JP2020129608A - 電子デバイスの製造方法 - Google Patents

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雅隆 數野
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Abstract

【課題】ボイドの発生を抑制することのできる電子デバイスの製造方法を提供すること。【解決手段】電子部品がモールド部で覆われている電子デバイスの製造方法であって、前記電子部品をモールド金型に収納し、前記モールド金型内にモールド材を充填して前記モールド部を形成する工程を含み、前記モールド金型は、平面視形状が矩形であり、前記電子部品が収納されるキャビティと、前記キャビティに含まれる4つの側面のうち、前記電子部品との隙間が最も小さい側面と連通しているダミーキャビティと、を有し、前記工程では、前記モールド材が前記キャビティに流入し、前記キャビティ内の前記モールド材が前記ダミーキャビティに流入する。【選択図】図4

Description

本発明は、電子デバイスの製造方法に関するものである。
例えば、特許文献1には、電子部品を樹脂モールドする際のボイドの発生を抑えるために、樹脂モールドのためのモールド型に、電子部品を収納するキャビティと、樹脂引き込み用のダミーキャビティと、キャビティ内の樹脂流路終端部分とダミーキャビティとを接続する流路と、が形成されている構成が開示されている。そして、特許文献1には、このような構成のモールド型を用いることにより、キャビティ内の樹脂流路終端部分に生じ易いボイドを、流路を介してダミーキャビティに流し込むことができ、ボイドのないパッケージを製造することができると記載されている。
特開平2−271641号公報
しかしながら、上述のモールド型では、凹凸が少なくキャビティ内でのモールド材の流動経路が比較的単純な電子部品を樹脂モールドする際には有効にボイドの発生を抑制することができるかもしれないが、形状が複雑でキャビティ内でのモールド材の流動経路が複雑な電子部品を樹脂モールドする際にはボイドをダミーキャビティに誘導することが困難であり、ボイドの発生を抑制することが困難である。
本発明の一態様は、電子部品がモールド部で覆われている電子デバイスの製造方法であって、
前記電子部品をモールド金型に収納し、前記モールド金型内にモールド材を充填して前記モールド部を形成する工程を含み、
前記モールド金型は、
平面視形状が矩形であり、前記電子部品が収納されるキャビティと、
前記キャビティに含まれる4つの側面のうち、前記電子部品との隙間が最も小さい側面と連通しているダミーキャビティと、を有し、
前記工程では、
前記モールド材が前記キャビティに流入し、前記キャビティ内の前記モールド材が前記ダミーキャビティに流入することを特徴とする電子デバイスの製造方法である。
本発明の一態様では、前記ダミーキャビティは、前記電子部品との隙間が最も小さい前記側面の一端部に位置する角部と連通していることが好ましい。
本発明の一態様では、前記電子デバイスは、前記モールド部で覆われている複数の前記電子部品を有し、
前記ダミーキャビティは、前記複数の電子部品ごとに複数配置されていることが好ましい。
本発明の一態様では、前記電子デバイスは、前記電子部品として、第1電子部品、第2電子部品および第3電子部品を有し、
4つの前記側面を、第1側面、前記第1側面の一端部と接続している第2側面、前記第1側面の他端部と接続している第3側面および前記第2側面と前記第3側面とに接続している第4側面としたとき、
前記第1電子部品は、前記第1側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
前記第2電子部品は、前記第2側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
前記第3電子部品は、前記第3側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
前記モールド金型は、前記ダミーキャビティとして、前記第1側面と連通している第1ダミーキャビティと、前記第2側面と連通している第2ダミーキャビティと、前記第3側面と連通している第3ダミーキャビティと、を有することが好ましい。
本発明の一態様では、前記モールド金型は、前記第3側面と前記第4側面との間に位置する角部と連通し、前記キャビティ内に前記モールド材を流入させる流入路を有することが好ましい。
本発明の一態様では、前記電子部品は、パッケージと、前記パッケージに収納されているセンサー素子と、を有することが好ましい。
電子デバイスの概略を示す斜視図である。 電子部品の一例を示す断面図である。 電子部品の一例を示す断面図である。 図1に示す電子デバイスの製造工程を示す図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。 図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。
以下、本発明の一態様の電子デバイスの製造方法を添付図面に示す実施形態に基づいて詳細に説明する。
図1は、電子デバイスの概略を示す斜視図である。図2および図3は、それぞれ、電子部品の一例を示す断面図である。図4は、図1に示す電子デバイスの製造工程を示す図である。図5ないし図10は、それぞれ、図1に示す電子デバイスの製造方法を説明するための図である。
