JP2019516989A - 光学フィルムの欠陥検出システム及び光学フィルムの欠陥検出方法｛ｔｈｅ ｓｙｓｔｅｍ ａｎｄ ｍｅｔｈｏｄ ｆｏｒ ｄｅｔｅｃｔｉｎｇ ｄｅｆｅｃｔ ｏｆ ｏｐｔｉｃａｌ ｆｉｌｍ｝ - Google Patents

Abstract

本発明は、光学フィルムの欠陥検出システム及び検出方法に関し、より詳しくは、スクリーン上に投影された光学フィルムの欠陥に対する画像を取得して光学フィルムの欠陥を検出するシステム及びその方法に関する。本発明の一実施形態として、光学フィルムの欠陥検出システムが提供される。光学フィルムの欠陥検出システムは、光学フィルムから離隔して配置され、光学フィルムの一面に向かって光を照射するための照明部、光学フィルムの他面から離隔して配置され、照明部から照射された光が光学フィルムを通過することによって光学フィルムに存在する欠陥が投影されて現れるスクリーン、スクリーンから離隔して配置され、スクリーン上に投影された光学フィルムの欠陥に対する画像を取得するための撮影部、及び取得された画像を分析し、分析結果に基づいて光学フィルムの欠陥を検出するための分析部を含むことができる。

Description

本発明は、光学フィルムの欠陥検出システム及び光学フィルムの欠陥検出方法に関し、より詳しくは、スクリーン上に投影された光学フィルムの欠陥に対する画像を取得して光学フィルムの欠陥を検出するシステム及びその方法に関する。

光学フィルムは、画像形成に必要な透過光を提供するものであって、液晶ディスプレイパネル（ＬＣＤ：Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等に主に用いられており、ディスプレイパネルの品質に多くの影響を与える主要光学部品である。

光学フィルムは、偏光素子の両面に保護フィルムを貼り付け、ＰＳＡ等の粘着剤を少なくとも片方の外面に塗布して形成されることができる。但し、光学フィルムを製造する工程でフィルムに異物が流入されるかまたはフィルムがローラに巻き取られる時にフィルムが押し付けられる現象、フィルムに塗布される粘着剤または接着剤の厚さ変形によってフィルムが押し付けられる現象、その他の外力によってフィルムが押し付けられる現象またはフィルムが打ち込まれる現象が発生しうる。

このような現象によって発生する光学フィルムの不良は、光学フィルムが用いられるディスプレイパネルにおいて輝点不良を招くため、光学フィルムの製造後にフィルムの不良を検査するのは必ず経なければならない工程に属する。

大韓民国登録特許第１０−１０８２６９９号（以下、特許文献１）は、光学フィルムのイメージを撮影して光学フィルムの欠陥を検査する装置を提案している。この特許は、光源から照射された光が光学フィルムを透過して光源と向い合う位置に設けられた撮像手段によりイメージ形態で撮影されることによって光学フィルムを検査する内容が開示されている。但し、この特許は、光学フィルムに存在する欠陥のうち異物による欠陥のみを検出するという点で限界がある。

大韓民国登録特許第１０−１０８２６９９号 特開２００７−３３２２５３号公報

本発明が解決しようとする技術的課題は、光学フィルムに照射された光がスクリーンに投影されることによって、光学フィルムの製造過程で形成された光学フィルムに対する押し付け、打ち込み、折り畳み等の様々な形態の欠陥を検出することができ、光学フィルムの欠陥に対する検出率を高めることができる光学フィルムの欠陥検出システム及び検出方法を提供することにある。

本発明の一実施形態として、光学フィルムの欠陥検出システムが提供される。光学フィルムの欠陥検出システムは、光学フィルムから離隔して配置され、光学フィルムの一面に向かって光を照射するための照明部、光学フィルムの他面から離隔して配置され、照明部から照射された光が光学フィルムを通過することによって光学フィルムに存在する欠陥が投影されて現れるスクリーン、スクリーンから離隔して配置され、スクリーン上に投影された光学フィルムの欠陥に対する画像を取得するための撮影部、及び取得された画像を分析し、分析結果に基づいて光学フィルムの欠陥を検出するための分析部を含む。

本発明の一実施形態によるスクリーンと光学フィルムとの間の距離（ｄ_１）は９０ｍｍ〜１３０ｍｍ範囲の値を有し、照明部と光学フィルムとの間の距離（ｄ_２）は２８０ｍｍ〜３４０ｍｍ範囲の値を有してもよい。

本発明の一実施形態による撮影部はスクリーンと第１角度（θ_１）をなすように配置され、照明部は光学フィルムと第２角度（θ_２）をなすように配置され、第１角度と第２角度は同一であってもよい。

本発明の一実施形態によれば、光が照射される光学フィルムとスクリーンは平行に配置されてもよい。

本発明の一実施形態による第１角度（θ_１）及び第２角度（θ_２）は２５°〜４８°範囲の値を有してもよい。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは光学フィルムを移送するための移送ローラをさらに含み、移送ローラは走行方向が一方向であるインライン（Ｉｎ−Ｌｉｎｅ）形態で光学フィルムを移送してもよい。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは、照明部から照射された光が光学フィルムの欠陥検出システムの外に抜け出ないようにする暗室をさらに含んでもよい。

本発明の一実施形態による撮影部は、光学フィルムの他面から離隔して配置されることによって、スクリーンに投影されて結ばれた像に対する画像を光学フィルムを経ることなく直接に取得してもよい。

本発明の一実施形態による照明部は光学フィルムの幅方向全体にかけて光を照射してもよい。

本発明の一実施形態による投影画像を用いた光学フィルムの欠陥検出方法は、光学フィルムから離隔して配置された照明部を介して光学フィルムの一面に向かって光を照射するステップ、照明部から照射された光が光学フィルムを通過することによってスクリーンに投影された光学フィルムの欠陥に対する画像を撮影部を介して取得するステップ、取得された画像を分析するステップ、及び分析結果に基づいて光学フィルム上の欠陥を検出するステップを含む。

一方、本発明の一実施形態として、前述した方法をコンピュータ等のようなハードウェアに実行させるために媒体に格納されたコンピュータプログラムが提供されてもよい。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システム及び検出方法によれば、光学フィルムに対する押し付け、打ち込み、折り畳み等の様々な形態の欠陥を検出することができる。また、スクリーンと光学フィルムとの間の距離、照明部と光学フィルムとの間の距離、撮影部とスクリーンとの角度、照明部と光学フィルムとの角度を一定の範囲内に設定して光学フィルムに照射された光をスクリーンに投影させることにより、光学フィルムの欠陥に対する検出率を高めることができる。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムの構成及び配置図を示す図である。 スクリーンと光学フィルムとの間の距離（ｄ_１）が本発明の一実施形態による範囲である時とそれ以外の範囲である時のスクリーンに投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。 照明部と光学フィルムとの間の距離（ｄ_２）が本発明の一実施形態による範囲である時とそれ以外の範囲である時のスクリーンに投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。 例示的な光学フィルムの欠陥検出システムの構成及び配置図を示す図である。 図４ａに係る光学フィルムの欠陥検出システムと本発明に係る光学フィルムの欠陥検出システムにおいてスクリーンに投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。 撮影部とスクリーンとの角度（θ_１）が本発明の一実施形態による範囲より大きい場合である時に発生する現象を示す図である。 照明部と光学フィルムとの角度（θ_２）が本発明の一実施形態による範囲より小さい場合である時に発生する現象を示す図である。 投影画像を用いた光学フィルムの欠陥検出方法のフローチャートである。

以下では添付図面を参照して本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者が容易に実施することができるように本発明の実施形態について詳細に説明する。但し、本発明は色々な互いに異なる形態に実現できるものであって、ここで説明する実施形態に限定されるものではない。そして、図面において、本発明を明確に説明するために説明と関係ない部分は省略し、明細書の全体にかけて類似した部分に対しては類似した図面符号を付ける。

