JP2019215426A - 撮像装置およびその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】撮影予備動作時と露光時とにおける構図のずれを抑制しつつ、適切な防振効果が得られる像ブレ補正を行うことができる撮像装置を提供する。【解決手段】撮像素子6を駆動して像ブレ補正を行う第1の防振機構14または光学部材を駆動して像ブレ補正を行う第2の防振機構17の駆動を制御する撮像装置を設ける。撮像装置1は、撮影条件に応じて、撮影予備動作の期間における、第1の防振機構14または第2の防振機構17の像ブレ補正のための駆動と、撮影開始指示がされてから撮像素子6への露光が開始されるまでの期間における、第1の防振機構14または第2の防振機構17の所定の位置への駆動を制御する。【選択図】図1
Description
本発明は、撮像装置およびその制御方法に関する。
撮像装置の高性能化により、撮像素子を光軸に直交する平面内で駆動させて像ブレを補正する振れ補正機構(像面防振機構)を備える撮像装置が提案されている。より高い手振れ補正性能を実現するために、撮影レンズと撮像装置本体のそれぞれに振れ補正機構を備えた撮像装置も提案されている。
振れ補正機構を備える撮像装置では、撮影者が意図する構図に沿うとともに、所望の防振効果が得られるように振れ補正機構を駆動することが求められる。撮影者が意図する構図に沿った像ブレ補正とは、例えば、構図決めを行う撮影予備動作(S1動作)と、露光を行う撮影動作(S2動作)とで、振れ補正機構の駆動による構図のずれが抑制されるようにすることである。
特許文献1は、S1動作では、撮影レンズに設けられた振れ補正機構を利用し、S2動作では、撮像装置本体に設けられた振れ補正機構を利用する撮像装置を開示している。また、特許文献2は、露光を行う撮影動作の際に振れ補正機構をセンタリングし、センタリング時の位置情報に基づいて、画像信号を修正する撮像装置を開示している。センタリングとは、振れ補正機構を所定の位置(例えば可動範囲の中心位置)へ駆動させることである。
特許文献1が開示する撮像装置では、撮影予備動作と露光を行う撮影動作とで、利用する振れ補正機構を切り替える。すなわち、この撮像装置は、振れ補正機構ごとに動作のタイミングを割り当てているので、適切な防振効果が得られない場合がある。また、特許文献2の撮像装置は、センタリング動作を、焦点距離など撮影条件によらず行うので、センタリングに伴う構図のずれと防振性能のバランスが十分に図られない。また、この撮像装置では、画像修正によって画素数が低下する場合がある。本発明は、撮影予備動作時と露光時とにおける構図のずれを抑制しつつ、適切な防振効果が得られる像ブレ補正を行う撮像装置の提供を目的とする。
本発明の一実施形態の撮像装置は、撮像素子を光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第1の像ブレ補正機構または撮像光学系が有する光学部材を前記光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第2の像ブレ補正機構の駆動を制御する制御手段を備える。前記制御手段は、撮影条件に応じて、撮影予備動作の期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の像ブレ補正のための駆動と、撮影開始指示がされてから前記撮像素子への露光が開始されるまでの期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制御する。
本発明の撮像装置によれば、撮影予備動作時と露光時とにおける構図のずれを抑制しつつ、適切な防振効果が得られる像ブレ補正を行うことができる。
図1は、本実施形態の撮像装置の構成例を示す図である。
図1(A)は、撮像装置の断面を示す。図1(B)は、撮像装置の電気的構成を示す。図1(A)と図1(B)とにおいて、同じ符号が付された構成要素は、同じ構成要素を示す。
図1(A)は、撮像装置の断面を示す。図1(B)は、撮像装置の電気的構成を示す。図1(A)と図1(B)とにおいて、同じ符号が付された構成要素は、同じ構成要素を示す。
図1(A)に示す撮像装置は、撮像装置本体(カメラ)1と、カメラ1に装着可能なレンズユニット2とを有する。撮像光学系3は、ズームレンズ、フォーカスレンズ、振れ補正レンズ等の複数のレンズを有する。光軸4は、撮像光学系3の光軸である。撮像素子6は、撮像光学系3を通った光を光電変換して撮像画像に係る画像信号を出力する。背面表示装置9aと電子ビューファインダ(EVF)9bは、所定の情報を表示する。電気接点11は、撮像装置1とレンズユニット2との間の電気接点である。レンズシステム制御部12は、レンズユニット2に設けられ、レンズユニット2全体を制御する。第1の防振機構14は、撮像素子6を光軸4に直交する平面内で駆動するとともに、光軸4周りに回転させることで、像ブレを補正する第1の像ブレ補正機構として機能する。第1の振れ検知部15は、光軸4周りの回転を含む撮像装置の回転振れを検知する。第1の振れ検知部15として、振動ジャイロなどを用いることができる。
シャッタ機構16は、撮像素子6への露光を調整する。第2の防振機構17は、撮像光学系3が有する像ブレ補正用の光学部材である振れ補正レンズを光軸に直交する平面内で駆動することで、像ブレを補正する第2の像ブレ補正機構として機能する。第2の振れ検知部18は、光軸4周りの回転を含まない2軸周りの撮像装置の振れを検知する。第2の振れ検知部18として、振動ジャイロなどを用いることができる。なお、本発明は、第1の振れ補正機構と第2の振れ補正機構のうち、いずれか一方を有する撮像装置にも適用可能である。また、本発明は、レンズユニットが内蔵された撮像装置にも適用することができる。
図1(B)に示すレンズユニット2は、撮像光学系3、レンズシステム制御部12、レンズ駆動部13、第2の防振機構17を有する。また、撮像装置本体1は、カメラシステム制御部5、撮像素子6、画像処理部7、メモリ部8、表示部9、操作検出部10、第1の防振機構14、第1の振れ検知部15、シャッタ機構を有する。
