JP2020020673A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2020020673A5
JP2020020673A5 JP2018144786A JP2018144786A JP2020020673A5 JP 2020020673 A5 JP2020020673 A5 JP 2020020673A5 JP 2018144786 A JP2018144786 A JP 2018144786A JP 2018144786 A JP2018144786 A JP 2018144786A JP 2020020673 A5 JP2020020673 A5 JP 2020020673A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
encoder pattern
light
polarizing filter
polarizing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018144786A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2020020673A (ja
JP7080129B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2018144786A external-priority patent/JP7080129B2/ja
Priority to JP2018144786A priority Critical patent/JP7080129B2/ja
Priority to CN201980046329.2A priority patent/CN112384754B/zh
Priority to PCT/JP2019/029426 priority patent/WO2020026980A1/ja
Priority to EP19844618.9A priority patent/EP3832258A4/en
Priority to US17/262,168 priority patent/US20210270602A1/en
Publication of JP2020020673A publication Critical patent/JP2020020673A/ja
Publication of JP2020020673A5 publication Critical patent/JP2020020673A5/ja
Publication of JP7080129B2 publication Critical patent/JP7080129B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2018144786A 2018-08-01 2018-08-01 角度検出システムおよび角度検出方法 Active JP7080129B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018144786A JP7080129B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 角度検出システムおよび角度検出方法
US17/262,168 US20210270602A1 (en) 2018-08-01 2019-07-26 Angle detection system and angle detection method
PCT/JP2019/029426 WO2020026980A1 (ja) 2018-08-01 2019-07-26 角度検出システムおよび角度検出方法
EP19844618.9A EP3832258A4 (en) 2018-08-01 2019-07-26 Angle detection system and angle detection method
CN201980046329.2A CN112384754B (zh) 2018-08-01 2019-07-26 角度检测系统以及角度检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018144786A JP7080129B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 角度検出システムおよび角度検出方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2020020673A JP2020020673A (ja) 2020-02-06
JP2020020673A5 true JP2020020673A5 (enExample) 2021-07-26
JP7080129B2 JP7080129B2 (ja) 2022-06-03

Family

ID=69232511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018144786A Active JP7080129B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 角度検出システムおよび角度検出方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20210270602A1 (enExample)
EP (1) EP3832258A4 (enExample)
JP (1) JP7080129B2 (enExample)
CN (1) CN112384754B (enExample)
WO (1) WO2020026980A1 (enExample)

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6080707A (ja) * 1983-10-07 1985-05-08 Toshihiro Tsumura 傾斜角度計測装置
JP3184939B2 (ja) 1991-12-26 2001-07-09 株式会社ソキア アブソリュートエンコーダ
JPH07139942A (ja) * 1993-11-12 1995-06-02 Wacom Co Ltd 測量装置
JP3575894B2 (ja) * 1995-12-11 2004-10-13 三菱プレシジョン株式会社 相対角度検出装置及び仮想現実感提供装置
US20090024325A1 (en) * 2007-07-19 2009-01-22 Scherzinger Bruno M AINS enhanced survey instrument
CN104254755B (zh) * 2013-09-10 2017-05-10 王勇 光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺
JP6369042B2 (ja) * 2013-11-05 2018-08-08 日本精工株式会社 光学式エンコーダユニット及び光学式エンコーダ
JP6449584B2 (ja) * 2014-08-04 2019-01-09 株式会社トプコン 角度検出装置、測量装置
JP6438311B2 (ja) 2015-01-27 2018-12-12 株式会社トプコン 測量システム、測量方法、測量機及び測量用反射ターゲット
JP6433343B2 (ja) * 2015-01-28 2018-12-05 株式会社トプコン 三次元位置計測システム
JP2016146791A (ja) * 2015-02-13 2016-08-18 みのる産業株式会社 土の混合撹拌装置
JP6982424B2 (ja) * 2017-07-14 2021-12-17 株式会社トプコン 測量システム
JP2019105515A (ja) * 2017-12-12 2019-06-27 株式会社トプコン ターゲット装置、測量方法、測量装置およびプログラム
JP7275439B2 (ja) * 2018-09-28 2023-05-18 株式会社トプコン 測量システム、スキャナ装置、および測量方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7084705B2 (ja) 測量装置
EP1411371B1 (en) Surveying and position measuring instrument with a fan-shapped light beam
JP6616077B2 (ja) 測定装置及び３次元カメラ
US8525983B2 (en) Device and method for measuring six degrees of freedom
JP5462371B2 (ja) 環境を光学的に走査し測定する装置
JP6994879B2 (ja) 測量システム
JP6753962B2 (ja) レーザー受信機に入射する受信ビームと回転レーザービームとを比較するための方法
CN109798879A (zh) 测量装置以及测量装置系统
CN109416252B (zh) 用于对入射到激光接收器上的接收射线与旋转的接收射线进行比较的方法
US10473462B2 (en) System of measuring three-dimensional position
US11350077B2 (en) Handheld three dimensional scanner with an autoaperture
JP6753961B2 (ja) レーザー受信機に入射する受信ビームと回転レーザービームを比較するための方法
JP2017528714A (ja) ３次元座標の光学測定のための方法および３次元測定デバイスの制御
JP2014219393A (ja) 機械要素の位置を求める装置
US20170038203A1 (en) Self-propelled device and distance detector thereof
JP7078486B2 (ja) 角度検出システムおよび角度検出方法
JP2020020671A5 (enExample)
CN108345002A (zh) 结构光测距装置及方法
US20050275830A1 (en) Surveying apparatus
CN116697886A (zh) 测量装置
JP5850225B2 (ja) マーカ検出方法および装置
JP2020020673A5 (enExample)
JP5874899B2 (ja) マーカ検出方法および装置
JP7080129B2 (ja) 角度検出システムおよび角度検出方法
JP2023127741A (ja) 測量装置