なお、説明の便宜上、図4を除く各図には、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸として図示している。X軸と平行な方向を「X軸方向」とも言い、Y軸と平行な方向を「Y軸方向」とも言い、Z軸と平行な方向を「Z軸方向」とも言う。また、各軸を示す矢印の先端側を「プラス側」とも言い、反対側を「マイナス側」とも言う。また、Z軸方向プラス側を「上」とも言い、Z軸方向マイナス側を「下」とも言う。
まず、本実施形態の電子デバイスの製造方法により製造される電子デバイス1について簡単に説明する。図1に示すように、電子デバイス1は、複数のリードを備えるリード群2と、リード群2に接続されている4つの電子部品3、4、5、6と、これら4つの電子部品3、4、5、6をモールドしているモールド部7と、を有する。
モールド部7は、電子部品3、4、5、6をモールドし、電子部品3、4、5、6を水分、埃、衝撃等から保護している。モールド部7を構成するモールド材は、特に限定されず、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等の熱硬化型樹脂を用いることができる。また、モールド部7の形成方法は、特に限定されず、例えば、トランスファーモールド法によって形成することができる。
このようなモールド部7は、Z軸方向からの平面視で矩形(四角形)をなしている。そのため、モールド部7の側面は、第1側面71、第2側面72、第3側面73および第4側面74を有する。そして、第1側面71と第4側面74とがX軸方向に対向して配置され、第2側面72と第3側面73とがY軸方向に対向して配置されている。なお、前記矩形には、矩形と一致する形状の他、矩形から若干崩れているが、社会通念上、矩形と同視できる形状を含む意味である。「社会通念上矩形と同視できる形状」とは、例えば、製造上生じ得る微小な誤差を有する形状、少なくとも1つの角部が面取りや丸み付けされている形状、少なくとも1つの角部が90°から若干ずれている形状、少なくとも1つの辺が直線状ではなく、その途中または全域で湾曲している形状等が挙げられる。また、第1側面71、第2側面72、第3側面73および第4側面74には、若干のテーパが形成されていてもよい。これにより、後述するモールド金型8からの離脱を容易かつ確実に行うことができる。
電子部品3、4、5、6は、それぞれ、センサー部品である。具体的には、電子部品3、4、5、6のうち、電子部品3は、X軸まわりの角速度を検出するX軸角速度センサーであり、電子部品4は、Y軸まわりの角速度を検出するY軸角速度センサーであり、電子部品5は、Z軸まわりの角速度を検出するZ軸角速度センサーであり、電子部品6は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度およびZ軸方向の加速度をそれぞれ独立して検出する3軸加速度センサーである。つまり、本実施形態の電子デバイス1は、6軸複合センサーである。
ただし、電子デバイス1の構成としては、これに限定されず、電子部品3、4、5、6の少なくとも1つを省略してもよいし、別の電子部品を追加してもよい。また、電子部品3、4、5、6は、それぞれ、センサー部品に限定されない。
次に、電子部品3、4、5について簡単に説明する。これら電子部品3、4、5は、互いに同じ構成であり、その姿勢がそれぞれの検出軸に対応するように、互いに90°傾いて配置されている。そのため、以下では、電子部品3について代表して説明し、電子部品4、5については、その説明を省略する。
図2に示すように、電子部品3は、パッケージ31と、パッケージ31に収納されているセンサー素子34と、を有する。パッケージ31は、例えば、凹部321を有するベース32と、凹部321の開口を塞いでベース32に接合されているリッド33と、からなる。ベース32の下面には複数の外部端子39が配置され、これら外部端子39は、それぞれ、センサー素子34と電気的に接続されている。センサー素子34は、例えば、駆動腕と振動腕とを有する水晶振動素子である。駆動腕を駆動振動させている状態で角速度が加わると、コリオリの力によって検出腕に検出振動が励振され、この検出振動により検出腕に発生する電荷に基づいて角速度を求めることができる。
以上、電子部品3について説明したが、電子部品3の構成としては、その機能を発揮することができれば特に限定されない。例えば、センサー素子34は、水晶振動素子に限定されず、例えば、シリコン振動素子であり、静電容量の変化に基づいて角速度を検出する構成であってもよい。また、本実施形態では、電子部品3、4、5が互いに同じ構成であるが、これに限定されず、少なくとも1つが他と異なる構成であってもよい。また、電子部品3は、X軸まわりの角速度だけでなく、X軸に加え、Y軸およびZ軸等、他の軸まわりの角速度も検出できる構成であってもよい。例えば、電子部品3が、X軸およびY軸まわりの角速度を検出できる構成の場合は、電子部品4を省略することができ、電子部品3が、X軸、Y軸およびZ軸まわりの角速度を検出できる構成の場合は、電子部品4および電子部品5を省略することができる。
次に、電子部品6について簡単に説明する。図3に示すように、電子部品6は、パッケージ61と、パッケージ61に収納されているセンサー素子64、65、66と、を有する。パッケージ61は、センサー素子64、65、66と重なって形成された凹部624、625、626を有するベース62と、ベース62側に開口する凹部631を有し、この凹部631にセンサー素子64、65、66を収納してベース62に接合されているリッド63と、を有する。ベース62の下面には複数の外部端子69が配置され、これら外部端子69は、それぞれ、センサー素子64、65、66と電気的に接続されている。