撮像光学系3と撮像素子6とシャッタ機構16は、被写体を撮像する撮像手段として機能する。撮像手段は、物体からの光を、撮像光学系3を介して撮像素子6の撮像面に結像する光学処理系である。撮像素子6からピント評価量/適当な露光量が得られ、得られたピント評価量/適当な露光量信号に基づいて、適切に撮像光学系3が調整される。これにより、適切な光量の被写体光が撮像素子6に露光されるとともに、撮像素子6近傍で被写体像が結像する。
シャッタ機構16は、シャッタ幕を走行させる。シャッタ機構16は、少なくとも被写体像を遮るための幕(メカ後幕)を備える。本実施形態では、撮像素子6が、シャッタ機構16の後幕走行に先だって、ラインごとに電荷をリセットすることによって露光開始のタイミングを制御するモード(電子先幕)を有する。電子先幕のモードでは、撮像素子6の電荷リセット(電子先幕)と、シャッタ機構16の後幕を同期させて動作させることで露出制御が行われる。電子先幕に関しては、多くの先行技術が開示されているので説明を省略する。
画像処理部7は、内部にA/D変換器、ホワイトバランス調整回路、ガンマ補正回路、補間演算回路等を有しており、記録用の画像を生成することができる。色補間処理手段はまた、画像処理部7には、色補間処理部が設けられている。色補間処理部は、ベイヤ配列の信号から色補間(デモザイキング)処理を施してカラー画像を生成する。また、画像処理部7は、予め定められた方法を用いて画像、動画、音声などの圧縮を行う。また、メモリ部8は、情報を記録する記録部を備えている。カメラシステム制御部5は、メモリ部8の記録部へ出力を行うとともに、表示部9に画像を表示する。
レンズシステム制御部12は、レンズユニット2全体を制御する。レンズシステム制御部12は、例えば、第2の振れ検知部18が検知した振れに係る信号に基づいて、レンズ駆動部13を制御する。レンズ駆動部13は、フォーカスレンズ、第2の防振機構17、絞りなどを駆動することができる。
カメラシステム制御部5は、撮像装置本体1全体を制御する。カメラシステム制御部5は、例えば、第1の振れ検知部15が検知した振れに係る信号に基づいて、第1の防振機構14を駆動させる。操作検出部10は、撮影者(ユーザ)の操作を検出する。背面表示装置9aはタッチパネルになっており、操作検出部10に接続されている。本実施形態では、カメラシステム制御部5とレンズシステム制御部12の双方または一方を、制御部とも記述する。
カメラシステム制御部5は、撮像の際のタイミング信号などを生成して出力する。カメラシステム制御部5は、外部操作に応じて、撮像系、画像処理系、記録再生系をそれぞれ制御する。例えば、不図示のシャッターレリーズ釦の押下を操作検出部10が検出すると、カメラシステム制御部5は、撮像素子6の駆動、画像処理部7の動作、圧縮処理などを制御する。
カメラシステム制御部5には、画像処理部7が接続されており、撮像素子6が出力する信号に基づいて、適切な焦点位置、絞り値を求める。つまり、カメラシステム制御部5は、撮像素子6が出力する信号に基づいて、測光・測距動作を行い、露出条件(Fナンバーやシャッタ速度等)を決定する。
また、カメラシステム制御部5は、電気接点11を介してレンズシステム制御部12に指令を出し、レンズシステム制御部12は、レンズ駆動部13を制御する。操作検出部10を用いたユーザの操作に応じて、カメラシステム制御部5が撮像装置1の各部の動作を制御することで、静止画および動画の撮影が可能である。つまり、操作検出部10は、ユーザによる撮影予備動作に関する指示と、撮影動作に関する指示とを受け付けて入力する指示入力手段として機能する。
本実施形態では、撮像装置が備える制御部は、第1の振れ検知部15からの信号に基づいて、第1の防振機構14を駆動する。また、制御部は、第2の振れ検知部18からの信号に基づいて、第2の防振機構17を駆動する。制御部が、撮影条件に応じて、第1の防振機構14と第2の防振機構17との駆動比率を決定することで、全体として統一された防振動作がなされる。第1の振れ検知部15からの信号に基づく目標値の生成と第1の防振機構14の駆動制御は、カメラシステム制御部5が担っている。第2の振れ検知部18からの信号に基づく目標値の生成と第2の防振機構17の駆動制御は、レンズシステム制御部12が担っている。
カメラ操作の流れを簡単に説明する。ユーザが、不図示のシャッターレリーズ釦を半分押し下げると、操作検出部10が、撮影予備動作の開始指示(S1)を検出する。撮影予備動作中の状態は、いわゆる構図を定めるエイミング動作中である。この時、構図決めを容易にするために、制御部は、第1の防振機構14または第2の防振機構17を駆動させて像ブレ補正を行う。その後、ユーザがシャッターレリーズ釦を全押しすると、操作検出部10が、撮影動作の開始指示(S2)を検出する。この時、露光して取得される被写体像のブレを抑制するために、制御部が、第1の防振機構14または第2の防振機構17を駆動して像ブレ補正を行う。露光後に一定時間が経過すると、防振動作が停止される。本発明の特徴の一つである予め定められた所定位置への振れ補正機構の移動(センタリング動作)は、S2の直後および露光の後になされる。制御部は、カメラの状態に応じてセンタリング動作を制御する。
図2は、撮像装置が備える第1の防振機構の構成例を示す図である。
図2を参照して、第1の防振機構14が備える像ブレ補正を行うための部材について説明する。第1の防振機構14は、別途制御を行う電気的な仕組みを実現する部材も存在するが、図2では説明を省略する。
図2を参照して、第1の防振機構14が備える像ブレ補正を行うための部材について説明する。第1の防振機構14は、別途制御を行う電気的な仕組みを実現する部材も存在するが、図2では説明を省略する。
図2において、一点鎖線が延びる方向(縦方向)は、光軸4と平行な方向である。図2において、移動しない部材である固定部には、100番台の番号を付した。移動する部材である可動部には、200番台の番号を付した。さらに、固定部と可動部とで挟持されるボールには300番台の番号を付した。
