JP2020027272A - 液晶パネルの表示品位低下の評価方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
Description
[装置構成]
[液晶パネルの測定]
[電流波形の分析]
Claims (13)
- 液晶パネルの表示品位低下の評価方法であって、
液晶パネルに電圧を印加し、
前記電圧により前記液晶パネルに流れる電流波形を測定し、
前記電流波形から、前記液晶パネルの液晶内のイオンに起因する複数のピークカーブを抽出し、
前記複数のピークカーブにおいて最も速い第1移動度よりも遅い第2移動度に対応する第2ピークカーブの分析結果に基づき、表示品位低下を評価する、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記第2ピークカーブの分析結果に基づき、前記第2移動度の評価値を決定し、
前記第2移動度の評価値に基づき、表示品位低下を評価する、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記第1移動度に対応する第1ピークカーブの分析結果に基づき、前記第1移動度の評価値を決定し、
前記第1移動度の評価値と前記第2移動度の評価値と、の間の相違量に基づき、表示品位低下を評価する、
評価方法。 - 請求項3に記載の評価方法であって、
前記相違量は、前記第1移動度の評価値と前記第2移動度の評価値との比である、
評価方法。 - 請求項3に記載の評価方法であって、
前記複数のピークカーブに対応する移動度において、前記第1移動度は最大であり、前記第2移動度は最小である、
評価方法。 - 請求項3に記載の評価方法であって、
前記第1移動度の評価値を前記第1ピークカーブの第1ピーク時刻に基づき決定し、前記第2移動度の評価値を前記第2ピークカーブの第2ピーク時刻に基づき決定する、
評価方法。 - 請求項6に記載の評価方法であって、
前記第1移動度の評価値は、前記第1ピーク時刻の二乗に反比例し、
前記第2移動度の評価値は、前記第2ピーク時刻の二乗に反比例する、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記電流波形に対して複数の同種のフィッティング関数をフィッティングすることによって、前記複数のピークカーブを特定する、
評価方法。 - 請求項8に記載の評価方法であって、
前記フィッティング関数はガウス関数である、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記電圧は三角波である、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記第2ピークカーブを分析して、イオン密度の評価値を決定し、
前記イオン密度の評価値に基づき、表示品位低下を評価する、
評価方法。 - 請求項1に記載の評価方法であって、
前記電流波形において、第1ピークカーブと第2ピークカーブと、を特定し、
前記第2ピークカーブの半値幅に基づき、前記第2移動度の評価値を決定し、
前記第2移動度の評価値に基づき、表示品位低下を評価する、
評価方法。 - 液晶パネルの表示品位低下の評価装置であって、
液晶パネル内の液晶に電圧を与え、前記電圧により前記液晶パネルに流れる電流の電流波形を測定する、第1装置と、
前記電流波形から、前記液晶パネルの液晶内のイオンに起因する複数のピークカーブを抽出し、
前記複数のピークカーブにおいて最も速い第1移動度よりも遅い第2移動度に対応する第2ピークカーブの分析結果に基づき、表示品位低下を評価する、第2装置と、
を含む評価装置。
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