JP2020085556A - 金属材料の表面観察方法、および該表面観察方法を用いた金属材料の化成処理性評価方法。 - Google Patents
金属材料の表面観察方法、および該表面観察方法を用いた金属材料の化成処理性評価方法。 Download PDFInfo
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Abstract
Description
したがって、均一かつ微細で欠陥のない化成処理膜を形成できる化成処理性に優れる金属材料の開発が要望される。
(1)母材金属中に異種金属粒子を含む金属材料の表面観察方法であって、
最大高低差が200nm以下である金属材料の観察面を、ケルビンフォース顕微鏡を用いて、上記異種金属粒子とその周辺との電位差を観察する表面観察方法。
(2)イオンミリングにより上記観察面を作製する工程を備えることを特徴とする上記第(1)項に記載の表面観察方法。
上記第(1)又は上記第(2)項に記載の表面観察方法を用いて金属材料の表面を観察し、
上記異種金属粒子とその周辺との電位差から、金属材料の化成処理性を評価する化成処理性評価方法。
本発明の表面観察方法について詳細に説明する。
上記表面観察方法は、母材金属中に異種金属粒子を含む金属材料の表面を観察する方法であり、最大高低差が200nm以下である金属材料の観察面を、ケルビンフォース顕微鏡を用いて、上記異種金属粒子とその周辺との電位差を観察する。
アルゴンイオンビームを試料表面に対して斜めに照射し、アルゴンイオンビームの中心と試料回転の中心を偏心させることによって広範囲を加工して平滑な観察面を作製することができる。
金属材料の表面をイオンミリングしで観察面を作製し、該観察面の同一視野をケルビンフォース顕微鏡(株式会社日立ハイテックサイエンス製:マルチ対応小型プローブ顕微鏡ユニットAFM5200S)と原子間力顕微鏡を用いて観察した。化成処理面に対して縦断面のKFM像を図2(A)、AFM像を図2(B)に示す。
金属材料の表面をイオンミリングで観察面を作製し、該観察面の同一視野をケルビンフォース顕微鏡と原子間力顕微鏡を用いて観察した。KFM像を図3(A)、AFM像を図3(B)に示す。
また、イオンミリングした金属材料の観察面の同一視野を走査電子顕微鏡とケルビンフォース顕微鏡とを用いて観察した。SEM像を図4(A)、該図4(A)の拡大画像を図4(B)、KFM像を図4(D)、該図4(D)の拡大画像を図4(C)に示す。
実施例2の金属材料をリン酸マンガン処理し、形成された被膜を観察した。この被膜のSEM像を図5(A)に示す。
また、実施例2の金属材料の表面を研削してカソード点を除去した後、リン酸マンガン処理し、形成された被膜を観察した。この被膜のSEM像を図5(B)に示す。研削後では被膜が十分に形成されていない。また、表面研削前の金属材料のKFM像を図5(C)に示す。破線左側が研削された金属材料でカソード点が観察されるのに対して、破線右側の研削除去後の金属材料ではカソード点が観察されない。
Claims (3)
- 母材金属中に異種金属粒子を含む金属材料の表面観察方法であって、
最大高低差が200nm以下である金属材料の観察面を、ケルビンフォース顕微鏡を用いて、上記異種金属粒子とその周辺との電位差を観察する表面観察方法。 - イオンミリングにより上記観察面を作製する工程を備えることを特徴とする請求項1に記載の表面観察方法。
- 請求項1又は2に記載の表面観察方法を用いて金属材料の表面を観察し、
上記異種金属粒子とその周辺との電位差から、金属材料の化成処理性を評価する化成処理性評価方法。
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