JP2020044464A - 処理装置、処理システム、および処理方法 - Google Patents
処理装置、処理システム、および処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020044464A JP2020044464A JP2018172544A JP2018172544A JP2020044464A JP 2020044464 A JP2020044464 A JP 2020044464A JP 2018172544 A JP2018172544 A JP 2018172544A JP 2018172544 A JP2018172544 A JP 2018172544A JP 2020044464 A JP2020044464 A JP 2020044464A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- processing
- liquid
- pipe
- circulation pipe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 159
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 94
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 91
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 47
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 30
- 239000002966 varnish Substances 0.000 claims description 7
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 4
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 4
- 230000032683 aging Effects 0.000 abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 18
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 4
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D29/00—Filters with filtering elements stationary during filtration, e.g. pressure or suction filters, not covered by groups B01D24/00 - B01D27/00; Filtering elements therefor
- B01D29/11—Filters with filtering elements stationary during filtration, e.g. pressure or suction filters, not covered by groups B01D24/00 - B01D27/00; Filtering elements therefor with bag, cage, hose, tube, sleeve or like filtering elements
- B01D29/31—Self-supporting filtering elements
- B01D29/33—Self-supporting filtering elements arranged for inward flow filtration
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/6715—Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Filtration Of Liquid (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
Abstract
Description
まず、本発明の第1実施形態に係るフィルタ100の処理装置1で処理を行った後、フィルタ100が使用される装置の一例として、塗布装置9について説明する。図1は、塗布装置9の構成を示した概略図である。図2は、塗布装置9の塗布部90の斜視図である。なお、以下では、説明の便宜上、塗布装置9におけるスリットノズル20の移動方向を「前後方向」と称し、前後方向に直交する水平方向を「左右方向」と称する。
次に、本発明の一実施形態に係るフィルタ100の処理装置1について、図3を参照しつつ説明する。図3は、処理装置1の構成を示した概略図である。本実施形態のフィルタ100は、上記のワニスの塗布装置9に装着されるためのフィルタである。このため、処理装置1で用いられる処理液は、上記の塗布装置9で用いられる塗布液である。すなわち、処理装置1で用いられる処理液は、ポリイミド前駆体を含む高粘度のワニスである。
続いて、上記の塗布装置9および処理装置1を含む処理システムにおいて、処理装置1を用いたフィルタ100のエージング処理と、塗布装置9におけるフィルタの交換とを行うときの流れについて、図5を参照しつつ説明する。図5は、処理装置1におけるフィルタ100のエージング処理および塗布装置9におけるフィルタ100の交換の流れを示したフローチャートである。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。
9 塗布装置
11 ハウジング
12 フィルタカートリッジ
13 カバー
20 スリットノズル
21 貯留タンク
22 循環配管
23 送液ポンプ
24 異物除去フィルタ
25 装着機構
40 制御部
100 フィルタ
111 流入口
112 流出口
113 排気口
251 台座部
252 流入接続部
253 流出接続部
Claims (7)
- 高粘度の処理液を濾過するためのフィルタを処理するための処理装置であって、
前記処理液を循環させる循環配管と、
前記循環配管内に前記処理液の流れを発生させる送液機構と、
前記循環配管の流路途中に介挿され、前記フィルタを着脱自在に装着する装着機構と、
前記循環配管の流路途中に介挿される異物除去フィルタと、
を備える、処理装置。 - 請求項1に記載の処理装置であって、
前記処理液は、ポリイミド前駆体を含むワニスであり、
前記フィルタは、前記ワニスの塗布装置に装着されるためのフィルタである、処理装置。 - 請求項1または請求項2に記載の処理装置であって、
前記循環配管の流路途中に介挿される処理液貯留タンクと、
