JP2020503082A5 - - Google Patents
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Description
本開示の上記の態様及び実施形態のいずれも、本開示の範囲から逸脱することなく組み合わされ得る。
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
電磁(EM)体積内でナビゲートされるEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための方法であって、
メモリから、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点における計算されたEM場強度を取得することと、
アンテナ組立体によってEM場を生成することと、
前記EMセンサから測定されたEM場強度を受信することと、
前記測定されたEM場強度及び高密度(HD)マップに基づいて、前記EM体積の第1の複数の格子点から第1の格子点を特定することと、
前記第1の格子点を初期条件として使用して、前記HDマップに基づいて、前記EMセンサの前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することと、を含み、
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点を含む、方法。
(項目2)
前記アンテナ組立体が、少なくとも6つのアンテナを備え、前記アンテナの各々が、複数のループを備える、項目1に記載の方法。
(項目3)
前記複数のループが、幾何学的構成を有する、項目2に記載の方法。
(項目4)
前記HDマップが、前記EM体積内の前記第2の複数の格子点の各格子点に対する計算されたEM場強度を含む、項目3に記載の方法。
(項目5)
前記計算されたEM場強度が、前記少なくとも6つのアンテナのそれぞれの前記幾何学的構成に基づく、項目4に記載の方法。
(項目6)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、項目4に記載の方法。
(項目7)
前記第1の格子点を特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(a、b、c)は、前記第1の複数の格子点における格子点であり、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(a、b、c)における計算されたEM場強度である、
の擬似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第1の格子点として、
とVとの差が最小である、前記第1の複数の格子点の格子点(A、B、C)を選択することと、を含む、項目1に記載の方法。
(項目8)
前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(d、e、f)は、前記第2の複数の格子点における格子点であり、前記第1の格子点(A、B、C)から所定の距離内に位置し、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(d、e、f)における計算されたEM場強度である、
の疑似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第2の複数の格子点の中から、
とVとの差が最小である第2の格子点(D、E、F)を選択することと、を含む、項目1に記載の方法。
(項目9)
が、前記EMセンサの前記配向に関連する、項目8に記載の方法。
(項目10)
前記第2の格子点(D、E、F)が、前記EMセンサの位置である、項目9に記載の方法。
(項目11)
電磁(EM)体積内でナビゲートされるEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するためのシステムであって、
前記EM体積内でEM場を放射するように構成されたアンテナ組立体と、
前記EM場に基づいてEM場強度を測定するように構成された前記EMセンサと、
プロセッサと、
前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点における計算されたEM場強度を記憶し、かつプロセッサ実行可能命令を記憶する、メモリと、を備え、前記命令は、前記プロセッサによって実行されるとき、前記プロセッサに、
前記メモリから、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度を取得することと、
前記測定されたEM場強度及び前記HDマップに基づいて、前記EM体積の第1の複数の格子点から第1の格子点を特定することと、
前記第1の格子点を初期条件として使用して、前記HDマップに基づいて、前記EMセンサの前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することと、を実行させ、
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点を含む、システム。
(項目12)
前記アンテナアセンブリが、少なくとも6つのアンテナを備え、前記アンテナの各々が、複数のループを備える、項目11に記載のシステム。
(項目13)
前記複数のループが幾何学的構成を有する、項目12に記載のシステム。
(項目14)
前記HDマップが、前記EM体積内の前記第2の複数の格子点の各格子点に対する計算されたEM場強度を含む、項目13に記載のシステム。
(項目15)
前記計算されたEM場強度が、前記少なくとも6つのアンテナの前記それぞれの幾何学的構成に基づく、項目14に記載のシステム。
(項目16)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含み得る、項目14に記載のシステム。
(項目17)
前記第1の格子点を特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(a、b、c)は、前記第1の複数の格子点における格子点であり、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(a、b、c)における計算されたEM場強度である、
の擬似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第1の格子点として、
とVとの差が最小である、前記第1の複数の格子点の格子点(A、B、C)を選択することと、を含む、項目11に記載のシステム。
(項目18)
前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(d、e、f)は、前記第2の複数の格子点における格子点であり、前記第1の格子点(A、B、C)から所定の距離内に位置し、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(d、e、f)における計算されたEM場強度である、
の疑似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第2の複数の格子点の中から、
とVとの差が最小である第2の格子点(D、E、F)を選択することと、を含む、項目11に記載のシステム。
(項目19)
が、前記EMセンサの前記配向に関連する、項目18に記載のシステム。
(項目20)
前記第2の格子点(D、E、F)が前記EMセンサの位置である、項目19に記載のシステム。
(項目21)
アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための方法であって、
測定デバイスから前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点で測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度、及び前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと、を含む、方法。
(項目22)
前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、項目21に記載の方法。
(項目23)
前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々について、3つの軸座標系に沿って計算される、項目22に記載の方法。
(項目24)
前記EM場強度が、それぞれ、前記3つの軸に対応する3つのコイルを有するセンサによって測定される、項目23に記載の方法。
(項目25)
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、項目21に記載の方法。
(項目26)
前記HDマップを生成することが、
前記第1の複数の格子点の各格子点における、前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を、前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと、を含む、項目25に記載の方法。
(項目27)
前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との差に基づいて計算される、項目26に記載の方法。
(項目28)
前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つに基づく、項目26に記載の方法。
(項目29)
前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算することを更に含む、項目21に記載の方法。
(項目30)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、項目29に記載の方法。
(項目31)
アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための装置であって、
プロセッサと、
プロセッサ実行可能命令を記憶するメモリと、を備え、前記命令は、前記プロセッサによって実行されるとき、前記プロセッサに、
測定デバイスから、前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点における測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと、を含む、を実行させる、装置。
(項目32)
前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、項目31に記載の装置。
(項目33)
前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々に対する3つの軸座標系に沿って計算される、項目32に記載の装置。
(項目34)
前記EM場強度が、前記3つの軸にそれぞれ対応する3つのコイルを有するセンサを用いて測定される、項目33に記載の装置。
(項目35)
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、項目31に記載の装置。
(項目36)
前記HDマップを生成することが、
前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を、前記第1の複数の格子点の各格子点で計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと、を含む、項目35に記載の装置。
(項目37)
前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の差に基づいて計算される、項目36に記載の装置。
(項目38)
前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った前記計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つである、項目36に記載の装置。
(項目39)
前記メモリが、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算させる命令を更に記憶する、項目31に記載の装置。
(項目40)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含み得る、項目39に記載の装置。
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
電磁(EM)体積内でナビゲートされるEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための方法であって、
メモリから、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点における計算されたEM場強度を取得することと、
アンテナ組立体によってEM場を生成することと、
前記EMセンサから測定されたEM場強度を受信することと、
前記測定されたEM場強度及び高密度(HD)マップに基づいて、前記EM体積の第1の複数の格子点から第1の格子点を特定することと、
前記第1の格子点を初期条件として使用して、前記HDマップに基づいて、前記EMセンサの前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することと、を含み、
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点を含む、方法。
(項目2)
前記アンテナ組立体が、少なくとも6つのアンテナを備え、前記アンテナの各々が、複数のループを備える、項目1に記載の方法。
(項目3)
前記複数のループが、幾何学的構成を有する、項目2に記載の方法。
(項目4)
前記HDマップが、前記EM体積内の前記第2の複数の格子点の各格子点に対する計算されたEM場強度を含む、項目3に記載の方法。
(項目5)
前記計算されたEM場強度が、前記少なくとも6つのアンテナのそれぞれの前記幾何学的構成に基づく、項目4に記載の方法。
(項目6)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、項目4に記載の方法。
(項目7)
前記第1の格子点を特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(a、b、c)は、前記第1の複数の格子点における格子点であり、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(a、b、c)における計算されたEM場強度である、
の擬似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第1の格子点として、
とVとの差が最小である、前記第1の複数の格子点の格子点(A、B、C)を選択することと、を含む、項目1に記載の方法。
(項目8)
前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(d、e、f)は、前記第2の複数の格子点における格子点であり、前記第1の格子点(A、B、C)から所定の距離内に位置し、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(d、e、f)における計算されたEM場強度である、
の疑似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第2の複数の格子点の中から、
とVとの差が最小である第2の格子点(D、E、F)を選択することと、を含む、項目1に記載の方法。
(項目9)
が、前記EMセンサの前記配向に関連する、項目8に記載の方法。
(項目10)
前記第2の格子点(D、E、F)が、前記EMセンサの位置である、項目9に記載の方法。
(項目11)
電磁(EM)体積内でナビゲートされるEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するためのシステムであって、
前記EM体積内でEM場を放射するように構成されたアンテナ組立体と、
前記EM場に基づいてEM場強度を測定するように構成された前記EMセンサと、
プロセッサと、
前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点における計算されたEM場強度を記憶し、かつプロセッサ実行可能命令を記憶する、メモリと、を備え、前記命令は、前記プロセッサによって実行されるとき、前記プロセッサに、
前記メモリから、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度を取得することと、
前記測定されたEM場強度及び前記HDマップに基づいて、前記EM体積の第1の複数の格子点から第1の格子点を特定することと、
前記第1の格子点を初期条件として使用して、前記HDマップに基づいて、前記EMセンサの前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することと、を実行させ、
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点を含む、システム。
(項目12)
前記アンテナアセンブリが、少なくとも6つのアンテナを備え、前記アンテナの各々が、複数のループを備える、項目11に記載のシステム。
(項目13)
前記複数のループが幾何学的構成を有する、項目12に記載のシステム。
(項目14)
前記HDマップが、前記EM体積内の前記第2の複数の格子点の各格子点に対する計算されたEM場強度を含む、項目13に記載のシステム。
(項目15)
前記計算されたEM場強度が、前記少なくとも6つのアンテナの前記それぞれの幾何学的構成に基づく、項目14に記載のシステム。
(項目16)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含み得る、項目14に記載のシステム。
(項目17)
前記第1の格子点を特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(a、b、c)は、前記第1の複数の格子点における格子点であり、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(a、b、c)における計算されたEM場強度である、
の擬似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第1の格子点として、
とVとの差が最小である、前記第1の複数の格子点の格子点(A、B、C)を選択することと、を含む、項目11に記載のシステム。
(項目18)
前記位置又は前記配向のうちの少なくとも1つを特定することが、
配向ベクトル
を特定することであって、(d、e、f)は、前記第2の複数の格子点における格子点であり、前記第1の格子点(A、B、C)から所定の距離内に位置し、以下の条件:
を満たし、式中、
は、前記HDマップにおける格子点(d、e、f)における計算されたEM場強度である、
の疑似逆行列である、特定することと、
とVとの差を計算することと、
前記第2の複数の格子点の中から、
とVとの差が最小である第2の格子点(D、E、F)を選択することと、を含む、項目11に記載のシステム。
(項目19)
が、前記EMセンサの前記配向に関連する、項目18に記載のシステム。
(項目20)
前記第2の格子点(D、E、F)が前記EMセンサの位置である、項目19に記載のシステム。
(項目21)
アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための方法であって、
測定デバイスから前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点で測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度、及び前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと、を含む、方法。
(項目22)
前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、項目21に記載の方法。
(項目23)
前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々について、3つの軸座標系に沿って計算される、項目22に記載の方法。
(項目24)
前記EM場強度が、それぞれ、前記3つの軸に対応する3つのコイルを有するセンサによって測定される、項目23に記載の方法。
(項目25)
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、項目21に記載の方法。
(項目26)
前記HDマップを生成することが、
前記第1の複数の格子点の各格子点における、前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を、前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと、を含む、項目25に記載の方法。
(項目27)
前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との差に基づいて計算される、項目26に記載の方法。
(項目28)
前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つに基づく、項目26に記載の方法。
(項目29)
前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算することを更に含む、項目21に記載の方法。
(項目30)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、項目29に記載の方法。
(項目31)
アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための装置であって、
プロセッサと、
