JP2002109513A - 塗装欠陥検出装置およびマスク画像作成方法 - Google Patents

塗装欠陥検出装置およびマスク画像作成方法

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JP2002109513A
JP2002109513A JP2000296064A JP2000296064A JP2002109513A JP 2002109513 A JP2002109513 A JP 2002109513A JP 2000296064 A JP2000296064 A JP 2000296064A JP 2000296064 A JP2000296064 A JP 2000296064A JP 2002109513 A JP2002109513 A JP 2002109513A
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Kiyoshi Yamada
清 山田
Masato Sakakibara
正人 榊原
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Toyota Motor Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 明暗パターンの境界線をより確実にマスクす
るマスク画像を自動作成すると共に塗装欠陥をより適切
に検出する。 【解決手段】 明暗パターンを用いて照明され撮影され
た塗装画像の所定ポイントの濃度を測定し(S20
0)、その平均値を用いて所定ポイントを白黒グループ
に分類する(S202,S204)。縦または横方向に
並ぶ所定ポイントを行および列毎に白黒グループの一方
に対して濃度比較して所定濃度範囲内のグループに分け
る(S206)。行および列毎にグループを構成する最
小のポイント数でグループ分けの際のポイント数を除し
て分割基礎数とし、行および列の最小の分割基礎数を各
々の分割数として塗装画像を分割する分割パターンを選
択する(S208,S210)。分割画像毎に重心計算
して中間濃度を抽出し(S214〜S218)、これを
明暗パターンの境界のマスク画像とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗装欠陥検出装置
およびマスク画像作成方法に関し、詳しくは、塗装欠陥
を検出する塗装欠陥検出装置および塗装欠陥を検出する
際に用いるマスク画像を作成するマスク画像作成方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のマスク画像作成方法とし
ては、撮影された対象物の輪郭の近似関数に基づいてマ
スク画像を作成するものが提案されている(特開平3−
36673号公報など)。この方法では、撮像により得
られた画像データから対象物の輪郭に近似させた近似関
数を作成し、この近似関数に対して所定の条件に応じた
領域を抽出してマスク画像を作成している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
たマスク画像作成方法では、近似関数が対象物の輪郭に
一致しないときもあり、適切なマスク画像を作成するこ
とができない場合が生じる。また、撮像により得られる
画像データに照明などによる濃淡が生じているときに
は、対象物の輪郭であるか否かを自動的に判別すること
もできない。
【0004】本発明の塗装欠陥検出装置は、明暗パター
ンの境界線をより確実にマスクして塗装欠陥をより適切
に検出することを目的とする。また、本発明のマスク画
像作成方法は、明暗パターンの境界線をより確実にマス
クするマスク画像を作成することを目的の一つとする。
さらに、本発明のマスク画像作成方法は、明暗パターン
の境界線をマスクするマスク画像の作成を自動化するこ
とを目的の一つとする。
【0005】
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】本