一端が前記循環配管の流路途中に接続される排液配管と、
前記循環配管および前記排液配管の接続箇所に備えられた切替弁と、
をさらに有する、処理装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の処理装置であって、
前記フィルタは、
上下に延びるハウジングと、
前記ハウジングの内部に収容される、円筒形のフィルタカートリッジと、
を有し、
前記ハウジングは、
前記処理液の流入口と、
前記フィルタカートリッジの内部と連通し、前記ハウジングの下端部に配置される、前記処理液の流出口と、
前記ハウジングの上端部に配置された気体排出口と、
を有する、処理装置。 - 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の処理装置と、
前記処理装置で処理された前記フィルタを介して供給される処理液を、基板の表面に塗布する塗布装置と、
を有する、処理システム。 - 高粘度の処理液を濾過するためのフィルタを処理するための処理方法であって、
a)循環配管の流路途中に介挿された装着機構に前記フィルタを装着する工程と、
b)前記工程a)の後で、前記循環配管内に前記処理液を循環させて、前記フィルタに前記処理液を供給する工程と、
を有し、
前記工程b)において、前記循環配管の流路途中に前記フィルタとは別個の異物除去フィルタが介挿される、処理方法。 - 請求項6に記載の処理方法であって、
c)前記工程b)の後で、前記フィルタを前記装着機構から取り外す工程と、
d)前記工程c)の後で、前記フィルタを、基板の表面に前記処理液を塗布する塗布装置に取り付ける工程と、
を有する、処理方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018172544A JP6837037B2 (ja) | 2018-09-14 | 2018-09-14 | 処理装置、処理システム、および処理方法 |
CN201910504522.8A CN110911307B (zh) | 2018-09-14 | 2019-06-12 | 处理装置、处理系统以及处理方法 |
TW108120552A TWI768214B (zh) | 2018-09-14 | 2019-06-13 | 處理裝置、處理系統以及處理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018172544A JP6837037B2 (ja) | 2018-09-14 | 2018-09-14 | 処理装置、処理システム、および処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020044464A true JP2020044464A (ja) | 2020-03-26 |
JP6837037B2 JP6837037B2 (ja) | 2021-03-03 |
Family
ID=69814423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018172544A Active JP6837037B2 (ja) | 2018-09-14 | 2018-09-14 | 処理装置、処理システム、および処理方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6837037B2 (ja) |
CN (1) | CN110911307B (ja) |
TW (1) | TWI768214B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115025945A (zh) * | 2021-03-03 | 2022-09-09 | 株式会社斯库林集团 | 供液装置、涂布装置、老化装置及供液方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04257239A (ja) * | 1991-02-12 | 1992-09-11 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH07289857A (ja) * | 1994-04-25 | 1995-11-07 | Nitto Denko Corp | 液体濾過用フィルタ− |
JPH117138A (ja) * | 1997-06-16 | 1999-01-12 | Toray Ind Inc | 半導体素子の製造方法 |
JPH1190119A (ja) * | 1997-09-25 | 1999-04-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | ろ過容器 |
JP2015088719A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-05-07 | 東京エレクトロン株式会社 | フィルタユニットの前処理方法、処理液供給装置、フィルタユニットの加熱装置及び処理液供給路の前処理方法 |
JP2017191821A (ja) * | 2016-04-12 | 2017-10-19 | 東京エレクトロン株式会社 | フィルタ立ち上げ装置、処理液供給装置、治具ユニット、フィルタの立ち上げ方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002062667A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-28 | Sumitomo Chem Co Ltd | 微粒子量の低減されたフォトレジスト組成物の製造方法 |
JP4637476B2 (ja) * | 2002-12-19 | 2011-02-23 | 東京応化工業株式会社 | ホトレジスト組成物の製造方法 |
JP5439579B2 (ja) * | 2012-02-27 | 2014-03-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置及び液処理方法 |
JP5741549B2 (ja) * | 2012-10-09 | 2015-07-01 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理液供給方法、処理液供給装置及び記憶媒体 |
JP6721956B2 (ja) * | 2015-07-28 | 2020-07-15 | 株式会社Screenホールディングス | 塗布装置および塗布方法 |
TWM562160U (zh) * | 2018-03-09 | 2018-06-21 | 馗鼎奈米科技股份有限公司 | 過濾器之純化系統 |
-
2018
- 2018-09-14 JP JP2018172544A patent/JP6837037B2/ja active Active
-
2019
- 2019-06-12 CN CN201910504522.8A patent/CN110911307B/zh active Active
- 2019-06-13 TW TW108120552A patent/TWI768214B/zh active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04257239A (ja) * | 1991-02-12 | 1992-09-11 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH07289857A (ja) * | 1994-04-25 | 1995-11-07 | Nitto Denko Corp | 液体濾過用フィルタ− |
JPH117138A (ja) * | 1997-06-16 | 1999-01-12 | Toray Ind Inc | 半導体素子の製造方法 |
JPH1190119A (ja) * | 1997-09-25 | 1999-04-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | ろ過容器 |
JP2015088719A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-05-07 | 東京エレクトロン株式会社 | フィルタユニットの前処理方法、処理液供給装置、フィルタユニットの加熱装置及び処理液供給路の前処理方法 |
JP2017191821A (ja) * | 2016-04-12 | 2017-10-19 | 東京エレクトロン株式会社 | フィルタ立ち上げ装置、処理液供給装置、治具ユニット、フィルタの立ち上げ方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115025945A (zh) * | 2021-03-03 | 2022-09-09 | 株式会社斯库林集团 | 供液装置、涂布装置、老化装置及供液方法 |
KR20220124620A (ko) * | 2021-03-03 | 2022-09-14 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 급액 장치, 도포 장치, 에이징 장치, 및 급액 방법 |
JP7309297B2 (ja) | 2021-03-03 | 2023-07-18 | 株式会社Screenホールディングス | 給液装置、塗布装置、エージング装置、給液方法、およびエージング方法 |
KR102649969B1 (ko) | 2021-03-03 | 2024-03-22 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 급액 장치, 도포 장치, 에이징 장치, 및 급액 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI768214B (zh) | 2022-06-21 |
TW202010559A (zh) | 2020-03-16 |
CN110911307A (zh) | 2020-03-24 |
JP6837037B2 (ja) | 2021-03-03 |
CN110911307B (zh) | 2022-03-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102065192B1 (ko) | 처리액 공급 방법, 처리액 공급 장치 및 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체 | |
JP5645796B2 (ja) | 液処理装置及び液処理方法 | |
US20080041465A1 (en) | Buffer tank, intermediate accumulation apparatus, liquid treatment apparatus, and supplying method of treating liquid | |
TWI592201B (zh) | Degassing device, coating device and degassing method | |
JP6347708B2 (ja) | 塗布装置および洗浄方法 | |
TWI605876B (zh) | Coating device and coating method | |
TW202141615A (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
JP3686822B2 (ja) | 現像処理装置および現像処理方法 | |
JP6837037B2 (ja) | 処理装置、処理システム、および処理方法 | |
JP4173349B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP5681029B2 (ja) | 加工廃液処理装置 | |
KR20150007945A (ko) | 에어 벤트 시스템 | |
JP2016189493A (ja) | 液処理方法、液処理装置及び記憶媒体 | |
JP5770004B2 (ja) | 加工廃液処理装置 | |
TWI741316B (zh) | 供給裝置、塗覆裝置以及供給方法 | |
JP7245795B2 (ja) | エージング装置、処理システム、およびエージング方法 | |
JP2019009215A (ja) | 処理液供給装置および処理液供給方法 | |
JP7309297B2 (ja) | 給液装置、塗布装置、エージング装置、給液方法、およびエージング方法 | |
JP2000033347A (ja) | 洗浄装置 | |
JP5991403B2 (ja) | フィルタウエッティング方法、フィルタウエッティング装置及び記憶媒体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200826 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210126 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210208 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6837037 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |