JP2020504436A - コンデンサ及び無線周波発生器、ならびにこれらを使用する他のデバイス - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2016年9月27日に出願された、米国仮出願第62/400,271号に関連するとともに、その優先権及び利益を主張する。この仮出願の開示全体は、本明細書で参照することにより、すべての目的に関して組み込まれる。
別の態様では、本明細書に記載のコンデンサであって、コンデンサを提供するように、電極、誘電体の媒体、または両方の、3次元プリントによって製造される、コンデンサが記載される。
コンデンサ及びシステムの特定の具体的構成は、添付図面を参照して以下に記載する。
セルフシールドされた4つの電極のコンデンサを、低CTEのInvar 36合金の電極(CTE<1ppm/℃)を低CTEの石英誘電体層(CTE<1.0ppm/℃)で挟むことによって生成した。結果として得られるコンデンサの写真が、図15に示されている。誘電体層は、誘電体層の各々の外側縁部において、低CTEのエポキシ材料を使用して互いに結合した。電極の下、または電極の下のエリア間には、エポキシ樹脂は存在していなかった。外部の電極のための電極の端子は、コンデンサの一方側に存在し、内部の電極のための電極の端子は、コンデンサの反対側に存在するものとした。コンパクトな設計により、コンデンサをシールドするいずれの特別なボックスまたはエンクロージャを必要とすることなく、配置を下げることが許容された。内部の電極からの敏感な低電圧信号は、外部の電極の高電圧信号によってシールドされた。
実施例1のコンデンサを、その安定性に関してテストした。コンデンサは、10kVのピークからピークの高電圧RF発生器に存在する(図9に示すように)フィードバックループの一部として存在するものとした。RF発生器は、質量分光測定機器のクワドラポール質量フィルタを駆動するために使用した。表1は、フィードバックネットワークにおけるセルフシールドされたコンデンサのドリフトと、RF発生器の回路構成要素の残りからのわずかなドリフトとを合わせたものによって主に引き起こされる、RF発生器の出力の測定されたドリフトを示している。表2は、セラミックコンデンサ(Ceramic NP0コンデンサ)が使用された際の測定されたドリフトを示している。
Claims (207)
- 第1の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極と、
第2の誘電体層であって、前記第1の電極が前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置される、前記第2の誘電体層と、
前記第1の電極から前記第2の誘電体層を通して空間的に離間し、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極と、
第3の誘電体層であって、前記第2の電極が前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に位置し、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の各々の前記熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第3の誘電体層とを備える、コンデンサ。 - 前記第1の電極の前記一体型の固形材料が、前記第2の電極の前記一体型の固形材料とは異なっている、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項3に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の電極に接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項5に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第1の電極と前記第2の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項8に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項9に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項9に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項9に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層との前記誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を含んでいる、請求項12に記載のコンデンサ。
- 前記第1の電極及び前記第2の電極が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項15に記載のコンデンサ。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第2の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項17に記載のコンデンサ。
- 前記第2の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第1の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じであり、かつ、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率と同じである、請求項1に記載のコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第4の誘電体層及び第5の誘電体層をさらに備え、
前記第4の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の一方側に配置され、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の反対側に配置されている、請求項1に記載のコンデンサ。 - 互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び第4の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の電極とを備える、セルフシールドコンデンサ。 - 前記第1の電極及び前記第3の電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の電極をシールドするように配置されている、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第2の電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項22に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項23に記載のセルフシールドコンデンサ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項23に記載のセルフシールドコンデンサ。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、
前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有し、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の電極に接触することなく配された第3の接着剤をさらに備え、
前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項25に記載のセルフシールドコンデンサ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項23に記載のセルフシールドコンデンサ。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項23に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項28に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項29に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項29に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項31に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項32に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項35に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項37に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第2の誘電体層及び前記第3の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第5の誘電体層及び第6の誘電体層をさらに備え、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の一方側に配置され、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の反対側に配置されている、請求項21に記載のセルフシールドコンデンサ。 - 互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、第4の誘電体層、及び第5の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の一体型電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の一体型電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の一体型電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第4の一体型電極であって、前記第4の電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置されている、前記第4の一体型電極とを備える、セルフシールド差動コンデンサ。 - 前記第1の一体型電極及び前記第4の一体型電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極をシールドするように配置されている、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、差動フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項42に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の一体型電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の一体型電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の一体型電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第4の一体型電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項43に記載のセルフシールド差動コンデンサ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の一体型電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項43に記載のセルフシールド差動コンデンサ。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置された前記第2の一体型電極のエリアに接触することなく配された第2の接着剤であって、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第2の接着剤をさらに備え、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置された前記第3の一体型電極のエリアに接触することなく配された第3の接着剤であって、前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第3の接着剤をさらに備え、
前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置された前記第4の一体型電極のエリアに接触することなく配された第4の接着剤であって、前記第4の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第4の接着剤をさらに備える、請求項45に記載のセルフシールド差動コンデンサ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の一体型電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項43に記載のセルフシールド差動コンデンサ。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々の前記一体型の材料が、金属の合金を含んでいる、請求項43に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記電極の各々の前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項48に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項49に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項49に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項51に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項52に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項55に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の一体型電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項57に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第6の誘電体層及び第7の誘電体層をさらに備え、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の一方側に配置され、
前記第7の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の反対側に配置されている、請求項41に記載のセルフシールド差動コンデンサ。 - 第1の一体型電極を第1の誘電体層及び第2の誘電体層に、前記第1の一体型電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置することによって機械的に結合することと、
第2の一体型電極を第3の誘電体層及び前記第2の誘電体層に、前記第2の一体型電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置することによって機械的に結合することであって、前記第1の電極及び前記第2の電極が前記誘電体層に、前記誘電体層内に位置する前記第1の電極及び前記第2の電極のいずれの部分にも接着剤が接触することなく、機械的に結合されている、前記機械的に結合することとを含む、コンデンサの組立て方法。 - 前記第1の一体型電極及び前記第2の一体型電極の各々を、金属の合金を備えるように構成することをさらに含む、請求項62に記載の方法。
- 前記金属の合金を、いずれのフィルムも伴わずに構成することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 前記第1の誘電体層及び前記第2の誘電体層の各々を、石英を備えるように構成することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 前記第1の誘電体層及び前記第2の誘電体層の縁部に配置された接着剤で、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層とを互いに対して結合することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 第3の一体型電極を第4の誘電体層及び前記第3の誘電体層に、前記第3の一体型電極を前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置することによって機械的に結合することであって、前記第3の一体型電極が前記第3の誘電体層及び前記第4の誘電体層に、前記第3の誘電体層及び前記第4の誘電体層内に位置する前記第3の一体型電極のいずれの部分にも接着剤が接触することなく、機械的に結合されている、前記機械的に結合することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 第4の一体型電極を第5の誘電体層及び前記第4の誘電体層に、前記第4の一体型電極を前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置することによって機械的に結合することであって、前記第4の一体型電極が前記第4の誘電体層及び前記第5の誘電体層に、前記第4の誘電体層及び前記第5の誘電体層内に位置する前記第4の一体型電極のいずれの部分にも接着剤が接触することなく、機械的に結合されている、前記機械的に結合することをさらに含む、請求項66に記載の方法。
- 側部の誘電体層を少なくとも前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層に結合して、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層を決まった位置に保持することをさらに含む、請求項65から請求項67のいずれか一項に記載の方法。
- 前記電極の各々を、固体の金属の合金を備えるように構成することと、
前記誘電体層の各々を、石英を備えるように構成することとをさらに含む、請求項66または請求項67に記載の方法。 - 前記金属の合金を、ニッケルと鉄との合金を含むように構成することをさらに含む、請求項69に記載の方法。
- 鋳型内で、第1の一体型電極を第2の一体型電極から空間的に配置することと、
液体誘電材料を前記鋳型内に流し込んで、前記空間的に配置された前記第1の一体型電極と前記第2の一体型電極との間に液体誘電材料を提供することと、
前記液体誘電材料を硬化させて、前記第1の一体型電極及び前記第2の一体型電極を前記誘電材料に機械的に結合させ、前記第1の一体型電極と前記第2の一体型電極との間に誘電材料の層を提供することとを含む、コンデンサの組立て方法。 - 前記第1の一体型電極及び前記第2の一体型電極の各々を、金属の合金を備えるように構成することをさらに含む、請求項71に記載の方法。
- 前記金属の合金をいずれのフィルムも伴わずに構成することをさらに含む、請求項71に記載の方法。
- 前記誘電材料を、石英を含むように構成することをさらに含む、請求項71に記載の方法。
- 側部の誘電体層を前記コンデンサに結合することをさらに含む、請求項71に記載の方法。
- 前記液体誘電材料を前記鋳型内に配置する前に、前記鋳型内に第3の一体型電極を配置することをさらに含み、
前記第3の一体型電極が、前記第2の一体型電極と前記第3の一体型電極との間に前記誘電材料の層を提供するように配置される、請求項71に記載の方法。 - 前記液体誘電材料を前記鋳型内に配置する前に、前記鋳型内に第4の一体型電極を配置することをさらに含み、
前記第4の一体型電極が、前記第3の一体型電極と前記第4の一体型電極との間に前記誘電材料の層を提供するように配置される、請求項76に記載の方法。 - 側部の誘電体層を前記コンデンサに結合することをさらに含む、請求項76または請求項77のいずれかに記載の方法。