発明の塗装欠陥検出装置およびマスク画像作成方法は、
上述の目的の少なくとも一部を達成するために以下の手
段を採った。
【0006】本発明の塗装欠陥検出装置は、塗装欠陥を
検出する塗装欠陥検出装置であって、所定の明暗パター
ンを用いた照明された塗装面を撮影して塗装画像を生成
する塗装画像生成手段と、該生成された塗装画像を隣接
する画素の差分に基づいて2値化して検出用画像を作成
する検出用画像作成手段と、前記生成された塗装画像を
近接する画素の濃度に基づいて複数の画面に分割すると
共に該分割した画面毎に抽出される中間濃度に基づいて
前記明暗パターンの境界部をマスクするマスク画像を作
成するマスク画像作成手段と、前記作成された検出用画
像と前記作成されたマスク画像とに基づいて塗装欠陥を
抽出する塗装欠陥抽出手段とを備えることを要旨とす
る。
【0007】この本発明の塗装欠陥検出装置では、塗装
画像を近接する画素の濃度に基づいて分割された複数の
画面毎に抽出される中間濃度に基づいて明暗パターンの
境界部をマスクするものとして作成されたマスク画像と
塗装画像を隣接する画素の差分に基づいて2値化して得
られる検出用画像とに基づいて塗装欠陥を抽出する。塗
装画像の濃度に基づいて複数の画面に分割するから、塗
装画像に照明などによる濃淡が生じていても、明暗パタ
ーンの境界部をより適切にマスクするマスク画像を作成
することができる。この結果、より適切に塗装欠陥を検
出することができる。
【0008】こうした本発明の塗装欠陥検出装置におい
て、前記マスク画像作成手段は、前記生成された塗装画
像の所定の測定点における濃度を測定する濃度測定手段
と、該所定の測定点のうち隣接する測定点の濃度に基づ
いて前記塗装画像を複数の画面に分割する画面分割手段
と、該分割した画面毎に濃度重心に基づいて中間濃度を
抽出する中間濃度抽出手段と、該抽出された中間濃度に
基づいて前記明暗パターンの境界部をマスクするマスク
部を設定してマスク画像を作成する画像作成手段とを備
えるものとすることもできる。この態様の本発明の塗装
欠陥検出装置において、前記画面分割手段は、前記所定
の測定点の平均濃度を演算する平均濃度演算手段と、該
演算された平均濃度により前記所定の測定点を濃淡の二
つに区分けする濃淡区分け手段と、前記所定の測定点の
うち直交する直線上に並ぶ測定点毎に濃淡のいずれかに
区分けされた測定点を濃度が所定階調数異なる毎にグル
ープ化すると共にグループを構成する測定点が最小のグ
ループの測定点数でグループ化に係る測定点の総数を除
して分割基礎数を設定する分割基礎数設定手段と、平行
な直線上の測定点に対して設定された分割基礎数のうち
最小の分割基礎数を前記塗装画像の前記平行な直線の方
向における分割数に設定する分割数設定手段と、該設定
された分割数に基づいて前記塗装画像を複数の画面に分
割する分割手段とを備えるものとすることもできる。
【0009】本発明のマスク画像作成方法は、塗装欠陥
を検出する際に用いるマスク画像を作成するマスク画像
作成方法であって、(a)所定の明暗パターンを用いた
照明により塗装面を撮影して得られた塗装画像の所定の
測定点における濃度を測定し、(b)該所定の測定点の
うち隣接する測定点の濃度に基づいて前記塗装画像を複
数の画面に分割し、(c)該分割した画面毎に濃度重心
に基づいて中間濃度を抽出し、(d)該抽出された中間
濃度に基づいて前記明暗パターンの境界部をマスクする
マスク部を設定してマスク画像を作成することを要旨と
する。
【0010】この本発明のマスク画像作成方法によれ
ば、塗装画像に照明などによる濃淡が生じても的確に明
暗パターンの境界部をマスクするマスク画像を作成する
ことができる。
【0011】こうした本発明のマスク画像作成方法にお
いて、前記ステップ(b)は、(b1)前記所定の測定
点の平均濃度を演算し、(b2)該演算された平均濃度
により前記所定の測定点を濃淡の二つに区分けし、(b
3)前記所定の測定点のうち直交する直線上に並ぶ測定
点毎に濃淡のいずれかに区分けされた測定点を濃度が所
定階調数異なる毎にグループ化し、(b4)該グループ
分けされた各グループを構成する測定点が最小のグルー
プの測定点数でグループ化に係る測定点の総数を除して
分割基礎数を設定し、(b5)平行な直線上の測定点に
対して設定された分割基礎数のうち最小の分割基礎数を
前記塗装画像の前記平行な直線の方向における分割数に
設定し、(b6)該設定された分割数に基づいて前記塗
装画像を複数の画面に分割するステップであるものとす
ることもできる。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を実施
例を用いて説明する。図1は、本発明の一実施例である
塗装欠陥検出装置20の構成の概略を示す構成図であ
る。実施例の塗装欠陥検出装置20は、図示するよう
に、塗装面10を明暗パターン24を用いて照明する照
明装置22と、明暗パターン24を用いて照明された塗
装面10を撮影して塗装画像とする電子カメラ26と、
塗装画像を画像処理して塗装欠陥を検出する画像処理装
置として機能するコンピュータ30とを備え、塗装面1
0に生じる塗装欠陥12を検出する。
【0013】照明装置22は、例えば白黒の千鳥状の明
暗パターン24の背後から蛍光灯などの光を用いて塗装
面10に対して所定の角度をもって塗装面10が照明さ
れるよう配置されており、電子カメラ26は、照明装置
22からの照明に対向する方向から所定の角度をもって
塗装面10を撮影するよう配置されている。
【0014】コンピュータ30は、CPUを中心とする
汎用コンピュータとして構成されており、図示しない
が、処理プログラムを記憶したROMや一時的にデータ
を記憶するRAM,入出力ポートなどを備える。このコ
ンピュータ30からは電子カメラ26に対する駆動信号
が出力ポートを介して出力されており、コンピュータ3
0には電子カメラ26からの塗装画像データが入力ポー
トを介して入力されている。
【0015】次に、こうして構成された実施例の塗装欠
陥検出装置20の動作について説明する。図2は、実施
例の塗装欠陥検出装置20のコンピュータ30により実
行される塗装欠陥検出処理の一例を示すフローチャート
である。塗装欠陥検出処理は、まず、塗装画面の撮影か
ら始まる(ステップS100)。この処理は、具体的に
は、コンピュータ30から電子カメラ26に対して塗装
面10を撮影する駆動信号を出力し、この駆動信号に基
づいて電子カメラ26により撮影された塗装面10の塗
装画像データをコンピュータ30が読み込む処理とな
る。図3に塗装画像の一例を示す。なお、図3の塗装画
像のうち明暗パターンの乱れた部分は、塗装面10の屈
曲により生じるものである。
【0016】塗装画像データを読み込むと、塗装画像に
対して欠陥強調処理を行なうと共に(ステップS10
2)、マスク作成処理を実行する(ステップS10
4)。欠陥強調処理は、塗装画像を2値化し、2値化し
た画像に対して隣接する画素の値が同じときには値0
(黒)とし、隣接する画素の値が異なるときには値1
(白)とすることにより行なわれる。例えば、図3の塗
装画像に対して欠陥強調処理を行なえば、図4の欠陥強
調画像が得られる。塗装欠陥12や明暗パターンの境界
部14では2値化した画素の値が異なるから白で表わさ
れる。なお、塗装欠陥12がこのようにして強調できる
のは、塗装欠陥12が光を乱反射することに基づく。即
ち、塗装面10の表面の滑らかさを損なって生じる塗装
欠陥12が光を乱反射することにより、所定の角度をも
って照明され所定の角度をもって撮影され塗装画像で
は、塗装欠陥12は明暗パターンの黒の部分では白とし
て白の部分では黒として表われる。したがって、上述の
欠陥強調処理を行なうことにより図4に例示するよう
に、塗装欠陥12が白として表わされる。マスク作成処
理は、図5のマスク作成処理ルーチンにより行なわれ
る。以下にマスク作成処理について詳述する。
【0017】マスク作成処理は、まず、塗装画像の所定
位置の濃度を測定する処理から行なわれる(ステップS
200)。この濃度測定処理は、例えば図6に例示する