プロセッサ実行可能命令を記憶するメモリと、を備え、前記命令は、前記プロセッサによって実行されるとき、前記プロセッサに、
測定デバイスから、前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点における測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと、を含む、を実行させる、装置。
(項目32)
前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、項目31に記載の装置。
(項目33)
前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々に対する3つの軸座標系に沿って計算される、項目32に記載の装置。
(項目34)
前記EM場強度が、前記3つの軸にそれぞれ対応する3つのコイルを有するセンサを用いて測定される、項目33に記載の装置。
(項目35)
前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、項目31に記載の装置。
(項目36)
前記HDマップを生成することが、
前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を、前記第1の複数の格子点の各格子点で計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと、を含む、項目35に記載の装置。
(項目37)
前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の差に基づいて計算される、項目36に記載の装置。
(項目38)
前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った前記計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つである、項目36に記載の装置。
(項目39)
前記メモリが、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算させる命令を更に記憶する、項目31に記載の装置。
(項目40)
前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含み得る、項目39に記載の装置。
Claims (20)
- アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための方法であって、
測定デバイスから前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点で測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度、及び前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと
を含む、方法。 - 前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、請求項1に記載の方法。
- 前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々について、3つの軸座標系に沿って計算される、請求項2に記載の方法。
- 前記EM場強度が、それぞれ、前記3つの軸に対応する3つのコイルを有するセンサによって測定される、請求項3に記載の方法。
- 前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記HDマップを生成することが、
前記第1の複数の格子点の各格子点における、前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を、前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと
を含む、請求項5に記載の方法。 - 前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との差に基づいて計算される、請求項6に記載の方法。
- 前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つに基づく、請求項6に記載の方法。
- 前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算することを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、請求項9に記載の方法。
- アンテナ組立体によって電磁(EM)場が生成されるEM体積内のEMセンサの位置又は配向のうちの少なくとも1つを特定するための高密度(HD)マップを生成するための装置であって、
プロセッサと、
プロセッサ実行可能命令を記憶するメモリと
を備え、
前記命令は、前記プロセッサによって実行されるとき、前記プロセッサに、
測定デバイスから、前記EM体積の第1の複数の格子点の各格子点における測定されたEM場強度を受信することと、
前記アンテナ組立体のアンテナの幾何学的構成に基づいて、前記EM体積の第2の複数の格子点の各格子点におけるEM場強度を計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度に基づいて、前記HDマップを生成することと
を実行させる、装置。 - 前記アンテナ組立体が、前記EM場の構成要素として少なくとも6つのEM波形を生成する、請求項11に記載の装置。
- 前記EM場強度が、前記少なくとも6つのEM波形の各々に対する3つの軸座標系に沿って計算される、請求項12に記載の装置。
- 前記EM場強度が、前記3つの軸にそれぞれ対応する3つのコイルを有するセンサを用いて測定される、請求項13に記載の装置。
- 前記第2の複数の格子点が、前記第1の複数の格子点の各格子点を含む、請求項11に記載の装置。
- 前記HDマップを生成することが、
前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の誤差を、前記第1の複数の格子点の各格子点で計算することと、
前記第1の複数の格子点の各格子点における前記計算された誤差に基づいて、前記第2の複数の格子点の各格子点に対する誤差を補間することと、
前記補間された誤差及び前記計算されたEM場強度を前記第2の複数の格子点の各格子点に追加して、前記HDマップを生成することと
を含む、請求項15に記載の装置。 - 前記誤差が、前記第1の複数の格子点の各格子点における前記測定されたEM場強度と前記計算されたEM場強度との間の差に基づいて計算される、請求項16に記載の装置。
- 前記誤差が、前記測定されたEM場強度と前記3つの軸に沿った前記計算されたEM場強度との間の差のL1又はL2ノルムのうちの少なくとも1つである、請求項16に記載の装置。
- 前記メモリが、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を計算させる命令を更に記憶する、請求項11に記載の装置。
- 前記HDマップが、前記第2の複数の格子点の各格子点における前記計算されたEM場強度の擬似逆行列を更に含む、請求項19に記載の装置。
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