JP6940791B2 - 発光装置の検査方法 - Google Patents
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Description
下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、上面に備えられる発光装置載置部及び発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、導電部を支持する支持部と、発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、測定台の導電部と、発光装置の端子部とが接するように、発光装置を前記導電部上に載置し、発光装置の上面を治具で押さえずに、測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により発光装置を固定する工程と、当接部にプローブを当接して通電し、発光装置を発光させる工程と、を含む発光装置の検査方法。
実施形態1に係る発光装置の検査方法は、以下の工程を備える。
1)発光装置を準備する工程
2)測定台を準備する工程
3)発光装置を測定台に固定する工程
4)発光装置を発光させる工程
以下、各工程について詳説する。
図1(a)〜(c)に、発光装置の一例を示す。(a)は斜め上からみた斜視図、(b)斜め下から見た斜視図、(c)は(a)のA−A線における断面図である。は発光装置1は、下面1aに一対の端子部11を備える。端子部11は、発光装置1の一対の電極として機能する部材である。
測定台20は、発光装置に通電し、発光特性などを測定するための検査装置に備えられる。測定台20は、図2(a)に示すように、一対の導電部21と、導電部を支持する絶縁性の支持部22と、を備える。導電部21は、測定台20の上面20aに配置される発光装置載置部21aと、発光装置載置部21aとは異なる位置に備えらえる当接部21cと、を備える。当接部21cは、プローブが当接される部分である。当接部21cは、図2(a)では測定台20の下面に設けられている。ただし、この位置に限らず、プローブを当接しやすい場所であれば、測定台の上面又は側面などであってもよい。測定台20の上面20aには、発光装置を吸着するための吸着孔23を備えている。吸着孔は、例えば、一対の導電部の間、または、一対の導電部の外側に設けることができる。
次いで、上述の測定台20の上面20aに、発光装置1を載置する。その際に、測定台20の上面20aの発光装置載置部21aと、発光装置1の下面の端子部11とが接するように、導電部21上に発光装置1を載置する。
次に、測定台20の当接部21cにプローブ24を当接して通電する。これにより発光装置1を発光させることができる。プローブ24が接触するのは、発光装置1ではなく測定台20の当接部21cであるため、発光装置1を下方向から押圧することがない。
実施形態2では、発光装置を固定する工程が実施形態1と異なる。すなわち、実施形態1では、測定台に設けられた吸着孔による真空吸着で発光装置を固定していたのに対し、実施形態2では導電部に備えられた磁石と発光装置の電極とを磁力により固定する点が異なる。
1a…発光装置の下面
1b…発光装置の上面
1c…発光装置の側面
11…端子部
12…発光素子
12a…積層構造体
12b…電極
13…樹脂部材
13a…透光性樹脂部材
13b…遮光性樹脂部材
20…測定台
20a…測定台の上面
21…導電部
21a…発光装置載置部
21c…当接部
22…支持部
23…吸着孔
24…プローブ
Claims (5)
- 下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、
上面に備えられる発光装置載置部及び前記発光装置載置部とは異なる位置に備えられる当接部を備える一対の導電部と、前記導電部を支持する支持部と、前記導電部に接続される磁石と、を備える測定台を準備する工程と、
前記測定台の前記導電部と前記発光装置の前記端子部とが接するように、前記発光装置を前記導電部上に載置し、前記測定台の前記導電部を介して生じる前記磁石の磁力により前記測定台の前記導電部と前記発光装置の前記端子部とを固定する工程と、
前記当接部にプローブを当接して通電し、前記発光装置を発光させる工程と、
を含む発光装置の検査方法。 - 前記発光装置は、上面を治具で押さえずに固定される請求項1記載の発光装置の検査方法。
- 前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記発光装置の上面全面が前記透光性部材からなる請求項1又は請求項2記載の発光装置の検査方法。
- 前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記透光性部材は凸レンズ部を備える請求項1又は請求項2記載の発光装置の検査方法。
- 前記発光装置の前記端子部は、鉄を含む金属材料からなる請求項1〜請求項4記載のいずれか一項に記載の発光装置の検査方法。
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