ように、X軸方向のポイントA〜JとY軸方向のポイン
トa〜hとの交点として表わされる濃度ポイントの階調
値を濃度として測定することにより行なわれる。なお、
X軸方向のポイント数やY軸方向のポイント数は任意で
あり、図6に例示したポイント数に限られるものではな
い。所定位置の濃度を測定すると、次式(1)によりそ
の平均値を計算する(ステップS202)。図7に各濃
度ポイントの濃度を用いたヒストグラムと濃度の平均と
の一例を示す。
【0018】
【数1】
【0019】そして、計算した濃度の平均値より大きな
濃度の濃度ポイントを白グループ、平均値より小さな濃
度の濃度ポイントを黒グループに分類する(ステップS
204)。そして、横方向と縦方向の各行および各列の
濃度ポイントに対して隣接する濃度ポイントの多い方の
グループを用いて濃度比較し、濃度グループの分類を行
なう(ステップS206)。a行に沿った横方向の濃度
比較による濃度グループの分類の様子の一例を図8に示
し、A列に沿った縦方向の濃度比較による濃度グループ
の分類の様子の一例を図9に示す。図8の例では、a行
に沿った濃度ポイントのすべてが黒グループに分類され
ている。濃度比較による濃度グループの分類は、基準ポ
イントとなる濃度ポイントから横方向あるいは縦方向に
進んで濃度(階調値)を比較し、基準ポイントの濃度か
ら所定濃度(所定階調値)だけ離れたときに、その範囲
までの濃度ポイントを同一の濃度グループとし、所定濃
度(所定階調値)だけ離れた濃度ポイントを新たな基準
ポイントとして同様に横方向あるいは縦方向に進んで濃
度を比較することにより行なう。なお、所定濃度(所定
階調値)は、作成しようとしている境界マスクがズレて
不具合が生じない範囲として設定され、例えば上下に2
階調を超えると境界マスクがズレる場合には、値4とし
て設定される。図8の例では、まず、Aを基準ポイント
としてB,Cの順に濃度比較を行なう。Cとの濃度比較
では階調値が4を超えるから、AとBとを同一の濃度グ
ループとし、Cを新たな基準ポイントとしてD,Eの順
に濃度比較を行なう。Cの濃度に対してIで階調値が4
を超えるから、C〜Hを同一の濃度グループとし、Iを
新たな基準ポイントとしてJと濃度比較を行なって濃度
比較による濃度グループの分類を終了する。図8の例で
は、3つの濃度グループに分類されている。図9の例で
は、隣接する濃度ポイントが黒グループでは2個である
のに対して白グループでは4個であるから、白グループ
に対して濃度比較による濃度グループの分類がなされ
る。この場合、まず、bが基準ポイントとされてcと濃
度比較が行なわれる。次の濃度ポイントのdは黒グルー
プであるから、次に白グループとなるfが新たな基準ポ
イントとして次のgと濃度比較が行なわれる。この図9
の例では、2つの濃度グループに分類されている。
【0020】すべての行と列に対して濃度比較による濃
度グループの分類が終了すると、濃度グループを構成す
る最小のポイント数でその行または列の対象となる白ま
たは黒のグループの濃度ポイントの全数を除して分割基
礎数を求めると共に行および列の分割基礎数のうち最小
の分割基礎数を行および列の分割数として設定する(ス
テップS208)。例えば、図8の例では、3つの濃度
グループのうちの最小のポイント数(構成数)の濃度グ
ループのポイント数は2であるから、分割基礎数は、黒
グループに属するA〜Jの10ポイントを2で除した5
となる。このa行の分割基礎数の5とb行〜h行に対し
て求められた分割基礎数とのうちの最小の値が横方向の
分割数として設定される。図9の例では、2つの濃度グ
ループのうちの最小のポイント数(構成数)の濃度グル
ープのポイント数は2であるから、分割基礎数は、白グ
ループに属するb,c,f,gの4ポイントを2で除し
た2となる。このA列の分割基礎数の2とB列〜J列に
対して求められた分割基礎数とのうちの最小の値が縦方
向の分割数として設定される。
【0021】次に、こうして求めた縦横両方向の分割数
により分割パターンを選択する(ステップS210)。
図10に分割パターンの一例を示す。例えば、横方向の
