JP2019219428A - プロトコル適応コンピュータで制御される対象分析物の透過試験器 - Google Patents

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Abstract

【課題】正確性を損なわずに試験期間を短縮することのできる透過率測定器を提供する。【解決手段】測定間隔、再ゼロ校正頻度、個別のゼロ校正可否判定について自己適応して調整することが可能な、プロトコル適応型でコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器。【選択図】図1A

Description

膜やフィルム、包装材、瓶、パッケージ、容器等の様々な試料(以降、便宜的にまとめて「試験フィルム」と呼ぶ)を透過する酸素、二酸化炭素、水蒸気などの対象分析物の透過率を測定するのには透過機器が用いられる。典型的な試験フィルムは低密度ポリエチレン(LDPE)、高密度ポリエチレン(HDPE)、配向ポリプロピレン(OPP)、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリ塩化ビニリデン(PVTDC)、多層高分子フィルムなどから構成される高分子包装フィルムである。通常、試験にかけるフィルムは試験室を第1室と第2室に密閉分離するように試験室内に配置される。第1室(一般に駆動室または分析物室と呼ぶ)は既知濃度の対象分析物を含む気体(一般に駆動気体と呼ぶ)で満たされる。第2室(一般に検知室と呼ぶ)にはセルから対象分析物を除去するように不活性気体(一般にキャリア気体と呼ぶ)が流される。対象分析物用のセンサーは、駆動室から試験フィルムを透過して検知室へと移動した対象分析物の存在を検出する検知室と流体連通して配置される。酸素(O2)、二酸化炭素(CO2)、水蒸気(H2O)を試験フィルムに通して透過率を測定する代表的な透過機器としてはモコン社(Mocon,Inc.、ミネソタ州ミネアポリス)からそれぞれOXTRAN、PERMATRAN−C、PERMATRAN−Wの名称で市販されている。
一般的に透過機器はフロースルー法か集積法のどちらかの方法を用いて検知室内の対象分析物の存在を検知する。簡単に言えば、フロースルー法では検知室に不活性キャリア気体を連続的に流し、検知室に流入した対象分析物があればこれを移動させて離れた位置にある対象分析物センサーに送る。集積法では、不活性キャリア気体を断続的に検知室に流し、検知室に流入した対象分析物があればこれを移動させて、離れた位置にある対象分析物センサーへと送り、検知から検知までの間の集積期間に対象分析物を検知室内に集積させる。
透過機器は概して精密な試験プロトコルを用いており、このプロトコルは透過試験の期間を通して検知室内に到達した対象分析物の濃度を定期的に検知することに加え、透過試験期間を通して定期的に再ゼロ校正を行ったり、一回の試験の締めくくりに個別のゼロ校正を行ったりすることを含む。このような追加の測定を行うことにより試験期間は著しく長くなってしまうが、特に試験フィルムが優れた対象分析物障壁であり、かつ検知室に到達する対象分析物の濃度が低いとき、測定結果の正確性を確保するにはこのような追加の測定が決定的に重要となる場合がある。
そこで、正確性を損なわずに試験期間を短縮することのできる透過率測定器が大いに必要となる。
本発明はプロトコル適応型でコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器である。
本発明の第一態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、各回の測定にひとつの検知期間を用い、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて以後の対象分析物の透過率の検知期間の長さを調整しながら、ある透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第一態様を便宜的に「検知期間に関する適応型機器」と呼ぶ。
本発明の第二態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。第一実施例として、この機器は(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を越えたとき、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされている。第二実施例として、この機器は(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて、以後の対象分析物センサーの再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第二態様を便宜的に「再ゼロ校正頻度に関する適応型機器」と呼ぶ。
本発明の第三態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定し、この透過率が所定の閾値を下回った場合、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーを個別にゼロ校正するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第三態様を便宜的に「個別のゼロ校正の可否判定に関する適応型機器」と呼ぶ。
本発明の望ましい実施例としては、少なくとも2つ、望ましくは3つ全ての発明の態様に従ってプログラムされたコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器である。
図1Aは本発明の検知期間について適応性のある態様の第一実施例のフローチャートである。 図1Bは本発明の検知期間について適応性のある態様の第二実施例のフローチャートである。 図2Aは本発明の再ゼロ校正頻度について適応性のある態様の第一実施例のフローチャートである。 図2Bは本発明の再ゼロ校正頻度について適応性のある態様の第二実施例のフローチャートである。 図3は本発明の個別のゼロ校正可否判定について適応性のある一実施例のフローチャートである。
特許請求の範囲を含め本願でいう「再ゼロ校正(rezero)」という用語は、試験期間中に対象分析物の静的透過性セル試験器のキャリア気体に含まれる残りの対象分析物を測定する方法のことであって、この方法には試験セルを回避してキャリア気体中の対象分析物濃度を直接測定するステップを含み、後でこの濃度は各試料に関して測定した対象分析物濃度の透過率から差し引かれる。
特許請求の範囲を含め本願でいう「個別のゼロ校正」という用語は、一回の試験の締めくくりに対象分析物の静的透過性セル試験器の外部への漏出量を測定する方法のことであって、この方法には対象分析物の駆動力(Driving force)を無くしてキャリア気体中の対象分析物濃度を測定するステップを含んでおり、後でこの濃度は各試料について測定した対象分析物濃度の透過率から差し引かれる。