第1の防振機構14は、上部ヨーク101、ビス102a,102b,102c、上部磁石103a,103b,103c,103d,103e,103f、補助スペーサ104a,104b、メインスペーサ105a,105b,105cを備える。また、第1の防振機構14は、固定部転動板106a,106b,106c、下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107f、下部ヨーク108、ビス109a,109b,109c、ベース板110を備える。また、第1の防振機構14は、FPC201、可動PCB203、可動部転動板204a,204b,204c、コイル205a,205b,205c、可動枠206、ボール301a,301b,301cを備える。位置202a、202b,202cは、位置検出素子取り付け位置を示す。
上部ヨーク101、上部磁石103a,103b,103c,103d,103e,103f、下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107f、下部ヨーク108が、磁気回路を形成しており、いわゆる閉磁路を為している。上部磁石103a,103b,103c,103d,103e,103fは、上部ヨーク101に吸着した状態で接着固定されている。同様に下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107fは、下部ヨーク108に吸着した状態で接着固定されている。
上部磁石103a乃至103fと下部磁石107a乃至107fは、それぞれ光軸方向に着磁されている。例えば磁石103aと103bのような位置関係にある、隣接する磁石は、互いに異なる向きに着磁されている。また、例えば磁石103aと107aの位置関係にある対向する磁石は、互いに同じ向きに着磁されている。これにより、上部ヨーク101と下部ヨーク108の間に光軸方向に強い磁束密度が生じる。
上部ヨーク101と下部ヨーク108の間には強い吸引力が生じる。したがって、メインスペーサ105a,105b,105cおよび補助スペーサ104a,104bで適当な間隔を保つようにしている。適当な間隔とは、上部磁石103a乃至103fと下部磁石107a乃至107fの間にコイル205a乃至205cおよびFPC201を配置するとともに適当な空隙を確保できるような間隔である。メインスペーサ105a,105b,105cには、ネジ穴が設けられており、ビス102a,102b,102cによって上部ヨーク101がメインスペーサ105a,105b,105cに固定される。メインスペーサ105a,105b,105cの胴部には、ゴムが設置されており、可動部の機械的端部(いわゆるストッパー)を形成している。
ベース板110には、下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107fを避けるように穴が設けられており、この穴から磁石の面が突出する。すなわち、ビス109a,109b,109cによって、ベース板110と下部ヨーク108が固定される。そして、ベース板110よりも厚み方向の寸法が大きい下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107fが、ベース板110から突出するように固定される。
可動枠206は、マグネシウムダイキャスト若しくはアルミダイキャストで形成されており、軽量で剛性が高い。可動枠206に対して可動部の各要素が固定されて可動部を為している。FPC201には、位置202a、202b,202cで示した位置検出素子取り付け位置で、図2では見えない側の面に位置検出素子が取り付けられている。前述した磁気回路を利用して位置を検出できるように、位置検出素子として、例えばホール素子などを用いる。ホール素子は、小型であるので、コイル205a,205b,205cの巻き線の内側に入れ子になるように配置される。可動PCB203には、不図示の撮像素子6、コイル205a,205b,205cおよびホール素子が接続されている。可動PCB203上のコネクタを介して外部との電気的なやり取りが行われる。
ベース板110には、固定部転動板106a,106b,106cが接着固定され、可動枠206には可動部転動板204a,204b,204cが接着固定されて、ボール301a,301b,301cの転動面が形成される。転動板を別途設けることで、表面粗さや硬さなどを好ましい状態に設計することが容易となる。
上述した構成でコイルに電流を流すことで、フレミング左手の法則に従った力が発生し可動部を動かすことができる。また、前述した位置検出素子であるホール素子の信号を用いることで、フィードバック制御を行うことができる。ホール素子信号の値を適切に制御することで、光軸4に直交する平面内で、可動枠203が並進運動するとともに光軸周りに回転することができる。
位置202aにあるホール素子の信号を一定に保ったまま、位置202bと202cにあるホール素子の信号を逆位相で駆動することで、光軸4周りの回転運動を生み出すことができる。位置202a、202b,202cでは、光軸4方向の磁束密度が検出される。上部磁石103a,103b,103c,103d,103e,103fと下部磁石107a,107b,107c,107d,107e,107fなどからなる磁気回路の特性は、一般的に非線形である。したがって、位置202a、202b,202cで検出される磁束密度は、必ずしも駆動範囲の全てで一定の分解能ではなく、検出分解能は変化する。磁束密度の変化については、急峻な位置と、なだらかな位置があり、急峻な位置ほど検出分解能が高く、移動量に対する磁束密度変化が大きい。図2に示した磁気回路では、例えば磁石103aと103bの境界位置のように、磁石の境界位置が、最も磁束密度の変化が大きく、検出分解能が高い。
図3は、撮像装置が備える第2の防振機構の構成例を示す図である。
図3において、一点鎖線が延びる方向(縦方向)は、光軸4と平行な方向である。第2の防振機構17は、固定枠431、可動枠436、球432a,432b,432cを備える。球432a,432b,432cは、固定枠431と可動枠436に狭持される。また、第2の防振機構17は、固定枠431に固定されたコイル433a,433b、可動枠436に固定された磁石434a,434b、可動枠436を固定枠431に対して弾性的に保持するための弾性体435a,435b,435cを備える。また、第2の防振機構17は、磁石吸着板(裏面ヨーク)437、吸着板固定螺旋438a,438b、可動枠保持板439、FPC440、FPC固定螺旋441a,441bを備える。図3から明らかなように、第2の防振機構17は、固定枠431に対して片側に展開可能であり、組み付けが容易であるので、生産性が向上し、コストの低減が見込める。
図3において、一点鎖線が延びる方向(縦方向)は、光軸4と平行な方向である。第2の防振機構17は、固定枠431、可動枠436、球432a,432b,432cを備える。球432a,432b,432cは、固定枠431と可動枠436に狭持される。また、第2の防振機構17は、固定枠431に固定されたコイル433a,433b、可動枠436に固定された磁石434a,434b、可動枠436を固定枠431に対して弾性的に保持するための弾性体435a,435b,435cを備える。また、第2の防振機構17は、磁石吸着板(裏面ヨーク)437、吸着板固定螺旋438a,438b、可動枠保持板439、FPC440、FPC固定螺旋441a,441bを備える。図3から明らかなように、第2の防振機構17は、固定枠431に対して片側に展開可能であり、組み付けが容易であるので、生産性が向上し、コストの低減が見込める。
可動枠436は、固定枠431に対して複数の弾性体435a,435b,435cで弾性支持されている。本実施形態では、弾性体435a,435b,435cが、光軸4から放射状に120度の間隔で3本配置されている。弾性体を対称な配置とすることで、モーメントの発生による不要共振の励起を抑制することが可能となる。また、弾性体435a,435b,435cは、光軸4の方向に適宜傾けて取り付けられており、固定枠431と可動枠436の間に設けられた3つの球432a,432b,432cを把持している。また、3つの球432a,432b,432cと固定枠431と可動枠436が接する面が案内面となる。可動枠436が、球によって案内されるので、転がり摩擦によって低い摩擦係数での動作を可能としている。転がり摩擦が小さいので、非常に小さな入力に対しても適切に応答することができる。また、3つの球432a,432b,432cを適切な精度で製作することにより、固定枠431と可動枠436が相対運動を行った場合でも、可動枠436の傾きや光軸4方向への不要な移動が発生することがない。
次に、第2の防振機構17の駆動部について説明する。第2の防振機構17の駆動部は、コイル433a,433bと、磁石434a,434bおよび磁石吸着板437で形成される磁気回路を有する。磁石434a,434bは、2つの領域に分けて着磁されている。磁石434a,434bにおける着磁の境界が破線で示される。固定枠431にコイル433a,433bが固定されており、可動枠436は、磁石434a,434bが固定されている。これにより、いわゆるムービングマグネット型のアクチュエータが実現される。但し、ムービングマグネット型は例示であって、本発明は、ムービングコイル型の機構にも適用可能である。コイル433a,433bに電流を流すことで、フレミング左手の法則に従った力が発生し、可動枠436を固定枠431に対して相対的に変位させることができる。これにより、可動枠436の2軸方向(光軸4に直交する平面内)の移動が可能となる。可動枠436には、不図示の振れ補正レンズが固定されており、前述した2軸方向の移動により、撮影光束を偏向させることができる。
図4は、撮影条件と撮影状況に応じた防振機構の駆動を説明する図である。
図4(A)は、撮影条件と撮影状況に応じた防振機構の駆動を説明する表である。図4(B)は、防振機構の駆動の時間的な変化を示す。図4(C)および(D)は、防振機構の動作を光軸方向から見たときの様子を示す。図4(C)は、防振機構がセンタリング動作を行わない場合の動作例を示す。図4(D)は、防振機構がセンタリング動作を行う場合の動作例を示す。センタリング動作は、防振機構を所定の位置(例えば可動範囲の中心位置)へ駆動させる動作である。
図4(A)は、撮影条件と撮影状況に応じた防振機構の駆動を説明する表である。図4(B)は、防振機構の駆動の時間的な変化を示す。図4(C)および(D)は、防振機構の動作を光軸方向から見たときの様子を示す。図4(C)は、防振機構がセンタリング動作を行わない場合の動作例を示す。図4(D)は、防振機構がセンタリング動作を行う場合の動作例を示す。センタリング動作は、防振機構を所定の位置(例えば可動範囲の中心位置)へ駆動させる動作である。
図4(A)中に示すWIDE,TELEは、撮像装置の撮影条件の一例を示す。WIDEは、撮像光学系3の焦点距離が短い状態(広角撮影の状態)を示す。TELEは、焦点距離が長い状態(望遠撮影の状態)を示す。BODYは、第1の防振機構14を示す。LENSは、第2の防振機構17を示す。
S1防振乃至センタリング2は、カメラの撮影状況を示す。S1防振は、S1保持中(撮影予備動作中)の防振のための防振機構の駆動を示す。センタリング1は、S2指示後(撮影開始指示後)から露光が開始されるまでの間のセンタリング動作を示す。S2防振は、露光中の防振動作を示す。センタリング2は、露光の終了後のセンタリング動作を示す。図4(A)の表において、○は、動作することを示し、×は、動作しないことを示す。−は、対応する概念が存在しないことを示す。
また、図4(B)、(C)および(D)において、タイミング41は、S1のタイミング(撮影予備動作の開始指示のタイミング)を示す。タイミング42は、S2のタイミング(撮影開始指示のタイミング)を示す。タイミング43は、露光終了のタイミングを示す。タイミング44は、露光開始のタイミングを示す。タイミング41からタイミング42の間は、S1状態が保持されている。
軌跡51は、S1防振における防振機構の駆動による軌跡を示す。軌跡52は、S2防振における防振機構の動作による軌跡を示す。図4(B)では、横軸が時間軸であるので、軌跡は模式的なイメージとして示した。駆動範囲61は、S1防振における防振機構の駆動範囲を示す。駆動範囲62は、S2防振における防振機構の駆動範囲を示す。ストローク63は、センタリング1において防振機構のセンタリング動作を行わない場合の、片側ストロークの小さいほうを示す。ストローク64は、センタリング1において防振機構のセンタリング動作を行った場合の片側ストロークを示す。防振機構の駆動範囲は、2次元的な広がりを持った円で表現され、図4(B)、(C)および(D)においては、駆動範囲は円とその直径として図示される。片側ストロークとは、所定方向の駆動幅であり、防振機構が円の中心から駆動を始める場合には、その半径に対応する。さらに、センタリング動作を行わない場合のように、防振機構が円の中心ではない位置から駆動を始める場合には、片側ストロークとは、駆動開始から円に接するまでの距離のことを示す。防振機構の駆動方向によって、片側ストロークは異なる。
まず、図4(A)の表を参照して、撮影条件および撮影状況に応じた防振機構の制御に関して説明する。
焦点距離が短い場合(撮影条件がWIDEの場合)、S1防振については、撮像装置が備える制御部は、第1の防振機構(BODY)14、第2の防振機構(LENS)17の双方を駆動する。S2後のセンタリング動作(センタリング1)については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともにセンタリング動作を実行する。S2防振については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17の双方を駆動する。露光後のセンタリング動作(センタリング2)については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともに駆動する。
焦点距離が短い場合(撮影条件がWIDEの場合)、S1防振については、撮像装置が備える制御部は、第1の防振機構(BODY)14、第2の防振機構(LENS)17の双方を駆動する。S2後のセンタリング動作(センタリング1)については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともにセンタリング動作を実行する。S2防振については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17の双方を駆動する。露光後のセンタリング動作(センタリング2)については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともに駆動する。
次に、焦点距離が長い場合(撮影条件がTELEの場合)の防振機構の駆動について説明する。S1防振については、制御部は、第1の防振機構14を駆動せず、第2の防振機構17を駆動する。S2後のセンタリング動作(センタリング1)については、制御部は、第1の防振機構14を駆動しない。第1の防振機構14は、撮影予備動作中は駆動していないので、センタリング動作が必要ないからである。また、S2後のセンタリング動作については、制御部は、第2の防振機構17を駆動しない。
S2防振については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17の双方を駆動する。また、露光後のセンタリング動作(センタリング2)については、制御部は、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともに駆動する。
図4(A)の表では、×は、動作しない(駆動を禁止する)ことを示すが、他の実施形態においては、制御部が、×に対応する動作について、動作量(駆動量)を制限するようにしてもよい。例えば、制御部が、TELEの時のBODY側の防振について、第1の防振機構14の駆動量を制限するようにしてもよい。
図4(A)では、制御部が、露光後のセンタリング動作については、撮影条件がTELEであるかWIDEであるかに関わらず、第1の防振機構14、第2の防振機構17ともに駆動する例を説明した。制御部が、一度のS2の指示に対して一回の撮像を行う単写撮影の場合に、露光後に防振機構のセンタリング動作を実行し、一度のS2の指示に対して連続して撮像を行う連写撮影の場合には、露光後の防振機構のセンタリング動作を制限するようにしてもよい。図4(A)を参照して説明した制御処理において、本発明の最も要点となる部分は、制御部が、焦点距離に応じて、S2後のセンタリング動作を制御することにある。焦点距離に応じてS2後のセンタリング動作を制御する効果については、図5を用いて後述する。
次に、図4(B)乃至図4(D)を参照して、第1の防振機構14および第2の防振機構17の可動部の動きについて説明する。図4(B)乃至図4(D)においては、第1の防振機構14と第2の防振機構17の区別を行わずに説明をする。第1の防振機構14と第2の防振機構17を双方とも駆動させる場合には、それぞれの防振機構は、相似形状の軌跡を動きながら、割り当てられた所定の駆動比率で駆動する。したがって、図4(B)乃至図4(D)を参照した駆動シーケンスやストロークに関する説明では、防振機構を特定する必要がない。
図4(B)の横軸は、時間を示す。縦軸は、防振機構の駆動量を示す。タイミング41において、ユーザがS1を指示すると、制御部が防振機構を駆動して、防振動作を開始する。防振機構は、S1防振においては、軌跡51のように駆動する。駆動範囲61は、S1防振において防振機構が動作できる範囲である。構図が確定すると、タイミング42において、ユーザがS2を指示する。撮像装置は、S2の指示を受けると、タイミング44において、撮像素子6の電荷のリセット、シャッタ幕の走行など露光に必要な動作をして露光を開始する。タイミング42からタイミング44までの期間が、いわゆるレリーズタイムラグである。図4(A)中のセンタリング1でのセンタリング動作は、レリーズタイムラグの間に実行される。
S2防振において、防振機構の駆動によって、適宜像ブレ補正が実行される。この時の防振機構の可動部の動きの軌跡が、軌跡52である。駆動範囲62は、S2防振において防振機構が動作できる範囲である。一般的には、S1防振における駆動範囲61よりもS2防振における駆動範囲62のほうが大きい。
レリーズタイムラグの期間において防振機構のセンタリング動作を行わない場合には、S2のタイミング42の位置に可動部が留まるので、S2防振における可動範囲の狭いほうは、ストローク63で示す量になる。
レリーズタイムラグの期間においてセンタリング動作を行った場合には、S2のタイミング42から露光開始のタイミング44までの間に、予め定められた所定の位置(例えば、可動範囲の中心)に可動部が移動する。図4(B)に示す例では、可動部が、軸上まで移動する。したがって、この場合には、S2防振における可動範囲は、ストローク64で示す量になる。すなわち、センタリング動作を行うことで、所定の位置に可動部が移動し、像ブレ補正のために必要な防振機構の可動範囲(防振ストローク)を確保しやすい状態になる。これにより、どの方向に振れが生じた場合でも、適切な像ブレ補正が可能となる。
図4(C)は、レリーズタイムラグの期間においてセンタリングを行わない場合の防振機構の可動部の軌跡を光軸方向から示す。図4(D)は、レリーズタイムラグにおいてセンタリングを行う場合の防振機構の可動部の軌跡を光軸方向から示す。
図4(B)を参照した説明と同様に、制御部は、タイミング41からS1防振を開始する。その後、防振機構の可動部が、軌跡51に沿って駆動する。図4(C)と図4(D)とで、S1が指示されるまでは同じ動作なので、タイミング41からタイミング42までの軌跡は同一である。その後、タイミング42でS2が指示される。
図4(B)を参照した説明と同様に、制御部は、タイミング41からS1防振を開始する。その後、防振機構の可動部が、軌跡51に沿って駆動する。図4(C)と図4(D)とで、S1が指示されるまでは同じ動作なので、タイミング41からタイミング42までの軌跡は同一である。その後、タイミング42でS2が指示される。
図4(C)に示す例では、レリーズタイムラグの期間においてセンタリング動作を行わないので、タイミング44において、可動部はタイミング42における位置と同じ位置に留まる。図4(D)に示す例では、レリーズタイムラグの期間においてセンタリング動作を行うので、タイミング44では、可動部が原点に戻る。この時のセンタリング動作を矢印53で示す。その後、S2防振がなされ、可動部が軌跡52に沿って駆動する。
図4(C)と図4(D)とで、タイミング44からタイミング43までの間の可動部の軌跡は同一である。ただし、図4(C)では、レリーズタイムラグの期間においてセンタリング動作を行っていないので、防振ストロークが不足する。すなわち、軌跡52の一部である破線54は、不足する防振ストロークを示す。防振のためには、可動部を破線54で示すように動作させたいが、防振機構が駆動可能な範囲を超えるので、可動部の位置は、円で示すS2防振中の動作範囲62内に留まる。防振の観点のみを考えれば、S2後にセンタリング動作を行うことは適切な防振制御を行う上で効果がある。一方で、S2後にセンタリング動作を行うと、構図ずれが生じる。すなわち、ユーザがS1の指示の際に決定した構図とは異なる構図の画像が取得されることになる。
図5は、撮影予備動作と露光とでの構図のずれを説明する図である。
撮像範囲71は、S1保持中(撮影予備動作中)の状態から、ユーザがS2を指示した瞬間の撮像範囲を示す。撮像範囲72は、S2後に制御部が防振機構のセンタリング動作を行った場合の撮像範囲を示す。図5(A)は、望遠撮影の場合の撮像範囲を示す。図5(B)は、広角撮影の場合の撮像範囲を示す。
撮像範囲71は、S1保持中(撮影予備動作中)の状態から、ユーザがS2を指示した瞬間の撮像範囲を示す。撮像範囲72は、S2後に制御部が防振機構のセンタリング動作を行った場合の撮像範囲を示す。図5(A)は、望遠撮影の場合の撮像範囲を示す。図5(B)は、広角撮影の場合の撮像範囲を示す。
図5(A)に示す望遠撮影について説明する。焦点距離の長い撮像光学系を用いて行う望遠撮影は、スポーツなどの撮影で多く用いられ、例えば、図5(A)に示すような運動会のシーンの撮影に適用される。この時、焦点距離が300mm、撮像素子有効領域が36x24mmとすると、撮影画角は、約8度である。
図5(B)に示す広角撮影について説明する。焦点距離の短い撮像光学系を用いて行う広角撮影は、風景写真などの撮影で多く用いられ、例えば、図5(B)に示すような観光地での風景のシーンの撮影に適用される。この時、焦点距離が24mm、撮像素子有効領域が36x24mmとすると、撮影画角は約84度である。焦点距離によって、撮影されている画角には大きな違いがある。
次に、撮影時の手振れについて考える。ユーザが撮像装置をしっかりと構えた時の振れ量は、望遠撮影であっても広角撮影であっても0.5度程度である。したがって、S1防振における防振機構の駆動範囲(図4の駆動範囲61)は、0.5度程度確保できているとよい。別の解釈をすると、S2後のセンタリング動作により、0.5度程度の構図の変化が生じる可能性がある。
図5に示す撮像範囲71は、S2の指示時の撮像範囲を示す。撮像範囲72は、S2後にセンタリング動作を行った場合の撮像範囲を示す。望遠撮影においては、撮影画角が狭いので、S2後のセンタリング動作による画角変化が相対的に大きい。広角撮影においては、撮影画角が広いので、S2後のセンタリング動作による画角変化が相対的に小さい。これにより、S2の指示時の撮像範囲71と、センタリング動作後の撮像範囲72とのずれ(構図のずれ)は、図5(B)の広角撮影の場合よりも図5(A)の望遠撮影の場合のほうが大きい。したがって、本実施形態の撮像装置は、図4を参照して説明したように、焦点距離が長い場合は、レリーズタイムラグの期間において、防振機構のセンタリング動作を行わない。その結果、焦点距離に応じて、撮影予備動作と露光とでの構図のずれを抑制することができる。
図4および図5を参照して説明したように、制御部は、撮影条件に応じて、撮影予備動作の期間における、第1の防振機構14または第2の防振機構17の像ブレ補正のための駆動を制御する。また、制御部は、撮影条件に応じて、撮影開始指示がされてから撮像素子への露光が開始されるまでの期間における、第1の防振機構14または第2の防振機構17の所定の位置への駆動を制御する。
図6は、本実施形態の撮像装置の動作処理を説明するフローチャートである。
カメラシステム制御部5とレンズシステム制御部12の一方または双方である制御部が、以下に説明する処理を実行する。すなわち、第1の防振機構14、第2の防振機構17の一方のみを駆動する場合には、対応するカメラシステム制御部5、レンズシステム制御部12のいずれか一方が動作を行えばよい。第1の防振機構14、第2の防振機構17の双方を駆動する場合には、カメラシステム制御部5とレンズシステム制御部12の双方が動作を行えばよい。なお、図6中のSは、フローチャート中の各処理に対応するステップ番号を示す。
カメラシステム制御部5とレンズシステム制御部12の一方または双方である制御部が、以下に説明する処理を実行する。すなわち、第1の防振機構14、第2の防振機構17の一方のみを駆動する場合には、対応するカメラシステム制御部5、レンズシステム制御部12のいずれか一方が動作を行えばよい。第1の防振機構14、第2の防振機構17の双方を駆動する場合には、カメラシステム制御部5とレンズシステム制御部12の双方が動作を行えばよい。なお、図6中のSは、フローチャート中の各処理に対応するステップ番号を示す。
S100において、撮像装置が電源ONとなって、動作を開始する。続いて、制御部が、電源がOFFにされたかを判断する。電源がOFFにされた場合は、処理がS130に進む。S130において、撮像装置が動作を終了する。電源がOFFにされていない場合は、処理がS120に進む。S120において、制御部が、撮影条件を取得する。制御部は、撮影条件として、例えば、撮像光学系の焦点距離、シャッタ速度、動作モードなどを取得する。動作モードは、例えば、撮像装置が、単写撮影または連写撮影のいずれの撮影モードであるかを示す。
次に、S140において、制御部が、S1が指示されたかを判断する。S1が指示されていない場合は、処理がS110に戻る。S1が指示された場合は、処理がS150に進む。処理が最初にS150に進む瞬間が、図4中のタイミング41である。S150において、制御部が、防振機構による防振比率を決定する。撮像装置が第1の防振機構14と第2の防振機構17を備えている構成を採る場合は、防振機構による防振比率は、第1の防振機構14と第2の防振機構17との駆動比率に対応する。制御部は、焦点距離などの撮影条件に応じて、S1防振におけるそれぞれの防振機構の駆動比率を決定する。例えば、図4(A)に示すように、制御部は、焦点距離が長くなるにしたがって、第1の防振機構14の駆動比率を減らす設定を行う。すなわち、制御部は、焦点距離が所定値より長い場合には、撮影予備動作中の期間において、第2の防振機構17を駆動し、第1の防振機構14の駆動を制限する。撮像装置が、第1の防振機構14と第2の防振機構17のうち、いずれか一方のみ備える場合は、制御部は、撮像装置が備えている防振機構で撮影状況に応じた動作を行うように設定する。
S160において、制御部が、S1防振を実行する。S1防振は、図4中の軌跡51に沿った動作に対応する。続いて、S170において、制御部が、S2が指示されたかを判断する。S2が指示されていない場合は、処理がS110に戻る。S2が指示された場合は、処理がS180に進む。処理がS180に進む瞬間は、図4中のタイミング42に対応する。
次に、S180において、制御部が、焦点距離(f)が規定値(所定値)より長いかを判断する。焦点距離(f)が所定値より長い場合(望遠撮影の場合)は、処理がS230に進む。焦点距離(f)が所定値以下である場合(広角撮影の場合)は、処理がS190に進む。
S190において、制御部が、シャッタ速度に応じた露光時間が、規定値(所定時間)より短いかを判断する。露光時間が所定時間より短い場合(短秒時の場合)は、処理がS200に進む。露光時間が所定時間以上である場合(長秒時の場合)は、処理がS210に進む。図4中に示すタイミング44からタイミング43までの時間が非常に短い場合は、S2防振中に防振機構が駆動する量は少なくなり、軌跡52が短くなる。その場合は、図4(B)に示すセンタリングを行わない場合のストローク63で、必要な防振動作を行うことができる。したがって、露光時間が小さい場合は、構図ずれをより抑制するために、制御部は、センタリング動作を行わないか、若しくはセンタリング量を減らす。センタリング量は、駆動機構の所定の位置への駆動量である。センタリング量を減らす場合は、防振機構は、例えば、図4(B)において、タイミング42での位置と原点とを結ぶ線上に移動する。
S190において、制御部が、シャッタ速度に応じた露光時間が、規定値(所定時間)より短いかを判断する。露光時間が所定時間より短い場合(短秒時の場合)は、処理がS200に進む。露光時間が所定時間以上である場合(長秒時の場合)は、処理がS210に進む。図4中に示すタイミング44からタイミング43までの時間が非常に短い場合は、S2防振中に防振機構が駆動する量は少なくなり、軌跡52が短くなる。その場合は、図4(B)に示すセンタリングを行わない場合のストローク63で、必要な防振動作を行うことができる。したがって、露光時間が小さい場合は、構図ずれをより抑制するために、制御部は、センタリング動作を行わないか、若しくはセンタリング量を減らす。センタリング量は、駆動機構の所定の位置への駆動量である。センタリング量を減らす場合は、防振機構は、例えば、図4(B)において、タイミング42での位置と原点とを結ぶ線上に移動する。
S210において、制御部が、センタリング量A(第1の駆動量)を設定する。S200において、制御部が、センタリング量B(第2の駆動量)を設定する。センタリング量Bは、センタリング量Aよりも小さい。制御部が、センタリング量を0に設定してもよい。これにより、露光時間が小さい場合に、センタリング動作を行わないか、若しくはセンタリングの量を減らすという動作が実現される。図6では、説明を簡単にするために、センタリング量を二値的に設定する例を説明したが、センタリング量の設定は、上述した設定例に限定されない。制御部が、センタリング量を多段階に設定してもよいし、設定するセンタリング量を露光時間に応じて連続的に変化させてもよい。制御部が、露光時間が小さいほど防振機構の所定位置への移動量を少なくするように設定すればよい。
次に、S220において、制御部が、センタリング動作を行う。S220でのセンタリング動作は、図4(D)の矢印53に対応する。また、S220でのセンタリング動作は、図4(A)中のセンタリング1に対応する。続いて、S230において、制御部が、S2防振を行う。これにより、例えば、図4中の軌跡52に沿った動作が行われる。
S240において、制御部が、露光と、撮影画像の記録を行う。S240での動作の完了のタイミングが、図4中のタイミング43である。続いて、S250において、制御部が、撮像装置の動作モードが、連写撮影であるかを判断する。動作モードが連写である場合は、処理がS110に進む。これにより、動作モードが連写撮影の場合は、露光後にセンタリング動作が行われなくなる。動作モードが連写撮影でない場合は、処理がS260に進む。S260において、制御部が、センタリング動作を行う。S220での動作は、図4(A)中のセンタリング2に対応する。S220での動作により、露光終了後に防振機構が所定位置へ駆動する。以上説明したように、本実施形態の撮像装置によれば撮影条件に応じて、撮影予備動作と露光での構図ずれを抑制しつつ、適切な防振効果を得ることができる。
(その他の実施形態)
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
1 撮像装置
5 カメラシステム制御部
2 レンズシステム制御部
5 カメラシステム制御部
2 レンズシステム制御部
Claims (11)
- 撮像素子を光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第1の像ブレ補正機構または撮像光学系が有する光学部材を前記光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第2の像ブレ補正機構の駆動を制御する制御手段を備え、
前記制御手段は、撮影条件に応じて、撮影予備動作の期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の像ブレ補正のための駆動と、撮影開始指示がされてから前記撮像素子への露光が開始されるまでの期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制御する
ことを特徴とする撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像光学系の焦点距離に応じて、前記撮影予備動作の期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の像ブレ補正のための駆動を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記焦点距離が所定値より長い場合には、前記撮影予備動作中の期間において、前記第2の像ブレ補正機構を駆動し、前記第1の像ブレ補正機構の駆動を制限する
ことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像光学系の焦点距離に応じて、撮影開始指示がされてから前記撮像素子への露光が開始されるまでの期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制御する
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記焦点距離が所定値より長い場合には、前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制限する
ことを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記焦点距離が所定値以下である場合には、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構を所定の位置へ駆動する
ことを特徴とする請求項4または請求項5に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記焦点距離が所定値以下である場合には、露光時間に応じて、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動量を設定する
ことを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記焦点距離が所定値以下である場合であって、露光時間が所定時間以上であるときは、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動量として第1の駆動量を設定し、前記露光時間が所定時間より短いときは、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動量として前記第1の駆動量より小さい第2の駆動量を設定する
ことを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像素子への露光の終了後に、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構を所定の位置へ駆動させる
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像装置が連写撮影を行う場合には、前記撮像素子への露光の終了後における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制限する
ことを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。 - 撮像素子を光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第1の像ブレ補正機構または撮像光学系が有する光学部材を前記光軸に対して直交する平面内で駆動して像ブレ補正を行う第2の像ブレ補正機構の駆動を制御する制御方法であって、
撮影条件に応じて、撮影予備動作の期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の像ブレ補正のための駆動と、撮影開始指示がされてから前記撮像素子への露光が開始されるまでの期間における、前記第1の像ブレ補正機構または前記第2の像ブレ補正機構の所定の位置への駆動を制御する工程を有する
ことを特徴とする制御方法。
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-
2018
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