JP2020197440A - 検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 156
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
互いに接近する方向および離間する方向に移動することを特徴とする。
図1は、本発明を適用した検査装置1を正面からみたときの説明図である。図2は、図1に示す検査装置1のステージ2に表示パネル100を配列した様子を示す平面図である。図3は、図1に示す検査装置1のステージ2に、図2に示す場合よりサイズの大きな表示パネル100を配置した様子を示す平面図である。
図4は、図1に示す検査装置1の検査ユニット10の平面図である。図5は、図1に示す検査装置1の検査ユニット10の側面図である。図6は、図4に示す状態からカメラ5を離間させた状態を示す説明図である。
送りネジ71側に位置する端部に設けられており、第1歯車751と噛み合っている。
第1歯車751と第2歯車752とは歯数が同じである。
図5に示すように、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12において、ベース40は、X軸方向の一方側X1の端部でZ軸方向の一方側Z1に折れ曲がった側板部45を有しており、側板部45と支持板31との間には、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12を各々、Y軸方向に直線駆動する直線駆動装置14が設けられている。なお、支持板31は、後述する直線駆動装置15によってZ軸方向に駆動される。本形態において、ベース40のY軸方向の端部には、円弧状に切り欠かれた補強板48が設けられている。本形態において、直線駆動装置14は、第1検査ユニット11をY軸方向に直線駆動する第1直線駆動装置141と、第2検査ユニット12をY軸方向に直線駆動する第2直線駆動装置142とからなる。ここで、第1直線駆動装置141および第2直線駆動装置142は同一の構成を有していることから、以下、第1直線駆動装置141を中心に説明する。
図4および図5に示すように、支持板31とフレーム30との間には、支持板31をZ軸方向に駆動する直線駆動装置15が構成されている。本形態において、直線駆動装置15は、フレーム30に固定されたモータ155と、モータ155によって駆動される送りネジ156と、送りネジ156によって直線駆動されるスライダ157とを有している。送りネジ156は、Z軸方向に延在しており、スライダ157は、支持板31に固定されている。また、送りネジ156は、フレーム30に固定された軸受159によって回転可能に支持されている。送りネジ156はボールネジであり、スライダ157はナットである。また、支持板31とフレーム30との間において、モータ155をY軸方向の両側には、Z軸方向に延在するガイド36(図4参照)が設けられている。
以上説明したように、本形態の検査装置1では、図2に示す表示パネル100を撮像して検査した後、図3に示すように、図2に示す表示パネルよりサイズが大きな表示パネル100を撮像して検査する場合でも、図6に示すように、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12の各々において、第1モータ61を駆動すると、第1カメラ51および第2カメラ52を各々、X軸方向で互いに離間する方向に同一距離を移動させることができる。また、第1直線駆動装置141のモータ145、および第2直線駆動装置142のモータ145を駆動させれば、第1検査ユニット11の第1カメラ51および第2検査ユニット12の第1カメラ51をY軸方向において互いに離間する方向に同一距離を移動させ、第1検査ユニット11の第2カメラ52および第2検査ユニット12の第2カメラ52をY軸方向において互いに離間する方向に同一距離を移動させることができる。それ故、4台のカメラ5を各々、表示領域110の中心Cに位置するように位置を調整することができる。また、直線駆動装置15によって、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12をZ軸方向にまとめて駆動することができるので、図3に示す検査の場合には、ステージ2から第1カメラ51および第2カメラ52をZ軸方向に離間させて視野を広げることができる。
に回転させることができる。また、第1送りネジ71および第2送りネジ72は、X軸方向で互いに離間する方向に延在しており、第1歯車751は、第1送りネジ71の第2送りネジ72側に位置する端部に設けられ、第2歯車752は、第2送りネジ72の第1送りネジ71側に位置する端部に設けられている。このため、第1カメラ51および第2カメラ52をX軸方向に駆動するストロークが長い場合でも、第1送りネジ71および第2送りネジ72が比較的短くて済むという利点がある。
図7は、本発明の別の実施形態に係る検査装置1の説明図であり、図4に対応する。上記実施形態では、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12のY軸方向の駆動に2つのモータ145を用いたが、図7に示すように、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12のY軸方向の駆動においても、第1カメラ51および第2カメラ52のX軸方向への駆動と同様、第1検査ユニット11および第2検査ユニット12のY軸方向の駆動を1つの第2モータ164で行ってもよい。
検査対象物が表示パネル100である場合を例示したが、表示パネル100以外の検査対象物を撮像して検査する検査装置に本発明を適用してもよい。
1カメラ、52…第2カメラ、61…第1モータ、71…第1送りネジ、72…第2送りネジ、75、175…歯車機構、81…第1スライダ、82…第2スライダ、91…第1カメラホルダ、92…第2カメラホルダ、100…表示パネル、110…表示領域、141…第1直線駆動装置、142…第2直線駆動装置、145、155…モータ、147、157…スライダ、146、156…送りネジ、164…第2モータ、171…第3送りネジ、172…第4送りネジ、181…第3スライダ、182…第4スライダ、751…第1歯車、752…第2歯車
Claims (7)
- 検査対象物を撮像する検査ユニットを備えた検査装置であって、
前記検査ユニットには、
第1モータと、
第1方向に沿って延在し、前記第1モータによって回転駆動される第1送りネジと、
前記第1送りネジによって前記第1方向に直線駆動される第1スライダと、
前記第1スライダに連結された第1カメラと、
前記第1送りネジと同一方向の螺旋溝が形成された送りネジであって、前記第1方向に沿って延在し、前記第1送りネジの回転が歯車機構を介して伝達されて前記第1送りネジと逆方向に回転する第2送りネジと、
前記第2送りネジによって前記第1方向に直線駆動される第2スライダと、
前記第2スライダに連結された第2カメラと、
が設けられ、
前記第1カメラおよび前記第2カメラは、前記第1モータの駆動によって、前記第1方向において互いに接近する方向および離間する方向に移動することを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記歯車機構は、前記第1送りネジと一体に回転する第1歯車と、前記第1歯車と噛み合い、前記第2送りネジと一体に回転する第2歯車と、を含むことを特徴とする検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置において、
前記第1送りネジおよび前記第2送りネジは、前記第1方向で互いに離間する方向に延在しており、
前記第1歯車は、前記第1送りネジの前記第2送りネジ側に位置する端部に設けられ、
前記第2歯車は、前記第2送りネジの前記第1送りネジ側に位置する端部に設けられて前記第1歯車と噛み合っていることを特徴とする検査装置。 - 請求項1から3までの何れか一項に記載の検査装置において、
前記第1方向と直交する第2方向において前記検査ユニットが第1検査ユニット、および第2検査ユニットとして配列されており、
前記第1検査ユニットに対しては、モータを駆動源にして前記第1検査ユニットを前記第2方向に直線駆動する第1直線駆動装置が設けられ、