請求の範囲を含め本願でいう「検知期間」という用語は、対象分析物センサーによりセンサーを通る対象分析物を所与の流体試料中で継続して検知する期間のことであって、この検知期間から対象分析物の透過率が算出される。
説明
コンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器は、例えば酸素、二酸化炭素、または水蒸気などの対象分析物をフィルムに通して透過率を測定するものがよく知られ、広く利用されている。通常、試験されるフィルムは試験室を第一室と第二室に分離して密閉するように配置される。第一室 (一般に駆動室または分析物室と称される)には既知濃度の対象分析物を含む気体(一般に駆動気体という)が充填される。第二室(一般に検知室と称される)にはセルから対象分析物を流し去るように不活性気体(一般にキャリア気体という)が流される。対象分析物用のセンサーは検知室と流体連通して配置され、駆動室から試験フィルムを透過して検知室に移動してきた対象分析物の存在を検出する。本発明の様々な態様では、対象分析物の透過試験器で用いられる試験プロトコルをコンピュータ制御で適応させることにより、測定の正確性や信頼性を犠牲にせずに効率的な試験プロトコルを確実に選択できるようになる。
検知期間適応機器
本発明の第一態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、透過試験期間を通して定期的に対象分析物を測定し、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて、以後の対象分析物の透過率測定の検知期間を調整するようにプログラムされている。従来は何らかの中間値に検知期間を設定する初期設定(すなわち10分)がなされ、検知期間が短すぎて透過率測定値の正確性に潜在的に悪影響を与えようが、検知期間が長すぎて検知容量を不必要に独占したり消耗品を使い果たしたりしようが構わないものであったが、本発明のこの態様ではこのような従来の初期設定を除外している。
概して図1Aによれば、検知期間適応機器の第一実施例のためのプログラミングには、試験を開始するステップ101と、検知期間tを最初の期間t0に設定するステップ102と、検知期間tの間に対象分析物の透過率(TATR)測定を行うステップ103といった、従来通りの最初のステップを含む。
ステップ103における少なくともいくつかの、望ましくはすべてのTATR測定の後、ステップ104でそのTATR測定値を所定の閾値と比較する。この所定の閾値は、対象分析物に対する透過性が高いことで検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物の濃度が高くなり、より短い期間でも正確に濃度を測定することが可能となるような試験フィルムに対応する値となるように選定する。一般的に、閾値としては酸素に関して約0.00025〜0.025(cc/日)、二酸化炭素に関して0.025〜2.5(cc/日)、水蒸気に関して0.000025〜0.0025(g/日)が通常適している。ステップ103におけるTATR測定値が閾値を超える場合、より短い検知期間で正確に測定できると予想して検知期間tをt0からより短い検知期間t1に再設定し(ステップ105)、サイクルを繰り返す。ステップ103におけるTATR測定値が閾値未満の場合、検知期間tはそのままにするかリセットしてt0にし、サイクルを繰り返す。
概して図1Bによれば、第一実施例と同様、検知期間適応機器の別の実施例のためのプログラミングには、試験を開始するステップ101と、検知期間tを最初の期間t0に設定するステップ102と、対象分析物の透過率(TATR)の測定を行うステップ103といった、従来通りの最初のステップを含む。この実施例では検知期間tを最初の期間t0に設定するステップ102を踏むかどうかは任意であるが、高い閾値と低い閾値が同じ値に設定されていない場合、ステップ102を踏むのが概して望ましく必要である。
ステップ103における少なくともいくつかのTATR測定、望ましくはすべてのTATR測定の後、第一実施例と同様に、ステップ1041においてそのTATR測定値を所定の高い閾値と比較する。この所定の高い閾値は、対象分析物に対する透過性が高いことで検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物の濃度が高くなり、より短い期間で正確に濃度を測定することが可能となるような試験フィルムに対応した値となるように選定する。ステップ103でTATR測定値が高い閾値を超える場合、より短い検知期間でも正確に測定できると予想して検知期間tをより短い検知期間t1に設定し(ステップ1051)、サイクルを繰り返す。
ステップ103におけるTATR測定値が高い閾値未満の場合、ステップ1042においてTATR測定値を既定の低い閾値と比較する。この所定の低い閾値は、対象分析物に対する透過性が最小限であって検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物が低濃度となり、正確な測定にはより長い期間が必要となるような試験フィルム(すなわち優れた対象分析物障壁)に対応した値となるように選定する。ステップ103におけるTATR測定値が低い閾値未満である場合、正確に測定するためにはより長い検知期間が必要であると予想して検知期間tをより長い検知期間t2に設定し(ステップ1052)、サイクルを繰り返す。ステップ103におけるこのTATR測定値が低い閾値よりも大きい場合、検知期間tはそのままにするかt0にリセットし、サイクルを繰り返す。
一般的に、高い閾値としては酸素について約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素について約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気について約0.000025から0.0025(g/日)、そして低い閾値としては酸素について約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素について約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気について約0.000025から0.0025(g/日)が通常適している。高い閾値と低い閾値との間に隔たりがある場合(すなわちこれらの閾値が同じでない場合)、ステップ102で初期値の期間t0を決めることによって、ステップ103におけるTATR測定値がその隔たり内(すなわち高い閾値未満で低い閾値よりも大きい範囲)に入った場合でも検知期間tの値が存在する(すなわちt0)ようにしなければならない。