また、センサー素子64は、X軸方向の加速度を検出する素子であり、センサー素子65は、Y軸方向の加速度を検出する素子であり、センサー素子66は、Z軸方向の加速度を検出する素子である。これらセンサー素子64、65、66は、固定電極と、固定電極との間に静電容量を形成し、検出軸方向の加速度を受けると固定電極に対して変位する可動電極と、を有するシリコン振動素子である。そのため、センサー素子64の静電容量の変化に基づいてX軸方向の加速度を検出することができ、センサー素子65の静電容量の変化に基づいてY軸方向の加速度を検出することができ、センサー素子66の静電容量の変化に基づいてZ軸方向の加速度を検出することができる。
以上、電子部品6について説明したが、電子部品6の構成としては、その機能を発揮することができれば特に限定されない。例えば、センサー素子64、65、66は、シリコン振動素子に限定されず、例えば、水晶振動素子であり、振動により生じる電荷に基づいて加速度を検出する構成であってもよい。
これら4つの電子部品3、4、5、6のうち、電子部品3は、モールド部7の第1側面71に沿って、かつ、第1側面71の第2側面72側に偏って配置されている。電子部品3は、第1側面71と第2側面72との間の角部に配置されているとも言える。また、電子部品3は、ベース32の下面を第1側面71側に向けた姿勢で配置されている。
電子部品4は、モールド部7の第2側面72に沿って、かつ、第2側面72の第4側面74側に偏って配置されている。電子部品4は、第2側面72と第4側面74との間の角部に配置されているとも言える。また、電子部品4は、ベース42の下面を第2側面72側に向けた姿勢で配置されている。
電子部品5は、モールド部7の第3側面73に沿って、かつ、第3側面73の第1側面71側に偏って配置されている。電子部品5は、第1側面71と第3側面73との間の角部に配置されているとも言える。また、電子部品5は、ベース52の下面をモールド部7の下面に向け、かつ、ベース52の下面とモールド部7の下面とが平行となる姿勢で配置されている。
電子部品6は、第3側面73と第4側面74との間の角部に配置されている。電子部品6は、ベース62の下面をモールド部7の下面に向け、かつ、ベース62の下面とモールド部7の下面とが平行となる姿勢で配置されている。
このような配置によれば、電子部品3、4、5、6をモールド部7の各角部に振り分けて配置することができるため、電子部品3、4、5、6をより小さなスペースに規則的に配置することができる。そのため、電子デバイス1の小型化を図ることができる。ただし、電子部品3、4、5、6の配置は、上述の配置に限定されない。
次に、リード群2について説明する。図1に示すように、リード群2は、電子部品3と接続されている複数のリード23と、電子部品4と接続されている複数のリード24と、電子部品5と接続されている複数のリード25と、電子部品6と接続されている複数のリード26と、を有する。また、リード群2は、電子部品3、4、5、6のいずれにも電気的に接続されていない複数のリード27を有する。
また、電子部品3と各リード23、電子部品4と各リード24、電子部品5と各リード25および電子部品6と各リード26は、それぞれ、半田等の導電性の接合部材(図示せず)を介して機械的かつ電気的に接続されている。また、各リード23、24、25、26、27は、その一端部がモールド部7の外側に突出し、当該部分において外部装置に取り付けられる。
また、リード群2は、全体的に、X軸およびY軸を含むX−Y平面に沿って配置されている。また、電子部品3と接続されている各リード23は、電子部品3の検出軸をX軸と一致させるために、その途中の屈曲点PにおいてZ軸方向に向けて90°折り曲げられている。同様に、電子部品4と接続されている各リード24は、電子部品4の検出軸をY軸と一致させるために、その途中の屈曲点PにおいてZ軸方向に向けて90°折り曲げられている。一方、電子部品5と接続されている各リード25および電子部品6と接続されている各リード26は、それぞれ、モールド部7内においてはリード23、24のように屈曲しておらず、X−Y平面に沿って延在している。電子部品3、4、5、6と接続されていない各リード27も、モールド部7内においてはリード23、24のように屈曲しておらず、X−Y平面に沿って延在している。
以上、電子デバイス1について簡単に説明した。次に、この電子デバイス1の製造方法について説明する。電子デバイス1の製造方法は、図4に示すように、リードフレーム20に電子部品3、4、5、6を接続する電子部品接続工程と、電子部品3、4、5、6をモールド金型8に収納し、モールド金型8内にモールド材を充填することによりモールド部7を形成するモールド工程と、リードフレーム20の余分な部分を切断して除去する切断工程と、を含む。
[電子部品接続工程]
まず、図5に示すように、リードフレーム20を準備する。リードフレーム20は、枠状のフレーム21と、フレーム21の内側に位置し、フレーム21に支持されている複数のリード23、24、25、26、27と、これらリード23、24、25、26、27を接続しているタイバー29と、を有する。次に、図6に示すように、複数のリード23に接合部材を介して電子部品3を接続し、複数のリード24に接合部材を介して電子部品4を接続し、複数のリード25に接合部材を介して電子部品5を接続し、複数のリード26に接合部材を介して電子部品6を接続する。次に、図7に示すように、複数のリード23をその途中の屈曲点PにおいてZ軸方向プラス側に90°曲げて電子部品3を立たせ、その検出軸をX軸に一致させる。また、複数のリード24をその途中の屈曲点PにおいてZ軸方向プラス側に90°曲げて電子部品4立たせ、その検出軸をY軸に一致させる。
[モールド工程]
