり、球相当径の大きさは0.5〜2mmである。
本発明の工程(2)における乾燥の主な目的は、シリカゲル担体中の遊離水を除去することである。好ましい乾燥温度は150〜240℃であり、好ましい乾燥時間は120〜240分間である。好ましくは工程(2)において、工程(1)で得られた金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体Aを、乾燥ガスを用いて乾燥を行う。乾燥に用いられる乾燥ガスは、シリカゲルと反応しない任意のガス、例えば、空気または窒素であってもよい。工程(1)における乾燥は、具体的には反応管内で行うことができ、反応管内の乾燥ガスの流速は、好ましくは1.0〜3.0cm/sである。
本発明の工程(3)は化学蒸着であり、具体的には、この工程の化学蒸着は反応管内で行うことができる。蒸気槽内のチタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気が、不活性ガス、好ましくはNを用いて反応管内に導入される。TiCl蒸気は、シリカゲル上の水酸基と相互作用し、次の反応を行う:
〜O−Si−OH + TiCl → 〜O−Si−O−Ti−Cl
ここで、Tiは、シリカゲル担体の重量を基準として0.1〜5.0重量%、好ましくは2.5〜4.5重量%の範囲の量でシリカゲル担体上に取り込まれる(すなわち、取り込まれたTiの量は工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量を基準として計算される)。本明細書に記載のTiは、使用されるチタン塩蒸気中のTi元素に基づく。いくつかの特定の実施形態では、チタン塩は、チタン塩蒸気を提供するための蒸気槽内に含まれる。チタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気の温度は137℃〜150℃であり、すなわち、チタン塩蒸気はこの温度に予熱される。反応管内の不活性ガス、好ましくはNの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは0.50〜1.35cm/sであり、チタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気とシリカゲル表面上の関連する水酸基との間の反応温度は150〜300℃であり、堆積時間は120〜240分間である。
いくつかの好ましい実施形態では、本発明の工程(4)におけるN雰囲気下で行われる焼成の、焼成温度は450〜700℃、好ましくは500〜600℃であり、温度は1.5〜3℃/分の速度で上昇し、焼成時間は30〜240分間、好ましくは120〜180分間であり、Nの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは1〜2.5cm/sである。焼成の主な目的は、シリカゲルの表面に吸着されたTi種をシリカゲル骨格に導入して、四配位骨格Ti(またはTi=O四面体)活性中心を形成し、活性中心を安定化させ、Cl元素の一部を、焼成プロセス中にHClガスを形成させてシリカゲル担体の表面から除去することである。
本発明の工程(5)は水洗であり、その目的は、シリカゲル担体の表面に吸着したCl素子を、水蒸気を用いて除去し、Cl元素の触媒性能への影響を低減または排除することである。水洗工程は、具体的には反応管内で行うことができる。好ましくは、不活性ガス、好ましくはNを用いて一定量の水蒸気を反応管に導入し、シリカゲル担体の表面上のCl元素を水蒸気と相互作用させ、シリカゲル担体の表面から除去されるHClガスを形成させる。いくつかの具体的な実施形態では、蒸気槽から排出される水蒸気の温度は100〜200℃(すなわち、水蒸気はこの温度に予熱される)、好ましくは120〜180℃であり、水洗時間は180〜240分間であり、不活性ガス、好ましくはNの流速は1〜2.5cm/sである。水蒸気のTiに対するモル比は20〜150:1、好ましくは50〜100:1であり、このモル比におけるTiの量は、工程(3)で使用されるチタン塩蒸気中のTi元素の量に基づく。好ましい水蒸気のモル比での水洗は、Clを効果的かつ完全に除去することができる。
本発明の工程(6)も化学蒸着であり、その主な目的は、アルキルシリケート、好ましくはテトラエチルオルトシリケートをシリカゲル担体の表面上に取り込ませることである。好ましくはこの工程の化学蒸着が反応管中で行われ、不活性ガス、好ましくはNを用いてアルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管内に導入する。いくつかの特定の実施形態では、アルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気が蒸気槽から排出され、その温度は166〜200℃に加熱されており、不活性ガス、好ましくは反応管中のNの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは0.5〜1.0cm/sであり、反応温度は166〜200℃であり、反応時間は120〜180分間であり、シリカゲル担体に対するアルキルシリケート、好ましくはテトラエチルオルトシリケートの重量比率は0.5〜1:1である。この重量比率におけるシリカゲル担体の重量は、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量に基づく。
本発明の工程(7)は、大気中でアルキルシリケート中のリガンドアルキルエステルを焼成除去することである。リガンドアルキルエステルがオキシカーバイドを形成した後、除去され、シリカゲル担体の表面上にSiOフィルム(またはSiO層)がさらに形成されてSiO−Ti−MeO−SiOサンドイッチ構造が形成される。当該構造がTi種を保護し、Ti活性中心の損失(損失率)を減少(低減)し、触媒の安定性を向上させる。いくつかの好ましい実施形態では、工程(7)において、焼成は、加熱速度が1.5〜3℃/分、焼成温度が500〜700℃、焼成時間が30〜120分間、空気の流速が0.5〜1cm/sで行われる。
本発明の工程(8)はシリル化処理であり、具体的には反応管内でシリル化処理を行うことができる。不活性気体、好ましくはNを用いてシリル化試薬蒸気を反応管内に導入し、以下のように化学反応を行う:
〜O−Si−OH + Si(CH−NH−Si(CH → 〜O−Si−O−Si(CH
シリル化処理の目的は、触媒表面の疎水性を高め、触媒の過酸化物に対する分解能を低下させ、触媒の選択性を向上させることである。シリル化試薬は、好ましくはヘキサメチルジシリルアミンである。ヘキサメチルジシリルアミンは、シリカゲル担体の重量を基準として(すなわち、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量を基準として)5重量%〜15重量%の量で使用される。好ましくは、ヘキサメチルジシリルアミンの温度は126〜150℃であり、シリル化温度は200〜300℃であり、反応管中の不活性ガス、好ましくはNの流速は0.5〜1cm/sであり、シリル化時間は60〜180分間である。
本発明の製造方法によって製造された触媒は、プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造するために使用される。好ましいプロセスの条件は、以下の通りである:反応温度は40〜120℃であり、圧力は2〜4.5MPa(ゲージ圧)であり、エチルベンゼンヒドロペルオキシド(EBHP)に対するプロピレンのモル比は3〜10:1であり、質量空間速度は1〜5h−1である。
本発明は、以下の有利な効果を奏する:
(1)化学蒸着法によりTi−MeO−SiO複合酸化物の表面上にSiOの層をさらに堆積し、保護型SiOシェルの層を形成し、Ti種を保護し、Ti活性中心の損失(損失速度)を低減させ(減少させ)、触媒の安定性を改善することができるSiO−Ti−MeO−SiOサンドイッチ構造を形成する;(2)金属助剤を添加してシリカゲル担体を改質することにより、金属助剤がTi活性中心との相乗作用を示し、触媒のプロピレンオキシドに対する活性および選択性が改善され、触媒のPOに対する平均選択率は最大96.7%であり、PO生成物のプロピレンのみの消費を減少させる;(3)本発明のプロセスフローは、制御が簡単で、工業化が容易であり、工業化の見通しが大きい。
触媒製造装置のプロセスフローを示す模式図である。
(符号の説明)
1は、ケイ素エステル蒸気槽を表す
2は、TiCl蒸気槽を表す
3は、水・シリル化剤蒸気槽を表す
4は、排ガス吸着槽を表す
5は、反応管を表す。
本発明をより良く理解するために、以下、実施形態を参照して本発明をさらに説明するが、本発明の内容はこれに限定されるものではない。
本発明の実施例で使用される誘導結合プラズマ発光分光法(ICP−OES)は、Agilent Technologies製、モデル720 ICP-OESである。
本発明の実施例において、反応液中のPO(プロピレンオキシド)の含有量および排ガス吸着液をガスクロマトグラフィにより分析し、EBHP(エチルベンゼンヒドロペルオキシド)の変換率をヨウ素滴定により分析した。クロマトグラフィの条件を表1に示す。
Figure 2020515406