- 前記電極の各々を、固体の金属の合金を備えるように構成することと、
前記誘電材料を、石英を備えるように構成することとをさらに含む、請求項76または請求項77に記載の方法。 - 前記金属の合金を、ニッケルと鉄との合金を含むように構成することをさらに含む、請求項79に記載の方法。
- 第1のポール、第2のポール、第3のポール、及び第4のポールを備えているマルチポールアセンブリと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、コンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記コンデンサが、
第1の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極と、
第2の誘電体層であって、前記第1の電極が前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置される、前記第2の誘電体層と、
前記第1の電極から前記第2の誘電体層を通して空間的に離間し、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極と、
第3の誘電体層であって、前記第2の電極が前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に位置し、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の各々の前記熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第3の誘電体層と、
を備えている、前記無線周波発生器とを備える、質量フィルタ。 - 前記第1の電極の前記一体型の固形材料が、前記第2の電極の前記一体型の固形材料とは異なっている、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項83に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の電極に接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項85に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極と前記第2の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項88に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項89に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項89に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項89に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の前記誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を含んでいる、請求項92に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極及び前記第2の電極が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項95に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項97に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第1の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じであり、かつ、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率と同じである、請求項81に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第4の誘電体層及び第5の誘電体層をさらに備え、
前記第4の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の一方側に配置され、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の反対側に配置されている、請求項81に記載の質量フィルタ。 - 第1のポール、第2のポール、第3のポール、及び第4のポールを備えているマルチポールアセンブリと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、セルフシールドコンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記セルフシールドコンデンサが、
互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び第4の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の電極とを備えている、
前記無線周波発生器とを備える、質量フィルタ。 - 前記第1の電極及び前記第3の電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の電極をシールドするように配置されている、請求項101に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項102に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項103に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項103に記載の質量フィルタ。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、
前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有し、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の電極に接触することなく配された第3の接着剤をさらに備え、
前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項105に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項103に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項103に記載の質量フィルタ。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項108に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項109に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項109に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項111に記載の質量フィルタ。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項112に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項101に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項101に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項115に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項101に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項117に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層及び前記第3の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項101に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第5の誘電体層及び第6の誘電体層をさらに備え、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の一方側に配置され、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の反対側に配置されている、請求項101に記載の質量フィルタ。 - 第1のポール、第2のポール、第3のポール、及び第4のポールを備えているマルチポールアセンブリと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、セルフシールド差動コンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記セルフシールド差動コンデンサが、
互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、第4の誘電体層、及び第5の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の一体型電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の一体型電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の一体型電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の一体型電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第4の一体型電極であって、前記第4の電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置されている、前記第4の一体型電極とを備えている、
前記無線周波発生器とを備える、質量フィルタ。 - 前記第1の一体型電極及び前記第4の一体型電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極をシールドするように配置されている、請求項121に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、差動フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項122に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の一体型電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の一体型電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の一体型電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第4の一体型電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項123に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の一体型電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項123に記載の質量フィルタ。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置された前記第2の一体型電極のエリアに接触することなく配された第2の接着剤であって、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第2の接着剤をさらに備え、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置された前記第3の一体型電極のエリアに接触することなく配された第3の接着剤であって、前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第3の接着剤をさらに備え、
前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置された前記第4の一体型電極のエリアに接触することなく配された第4の接着剤であって、前記第4の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第4の接着剤をさらに備える、請求項125に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の一体型電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項123に記載の質量フィルタ。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々の前記一体型の材料が、金属の合金を含んでいる、請求項123に記載の質量フィルタ。
- 前記電極の各々の前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項128に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項129に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項129に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項131に記載の質量フィルタ。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項132に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項121に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項121に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項135に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の一体型電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項121に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項137に記載の質量フィルタ。
- 前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項121に記載の質量フィルタ。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第6の誘電体層及び第7の誘電体層をさらに備え、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の一方側に配置され、
前記第7の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の反対側に配置されている、請求項121に記載の質量フィルタ。 - サンプル導入デバイスと、
前記サンプル導入デバイスに流動的に結合されたイオン化ソースと、
前記イオン化ソースに流動的に結合された質量フィルタであって、前記質量フィルタがマルチポールアセンブリを備えている、前記質量フィルタと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、コンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記コンデンサが、
第1の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極と、
第2の誘電体層であって、前記第1の電極が前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置される、前記第2の誘電体層と、
前記第1の電極から前記第2の誘電体層を通して空間的に離間し、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極と、
第3の誘電体層であって、前記第2の電極が前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に位置し、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の各々の前記熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第3の誘電体層と、
を備えている、前記無線周波発生器とを備える、質量分光計。 - 前記第1の電極の前記一体型の固形材料が、前記第2の電極の前記一体型の固形材料とは異なっている、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項143に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の電極に接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項145に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極と前記第2の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項148に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項149に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項149に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項149に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の前記誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を含んでいる、請求項152に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極及び前記第2の電極が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項155に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記第2の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項157に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第1の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じであり、かつ、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率と同じである、請求項141に記載の質量分光計。
- 前記コンデンサが、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第4の誘電体層及び第5の誘電体層をさらに備え、
前記第4の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の一方側に配置され、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の反対側に配置されている、請求項141に記載の質量分光計。 - サンプル導入デバイスと、
前記サンプル導入デバイスに流動的に結合されたイオン化ソースと、
前記イオン化ソースに流動的に結合された質量フィルタであって、前記質量フィルタがマルチポールアセンブリを備えている、前記質量フィルタと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、セルフシールドコンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記セルフシールドコンデンサが、
