JP2020008318A - 光照射装置、光学評価装置および物品製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
・・・(1)
この場合、振幅画像A(x,y)は、式(2)により算出できる。
Claims (14)
- 物体に光を照射する光照射装置であって、
一定の中心間隔で配置され、少なくとも部分的に光を遮断するライン状の複数の遮光部と、
前記物体に光を照射するように前記複数の遮光部のうちの一部の遮光部に対して重なるように配置されたライン状の複数の光照射部と、を含み、
前記複数の光照射部は、前記複数の遮光部の前記中心間隔の2倍以上の周期を形成するように配置されている、
ことを特徴とする光照射装置。 - 前記複数の光照射部は、前記周期を中心間隔とするように配置された複数の周期要素を形成するように配置され、前記複数の周期要素の各々は、同じ個数の光照射部で構成される、
ことを特徴とする請求項1に記載の光照射装置。 - 前記個数が2以上であり、前記複数の周期要素の各々における前記光照射部の中心間隔が前記複数の遮光部の前記中心間隔と等しい、
ことを特徴とする請求項2に記載の光照射装置。 - 前記個数をn、前記複数の遮光部の前記中心間隔をPm、前記周期をPoとしたときに、
1/4≦(n×Pm)/Po≦3/4
を満たすことを特徴とする請求項2又は3に記載の光照射装置。 - 前記複数の光照射部の各々の幅は、前記複数の遮光部の各々の幅以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光照射装置。 - 前記複数の遮光部の各々の長さ方向と前記複数の遮光部が配置された方向とが互いに直交することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光照射装置。
- 光を透過する板部材を更に含み、
前記複数の遮光部および前記複数の光照射部は、前記板部材の主面の上に配置されている、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光照射装置。 - 前記複数の光照射部は、前記複数の遮光部のうち前記複数の光照射部が重なるように配置された遮光部と前記主面との間に配置されている、
ことを特徴とする請求項7に記載の光照射装置。 - 前記板部材の端面に対して光を照射する光源を更に含む、
ことを特徴とする請求項8に記載の光照射装置。 - 前記複数の光照射部の厚さは、前記複数の遮光部の前記中心間隔より小さい、
ことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光照射装置。 - 請求項1に記載の光照射装置と、
前記光照射装置によって光が照射された前記物体を、前記複数の遮光部の間の開口部を介して撮像する撮像部と、
前記複数の遮光部および前記複数の光照射部を前記複数の遮光部の各々の長さ方向と交差する方向に移動させる駆動部と、
前記撮像部によって撮像された複数の画像に基づいて前記物体を評価する画像処理部と、
を備えることを特徴とする光学評価装置。 - 前記撮像部は、前記駆動部が前記複数の遮光部および前記複数の光照射部を移動させている状態で撮像を行う、
ことを特徴とする請求項11に記載の光学評価装置。 - 前記複数の光照射部は、前記周期を中心間隔とするように配置された複数の周期要素を形成するように配置され、前記複数の周期要素の各々は、同じ個数の光照射部で構成され、
前記個数をn、前記複数の遮光部の前記中心間隔をPm、前記周期をPoとしたときに、
前記撮像部の露光期間において前記駆動部が前記複数の遮光部および前記複数の光照射部を移動させる距離が、Po−(n×Pm)より小さい、
ことを特徴とする請求項12に記載の光学評価装置。 - 請求項11乃至13のいずれか1項に記載の光学評価装置を用いて物品の評価を行う工程と、
前記評価の結果に応じた処理を前記物品に対して行う工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
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