JP2019531482A - 改良された事象タイプ弁別を用いる放射線検出のためのシステムおよび方法 - Google Patents

Abstract

異なるタイプの放射性事象の間の改良された弁別を提供する、放射線検出システムおよび方法が、本明細書に説明される。単一の設定ではなく、パルス曲線形状に基づく複数の弁別子設定の使用は、驚くべきことに、アルファ事象とベータ事象との間の弁別を改良することが見出されている。結果は、増進された弁別に起因する、効率の最小限の損失を伴って、有意に低下した溢出率を実証する。これらのシステムおよび方法は、極めて低レベルのアルファおよびベータ事象の検出において、および区別しにくいパルス形状を伴う同位体の識別および定量化において、特に重要である。

Description

（関連出願）
本願は、２０１６年１０月２１日に出願された米国仮特許出願第６２／４１１，４４８号に対する優先権およびその利益を主張するものであり、その全体を参照により本明細書中に援用する。

本発明は、概して、試験サンプル中の放射線検出のためのシステムおよび方法に関する。より具体的には、ある実施形態では、本発明は、試験サンプル中の異なる種類の放射性事象（例えば、アルファ対ベータ）の間の改良された弁別を提供する、システム（例えば、液体シンチレーションカウンタ）に関する。

サンプル中に存在する放射性核種は、サンプルから放出される放射線を検出および分析することによって、識別および定量化され得る。これは、飲料水中のトリチウム、ラドン、ラジウム、およびウランの検出、食品中のストロンチウムの検出、食品、アルコール、およびバイオ燃料中の^１４Ｃの検出、原子力発電所からのトリチウムおよび^１４Ｃ排出の評価、原子炉の廃炉中の放射能の監視、石油探索におけるトレーサ測定、吸着、分布、代謝、および排泄（ＡＤＭＥ）研究、生物学的サンプル中の放射性核種の検出（例えば、薬物開発における実行可能な薬物経路の識別）、および考古学的サンプルの放射性炭素年代測定法、および多くの他の生物学および環境状況等の多くの状況で重要である。

サンプル中の放射性核種の放射性崩壊によって引き起こされる事象の検出のために利用可能な種々のシステムおよび分析技法が存在する。サンプルが異なる種類の放射線を放出する複数の放射性核種（例えば、アルファおよびベータ放射体の両方）を含有する場合、またはサンプルが未知のタイプの放射性核種を含有する場合、検出された放射性事象がアルファによって引き起こされるか、ベータによって引き起こされるか、またはガンマ線によって引き起こされるかを決定することが可能であることが、重要である。

例えば、液体シンチレーション計数では、識別されるべき１つ以上の放射性核種を含有する、サンプル材料は、シンチレータ（例えば、蛍光体）とともにサンプル材料を溶解させることが可能な溶媒と混合される。結果として生じる混合物のバイアルは、１つ以上の光電子増倍管を備える検出器の中に設置される。放射性核種が放射性崩壊を受けるとき、放出された崩壊エネルギーは、検出されるシンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす。光の強度は、崩壊エネルギーの関数であり、検出されたパルスの形状は、異なる種類の放射性事象、例えば、アルファ、ベータ、またはガンマ放射線を区別するために使用されることができる。検出器は、試験サンプル中で検出される複数の放射性事象のそれぞれに対応する、パルス信号を生成する。放射性核種の識別および／または数量が、次いで、決定されることができる。

パルス形状は、種々の種類の放射性事象を示し得ることが認識される。例えば、液体シンチレーションカウンタ（ＬＳＣ）によって検出される光のパルスは、そのパルス形状に基づいて、放出されたベータ粒子またはアルファ粒子のいずれかによって引き起こされたものとして分類されることができる。図１は、時間の関数としての正規化された光強度を示すプロットである。アルファパルスは、ベータパルスよりも長いテール（長い崩壊周期）を有する。試験サンプル中の予期される放射性核種に従って、適切な較正サンプルを使用することによって、弁別子が、試験サンプル中の所与の放射性事象をアルファまたはベータ放射線のいずれかとして分類するように導出されることができる。

同様に、米国特許出願公開第ＵＳ２００４／０２６２５３０号は、パルス形状に基づく、中性子およびガンマ線によって生成されるパルスの間の弁別のための技法を提示する。

しかしながら、現在の弁別技法は、特に、極めて低レベルのアルファおよびベータ事象の検出で使用されるとき、およびストロンチウム９０等の区別しにくいパルス形状を伴う同位体を識別するために使用されるときに、アルファ／ベータ誤分類（溢出）に悩まされる。

したがって、試験サンプル中の異なる種類の放射性事象（例えば、アルファ対ベータ）の間の弁別のための改良されたシステムおよび方法の必要性がある。

米国特許出願公開第２００４／０２６２５３０号明細書

異なるタイプの放射性事象の間の改良された弁別を提供する、放射線検出システムおよび方法が、本明細書で提示される。単一の設定ではなく、パルス曲線形状に基づく複数の弁別子設定の使用は、驚くべきことに、アルファ事象とベータ事象との間の弁別を改良することが見出されている。結果は、増進された弁別に起因する、効率の最小限の損失を伴って、有意に低下した溢出率を実証する。これらのシステムおよび方法は、極めて低レベルのアルファおよびベータ事象の検出において、および区別しにくいパルス形状を伴う同位体の識別および定量化において、特に重要である。

さらに、例えば、双方向ヒストグラム表示を介して、ユーザが複数の弁別子設定を調節することを可能にし、弁別正確度と効率との間のトレードオフの自己選択を可能にする、システムおよび方法が、本明細書で提示される。他の実施形態では、本システムおよび方法は、誤分類エラーを最小限にし、効率を最大限にする、性能指数に基づいて、複数の弁別子設定を自動的に決定する。

一側面では、本発明は、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための方法を対象とし、該方法は、試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、コンピューティングデバイスのプロセッサによって、パルス形状の測定値を取得するステップであって、測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ステップと、プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートするステップであって、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ステップと、プロセッサによって、第１の種類の放射性核種の測定値および第２の種類の放射性核種の測定値を表示するステップとを含む。

ある実施形態では、２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える。

ある実施形態では、複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、第１の弁別子設定は、第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、第１の種類の放射性核種の測定値は、第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、第２の種類の放射性核種の測定値は、第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

別の側面では、本発明は、少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える、試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための方法を対象とし、該方法は、コンピューティングデバイスのプロセッサによって、試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第１の較正放射性核種を備える、第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信するステップと、プロセッサによって、試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第２の較正放射性核種を備える、第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信するステップと、プロセッサによって、パルス形状の対応する測定値の関数として、第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示するステップと、プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にする、グラフィカルユーザインターフェース要素を表示するステップであって、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定を下回る場合、第１の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第２の弁別子設定を上回る場合、第２の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ステップと、プロセッサによって、第１および第２の弁別子設定を定義する、グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信するステップと、プロセッサによって、グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示するステップと、プロセッサによって、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信するステップと、プロセッサによって、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示するステップと、プロセッサによって、試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得するステップと、プロセッサによって、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートするステップと、プロセッサによって、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、試験サンプル中の第１の放射性核種および試験サンプル中の第２の放射性核種の測定値を表示するステップとを含む。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、試験サンプル中の第２の放射性核種は、アルファ放射体である。ある実施形態では、（ｉ）第１の較正サンプル、（ｉｉ）第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する。

ある実施形態では、第１の較正サンプルは、第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または第２の較正サンプルは、第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える。

ある実施形態では、調節された設定は、ユーザ調節設定である。

ある実施形態では、本方法は、プロセッサによって、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートするステップを含む。ある実施形態では、本方法は、プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートするステップを含み、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定と調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される。

ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、調節された第１の弁別子設定は、調節された第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の種類の放射性核種の測定値は、調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、試験サンプル中の第２の種類の放射性核種の測定値は、調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

別の側面では、本発明は、少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える、試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を自動的に最適化するための方法を対象とし、該方法は、コンピューティングデバイスのプロセッサによって、試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体（例えば、ベータ放射体）である、またはそれに類似する、第１の較正放射性核種を備える、第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信するステップと、プロセッサによって、試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第２の較正放射性核種を備える、第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信するステップと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、プロセッサによって、第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を決定するステップであって、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定を下回る場合、第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第２の弁別子設定を上回る場合、第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ステップと、プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する、性能指数（ＦＯＭ）を算出するステップであって、ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ステップと、プロセッサによって、許容可能に高いＦＯＭを生成する、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定を決定するステップと、プロセッサによって、試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得するステップと、プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートするステップと、プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定に従って、試験サンプル中の第１の放射性核種および試験サンプル中の第２の放射性核種の測定値を表示するステップとを含む。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、試験サンプル中の第２の放射性核種は、アルファ放射体である。

ある実施形態では、（ｉ）第１の較正サンプル、（ｉｉ）第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する。

ある実施形態では、第１の較正サンプルは、第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または第２の較正サンプルは、第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される。

ある実施形態では、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定は、ＦＯＭを最大限にする、最適化された設定である。

ある実施形態では、本方法は、プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートするステップを含み、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定と許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される。

ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、許容された第１の弁別子設定は、許容された第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、第１の放射性核種の測定値は、許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、第２の放射性核種の測定値は、許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

別の側面では、本発明は、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための放射線検出システムを対象とし、該システムは、試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応する、パルス信号を生成するための検出器と、プロセッサと、メモリであって、メモリは、その上に記憶された命令を有し、命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、試験サンプル中の複数の検出された放射性事象毎に、対応するパルス信号からパルス形状の測定値を取得することであって、測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ことと、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることであって、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ことと、第１の種類の放射性核種の測定値および第２の種類の放射性核種の測定値を表示することとを行わせる、メモリとを備える。

ある実施形態では、２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える。

ある実施形態では、検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える、液体シンチレーションカウンタである。