次に、電子部品3、4、5、6をモールド金型8内に配置し、モールド金型8内に溶融または軟化したモールド材Mを充填し、その後、これを硬化または固化させることにより、電子部品3、4、5、6を覆うモールド部7を形成する。ここで、モールド金型8について詳細に説明すると、図8に示すように、モールド金型8は、下側金型8Aと上側金型8Bとに分割されており、これら下側金型8Aと上側金型8Bとでリードフレーム20を挟み込むことにより、モールド金型8内に電子部品3、4、5、6を配置することができる。
また、図8に示すように、モールド金型8は、下側金型8Aと上側金型8Bとの間に形成される空間として、電子部品3、4、5、6が収納されるキャビティ81と、キャビティ81と連通する3つのダミーキャビティ83、84、85と、を有する。そして、キャビティ81内にモールド材Mを充填することによりモールド部7が形成され、キャビティ81内に発生し得るボイドBつまり気泡をモールド材Mと共にダミーキャビティ83、84、85のいずれかへ移動し、このボイドBをキャビティ81から排除することができる。
キャビティ81は、モールド部7の外形と同じ形状をなしており、Z軸方向からの平面視で矩形となっている。このようなキャビティ81は、Z軸方向マイナス側に位置する下面811と、Z軸方向プラス側に位置する上面812と、下面811と上面812とを接続する第1側面813、第2側面814、第3側面815および第4側面816と、を有する。4つの側面のうち、第1側面813と第4側面816とがX軸方向に対向し、第2側面814と第3側面815とがY軸方向に対向する。そして、第1側面813によってモールド部7の第1側面71が形成され、第2側面814によってモールド部7の第2側面72が形成され、第3側面815によってモールド部7の第3側面73が形成され、第4側面816によってモールド部7の第4側面74が形成される。
このようなキャビティ81には、リードフレーム20に搭載された状態の電子部品3、4、5、6が図9に示すように配置される。電子部品3は、第1側面813に沿って、かつ、第1側面813の第2側面814側に偏って配置される。また、電子部品4は、第2側面814に沿って、かつ、第2側面814の第4側面816側に偏って配置される。また、電子部品5は、第3側面815に沿って、かつ、第5側面815の第1側面813側に偏って配置される。言い換えると、第1側面813と第2側面814との間の角部に電子部品3が配置され、第2側面814と第4側面816との間の角部に電子部品4が配置され、第1側面813と第3側面815との間の角部に電子部品5が配置される。また、電子部品6は、第3側面815と第4側面816との間の角部に配置される。
また、モールド金型8は、キャビティ81内にモールド材Mとしての樹脂材料を流入させるための流入路82すなわちゲートを有する。流入路82は、キャビティ81の第3側面815と第4側面816との間の角部と連通している。当該角部の近くには電子部品6が配置されているが、電子部品6は、他の電子部品3、4、5に対してサイズが小さい。そのため、当該角部からであればキャビティ81内にモールド材Mをスムーズに流入させることができる。これにより、モールド材Mの流入圧を低く抑えることができ、モールド材Mによる押圧によって電子部品3、4、5、6の姿勢が変化したり、電子部品3、4、5、6のパッケージ31、41、51、61が破損したりするのを効果的に抑制することができる。そのため、信頼性の高い電子デバイス1を製造することができる。ただし、流入路82の配置、特にキャビティ81への接続位置は、特に限定されない。また、流入路82は、複数であってもよい。
本実施形態では、下側金型8Aに形成された溝により流入路82が形成されている。また、下側金型8Aの他の箇所には、すなわち、キャビティ81の他の3つの角部に相当する箇所には、後述する連通路863、864、865が溝により形成されている。
前述したように、電子部品3が第1側面813に沿って配置されているため、電子部品3と第1側面813との隙間G3が、電子部品3と第2、第3、第4側面814、815、816との隙間よりも小さい。つまり、電子部品3と第1側面813との離間距離が、電子部品3と第2、第3、第4側面814、815、816との離間距離よりも小さい。そのため、隙間G3にモールド材Mが侵入し難く、当該部分にボイドBが発生し易い。
同様に、電子部品4が第2側面814に沿って配置されているため、電子部品4と第2側面814との隙間G4が、電子部品4と第1、第3、第4側面813、815、816との隙間よりも小さい。つまり、電子部品4と第2側面814との離間距離が、電子部品4と第1、第3、第4側面813、815、816との離間距離よりも小さい。そのため、隙間G4にモールド材Mが侵入し難く、当該部分にボイドBが発生し易い。
同様に、電子部品5が第3側面815に沿って配置されているため、電子部品5と第3側面815との隙間G5が、電子部品5と第1、第2、第4側面813、814、816との隙間よりも小さい。つまり、電子部品5と第3側面815との離間距離が、電子部品5と第1、第2、第4側面813、814、816との離間距離よりも小さい。そのため、隙間G5にモールド材Mが侵入し難く、当該部分にボイドBが発生し易い。
また、キャビティ81内では電子部品3、4、5、6が障害物となってモールド材Mの流動経路が複雑となり、隙間G3、G4、G5に対してそれぞれ両方向からモールド材Mが流入する場合もある。したがって、本実施形態の構成では、隙間G3、G4、G5にボイドBがより発生し易い。
そこで、モールド金型8は、隙間G3、G4、G5の近傍においてキャビティ81とダミーキャビティ83、84、85とを連通し、隙間G3、G4、G5で発生したボイドBを効果的にダミーキャビティ83、84、85内に導くことができるように構成されている。
ダミーキャビティ83は、電子部品3に対応するキャビティであり、側面813〜816のうち、電子部品3との隙間が最も小さい第1側面813において連通路863を介してキャビティ81と連通している。特に、本実施形態では、ダミーキャビティ83は、第1側面813の第2側面814側の端部、つまり、第1側面813と第2側面814との間の角部において連通路863を介してキャビティ81と連通している。これにより、隙間G3の近傍に連通路863が配置されるため、隙間G3で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ83内に導くことができる。また、角部は、モールド材Mの流動経路の終端となり易いため、この点においても、隙間G3で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ83内に導くことができる。そのため、キャビティ81内からボイドBをより確実に除去することができる。
ダミーキャビティ84は、電子部品4に対応するキャビティであり、側面813〜816のうち、電子部品4との隙間が最も小さい第2側面814において連通路864を介してキャビティ81と連通している。特に、本実施形態では、ダミーキャビティ84は、第2側面814の第4側面816側の端部、つまり、第2側面814と第4側面816との間の角部において連通路864を介してキャビティ81と連通している。これにより、隙間G4の近傍に連通路864が配置されるため、隙間G4で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ84内に導くことができる。また、角部は、モールド材Mの流動経路の終端となり易いため、この点においても、隙間G4で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ84内に導くことができる。そのため、キャビティ81内からボイドBをより確実に除去することができる。
ダミーキャビティ85は、電子部品5に対応するキャビティであり、側面813〜816のうち、電子部品5との隙間が最も小さい第3側面815において連通路865を介してキャビティ81と連通している。特に、本実施形態では、ダミーキャビティ85は、第3側面815の第1側面813側の端部、つまり、第3側面815と第1側面813との間の角部において連通路865を介してキャビティ81と連通している。これにより、隙間G5の近傍に連通路865が配置されるため、隙間G5で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ85内に導くことができる。また、角部は、モールド材Mの流動経路の終端となり易いため、この点においても、隙間G5で発生したボイドBをより確実にダミーキャビティ85内に導くことができる。そのため、キャビティ81内からボイドBをより確実に除去することができる。
以上、モールド金型8の構成について説明した。次に、前述したように、下側金型8Aと上側金型8Bとで電子部品3、4、5、6を挟み込み、キャビティ81内に電子部品3、4、5、6を収納した状態で、図9に示すように、流入路82を介してキャビティ81内に溶融または軟化した流動性を有するモールド材Mを注入させる。この際、キャビティ81の体積よりも大きい体積、例えば1.2〜3倍程度のモールド材Mをキャビティ81内に流入させる。これにより、キャビティ81内にモールド材Mが充填されると共に、一部のモールド材Mがキャビティ81内からボイドBとなる気泡を伴って連通路863、864、865を介してダミーキャビティ83、84、85内に流入する。これにより、キャビティ81内からボイドBが効果的に除去される。そのため、ボイドBの発生が抑制されたモールド部7が形成される。以上のようにしてキャビティ81内にモールド材Mが充填されたら、当該モールド材Mを硬化または固化させる。
このように、モールド金型8がキャビティ81内で発生したボイドBをキャビティ81内から排除し易い構成となっているため、モールド材Mの流入圧を十分に低く抑えることができる。そのため、電子部品3、4、5、6の姿勢の変化や、電子部品3、4、5、6の破損、特に、パッケージ31、41、51、61の破壊を効果的に抑制することができる。つまり、モールド金型8は、モールド材Mの流入圧を高くすることができない電子部品3、4、5、6をモールドするのにより適している。なお、ダミーキャビティ83、84、85および連通路863、864、865の配置や形状は、図示のものに限定されない。
[切断工程]
次に、モールド金型8からモールド部7を離型した後、リードフレーム20からフレーム21を切断して除去すると共に、リード23、24、25、26、27のモールド部7から突出している部分を所定の形状に折り曲げる。次に、リード23、24、25、26、27同士を接続するタイバー29をレーザー等によって切断する。また、必要に応じて、流入路82および連通路863、864、865内のモールド材Mも除去等、その他、不要なモールド材Mのバリ取りを行う。以上により、図1に示す電子デバイス1が製造される。
以上のように、電子デバイス1の製造方法は、電子部品3、4、5、6をモールド金型8に収納し、モールド金型8内にモールド材Mを充填してモールド部7を形成する工程を含む。また、モールド金型8は、平面視形状が矩形であり、電子部品3、4、5、6が収納されるキャビティ81と、キャビティ81に含まれる4つの側面、すなわち、第1側面813、第2側面814、第3側面815および第4側面816のうち、電子部品3との隙間が最も小さい第1側面813と連通しているダミーキャビティ83と、電子部品4との隙間が最も小さい第2側面814と連通しているダミーキャビティ84と、電子部品5との隙間が最も小さい第3側面815と連通しているダミーキャビティ85と、を有する。そして、モールド部7を形成する工程では、モールド材Mがキャビティ81に流入し、キャビティ81内のモールド材Mがダミーキャビティ83、84、85に流入する。
このような製造方法では、電子部品3と第1側面813との隙間G3、電子部品4と第2側面814との隙間G4および電子部品5と第3側面815との隙間G5にボイドBが生じ易いが、隙間G3、G4、G5の近傍においてキャビティ81とダミーキャビティ83、84、85とが連通しているため、隙間G3、G4、G5で生じるボイドBをモールド材Mと共にダミーキャビティ83、84、85内へと導くことができる。そのため、モールド部7にボイドBが残存することをより確実に抑制することができる。したがって、信頼性の高い電子デバイス1をより確実に製造することができる。
また、前述したように、ダミーキャビティ83は、電子部品3との隙間が最も小さい第1側面813の一端部に位置する角部、本実施形態では第1側面813と第2側面814との間の角部と連通している。また、ダミーキャビティ84は、電子部品4との隙間が最も小さい第2側面814の一端部に位置する角部、本実施形態では第2側面814と第4側面816との間の角部と連通している。また、ダミーキャビティ85は、電子部品5との隙間が最も小さい第3側面815の一端部に位置する角部、本実施形態では第3側面815と第1側面813との間の角部と連通している。
これにより、隙間G3の近傍においてキャビティ81とダミーキャビティ83とが連通し、隙間G4の近傍においてキャビティ81とダミーキャビティ84とが連通し、隙間G5の近傍においてキャビティ81とダミーキャビティ85とが連通する。また、キャビティ81の角部は、モールド材Mの流動経路の終端となり易い。そのため、当該部分とダミーキャビティ83、84、85とを連通することにより、ボイドBをより確実にダミーキャビティ83、84、85内に導くことができる。
また、前述したように、電子デバイス1は、モールド部7で覆われている複数の電子部品3、4、5を有し、ダミーキャビティ83、84、85は、複数の電子部品3、4、5ごとに複数配置されている。本実施形態では、電子部品3に対応してダミーキャビティ83が配置され、電子部品4に対応してダミーキャビティ84が配置され、電子部品5に対応してダミーキャビティ85が配置されている。これにより、隙間G3に生じたボイドBがダミーキャビティ83に導かれ、隙間G4に生じたボイドBがダミーキャビティ84に導かれ、隙間G5に生じたボイドBがダミーキャビティ85に導かれるため、キャビティ81内のボイドBをより確実に除去することができる。なお、これに限定されず、隙間G3に生じたボイドBがダミーキャビティ84、85に導かれ、隙間G4に生じたボイドBがダミーキャビティ83、85に導かれ、隙間G5に生じたボイドBがダミーキャビティ83、84に導かれてもよい。
また、前述したように、電子デバイス1は、電子部品として、第1電子部品としての電子部品3、第2電子部品としての電子部品4および第3電子部品としての電子部品5を有する。また、キャビティ81の4つの側面を、第1側面813、第1側面813の一端部と接続している第2側面814、第1側面813の他端部と接続している第3側面815および第2側面814と第3側面815とに接続している第4側面816としたとき、電子部品3は、第1側面813との隙間が最も小さくなるようにキャビティ81内に配置され、電子部品4は、第2側面814との隙間が最も小さくなるようにキャビティ81内に配置され、電子部品5は、第3側面815との隙間が最も小さくなるようにキャビティ81内に配置される。そして、モールド金型8は、ダミーキャビティとして、第1側面813と連通している第1ダミーキャビティとしてのダミーキャビティ83と、第2側面814と連通している第2ダミーキャビティとしてのダミーキャビティ84と、第3側面815と連通している第3ダミーキャビティとしてのダミーキャビティ85と、を有する。このように電子部品3、4、5を配置することにより、これら電子部品3、4、5を規則的に、かつ、小さいスペースに配置することができる。そのため、電子デバイス1の小型化を図ることができる。また、ダミーキャビティ83、84、85を互いに邪魔することなく配置することができる。
また、前述したように、モールド金型8は、第3側面815と第4側面816との間に位置する角部と連通し、キャビティ81内にモールド材Mを流入させる流入路82を有する。当該部分には電子部品3、4、5が配置されていないため、キャビティ81内にモールド材Mをスムーズに流入させることができる。これにより、モールド材Mの流入圧を低く抑えることができ、モールド材Mによる押圧によって電子部品3、4、5の姿勢が変化したり、電子部品3、4、5のパッケージ31、41、51が破壊されたりするのを効果的に抑制することができる。
また、前述したように、電子部品3は、パッケージ31と、パッケージ31に収納されているセンサー素子34と、を有する。また、電子部品4は、パッケージ41と、パッケージ41に収納されているセンサー素子44と、を有する。また、電子部品5は、パッケージ51と、パッケージ51に収納されているセンサー素子54と、を有する。電子部品6は、パッケージ61と、パッケージ61に収納されているセンサー素子64、65、66と、を有する。このような構成の電子部品3、4、5、6では、モールド材Mの流入圧によってパッケージ31、41、51、61が破壊され易い。本実施形態の製造方法によれば、前述したように、モールド材Mの流入圧を低く抑えても、キャビティ81内のボイドBをより確実に除去することができるため、パッケージ31、41、51、61の破壊を効果的に抑制することができる。
以上、本発明の電子デバイスの製造方法を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物が付加されていてもよい。
また、前述した実施形態では、電子部品3、4、5に対応して3つのダミーキャビティ83、84、85が設けられているが、これに限定されず、ダミーキャビティ83、84、85のうち1つまたは2つを省略してもよい。また、前述した実施形態では、ダミーキャビティ83、84、85が互いに独立した空間となっているが、これに限定されず、例えば、これらが互いに連通していてもよい。つまり、ダミーキャビティ83、84、85が連続した1つの空間となっていてもよい。また、例えば、図10に示すように、第1側面813の途中であって平面視で隙間G3と重なる位置においてキャビティ81とダミーキャビティ83とが連通していてもよいし、第2側面814の途中であって平面視で隙間G4と重なる位置においてキャビティ81とダミーキャビティ84とが連通していてもよいし、第3側面815の途中であって平面視で隙間G5と重なる位置においてキャビティ81とダミーキャビティ85とが連通していてもよい。これにより、隙間G3、G4、G5のより近くで、キャビティ81とダミーキャビティ83、84、85とを連通することができる。
1…電子デバイス、2…リード群、20…リードフレーム、21…フレーム、23、24、25、26、27…リード、29…タイバー、3…電子部品、31…パッケージ、32…ベース、321…凹部、33…リッド、34…センサー素子、39…外部端子、4…電子部品、41…パッケージ、42…ベース、44…センサー素子、5…電子部品、51…パッケージ、52…ベース、54…センサー素子、6…電子部品、61…パッケージ、62…ベース、624、625、626…凹部、63…リッド、631…凹部、64、65、66…センサー素子、69…外部端子、7…モールド部、71…第1側面、72…第2側面、73…第3側面、74…第4側面、8…モールド金型、8A…下側金型、8B…上側金型、81…キャビティ、811…下面、812…上面、813…第1側面、814…第2側面、815…第3側面、816…第4側面、82…流入路、83、84、85…ダミーキャビティ、863、864、865…連通路、B…ボイド、G3、G4、G5…隙間、M…モールド材、P…屈曲点

Claims (6)

  1. 電子部品がモールド部で覆われている電子デバイスの製造方法であって、
    前記電子部品をモールド金型に収納し、前記モールド金型内にモールド材を充填して前記モールド部を形成する工程を含み、
    前記モールド金型は、
    平面視形状が矩形であり、前記電子部品が収納されるキャビティと、
    前記キャビティに含まれる4つの側面のうち、前記電子部品との隙間が最も小さい側面と連通しているダミーキャビティと、を有し、
    前記工程では、
    前記モールド材が前記キャビティに流入し、前記キャビティ内の前記モールド材が前記ダミーキャビティに流入することを特徴とする電子デバイスの製造方法。
  2. 前記ダミーキャビティは、前記電子部品との隙間が最も小さい前記側面の一端部に位置する角部と連通している請求項1に記載の電子デバイスの製造方法。
  3. 前記電子デバイスは、前記モールド部で覆われている複数の前記電子部品を有し、
    前記ダミーキャビティは、前記複数の電子部品ごとに複数配置されている請求項1または2に記載の電子デバイスの製造方法。
  4. 前記電子デバイスは、前記電子部品として、第1電子部品、第2電子部品および第3電子部品を有し、
    4つの前記側面を、第1側面、前記第1側面の一端部と接続している第2側面、前記第1側面の他端部と接続している第3側面および前記第2側面と前記第3側面とに接続している第4側面としたとき、
    前記第1電子部品は、前記第1側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
    前記第2電子部品は、前記第2側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
    前記第3電子部品は、前記第3側面との隙間が最も小さくなるように前記キャビティ内に配置され、
    前記モールド金型は、前記ダミーキャビティとして、前記第1側面と連通している第1ダミーキャビティと、前記第2側面と連通している第2ダミーキャビティと、前記第3側面と連通している第3ダミーキャビティと、を有する請求項3に記載の電子デバイスの製造方法。
  5. 前記モールド金型は、前記第3側面と前記第4側面との間に位置する角部と連通し、前記キャビティ内に前記モールド材を流入させる流入路を有する請求項4に記載の電子デバイスの製造方法。
  6. 前記電子部品は、パッケージと、前記パッケージに収納されているセンサー素子と、を有する請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電子デバイスの製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4208368A (en) * 1978-07-18 1980-06-17 Gebruder Buhler Ag Method and apparatus for injection molding foamed plastic articles using a pre-pressurized mold having fixed core members with controlled venting
US4390486A (en) * 1981-03-19 1983-06-28 Ex-Cell-O Corporation Method and apparatus for heating a mold cavity uniformly
JPS60182141A (ja) 1984-02-29 1985-09-17 Hitachi Ltd モ−ルド金型
JPH02271641A (ja) 1989-04-13 1990-11-06 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法およびモールド型ならびにリードフレーム
TW222346B (en) * 1993-05-17 1994-04-11 American Telephone & Telegraph Method for packaging an electronic device substrate in a plastic encapsulant
US5577319A (en) * 1995-03-31 1996-11-26 Motorola, Inc. Method of encapsulating a crystal oscillator
JPH11121487A (ja) 1997-10-14 1999-04-30 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体素子の樹脂封止装置
US6038136A (en) * 1997-10-29 2000-03-14 Hestia Technologies, Inc. Chip package with molded underfill
US6324069B1 (en) * 1997-10-29 2001-11-27 Hestia Technologies, Inc. Chip package with molded underfill
US6495083B2 (en) * 1997-10-29 2002-12-17 Hestia Technologies, Inc. Method of underfilling an integrated circuit chip
US6319450B1 (en) * 1999-07-12 2001-11-20 Agere Systems Guardian Corp. Encapsulated circuit using vented mold
US6413801B1 (en) * 2000-05-02 2002-07-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Method of molding semiconductor device and molding die for use therein
US20020101006A1 (en) * 2001-02-01 2002-08-01 Stmicroelectronics S.A. Mould for injection-moulding a material for coating integrated circuit chips on a substrate
TW486793B (en) * 2001-05-29 2002-05-11 Siliconware Precision Industries Co Ltd Packaging method for preventing a low viscosity encapsulant from flashing
CA2350747C (en) * 2001-06-15 2005-08-16 Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee Improved transfer molding of integrated circuit packages
US6555924B2 (en) * 2001-08-18 2003-04-29 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Semiconductor package with flash preventing mechanism and fabrication method thereof
JP2003243435A (ja) * 2002-02-14 2003-08-29 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置の製造方法
JP2009054979A (ja) * 2007-07-27 2009-03-12 Nec Electronics Corp 電子装置および電子装置の製造方法
US9601434B2 (en) * 2010-12-10 2017-03-21 STATS ChipPAC Pte. Ltd. Semiconductor device and method of forming openings through insulating layer over encapsulant for enhanced adhesion of interconnect structure
TWI413195B (zh) * 2011-01-20 2013-10-21 Walton Advanced Eng Inc 減少模封膠體內氣泡之壓縮模封方法與裝置
US9802349B2 (en) * 2012-03-02 2017-10-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer level transfer molding and apparatus for performing the same

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