分割数が5で縦方向の分割数が2のときには、図10に
おける右上の分割パターンが選択される。
【0022】こうして分割パターンが選択されると、塗
装画像を分割パターンを用いて分割し(ステップS21
2)、分割された画像毎に濃度のヒストグラムを作成す
ると共に(ステップS214)、分割された画像毎に次
式(2)により濃度の重心を計算する(ステップS21
6)。
【0023】
【数2】
【0024】そして、分割された画像毎に計算した重心
を中心とした所定濃度(所定階調値)の範囲を中間濃度
として抽出し(ステップS218)、その範囲を値1
(白)とすると共に他の部分を値0(黒)として境界部
14をマスクするマスク画像を作成する(ステップS2
20)。なお、中間濃度として抽出する際に用いる所定
濃度(所定階調値)は、例えば階調値として値2や値3
などが用いられる。図11に分割された画像のヒストグ
ラムと抽出された中間濃度の一例を示す。図3の塗装画
像を用いて図5のマスク作成処理により作成されたマス
ク画像を図12に示す。図12に示すように、明暗パタ
ーンの境界部14をカバーするマスク画像が作成されて
いる。このように分割された画像毎に重心を計算して中
間濃度を抽出してマスク画像を作成することにより、撮
影された塗装画像の部分的な濃度の差を緩和して明暗パ
ターンの境界部14を正確にマスクすることができる。
【0025】図2の塗装欠陥検出処理に戻って、上述し
たマスク作成処理によりマスク画像を作成すると、作成
したマスク画像と欠陥強調処理により作成した欠陥強調
画像とを重ね合わせてノイズ除去処理を行なう(ステッ
プS106)。図4に例示した欠陥強調画像と図12に
例示したマスク画像を重ね合わせてノイズ除去した画像
を図13に示す。図示するように、明暗パターンの境界
部14は、マスク画像によりカバーされて面積の大きな
一つの領域を形成する。
【0026】そして、値1(白)の領域のヒストグラム
を作成すると共に面積の大きい順にラベリングし(ステ
ップS108)、2番以降にラベリングされた領域を塗
装欠陥12として検出して(ステップS110)、本ル
ーチンを終了する。ここで、2番以降にラベリングされ
た領域を塗装欠陥とするのは、1番目にラベリングされ
た領域はマスク画像によるものだからである。
【0027】以上説明した実施例の塗装欠陥検出装置2
0によれば、撮影された塗装画像の部分的な濃度の差を
的確に考慮した分割手法で塗装画像を分割してマスク画
像を作成することができる。この結果、明暗パターンの
境界部14をより適正にマスクすることができ、より的
確に塗装欠陥12を検出することができる。しかも、塗
装画像の分割をコンピュータ30による処理で行なうか
ら、手設定で行なうものに比して迅速にマスク画像を作
成することができ、迅速に塗装欠陥12を検出すること
ができる。
【0028】実施例の塗装欠陥検出装置20では、塗装
画像の縦横の所定位置の濃度を測定して塗装画像の縦横
の分割数を設定したが、すべての画素の濃度を測定して
塗装画像の縦横の分割数を設定するものとしてもかまわ
ない。また、実施例の塗装欠陥検出装置20では、濃度
測定したポイントを白黒のグループに分類し、列や行に
おける濃度比較する際にポイント数の多いグループにつ
いて濃度グループに分類したが、白黒のグループ分けを
行なわず、すべてのポイントに対して濃度比較するもの
としても差し支えない。さらに、実施例の塗装欠陥検出
装置20では、濃度比較の際の所定濃度(所定階調値)
を階調値で値4としたが、作成しようとしている境界マ
スクがズレて不具合が生じない範囲であれば如何なる値
に設定してもよい。
【0029】実施例の塗装欠陥検出装置20では、濃度
グループを構成する最小のポイント数でその列または行
の対象となる白または黒のグループの濃度ポイントの全
数を除して分割基礎数としたが、各列または行の濃度グ
ループ数を分割基礎数としたり、濃度グループを構成す
る最小のポイント数でその列または行の全ポイント数を
除して分割基礎数としたり、種々の手法により分割基礎