ある実施形態では、試験サンプルは、サンプル材料と、サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える、混合物であり、サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出されるシンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす。ある実施形態では、シンチレータは、蛍光体である。

ある実施形態では、対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、第１の弁別子設定は、第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、第１の種類の放射性核種の測定値は、第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、第２の種類の放射性核種の測定値は、第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

別の側面では、本発明は、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種の定量化のための自動較正を特徴とする放射線検出システムを対象とし、該システムは、試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応する、パルス信号を生成するための検出器と、プロセッサと、メモリであって、メモリは、その上に記憶された命令を有し、命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第１の較正放射性核種を備える、第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第２の較正放射性核種を備える、第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を自動的に決定することであって、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定を下回る場合、第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第２の弁別子設定を上回る場合、第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する、性能指数（ＦＯＭ）を算出することであって、ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ことと、許容可能に高いＦＯＭを生成する、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定を決定することと、試験サンプル中の複数の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定に従って、試験サンプル中の第１の放射性核種および試験サンプル中の第２の放射性核種の測定値を表示することとを行わせる、メモリとを備える。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、試験サンプル中の第２の放射性核種は、アルファ放射体である。

ある実施形態では、検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える、液体シンチレーションカウンタである。

ある実施形態では、試験サンプルは、サンプル材料と、サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える、混合物であり、サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出されるシンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす。ある実施形態では、シンチレータは、蛍光体である。

ある実施形態では、対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である。

ある実施形態では、第１の較正サンプルは、第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または第２の較正サンプルは、第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される。

ある実施形態では、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定の許容された設定は、ＦＯＭを最大限にする、最適化された設定である。

ある実施形態では、命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、固有の第１および第２の弁別子設定を使用して、有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定と許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される。

ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、許容された第１の弁別子設定は、許容された第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、第１の放射性核種の測定値は、許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、第２の放射性核種の測定値は、許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

別の側面では、本発明は、試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための放射線検出システムを対象とし、該システムは、試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応する、パルス信号を生成するための検出器と、プロセッサと、メモリであって、メモリは、その上に記憶された命令を有し、命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第１の較正放射性核種を備える、第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体である、またはそれに類似する、第２の較正放射性核種を備える、第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、パルス形状の対応する測定値の関数として、第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示することと、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にする、グラフィカルユーザインターフェース要素を表示することであって、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定を下回る場合、第１の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第２の弁別子設定を上回る場合、第２の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状値が第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、第１および第２の弁別子設定を定義する、グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信することと、グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信することと、試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、試験サンプル中の第１の放射性核種および試験サンプル中の第２の放射性核種の測定値を表示することとを行わせる、メモリとを備える。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、試験サンプル中の第２の放射性核種は、アルファ放射体である。

ある実施形態では、検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える、液体シンチレーションカウンタである。

ある実施形態では、試験サンプルは、サンプル材料と、サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える、混合物であり、サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出されるシンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす。ある実施形態では、シンチレータは、蛍光体である。

ある実施形態では、対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である。

ある実施形態では、第１の較正サンプルは、第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または第２の較正サンプルは、第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない。

ある実施形態では、パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値である、またはその関数である。

ある実施形態では、区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える。

ある実施形態では、調節された設定は、ユーザ調節設定である。

ある実施形態では、命令は、プロセッサに、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、試験サンプル中の有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートさせる。

ある実施形態では、命令は、プロセッサに、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定と調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される。ある実施形態では、事象は、そのパルス形状が調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、事象は、そのパルス形状が調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、調節された第１の弁別子設定は、調節された第２の弁別子設定よりも低い。ある実施形態では、ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、第１の種類の放射性核種から生じる事象、第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む。

ある実施形態では、試験サンプル中の第１の種類の放射性核種の測定値は、調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、試験サンプル中の第２の種類の放射性核種の測定値は、調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である。

本発明の一側面に関して説明される実施形態は、本発明の別の側面に適用され得る（例えば、１つの独立請求項（例えば、方法の請求項）に関して説明される実施形態の特徴は、他の独立請求項（例えば、システムの請求項）の他の実施形態に適用可能であると考慮され、その逆も同様である）。

本発明の前述および他の目的、側面、特徴、および利点が、より明白となり、付随する図面と併せて検討される以下の説明を参照することによって、より深く理解され得る。

図１Ａは、アルファ放射体対ベータ放射体と関連付けられる異なるパルス形状を実証する、時間の関数として液体シンチレーションカウンタ（ＬＳＣ）によって測定されるような正規化された光強度を示す、プロットである。

図１Ｂは、直線によってパルス振幅／長さ平面を２つの部分に分割することによる、アルファおよびベータスペクトルへのパルスの分割を示す、プロットであり、線の上方のパルスは、長パルススペクトル（アルファスペクトル）の中へ指向され、線の下方のパルスは、短パルススペクトル（ベータスペクトル）の中へ指向される。

図１Ｃは、ベータ放射からアルファ放射を分離する閾値ＰＳＡ値（単一の弁別子）の決定を実証する、垂直軸として正規化されたパルス長を伴う１Ｂに示されるデータのプロットである。

図２Ａは、本発明の例証的実施形態による、試験サンプル中の放射性核種の定量化のための１つ以上の弁別子設定の調節のためのグラフィカルユーザインターフェースヒストグラム要素を示す。

図２Ｂは、本発明の例証的実施形態による、（単一の）ＰＳＡ弁別子設定の関数として溢出率（ベータとして計数されるアルファ率およびアルファとして計数されるベータ率）を描写する、グラフィカルユーザインターフェース要素（ウィンドウ）を示す。

図２Ｃは、本発明の例証的実施形態による、同一の設定が下限弁別子および上限弁別子として選定される、複数のＰＳＡ弁別子設定の関数として溢出率（ベータとして計数されるアルファ率およびアルファとして計数されるベータ率）を描写する、グラフィカルユーザインターフェース要素（ウィンドウ）を示す。

図２Ｄは、本発明の例証的実施形態による、下限弁別子および上限弁別子が異なる、複数のＰＳＡ弁別子設定の関数として溢出率（ベータとして計数されるアルファ率およびアルファとして計数されるベータ率）を描写する、グラフィカルユーザインターフェース要素（ウィンドウ）を示す。

図３は、本発明の例証的実施形態による、複数の所定の弁別子設定を使用して、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための方法のブロックフロー図である。

図４は、本発明の例証的実施形態による、試験サンプル中の放射性核種の定量化のための調節された弁別子設定の使用が後に続く、グラフィカルユーザインターフェース要素を介したユーザ較正中の複数の弁別子設定の調節を可能にするための方法のブロックフロー図である。

図５は、本発明の例証的実施形態による、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための複数の弁別子設定の自動決定のための方法のブロックフロー図である。

図６は、例証的実施形態による、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種の定量化のための液体シンチレーション計数システムのブロック図である。

図７は、本開示の例証的実施形態で使用するための例示的コンピューティングデバイスおよび例示的モバイルコンピューティングデバイスのブロック図である。

図８は、本開示の例証的実施形態で使用するための例示的コンピューティング環境のブロック図である。

請求される発明のシステム、デバイス、方法、およびプロセスは、本明細書に説明される実施形態からの情報を使用して開発される、変形例および適合を包含することが考慮される。本明細書に説明されるシステム、デバイス、方法、およびプロセスの適合および／または修正は、当業者によって実施され得る。

説明全体（物品、デバイス、およびシステムが、具体的コンポーネントを有する、含む、または備えるものとして説明される、またはプロセスおよび方法が、具体的ステップを有する、含む、または備えるものとして説明される）を通して、加えて、列挙されるコンポーネントから本質的に成る、またはそれから成る、本発明の物品、デバイス、およびシステムが存在すること、および列挙される処理ステップから本質的に成る、またはそれから成る、本発明によるプロセスおよび方法が存在することが考慮される。

本発明が動作可能なままである限り、ステップの順序またはあるアクションを実施するための順序は、重要ではないことを理解されたい。さらに、２つ以上のステップまたはアクションは、同時に行われてもよい。

例えば、背景技術の節の中の任意の出版物の本明細書での言及は、出版物が本明細書に提示される請求項のうちのいずれかに関して従来技術としての役割を果たすことを承認するわけではない。背景技術の節は、明確にする目的のために提示され、いかなる請求項に関しても従来技術の説明として意図されない。

Ｗａｌｔｈａｍ（ＭＡ）に本社があるＰｅｒｋｉｎＥｌｍｅｒ製のＱｕａｎｔｕｌｕｓ（ＴＭ）ＧＣＴ ＬＳＣおよびＴｒｉ−Ｃａｒｂ（Ｒ）ＬＳＣ製品ライン等の液体シンチレーションカウンタシステムは、試験サンプル中の放射性核種の高度に精密な定量化のために有用である。放射性事象の間の弁別、特に、改良された弁別のためのＬＳＣシステムにおけるアルファ／ベータ誤分類（溢出）の低減に対処する、システムおよび方法が、本明細書で提示される。

単一のアルファ／ベータ弁別子値の使用は、有用であるが、ある用途に対する事象の比較的高いレベルの誤分類を生成し得る。例えば、パルス形状分析（ＰＳＡ）値が、特定の事象に関して算出され、事象がアルファ事象を表すかまたはベータ事象を表すかを決定するように、単一の弁別子値に対して比較される。ある実施形態では、所与の事象のＰＳＡ値は、事象の少なくとも一部（例えば、ピーク後の一部として定義される事象のテール、または曲線の別の部分（または全て））に関するエネルギー曲線の総和で除算される、事象の正規化されたピークエネルギーとして算出される。ＰＳＡ値は、値がアルファ事象とベータ事象との間の弁別を可能にする限り、いくつかの方法で測定されることができ、アルファ事象は、図１Ａで描写されるように、比較的長いテールを有することが公知である。例えば、いくつかの実施形態では、ＰＳＡ値は、パルス長で除算されるパルス振幅（全信号）の測定値である。いくつかの実施形態では、ＰＳＡ値は、正規化されたパルス長（例えば、パルス振幅に正規化されたパルス長）で除算されるパルス振幅の測定値である。ここで挙げられる数量のうちのいずれかに関して、その逆数もまた、弁別子として使用されることができる。単一の弁別子が存在する場合、所与の事象のＰＳＡは、事象がアルファであるかまたはベータであるかを決定するように弁別子に対して比較される。