POの含有量は、内部標準法によって測定した。液相濃度は、溶媒としてDMF、内部標準物質としてDT(ジオキサン)を用いて測定した。POおよびDTの内部標準曲線は、y=0.6985x−0.0046、R=0.999であった。気相吸着液中のPO濃度は、内部標準物質としてトルエンを用いて測定した。POおよびトルエンの内部標準曲線は、y=2.161x+0.0002、R=0.999であった。
液相中のPOの濃度=(0.6985×(APO/ADT)−0.0046)×0.01×希釈率
(式中、Aはピーク面積を表し、以下同様である);
液相中のPOの含有量=液相中のPOの濃度×液相中の試料の質量;
気相中のPO濃度=(2.162×(APO/Aトルエン)+0.0002)×トルエンの質量;
気相中のPOの含有量=気相中のPOの濃度×吸収液の総量/気相中の試料の量;
POの総生産量=気相中のPOの含有量+液相中のPOの含有量;
POに対する選択性=POの総生産量/EBHP(エチルベンゼンヒドロペルオキシド)によって酸化されたプロピレンから理論的に生産されたPOの量×100%。
EBHPの変換率を、ヨウ素滴定により滴定し、滴定装置により測定した。
EBHP変換率=(EBHPの初期値−EBHPの残存量)/EBHPの初期値。
EBHPの残存量=(滴定終点−ブランク)×C(Na)×0.001×0.5×142×液体試料の総量/滴定用試料量
(式中、C(Na)はチオ硫酸ナトリウムの濃度)。
実施例または比較例で使用したシリカゲル担体は、青田王組中華精密化学(株)製の不定形塊状のC型シリカゲル担体であり、シリカゲル粒度(球相当径)は0.6〜1.1mmであり、比表面積は256m/gであり、平均細孔径は9.2nmであり、細孔容積は0.94mL/gであり、吸水率は1.12g水/gシリカゲル(飽和吸水量)であり、NaO不純物の含有量は89ppmであり、Fe不純物の含有量は327ppmである。
実施例および比較例におけるプロピレンのエポキシ化によるプロピレンオキシドを製造するための方法は、以下の通りである:酸化剤がエチルベンゼンヒドロペルオキシド(EBHP)であり、反応管が内径24mmの固定床反応器であり、触媒が10g取り込まれており、EBHPに対するプロピレンのモル比が5:1であり、質量空間速度が4h−1であり、最初の反応温度が50℃であり、反応温度がEBHPの変換率に応じて徐々に上昇する(EBHPの変換率が>99%であることが保証された)。
〔実施例1〕
秤量した0.36gのCe(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。この工程で得られた生成物を、金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体A(または生成物AまたはAと略称する)と称する。
図1に示すように、Ce(NOを取り込んだシリカゲル担体(すなわち、生成物A)を反応管5に充填し、N雰囲気下にて、180℃で120分間乾燥した。反応管5中のNの線速度を1.2cm/sとした。この工程で乾燥させたAを得た。
TiClの化学蒸着:2.98gのTiClを、TiCl蒸気槽2に添加した後、137℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管5に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管5内のNの線速度を0.5cm/sとし、蒸着時間は120分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ180℃)であった。本工程で得られた生成物を、金属塩助剤およびTiClを取り込んだシリカゲルB(シリカゲルBまたはBと略称する)と称する。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を500℃に上昇させ、反応管5内のNの線速度を1cm/sとし、シリカゲルBを120分間焼成した。この工程で得られた生成物を、金属酸化物助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルC(またはCと略称する)と称する。
水洗:14.1gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽3に添加した後、120℃に加熱し、得られたシリカゲルCを水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管5に導入した。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、水洗時間は180分間であった。水蒸気洗浄により得られた生成物を、Ti−MeO−SiO複合酸化物と称する。
ケイ素エステルの化学蒸着:15gのテトラエチルオルトシリケートを、ケイ素エステル蒸気槽1に添加した後、166℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、蒸着時間は120分間(反応温度はケイ素エステル蒸気槽を加熱した温度と同じ166℃)であった。この工程で得られた生成物を、複合酸化物の表面上にケイ素含有化合物を取り込んだTi−MeO−SiO複合酸化物D(または生成物Dと称する)と称する。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を500℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.5cm/sとし、生成物Dを120分間焼成した。焼成により、表面を被膜するSiO層を有している生成物を得た。当該生成物を、表面を被膜するSiO層を有しているTi−MeO−SiO複合酸化物、またはSiO−Ti−MeO−SiOと称する。
シリル化処理:4.5gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽3に添加した後、130℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた(シリカゲルとは、焼成により得られた生成物、SiO−Ti−MeO−SiOを表す)。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、シリル化温度は200℃であり、シリル化時間は180分間であった。得られた触媒を、TS−C1と称する。
排ガス吸着槽4を、担体上に取り込まれていないTiCl、ならびに焼成および水洗時に生成されるHClを吸着するために使用した。
TS−C1を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1000時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から80℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.4%に達し、平均選択率は95.2%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例2〕
秤量した0.48gのPr(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、Pr(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、200℃で180分間乾燥した。反応管中のNの線速度を1.6cm/sとした。
TiClの化学蒸着:3.57gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、140℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.7cm/sとし、蒸着時間は180分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を550℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を1.5cm/sとし、180分間焼成した。
水洗:26.7gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を1.5cm/sとし、水洗時間は180分間であった。
ケイ素エステルの化学蒸着:21gのテトラエチルオルトシリケートを、ケイ素エステル蒸気槽に添加した後、170℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は150分間(反応温度はケイ素エステル蒸気槽を加熱した温度と同じ170℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を550℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.7cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:3gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、135℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.7cm/sとし、シリル化温度は200℃であり、シリル化時間は150分間であった。得られた触媒を、TS−C2と称する。