数を求めるものとしてもよい。また、実施例の塗装欠陥
検出装置20では、行および列の最小の分割基礎数を行
および列の分割数として設定したが、行および列の最大
の分割基礎数を行および列の分割数として設定したり、
行および列の分割基礎数の中央値や平均値を行および列
の分割数として設定するなど種々の手法により分割数を
設定するものとしてもよい。
【0030】実施例の塗装欠陥検出装置20では、中間
濃度として抽出する際に用いる所定濃度(所定階調値)
として階調値として値2や値3などを用いたが、明暗パ
ターンの境界部14をマスクできれば如何なる値を用い
てもかまわない。
【0031】実施例の塗装欠陥検出装置20では、マス
ク画像と欠陥強調処理とを重ね合わせて図13に例示す
るような境界部14をマスクする面積の大きな値1
(白)の領域を作成すると共に領域を面積の順にラベリ
ングして2番目以降にラベリングされた領域を塗装欠陥
12として検出したが、欠陥強調画像の各画素のうちマ
スク画像の値1(白)の領域に相当する画素について値
0(黒)とする処理を行ない、処理後の画像に対して値
1(白)の領域を塗装欠陥12として検出するものとし
てもよい。図14に図4の欠陥強調画像と図12のマス
ク画像についてこの処理を施した後の画像の一例を示
す。図示するように、明暗パターンの境界部14は、マ
スク画像の値1(白)の領域により値0(黒)として処
理されるから、塗装欠陥12だけが値1(白)として表
示される。
【0032】以上、本発明の実施の形態について実施例
を用いて説明したが、本発明はこうした実施例に何等限
定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
内において、種々なる形態で実施し得ることは勿論であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例である塗装欠陥検出装置2
0の構成の概略を示す構成図である。
【図2】 実施例の塗装欠陥検出装置20のコンピュー
タ30により実行される塗装欠陥検出処理の一例を示す
フローチャートである。
【図3】 塗装画像の一例を示す説明図である。
【図4】 欠陥強調処理により得られる画像の一例を示
す説明図である。
【図5】 実施例の塗装欠陥検出装置20のコンピュー
タ30により実行されるマスク作成処理の一例を示すフ
ローチャートである。
【図6】 濃度ポイントの一例を示す説明図である。
【図7】 濃度ポイントの濃度を用いたヒストグラムと
濃度の平均との一例を示す説明図である。
【図8】 a行に沿った横方向の濃度比較による濃度グ
ループの分類の様子を例示する説明図である。
【図9】 A列に沿った縦方向の濃度比較による濃度グ
ループの分類の様子の一例を示す説明図である。
【図10】 分割パターンの一例を示す説明図である。
【図11】 分割された画像のヒストグラムと抽出され
た中間濃度の一例を示す説明図である。
【図12】 図3の塗装画像から作成されたマスクの一
例を示す説明図である。
【図13】 図4の欠陥強調画像と図12のマスク画像
を重ね合わせてノイズ除去した画像の一例を示す説明図
である。
【図14】 図4の欠陥強調画像と図12のマスク画像
について変形例の画像処理を施した際の画像の一例を示
す説明図である。
【符号の説明】
10 塗装面、12 塗装欠陥、14 境界部、20
塗装欠陥検出装置、22 照明装置、24 明暗パター
ン、26 電子カメラ、30 コンピュータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F042 AA01 DH09 5B057 AA01 BA24 BA29 CA08 CA16 CB06 CC02 CE02 CE12 CH01 DA03 DA08 DB08 DC19 DC23 5L096 AA07 BA03 CA04 EA43 FA14 FA37 GA07 GA10 GA19

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 塗装欠陥を検出する塗装欠陥検出装置で