図１Ｂは、アルファ／ベータパルス振幅（エネルギー）が、３次元計数対パルス振幅およびパルススペクトルに変換される、パルス高対パルス長のプロットである。パルスは、直線でパルス振幅／長さ平面を２つの部分に分割することによって、アルファおよびベータスペクトルに分離されることができる。線の上方のパルスが、長パルススペクトルの中へ指向され、アルファ（例えば、図１Ｂに示されるＲａ−２２６、Ｒａ−２２２、Ｐｏ−２１８、およびＰｏ−２１４）として識別される一方で、線の下方のパルスは、短パルススペクトルの中へ指向され、ベータ（例えば、図１Ｂに示されるＰｂ−２１４およびＢｉ−２１４）として識別される。設定は、種々の溶媒、蛍光体、およびクエンチレベルと一致するように選定されることができる。図１Ｃは、図１Ｂのデータのプロットであるが、垂直軸として正規化されたパルス長を伴う。単一のＰＳＡ弁別子値は、ベータ放射体からアルファ放射体を分割する水平線として示される。

ベータ同位体ストロンチウム９０（^９０Ｓｒ）等のいくつかの同位体は、それらのパルス形状に起因して、他のものよりも区別することが困難である。例証として、単一の弁別子設定を用いたＴｒｉ−Ｃａｒｂ（Ｒ）ＧＬＯ製品ラインを使用して、誤分類エラー（溢出）が、ベータ放射体^９０Ｓｒおよびアルファ放射体アメリシウム２４１（^２４１Ａｍ）を用いると１．５４％／１．５８％（アルファの中への溢出／ベータの中への溢出）である一方で、同一の器具を使用する誤分類エラーは、ベータ放射体塩素３６（^３６Ｃｌ）およびアルファ放射体^２４１Ａｍに関して有意により低く、０．２２％／０．２３％である。

驚くべきことに、ゼロではない値（例えば、間隙または溝）によって分離される複数の（例えば、第１および第２の）弁別子設定の使用は、有意に低減された誤分類エラーをもたらす一方で、結果として生じる効率の損失（「不確定」としての分類に起因する事象損失率）を最小限にすることのユーザ融通性を可能にすることが見出されている。例えば、間隙が大きいほど、効率の損失が大きくなるが、いくつかの用途に関して、トレードオフは、それだけの価値があるため、利用可能な調節オプションを有することが重要である。ある実施形態では、本明細書に説明されるようなグラフィカルユーザインターフェースは、溢出／効率トレードオフが、はるかに少ない時間で、より好ましい結果を伴って設定されることができるように、調節可能な弁別子値を伴うヒストグラムの提示を介して複数の弁別子設定を決定する際に、より直観的で、より融通性のあるユーザ体験を提供する。これは、増加した融通性および複数の弁別子設定の溢出低減を提供することに加えて、アルファ／ベータ弁別子設定のために要求された以前の時間を、１時間超からわずか数分に短縮する。

下記の表１は、^９０Ｓｒ（純ベータ放射体）および^２４１Ａｍ（純アルファ放射体）に関してベータ事象およびアルファ事象として分類される検出された事象を比較する。第１の実施例は、下限および上限弁別子設定の両方のための１４１のＰＳＡの使用を示す。アルファおよびベータ事象の著しく誤った特性評価が存在する（アルファとして誤って特性評価された１．５４％ベータ事象およびベータとして誤って特性評価された１．５８％アルファ事象）。弁別子の間のＰＳＡ値を伴う事象が不確定と見なされるように、２つの弁別子設定を選定することによって、溢出が、低減される。故に、第２の実施例は、単一の弁別子設定の使用と比較すると有意な低減である、０．３９％のアルファの中への溢出率および０．５２％のベータの中への溢出率をもたらす、下限弁別子設定としての１２８および上限弁別子設定としての１６０の使用を示す。それらのＰＳＡ値が２つの弁別子設定の間に該当することに起因する事象損失率が、^９０Ｓｒに関して６．８６％、^２４１Ａｍに関して３．０５％であることに留意されたい。本効率の損失は、ユーザの必要性に応じて、所与の用途に関して許容可能であり得る。表１に示される第３の実施例は、さらなる効率の損失を伴うが、さらなる溢出の低減をもたらす、上限弁別子設定と下限弁別子設定との間のさらに大きい間隙を示す。

したがって、上限および下限ＰＳＡ値弁別子設定を組み込むと、^２４１Ａｍおよび^９０Ｓｒアルファ／ベータ分離溢出が、約１．５％（間隙なし）から幅が３２ＰＳＡ値の間隙を伴う０．５％溢出まで低減された。効率損失は、７％未満であった。より高い効率損失が許容され得る（例えば、約１９％）場合、０．３％未満の溢出が、より広い間隙、例えば、６４ＰＳＡ値を使用して、達成されることができる。

図２Ａは、試験サンプル中の放射性核種の定量化のための複数の弁別子設定の調節を可能にする、ヒストグラムプロットを特徴とする、グラフィカルユーザインターフェース要素を描写する。ヒストグラムユーザインターフェース要素の使用は、ユーザが特定の用途に対する最適弁別値を見出すために必要とされる時間を、１時間超からわずか数分に短縮する。ある実施形態では、ヒストグラムは、使用する弁別子設定および間隙の量を迅速に最適化するために使用され得る、アルファ／ベータ標準検定のためのＰＳＡ値（ｘ軸）対カウント数（ｙ軸）および効率（第２のｙ軸）のプロットである。本明細書で使用されるように、グラフィカルユーザインターフェース要素は、ウィンドウ、スライダ、トグル、チェックボックス、ドロップボックス、ラジオボタン、線、線のセット、影付きエリア、または任意の他のグラフィックオブジェクト、または上記の任意の組み合わせであり得、それを用いて、ユーザは、ディスプレイを介して相互作用し、１つ以上の設定を調節することができる。

図２Ａは、所与の算出されたＰＳＡ値（またはＰＳＡ値範囲またはビン）を有する事象の数（計数）を示す、ヒストグラムを描写する。所与のＰＳＡ値を有する^３６Ｃｌ（既知のベータ）を含有する較正サンプルから検出される、事象の数は、（左のピークに対応して）青色で描写され、所与のＰＳＡ値を有する^２４１Ａｍ（既知のアルファ）を含有する較正サンプルから検出される、事象の数は、（右のピークに対応して）赤色で描写される。約１２０〜約１３０のＰＳＡ値の範囲内の２つのピークの間に、ある程度の重複が存在することに留意されたい。

図２Ｂは、（単一の）ＰＳＡ弁別子設定の関数として溢出率を描写する、グラフィカルユーザインターフェース要素を示す。ＧＵＩは、例えば、弁別子値が入力され得るテキストボックス、プロット上で調節され得る垂直線、またはスライダバーであり得る。本ＧＵＩは、ユーザがＰＳＡ弁別子設定を調節し、それによって、２つの異なる溢出数量率を調節することを可能にする。すなわち、任意の所与のＰＳＡ弁別子設定において、所与の設定を使用して、ベータとして誤って計数されるアルファ率およびアルファとして誤って計数されるベータ率が存在するであろう。所与の用途に関して、ＰＳＡ弁別子設定較正後に実行されるべき試験サンプル中の最も着目される種に応じて、１つの種類の溢出を別の種類と対比して最小限にすることが、より重要であり得る。

図２Ｃは、２つのＰＳＡ弁別子、すなわち、下限弁別子および上限弁別子の関数として溢出率を描写する、グラフィカルユーザインターフェース要素を示す。溢出率（ベータとして計数されるアルファ率およびアルファとして計数されるベータ率の両方）の値は、アルファ標準およびベータ標準を使用して、所与の較正設定に関して弁別子設定（ｘ値）の範囲にわたってｙ値としてプロットされる。チェックボックスは、ユーザが、ここで選択されるように、単一の弁別子として、ベータとして計数されるアルファおよびアルファとして計数されるベータの曲線の交差を自動的に選択することを可能にすることができ、弁別子は、１１５のＰＳＡ値に設定される。

図２Ｄは、図２Ｃからのグラフィカルユーザインターフェース要素を示すが、２つの異なる弁別子値、すなわち、下限弁別子値および上限弁別子値が選択されている。上記で解説されるように、下限弁別子値を下回るＰＳＡを伴う事象は、タイプ１（例えば、ベータ）と見なされ、上限弁別子値を上回るＰＳＡを伴う事象は、タイプ２（例えば、アルファ）と見なされ、上限弁別子値と下限弁別子値との間のＰＳＡを伴う事象は、不確定と見なされる。ゼロではない数の不確定事象が存在するため、効率は、上限および下限弁別子の選定によって影響を受けるであろう。ＧＵＩは、上限および下限弁別子の選定に応じて変動する、効率および溢出率の両方の関数である、性能指数を示す。ユーザは、本システムに、所与の較正設定のための性能指数を最大限にする下限および上限弁別子を自動的に選択させることを選択してもよい。ユーザはまた、対応するテキストボックスの中に弁別子値を入力することによって、トグルを調節することによって、および／または弁別子値を表すプロット上の垂直線を調節することによってのいずれかで、ＧＵＩを操作することによって、上限および下限弁別子を調節することを決定してもよい。