本明細書で用いられる用語について簡略に説明し、本発明に関して具体的に説明することにする。

本発明で用いられる用語は本発明での機能を考慮して可能な限り現在広く用いられる一般的な用語を選択したが、これは当分野に務める技術者の意図または判例、新しい技術の出現等に応じて異なり得る。また、特定の場合は出願人が任意に選定した用語もあり、この場合は該当する発明の説明の部分にその意味を詳細に記載することにする。よって、本発明で用いられる用語は単純な用語の名称ではなく、その用語が有する意味と本発明の全般にわたった内容に基づいて定義されなければならない。

明細書の全体にかけて、ある部分がある構成要素を「含む」とする時、これは、特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くものではなく、他の構成要素をさらに含んでもよいことを意味する。また、明細書に記載された「...部」等の用語は少なくとも一つの機能や動作を処理する単位を意味し、これはハードウェアまたはソフトウェアで実現されるか、ハードウェアとソフトウェアの結合で実現されてもよい。

以下、添付図面を参考にして本発明について詳細に説明する。

図１は、本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムを示すものである。図１を参照すれば、本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは、照明部２００、スクリーン３００、撮影部４００、分析部５００を含んで構成されることができる。

本発明の照明部２００は、光学フィルム１００から離隔して配置され、光学フィルム１００の一面に向かって光を照射することができる。ここで、光学フィルム１００は背景技術で説明している光学フィルムと同一の構成であって、シート（ｓｈｅｅｔ）形態で提供されることができる。

一方、前記照明部２００は、光学フィルム１００の幅方向全体にかけて光を照射することができるものであり、照明部２００の寿命、輝度の安定性、メンテナンス性等を考慮して、ＬＥＤを用いることが好ましい。また、照明部２００は複数のＬＥＤを用いて構成されることができ、ＬＥＤ照明の他に蛍光灯、白熱灯等のような照明を用いることができる。但し、前記に列挙した照明の種類に限定されるものではない。

スクリーン３００は、照明部２００から照射された光が光学フィルム１００を通過することによって光学フィルム１００に存在する欠陥が投影されて明暗像で現れるようにする。すなわち、スクリーン３００は、光学フィルム１００に存在する欠陥が投影された明暗像が結ばれるようにすることができる。よって、スクリーン３００は、図１に示すように、照明部２００から照射された光が光学フィルム１００を通過して出る面から離隔して配置されることができる。
本発明の一実施形態によるスクリーン３００は光投射用として活用される一般的なスクリーンであって、ＰＶＣの一種であり、ポリプロピレン（Ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ）シートで構成されることができるが、必ずしもこれに制限されるものではない。一方、本発明の一実施形態によるスクリーン３００は光拡散透過性を有することができる。

一方、前記光学フィルム１００に存在する欠陥は、外力による光学フィルムの押し付け、打ち込み、折り畳みまたはシワ等の様々な形態で現れる。より詳しくは、光学フィルム１００に存在する欠陥とは、異物の流入による光学フィルムの押し付け、光学フィルムが移送ローラ６００に巻き取られる時に発生する押し付け、光学フィルムに塗布される接着剤または粘着剤の厚さ変形によって発生する押し付け、または光学フィルムが折り畳まれることによって発生するシワ等によって光学フィルムの前面または裏面の形態が歪むか形状が変わる不良を意味する。

光学フィルム１００が押し付けられてふっくらした形態（例えば、虫眼鏡の形態）になると、スクリーン３００に投影されて結ばれた像のイメージは正常な投影イメージより明るさが増加して白点の形態でスクリーン３００上に現れる。

一方、光学フィルム１００に異物が流入されると、照明部２００から照射された光が光学フィルム１００を通過することができないため、スクリーン３００に投影されて結ばれた像のイメージは正常な投影イメージより明るさが暗くなって黒点の形態でスクリーン３００上に現れる。

