JP2019184638A - 液晶表示装置および電子機器 - Google Patents

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慶 品田
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Abstract

【課題】フリッカおよび最適Vcomのシフトが抑制されたFFSモードの液晶表示装置を提供する。【解決手段】液晶表示装置(100)は、アクティブマトリクス基板(10)、対向基板(20)および液晶層(30)を備える。アクティブマトリクス基板は、初期配向方位を規定する配向膜(13)と、フリンジ電界を生成する第1電極(11)および第2電極(12)とを有する。対向基板は、透明基板(20a)と、透明基板の液晶層側に設けられた第3電極(21)とを有する。第1電極は画素電極であり、第2電極は共通電極である。第3電極には、共通電極に印加される共通電圧Vcomとは異なる直流電圧Vdが印加される。【選択図】図1

Description

本発明は、液晶表示装置に関し、特に、FFSモードで表示を行う液晶表示装置に関する。また、本発明は、そのような液晶表示装置を備えた電子機器にも関する。
近年、スマートフォン用やタブレット用の液晶表示装置の表示モードとして、Fringe Field Switching(FFS)モードが多く採用されている。FFSモードの液晶表示装置は、例えば特許文献1に開示されている。
FFSモードの液晶表示装置では、水平配向型の液晶層を挟持する一対の基板の一方に、フリンジ電界を生成するための一対の電極が設けられる。この一対の電極は、典型的には、複数のスリットが形成された画素電極と、絶縁層を介して画素電極の下に配置された共通電極である。画素電極と共通電極との間に電圧を印加すると、フリンジ電界が生成され、このフリンジ電界の配向規制力により、液晶分子の配向方向が変化する。
このように、FFSモードの液晶表示装置では、フリンジ電界を用いて液晶分子の配向状態が制御される。FFSモードでは、液晶分子が表示面に平行な面内で回転するので、高い視野角特性が得られる。
これまで、FFSモードの液晶表示装置の配向膜には、ラビング処理が行われることが多かったが、最近では、配向ムラの低減等のために光配向処理を行う(つまり配向膜として光配向膜を用いる)ことが提案されている。
また、液晶表示装置のアクティブマトリクス基板は、画素ごとにスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;以下、「TFT」)を備えている。このようなTFTとして、酸化物半導体層を活性層として用いるTFT(以下、「酸化物半導体TFT」と称する)が知られている。特許文献2には、InGaZnO(インジウム、ガリウム、亜鉛から構成される酸化物)をTFTの活性層に用いた液晶表示装置が開示されている。
酸化物半導体TFTは、アモルファスシリコンTFTよりも高速で動作させることが可能である。また、酸化物半導体膜は、多結晶シリコン膜よりも簡便なプロセスで形成されるので、大面積が必要とされる装置にも適用できる。このため、酸化物半導体TFTは、製造工程数や製造コストを抑えつつ作製できる高性能なアクティブ素子として期待されている。
さらに、酸化物半導体TFTはオフリーク特性に優れているので、画像の書き換え頻度を低下させて表示を行う駆動方式を利用することもできる。例えば、静止画表示時などには、1秒に1回の頻度で画像データを書き換えるように動作させることができる。このような駆動方式は、休止駆動または低周波駆動などと呼ばれ、液晶表示装置の消費電力を大幅に削減することが可能である。
特開2002−182230号公報 特開2012−134475号公報
FFSモードの液晶表示装置において、駆動周波数が低くなるほど(つまり1フレーム期間が長くなるほど)、フリッカが視認されやすくなるという問題がある。
また、本願発明者は、FFSモードの液晶表示装置用の光配向膜材料として、従来よりも比抵抗の高い材料の採用を検討した。検討した光配向膜材料は、コントラスト比や耐焼付き性、長期信頼性の向上の点で優れている。本願発明者の検討によれば、上述した光配向膜材料を用いると、液晶表示装置の使用中に最適な共通電圧Vcom(以下では「最適Vcom」とも呼ぶ)が大きくシフトするという新たな問題が発生することがわかった。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、フリッカおよび最適Vcomのシフトが抑制されたFFSモードの液晶表示装置を提供することにある。
本発明の実施形態による液晶表示装置は、アクティブマトリクス基板と、前記アクティブマトリクス基板に対向する対向基板と、前記アクティブマトリクス基板および前記対向基板の間に設けられた液晶層と、を備え、マトリクス状に配列された複数の画素を有する液晶表示装置であって、前記アクティブマトリクス基板は、前記液晶層に接するように設けられた配向膜であって、前記液晶層に電界が印加されていないときの液晶分子の配向方位である初期配向方位を規定する配向膜と、前記液晶分子を前記初期配向方位とは異なる方位に配向させるフリンジ電界を生成する第1電極および第2電極と、を有し、前記対向基板は、透明基板と、前記透明基板の前記液晶層側に設けられ、前記第1電極および前記第2電極に対向する第3電極と、を有し、前記第1電極は、前記複数の画素のそれぞれに設けられた画素電極であり、前記第2電極は、前記複数の画素に共通に設けられた共通電極であり、前記第3電極には、前記共通電極に印加される共通電圧Vcomとは異なる直流電圧Vdが印加される。
ある実施形態において、前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧±0.5Vの範囲内に設定されている。
ある実施形態において、前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧と0Vとの間に設定されている。
ある実施形態において、前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧+0.15V以上で、且つ、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧+0.3V以下の範囲内に設定されている。
ある実施形態において、前記直流電圧Vdは、255階調の点灯画面で24時間点灯後の最適共通電圧の変化量が50mV以内となるように設定されている。
ある実施形態において、前記直流電圧Vdは、駆動周波数が24Hzのときの128階調の点灯画面におけるフリッカレベルが−60dB以下となるように設定されている。
ある実施形態において、前記液晶分子は、負の誘電異方性を有する。
ある実施形態において、前記配向膜は、光配向膜である。
ある実施形態において、前記光配向膜は、光異性化型、光分解型または光二量化型の光配向膜である。
ある実施形態において、前記液晶表示装置は、バックライトをさらに備え、前記バックライトが点灯しているときの前記光配向膜の比抵抗は、1×1013Ω・cm以上である。
ある実施形態において、40Hz以下の駆動周波数で駆動され得る。
ある実施形態において、前記画素電極は、絶縁層を介して前記共通電極上に設けられている。
ある実施形態において、前記絶縁層は、窒化シリコン層、酸化シリコン層または酸化窒化シリコン層を含む。
ある実施形態において、前記絶縁層は、前記窒化シリコン層、前記酸化シリコン層および前記酸化窒化シリコン層のうちの2層を含む積層構造を有する。
ある実施形態において、前記対向基板は、前記透明基板の前記液晶層側に設けられたカラーフィルタ層と、前記カラーフィルタ層を覆うオーバーコート層と、をさらに有し、前記第3電極は、前記オーバーコート層上に設けられており、前記透明基板側から前記カラーフィルタ層、前記オーバーコート層および前記第3電極がこの順に配置されている。
ある実施形態において、前記第1電極、前記第2電極および前記第3電極のそれぞれは、ITOまたはIZOから形成されている。
ある実施形態において、前記アクティブマトリクス基板は、前記画素電極に電気的に接続されたTFTをさらに有し、前記TFTは、酸化物半導体層を含む。
ある実施形態において、前記酸化物半導体層は、In−Ga−Zn−O系の半導体を含む。
ある実施形態において、前記In−Ga−Zn−O系の半導体は、結晶質部分を含む。
本発明の実施形態による電子機器は、上述したいずれかの構成を有する液晶表示装置を備える。
本発明の実施形態によると、フリッカおよび最適Vcomのシフトが抑制されたFFSモードの液晶表示装置が提供される。
本発明の実施形態による液晶表示装置100を模式的に示す断面図である。 試作例1の液晶表示装置800を模式的に示す断面図である。 試作例2の液晶表示装置900を模式的に示す断面図である。 (a)および(b)は、それぞれ試作例1および2について、駆動周波数24Hz、128階調の点灯画面における共通電圧Vcomとフリッカレベルとの関係を示すグラフ(最適Vcomを基準としている)である。 (a)および(b)は、それぞれ試作例1および2について、駆動周波数24Hzの場合の最適Vcomにおける128階調の点灯画面でのフリッカ波形を示すグラフである。 (a)および(b)は、それぞれ試作例1および2について、駆動周波数2Hzの場合の最適Vcomにおける128階調の点灯画面でのフリッカ波形を示すグラフである。 (a)は、試作例3について、直流電圧Vdの値を−1V、−0.5V、−0.3V、0V、+0.5Vとした場合の駆動周波数24Hz、128階調の点灯画面における共通電圧Vcomとフリッカレベルとの関係を示すグラフ(Vd=0Vのときの最適Vcomを基準としている)であり、(b)は、試作例3について、(各Vdに対する)最適VcomにおけるフリッカレベルのVd依存性を示すグラフである。 (a)〜(e)は、試作例3について、駆動周波数24Hzの場合の各Vdに対する最適Vcomにおける128階調の点灯画面でのフリッカ波形を示すグラフである。 (a)〜(e)は、試作例3について、駆動周波数2Hzの場合の各Vdに対する最適Vcomにおける128階調の点灯画面でのフリッカ波形を示すグラフである。 Vcomシフト評価時に用いる2つの表示画面(128階調フレーム反転画面および255階調点灯画面)を示す図である。 試作例1、2、3Aおよび3Bについて、Vcomシフトの評価結果を示すグラフである。 横軸を第3電極21への印加電圧、縦軸をVcomシフト量としたグラフである。 酸化物半導体TFT50を模式的に示す断面図である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
図1を参照しながら、本実施形態における液晶表示装置100を説明する。図1は、液晶表示装置100を模式的に示す断面図である。液晶表示装置100は、FFSモードで表示を行う。
液晶表示装置100は、図1に示すように、アクティブマトリクス基板10と、アクティブマトリクス基板10に対向する対向基板20と、アクティブマトリクス基板10および対向基板20の間に設けられた液晶層30と、アクティブマトリクス基板10の背面側(観察者側とは反対側)に配置されたバックライト40とを備える。また、液晶表示装置100は、マトリクス状に配列された複数の画素を有する。図1には、1つの画素に対応する断面構造が示されている。
アクティブマトリクス基板(「TFT基板」と呼ばれることもある)10は、透明基板10a、第1電極11、第2電極12および配向膜13を有する。
透明基板10aは、例えばガラス基板やプラスチック基板である。第1電極11、第2電極12および配向膜13は、透明基板10aの液晶層30側に設けられており、透明基板10aによって支持されている。
配向膜13は、液晶層30に接するように設けられている(つまりアクティブマトリクス基板10の液晶層30側の最表面に位置している)。配向膜13は、液晶分子の初期配向方位を規定する。初期配向方位は、液晶層30に電界が印加されていないときの液晶分子の配向方位である。
第1電極11および第2電極12は、液晶分子を初期配向方位とは異なる方位に配向させるフリンジ電界を生成する。第1電極11および第2電極12は、それぞれ透明導電材料(例えばITOまたはIZO)から形成されている。
第1電極11は、複数の画素のそれぞれに設けられた画素電極である。これに対し、第2電極12は、複数の画素に共通に設けられた共通電極である。画素電極11は、絶縁層14を介して共通電極12上に設けられている。絶縁層14は、例えば窒化シリコン(SiNx)層、酸化シリコン(SiO)層または酸化窒化シリコン(SiNxOy)層である。あるいは、絶縁層14は、これらのうちの2層を含む積層構造を有してもよい。画素電極11は、少なくとも1つ(ここでは2つ)のスリット11aを有する。画素電極11および共通電極12によって生成されるフリンジ電界の方向は、スリット11aが延びる方向に直交する方向である。
ここでは図示していないが、アクティブマトリクス基板10は、さらに、画素ごとに設けられた薄膜トランジスタ(TFT)、TFTに走査信号(ゲート信号)を供給する走査配線(ゲート配線)およびTFTに表示信号(ソース信号)を供給する信号配線(ソース配線)を有している。TFTのゲート電極、ソース電極およびドレイン電極に、走査配線、信号配線および画素電極11がそれぞれ電気的に接続されている。TFTとして、酸化物半導体TFTを好適に用いることができる。酸化物半導体TFT以外のTFTを用いてもよい。
画素電極11には、表示信号に対応した電圧(表示電圧)がTFTを介して印加される。共通電極12には、すべての画素に共通の電圧(共通電圧)Vcomが印加される。共通電圧Vcomは、フリッカの低減の観点から最適な値(最適Vcom)に設定される。
対向基板(「カラーフィルタ基板」と呼ばれることもある)20は、透明基板20a、第3電極21および配向膜23を有する。
透明基板20aは、例えばガラス基板やプラスチック基板である。第3電極21および配向膜23は、透明基板20aの液晶層30側に設けられており、透明基板20aによって支持されている。
配向膜23は、液晶層30に接するように設けられている(つまり対向基板20の液晶層30側の最表面に位置している)。配向膜23は、アクティブマトリクス基板10の配向膜13と同様、液晶分子の初期配向方位を規定する。配向膜23によって規定される液晶分子の配向方位は、配向膜13によって規定される液晶分子の配向方位と平行または反平行である。
第3電極21は、第1電極11および第2電極12に対向する。第3電極21は、透明導電材料(例えばITOまたはIZO)から形成されている。第3電極21は、表示領域全体にわたって形成された単一の(連続した)導電膜であってよい。
図示している例では、対向基板20は、遮光層(ブラックマトリクス)24、カラーフィルタ層25、オーバーコート層26および透明導電層27をさらに有する。
遮光層24およびカラーフィルタ層25は、透明基板20aの液晶層30側に設けられている。カラーフィルタ層25は、例えば赤カラーフィルタ、緑カラーフィルタおよび青カラーフィルタを含む。
オーバーコート層26は、遮光層24およびカラーフィルタ層25を覆っている。オーバーコート層26は、例えば透明な樹脂材料から形成されている。オーバーコート層26上に、第3電極21が設けられている。
透明導電層27は、透明基板20aの液晶層30とは反対側に(観察者側に)設けられている。透明導電層27は、透明導電材料(例えばITOまたはIZO)から形成されている。透明導電層27により、静電気による帯電を防止することができる。透明導電層27は、省略されてもよい。
液晶層30は、本実施形態では、負の誘電異方性を有する液晶分子を含む。つまり、液晶層30は、ネガ型の液晶材料から形成されている。液晶分子が負の誘電異方性を有する場合、フリンジ電界による配向規制力は、液晶分子の配向方向を、フリンジ電界の方向に直交する方位に近付くように変化させる。
液晶層30の両側に配置された配向膜13および23は、それぞれ水平配向膜である。従って、液晶分子は、アクティブマトリクス基板10および対向基板20の表面に略平行に配向する。本実施形態では、配向膜13および23には、光配向処理が施されている。つまり、配向膜13および23は、光配向膜である。光配向膜は、異性化型、分解型、二量化型のいずれであってもよい。異性化型、分解型および二量化型の光配向膜は、それぞれ光照射により異性化反応、分解反応および二量化反応を生じる材料(そのような官能基を含む高分子)から形成されている。
バックライト40は、表示に用いられる光を出射する。バックライト40としては、公知の種々の照明装置を用いることができる。
なお、ここでは図示していないが、液晶表示装置100は、少なくとも液晶層30を介して互いに対向する一対の偏光板をさらに備える。一対の偏光板は、クロスニコルに配置されている。一対の偏光板の一方の透過軸は、液晶分子の初期配向方位に略平行であり、他方の透過軸は、初期配向方位に略直交する。
本実施形態の液晶表示装置100では、第3電極21には、共通電極12に印加される共通電圧Vcomとは異なる直流電圧Vdが印加される。図示している例では、第3電極21および透明導電層27に直流電源40が接続されており、第3電極21および透明導電層27は直流電源40から直流電圧を印加される。なお、本願明細書において「直流電圧を印加される」は、接地電位(0V)を与えられることを含意しない。
上述したように、液晶表示装置100では、第3電極21に共通電圧Vcomとは異なる直流電圧Vdが印加される。これにより、フリッカや最適Vcomのシフト(以下では単に「Vcomシフト」と呼ぶこともある)を抑制することができる。以下、この理由を説明する。
FFSモードの一般的な液晶表示装置においては、アクティブマトリクス基板側のみに電極が設けられ、対向基板側には電極が存在しない。そのため、アクティブマトリクス基板と、対向基板とは、電気的に非対称であるといえる。また、画素電極と共通電極とは、その配置・形状が異なっており、電極間(画素電極と共通電極との間)でも電気的な非対称性が大きい。そのため、駆動に伴って極性が偏りやすく、そのことがVcomシフトの要因となっている。さらに、FFSモードの電極構造の上述したような複雑性により、構造や材料のわずかな変更によっても電気的なバランスが崩れ、フリッカレベルが変わってしまう。
また、フリッカが視認されやすくなる要因として、電気的なバランスの崩れや信頼性の悪化(電圧保持率の低下)、フレクソエレクトリック効果等、いくつかの要因があるが、液晶層における縦電界の存在も1つの要因であると考えられる。FFSモードの一般的な液晶表示装置においては、対向基板側には電極が存在しないので、縦電界の大きさを制御することができず、対向基板の帯電等に対して不安定である。
本実施形態の液晶表示装置100では、対向基板20が透明基板20aの液晶層30側に設けられた第3電極21を有している。そのため、第3電極21に直流電圧Vdを印加することによって液晶層30における縦電界の大きさを制御することができ、それによってフリッカを抑制することができる。また、後に詳述するように、第3電極21に直流電圧Vdを印加して縦電界の大きさを制御することにより、Vcomシフトも抑制することができる。
ここで、縦電界の制御によりフリッカおよびVcomシフトが抑制されることを検証した結果を説明する。
まず、図2および図3に示す試作例1および2の液晶表示装置800および900を作製し、フリッカの評価を行った。
試作例1の液晶表示装置800は、対向基板20が第3電極21を有していない点において、本実施形態の液晶表示装置100と異なっている。また、試作例2の液晶表示装置900は、直流電源40を備えておらず、第3電極21が接地電位を与えられる(GND接続されている)点において、液晶表示装置100と異なっている。
試作例1および2の液晶表示装置800および900について、共通電圧Vcomを変化させながらフリッカレベル(JEITA値)を測定した。測定に際しては、全画素を128階調で点灯させ、駆動周波数を24Hzとした。なお、本願明細書における「N階調」は、0階調〜255階調で表示を行う場合(つまり256階調表示の場合)のN階調を指す。従って、「128階調」は、256階調表示における128階調を指し、「255階調」は、256階調表示における255階調(最高階調)を指す。フリッカレベルの測定は、コニカミノルタ株式会社製の光学特性評価装置CA−310を用いて行った。測定の際、試作例1および2の液晶表示装置800および900の対向基板20の透明導電層27には、図2および図3に示すように、接地電位を与えた。なお、試作例1および2の最適Vcomは、約−0.34Vである。また、試作例1および2では、液晶層30は、誘電率異方性Δεが−3.4のネガ型液晶材料から形成されており、配向膜13および23は、バックライト40を点灯させたときの比抵抗が1×1015Ω・cm以上の光配向膜である(後述する試作例3も同様)。
図4(a)および(b)は、それぞれ試作例1および2について、横軸を共通電圧Vcomとし、縦軸をフリッカレベルの24Hz成分としたグラフである。共通電圧Vcomとフリッカレベルの24Hz成分との関係を示す曲線は、図4(a)に示すようなW字状(極小値をとる箇所が2箇所)か、または、図4(b)に示すようなV字状(極小値をとる箇所が1箇所)である。V字状の場合、極小値をとる箇所の共通電圧Vcomが最適Vcomであり、W字状の場合、極小値をとる2箇所の間に存在する極大値をとる箇所の共通電圧Vcomが最適Vcomである。なお、図4(a)および(b)では、最適Vcomを横軸の0としている(つまり最適Vcomを基準としたグラフである)。本願明細書では、最適Vcomにおけるフリッカレベルの24Hz成分を、その液晶表示装置のフリッカレベルとみなす。
試作例1では、最適Vcomでのフリッカレベルが−61.79dBであった。これに対し、試作例2では、最適Vcomでのフリッカレベルは−71.64dBであった。つまり、試作例2では試作例1よりもフリッカレベルが10dB程度改善している。このように、対向基板20が第3電極21を有することにより、フリッカレベルが改善され得ることが確認された。
次に、試作例1および2の液晶表示装置800および900について、全画素を128階調で点灯させ、フォトダイオードおよびオシロスコープを用いて、最適Vcomにおけるフリッカ波形を測定した。フリッカ波形の測定は、駆動周波数24Hzおよび2Hzにおいて行った。
図5(a)および(b)は、試作例1および2について、駆動周波数24Hzの場合の最適Vcomにおけるフリッカ波形を示すグラフである。また、図6(a)および(b)は、試作例1および2について、駆動周波数2Hzの場合の最適Vcomにおけるフリッカ波形を示すグラフである。
図5(a)と図5(b)との比較、および、図6(a)と図6(b)との比較から、試作例2では、試作例1よりもフリッカが改善していることがわかる。特に、試作例1の2Hz駆動時に見られる、極性反転直後の角状の輝度変化(図6(a)参照)が、比較例2では大幅に小さくなっていることがわかる(図6(b)参照)。
次に、本実施形態の液晶表示装置100を実際に作製し(試作例3)、フリッカの評価を行った。具体的には、第3電極21に印加される直流電圧Vdの値を−1V〜+0.5Vの間で変化させ、各電圧値において、試作例1および2と同様にしてフリッカレベルおよびフリッカ波形を測定した。なお、第3電極21に電圧を印加していないときの最適Vcomは、約−0.34Vである。
図7(a)は、試作例3について、横軸を共通電圧Vcomとし、縦軸をフリッカレベル(24Hz成分)としたグラフ(Vd=0Vの場合の最適Vcomを基準としている)であり、直流電圧Vdの値が−1V、−0.5V、−0.3V、+0.5Vの場合を示している。なお、参考のために、第3電極21が接地電位にある(つまりVd=0Vの)場合も併せて示している(図7(b)についても同様である)。
図7(a)から、第3電極21に印加される直流電圧Vdを変化させることにより、フリッカレベルが系統的に変化することがわかる。
図7(b)は、試作例3について、横軸を直流電圧Vdとし、縦軸をフリッカレベル(24Hz成分)としたグラフであり、各Vdに対する最適VcomにおけるフリッカレベルのVd依存性を示している。
図7(b)からわかるように、フリッカレベルのVd依存性を示す曲線は、Vdが、第3電極21に直流電圧Vdを印加せずに接地電位としたときの最適Vcom(約−0.34V)である箇所を中心とした、W字状である。また、図7(b)からわかるように、第3電極21に印加される直流電圧Vdを、第3電極21に直流電圧Vdを印加せずに接地電位としたときの最適Vcom±0.5Vの範囲内に設定することにより、フリッカレベル(24Hz駆動時の128階調の点灯画面におけるフリッカレベル)を−60dB以下の良好なレベルにすることができる。
図8(a)〜(e)は、試作例3について、駆動周波数24Hzの場合の各Vdに対する最適Vcomにおけるフリッカ波形を示すグラフである。図9(a)〜(e)は、試作例3について、駆動周波数2Hzの場合の各Vdに対する最適Vcomにおけるフリッカ波形を示すグラフである。図8(d)および図9(d)は、第3電極21が接地電位にある(つまりVd=0Vの)場合であるが参考のために示している。
図8(a)〜(e)および図9(a)〜(e)から、第3電極21に印加される直流電圧Vdを変化させることにより、極性反転直後の角状の輝度変化の大きさが変わることがわかる。これは、縦電界の大きさに応じて生じている現象であると考えられる。そのため、第3電極21への直流電圧Vdの印加によって角状の輝度変化の大きさを制御することにより、フリッカレベルを小さく(好ましくは最小化)することが可能であると考えられる。
続いて、試作例1、2および3について、Vcomシフトの評価を行った。試作例3については、第3電極21に印加される直流電圧Vdを−0.34V、−0.13Vの2つの値に設定して評価を行った(以下ではそれぞれ試作例3A、3Bと呼ぶ)。
Vcomシフトの評価は、以下の手順により行う。
(1)モジュール(液晶表示装置)を点灯させ、試作例3A、3Bについては、直流電源40の電圧設定値を所望の値に設定し、第3電極21への直流電圧Vdの印加を行う。
(2)モジュールの表示画面を、図10の左側に示すような、駆動周波数60Hz、128階調のフレーム反転画面に切り替える。
(3)光学特性評価装置CA−310を用いて、モジュールの表示画面中央のフリッカレベルを、共通電圧Vcomの設定値(Vcom設定値)を変化させながら測定する。フリッカレベルが最小となったときのVcom設定値を、最適Vcomとみなす。
(4)モジュールの表示画面を、駆動周波数60Hz、255階調の点灯画面に切り替え、一定時間放置(エージング)する。このとき、Vcom設定値は、エージング開始直前の最適Vcomに合わせておく。
(5)点灯画面で一定時間経過後、(2)および(3)を行い、その時間における最適Vcomを決定する。
(6)以降、(4)および(5)を繰り返す。
図11に、Vcomシフト量(エージング開始直前の最適Vcomを基準としたときの、最適Vcomの変化量)の評価結果を示す。図11からわかるように、試作例1では、24時間点灯後に80mV程度、96時間点灯後に90mV程度のVcomシフトが生じている。これに対し、第3電極21を有する試作例2、3Aおよび3BのVcomシフトの挙動は、試作例1とは異なっており、第3電極21に印加されている電圧に応じてVcomシフトの挙動が変化している。特に、第3電極21に印加される直流電圧Vdが−0.13Vの場合(試作例3B)、168時間までのVcomシフト量は20mV程度に抑えられており、第3電極21への直流電圧Vdの印加によってVcomシフトの挙動を制御し得ることがわかる。また、試作例2、3Aおよび3Bの比較から、Vcomシフトの抑制の観点からは、第3電極21に印加される直流電圧Vdは、0Vと第3電極21に直流電圧Vdを印加せずに接地電位としたときの最適Vcom(ここでは約−0.34V)との間に設定されていることが好ましいことがわかる。
図12は、横軸を第3電極21への印加電圧、縦軸をVcomシフト量としたグラフである。図12には、第3電極21への印加電圧が−0.34V、−0.13V、0Vの場合のVcomシフト量のうち、24時間後および96時間後の値がプロットされている。また、Vcomシフト量は、第3電極21への印加電圧に対して概ね線形性を有しており、図12には、24時間後および96時間後のそれぞれのデータを線形近似したものも点線で示されている。
Vcomシフトは、フリッカの悪化や焼付きの悪化等の原因となるが、Vcomシフト量が±50mV以内に収まっていれば(図12中の「Vcomシフト許容領域」内であれば)、その懸念は小さいと考えられる。図12では、24時間後および96時間後のVcomシフト量がともに±50mV以内に収まるような電圧範囲は、−0.19V以上−0.04V以下の範囲(図12中の「Vcomシフト抑制範囲」)である。ここで、評価に用いたモジュールでは、第3電極21に電圧が印加されていないときの最適Vcomが約−0.34Vであるので、Vcomシフト量が±50mV以内に収まる電圧範囲は、[最適Vcom+0.15V]以上[最適Vcom+0.3V]以下の範囲である。そのため、Vcomシフトの抑制の観点からは、第3電極21に印加される直流電圧Vdは、第3電極21に直流電圧Vdを印加せずに接地電位としたときの最適Vcom+0.15V以上で、且つ、第3電極21に直流電圧Vdを印加せずに接地電位としたときの最適Vcom+0.3V以下の範囲内に設定されていることが好ましいといえる。
上述したように、本発明の実施形態によれば、フリッカおよび最適Vcomのシフトが抑制されたFFSモードの液晶表示装置を提供することができる。
なお、ここでは、液晶層30の液晶分子が負の誘電異方性を有する(つまり液晶層30がネガ型の液晶材料から形成されている)場合を例示したが、液晶層30の液晶分子が正の誘電異方性を有していても(つまり液晶層30がポジ型の液晶材料から形成されていても)よい。
本発明の実施形態は、配向膜として光配向膜を備えた液晶表示装置に用いる意義が大きく、特に、比抵抗が大きい光配向膜を備えた液晶表示装置に用いる意義が大きい。比抵抗が大きい光配向膜を用いた場合に、Vcomシフトが顕著になりやすいからである。具体的には、バックライトが点灯しているときの光配向膜の比抵抗が1×1013Ω・cm以上である場合に、本発明の実施形態を用いる意義が大きい。
また、本発明の実施形態は、フリッカ悪化の抑制という観点から、比較的低い駆動周波数で駆動される場合に用いる意義が大きく、具体的には、駆動周波数40Hz以下で駆動される場合に用いる意義が大きい。
本発明の実施形態による液晶表示装置は、スマートフォンやタブレット等の種々の電子機器に好適に用いられる。
<酸化物半導体>
酸化物半導体TFTは、活性層として酸化物半導体層を含む。酸化物半導体層に含まれる酸化物半導体は、アモルファス酸化物半導体であってもよいし、結晶質部分を有する結晶質酸化物半導体であってもよい。結晶質酸化物半導体としては、多結晶酸化物半導体、微結晶酸化物半導体、c軸が層面に概ね垂直に配向した結晶質酸化物半導体などが挙げられる。
酸化物半導体層は、2層以上の積層構造を有していてもよい。酸化物半導体層が積層構造を有する場合には、酸化物半導体層は、非晶質酸化物半導体層と結晶質酸化物半導体層とを含んでいてもよい。あるいは、結晶構造の異なる複数の結晶質酸化物半導体層を含んでいてもよい。また、複数の非晶質酸化物半導体層を含んでいてもよい。酸化物半導体層が上層と下層とを含む2層構造を有する場合、上層に含まれる酸化物半導体のエネルギーギャップは、下層に含まれる酸化物半導体のエネルギーギャップよりも大きいことが好ましい。ただし、これらの層のエネルギーギャップの差が比較的小さい場合には、下層の酸化物半導体のエネルギーギャップが上層の酸化物半導体のエネルギーギャップよりも大きくてもよい。
非晶質酸化物半導体および上記の各結晶質酸化物半導体の材料、構造、成膜方法、積層構造を有する酸化物半導体層の構成などは、例えば特開2014−007399号公報に記載されている。参考のために、特開2014−007399号公報の開示内容の全てを本明細書に援用する。
酸化物半導体層は、例えば、In、GaおよびZnのうち少なくとも1種の金属元素を含んでもよい。本実施形態では、酸化物半導体層18は、例えば、In−Ga−Zn−O系の半導体(例えば酸化インジウムガリウム亜鉛)を含む。ここで、In−Ga−Zn−O系の半導体は、In(インジウム)、Ga(ガリウム)、Zn(亜鉛)の三元系酸化物であって、In、GaおよびZnの割合(組成比)は特に限定されず、例えばIn:Ga:Zn=2:2:1、In:Ga:Zn=1:1:1、In:Ga:Zn=1:1:2等を含む。このような酸化物半導体層は、In−Ga−Zn−O系の半導体を含む酸化物半導体膜から形成され得る。
In−Ga−Zn−O系の半導体は、アモルファスでもよいし、結晶質でもよい。結晶質In−Ga−Zn−O系の半導体としては、c軸が層面に概ね垂直に配向した結晶質In−Ga−Zn−O系の半導体が好ましい。
なお、結晶質In−Ga−Zn−O系の半導体の結晶構造は、例えば、上述した特開2014−007399号公報、特開2012−134475号公報、特開2014−209727号公報などに開示されている。参考のために、特開2012−134475号公報および特開2014−209727号公報の開示内容の全てを本明細書に援用する。In−Ga−Zn−O系半導体層を有するTFTは、高い移動度(a−SiTFTに比べ20倍超)および低いリーク電流(a−SiTFTに比べ100分の1未満)を有しているので、駆動TFT(例えば、複数の画素を含む表示領域の周辺に、表示領域と同じ基板上に設けられる駆動回路に含まれるTFT)および画素TFT(画素に設けられるTFT)として好適に用いられる。
酸化物半導体層は、In−Ga−Zn−O系半導体の代わりに、他の酸化物半導体を含んでいてもよい。例えばIn−Sn−Zn−O系半導体(例えばIn−SnO−ZnO;InSnZnO)を含んでもよい。In−Sn−Zn−O系半導体は、In(インジウム)、Sn(スズ)およびZn(亜鉛)の三元系酸化物である。あるいは、酸化物半導体層は、In−Al−Zn−O系半導体、In−Al−Sn−Zn−O系半導体、Zn−O系半導体、In−Zn−O系半導体、Zn−Ti−O系半導体、Cd−Ge−O系半導体、Cd−Pb−O系半導体、CdO(酸化カドミウム)、Mg−Zn−O系半導体、In−Ga−Sn−O系半導体、In−Ga−O系半導体、Zr−In−Zn−O系半導体、Hf−In−Zn−O系半導体、Al−Ga−Zn−O系半導体、Ga−Zn−O系半導体、In−Ga−Zn−Sn−O系半導体などを含んでいてもよい。
酸化物半導体TFTの構成の一例を図13に示す。図13に示す酸化物半導体TFT50は、ゲート電極51、ゲート絶縁層52、酸化物半導体層53、ソース電極54およびドレイン電極55を有する。なお、図13に示す酸化物半導体TFT50は、「チャネルエッチ型」であるが、酸化物半導体TFTは「エッチストップ型」であってもよい。
<チャネルエッチ>
「チャネルエッチ型のTFT」では、例えば図13に示されるように、チャネル領域上にエッチストップ層が形成されておらず、ソースおよびドレイン電極のチャネル側の端部下面は、酸化物半導体層の上面と接するように配置されている。チャネルエッチ型のTFTは、例えば酸化物半導体層上にソース・ドレイン電極用の導電膜を形成し、ソース・ドレイン分離を行うことによって形成される。ソース・ドレイン分離工程において、チャネル領域の表面部分がエッチングされる場合がある。
<エッチストップ>
一方、チャネル領域上にエッチストップ層が形成されたTFT(エッチストップ型TFT)では、ソースおよびドレイン電極のチャネル側の端部下面は、例えばエッチストップ層上に位置する。エッチストップ型のTFTは、例えば酸化物半導体層のうちチャネル領域となる部分を覆うエッチストップ層を形成した後、酸化物半導体層およびエッチストップ層上にソース・ドレイン電極用の導電膜を形成し、ソース・ドレイン分離を行うことによって形成される。
本発明の実施形態によると、フリッカおよび最適Vcomのシフトが抑制されたFFSモードの液晶表示装置が提供される。
10 アクティブマトリクス基板(TFT基板)
10a 透明基板
11 第1電極(画素電極)
12 第2電極(共通電極)
13 配向膜
14 絶縁層
20 対向基板(カラーフィルタ基板)
20a 透明基板
21 第3電極
23 配向膜
24 遮光層
25 カラーフィルタ層
26 オーバーコート層
27 透明導電層
30 液晶層
40 直流電源
50 酸化物半導体TFT
51 ゲート電極
52 ゲート絶縁層
53 酸化物半導体層
54 ソース電極
55 ドレイン電極
100 液晶表示装置

Claims (20)

  1. アクティブマトリクス基板と、
    前記アクティブマトリクス基板に対向する対向基板と、
    前記アクティブマトリクス基板および前記対向基板の間に設けられた液晶層と、
    を備え、
    マトリクス状に配列された複数の画素を有する液晶表示装置であって、
    前記アクティブマトリクス基板は、
    前記液晶層に接するように設けられた配向膜であって、前記液晶層に電界が印加されていないときの液晶分子の配向方位である初期配向方位を規定する配向膜と、
    前記液晶分子を前記初期配向方位とは異なる方位に配向させるフリンジ電界を生成する第1電極および第2電極と、
    を有し、
    前記対向基板は、
    透明基板と、
    前記透明基板の前記液晶層側に設けられ、前記第1電極および前記第2電極に対向する第3電極と、
    を有し、
    前記第1電極は、前記複数の画素のそれぞれに設けられた画素電極であり、
    前記第2電極は、前記複数の画素に共通に設けられた共通電極であり、
    前記第3電極には、前記共通電極に印加される共通電圧Vcomとは異なる直流電圧Vdが印加される液晶表示装置。
  2. 前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧±0.5Vの範囲内に設定されている請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧と0Vとの間に設定されている請求項1または2に記載の液晶表示装置。
  4. 前記直流電圧Vdは、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧+0.15V以上で、且つ、前記第3電極が前記直流電圧Vdを印加されずに接地電位とされたときの最適共通電圧+0.3V以下の範囲内に設定されている請求項1から3のいずれかに記載の液晶表示装置。
  5. 前記直流電圧Vdは、255階調の点灯画面で24時間点灯後の最適共通電圧の変化量が50mV以内となるように設定されている請求項1から4のいずれかに記載の液晶表示装置。
  6. 前記直流電圧Vdは、駆動周波数が24Hzのときの128階調の点灯画面におけるフリッカレベルが−60dB以下となるように設定されている請求項1から5のいずれかに記載の液晶表示装置。
  7. 前記液晶分子は、負の誘電異方性を有する請求項1から6のいずれかに記載の液晶表示装置。
  8. 前記配向膜は、光配向膜である請求項1から7のいずれかに記載の液晶表示装置。
  9. 前記光配向膜は、異性化型、分解型または二量化型の光配向膜である請求項8に記載の液晶表示装置。
  10. バックライトをさらに備え、
    前記バックライトが点灯しているときの前記光配向膜の比抵抗は、1×1013Ω・cm以上である請求項8または9に記載の液晶表示装置。
  11. 40Hz以下の駆動周波数で駆動され得る請求項1から10のいずれかに記載の液晶表示装置。
  12. 前記画素電極は、絶縁層を介して前記共通電極上に設けられている請求項1から11のいずれかに記載の液晶表示装置。
  13. 前記絶縁層は、窒化シリコン層、酸化シリコン層または酸化窒化シリコン層を含む請求項12に記載の液晶表示装置。
  14. 前記絶縁層は、前記窒化シリコン層、前記酸化シリコン層および前記酸化窒化シリコン層のうちの2層を含む積層構造を有する請求項13に記載の液晶表示装置。
  15. 前記対向基板は、
    前記透明基板の前記液晶層側に設けられたカラーフィルタ層と、
    前記カラーフィルタ層を覆うオーバーコート層と、
    をさらに有し、
    前記第3電極は、前記オーバーコート層上に設けられており、
    前記透明基板側から前記カラーフィルタ層、前記オーバーコート層および前記第3電極がこの順に配置されている請求項1から14のいずれかに記載の液晶表示装置。
  16. 前記第1電極、前記第2電極および前記第3電極のそれぞれは、ITOまたはIZOから形成されている請求項1から15のいずれかに記載の液晶表示装置。
  17. 前記アクティブマトリクス基板は、前記画素電極に電気的に接続されたTFTをさらに有し、
    前記TFTは、酸化物半導体層を含む請求項1から16のいずれかに記載の液晶表示装置。
  18. 前記酸化物半導体層は、In−Ga−Zn−O系の半導体を含む請求項17に記載の液晶表示装置。
  19. 前記In−Ga−Zn−O系の半導体は、結晶質部分を含む、請求項18に記載の液晶表示装置。
  20. 請求項1から19のいずれかに記載の液晶表示装置を備えた電子機器。
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