図３は、例証的実施形態による、複数の所定の弁別子設定を使用して、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための方法３００のブロックフロー図である。ステップ３１０では、パルス形状の測定値が、検出された事象毎に取得される。例えば、事象は、シンチレータシステム、例えば、ＬＳＣを使用して検出されてもよく、検出された事象毎のＰＳＡ値が、本明細書の他の場所に説明されるように算出されてもよい。所与の試験サンプルに関して、較正研究は、試験サンプル中に存在することが予期される放射性核種と同一である、またはそれに類似する、放射性核種を含有する標準を使用して、試験サンプル行程に先立って行われている場合があり、上限および下限ＰＳＡ弁別子設定は両方とも、自動的に決定されているか、または較正研究に基づいてユーザによって設定されているかのいずれかである。ステップ３２０では、試験サンプル行程からの各検出された事象は、そのパルス形状の測定値（例えば、ＰＳＡ値）が、下限弁別子設定を下回るか、上限弁別子設定を上回るか、または下限設定と上限設定との間であるかに基づいて、タイプ１、タイプ２、または不確定のいずれかとしてソートされる。次いで、ステップ３３０では、タイプ１およびタイプ２放射性核種の測定値が、表示される。

ある実施形態では、図３のステップ３３０におけるタイプ１およびタイプ２放射性核種の測定値は、単純に、ソートされた計数自体（例えば、未加工カウント数、割合、または検出された計数に基づく他の定量化）である。他の実施形態では、測定値は、サンプル中の放射性核種の濃度である。さらに、ある実施形態では、タイプ１放射体である、サンプル中に存在する１つを上回る種の放射性核種が存在してもよい、および／またはタイプ２放射体である、サンプル中に存在する１つを上回る種の放射性核種が存在してもよい。サンプル中の所与のタイプの種のさらなる識別または定量化は、ＰＳＡ値、またはＬＳＣによって検出される他の値を使用して、および／または別の分析技法（例えば、液体または固体シンチレーション、分光分析、質量分析（例えば、ＩＣＰ−ＭＳ）、ＨＰＧｅおよび／またはＮａＩシステム、ＸＲＦシステム、ガイガー＝ミュラー計数管、ガス流比例計数管（ＧＰＣ）、および／または加圧イオン化チャンバ（ＰＩＣ））の使用によって、行われてもよい。これらの技法は、単独で、または組み合わせて、使用されることができる。すなわち、（例えば、アルファ対ベータ、アルファ対ガンマ、ベータ対ガンマ、またはアルファ対ベータ対ガンマ弁別のための）本明細書に説明される放射線タイプ弁別技法に加えて、所与のカテゴリ（例えば、アルファ、ベータ、またはガンマ放射体）内のサンプル中の放射性核種の識別および／または数量の決定はまた、（例えば、ＬＳＣと組み合わせて使用される）１つ以上の付加的分析技法によるサンプルの分析を含んでもよい。さらに、ＬＳＣを使用する、本明細書に説明される弁別技法は、公知の方法による、溶媒、蛍光体、およびクエンチの選択肢を構成し得る。

ある実施形態では、ＬＳＣプロセスは、２０１６年３月２９日に発行された、米国特許第９，２９７，９０９号「Ｇｕａｒｄ Ｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙ Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ ａｎｄ Ｍｅｔｈｏｄ」に説明されるように、保護補償技術を実装し得る。ＬＳＣシステムは、検定を再実行することなく、測定パラメータの変更を可能にする、再生検定再処理を特徴とし得る。ＬＳＣシステムはまた、高いサンプルスループット（例えば、一度に１００個を上回る、２００個を上回る、または４００個を上回るバイアルを実行する）を提供し得る。

図４は、試験サンプル中の放射性核種の定量化のための調節された弁別子設定の使用が後に続く、公知の標準を用いたユーザ較正中の複数の弁別子設定の調節を可能にする方法４００のブロックフロー図である。試験サンプル中に存在することが予期される放射性核種と同一である、またはそれに類似する、較正標準が、例えば、使用されることができる。ステップ４１０では、パルス形状の測定値（例えば、ＰＳＡ）が、第１のタイプの放射性核種（例えば、アルファ、ベータ、またはガンマ）を有する第１の較正サンプル中で検出される事象毎に取得され、ステップ４２０では、パルス形状の測定値が、第１のタイプと異なる第２のタイプの放射性核種（例えば、アルファ、ベータ、またはガンマ）を有する第２の較正サンプル中で検出される事象毎に取得される。ステップ４３０では、ＰＳＡの関数として区別された事象を示すヒストグラムが、表示される。代替として、または加えて、溢出率のプロットが、ＰＳＡの関数として示される。ステップ４４０では、ＧＵＩ要素が、第１および第２の（例えば、上限および下限）弁別子設定の調節のために表示される。ある実施形態では、設定は、異なる値を有する。ステップ４５０では、第１および第２の弁別子設定が、受信され（溢出率、効率、または他の値を算出するようにルーチンの一部として自動的に受信されるか、またはユーザによって行われる選択として受信されるかのいずれかである）、次いで、溢出率および効率値が、それらの第１および第２の弁別子設定に関して算出および表示される。ステップ４６０では、調節された第１および第２の弁別子設定が、受信され（ルーチンの一部として自動的に調節されるか、またはユーザ選択によって調節されるかのいずれかである）、次いで、溢出率および効率値が、それらの調節された第１および第２の（上限および下限）弁別子設定に関して算出および表示される。ステップ４６０は、自動的に（例えば、性能指数値の最大限化を介して）、またはユーザによって決定されるようにのいずれかで、所望の最終設定が達成されるまで、第１および第２の弁別子設定の種々のセットに関して繰り返されることができる。

最終的な第１および第２の（例えば、上限および下限）弁別子設定が、ＬＳＣ（または他の放射性事象検出器システム）を使用して、較正行程から設定されているため、試験サンプルは、ＬＳＣ（または他の検出器システム）の中で実行されてもよい。したがって、ステップ４７０では、パルス形状の測定値が、試験サンプル中の検出された事象毎に取得される。次いで、図３のステップ３２０および３３０に関して解説されるように、各事象は、較正行程から決定される弁別子設定（例えば、上限および下限設定）を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、タイプ１事象、タイプ２事象、または不確定事象としてソートされ（ステップ４８０）、試験サンプル中のタイプ１およびタイプ２放射性核種の測定値が、算出および表示される（ステップ４９０）。

図５は、図４のものに類似する方法のブロックフロー図であり、すなわち、本方法は、較正中の複数の弁別子設定の決定、次いで、それらの設定を使用して、試験サンプル中の放射性核種の測定を提供するが、しかしながら、図５では、複数の弁別子設定が、自動的に選択される。したがって、較正中に、ステップ５１０は、第１の較正サンプル中の事象毎にパルス形状の測定値（例えば、ＰＳＡ）を取得するステップであり、ステップ５２０は、第２の較正サンプル中の事象毎にパルス形状の測定値（例えば、ＰＳＡ）を取得するステップであり、次いで、ステップ５３０は、性能指数を最大限にするための第１および第２の（例えば、上限および下限）パルス形状値弁別子設定の自動決定である。性能指数は、例えば、下記の段落でより詳細に示されるように、効率および溢出率の関数であり得る。次いで、試験サンプルに関して、パルス形状の測定値が、試験サンプル中で検出される事象毎に取得され（ステップ５４０）、各事象が、第１および第２の弁別子設定（例えば、上限および下限弁別子設定）を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、タイプ１、タイプ２、または不確定としてソートされ（ステップ５５０）、次いで、タイプ１およびタイプ２放射性核種の測定値が、取得および表示される（ステップ５６０）。

例証目的のために、下記のＣ言語コードとして提示される、図５の方法のステップ５３０における第１および第２の弁別子設定の自動決定のためのコードの実施例が、下記に提示される。
「ＲｅａｄＡＢＨｉｓｔｏｇｒａｍ（ ）；」関数は、純アルファおよび純ベータ較正サンプルを計数することによって生成される、ＰＳＡヒストグラムデータを取得する。
効率は、事象の実際の数で除算される、事象の検出された数である。溢出は、誤って分類されたアルファまたはベータ事象の数である。効率および溢出は両方とも、ＰＳＡ弁別値毎に異なり得る。
本実施例では、性能指数（ＦＯＭ）は、Ｓ／Ｎと同様に、効率＾２／溢出として算出され、各ＰＳＡ弁別設定においてアルファ事象およびベータ事象に関して決定される。
いったんＦＯＭが計算されると、高いおよび低いＰＳＡ弁別値のペアに関するＦＯＭが、算出される。２つのうちの最も高い最小値を伴うペアに関するＰＳＡ弁別子値が、最適として提示される。例えば、１つのペアが２００（アルファ）および３０（ベータ）のＦＯＭを有し、別のペアが１００（アルファ）および４０（ベータ）のＦＯＭを有する場合、１００−４０ペアが、最も高い最小ＦＯＭを有するであろう。

本明細書で提示される具体的方法に加えて、請求される主題の範囲内の２つの弁別子設定（および２つの設定の間の差）を決定する他の方法が存在する。

さらに、実施形態は、２つの事象タイプの間を区別することに関して上記で説明されるが、本明細書に説明される技法は、３つ以上の事象タイプの間を区別するために適用され得ることが理解され、そのような技法は、請求される主題の範囲内であることが理解される。

図６は、本明細書に説明される技法を使用する、試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種の定量化のための液体シンチレーション計数（ＬＳＣ）システム６００のブロック図である。例えば、識別されるべき１つ以上の放射性核種を含有する、サンプル材料（６５０）は、シンチレータ（例えば、蛍光体）（６７０）とともにサンプルを溶解させることが可能な溶媒（６６０）と混合される。結果として生じる試験サンプル混合物（６４０）のバイアル（または他のコンテナ）は、１つ以上の光電子増倍管（ＰＭＴ）を備えるＬＳＣ検出器（６１０）の中に設置される。図６では、２つのＰＭＴ、すなわち、６２０および６３０が、示されている。放射性核種が放射性崩壊を受けるとき、放出された崩壊エネルギーは、検出されるシンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす。光の強度は、崩壊エネルギーの関数であり、検出されたパルスの形状は、異なる種類の放射性事象、例えば、アルファ、ベータ、またはガンマ放射線の間を区別するために使用されることができる。検出器は、試験サンプル中で検出される複数の放射性事象のそれぞれに対応する、パルス信号を生成する。放射性核種の識別および／または数量が、次いで、決定されることができる。本システムはまた、プロセッサと、メモリとを含み、該メモリは、その上に記憶された命令を有し、命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、本明細書に説明される事象タイプ弁別方法を実施させる。