また、光学フィルム１００が折り畳まれるかまたは打ち込まれる場合には、スクリーン３００に投影されたイメージは白点または黒点が長く続いた線の形態で現れる。

本発明の一実施形態による撮影部４００は、スクリーン３００から離隔して配置され、光学フィルムの欠陥に対する画像を取得することができる。画像を取得する方法は、撮影部４００を構成するカメラで光学フィルム１００の欠陥によってスクリーン３００上に投影されて結ばれた明暗像を撮影して画像データに変換することによって実行されることができる。カメラはＣＣＤセンサまたはスキャンカメラであってもよいが、これらに限定されるものではない。

本発明の一実施形態による分析部５００は、前記撮影部４００により取得された画像データを入力データとして用い、入力された画像データに対してイメージ明るさに対する数値で画像処理を行うことができる。画像処理を経たデータに対しては、正常な投影イメージの明るさ値と比較して黒点または白点であるか否かを区分し検出する分析が行われることができる。また、黒点または白点で現れた部分の大きさを測定して検出する分析も行われることができる。

前記分析部５００は、画像処理及び比較分析が可能な分析プログラムが内蔵された電子機器を含むことができる。例えば、分析部は、コンピュータ、タブレットＰＣ、個人用携帯電話、ウェアラブルデバイス、ＰＬＣ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）等であってもよい。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_１）、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）、撮影部４００とスクリーン３００との角度（θ_１）または照明部２００と光学フィルム１００との角度（θ_２）が特定の範囲内に限定されることができる。前記距離または前記角度の具体的な範囲は下記に記述された範囲のとおりである。

本発明の一実施形態によるスクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_１）は９０ｍｍ〜１３０ｍｍ範囲の値を有し、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）は２８０ｍｍ〜３４０ｍｍ範囲の値を有することができる。

図２は、スクリーンと光学フィルムとの間の距離（ｄ_１）が本発明の一実施形態による範囲である時とそれ以外の範囲である時のスクリーンに投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。

図２に示すように、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_１）が９０ｍｍ〜１３０ｍｍの範囲では、投影イメージの平均明るさ（本発明の一実施形態では白点で現れる欠陥に対して実施する）が７０を示すが、距離（ｄ_１）が９０ｍｍ以下の場合（本発明の実施形態では距離（ｄ_１）が６０ｍｍ〜９０ｍｍ範囲の場合）には、投影イメージの平均明るさが７０より１１％減少した６２を示し、距離（ｄ_１）が１３０ｍｍ以上の場合（本発明の実施形態では距離（ｄ_１）が１３０ｍｍ〜１６０ｍｍ範囲の場合）には、投影イメージの平均明るさが７０より２６％減少した５２を示す。

一方、本発明の一実施形態による投影イメージの明るさ数値は０から２５５まで示されたＧｒａｙ Ｌｅｖｅｌを用い、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_１）を調整する時、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）は１１０ｍｍに固定した。図２から分かるように、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離が９０ｍｍ〜１３０ｍｍより小さい場合には白点で現れる欠陥大きさが小さい反面、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離が９０ｍｍ〜１３０ｍｍより大きい場合には白点で現れる欠陥大きさが大きいことが分かる。

すなわち、本発明の一実施形態によれば、スクリーン３００に投影されたイメージにおいて欠陥に該当する部分の明るさと大きさはスクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離と相関関係を有する。

図３は、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）が本発明の一実施形態による範囲である時とそれ以外の範囲である時のスクリーンに投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。図３に示すように、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）を調整する時、スクリーン３００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_１）は１１０ｍｍに固定した。

図３に示すように、照明部２００と光学フィルム１００との間の距離（ｄ_２）が２８０ｍｍ〜３４０ｍｍの範囲では、投影イメージの平均明るさ（本発明の一実施形態では白点で現れる欠陥に対して実施する）が９２を示すが、距離（ｄ_２）が２８０ｍｍ以下の場合（本発明の実施形態では距離（ｄ_２）が２５０ｍｍ〜２８０ｍｍ範囲の場合）には、投影イメージの平均明るさが９２より２３％減少した７０．５を示し、距離（ｄ_２）が３４０ｍｍ以上の場合（本発明の実施形態では距離（ｄ_２）が３４０ｍｍ〜３７０ｍｍ範囲の場合）には、投影イメージの平均明るさが９２より１８％減少した７５を示す。

すなわち、本発明の一実施形態によれば、スクリーン３００に投影されたイメージにおいて欠陥に該当する部分の明るさは照明部２００と光学フィルム１００との間の距離と相関関係を有する。

本発明の一実施形態による撮影部４００は、図１に示すように、光学フィルム１００に光が照射される面に対する他面から離隔して配置されることによって、スクリーンに投影されて結ばれた像に対する画像を光学フィルムを経ることなく直接に取得することができるように設けられることを特徴とする。

本発明の一実施形態による撮影部４００の配置構造を図４ａに示された撮影部の配置構造と比較すれば、本発明による撮影部４００の配置構造の優秀性を確認することができる。

図４ａは、例示的な光学フィルムの欠陥検出システムの構成及び配置図を示す図である。図４ａに示された撮影部４００は、スクリーン３００上に投影された欠陥に対する画像を光学フィルム１００を経て取得するように配置されている。

図４ｂは図４ａに係る例示的な光学フィルムの欠陥検出システムと本発明に係る光学フィルムの欠陥検出システムにおいてスクリーン３００に投影されたイメージの平均明るさを比較した表である。

本発明により、スクリーン３００と撮影部４００との間に光学フィルム１００が存在しない撮影部４００の配置構造によれば、投影イメージの平均明るさは７０を示す反面、図４ａに示すように、スクリーン３００と撮影部４００との間に光学フィルム１００が存在する配置構造によれば、投影イメージの平均明るさは本発明の一実施形態による７０より２４％低い５３を示す。

よって、本発明の一実施形態のようにスクリーン３００と撮影部４００との間に光学フィルム１００が存在しない配置構造を有した光学フィルムの欠陥検出システムが、例示的な場合に比べて光学フィルム欠陥に対する投影イメージがより明るいため、欠陥検出率を高めることができる。

一方、本発明の一実施形態による撮影部４００はスクリーンと第１角度（θ_１）をなすように配置され、照明部２００は光学フィルムと第２角度（θ_２）をなすように配置され、第１角度と第２角度は同一であってもよい。

すなわち、撮影部４００とスクリーン３００との第１角度（θ_１）と照明部２００と光学フィルム１００との第２角度（θ_２）は同一であるため、共に減少するか共に増加することができる。

よって、撮影部４００とスクリーン３００との第１角度（θ_１）と照明部２００と光学フィルム１００との第２角度（θ_２）が同一になるように、光が照射される面上に位置した光学フィルム１００とスクリーン３００は平行に配置されることができる。すなわち、図１に示すように、光が照射される光学フィルム１００は、二つの移送ローラ６００の間に位置し、スクリーン３００と平行に配置されることができる。

本発明の一実施形態による撮影部４００とスクリーン３００との第１角度（θ_１）及び照明部２００と光学フィルム１００との第２角度（θ_２）は２５°〜４８°範囲の値を有することができる。

図５は、撮影部とスクリーンとの角度（θ_１）が本発明の一実施形態による範囲より大きい場合（４８°以上の場合）である時に発生する現象を示す図である。すなわち、撮影部４００とスクリーン３００との角度（θ_１）が４８°以上の場合には、撮影部４００に近く位置した移送ローラ６００と撮影部４００により撮影される画像区間で干渉が発生して、スクリーンに結ばれた像に対する画像を取得するのに障害が発生する。

図６は、照明部と光学フィルムとの角度（θ_２）が本発明の一実施形態による範囲より小さい場合（２５°以下の場合）である時に発生する現象を示す図である。すなわち、照明部２００と光学フィルム１００との角度（θ_２）が２５°以下の場合には、照明部２００に近く位置した移送ローラ６００と照明部２００から照射された光が通過する区間で干渉が発生して、スクリーンに結ばれた像に対する画像を取得するのに障害が発生する。

また、撮影部４００とスクリーン３００との第１角度（θ_１）及び照明部２００と光学フィルム１００との第２角度（θ_２）が本発明の一実施形態による範囲以外の値を有する時には、境界反射または乱反射が発生して光量の均質度が減少する。よって、撮影部４００では、光学フィルムの欠陥に対して歪んだ画像を取得するようになる。

一方、撮影部４００とスクリーン３００との間の距離は、撮影部４００のカメラの解像度と関連があるため、解像度に応じて距離は変更されることができる。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは光学フィルム１００を移送するための移送ローラ６００をさらに含み、移送ローラ６００は走行方向が一方向であるインライン（Ｉｎ−Ｌｉｎｅ）形態で光学フィルム１００を移送することができる。よって、移送ローラ６００が巻き取られる動作に応じて光学フィルム１００は連続的に移送ローラ６００に沿って移送されることができ、照明部２００から照射される光は移送ローラ６００の間で移送されている光学フィルム１００面に到達し得る。

本発明の一実施形態による光学フィルムの欠陥検出システムは、照明部２００から照射された光が光学フィルムの欠陥検出システムの外に抜け出ないようにする暗室７００をさらに含むことができる。

図７は、投影画像を用いた光学フィルムの欠陥検出方法のフローチャートである。

本発明の一実施形態による投影画像を用いた光学フィルムの欠陥検出方法は、光学フィルム１００から離隔して配置された照明部２００を介して光学フィルム１００の一面に向かって光を照射するステップ（Ｓ１００）、照明部２００から照射された光が光学フィルム１００を通過することによってスクリーン３００に投影された光学フィルム１００の欠陥に対する画像を撮影部４００を介して取得するステップ（Ｓ２００）、取得された画像を分析するステップ（Ｓ３００）、及び分析結果に基づいて光学フィルム１００上の欠陥を検出するステップ（Ｓ４００）を含むことができる。

本発明の一実施形態による方法と関連しては前述したシステムに関する内容が適用されることができる。よって、方法と関連して、前述したシステムに関する内容と同一の内容についてはその説明を省略する。

一方、本発明の一実施形態として、コンピュータ等のようなハードウェアと結合され、前述した方法を実行させるために媒体に格納されたコンピュータプログラムを提供することができる。

本発明の一実施形態は、コンピュータによって実行されるプログラムモジュールのようなコンピュータによって実行可能な命令語を含む記録媒体の形態に実現されてもよい。コンピュータ読み取り可能媒体は、コンピュータによってアクセスできる任意の使用可能媒体であってもよく、揮発性及び不揮発性媒体、分離型及び非分離型媒体を全て含む。また、コンピュータ読み取り可能媒体は、コンピュータ格納媒体及び通信媒体を全て含むことができる。コンピュータ格納媒体は、コンピュータ読み取り可能命令語、データ構造、プログラムモジュールまたはその他のデータのような情報の格納のための任意の方法または技術で実現された揮発性及び不揮発性、分離型及び非分離型媒体を全て含む。通信媒体は、典型的にコンピュータ読み取り可能命令語、データ構造、プログラムモジュール、または搬送波のような変調したデータ信号のその他のデータ、またはその他の転送メカニズムを含み、任意の情報伝達媒体を含む。

前述した本発明の説明は例示するためのものであり、本発明が属する技術分野の通常の知識を有した者であれば、本発明の技術的思想や必須の特徴を変更しなくても他の具体的な形態に容易に変形が可能であるということを理解することができるであろう。よって、以上で記述した実施形態は全ての面で例示的なものであって、限定的なものではないことを理解しなければならない。例えば、単一型として説明されている各構成要素は分散して実施されてもよく、それと同様に、分散したものとして説明されている構成要素も結合された形態で実施されてもよい。

本発明の範囲は前記詳細な説明よりは後述する特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲の意味及び範囲そしてその均等概念から導き出される全ての変更または変形された形態は本発明の範囲に含まれると解釈しなければならない。

１００ ・・・光学フィルム
２００ ・・・照明部
３００ ・・・スクリーン
４００ ・・・撮影部
５００ ・・・分析部
６００ ・・・移送ローラ
７００ ・・・暗室

Claims (12)

1. 光学フィルムの欠陥検出システムであって、
   前記光学フィルムから離隔して配置され、前記光学フィルムの一面に向かって光を照射するための照明部、
   前記光学フィルムの他面から離隔して配置され、前記照明部から照射された光が前記光学フィルムを通過することによって前記光学フィルムに存在する欠陥が投影されて現れるスクリーン、
   前記スクリーンから離隔して配置され、前記スクリーン上に投影された前記光学フィルムの欠陥に対する画像を取得するための撮影部、及び
   前記取得された画像を分析し、前記分析の結果に基づいて前記光学フィルムの欠陥を検出するための分析部を含む、光学フィルムの欠陥検出システム。
2. 前記スクリーンと前記光学フィルムとの間の距離（ｄ_１）は９０ｍｍ〜１３０ｍｍ範囲の値を有する、請求項１に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
3. 前記照明部と前記光学フィルムとの間の距離（ｄ_２）は２８０ｍｍ〜３４０ｍｍ範囲の値を有する、請求項１または２に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
4. 前記撮影部は前記スクリーンと第１角度（θ_１）をなすように配置され、
   前記照明部は前記光学フィルムと第２角度（θ_２）をなすように配置され、
   前記第１角度と前記第２角度は同一の値である、請求項１から３のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
5. 前記光が照射される光学フィルムと前記スクリーンは平行に配置される、請求項４に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
6. 前記第１角度（θ_１）及び前記第２角度（θ_２）は２５°〜４８°範囲の値を有する、請求項４または５に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
7. 前記光学フィルムを移送するための移送ローラをさらに含み、
   前記移送ローラは走行方向が一方向であるインライン（Ｉｎ−Ｌｉｎｅ）形態で光学フィルムを移送する、請求項１から６のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
8. 前記照明部から照射された光が前記光学フィルムの欠陥検出システムの外に抜け出ないようにする暗室をさらに含む、請求項１から７のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
9. 前記撮影部は、前記光学フィルムの他面から離隔して配置されることによって、前記スクリーンに投影されて結ばれた像に対する画像を前記光学フィルムを経ることなく直接に取得する、請求項１から８のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
10. 前記照明部は、前記光学フィルムの幅方向全体にかけて光を照射できる、請求項１から９のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥検出システム。
11. 投影画像を用いた光学フィルムの欠陥検出方法であって、
    前記光学フィルムから離隔して配置された照明部を介して前記光学フィルムの一面に向かって光を照射するステップ、
    前記照明部から照射された光が前記光学フィルムを通過することによってスクリーンに投影された前記光学フィルムの欠陥に対する画像を撮影部を介して取得するステップ、
    前記取得された画像を分析するステップ、及び
    前記分析の結果に基づいて前記光学フィルム上の欠陥を検出するステップを含み、
    前記スクリーンは前記光学フィルムの他面から離隔して配置され、前記撮影部は前記スクリーン及び前記光学フィルムの他面から各々離隔して配置され、前記スクリーンに投影されて結ばれた像に対する画像を前記光学フィルムを経ることなく直接に取得する、光学フィルムの欠陥検出方法。
12. ハードウェアと結合されて請求項１１に記載の方法を実行させるために媒体に格納されたコンピュータプログラム。