JP2020085835A - タックの評価方法 - Google Patents
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そのため、樹脂表面のタックの定量的な評価が可能な評価方法が求められている。
表面に樹脂部材を備える試料を準備する工程と、
粒子を保持容器で保持する工程と、
前記樹脂部材の前記表面を、前記保持容器で保持された粒子に当接して前記粒子を前記樹脂部材に付着させる工程と、
前記樹脂部材の表面に付着された粒子の単位面積当たりの個数を計測する工程と、
を含む、タックの評価方法。
(1)試料を準備する工程
(2)粒子を保持容器で保持する工程
(3)試料表面に粒子を付着させる工程
(4−1)付着した粒子の個数を計測する工程
さらに、(4−1)工程に換えて、以下の工程を含む。
(4−2)付着した粒子の付着領域面積を計測する工程
試料の一例として、図1A、図1Bに示すような発光装置10を準備する。発光装置10は、例えば、基板11と、基板11上に載置される発光素子12と、発光素子12を被覆する透光性の樹脂部材13とを備える。このような発光装置10は、タックを評価する前に、樹脂部材13の表面に汚れ等がないよう、洗浄、ブロー等の前処理を行ってもよい。また、試料である発光装置10としては、図1Aに示すような、表面が凸状の樹脂部材13を備えるほか、表面が平坦な樹脂部材や、表面が凹状の樹脂部材を備えるもの、表面が凹凸の樹脂部材を備えるものを用いることができる。あるいは、樹脂部材のみからなるシート状部材、板状部材、ブロック状部材等を用いることができ、さらに、これらの表面形状についても、平坦状、凹状、凸状、凹凸状など、種々の形状のものを用いることができる。
複数の粒子30を準備する。粒子30の大きさは、例えば、メジアン径が0.1μm〜100μmのものが好ましく、特に1μm〜30μm、更に、1μm〜10μmのメジアン径を有する粒子であることがより好ましい。このような粒子30を、試料表面に隙間なく付着させられるだけの量を準備する。例えば1cm角の試料の場合、10g以上、より好ましくは50g以上の粒子を準備すればよい。
次に、図2Bに示すように、樹脂部材13を下方に向けた状態で、発光装置10を保持容器20内に保持された複数の粒子30に当接させる。詳細には、樹脂部材13の表面に粒子30を当接させる。樹脂部材13の表面の測定領域をあらかじめ決めておく。そして、少なくともその測定領域を含む樹脂部材13に複数の粒子30を当接させる。樹脂部材13が凸部を有する場合は、凸部の一部又は全部が粒子30と接するように、堆積された複数の粒子30に埋設させる。これにより、樹脂部材13の表面に粒子30を付着させる。
次に、エアーを吹き付けた後の発光装置10を、樹脂部材13を上側にして台座上に載置する。台座上に配置したマイクロスコープを用いて、粒子30の個数を計測する。測定範囲は、樹脂部材13の全域または一部とすることができる。異なる樹脂材料13を用いて、同じ形状に成形された樹脂部材13を用い、測定範囲を同じとすることで、単位面積当たりの粒子30の個数を比較することができる。粒子30の個数が多いほど、タックが高いと判定される。
また、別の評価方法として、粒子30の個数の計測に換えて、顕微鏡等を使用して樹脂部材13に付着した粒子30を画像データとして取り込み、その取り込んだ画像データを二値化して、単位面積当たりの粒子の付着領域面積を計測することで、付着した粒子30の量の比較をすることができる。粒子30の付着領域は二値化処理することで明領域とされ、樹脂部材は暗領域とされるため、その明領域面積を計測することで、付着した粒子の量を計測することができる。
11…基板
12…発光素子
13…樹脂部材
20…保持容器
30…粒子(蛍光体)
40…エアブロー
Claims (4)
- 表面に樹脂部材を備える試料を準備する工程と、
粒子を保持容器で保持する工程と、
前記樹脂部材の前記表面を、前記保持容器で保持された粒子に当接して前記粒子を前記樹脂部材に付着させる工程と、
前記樹脂部材の表面に付着された粒子の単位面積当たりの個数を計測する工程と、
を含む、タックの評価方法。 - 前記粒子が蛍光体粒子であり、前記粒子の単位面積当たりの個数を計測する工程において、蛍光体粒子を励起する波長の光を照射し、発光する蛍光体粒子の個数を計測する、
請求項1に記載のタックの評価方法。 - 表面に樹脂部材を備える試料を準備する工程と、
粒子を保持容器で保持する工程と、
前記樹脂部材の前記表面を、前記保持容器で保持された粒子に当接して前記粒子を前記樹脂部材に付着させる工程と、
前記樹脂部材の表面に付着された粒子を、顕微鏡を用いて画像データとして取り込み、前記取り込んだ画像データを二値化処理し、単位面積当たりの粒子の付着領域面積を計測する工程と、を含む、タックの評価方法。 - 前記粒子が蛍光体粒子である、請求項3記載のタックの評価方法。
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