TS−C2を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1550時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から85℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.7%に達し、平均選択率は95.1%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例3〕
秤量した0.6gのTb(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、Tb(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
ケイ素エステルの化学蒸着:27gのテトラエチルオルトシリケートを、ケイ素エステル蒸気槽に添加した後、180℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.9cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はケイ素エステル蒸気槽を加熱した温度と同じ180℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−T3と称する。
TS−T3を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1800時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から90℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は97.8%に達し、平均選択率は96.7%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例4〕
秤量した0.72gのLa(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、La(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、220℃で120分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2.5cm/sとした。
TiClの化学蒸着:5.36gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、150℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を1.35cm/sとし、蒸着時間は240分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ220℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を550℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2.5cm/sとし、240分間焼成した。
水洗:50.7gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、180℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2.5cm/sとし、水洗時間は240分間であった。
ケイ素エステルの化学蒸着:30gのテトラエチルオルトシリケートを、ケイ素エステル蒸気槽に添加した後、200℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はケイ素エステル蒸気槽を加熱した温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を700℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を1cm/sとし、30分間焼成した。
シリル化処理:1.8gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、150℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.6cm/sとし、シリル化時間は150分間であり、シリル化温度は300℃であった。得られた触媒を、TS−L4と称する。
TS−L4を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1200時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から75℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.8%に達し、平均選択率は95.6%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔比較例1〕
秤量した0.6gのTb(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
Tb(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−B4と称する。
TS−B4を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、750時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から80℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は97.5%に達し、平均選択率は95.7%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収した。生成物中の触媒成分Tiの含有量は、313ppmであった。新鮮な触媒中のTi含有量は約3.42%であり、評価後の触媒中のTi含有量は約2.61%であり、損失率は23.7%に達した。
〔比較例2〕
秤量した30gのシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
ケイ素エステルの化学蒸着:27gのテトラエチルオルトシリケートを、ケイ素エステル蒸気槽に添加した後、180℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.9cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はケイ素エステル蒸気槽を加熱した温度と同じ180℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−01と称する。
TS−01を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1500時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から100℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は94.6%に達し、平均選択率は92.1%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔比較例3〕
秤量した30gのシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−02と称する。
TS−02を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、620時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から95℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は93.6%に達し、平均選択率は91.1%に達した。新鮮な触媒中のTi含有量は約3.45%であった。ICP−OES分析のために生成物を回収した。評価後の触媒中のTi含有量は約2.56%であり、損失率は25.8%に達した。
実施例および比較例の実験結果は、本発明の製造方法によって製造された触媒が使用中に良好な触媒安定性を有し、触媒の活性および選択性が観察時間中に有意に変化せず、活性が安定であることを示す。各実施例の生成物中にTi元素が見出されなかったということは、触媒中の活性成分が失われなかったことを示す。本発明の製造方法によって製造された触媒は、使用中のTi活性中心の損失を低減することができることがわかる。当該触媒の活性は安定であり、当該触媒の耐用年数は改善され、当該触媒はPOに対して高い選択性を有していた。
