JP2020024226A - 発光装置の検査方法 - Google Patents
発光装置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020024226A JP2020024226A JP2019202019A JP2019202019A JP2020024226A JP 2020024226 A JP2020024226 A JP 2020024226A JP 2019202019 A JP2019202019 A JP 2019202019A JP 2019202019 A JP2019202019 A JP 2019202019A JP 2020024226 A JP2020024226 A JP 2020024226A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emitting device
- light emitting
- light
- contact
- conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
Description
下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、上面に備えられる発光装置載置部及び発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、導電部を支持する支持部と、発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、測定台の導電部と、発光装置の端子部とが接するように、発光装置を前記導電部上に載置し、発光装置の上面を治具で押さえずに、測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により発光装置を固定する工程と、当接部にプローブを当接して通電し、発光装置を発光させる工程と、を含む発光装置の検査方法。
実施形態1に係る発光装置の検査方法は、以下の工程を備える。
1)発光装置を準備する工程
2)測定台を準備する工程
3)発光装置を測定台に固定する工程
4)発光装置を発光させる工程
以下、各工程について詳説する。
図1(a)〜(c)に、発光装置の一例を示す。(a)は斜め上からみた斜視図、(b)斜め下から見た斜視図、(c)は(a)のA−A線における断面図である。は発光装置1は、下面1aに一対の端子部11を備える。端子部11は、発光装置1の一対の電極として機能する部材である。
測定台20は、発光装置に通電し、発光特性などを測定するための検査装置に備えられる。測定台20は、図2(a)に示すように、一対の導電部21と、導電部を支持する絶縁性の支持部22と、を備える。導電部21は、測定台20の上面20aに配置される発光装置載置部21aと、発光装置載置部21aとは異なる位置に備えらえる当接部21cと、を備える。当接部21cは、プローブが当接される部分である。当接部21cは、図2(a)では測定台20の下面に設けられている。ただし、この位置に限らず、プローブを当接しやすい場所であれば、測定台の上面又は側面などであってもよい。測定台20の上面20aには、発光装置を吸着するための吸着孔23を備えている。吸着孔は、例えば、一対の導電部の間、または、一対の導電部の外側に設けることができる。
次いで、上述の測定台20の上面20aに、発光装置1を載置する。その際に、測定台20の上面20aの発光装置載置部21aと、発光装置1の下面の端子部11とが接するように、導電部21上に発光装置1を載置する。
次に、測定台20の当接部21cにプローブ24を当接して通電する。これにより発光装置1を発光させることができる。プローブ24が接触するのは、発光装置1ではなく測定台20の当接部21cであるため、発光装置1を下方向から押圧することがない。
実施形態2では、発光装置を固定する工程が実施形態1と異なる。すなわち、実施形態1では、測定台に設けられた吸着孔による真空吸着で発光装置を固定していたのに対し、実施形態2では導電部に備えられた磁石と発光装置の電極とを磁力により固定する点が異なる。
1a…発光装置の下面
1b…発光装置の上面
1c…発光装置の側面
11…端子部
12…発光素子
12a…積層構造体
12b…電極
13…樹脂部材
13a…透光性樹脂部材
13b…遮光性樹脂部材
20…測定台
20a…測定台の上面
21…導電部
21a…発光装置載置部
21c…当接部
22…支持部
23…吸着孔
24…プローブ
Claims (7)
- 下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、
上面に備えられる発光装置載置部及び前記発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、前記導電部を支持する支持部と、前記発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、
前記測定台の前記導電部と、前記発光装置の前記端子部とが接するように、前記発光装置を前記導電部上に載置し、前記測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により前記発光装置を固定する工程と、
前記当接部にプローブを当接して通電し、前記発光装置を発光させる工程と、
を含む発光装置の検査方法。 - 下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、
上面に備えられる発光装置載置部及び前記発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、前記導電部を支持する支持部と、前記発光装置を固定するための磁石とを備える測定台を準備する工程と、
前記測定台の前記導電部と、前記発光装置の前記端子部とが接するように、前記発光装置を前記導電部上に載置し、前記導電部に備えられた磁石により前記発光装置を固定する工程と、
前記当接部にプローブを当接して通電し、前記発光装置を発光させる工程と、
を含む発光装置の検査方法。 - 前記発光装置は、上面を治具で押さえずに固定される請求項1又は請求項2記載の発光装置の検査方法。
- 前記吸着孔は、前記一対の導電部の間に設けられる請求項1又は請求項3記載の発光装置の検査方法。
- 前記吸着孔は、前記一対の導電部の外側に設けられる請求項1又は請求項3記載の発光装置の検査方法。
- 前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記発光装置の上面全面が透光性部材からなる請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の発光装置の検査方法。
- 前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記透光性部材は凸レンズ部を備える請求項1〜請求項6記載のいずれか一項に記載の発光装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019202019A JP6940791B2 (ja) | 2016-04-27 | 2019-11-07 | 発光装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016088839A JP6623918B2 (ja) | 2016-04-27 | 2016-04-27 | 発光装置の検査方法 |
JP2019202019A JP6940791B2 (ja) | 2016-04-27 | 2019-11-07 | 発光装置の検査方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016088839A Division JP6623918B2 (ja) | 2016-04-27 | 2016-04-27 | 発光装置の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020024226A true JP2020024226A (ja) | 2020-02-13 |
JP6940791B2 JP6940791B2 (ja) | 2021-09-29 |
Family
ID=69618573
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019202019A Active JP6940791B2 (ja) | 2016-04-27 | 2019-11-07 | 発光装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6940791B2 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61155774U (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-27 | ||
JPH054491U (ja) * | 1991-03-26 | 1993-01-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置用ソケツト |
JP2012023375A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Samsung Led Co Ltd | 半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、半導体デバイスアレイ、照明装置及びバックライト |
US20120105836A1 (en) * | 2010-11-01 | 2012-05-03 | Samsung Led Co., Ltd. | Apparatus for measuring optical properties of led package |
JP2012118062A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Samsung Led Co Ltd | 収納用トレー、これを利用した検査装置及び検査方法 |
JP2012253322A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-20 | Daiwa Kogyo:Kk | 発光素子搭載用基板およびその製造方法 |
WO2015155822A1 (ja) * | 2014-04-07 | 2015-10-15 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の光測定装置 |
-
2019
- 2019-11-07 JP JP2019202019A patent/JP6940791B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61155774U (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-27 | ||
JPH054491U (ja) * | 1991-03-26 | 1993-01-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置用ソケツト |
JP2012023375A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Samsung Led Co Ltd | 半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、半導体デバイスアレイ、照明装置及びバックライト |
US20120105836A1 (en) * | 2010-11-01 | 2012-05-03 | Samsung Led Co., Ltd. | Apparatus for measuring optical properties of led package |
JP2012118062A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Samsung Led Co Ltd | 収納用トレー、これを利用した検査装置及び検査方法 |
JP2012253322A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-20 | Daiwa Kogyo:Kk | 発光素子搭載用基板およびその製造方法 |
WO2015155822A1 (ja) * | 2014-04-07 | 2015-10-15 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の光測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6940791B2 (ja) | 2021-09-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI471971B (zh) | Substrate holding member, substrate bonding apparatus, laminated substrate manufacturing apparatus, substrate bonding method, laminated substrate manufacturing method, and laminated semiconductor device manufacturing method | |
JP5373043B2 (ja) | Led用試験装置 | |
JP6440587B2 (ja) | 吸着プレート、半導体装置の試験装置および半導体装置の試験方法 | |
TW200525159A (en) | Jig device for transporting and testing integrated circuit chip | |
JP2011243431A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンスパネル用照明装置及び有機エレクトロルミネッセンスパネル | |
TW201431127A (zh) | 發光二極體封裝結構及其製造方法 | |
JP4509811B2 (ja) | 検査治具 | |
JP2020024226A (ja) | 発光装置の検査方法 | |
JP6623918B2 (ja) | 発光装置の検査方法 | |
JP2008010564A (ja) | 光半導体装置及びその製造方法 | |
JP5880137B2 (ja) | 照明装置 | |
TWI449885B (zh) | 光源檢測裝置 | |
JP2013088257A (ja) | 接触端子の支持体及びプローブカード | |
JP7282467B2 (ja) | 加工装置 | |
TWM536330U (zh) | 發光鍵盤之導光結構 | |
JP2001345481A (ja) | 光電変換素子の検査方法及び装置 | |
KR20150004292U (ko) | 패널지지 및 고정장치 | |
JP6809049B2 (ja) | 発光装置の検査方法 | |
JP2010056461A (ja) | 発光装置及び発光装置を用いた照明装置 | |
KR101369496B1 (ko) | Oled 조광판 테스트용 기판 | |
JP2012234993A (ja) | 半導体パッケージ及び搬送システム | |
JP5342127B2 (ja) | 発光装置 | |
JP2019045220A5 (ja) | ||
JP2013254833A (ja) | 発光装置及び発光装置の製造方法 | |
JP2007329277A (ja) | 薄板収納容器の検査装置およびその検査方法、並びにその検査方法により検査された薄板収納容器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191107 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191107 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201016 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210115 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210803 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210816 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6940791 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |