JP5850225B2 - マーカ検出方法および装置 - Google Patents
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Description
しかし、マーカを人に取り付け、そのマーカを自動搬送ロボットが追従することにより、或いは、人を追従しているロボットのマーカを、別のロボットが追従することにより、人が自分で運ぶ荷物以外に、重い荷物を多数搬送することができる。
このような場合にも、マーカは有益であり、人がマーカを持つ、或いは人の着衣にマーカを貼り付けることで、ロボットが追跡すべき対象を1つ、もしくは、限られた数に限定することができる。
さらに特許文献1によると、複数のロボットが、交互に動きながら、お互いの位置を計測することで、誤差が発生しやすい位置計測についても高い精度で計測できるようにするものである。マーカをロボットに取り付け、ロボットが互いの方向を検出し計測できれば、高精度の位置計測が可能になる。
ところが、ある程度広い視野(60度)を確保しようとする場合には、百万画素を有するカメラを用いても、50cmのマーカを100m地点から撮影した場合に一辺5画素程度にしか映らない。もちろん、さらに遠くなるとさらに小さくしか映らないので、実質上は数画素程度でマーカを判別できる必要がある。
また、模様の形が画像処理可能であるためにはマーカは一辺が十数画素程度のサイズに映るようにしなくてはならない。ところが、遠くのマーカはそれより小さくしか映らない。
一方、小さく見える対象をズームレンズで撮影することも考えられるが、この場合、非常に狭い視野となり、ロボットの運動により簡単に視野から外れたり、カメラの向きを制御する場合でも非常に緻密な方向制御を行わないかぎりマーカを見つけられなくなるという問題がある。
乱反射材からなる内層と、内層の外側に取り付けられた偏光フィルムからなる外層とを有し、
外光を乱反射し、地表に対し水平、垂直、又は斜めの偏光に変換して放射する、ことを特徴とするマーカが提供される。
第1受光素子により、前記偏光を除去した入射光によりマーカを含む領域の第1画像を撮影し、
第2受光素子により、前記偏光を除去しない入射光により前記領域の第2画像を撮影し、
演算装置により、第1画像及び第2画像の対応する画素の光の強度比から、マーカの位置を検出する、ことを特徴とするマーカ検出方法が提供される。
前記偏光を除去した入射光によりマーカを含む領域の第1画像を撮影する第1受光素子と、
前記偏光を除去しない入射光により前記領域の第2画像を撮影する第2受光素子と、
第1画像及び第2画像の対応する画素の光の強度比から、マーカの位置を検出する演算装置と、を備えることを特徴とするマーカ検出装置が提供される。
従って、外光を反射するときに、光源の位置や強さに依存しにくい光学特性変化を行っているため、外光の位置や強さの変化に対しても安定してマーカを見つけ出すことができる。
この図において、1は対象物であり、この例では自走ロボットである。なお、対象物1は、自律移動ロボットや自動搬送ロボットであってもよく、ロボット以外であってもよい。
この図において、マーカ10は、対象物1の表面に取り付けられた内層12、外層14、及び表面層16を有する。
内層12は乱反射材からなる。外層14は内層12の外側に取り付けられた偏光フィルムからなる。さらに表面層16は、反射防止膜からなる。
この構成により、マーカ10は、外光2を内層12で乱反射し、かつ外層14で地表に対し水平、垂直、又は斜めの偏光3に変換して放射するようになっている。外光2は、太陽光又は屋外光である。
フィルムは内層12と外層14の2層構造になっており、内層12は高い反射率を持った乱反射材であり、PET(ポリエチレンテレフタラート)を発泡させたものや、厚手の紙を多層に貼り合わせたものが適している。内層12は、見た目は明るくて光沢の無い白色である。
外層14は、水平方向、垂直方向、又は斜め方向の偏光フィルムである。水たまりが想定される場合には垂直方向の偏光フィルムを用い、ガラス窓が想定される場合には水平方向の偏光フィルムをマーカに用いるのがよい。影響の大きい方を重視するが、両方の存在がある場合には垂直方向、又は斜め方向の偏光フィルムとし、低い位置にマーカを設置するなど、窓ガラスが視界内に入りにくい工夫を行う。
さらに外側(表面層16)に反射防止膜として反射を防止するコーティングを実施するか、反射防止フィルムを貼り付けることが望ましい。
この図では、説明の都合上、マーカ10の内層12、外層14、及び表面層16を平面で示している。外層14は、水平方向、垂直方向、又は斜め方向の偏光フィルムである。
この図において、本発明のマーカ検出装置20は、偏光除去手段、第1カメラ22、偏光フィルタ23、第2カメラ24、位置補正装置26、及び演算装置28を備える。
偏光フィルタ21は、マーカ10から放射された偏光3を除去し、マーカ10を含む領域からのその他の光を通すようになっている。すなわち偏光フィルタ21は、マーカ10から放射された水平、垂直、又は斜めの偏光3と直交する方向の偏光フィルタであり、マーカ10で反射した偏光3をカットするようになっている。
この構成により、第1カメラ22は、マーカ10から放射された偏光3を除去した入射光4によりマーカ10を含む領域の第1画像10aを撮影するようになっている。
レンズ24bは撮影レンズであり、フィルタ24aを透過した入射光によりマーカ10を含む領域の第2画像10bを第2受光素子24cに結像する。第2受光素子24cは、第1受光素子22cと同様のCCD又はC−MOSである。
この構成により、第2カメラ24は、マーカ10から放射された偏光3を除去しない入射光により第1画像10aと同じ領域の第2画像10bを撮影するようになっている。
図4の構成において、第1カメラ22と第2カメラ24は、近接して配置されているが、対象物1を一定の離れた位置から撮影するため、必然的に視差が生じる。
位置補正装置26は、この視差を補償し、同一の対象物1に対応する画素位置を第1画像10aと第2画像10bで対応付けできるようにする。
この図において、本発明のマーカ検出装置20は、さらに、レンズ30と分割ミラー32を備える。レンズ30は、対象物1からの入射光(偏光3を含む)を光5に変換する。光5は例えば平行光である。
その他の構成は、第1実施形態と同様である。
従って、第1画像10aと第2画像10bは、マーカ10を含む領域の画像である点で共通するが、各画像を形成するための入射光にマーカ10から放射された偏光3を含むか否かで相違する。
図5の構成において、第1カメラ22と第2カメラ24は、対象物1からの同一の光を分割して撮影するため、図4のような視差は生じない。
しかし、第1画像10aと第2画像10bの画素位置が正確には一致していない場合には、位置補正装置26は、同様に同一の対象物1に対応する画素位置を第1画像10aと第2画像10bで対応付けできるようにする。一方、受光素子22c、24cを正確に設置して位置が一致できている場合には位置補正装置26を省略することもできる。
この例で分割ミラー32は、ワイヤーグリッドアレイミラー(又は偏光特性のあるビームスプリッタ)32bであり、偏光除去手段に相当する。
ワイヤーグリッドアレイミラー(又は偏光特性のあるビームスプリッタ)32bは、特定の偏光成分をそのまま通過する透過光5bと、その他を90度方向に反射する反射光5aとに分割する。この場合、透過光5bにマーカ10から放射された偏光3を含まないように設定するのがよい。
ワイヤーグリッドアレイミラー(又は偏光特性のあるビームスプリッタ)32bを用いる場合には、第2実施形態の偏光フィルタ21,23は必須ではなく、これを省略することができる。
(A)偏光フィルタ21により、マーカ10から放射された偏光3を除去する。
(B)第1受光素子22cにより偏光3を除去した入射光によりマーカ10を含む領域の第1画像10aを撮影する。
(C)第2受光素子24cにより、偏光3を除去しない入射光により同じ領域の第2画像10bを撮影する。
(D)位置補正装置26により、第1画像10aと第2画像10bの画素位置を対応させる。
(E)演算装置28により、第1画像10a及び第2画像10bの対応する画素の光の強度比(明るさの比率)から、マーカ10の位置を検出する。
この場合、補正値Kを予め設定し、第1画像10aの強度を補正値Kだけ増幅することが好ましい。
このように、補正値Kを予め設定し、検出レベルの低い第1画像10a上の強度I1をK倍に増幅しておくことにより、検出レベルを高め、検出精度を高めることができる。
第1画像10aと第2画像10bの画像データは、演算装置28に伝送され、演算装置28内では以下の2つの計算を実施する。
この明るさの比が一定の閾値を下回った部分をマーカ10として検出する。
この比(K×前述の比率)が充分小さな値、例えば1/4以下となる画素を検出する。よって明るさ(強度)の比から直接判定する場合の閾値はK×1/4となる。
マーカ10によって放射された地表に対し水平、垂直、又は斜めに偏光した偏光3は、それと直交する偏光フィルタ21では遮断され、無フィルタもしくは同じ方向のフィルタであるフィルタ24aは通過する。そのため、偏光フィルタ21側の第1受光素子22cではマーカ10の明るさ(強度)はきわめて低く、もう一方の第2受光素子24cではマーカ10は本来の見えている明るさ(強度)で撮影される。
その後、各場所の画素で明るさを比較し、比が例えば1/4以下の部分を抽出する画像処理を実施する。理論上では偏光フィルタ21側の第1受光素子22cの明るさは0に近いので、明るさの比もきわめて小さい(0に近い)値となる。また、抽出結果には、ごま塩状のノイズなどが乗っている場合があるので、孤立点除去(塊のサイズが小さければ除去)などのノイズ除去を行った後、まとまって検出が得られている領域の位置を検出位置として出力する。
充分な明るさ(強度)の比と面積が無い場合には検出出来なかったことを出力する。
水たまりの反射はほとんど水平成分として反射され垂直偏光が小さくなる。
窓などのガラス面での反射はほとんど垂直成分として反射され水平偏光が小さくなる。
従って、マーカ10は、使用する環境により水平、垂直、又は斜めの偏光のいずれを放射(反射)するかを決定するのがよい。
3 偏光、4 偏光3を除去した光、
5 光、5a 反射光、5b 透過光、
10 マーカ、10a 第1画像、10b 第2画像、
12 内層(乱反射材)、14 外層(偏光フィルム)、
16 表面層(反射防止膜)、
20 マーカ検出装置、21 偏光フィルタ、
22 第1カメラ、22b レンズ、
22c 第1受光素子(CCD又はC−MOS)、
23 偏光フィルタ、24 第2カメラ、
24b レンズ、24c 第2受光素子(CCD又はC−MOS)、
26 位置補正装置、28 演算装置、
30 レンズ、32 分割ミラー、
32a ハーフミラー、
32b ワイヤーグリッドアレイミラー(又は偏光特性のあるビームスプリッタ)、
40 レーザレーダ
Claims (5)
- 対象物の表面に取り付けたマーカであって、乱反射材からなる内層と、内層の外側に取り付けられた偏光フィルムからなる外層とを有し、外光を乱反射し、地表に対し水平、垂直、又は斜めの偏光に変換して放射する前記マーカから放射された偏光を偏光除去手段により除去し、
第1受光素子により、前記偏光を除去した入射光によりマーカを含む領域の第1画像を撮影し、
第2受光素子により、前記偏光を除去しない入射光により前記領域の第2画像を撮影し、
演算装置により、第1画像及び第2画像の対応する画素の光の強度比から、マーカの位置を検出する、ことを特徴とするマーカ検出方法。 - 演算装置により、対応する画素における第1画像上の光の強度I1と第2画像上の光の強度I2の強度比I1/I2を演算し、
強度比I1/I2が閾値を下回った画素位置をマーカの位置として検出する、ことを特徴とする請求項1に記載のマーカ検出方法。 - 対象物の表面に取り付けたマーカであって、乱反射材からなる内層と、内層の外側に取り付けられた偏光フィルムからなる外層とを有し、外光を乱反射し、地表に対し水平、垂直、又は斜めの偏光に変換して放射する前記マーカから放射された偏光を除去する偏光除去手段と、
前記偏光を除去した入射光によりマーカを含む領域の第1画像を撮影する第1受光素子と、
前記偏光を除去しない入射光により前記領域の第2画像を撮影する第2受光素子と、
第1画像及び第2画像の対応する画素の光の強度比から、マーカの位置を検出する演算装置と、を備えることを特徴とするマーカ検出装置。 - 前記偏光除去手段は、偏光フィルタである、ことを特徴とする請求項3に記載のマーカ検出装置。
- 前記偏光除去手段は、ワイヤーグリッドアレイミラー又は偏光特性のあるビームスプリッタである、ことを特徴とする請求項3に記載のマーカ検出装置。
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