本発明は、オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法、具体的には、SiO−Ti−MeO−SiO複合酸化物触媒の製造方法、および上記方法に従って製造された触媒に関し、さらに、プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造する際の上記触媒の使用に関する。
ハルコン法としても知られる共酸化法は、プロピレンオキシドを製造するための重要な方法であり、イソブタン共酸化法(PO/TBA)およびエチルベンゼン共酸化法(PO/SM)を含む。まず、イソブタンとエチルベンゼンをそれぞれ酸化することによって過酸化物を得、次いで、プロピレンを酸化することによってプロピレンオキシドを得、tert−ブチルアルコールまたはスチレンが共生成される。
共酸化法は、強い腐食性、クロロヒドリン法による汚染水の大量生産などの欠点を克服し、製品コストが低く(共生成物がコストを共有する)、環境汚染が少ないなどの利点を有する。共酸化法は、1969年に工業化されて以来、世界中で急速に発展してきた。現在、共酸化法によるプロピレンオキシドの生産割合は、世界の総生産割合の約55%を占めている。共酸化法では、PO/SMプロセスはスチレンを共生成し、スチレンは大量に生成される化学生成物であり、樹脂およびゴムを合成するための重要なモノマーである。共生成物が比較的広い市場を持つため、このプロセスは、瞬く間に広まっている。
PO/SMプロセスは、プロセスの重要な手順(エポキシ化手順)で使用される、異なる触媒に応じて、均質PO/SMプロセスおよび不均質PO/SMプロセスに分けることができる。不均質PO/SMプロセスのエポキシ化手順に使用される触媒は、Ti−SiO複合酸化物触媒である。米国特許出願US 3829392およびUS 2003166951 A1ならびに中国特許出願CN 1894030 AおよびCN 1720100 Aに開示されている製造方法の主な工程は、以下の通りである:初めに、シリカゲル担体を乾燥させ、次いで、Nまたは他の不活性ガスを使用して、ハロゲン化チタン蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させ(この工程は化学蒸着と呼ばれる)、高温焼成し、最後に水洗などの工程を通して触媒を製造する。この方法で製造された触媒は、使用中にTi活性中心が容易に失われ、触媒活性が急速に低下し、触媒の寿命が短いなどの問題がある。
上記の問題を解決するために、Ti活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善するためのプロピレンのエポキシ化触媒の新しい製造方法を探求することが必要である。
本発明の目的は、オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法を提供することである。本発明の製造方法によって製造されたオレフィンをエポキシ化する触媒は、使用中のTi活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善することができる。
本発明では、以下のようにして触媒を得る:初めに、シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませ、乾燥後、化学蒸着し、得られた生成物を焼成してTi種を取り込ませ、水洗した後、再度、化学蒸着、焼成を行い、Ti−MeO−SiOの表面上にSiO層を取り込ませ、最後にシリル化処理する。本発明の製造方法によって製造される触媒は、特にプロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを生成するために応用される場合、使用中、Ti活性中心の損失を低減し、触媒の耐用年数を改善することができる。
本発明の別の目的は、上記方法によって製造された触媒(SiO−Ti−MeO−SiO複合酸化物触媒とも称される)の使用を提供することであり、上記触媒はエポキシドを生成するためのオレフィンをエポキシ化のための触媒、とりわけプロピレンオキシドを生成するためのプロピレンのエポキシ化のための触媒として使用することができ、上記触媒は、良好な触媒活性を有するだけでなく、PO(プロピレンオキシド)に対して高い選択性を有する。
上記目的を達成するために、本発明は、以下の技術的解決手段を採用する:
オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法であって、以下の工程を含む、製造方法:
(1)シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませて、金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体Aを得る工程、ここで、特定の実施形態では、初期湿式含浸法などの含浸法を用いて上記金属塩助剤をシリカゲル担体上に取り込ませてもよい;
(2)工程(1)で得られたAを、乾燥処理する工程;
(3)乾燥させたAをチタン塩蒸気(好ましくは、TiCl蒸気)で化学蒸着して、上記金属塩助剤および上記チタン塩(好ましくは、TiCl)を取り込んだシリカゲルBを得る工程、ここで、いくつかの好ましい実施形態では、工程(3)において、乾燥させたAを反応管(好ましくは、固定床反応器)内に充填して、好ましくは、反応管にチタン塩蒸気を導入するために窒素を使用して、化学蒸着する;
(4)工程(3)で得られたBを焼成して、金属塩助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルCを得る工程、ここで、好ましくはN雰囲気下で焼成を行う;
(5)工程(4)で得られたCを水蒸気で洗浄する工程、ここで、水洗によって得られた生成物をTi−MeO−SiO複合酸化物と称する;
(6)工程(5)で得られた上記Ti−MeO−SiO複合酸化物をアルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気で蒸着して、表面にケイ素含有化合物を取り込んだTi−MeO−SiO複合酸化物Dを得る工程、ここで、好ましくは、蒸着を反応管内にて行い、上記アルキルシリケート蒸気を反応管に注入して、Ti−MeO−SiO複合酸化物を蒸着する、さらに好ましくは、窒素を用いて上記アルキルシリケート蒸気を反応管に導入して蒸着する;
(7)工程(6)で得られたDを焼成して、表面を被覆するSiO層を有しているTi−MeO−SiO複合酸化物を得る工程(このTi−MeO−SiO複合酸化物を、SiO−Ti−MeO−SiOと称する);
(8)工程(7)で得られたSiO−Ti−MeO−SiOを、シリル化処理する工程。
本発明の製造方法において現れる生成物の記号「A」、「B」、「C」、「D」は、特別な意味を有さず、説明を容易にするためにのみ生成物の記号として使用される。本明細書に記載されるTi種は、当技術分野で一般に使用される用語であり、Ti種は、四配位骨格チタン、遊離二酸化チタンを含む。
さらに、いくつかの特定の実施形態では、工程(3)〜(8)はすべて、同じ反応管中で実施される。
本発明の工程(1)における金属塩助剤としては、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、La(NOの1種類以上を用いることができる。計算のために金属塩助剤の金属酸化物の量を使用して、金属塩助剤を、シリカゲル担体の質量に基づいて、好ましくは0.6〜2.4重量%の範囲の量で添加する。上記金属酸化物は、金属塩助剤の高温焼成後の分解から得られる酸化物を指す。例えば、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、およびLa(NOに対応する酸化物は、それぞれCeO、Pr11、TbO、およびLaである。
工程(1)における含浸方法は、初期湿式含浸法または他の含浸法であってもよく、シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませることができる方法であれば特に限定されない。初期湿式含浸法を用いて金属塩助剤を取り込ませる具体的な操作は、例えば、以下のように行うことができる:まず、シリカゲル担体の単位質量当たりの吸水を測定し、シリカゲル担体の飽和吸水量を計算し、飽和吸水量をaとして記録する;ある量の金属塩助剤を秤量し、aグラムの水に塩を溶解し、水溶液をb溶液として記録する;次いでシリカゲル担体の表面上にb溶液を均一に噴霧し、その後静置し、具体的には2〜5時間静置し、さらに80〜120℃で乾燥させる;具体的な含浸操作は、当技術分野では従来の手段であり、詳細には説明しない。
本発明の工程(1)で添加する金属塩助剤は、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NO、La(NOの1種類以上の金属塩助剤であることが好ましい。金属塩助剤を添加する目的は、後続の焼成工程中に金属塩助剤から形成される酸化物のアルカリ性を利用し、工程(4)以降で不可避的に生成される遊離TiOの酸性を中和し、過酸化物の自己分解反応を低減し、触媒の選択性を向上させることである。
本発明の工程(1)で使用されるシリカゲル担体は、C型シリカゲルである。上記シリカゲル担体の具体的な形状は、球形または塊状などであり得るが、これらに限定されず、特に具体的な形状である必要はない。例えば、シリカゲルは、不定形塊状のC型シリカゲルであることができるが、これらに限定されない。好ましくは、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の、比表面積は100〜350m/gであり、平均細孔径は8〜11nmであり、細孔容積は0.7〜1.2mL/gであり、NaO不純物の含有量は100ppm未満であり、Fe不純物の含有量は500ppm未満であり、球相当径の大きさは0.5〜2mmである。
本発明の工程(2)における乾燥の主な目的は、シリカゲル担体中の遊離水を除去することである。好ましい乾燥温度は150〜240℃であり、好ましい乾燥時間は120〜240分間である。好ましくは工程(2)において、工程(1)で得られた金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体Aを、乾燥ガスを用いて乾燥を行う。乾燥に用いられる乾燥ガスは、シリカゲルと反応しない任意のガス、例えば、空気または窒素であってもよい。工程()における乾燥は、具体的には反応管内で行うことができ、反応管内の乾燥ガスの流速は、好ましくは1.0〜3.0cm/sである。
本発明の工程(3)は化学蒸着であり、具体的には、この工程の化学蒸着は反応管内で行うことができる。蒸気槽内のチタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気が、不活性ガス、好ましくはNを用いて反応管内に導入される。TiCl蒸気は、シリカゲル上の水酸基と相互作用し、次の反応を行う:
〜O−Si−OH + TiCl → 〜O−Si−O−Ti−Cl
ここで、Tiは、シリカゲル担体の重量を基準として0.1〜5.0重量%、好ましくは2.5〜4.5重量%の範囲の量でシリカゲル担体上に取り込まれる(すなわち、取り込まれたTiの量は工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量を基準として計算される)。本明細書に記載のTiは、使用されるチタン塩蒸気中のTi元素に基づく。いくつかの特定の実施形態では、チタン塩は、チタン塩蒸気を提供するための蒸気槽内に含まれる。チタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気の温度は137℃〜150℃であり、すなわち、チタン塩蒸気はこの温度に予熱される。反応管内の不活性ガス、好ましくはNの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは0.50〜1.35cm/sであり、チタン塩蒸気、好ましくはTiCl蒸気とシリカゲル表面上の関連する水酸基との間の反応温度は150〜300℃であり、堆積時間は120〜240分間である。
いくつかの好ましい実施形態では、本発明の工程(4)におけるN雰囲気下で行われる焼成の、焼成温度は450〜700℃、好ましくは500〜600℃であり、温度は1.5〜3℃/分の速度で上昇し、焼成時間は30〜240分間、好ましくは120〜180分間であり、Nの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは1〜2.5cm/sである。焼成の主な目的は、シリカゲルの表面に吸着されたTi種をシリカゲル骨格に導入して、四配位骨格Ti(またはTi=O四面体)活性中心を形成し、活性中心を安定化させ、Cl元素の一部を、焼成プロセス中にHClガスを形成させてシリカゲル担体の表面から除去することである。
本発明の工程(5)は水洗であり、その目的は、シリカゲル担体の表面に吸着したCl素子を、水蒸気を用いて除去し、Cl元素の触媒性能への影響を低減または排除することである。水洗工程は、具体的には反応管内で行うことができる。好ましくは、不活性ガス、好ましくはNを用いて一定量の水蒸気を反応管に導入し、シリカゲル担体の表面上のCl元素を水蒸気と相互作用させ、シリカゲル担体の表面から除去されるHClガスを形成させる。いくつかの具体的な実施形態では、蒸気槽から排出される水蒸気の温度は100〜200℃(すなわち、水蒸気はこの温度に予熱される)、好ましくは120〜180℃であり、水洗時間は180〜240分間であり、不活性ガス、好ましくはNの流速は1〜2.5cm/sである。水蒸気のTiに対するモル比は20〜150:1、好ましくは50〜100:1であり、このモル比におけるTiの量は、工程(3)で使用されるチタン塩蒸気中のTi元素の量に基づく。好ましい水蒸気のモル比での水洗は、Clを効果的かつ完全に除去することができる。
本発明の工程(6)も化学蒸着であり、その主な目的は、アルキルシリケート、好ましくはテトラエチルオルトシリケートをシリカゲル担体の表面上に取り込ませることである。好ましくはこの工程の化学蒸着が反応管中で行われ、不活性ガス、好ましくはNを用いてアルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管内に導入する。いくつかの特定の実施形態では、アルキルシリケート蒸気、好ましくはテトラエチルオルトシリケート蒸気が蒸気槽から排出され、その温度は166〜200℃に加熱されており、不活性ガス、好ましくは反応管中のNの流速は0.05〜2.0cm/s、好ましくは0.5〜1.0cm/sであり、反応温度は166〜200℃であり、反応時間は120〜180分間であり、シリカゲル担体に対するアルキルシリケート、好ましくはテトラエチルオルトシリケートの重量比率は0.5〜1:1である。この重量比率におけるシリカゲル担体の重量は、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量に基づく。
本発明の工程(7)は、大気中でアルキルシリケート中のリガンドアルキルエステルを焼成除去することである。リガンドアルキルエステルがオキシカーバイドを形成した後、除去され、シリカゲル担体の表面上にSiOフィルム(またはSiO層)がさらに形成されてSiO−Ti−MeO−SiOサンドイッチ構造が形成される。当該構造がTi種を保護し、Ti活性中心の損失(損失率)を減少(低減)し、触媒の安定性を向上させる。いくつかの好ましい実施形態では、工程(7)において、焼成は、加熱速度が1.5〜3℃/分、焼成温度が500〜700℃、焼成時間が30〜120分間、空気の流速が0.5〜1cm/sで行われる。
本発明の工程(8)はシリル化処理であり、具体的には反応管内でシリル化処理を行うことができる。不活性気体、好ましくはNを用いてシリル化試薬蒸気を反応管内に導入し、以下のように化学反応を行う:
〜O−Si−OH + Si(CH−NH−Si(CH → 〜O−Si−O−Si(CH
シリル化処理の目的は、触媒表面の疎水性を高め、触媒の過酸化物に対する分解能を低下させ、触媒の選択性を向上させることである。シリル化試薬は、好ましくはヘキサメチルジシリルアミンである。ヘキサメチルジシリルアミンは、シリカゲル担体の重量を基準として(すなわち、工程(1)で使用されるシリカゲル担体の重量を基準として)5重量%〜15重量%の量で使用される。好ましくは、ヘキサメチルジシリルアミンの温度は126〜150℃であり、シリル化温度は200〜300℃であり、反応管中の不活性ガス、好ましくはNの流速は0.5〜1cm/sであり、シリル化時間は60〜180分間である。
本発明の製造方法によって製造された触媒は、プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造するために使用される。好ましいプロセスの条件は、以下の通りである:反応温度は40〜120℃であり、圧力は2〜4.5MPa(ゲージ圧)であり、エチルベンゼンヒドロペルオキシド(EBHP)に対するプロピレンのモル比は3〜10:1であり、質量空間速度は1〜5h−1である。
本発明は、以下の有利な効果を奏する:
(1)化学蒸着法によりTi−MeO−SiO複合酸化物の表面上にSiOの層をさらに堆積し、保護型SiOシェルの層を形成し、Ti種を保護し、Ti活性中心の損失(損失速度)を低減させ(減少させ)、触媒の安定性を改善することができるSiO−Ti−MeO−SiOサンドイッチ構造を形成する;(2)金属助剤を添加してシリカゲル担体を改質することにより、金属助剤がTi活性中心との相乗作用を示し、触媒のプロピレンオキシドに対する活性および選択性が改善され、触媒のPOに対する平均選択率は最大96.7%であり、PO生成物のプロピレンのみの消費を減少させる;(3)本発明のプロセスフローは、制御が簡単で、工業化が容易であり、工業化の見通しが大きい。
触媒製造装置のプロセスフローを示す模式図である。
(符号の説明)
1は、アルキルシリケート蒸気槽を表す
2は、TiCl蒸気槽を表す
3は、水・シリル化剤蒸気槽を表す
4は、排ガス吸着槽を表す
5は、反応管を表す。
本発明をより良く理解するために、以下、実施形態を参照して本発明をさらに説明するが、本発明の内容はこれに限定されるものではない。
本発明の実施例で使用される誘導結合プラズマ発光分光法(ICP−OES)は、Agilent Technologies製、モデル720 ICP-OESである。
本発明の実施例において、反応液中のPO(プロピレンオキシド)の含有量および排ガス吸着液をガスクロマトグラフィにより分析し、EBHP(エチルベンゼンヒドロペルオキシド)の変換率をヨウ素滴定により分析した。クロマトグラフィの条件を表1に示す。
Figure 2020515406
POの含有量は、内部標準法によって測定した。液相濃度は、溶媒としてDMF、内部標準物質としてDT(ジオキサン)を用いて測定した。POおよびDTの内部標準曲線は、y=0.6985x−0.0046、R=0.999であった。気相吸着液中のPO濃度は、内部標準物質としてトルエンを用いて測定した。POおよびトルエンの内部標準曲線は、y=2.161x+0.0002、R=0.999であった。
液相中のPOの濃度=(0.6985×(APO/ADT)−0.0046)×0.01×希釈率
(式中、Aはピーク面積を表し、以下同様である);
液相中のPOの含有量=液相中のPOの濃度×液相中の試料の質量;
気相中のPO濃度=(2.162×(APO/Aトルエン)+0.0002)×トルエンの質量;
気相中のPOの含有量=気相中のPOの濃度×吸収液の総量/気相中の試料の量;
POの総生産量=気相中のPOの含有量+液相中のPOの含有量;
POに対する選択性=POの総生産量/EBHP(エチルベンゼンヒドロペルオキシド)によって酸化されたプロピレンから理論的に生産されたPOの量×100%。
EBHPの変換率を、ヨウ素滴定により滴定し、滴定装置により測定した。
EBHP変換率=(EBHPの初期値−EBHPの残存量)/EBHPの初期値。
EBHPの残存量=(滴定終点−ブランク)×C(Na)×0.001×0.5×142×液体試料の総量/滴定用試料量
(式中、C(Na)はチオ硫酸ナトリウムの濃度)。
実施例または比較例で使用したシリカゲル担体は、青田王組中華精密化学(株)製の不定形塊状のC型シリカゲル担体であり、シリカゲル粒度(球相当径)は0.6〜1.1mmであり、比表面積は256m/gであり、平均細孔径は9.2nmであり、細孔容積は0.94mL/gであり、吸水率は1.12g水/gシリカゲル(飽和吸水量)であり、NaO不純物の含有量は89ppmであり、Fe不純物の含有量は327ppmである。
実施例および比較例におけるプロピレンのエポキシ化によるプロピレンオキシドを製造するための方法は、以下の通りである:酸化剤がエチルベンゼンヒドロペルオキシド(EBHP)であり、反応管が内径24mmの固定床反応器であり、触媒が10g取り込まれており、EBHPに対するプロピレンのモル比が5:1であり、質量空間速度が4h−1であり、最初の反応温度が50℃であり、反応温度がEBHPの変換率に応じて徐々に上昇する(EBHPの変換率が>99%であることが保証された)。
〔実施例1〕
秤量した0.36gのCe(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。この工程で得られた生成物を、金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体A(または生成物AまたはAと略称する)と称する。
図1に示すように、Ce(NOを取り込んだシリカゲル担体(すなわち、生成物A)を反応管5に充填し、N雰囲気下にて、180℃で120分間乾燥した。反応管5中のNの線速度を1.2cm/sとした。この工程で乾燥させたAを得た。
TiClの化学蒸着:2.98gのTiClを、TiCl蒸気槽2に添加した後、137℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管5に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管5内のNの線速度を0.5cm/sとし、蒸着時間は120分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ180℃)であった。本工程で得られた生成物を、金属塩助剤およびTiClを取り込んだシリカゲルB(シリカゲルBまたはBと略称する)と称する。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を500℃に上昇させ、反応管5内のNの線速度を1cm/sとし、シリカゲルBを120分間焼成した。この工程で得られた生成物を、金属酸化物助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルC(またはCと略称する)と称する。
水洗:14.1gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽3に添加した後、120℃に加熱し、得られたシリカゲルCを水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管5に導入した。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、水洗時間は180分間であった。水蒸気洗浄により得られた生成物を、Ti−MeO−SiO複合酸化物と称する。
アルキルシリケートの化学蒸着:15gのテトラエチルオルトシリケートを、アルキルシリケート蒸気槽1に添加した後、166℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、蒸着時間は120分間(反応温度はアルキルシリケート蒸気槽を加熱した温度と同じ166℃)であった。この工程で得られた生成物を、複合酸化物の表面上にケイ素含有化合物を取り込んだTi−MeO−SiO複合酸化物D(または生成物Dと称する)と称する。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を500℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.5cm/sとし、生成物Dを120分間焼成した。焼成により、表面を被膜するSiO層を有している生成物を得た。当該生成物を、表面を被膜するSiO層を有しているTi−MeO−SiO複合酸化物、またはSiO−Ti−MeO−SiOと称する。
シリル化処理:4.5gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽3に添加した後、130℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた(シリカゲルとは、焼成により得られた生成物、SiO−Ti−MeO−SiOを表す)。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、シリル化温度は200℃であり、シリル化時間は180分間であった。得られた触媒を、TS−C1と称する。
排ガス吸着槽4を、担体上に取り込まれていないTiCl、ならびに焼成および水洗時に生成されるHClを吸着するために使用した。
TS−C1を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1000時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から80℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.4%に達し、平均選択率は95.2%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例2〕
秤量した0.48gのPr(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、Pr(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、200℃で180分間乾燥した。反応管中のNの線速度を1.6cm/sとした。
TiClの化学蒸着:3.57gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、140℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.7cm/sとし、蒸着時間は180分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を550℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を1.5cm/sとし、180分間焼成した。
水洗:26.7gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を1.5cm/sとし、水洗時間は180分間であった。
アルキルシリケートの化学蒸着:21gのテトラエチルオルトシリケートを、アルキルシリケート蒸気槽に添加した後、170℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は150分間(反応温度はアルキルシリケート蒸気槽を加熱した温度と同じ170℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を550℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.7cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:3gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、135℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.7cm/sとし、シリル化温度は200℃であり、シリル化時間は150分間であった。得られた触媒を、TS−C2と称する。
TS−C2を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1550時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から85℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.7%に達し、平均選択率は95.1%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例3〕
秤量した0.6gのTb(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、Tb(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
アルキルシリケートの化学蒸着:27gのテトラエチルオルトシリケートを、アルキルシリケート蒸気槽に添加した後、180℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.9cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はアルキルシリケート蒸気槽を加熱した温度と同じ180℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−T3と称する。
TS−T3を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1800時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から90℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は97.8%に達し、平均選択率は96.7%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔実施例4〕
秤量した0.72gのLa(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
図1に示すように、La(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、220℃で120分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2.5cm/sとした。
TiClの化学蒸着:5.36gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、150℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を1.35cm/sとし、蒸着時間は240分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ220℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を550℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2.5cm/sとし、240分間焼成した。
水洗:50.7gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、180℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2.5cm/sとし、水洗時間は240分間であった。
アルキルシリケートの化学蒸着:30gのテトラエチルオルトシリケートを、アルキルシリケート蒸気槽に添加した後、200℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を1cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はアルキルシリケート蒸気槽を加熱した温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を700℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を1cm/sとし、30分間焼成した。
シリル化処理:1.8gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、150℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.6cm/sとし、シリル化時間は150分間であり、シリル化温度は300℃であった。得られた触媒を、TS−L4と称する。
TS−L4を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1200時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から75℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は96.8%に達し、平均選択率は95.6%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔比較例1〕
秤量した0.6gのTb(NOを、33.6gの蒸留水中に溶解し、30gのシリカゲル担体上に噴霧した。2時間静置した後、80℃で乾燥させた。
Tb(NOを取り込んだシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−B4と称する。
TS−B4を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、750時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から80℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は97.5%に達し、平均選択率は95.7%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収した。生成物中の触媒成分Tiの含有量は、313ppmであった。新鮮な触媒中のTi含有量は約3.42%であり、評価後の触媒中のTi含有量は約2.61%であり、損失率は23.7%に達した。
〔比較例2〕
秤量した30gのシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ240℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
アルキルシリケートの化学蒸着:27gのテトラエチルオルトシリケートを、アルキルシリケート蒸気槽に添加した後、180℃の温度に加熱し、Nを用いてテトラエチルオルトシリケート蒸気を反応管に導入してシリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.9cm/sとし、蒸着時間は180分間(反応温度はアルキルシリケート蒸気槽を加熱した温度と同じ180℃)であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−01と称する。
TS−01を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、1500時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から100℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は94.6%に達し、平均選択率は92.1%に達した。ICP−OES分析のために生成物を回収したが、触媒成分Tiは見出されなかった。
〔比較例3〕
秤量した30gのシリカゲル担体を反応管に充填し、N雰囲気下にて、240℃で240分間乾燥した。反応管中のNの線速度を2cm/sとした。
TiClの化学蒸着:4.17gのTiClを、TiCl蒸気槽に添加した後、145℃に加熱し、Nを用いてTiCl蒸気を反応管に導入して、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.8cm/sとし、蒸着時間は200分間(本工程の反応温度は前工程の乾燥温度と同じ200℃)であった。
焼成:加熱速度2℃/分で温度を600℃に上昇させ、反応管内のNの線速度を2cm/sとし、200分間焼成した。
水洗:33.5gの蒸留水を、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、160℃に加熱し、水洗するために、Nを用いて水蒸気を反応管に導入した。反応管内のNの線速度を2cm/sとし、水洗時間は200分間であった。
焼成:加熱速度3℃/分で、温度を600℃に上昇させた。反応管内の空気の線速度を0.8cm/sとし、60分間焼成した。
シリル化処理:2.4gのヘキサメチルジシリルアミンを、水を有するシリル化試薬蒸気槽に添加した後、140℃の温度に加熱し、Nを用いてヘキサメチルジシリルアミン蒸気を反応管に導入し、シリカゲルと反応させた。反応管内のNの線速度を0.5cm/sとし、シリル化温度は250℃であり、シリル化時間は120分間であった。得られた触媒を、TS−02と称する。
TS−02を評価した。触媒を、プロピレンのエポキシ化によりプロピレンオキシドを製造するために使用し、620時間、連続作用させ、反応温度を最初の50℃から95℃に上げ、ガスクロマトグラフィ分析のためにサンプリングした。EBHP変換率は99.9%超であり、POに対する最高選択率は93.6%に達し、平均選択率は91.1%に達した。新鮮な触媒中のTi含有量は約3.45%であった。ICP−OES分析のために生成物を回収した。評価後の触媒中のTi含有量は約2.56%であり、損失率は25.8%に達した。
実施例および比較例の実験結果は、本発明の製造方法によって製造された触媒が使用中に良好な触媒安定性を有し、触媒の活性および選択性が観察時間中に有意に変化せず、活性が安定であることを示す。各実施例の生成物中にTi元素が見出されなかったということは、触媒中の活性成分が失われなかったことを示す。本発明の製造方法によって製造された触媒は、使用中のTi活性中心の損失を低減することができることがわかる。当該触媒の活性は安定であり、当該触媒の耐用年数は改善され、当該触媒はPOに対して高い選択性を有していた。

Claims (12)

  1. オレフィンをエポキシ化する触媒の製造方法であって、以下の工程を含む、製造方法:
    (1)シリカゲル担体上に金属塩助剤を取り込ませて、金属塩助剤で修飾されたシリカゲル担体Aを得る工程(好ましくは、含浸法によって、金属塩助剤をシリカゲル担体上に取り込ませる);
    (2)工程(1)で得られたAを、乾燥処理する工程;
    (3)乾燥させたAをチタン塩蒸気(好ましくは、TiCl蒸気)で化学蒸着して、上記金属塩助剤および上記チタン塩(好ましくは、TiCl)を取り込んだシリカゲルBを得る工程;
    (4)工程(3)で得られたBを焼成して、金属塩助剤およびTi種を取り込んだシリカゲルCを得る工程;
    (5)工程(4)で得られたCを水蒸気で洗浄して、Ti−MeO−SiO複合酸化物を得る工程;
    (6)上記Ti−MeO−SiO複合酸化物をアルキルシリケート蒸気で蒸着して、表面にケイ素含有化合物を取り込んだTi−MeO−SiO複合酸化物Dを得る工程(好ましくは、上記アルキルシリケート蒸気は、テトラエチルオルトシリケート蒸気である);
    (7)工程(6)で得られたDを焼成して、表面を被覆するSiO層を有しているTi−MeO−SiO複合酸化物を得る工程(このTi−MeO−SiO複合酸化物を、SiO−Ti−MeO−SiOと称する);
    (8)工程(7)で得られたSiO−Ti−MeO−SiOを、シリル化処理する工程。
  2. 工程(1)における上記金属塩助剤は、Ce(NO、Pr(NO、Tb(NOおよびLa(NOのうちの1つ以上であり、
    好ましくは、工程(1)において、上記金属塩助剤の金属酸化物の量を計算に用いると、上記金属塩助剤を上記シリカゲル担体の質量を基準として0.6〜2.4重量%添加する、
    請求項1に記載の方法。
  3. 工程(1)で使用される上記シリカゲル担体は、C型シリカゲルであり、
    好ましくは球形または塊状のC型シリカゲルであり、より好ましくは不定形塊状のC型シリカゲルであり、
    好ましくは、工程(1)において使用されるシリカゲル担体の、比表面積は100〜350m/gであり、平均細孔径は8〜11nmであり、細孔容積は0.7〜1.2mL/gであり、NaO不純物の含有量は100ppm未満であり、Fe不純物の含有量は500ppm未満であり、球相当径の大きさは0.5〜2mmである、
    請求項1または2に記載の方法。
  4. 工程(2)において、乾燥温度は150〜240℃であり、乾燥時間は120〜240分間であり、
    好ましくは、工程(2)において、乾燥ガスを用いて乾燥を行い、当該乾燥ガスは、シリカゲルと反応しないガス(好ましくは空気または窒素)であり、
    より好ましくは、工程(2)において、具体的には反応管中で乾燥を行い、反応管中の乾燥ガスの流速は、好ましくは1.0〜3.0cm/sである、
    請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 工程(1)において使用されるシリカゲル担体の重量を基準とすると、工程(3)において、上記シリカゲル担体に取り込まれるTiは、0.1〜5.0重量%(好ましくは、2.5〜4.5重量%)であり、
    好ましくは、工程(3)で使用されるチタン塩蒸気の温度は、137〜150℃であり、
    好ましくは、工程(3)における化学蒸着は反応管内にて行い、乾燥させたAを上記反応管内に充填し、不活性ガス(好ましくは、N)を用いて上記チタン塩蒸気を上記反応管内に導入し、上記反応管内における上記不活性ガスの流速は0.05〜2.0cm/s(好ましくは、0.50〜1.35cm/s)であり、反応温度は150〜300℃であり、堆積時間は120〜240分間である、
    請求項1〜4のいずれか1項に記載の方法。
  6. 工程(4)における焼成は、N雰囲気下にて行われ、
    焼成温度は、450〜700℃(好ましくは500〜600℃)であり、
    焼成時間は、30〜240分間(好ましくは、120〜180分間)であり、
    上記Nの流速は、0.05〜2.0cm/s(好ましくは、1〜2.5cm/s)である、
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
  7. 工程(5)における水洗にて使用される水蒸気の温度は、100〜200℃(好ましくは、120〜180℃)であり、
    工程(3)において使用されるチタン塩蒸気中のTi元素の量を基準とすると、水蒸気のTiに対するモル比は(20〜150):1(好ましくは、(50〜100):1)であり、水洗時間は180〜240分間であり、
    工程(5)の水蒸気洗浄は、好ましくは、反応管内で行われ、不活性ガス(好ましくは、N)を用いて上記反応管内に水蒸気を導入し、上記不活性ガスの流速は1〜2.5cm/sである、
    請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
  8. 工程(6)で使用されるアルキルシリケート蒸気は、166〜200℃に加熱されており、
    工程(6)の蒸着は反応管内で行われ、不活性ガス(好ましくは、N)を用いて上記アルキルシリケート蒸気を上記反応管内に導入し、
    上記反応管内の上記不活性ガスの流速は、0.05〜2.0cm/s(好ましくは、0.5〜1.0cm/s)であり、反応温度は166〜200℃であり、堆積時間は120〜180分間であり、工程(1)で使用されるシリカゲル担体に対するアルキルシリケートの重量比率は(0.5〜1):1である、
    請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
  9. 工程(7)における焼成は、空気雰囲気下にて行われ、温度は500〜700℃であり、焼成時間は30〜120分間であり、空気の流速は0.5〜1cm/sである、
    請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
  10. 工程(8)におけるシリル化処理で使用するシリル化試薬は、ヘキサメチルジシリルアミンであり、
    工程(1)において使用されるシリカゲル担体の重量を基準とすると、ヘキサメチルジシリルアミンの使用量は5重量%〜15重量%であり、
    好ましくは、工程(8)において使用されるヘキサメチルジシリルアミンの温度は、126〜150℃であり、
    好ましくは、上記シリル化処理は反応管内で行われ、不活性ガス(好ましくは、N)を用いて上記シリル化試薬の蒸気を上記反応管内に導入し、上記反応管内における上記不活性ガスの流速は0.5〜1cm/sであり、シリル化温度は200〜300℃であり、シリル化時間は60〜180分間である、
    請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
  11. プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造するための、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法によって製造される触媒の使用。
  12. プロピレンのエポキシ化を触媒してプロピレンオキシドを製造する製造条件が、以下の通りである、請求項11に記載の使用:
    反応温度:40〜120℃
    ゲージ圧:2〜4.5MPa
    プロピレンのエチルベンゼンヒドロペルオキシドに対するモル比:(3〜10):1
    質量空間速度:1〜5h−1
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