前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値とは、直前の測定値であったり、複数の直前の測定値の平均値または中央値であったり、あるいは、例えば高い値と低い値を切り捨てた後に残った7つの測定値の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
再ゼロ校正頻度適応機器
本発明の第二態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。本発明のこの態様では、従来採用していた初期設定、すなわち必要か否かに関わらず頻繁に(すなわち透過率測定を実施する毎に一度の)再ゼロ校正を行う設定を除外している。
概して図2Aによれば、再ゼロ校正頻度適応機器の第一実施例のためのプログラミングには試験開始のステップ201、再ゼロ校正頻度をf0に設定するステップ202、再ゼロ校正実施のステップ203、対象分析物の透過率(TATR)測定を行うステップ204といった、従来通りの最初のステップを含む。一般に再ゼロ校正測定の頻度は、TATR測定の実施回数(例えばTATR測定を実施する毎に一度)に基づくが、時間に基づいてもよい。
設定された再ゼロ校正の頻度f0に基づいて再ゼロ校正(ステップ205)が予定されていない場合、この機器はTATR測定の予定に従って再ゼロ校正を行わずに、次のTATR測定に移る。設定された再ゼロ校正の頻度f0に基づいて再ゼロ校正(ステップ205)が予定されている場合、ステップ206においてそのTATR測定値と所定の閾値とを比較する。この所定の閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも2桁、望ましくは3桁大きく、仮に最終TATR値に対して再ゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する閾値としては、酸素に関して約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素に関しては約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気に関して0.000025から0.0025(g/日)である。ステップ204におけるTATR測定値が閾値よりも大きい場合、TATR測定の予定に従って機器は再ゼロ校正を実施せず、次のTATR測定に移る。ステップ204におけるTATR測定値が閾値よりも小さい場合、ステップ204で次のTATR測定が実施される前にステップ203で再ゼロ校正を実施し、サイクルを繰り返す。
概して図2Bによると、再ゼロ校正頻度適応機器のもう一つの実施例のためのプログラミングには、第一実施例と同様に、試験開始のステップ201、再ゼロ校正頻度fを最初の間隔f0に設定するステップ202、再ゼロ校正を実施するステップ203、対象分析物の透過率(TATR)を測定するステップ204といった従来通りの最初のステップを含む。改めて述べると、通常は再ゼロ校正測定の頻度はTATR測定の実施回数(例えばTATR測定を実施する毎に一度)に基づくが、時間に基づいてもよい。本実施例において再ゼロ校正頻度fを最初の間隔f0に設定するステップ202を踏むかどうかは任意であるが、高い閾値と低い閾値が同じ値に設定されていない場合、ステップ202を踏むのが概して望ましく必要である。
設定された再ゼロ校正の頻度fに基づく再ゼロ校正(ステップ205)が予定されてないとき、この機器はTATR測定の予定に従い、再ゼロ校正を行わずに次のTATR測定へと進む。設定された再ゼロ校正の頻度fに基づく再ゼロ校正(ステップ205)が予定されている場合、ステップ2061でそのTATR測定値と所定の高い閾値とを比較する。この所定の閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも2桁、望ましくは3桁大きく、仮に最終TATR値に対して再ゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。ステップ204におけるTATR測定値が高い閾値よりも大きい場合、再ゼロ校正値の緩やかな調節により、正確性に重大な影響を与えることなく透過試験期間を短縮できるであろうと見込んで、頻度fをより低い頻度f1に再設定する(ステップ2071)。
ステップ205におけるTATR測定値が高い閾値未満である場合、ステップ2062でこのTATR測定値と所定の低い閾値を比較する。この所定の低い閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値よりも少なくとも2桁小さいか同程度であって、仮に最終TATR値に対して再ゼロ校正で調整を行うとおそらく統計的に有意な差が出るような値となるように選定する。ステップ204におけるTATR測定値が低い閾値未満である場合、透過試験期間は長期化するものの、正確性を確保するには再ゼロ校正値の厳重な管理が必要かつ適切であると見込んで、頻度fをより高い頻度f2に再設定する(ステップ2072)。
一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する高い閾値としては、酸素について約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素について約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気について約0.000025から0.0025(g/日)、そして低い閾値としては酸素について約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素について約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気について約0.000025から0.0025(g/日)である。高い閾値と低い閾値の間に隔たりがあるとき(すなわちこれら2つの閾値が同じでないとき)、ステップ202で初期の頻度f0を決めておくことによって、ステップ204におけるTATR測定値がその隔たり内(すなわち高い閾値未満で低い閾値よりも大きい範囲)に入った場合でも頻度fの値が存在する(すなわちf0)ようにしなければならない。
前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値とは、直前の測定値であったり、複数の直前の測定値の平均値または中央値であったり、あるいは、例えば高い値と低い値を切り捨てた後に残った7つの測定値の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
個別のゼロ校正の可否判定に関して適応する機器
本発明の第三態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であって、透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定し、この確定した透過率が所定の閾値を下回るとき、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーの個別のゼロ校正を行うようにプログラムされる。本発明のこの態様では、必要性とは関係なく個別のゼロ校正を行っていた従来の初期設定を除外している。
概して図3によると、個別のゼロ校正可否判定に関する適応型機器の第一実施例としてのプログラミングには、試験開始のステップ301、試験完了のステップ302、試験データから対象分析物の透過率(TATR)を決定するステップ303といった、従来通りの最初のステップを含む。
試験を完了(ステップ302)し、試験フィルムに対する対象分析物の透過率(TATR)を決定(ステップ303)した後、ステップ304においてその決定したTATR値と所定の閾値を比較する。この所定の閾値は、個別のゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも3桁、望ましくは4桁大きく、仮に決定したTATR値に対して個別のゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する閾値としては、酸素について約0.00025から0.025(cc/日)、二酸化炭素について約0.025から2.5(cc/日)、水蒸気について約0.000025から0.0025(g/日)である。ステップ303で決定したTATR値が閾値を越える場合、個別のゼロ校正を一度も行わずに試験期間を終了する(ステップ306)。ステップ303で決定したTATR値が閾値未満である場合、試験期間の終了(ステップ306)の前に個別のゼロ校正を実施する(ステップ305)。
試験フィルムに対する対象分析物の透過率の確定値としては、最終測定値であったり、透過試験期間の締めくくりに行われる複数の連続した測定値の平均値または中央値であったり、あるいは例えば高い値と低い値を切り捨てた後の最後に残る7つの測定の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
試験手順
試験したいフィルムをいずれかのセルの試験室内に「装着」して試験室を駆動室と検知室に密閉分離し、フィルムの既知面積の部位が両室に露出した状態とする。その後、第一遮断弁を開いて不活性キャリア気体を検知室に流し、対象分析物があれば検知室から流れ去るようにする。次に第二遮断弁を開いて既知濃度の対象分析物を含む駆動気体が駆動室に流れるようにする。すると、検知室内の対象分析物の存在が対象分析物センサーによって検出・記録される。分析物が検知室内に入ることのできる経路をフィルムの「露出」領域を通る経路のみとすることにより、定常状態に達したときの対象分析物センサーによる対象分析物の検出率がフィルムの「露出」した既知面積の部位に対する対象分析物の透過率に等しいと考えることができる。
再ゼロ校正は、不活性キャリア気体の検知室内への流れを一時的に封じ、不活性キャリア気体を対象分析物センサーに直接流して実施される。
対象分析物の透過率測定の頻度、再ゼロ校正の頻度、そして個別のゼロ校正を実施するかどうかの最適な選択は、ユーザーによる入力なしにコンピュータ制御によって自立的になされる。

Claims (35)

  1. 適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器は透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率測定を行い、各々の測定にひとつの検知期間を用い、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて以後の対象分析物の透過率測定の検知期間の長さを調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  2. 適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を超えた場合、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  3. 適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて、対象分析物センサーの以後の再ゼロ校正頻度を調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  4. 適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、(‐)確定した対象分析物の試験フィルムに対する透過率が所定の閾値を下回る場合、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーについて個別のゼロ校正を行うようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  5. 請求項1の適応型分析器であって、コンピュータ制御される透過試験器がさらに(‐)透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を超える場合、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  6. 請求項1の適応型分析器であって、このコンピュータ制御される透過試験器がさらに(‐)透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、(‐)前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値に基づいて、対象分析物センサーの以後の再ゼロ校正頻度を調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  7. 請求項1の適応型分析器であって、コンピュータ制御される透過試験器がさらに、最終の対象分析物の透過率測定値が所定の閾値を下回る場合に、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーに対して個別のゼロ校正を実施するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
  8. 請求項1の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
  9. 請求項1の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
  10. 請求項1の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