互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び第4の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の電極とを備えている、
前記無線周波発生器とを備える、質量分光計。 - 前記第1の電極及び前記第3の電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の電極をシールドするように配置されている、請求項161に記載の質量分光計。
- 前記第2の電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項162に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項163に記載の質量分光計。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項163に記載の質量分光計。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の電極に接触することなく配された第2の接着剤をさらに備え、
前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有し、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の電極に接触することなく配された第3の接着剤をさらに備え、
前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項165に記載の質量分光計。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項163に記載の質量分光計。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々の前記一体型の固形材料が、金属の合金を含んでいる、請求項163に記載の質量分光計。
- 前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項168に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項169に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項169に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項171に記載の質量分光計。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項172に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、及び前記第3の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項161に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項161に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項175に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項161に記載の質量分光計。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項177に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層及び前記第3の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項161に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第5の誘電体層及び第6の誘電体層をさらに備え、
前記第5の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の一方側に配置され、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の反対側に配置されている、請求項161に記載の質量分光計。 - サンプル導入デバイスと、
前記サンプル導入デバイスに流動的に結合されたイオン化ソースと、
前記イオン化ソースに流動的に結合された質量フィルタであって、前記質量フィルタがマルチポールアセンブリを備えている、前記質量フィルタと、
前記マルチポールアセンブリの前記第1のポール、前記第2のポール、前記第3のポール、及び前記第4のポールの各々に電気的に結合された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、セルフシールド差動コンデンサを備えているフィードバック回路を備え、前記セルフシールド差動コンデンサが、
互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、第4の誘電体層、及び第5の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の一体型電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の一体型電極、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の一体型電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の一体型電極、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の一体型電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の一体型電極、ならびに、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第4の一体型電極であって、前記第4の電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置されている、前記第4の一体型電極、
を備えている、前記無線周波発生器とを備えた、質量分光計。 - 前記第1の一体型電極及び前記第4の一体型電極が、漂遊容量エネルギから前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極をシールドするように配置されている、請求項181に記載の分光計。
- 前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極が、フィードバック回路に電気的に結合されている場合に、差動フィードバック信号を保持するように構成されている、請求項182に記載の質量分光計。
- 前記第1の一体型電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第2の一体型電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第3の一体型電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されており、
前記第4の一体型電極が、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、接着剤を伴わずに機械的に保持されている、請求項183に記載の質量分光計。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置された前記第1の一体型電極のエリアに接触することなく配された第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項183に記載の質量分光計。 - 前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置された前記第2の一体型電極のエリアに接触することなく配された第2の接着剤であって、前記第2の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第2の接着剤をさらに備え、
前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置された前記第3の一体型電極のエリアに接触することなく配された第3の接着剤であって、前記第3の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第3の接着剤をさらに備え、
前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に、前記第4の誘電体層と前記第5の誘電体層との間に配置された前記第4の一体型電極のエリアに接触することなく配された第4の接着剤であって、前記第4の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、前記第4の接着剤をさらに備える、請求項185に記載の質量分光計。 - 前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配され、前記第1の一体型電極の端子部分に接触する第1の接着剤をさらに備え、
前記第1の接着剤が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項183に記載の質量分光計。 - 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々の前記一体型の材料が、金属の合金を含んでいる、請求項183に記載の質量分光計。
- 前記電極の各々の前記金属の合金が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する、請求項188に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の少なくとも1つにおける誘電材料が、他の誘電体層の1つの誘電材料とは異なっている、請求項189に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層との内の2つが、同じ誘電材料を有している、請求項189に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層と、前記第2の誘電体層と、前記第3の誘電体層と、前記第4の誘電体層と、前記第5の誘電体層とが、同じ誘電材料を有している、請求項191に記載の質量分光計。
- 前記同じ誘電材料が、5ppm/℃以下の熱膨張率を有する石英を備えている、請求項192に記載の質量分光計。
- 前記第1の電極、前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の各々が、いずれのフィルムも含まずに構築及び配置されている、請求項181に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第2の誘電体層の縁部に融合されて、前記第1の電極を前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に保持している、請求項181に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層の少なくとも1つの縁部が、前記第3の誘電体層の縁部に融合されて、前記第2の電極を前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に保持している、請求項195に記載の質量分光計。
- 前記第1の一体型電極の前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項181に記載の質量分光計。
- 前記第2の電極、前記第3の電極、及び前記第4の電極の少なくとも1つの前記一体型の材料内にアパーチャをさらに備えている、請求項197に記載の質量分光計。
- 前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の前記熱膨張率が、前記第2の一体型電極及び前記第3の一体型電極の前記一体型の材料の前記熱膨張率とほぼ同じである、請求項181に記載の質量分光計。
- 前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の平坦な表面にほぼ垂直に各々が配置された第6の誘電体層及び第7の誘電体層をさらに備え、
前記第6の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の一方側に配置され、
前記第7の誘電体層が、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、前記第4の誘電体層、及び前記第5の誘電体層の反対側に配置されている、請求項181に記載の質量分光計。 - 質量分光計のマルチポールアセンブリに電気的に結合されるように構成された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、コンデンサを備えたフィードバック回路を備えており、前記コンデンサが、
第1の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極と、
第2の誘電体層であって、前記第1の電極が前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置される、前記第2の誘電体層と、
前記第1の電極から前記第2の誘電体層を通して空間的に離間し、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極と、
第3の誘電体層であって、前記第2の電極が前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に位置し、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、及び前記第3の誘電体層の各々の前記熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第3の誘電体層とを備えている、前記無線周波発生器。 - 質量分光計のマルチポールアセンブリに電気的に結合されるように構成された無線周波発生器であって、前記無線周波発生器が、セルフシールドコンデンサを備えたフィードバック回路を備えており、前記セルフシールドコンデンサが、
互いに結合された第1の誘電体層、第2の誘電体層、第3の誘電体層、及び第4の誘電体層であって、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層の各々の熱膨張率が、15ppm/℃以下である、前記第1の誘電体層、前記第2の誘電体層、前記第3の誘電体層、及び前記第4の誘電体層と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第1の電極であって、前記第1の電極が、前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層との間に配置されている、前記第1の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第2の電極であって、前記第2の電極が、前記第2の誘電体層と前記第3の誘電体層との間に配置されている、前記第2の電極と、
15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料を備えた第3の電極であって、前記第3の電極が、前記第3の誘電体層と前記第4の誘電体層との間に配置されている、前記第3の電極とを備えている、前記無線周波発生器。 - 質量分光計のマルチポールアセンブリに電気的に結合されるように構成された無線周波発生器であって、
前記無線周波発生器が、セルフシールドコンデンサを備えたフィードバック回路を備えており、
前記フィードバック回路が、無線周波を前記マルチポールアセンブリに提供して、前記マルチポールアセンブリが質量フィルタとして動作することを可能にするように構成されており、
前記セルフシールドコンデンサが外部シールド電極及び内部電極を備え、
前記外部シールド電極と前記内部シールド電極との各々が、誘電体の媒体を通して互いから分離されており、
前記外部シールド電極と前記内部シールド電極との各々が、15ppm/℃以下の熱膨張率を有する一体型の材料の電極を備えている、前記無線周波発生器。 - 複数の電極であって、各々の電極が誘電体の媒体によって他の電極から分離されている、前記複数の電極を備え、
前記複数の電極の少なくとも2つが、同一平面にある電極として構成されている、コンデンサ。 - 前記同一平面にある電極が、同じ誘電体層に存在する、請求項204に記載のコンデンサ。
- 本明細書に記載のコンデンサであって、前記コンデンサを提供するように、前記電極、前記誘電体の媒体、または両方の、3次元プリントによって製造される、前記コンデンサ。
- 本明細書に記載のセルフシールドコンデンサであって、前記セルフシールドコンデンサを提供するように、前記電極、前記誘電体の媒体、または両方の、3次元プリントによって製造される、前記セルフシールドコンデンサ。
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---|---|---|---|---|
CN111707391B (zh) * | 2020-03-20 | 2021-03-16 | 电子科技大学 | 一种基于液态金属的高Q值温度感知Anapole谐振结构 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01212419A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック積層体の製造方法 |
JPH02160659A (ja) * | 1988-08-23 | 1990-06-20 | E I Du Pont De Nemours & Co | 低誘電定数組成物 |
JPH07283077A (ja) * | 1994-04-11 | 1995-10-27 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 薄膜コンデンサ |
JP2006253668A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-09-21 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板 |
JP2007142089A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体積層構造体とその製造方法、及びコンデンサ |
JP2010087260A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Tdk Corp | 積層コンデンサ |
JP2011129917A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックキャパシタ |
US20160042865A1 (en) * | 2014-08-05 | 2016-02-11 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multi-layer ceramic capacitor |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3277354A (en) * | 1964-03-25 | 1966-10-04 | New Nippon Electric Co | Glass capacitors having a chrome oxide layer on the electrodes |
US3267342A (en) * | 1965-05-18 | 1966-08-16 | Corning Glass Works | Electrical capacitor |
US3946290A (en) * | 1973-10-09 | 1976-03-23 | Tdk Electronics Co. Ltd. | High tension ceramic condenser |
EP0094078B1 (en) * | 1982-05-11 | 1988-11-02 | Nec Corporation | Multilayer electrostrictive element which withstands repeated application of pulses |
US4835656A (en) * | 1987-04-04 | 1989-05-30 | Mitsubishi Mining And Cement Co., Ltd. | Multi-layered ceramic capacitor |
US5316985A (en) * | 1991-12-09 | 1994-05-31 | Aluminum Company Of America | Suppression of crystal growth in low dielectric inorganic composition using ultrafine alumina |
US6081416A (en) * | 1998-05-28 | 2000-06-27 | Trinh; Hung | Lead frames for mounting ceramic electronic parts, particularly ceramic capacitors, where the coefficient of thermal expansion of the lead frame is less than that of the ceramic |
JP3542079B2 (ja) * | 2000-01-14 | 2004-07-14 | 三井金属鉱業株式会社 | ニッケル粉及び導電ペースト |
US20030034124A1 (en) * | 2001-06-19 | 2003-02-20 | Yasuhiro Sugaya | Dielectric resonator, dielectric filter and method of producing the same, filter device combined to a transmit-receive antenna and communication apparatus using the same |
US6765781B2 (en) * | 2001-12-03 | 2004-07-20 | Tdk Corporation | Multilayer capacitor |
US6844547B2 (en) * | 2002-02-04 | 2005-01-18 | Thermo Finnigan Llc | Circuit for applying supplementary voltages to RF multipole devices |
US7095108B2 (en) * | 2004-05-05 | 2006-08-22 | Intel Corporation | Array capacitors in interposers, and methods of using same |
JP4499548B2 (ja) | 2004-12-24 | 2010-07-07 | 新光電気工業株式会社 | キャパシタ部品 |
JP3901196B2 (ja) * | 2005-05-26 | 2007-04-04 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品 |
US7652869B2 (en) * | 2005-08-19 | 2010-01-26 | Tdk Corporation | Multilayer capacitor |
JP4546415B2 (ja) * | 2005-09-01 | 2010-09-15 | 日本特殊陶業株式会社 | 配線基板、セラミックキャパシタ |
JP5089880B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2012-12-05 | 日本特殊陶業株式会社 | 配線基板内蔵用キャパシタ、キャパシタ内蔵配線基板及びその製造方法 |
WO2009117599A2 (en) * | 2008-03-20 | 2009-09-24 | Greatbatch Ltd. | Shielded three-terminal flat-through emi/energy dissipating filter |
US8194387B2 (en) * | 2009-03-20 | 2012-06-05 | Paratek Microwave, Inc. | Electrostrictive resonance suppression for tunable capacitors |
US9714960B2 (en) * | 2009-10-09 | 2017-07-25 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Apparatus for measuring RF voltage from a quadrupole in a mass spectrometer |
JP5506035B2 (ja) * | 2010-02-23 | 2014-05-28 | 富士フイルム株式会社 | アクチュエータの製造方法 |
US8575545B2 (en) * | 2011-07-15 | 2013-11-05 | Bruker Daltonics, Inc. | Fixed connection assembly for an RF drive circuit in a mass spectrometer |
KR101983128B1 (ko) * | 2011-12-19 | 2019-05-29 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자 부품 |
JP6041731B2 (ja) * | 2013-03-27 | 2016-12-14 | 新光電気工業株式会社 | インターポーザ、及び電子部品パッケージ |
EP2992540B1 (en) * | 2013-04-29 | 2019-11-13 | Cavendish Kinetics, Inc. | Control-electrode shielding for improved linearity of a mems dvc device |
EP3047504B1 (en) * | 2013-09-20 | 2022-06-01 | Micromass UK Limited | High frequency voltage supply control method for multipole or monopole analysers |
US9635750B2 (en) | 2013-10-23 | 2017-04-25 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Oscillator generators and methods of using them |
JP6694813B2 (ja) | 2013-10-23 | 2020-05-20 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. | ジェネレータ及びシステム |
US9433073B2 (en) | 2014-01-28 | 2016-08-30 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Induction devices and methods of using them |
CN104200994B (zh) * | 2014-08-26 | 2017-08-08 | 中国科学院物理研究所 | 层状交错电容的制备方法和层状交错电容 |
DE102015102866B4 (de) * | 2015-02-27 | 2023-02-02 | Tdk Electronics Ag | Keramisches Bauelement, Bauelementanordnung und Verfahren zur Herstellung eines keramischen Bauelements |
DE102016202763B4 (de) * | 2015-03-12 | 2023-12-14 | Schott Ag | Angepasste Durchführung |
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2017
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01212419A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック積層体の製造方法 |
JPH02160659A (ja) * | 1988-08-23 | 1990-06-20 | E I Du Pont De Nemours & Co | 低誘電定数組成物 |
JPH07283077A (ja) * | 1994-04-11 | 1995-10-27 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 薄膜コンデンサ |
JP2006253668A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-09-21 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板 |
JP2007142089A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体積層構造体とその製造方法、及びコンデンサ |
JP2010087260A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Tdk Corp | 積層コンデンサ |
JP2011129917A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックキャパシタ |
US20160042865A1 (en) * | 2014-08-05 | 2016-02-11 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multi-layer ceramic capacitor |
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