前記第2検査ユニットに対しては、モータを駆動源にして前記第2検査ユニットを前記第2方向に直線駆動する第2直線駆動装置が設けられ、
前記第1カメラおよび前記第2カメラは、前記第1直線駆動装置および前記第2直線駆動装置によって、前記第2方向において互いに接近する方向、および互いに離間する方向に駆動されることを特徴とする検査装置。 - 請求項1から3までの何れか一項に記載の検査装置において、
前記検査ユニットが前記第1方向と直交する第2方向に第1検査ユニット、および第2検査ユニットとして配列されており、
第2モータと、
前記第2方向に沿って延在し、前記第2モータによって回転駆動される第3送りネジと、
前記第3送りネジによって前記第2方向に直線駆動され、前記第1検査ユニットが連結された第3スライダと、
前記第3送りネジと同一方向の螺旋溝が形成された送りネジであって、前記第2方向に
沿って延在し、前記第3送りネジの回転が歯車機構を介して伝達されて前記第3送りネジと逆方向に回転する第4送りネジと、
前記第4送りネジによって前記第2方向に直線駆動され、前記第2検査ユニットが連結された第4スライダと、
が設けられ、
前記第1検査ユニットおよび前記第2検査ユニットは、前記第2モータの駆動によって、前記第2方向において互いに接近する方向、および互いに離間する方向に駆動されることを特徴とする検査装置。 - 請求項4または5に記載の検査装置において、
前記第1検査ユニット、および前記第2検査ユニットを前記第1方向および前記第2方向に対して直交する第3方向に駆動する直線駆動装置を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項1から6までの何れか一項に記載の検査装置において、
前記検査対象物は、表示パネルであり、
前記検査ユニットは、前記表示パネルが点灯した状態を撮像することを特徴とする検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019103464A JP7267552B2 (ja) | 2019-06-03 | 2019-06-03 | 検査装置 |
CN202010493117.3A CN112033963B (zh) | 2019-06-03 | 2020-06-03 | 检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019103464A JP7267552B2 (ja) | 2019-06-03 | 2019-06-03 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020197440A true JP2020197440A (ja) | 2020-12-10 |
JP7267552B2 JP7267552B2 (ja) | 2023-05-02 |
Family
ID=73578831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019103464A Active JP7267552B2 (ja) | 2019-06-03 | 2019-06-03 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7267552B2 (ja) |
CN (1) | CN112033963B (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62165105A (ja) * | 1986-01-17 | 1987-07-21 | Kobe Steel Ltd | 形状測定装置 |
JP2003275833A (ja) * | 2002-03-18 | 2003-09-30 | Asahi-Seiki Mfg Co Ltd | 材料送り装置 |
JP2005128026A (ja) * | 2004-12-06 | 2005-05-19 | Dainippon Printing Co Ltd | カラー試料の検査装置 |
JP2010032244A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Micronics Japan Co Ltd | カメラ調整機構及び点灯検査装置 |
US20140368614A1 (en) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | Edge Toy, Inc. | Three dimensional scanning apparatuses and methods for adjusting three dimensional scanning apparatuses |
JP2016164499A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 名古屋電機工業株式会社 | 検査装置、検査方法および検査プログラム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3374149B2 (ja) * | 1996-08-03 | 2003-02-04 | 日本アビオニクス株式会社 | パターン撮像装置 |
JP2000258359A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2007003360A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 目視検査装置 |
JP2014088885A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Nsk Ltd | 直動テーブル装置 |
JP6343509B2 (ja) * | 2014-07-25 | 2018-06-13 | Nke株式会社 | 検査装置 |
-
2019
- 2019-06-03 JP JP2019103464A patent/JP7267552B2/ja active Active
-
2020
- 2020-06-03 CN CN202010493117.3A patent/CN112033963B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62165105A (ja) * | 1986-01-17 | 1987-07-21 | Kobe Steel Ltd | 形状測定装置 |
JP2003275833A (ja) * | 2002-03-18 | 2003-09-30 | Asahi-Seiki Mfg Co Ltd | 材料送り装置 |
JP2005128026A (ja) * | 2004-12-06 | 2005-05-19 | Dainippon Printing Co Ltd | カラー試料の検査装置 |
JP2010032244A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Micronics Japan Co Ltd | カメラ調整機構及び点灯検査装置 |
US20140368614A1 (en) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | Edge Toy, Inc. | Three dimensional scanning apparatuses and methods for adjusting three dimensional scanning apparatuses |
JP2016164499A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 名古屋電機工業株式会社 | 検査装置、検査方法および検査プログラム |
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JP7267552B2 (ja) | 2023-05-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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