図７は、本明細書に説明される方法およびシステムで使用するための例証的ネットワーク環境７００を示す。要するに、ここで図７を参照すると、例示的クラウドコンピューティング環境７００のブロック図が、示され、説明される。クラウドコンピューティング環境７００は、１つ以上のリソースプロバイダ７０２ａ、７０２ｂ、７０２ｃ（集合的に７０２）を含んでもよい。各リソースプロバイダ７０２は、コンピューティングリソースを含んでもよい。いくつかの実装では、コンピューティングリソースは、データを処理するために使用される任意のハードウェアおよび／またはソフトウェアを含んでもよい。例えば、コンピューティングリソースは、アルゴリズム、コンピュータプログラム、および／またはコンピュータアプリケーションを実行することが可能なハードウェアおよび／またはソフトウェアを含んでもよい。いくつかの実装では、例示的コンピューティングリソースは、記憶および読出能力を伴うアプリケーションサーバおよび／またはデータベースを含んでもよい。各リソースプロバイダ７０２は、クラウドコンピューティング環境７００内の任意の他のリソースプロバイダ７０２に接続されてもよい。いくつかの実装では、リソースプロバイダ７０２は、コンピュータネットワーク７０８を経由して接続されてもよい。各リソースプロバイダ７０２は、コンピュータネットワーク７０８を経由して、１つ以上のコンピューティングデバイス７０４ａ、７０４ｂ、７０４ｃ（集合的に７０４）に接続されてもよい。

クラウドコンピューティング環境７００は、リソースマネージャ７０６を含んでもよい。リソースマネージャ７０６は、コンピュータネットワーク７０８を経由して、リソースプロバイダ７０２およびコンピューティングデバイス７０４に接続されてもよい。いくつかの実装では、リソースマネージャ７０６は、１つ以上のリソースプロバイダ７０２による、１つ以上のコンピューティングデバイス７０４へのコンピューティングリソースの提供を促進してもよい。リソースマネージャ７０６は、特定のコンピューティングデバイス７０４からコンピューティングリソースの要求を受信してもよい。リソースマネージャ７０６は、コンピューティングデバイス７０４によって要求されるコンピューティングリソースを提供することが可能な１つ以上のリソースプロバイダ７０２を識別してもよい。リソースマネージャ７０６は、コンピューティングリソースを提供するリソースプロバイダ７０２を選択してもよい。リソースマネージャ７０６は、リソースプロバイダ７０２と特定のコンピューティングデバイス７０４との間の接続を促進してもよい。いくつかの実装では、リソースマネージャ７０６は、特定のリソースプロバイダ７０２と特定のコンピューティングデバイス７０４との間の接続を確立してもよい。いくつかの実装では、リソースマネージャ７０６は、特定のコンピューティングデバイス７０４を、要求されたコンピューティングリソースを伴う特定のリソースプロバイダ７０２にリダイレクトしてもよい。

図８は、本開示に説明される方法およびシステムで使用され得る、コンピューティングデバイス８００およびモバイルコンピューティングデバイス８５０の実施例を示す。コンピューティングデバイス８００は、ラップトップ、デスクトップ、ワークステーション、携帯情報端末、サーバ、ブレードサーバ、メインフレーム、および他の適切なコンピュータ等の種々の形態のデジタルコンピュータを表すことを意図している。モバイルコンピューティングデバイス８５０は、携帯情報端末、携帯電話、スマートフォン、および他の類似コンピューティングデバイス等の種々の形態のモバイルデバイスを表すことを意図している。ここで示されるコンポーネント、それらの接続および関係、およびそれらの機能は、実施例にすぎないことを意味し、限定的であることを意味しない。

コンピューティングデバイス８００は、プロセッサ８０２と、メモリ８０４と、記憶デバイス８０６と、メモリ８０４および複数の高速拡張ポート８１０に接続する高速インターフェース８０８と、低速拡張ポート８１４および記憶デバイス８０６に接続する低速インターフェース８１２とを含む。プロセッサ８０２、メモリ８０４、記憶デバイス８０６、高速インターフェース８０８、高速拡張ポート８１０、および低速インターフェース８１２のそれぞれは、種々のバスを使用して相互接続され、共通マザーボード上に、または適宜、他の様式で搭載されてもよい。プロセッサ８０２は、高速インターフェース８０８に結合されるディスプレイ８１６等の外部入出力デバイス上にＧＵＩのためのグラフィカル情報を表示するように、メモリ８０４内または記憶デバイス８０６上に記憶された命令を含む、コンピューティングデバイス８００内の実行のための命令を処理することができる。他の実装では、複数のプロセッサおよび／または複数のバスが、複数のメモリおよびタイプのメモリとともに、適宜、使用されてもよい。また、複数のコンピューティングデバイスが、接続されてもよく、各デバイスは、（例えば、サーババンク、ブレードサーバのグループ、またはマルチプロセッサシステムとして）必要な動作の部分を提供する。

メモリ８０４は、コンピューティングデバイス８００内に情報を記憶する。いくつかの実装では、メモリ８０４は、１つまたは複数の揮発性メモリユニットである。いくつかの実装では、メモリ８０４は、１つまたは複数の不揮発性メモリユニットである。メモリ８０４はまた、磁気または光ディスク等の別の形態のコンピュータ可読媒体であってもよい。

記憶デバイス８０６は、コンピューティングデバイス８００のための大容量記憶装置を提供することが可能である。いくつかの実装では、記憶デバイス８０６は、フロッピー（登録商標）ディスクデバイス、ハードディスクデバイス、光ディスクデバイス、またはテープデバイス、フラッシュメモリまたは他の類似ソリッドステートメモリデバイス、またはストレージエアリネットワークまたは他の構成内のデバイスを含む、デバイスのアレイ等のコンピュータ可読媒体である、またはそれを含有してもよい。命令は、情報キャリアの中に記憶されることができる。命令は、１つ以上の処理デバイス（例えば、プロセッサ８０２）によって実行されると、上記で説明されるもの等の１つ以上の方法を実施する。命令はまた、コンピュータまたは機械可読媒体（例えば、メモリ８０４、記憶デバイス８０６、またはプロセッサ８０２上のメモリ）等の１つ以上の記憶デバイスによって記憶されることもできる。

高速インターフェース８０８は、コンピューティングデバイス８００のための帯域幅集約的動作を管理する一方で、低速インターフェース８１２は、より低い帯域幅集約的動作を管理する。そのような機能の配分は、実施例にすぎない。いくつかの実装では、高速インターフェース８０８は、メモリ８０４、ディスプレイ８１６（例えば、グラフィックスプロセッサまたはアクセラレータを通して）、および種々の拡張カード（図示せず）を受け入れ得る高速拡張ポート８１０に結合される。実装では、低速インターフェース８１２は、記憶デバイス８０６および低速拡張ポート８１４に結合される。種々の通信ポート（例えば、ＵＳＢ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、イーサネット（登録商標）、無線イーサネット（登録商標））を含み得る、低速拡張ポート８１４は、キーボード、ポインティングデバイス、スキャナ等の１つ以上の入出力デバイス、または、例えば、ネットワークアダプタを通して、スイッチまたはルータ等のネットワーキングデバイスに結合されてもよい。

コンピューティングデバイス８００は、図に示されるように、いくつかの異なる形態で実装されてもよい。例えば、これは、標準サーバ８２０として、またはそのようなサーバのグループで複数回、実装されてもよい。加えて、これは、ラップトップコンピュータ８２２等のパーソナルコンピュータで実装されてもよい。これはまた、ラックサーバシステム８２４の一部として実装されてもよい。代替として、コンピューティングデバイス８００からのコンポーネントは、モバイルコンピューティングデバイス８５０等のモバイルデバイス（図示せず）の中の他のコンポーネントと組み合わせられてもよい。そのようなデバイスのそれぞれは、コンピューティングデバイス８００およびモバイルコンピューティングデバイス８５０のうちの１つ以上のものを含有してもよく、システム全体は、相互と通信する複数のコンピューティングデバイスから構成されてもよい。

モバイルコンピューティングデバイス８５０は、他のコンポーネントの中でもとりわけ、プロセッサ８５２と、メモリ８６４と、ディスプレイ８５４等の入出力デバイスと、通信インターフェース８６６と、送受信機８６８とを含む。モバイルコンピューティングデバイス８５０はまた、付加的記憶装置を提供するように、マイクロドライブまたは他のデバイス等の記憶デバイスを提供されてもよい。プロセッサ８５２、メモリ８６４、ディスプレイ８５４、通信インターフェース８６６、および送受信機８６８のそれぞれは、種々のバスを使用して相互接続され、コンポーネントのうちのいくつかは、共通マザーボード上に、または適宜、他の様式で搭載されてもよい。

プロセッサ８５２は、メモリ８６４の中に記憶された命令を含む、モバイルコンピューティングデバイス８５０内の命令を実行することができる。プロセッサ８５２は、別個かつ複数のアナログおよびデジタルプロセッサを含む、チップのチップセットとして実装されてもよい。プロセッサ８５２は、例えば、ユーザインターフェースの制御、モバイルコンピューティングデバイス８５０によって起動されるアプリケーション、およびモバイルコンピューティングデバイス８５０による無線通信等のモバイルコンピューティングデバイス８５０の他のコンポーネントの協働を提供してもよい。

プロセッサ８５２は、制御インターフェース８５８およびディスプレイ８５４に結合されるディスプレイインターフェース８５６を通して、ユーザと通信してもよい。ディスプレイ８５４は、例えば、ＴＦＴ（薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ）ディスプレイまたはＯＬＥＤ（有機発光ダイオード）ディスプレイ、または他の適切なディスプレイ技術であってもよい。ディスプレイインターフェース８５６は、ディスプレイ８５４を駆動し、グラフィカルおよび他の情報をユーザに提示するための適切な回路を備えてもよい。制御インターフェース８５８は、ユーザからコマンドを受信し、それらをプロセッサ８５２へのサブミッションのために変換してもよい。加えて、外部インターフェース８６２は、他のデバイスとのモバイルコンピューティングデバイス８５０の近傍エリア通信を可能にするように、プロセッサ８５２との通信を提供してもよい。外部インターフェース８６２は、例えば、いくつかの実装では、有線通信、または他の実装では、無線通信を提供してもよく、複数のインターフェースもまた、使用されてもよい。

メモリ８６４は、モバイルコンピューティングデバイス８５０内に情報を記憶する。メモリ８６４は、１つまたは複数のコンピュータ可読媒体、１つまたは複数の揮発性メモリユニット、または１つまたは複数の不揮発性メモリユニットのうちの１つ以上のものとして、実装されることができる。拡張メモリ８７４もまた、提供され、例えば、ＳＩＭＭ（シングルインラインメモリモジュール）カードインターフェースを含み得る拡張インターフェース８７２を通して、モバイルコンピューティングデバイス８５０に接続されてもよい。拡張メモリ８７４は、モバイルコンピューティングデバイス８５０のための余剰記憶空間を提供してもよい、またはモバイルコンピューティングデバイス８５０のためのアプリケーションまたは他の情報も記憶してもよい。具体的には、拡張メモリ８７４は、上記で説明されるプロセスを実行または補完する命令を含んでもよく、セキュアな情報もまた含んでもよい。したがって、例えば、拡張メモリ８７４は、モバイルコンピューティングデバイス８５０のためのセキュリティモジュールとして提供されてもよく、モバイルコンピューティングデバイス８５０のセキュアな使用を可能にする命令でプログラムされてもよい。加えて、ハッキング不可能な様式でＳＩＭＭカード上に識別情報を設置すること等のセキュアなアプリケーションが、付加的情報とともに、ＳＩＭＭカードを介して提供されてもよい。

メモリは、例えば、下記で議論されるように、フラッシュメモリおよび／またはＮＶＲＡＭメモリ（不揮発性ランダムアクセスメモリ）を含んでもよい。いくつかの実装では、命令は、情報キャリアの中に記憶され、１つ以上の処理デバイス（例えば、プロセッサ８５２）によって実行されると、上記に説明されるもの等の１つ以上の方法を実施する。命令はまた、１つ以上のコンピュータまたは機械可読媒体等の１つ以上の記憶デバイス（例えば、メモリ８６４、拡張メモリ８７４、またはプロセッサ８５２上のメモリ）によって記憶されることもできる。いくつかの実装では、命令は、例えば、送受信機８６８または外部インターフェース８６２を経由して、伝搬された信号の中で受信されることができる。

モバイルコンピューティングデバイス８５０は、必要である場合にデジタル信号処理回路を含み得る、通信インターフェース８６６を通して、無線で通信してもよい。通信インターフェース８６６は、とりわけ、ＧＳＭ（登録商標）音声通話（モバイル通信用グローバルシステム）、ＳＭＳ（ショートメッセージサービス）、ＥＭＳ（拡張メッセージングサービス）、またはＭＭＳメッセージング（マルチメディアメッセージングサービス）、ＣＤＭＡ（符号分割多重アクセス）、ＴＤＭＡ（時分割多重アクセス）、ＰＤＣ（パーソナルデジタルセルラー）、ＷＣＤＭＡ（登録商標）（広帯域符号分割多重アクセス）、ＣＤＭＡ２０００、またはＧＰＲＳ（汎用パケット無線サービス）等の種々のモードまたはプロトコルの下で通信を提供してもよい。そのような通信は、例えば、無線周波数を使用して、送受信機８６８を通して起こってもよい。加えて、短距離通信は、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、Ｗｉ−Ｆｉ（ＴＭ）、または他のそのような送受信機（図示せず）を使用する等して、起こってもよい。加えて、ＧＰＳ（全地球測位システム）受信機モジュール８７０は、付加的ナビゲーションおよび場所関連無線データを、モバイルコンピューティングデバイス８５０上で起動するアプリケーションによって適宜、使用され得る、モバイルコンピューティングデバイス８５０に提供してもよい。

モバイルコンピューティングデバイス８５０はまた、ユーザからの発話情報を受信し、これを使用可能なデジタル情報に変換し得る、オーディオコーデック８６０を使用して、可聴的に通信してもよい。オーディオコーデック８６０は、同様に、例えば、モバイルコンピューティングデバイス８５０のハンドセットの中のスピーカを通して等、ユーザのための可聴音を生成してもよい。そのような音は、音声電話からの音を含んでもよく、録音された音（例えば、音声メッセージ、音楽ファイル等）を含んでもよく、また、モバイルコンピューティングデバイス８５０上で動作するアプリケーションによって生成される音を含んでもよい。

モバイルコンピューティングデバイス８５０は、図に示されるように、いくつかの異なる形態で実装されてもよい。例えば、これは、携帯電話８８０として実装されてもよい。これはまた、スマートフォン８８２、携帯情報端末、または他の類似モバイルデバイスの一部として実装されてもよい。

本明細書に説明されるシステムおよび技法の種々の実装は、デジタル電子回路、集積回路、特別に設計されたＡＳＩＣ（特定用途向け集積回路）、コンピュータハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア、および／またはそれらの組み合わせで実現されることができる。これらの種々の実装は、記憶システム、少なくとも１つの入力デバイス、および少なくとも１つの出力デバイスからデータおよび命令を受信するように、そしてそれにデータおよび命令を伝送するように結合される、専用または汎用であり得る、少なくとも１つのプログラマブルプロセッサを含む、プログラマブルシステム上で実行可能および／または解釈可能である、１つ以上のコンピュータプログラムにおける実装を含むことができる。

これらのコンピュータプログラム（プログラム、ソフトウェア、ソフトウェアアプリケーション、またはコードとしても公知である）は、プログラマブルプロセッサのための機械命令を含み、高レベルプロシージャおよび／またはオブジェクト指向プログラミング言語で、および／またはアセンブリ／機械言語で実装されることができる。本明細書で使用されるようなに、用語「機械可読媒体」および「コンピュータ可読媒体」は、機械可読信号として機械命令を受信する機械可読媒体を含む、プログラマブルプロセッサに機械命令および／またはデータを提供するために使用される、任意のコンピュータプログラム製品、装置、および／またはデバイス（例えば、磁気ディスク、光ディスク、メモリ、プログラマブル論理デバイス（ＰＬＤ））を指す。用語「機械可読信号」は、機械命令および／またはデータをプログラマブルプロセッサに提供するために使用される、任意の信号を指す。

ユーザとの相互作用を提供するために、本明細書に説明されるシステムおよび技法は、情報をユーザに表示するための表示デバイス（例えば、ＣＲＴ（ブラウン管）またはＬＣＤ（液晶ディスプレイ）モニタ）と、それによってユーザが入力をコンピュータに提供し得る、キーボードおよびポインティングデバイス（例えば、マウスまたはトラックボール）とを有する、コンピュータ上に実装されることができる。他の種類のデバイスも、同様にユーザとの相互作用を提供するために使用されることができる。例えば、ユーザに提供されるフィードバックは、任意の形態の感覚フィードバック（例えば、視覚フィードバック、聴覚フィードバック、または触覚フィードバック）であり得、ユーザからの入力は、音響、発話、または触覚入力を含む、任意の形態で受信されることができる。

本明細書に説明されるシステムおよび技法は、バックエンドコンポーネント（例えば、データサーバとして）を含む、またはミドルウェアコンポーネント（例えば、アプリケーションサーバ）を含む、またはフロントエンドコンポーネント（例えば、それを通してユーザが本明細書に説明されるシステムおよび技法の実装と相互作用し得る、グラフィカルユーザインターフェースまたはウェブブラウザを有する、クライアントコンピュータ）、またはそのようなバックエンド、ミドルウェア、またはフロントエンドコンポーネントの任意の組み合わせを含む、コンピューティングシステムで実装されることができる。本システムのコンポーネントは、デジタルデータ通信の任意の形態または媒体（例えば、通信ネットワーク）によって相互接続されることができる。通信ネットワークの実施例は、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、広域ネットワーク（ＷＡＮ）、およびインターネットを含む。

コンピューティングシステムは、クライアントおよびサーバを含むことができる。クライアントおよびサーバは、概して、相互から遠隔にあり、典型的には、通信ネットワークを通して相互作用する。クライアントおよびサーバの関係は、個別のコンピュータ上で起動するコンピュータプログラムにより生じ、相互に対するクライアント・サーバ関係を有する。

本発明は、具体的な好ましい実施形態を参照して特に示され、説明されているが、添付の請求項によって定義されるような本発明の精神および範囲から逸脱することなく、形態および詳細の種々の変更がそれにおいて行われ得ることが、当業者によって理解されるはずである。

本発明の一側面に関して説明される実施形態は、本発明の別の側面に適用され得る（例えば、１つの独立請求項（例えば、方法の請求項）に関して説明される実施形態の特徴は、他の独立請求項（例えば、システムの請求項）の他の実施形態に適用可能であると考慮され、その逆も同様である）。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための方法であって、前記方法は、
前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、コンピューティングデバイスのプロセッサによって、パルス形状の測定値を取得することであって、前記測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ことと、
前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることであって、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ことと、
前記プロセッサによって、前記第１の種類の放射性核種の測定値および前記第２の種類の放射性核種の測定値を表示することと
を含む、方法。
（項目２）
前記２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える、項目１に記載の方法。
（項目３）
前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、前記項目のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目４）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、前記項目のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目５）
前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記第１の弁別子設定は、前記第２の弁別子設定よりも低い、前記項目のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目６）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、前記項目のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目７）
前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、前記項目のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目８）
少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための方法であって、前記方法は、
コンピューティングデバイスのプロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
前記プロセッサによって、パルス形状の対応する測定値の関数として、前記第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示することと、
前記プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にする、グラフィカルユーザインターフェース要素を表示することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
前記プロセッサによって、前記第１および第２の弁別子設定を定義する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信することと、
前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
前記プロセッサによって、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信することと、
前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
を含む、方法。
（項目９）
前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、項目８に記載の方法。
（項目１０）
（ｉ）前記第１の較正サンプル、（ｉｉ）前記第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）前記試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、項目８または項目９のいずれかに記載の方法。
（項目１１）
前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、項目８−１０のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１２）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、項目８−１１のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１３）
前記区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える、項目８−１２のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１４）
前記調節された設定は、ユーザ調節設定である、項目８−１３のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１５）
前記プロセッサによって、前記調節された第１の弁別子設定および前記調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることを含む、項目８−１４のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１６）
前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることを含み、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定と前記調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、項目８−１５のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１７）
前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記調節された第１の弁別子設定は、前記調節された第２の弁別子設定よりも低い、項目８−１６のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１８）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、項目８−１７のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目１９）
前記試験サンプル中の前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記試験サンプル中の前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、項目８−１８のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２０）
少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を自動的に最適化するための方法であって、前記方法は、
コンピューティングデバイスのプロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種と同一の種類の放射体（例えば、ベータ放射体）であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（前記第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、前記プロセッサによって、前記第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を決定することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する、性能指数（ＦＯＭ）を算出することであって、前記ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ことと、
前記プロセッサによって、許容可能に高いＦＯＭを生成する前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を決定することと、
前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
を含む、方法。
（項目２１）
前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、項目２０に記載の方法。
（項目２２）
（ｉ）前記第１の較正サンプル、（ｉｉ）前記第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）前記試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、項目２０または項目２１のいずれかに記載の方法。
（項目２３）
前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、項目２０−２２のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２４）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、項目２０−２３のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２５）
前記ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される、項目２０−２４のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２６）
前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定は、前記ＦＯＭを最大限にする、最適化された設定である、項目２０−２５のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２７）
前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることを含み、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定と前記許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、項目２０−２６のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２８）
前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記許容された第１の弁別子設定は、前記許容された第２の弁別子設定よりも低い、項目２０−２７のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目２９）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、項目２０−２８のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目３０）
前記第１の放射性核種の測定値は、前記許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の放射性核種の測定値は、前記許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、項目２０−２９のうちのいずれか１項に記載の方法。
（項目３１）
試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための放射線検出システムであって、前記システムは、
試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
プロセッサと、
メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
前記試験サンプル中の前記複数の検出された放射性事象毎に、前記対応するパルス信号からパルス形状の測定値を取得することであって、前記測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ことと、
明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることであって、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ことと、
前記第１の種類の放射性核種の測定値および前記第２の種類の放射性核種の測定値を表示することと
を行わせる、メモリと
を備える、システム。
（項目３２）
前記２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える、項目３１に記載のシステム。
（項目３３）
前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える液体シンチレーションカウンタである、項目３１または項目３２のいずれかに記載のシステム。
（項目３４）
前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、項目３１−３３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目３５）
前記シンチレータは、蛍光体である、項目３４に記載のシステム。
（項目３６）
前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、項目３１−３５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目３７）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、項目３１−３６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目３８）
前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記第１の弁別子設定は、前記第２の弁別子設定よりも低い、項目３１−３７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目３９）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、項目３１−３８のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４０）
前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、項目３１−３９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４１）
試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種の定量化のための自動較正を特徴とする放射線検出システムであって、前記システムは、
試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
プロセッサと、
メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
前記試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
前記試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（前記第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、前記第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を自動的に決定することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する性能指数（ＦＯＭ）を算出することであって、前記ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ことと、
許容可能に高いＦＯＭを生成する前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を決定することと、
前記試験サンプル中の複数の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
を行わせる、メモリと
を備える、システム。
（項目４２）
前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、項目４１に記載のシステム。
（項目４３）
前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える液体シンチレーションカウンタである、項目４１または項目４２のいずれかに記載のシステム。
（項目４４）
前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、項目４１−４３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４５）
前記シンチレータは、蛍光体である、項目４４に記載のシステム。
（項目４６）
前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、項目４１−４５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４７）
前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、項目４６−４６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４８）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、項目４１−４７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目４９）
前記ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される、項目４１−４８のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５０）
前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定は、前記ＦＯＭを最大限にする最適化された設定である、項目４１−４９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５１）
前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定と前記許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、項目４１−５０のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５２）
前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記許容された第１の弁別子設定は、前記許容された第２の弁別子設定よりも低い、項目４１−５１のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５３）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、項目４１−５２のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５４）
前記第１の放射性核種の測定値は、前記許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の放射性核種の測定値は、前記許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、項目４１−５３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５５）
試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための放射線検出システムであって、前記システムは、
試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
プロセッサと、
メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
前記試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
前記試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
パルス形状の対応する測定値の関数として、前記第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示することと、
第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にするグラフィカルユーザインターフェース要素を表示することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
前記第１および第２の弁別子設定を定義する、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信することと、
前記グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信することと、
前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
を行わせる、メモリと
を備える、システム。
（項目５６）
前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、項目５５に記載のシステム。
（項目５７）
前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える、液体シンチレーションカウンタである、項目５５または項目５６のいずれかに記載のシステム。
（項目５８）
前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、項目５５−５７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目５９）
前記シンチレータは、蛍光体である、項目５８に記載のシステム。
（項目６０）
前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、項目５５−５９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６１）
前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、項目５５−６０のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６２）
前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、項目５５−６１のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６３）
前記区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える、項目５５−６２のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６４）
前記調節された設定は、ユーザ調節設定である、項目５５−６３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６５）
前記命令は、前記プロセッサに、前記調節された第１の弁別子設定および前記調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートさせる、項目５５−６４のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６６）
前記命令は、前記プロセッサに、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定と前記調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、項目５５−６５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６７）
前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記調節された第１の弁別子設定は、前記調節された第２の弁別子設定よりも低い、項目５５−６６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６８）
前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、項目５５−６７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
（項目６９）
前記試験サンプル中の前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、前記試験サンプル中の前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である、項目５５−６８のうちのいずれか１項に記載のシステム。

Claims (69)

1. 試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための方法であって、前記方法は、
   前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、コンピューティングデバイスのプロセッサによって、パルス形状の測定値を取得することであって、前記測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ことと、
   前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることであって、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ことと、
   前記プロセッサによって、前記第１の種類の放射性核種の測定値および前記第２の種類の放射性核種の測定値を表示することと
   を含む、方法。
2. 前記２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える、請求項１に記載の方法。
3. 前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、前記請求項のうちのいずれか１項に記載の方法。
4. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、前記請求項のうちのいずれか１項に記載の方法。
5. 前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記第１の弁別子設定は、前記第２の弁別子設定よりも低い、前記請求項のうちのいずれか１項に記載の方法。
6. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、前記請求項のうちのいずれか１項に記載の方法。
7. 前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、前記請求項のうちのいずれか１項に記載の方法。
8. 少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための方法であって、前記方法は、
   コンピューティングデバイスのプロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
   前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
   前記プロセッサによって、パルス形状の対応する測定値の関数として、前記第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示することと、
   前記プロセッサによって、第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にする、グラフィカルユーザインターフェース要素を表示することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
   前記プロセッサによって、前記第１および第２の弁別子設定を定義する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信することと、
   前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
   前記プロセッサによって、調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信することと、
   前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
   前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
   前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
   前記プロセッサによって、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
   を含む、方法。
9. 前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、請求項８に記載の方法。
10. （ｉ）前記第１の較正サンプル、（ｉｉ）前記第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）前記試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、請求項８または請求項９のいずれかに記載の方法。
11. 前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、請求項８−１０のうちのいずれか１項に記載の方法。
12. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、請求項８−１１のうちのいずれか１項に記載の方法。
13. 前記区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える、請求項８−１２のうちのいずれか１項に記載の方法。
14. 前記調節された設定は、ユーザ調節設定である、請求項８−１３のうちのいずれか１項に記載の方法。
15. 前記プロセッサによって、前記調節された第１の弁別子設定および前記調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることを含む、請求項８−１４のうちのいずれか１項に記載の方法。
16. 前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることを含み、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定と前記調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、請求項８−１５のうちのいずれか１項に記載の方法。
17. 前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記調節された第１の弁別子設定は、前記調節された第２の弁別子設定よりも低い、請求項８−１６のうちのいずれか１項に記載の方法。
18. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、請求項８−１７のうちのいずれか１項に記載の方法。
19. 前記試験サンプル中の前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記試験サンプル中の前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、請求項８−１８のうちのいずれか１項に記載の方法。
20. 少なくとも、異なる種類である第１および第２の放射性核種を備える試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を自動的に最適化するための方法であって、前記方法は、
    コンピューティングデバイスのプロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種と同一の種類の放射体（例えば、ベータ放射体）であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（前記第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、前記プロセッサによって、前記第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を決定することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
    前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する、性能指数（ＦＯＭ）を算出することであって、前記ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ことと、
    前記プロセッサによって、許容可能に高いＦＯＭを生成する前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を決定することと、
    前記プロセッサによって、前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
    前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
    前記プロセッサによって、前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
    を含む、方法。
21. 前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、請求項２０に記載の方法。
22. （ｉ）前記第１の較正サンプル、（ｉｉ）前記第２の較正サンプル、および（ｉｉｉ）前記試験サンプルのうちの少なくとも１つの中の前記複数の有限の検出された放射性事象のそれぞれは、前記パルス形状の測定値が決定される液体シンチレーションカウンタによって時間の関数として測定される検出された光強度の関連付けられる信号を有する、請求項２０または請求項２１のいずれかに記載の方法。
23. 前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、請求項２０−２２のうちのいずれか１項に記載の方法。
24. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、請求項２０−２３のうちのいずれか１項に記載の方法。
25. 前記ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される、請求項２０−２４のうちのいずれか１項に記載の方法。
26. 前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定は、前記ＦＯＭを最大限にする、最適化された設定である、請求項２０−２５のうちのいずれか１項に記載の方法。
27. 前記プロセッサによって、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることを含み、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定と前記許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、請求項２０−２６のうちのいずれか１項に記載の方法。
28. 前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記許容された第１の弁別子設定は、前記許容された第２の弁別子設定よりも低い、請求項２０−２７のうちのいずれか１項に記載の方法。
29. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、請求項２０−２８のうちのいずれか１項に記載の方法。
30. 前記第１の放射性核種の測定値は、前記許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の放射性核種の測定値は、前記許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、請求項２０−２９のうちのいずれか１項に記載の方法。
31. 試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種を定量化するための放射線検出システムであって、前記システムは、
    試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
    プロセッサと、
    メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
    前記試験サンプル中の前記複数の検出された放射性事象毎に、前記対応するパルス信号からパルス形状の測定値を取得することであって、前記測定値は、パルス強度およびパルス持続時間の関数である、ことと、
    明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートすることであって、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、ことと、
    前記第１の種類の放射性核種の測定値および前記第２の種類の放射性核種の測定値を表示することと
    を行わせる、メモリと
    を備える、システム。
32. 前記２つ以上の種類の放射性核種は、ベータ放射体と、アルファ放射体とを備える、請求項３１に記載のシステム。
33. 前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える液体シンチレーションカウンタである、請求項３１または請求項３２のいずれかに記載のシステム。
34. 前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、請求項３１−３３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
35. 前記シンチレータは、蛍光体である、請求項３４に記載のシステム。
36. 前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、請求項３１−３５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
37. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、請求項３１−３６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
38. 前記事象は、そのパルス形状が前記第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記第１の弁別子設定は、前記第２の弁別子設定よりも低い、請求項３１−３７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
39. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、請求項３１−３８のうちのいずれか１項に記載のシステム。
40. 前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、請求項３１−３９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
41. 試験サンプル中に存在する２つ以上の種類の放射性核種の定量化のための自動較正を特徴とする放射線検出システムであって、前記システムは、
    試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
    プロセッサと、
    メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
    前記試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    前記試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    第１の弁別子設定および第２の弁別子設定（前記第１の弁別子設定と異なる）の両方の複数の設定毎に、前記第１および第２の較正放射性核種毎に、（ｉ）溢出の測定値および（ｉｉ）効率の測定値を自動的に決定することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の較正放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
    前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の複数の設定のそれぞれに対応する性能指数（ＦＯＭ）を算出することであって、前記ＦＯＭは、溢出および効率の関数である、ことと、
    許容可能に高いＦＯＭを生成する前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を決定することと、
    前記試験サンプル中の複数の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
    前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
    前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
    を行わせる、メモリと
    を備える、システム。
42. 前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、請求項４１に記載のシステム。
43. 前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える液体シンチレーションカウンタである、請求項４１または請求項４２のいずれかに記載のシステム。
44. 前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、請求項４１−４３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
45. 前記シンチレータは、蛍光体である、請求項４４に記載のシステム。
46. 前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、請求項４１−４５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
47. 前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、請求項４６−４６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
48. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、請求項４１−４７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
49. 前記ＦＯＭは、効率＾２／溢出として算出される、請求項４１−４８のうちのいずれか１項に記載のシステム。
50. 前記第１の弁別子設定および前記第２の弁別子設定の許容された設定は、前記ＦＯＭを最大限にする最適化された設定である、請求項４１−４９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
51. 前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定と前記許容された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、請求項４１−５０のうちのいずれか１項に記載のシステム。
52. 前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記許容された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記許容された第１の弁別子設定は、前記許容された第２の弁別子設定よりも低い、請求項４１−５１のうちのいずれか１項に記載のシステム。
53. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、請求項４１−５２のうちのいずれか１項に記載のシステム。
54. 前記第１の放射性核種の測定値は、前記許容された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数であり、前記第２の放射性核種の測定値は、前記許容された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有するソートされた事象の総和であるかまたはその関数である、請求項４１−５３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
55. 試験サンプル中に存在する放射性核種の定量化において弁別子設定を適用するための放射線検出システムであって、前記システムは、
    試験サンプル中の複数の検出された放射性事象のそれぞれに対応するパルス信号を生成するための検出器と、
    プロセッサと、
    メモリであって、前記メモリは、その上に記憶された命令を有し、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
    前記試験サンプル中の第１の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第１の較正放射性核種を備える第１の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    前記試験サンプル中の第２の放射性核種と同一の種類の放射体であるかまたはそれに類似する第２の較正放射性核種を備える第２の較正サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値に対応するデータを受信することと、
    パルス形状の対応する測定値の関数として、前記第１および第２の較正サンプルに対応する区別された放射性事象のグラフ表現を表示することと、
    第１の弁別子設定および第２の弁別子設定のうちの一方または両方の調節を可能にするグラフィカルユーザインターフェース要素を表示することであって、事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定を下回る場合、前記第１の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第２の弁別子設定を上回る場合、前記第２の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状値が前記第１の弁別子設定と第２の弁別子設定との間である場合、不確定として識別される、ことと、
    前記第１および第２の弁別子設定を定義する、前記グラフィカルユーザインターフェース要素の設定のユーザによる選択を受信することと、
    前記グラフィカルユーザインターフェース要素のユーザ選択設定を考慮して、前記第１および第２の較正放射性核種毎に溢出の測定値および／または効率の測定値を決定および表示することと、
    調節された第１の弁別子設定および調節された第２の弁別子設定のうちの一方または両方に対応する前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を受信することと、
    前記試験サンプル中の複数の有限の検出された放射性事象毎に、パルス形状の測定値を取得することと、
    前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートすることと、
    前記グラフィカルユーザインターフェース要素の調節された設定に従って、前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種および前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種の測定値を表示することと
    を行わせる、メモリと
    を備える、システム。
56. 前記試験サンプル中の前記第１の放射性核種は、ベータ放射体であり、前記試験サンプル中の前記第２の放射性核種は、アルファ放射体である、請求項５５に記載のシステム。
57. 前記検出器は、１つ以上の光電子増倍管を備える、液体シンチレーションカウンタである、請求項５５または請求項５６のいずれかに記載のシステム。
58. 前記試験サンプルは、サンプル材料と、前記サンプル材料のための溶媒と、シンチレータとを備える混合物であり、前記サンプル材料は、放射性崩壊を受ける放射性核種を備え、それによって、崩壊エネルギーは、検出される前記シンチレータの励起および紫外線の放出を引き起こす、請求項５５−５７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
59. 前記シンチレータは、蛍光体である、請求項５８に記載のシステム。
60. 前記対応するパルス信号は、時間の関数としての検出された光強度の測定値である、請求項５５−５９のうちのいずれか１項に記載のシステム。
61. 前記第１の較正サンプルは、前記第１の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、および／または、前記第２の較正サンプルは、前記第２の較正放射性核種以外のいずれの放射性核種も備えていない、請求項５５−６０のうちのいずれか１項に記載のシステム。
62. 前記パルス形状の測定値は、パルス振幅によって除算されるパルスまたはテール面積の測定値であるかまたはその関数である、請求項５５−６１のうちのいずれか１項に記載のシステム。
63. 前記区別された放射性事象のグラフ表現は、ヒストグラムおよび／または溢出率の算出を備える、請求項５５−６２のうちのいずれか１項に記載のシステム。
64. 前記調節された設定は、ユーザ調節設定である、請求項５５−６３のうちのいずれか１項に記載のシステム。
65. 前記命令は、前記プロセッサに、前記調節された第１の弁別子設定および前記調節された第２の弁別子設定を使用して、そのパルス形状の測定値に従って、前記試験サンプル中の前記有限の検出された放射性事象のそれぞれをソートさせる、請求項５５−６４のうちのいずれか１項に記載のシステム。
66. 前記命令は、前記プロセッサに、明確に異なる第１および第２の弁別子設定を使用して、前記有限の検出された放射性事象のそれぞれを、そのパルス形状の測定値に従って、少なくとも３つのカテゴリのうちの１つにソートさせ、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、第１の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、第２の種類の放射性核種から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定と前記調節された第２の弁別子設定との間の値を有する場合、不確定として識別される、請求項５５−６５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
67. 前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第１の弁別子設定を下回る値を有する場合、ベータ放射体から生じるものとして識別され、前記事象は、そのパルス形状が前記調節された第２の弁別子設定を上回る値を有する場合、アルファ放射体から生じるものとして識別され、前記調節された第１の弁別子設定は、前記調節された第２の弁別子設定よりも低い、請求項５５−６６のうちのいずれか１項に記載のシステム。
68. 前記ソートされた事象は、３つのカテゴリ、すなわち、前記第１の種類の放射性核種から生じる事象、前記第２の種類の放射性核種から生じる事象、および不確定事象のそれぞれの中に、ゼロではない数の事象を含む、請求項５５−６７のうちのいずれか１項に記載のシステム。
69. 前記試験サンプル中の前記第１の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第１の弁別子設定を下回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和であり、またはその関数であり、前記試験サンプル中の前記第２の種類の放射性核種の測定値は、前記調節された第２の弁別子設定を上回るパルス形状値を有する、ソートされた事象の総和である、またはその関数である、請求項５５−６８のうちのいずれか１項に記載のシステム。