    あって、 所定の明暗パターンを用いた照明された塗装面を撮影し
    て塗装画像を生成する塗装画像生成手段と、 該生成された塗装画像を隣接する画素の差分に基づいて
    2値化して検出用画像を作成する検出用画像作成手段
    と、 前記生成された塗装画像を近接する画素の濃度に基づい
    て複数の画面に分割すると共に該分割した画面毎に抽出
    される中間濃度に基づいて前記明暗パターンの境界部を
    マスクするマスク画像を作成するマスク画像作成手段
    と、 前記作成された検出用画像と前記作成されたマスク画像
    とに基づいて塗装欠陥を抽出する塗装欠陥抽出手段とを
    備える塗装欠陥検出装置。
  2. 【請求項2】 前記マスク画像作成手段は、前記生成さ
    れた塗装画像の所定の測定点における濃度を測定する濃
    度測定手段と、該所定の測定点のうち隣接する測定点の
    濃度に基づいて前記塗装画像を複数の画面に分割する画
    面分割手段と、該分割した画面毎に濃度重心に基づいて
    中間濃度を抽出する中間濃度抽出手段と、該抽出された
    中間濃度に基づいて前記明暗パターンの境界部をマスク
    するマスク部を設定してマスク画像を作成する画像作成
    手段とを備える請求項1記載の塗装欠陥検出装置。
  3. 【請求項3】 前記画面分割手段は、前記所定の測定点
    の平均濃度を演算する平均濃度演算手段と、該演算され
    た平均濃度により前記所定の測定点を濃淡の二つに区分
    けする濃淡区分け手段と、前記所定の測定点のうち直交
    する直線上に並ぶ測定点毎に濃淡のいずれかに区分けさ
    れた測定点を濃度が所定階調数異なる毎にグループ化す
    ると共にグループを構成する測定点が最小のグループの
    測定点数でグループ化に係る測定点の総数を除して分割
    基礎数を設定する分割基礎数設定手段と、平行な直線上
    の測定点に対して設定された分割基礎数のうち最小の分
    割基礎数を前記塗装画像の前記平行な直線の方向におけ
    る分割数に設定する分割数設定手段と、該設定された分
    割数に基づいて前記塗装画像を複数の画面に分割する分
    割手段とを備える請求項2記載の塗装欠陥検出装置。
  4. 【請求項4】 塗装欠陥を検出する際に用いるマスク画
    像を作成するマスク画像作成方法であって、(a)所定
    の明暗パターンを用いた照明により塗装面を撮影して得
    られた塗装画像の所定の測定点における濃度を測定し、
    (b)該所定の測定点のうち隣接する測定点の濃度に基
    づいて前記塗装画像を複数の画面に分割し、(c)該分
    割した画面毎に濃度重心に基づいて中間濃度を抽出し、
    (d)該抽出された中間濃度に基づいて前記明暗パター
    ンの境界部をマスクするマスク部を設定してマスク画像
    を作成するマスク画像作成方法。
  5. 【請求項5】 前記ステップ(b)は、(b1)前記所
    定の測定点の平均濃度を演算し、(b2)該演算された
    平均濃度により前記所定の測定点を濃淡の二つに区分け
    し、(b3)前記所定の測定点のうち直交する直線上に
    並ぶ測定点毎に濃淡のいずれかに区分けされた測定点を
    濃度が所定階調数異なる毎にグループ化し、(b4)該
    グループ分けされた各グループを構成する測定点が最小
    のグループの測定点数でグループ化に係る測定点の総数
    を除して分割基礎数を設定し、(b5)平行な直線上の
    測定点に対して設定された分割基礎数のうち最小の分割
    基礎数を前記塗装画像の前記平行な直線の方向における
    分割数に設定し、(b6)該設定された分割数に基づい
    て前記塗装画像を複数の画面に分割するステップである
    請求項4記載のマスク画像作成方法。
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