  11. 請求項1の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を越える場合、以後の検知期間の長さが長く設定され、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を下回る場合、以後の検知期間の長さは短く設定されることを特徴とする分析器。
  12. 請求項1の適応型分析器であって、検知期間の長さが最初の長さに設定され、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を越える場合、その最初の長さを長くすることを特徴とする分析器。
  13. 請求項1の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が、直前の測定値であることを特徴とする分析器。
  14. 請求項1の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が、複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
  15. 請求項2の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
  16. 請求項2の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
  17. 請求項2の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
  18. 請求項2の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が直前の測定値であることを特徴とする分析器。
  19. 請求項2の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
  20. 請求項3の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
  21. 請求項3の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
  22. 請求項3の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
  23. 請求項3の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を上回った場合、以後の再ゼロ校正頻度を下げて設定され、先行の対象分析物の透過率測定値のうち少なくとも1つの値が所定の閾値を下回った場合、以後の再ゼロ校正頻度を上げて設定されることを特徴とする分析器。
  24. 請求項3の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が所定の閾値を上回る場合、以後の再ゼロ校正頻度が最初の頻度に設定されることを特徴とする分析器。
  25. 請求項3の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が直前の測定値であることを特徴とする分析器。
  26. 請求項3の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも1つの値が複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
  27. 請求項4の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
  28. 請求項4の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
  29. 請求項4の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
  30. 請求項4の適応型分析器であって、試験フィルムに対する対象分析物の透過率が確定し、その透過率が最終測定の値であることを特徴とする分析器。
  31. 請求項4の適応型分析器であって、試験フィルムに対する対象分析物の透過率が確定し、その確定した透過率が透過試験期間の締めくくりに行われる複数の連続した測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
  32. 試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
    (a)請求項1のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
    (b)試験フィルムを入手するステップと、
    (c)ユーザーによる入力または検知期間の長さの選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
  33. 試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
    (a)請求項2のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
    (b)試験フィルムを入手するステップと、
    (c)ユーザーによる入力または再ゼロ校正頻度の選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使い、試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
  34. 試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
    (a)請求項3のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
    (b)試験フィルムを入手するステップと、
    (c)ユーザーによる入力または再ゼロ校正頻度の選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
  35. 試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
    (a)請求項4のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
    (b)試験フィルムを入手するステップと、
    (c)個別のゼロ校正を行うかどうかを決定するユーザー入力なしに、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
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