JP2019164172A - 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法 - Google Patents

距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019164172A
JP2019164172A JP2019126396A JP2019126396A JP2019164172A JP 2019164172 A JP2019164172 A JP 2019164172A JP 2019126396 A JP2019126396 A JP 2019126396A JP 2019126396 A JP2019126396 A JP 2019126396A JP 2019164172 A JP2019164172 A JP 2019164172A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
receiving element
angle
distance measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019126396A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6879337B2 (ja
Inventor
手塚 耕一
Koichi Tezuka
耕一 手塚
飯田 弘一
Koichi Iida
弘一 飯田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2019126396A priority Critical patent/JP6879337B2/ja
Publication of JP2019164172A publication Critical patent/JP2019164172A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6879337B2 publication Critical patent/JP6879337B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】 受光素子アレイの受光素子の選択精度が向上する距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法を提供する。【解決手段】 距離測定装置は、レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が所定面内に2次元配列された受光素子アレイと、前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、前記受光素子アレイの1以上の前記受光素子の出力を検出する検出部と、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光の前記集光レンズに対する入射角度に応じて、前記投光角度が大きくなった場合の前記所定面内における前記レーザ光の照射範囲の2次元方向の歪みを考慮して、前記検出部に出力させる前記受光素子を選択する選択部と、を備える。【選択図】 図6

Description

本件は、距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法に関する。
近年、距離測定装置(レーザレーダ)は、対象物までの距離計測だけでなく、自動車における障害物検知をはじめ、鉄道のホームにおける車両と開閉扉間の人検知のような周辺監視などを目的に、さまざまなシーンで利用されている。
このような距離測定装置に対しては、対象物を測定する測定範囲を拡大したいという要求が高くなると予想される。そこで、投光系に、投光範囲を拡大する光学系を用い、集光レンズに広角レンズを用いることが考えられる。しかしながら、集光レンズに入射するノイズ光も増えるため、S/N比が低下することになる。そこで、受光素子アレイを用いて、測定対象からの戻り光の照射範囲の受光素子の出力を選択的に使用することが考えられる(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−157044号公報
しかしながら、集光レンズの収差に起因して、集光レンズに対する入射画角に応じて照射範囲に歪みが生じる場合がある。この場合、受光素子の選択精度が低下する。
1つの側面では、本件は、受光素子アレイの受光素子の選択精度が向上する距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法を提供することを目的とする。
1つの態様では、距離測定装置は、レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が所定面内に2次元配列された受光素子アレイと、前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、前記受光素子アレイの1以上の前記受光素子の出力を検出する検出部と、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光の前記集光レンズに対する入射角度に応じて、前記投光角度が大きくなった場合の前記所定面内における前記レーザ光の照射範囲の2次元方向の歪みを考慮して、前記検出部に出力させる前記受光素子を選択する選択部と、を備える。
1つの態様では、テーブルの作成方法は、レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が一面に配置された受光素子アレイと、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光を前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、を備える距離測定装置において、前記レーザ光の投光角度を順次変更し、各投光角度において、前記受光素子アレイに対する前記レーザ光の照射範囲に応じた受光素子を選択し、前記投光角度と、選択した受光素子とを関連付けてテーブルに格納し、前記受光素子を選択する際に、前記レーザ光の投光角度が大きくなった場合の照射範囲の歪みを考慮する。
受光素子アレイの受光素子の選択精度が向上する。
(a)は比較例に係る距離測定装置の概略図であり、(b)はTOF方式の説明図である。 (a)は投光部に角度拡大レンズ(拡大率小)および受光部の集光レンズに狭角レンズを用いた場合を例示し、(b)は投光部に角度拡大レンズ(拡大率大)および受光部の集光レンズに広角レンズを用いた場合を例示する図である (a)は受光素子アレイを例示し、(b)は戻り光が入射する範囲を拡大した図であり、(c)は選択された受光素子を例示する図である。 (a)は集光レンズに対する入射角度を例示し、(b)は受光素子アレイに対する入射範囲を例示する図である。 入射画角と入射範囲との関係を例示する図である。 (a)は実施例1に係る距離測定装置の全体構成を表す概略図であり、(b)は受光素子アレイを例示する図である。 (a)は水平角度Hおよび垂直角度Vと、選択される受光素子との関係を格納するテーブルを例示し、(b)は距離測定装置の動作の具体例を表すフローチャートである。 テーブルの他の例を例示する図である。 (a)および(b)はテーブルの他の例を例示する図である。 (a)および(b)はテーブルの他の例を例示する図である。 テーブルの他の例を例示する図である。 各受光素子の受光面を複数の領域に仮想的に分割する例を例示する図である。 (a)〜(d)は最小ビーム径を説明するための図である。 テーブルの作成方法を例示する図である。 テーブルの作成方法を表すフローチャートの一例である。 (a)はスネルの法則を例示する図であり、(b)はスネルの法則を用いて選択チャネルを補正するための構成を表す図である。 全体制御部の他のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。
実施例の説明に先立って、距離測定装置の概略について説明する。
図1(a)は、比較例に係る距離測定装置200の概略図である。図1(a)で例示するように、距離測定装置200は、発光素子201、コリメートレンズ202、走査ミラー203、角度拡大レンズ204、集光レンズ205、受光素子206などを備える。発光素子201、コリメートレンズ202、走査ミラー203、角度拡大レンズ204は、出射光学系207を構成する。集光レンズ205および受光素子206は、入射光学系208を構成する。
発光素子201は、レーザパルスを出射する。コリメートレンズ202は、発光素子201が出射するレーザパルスの広がりを抑制して略平行光とする。走査ミラー203は、コリメートレンズ202から出射された平行光の角度を水平方向および垂直方向に偏向する。角度拡大レンズ204は、走査ミラー203で偏向された角度をさらに拡大する。角度拡大レンズ204から出射されるレーザパルスの角度が投光角度に相当する。角度拡大レンズ204から出射されたレーザパルスは、測距対象に照射され、散乱(反射)され、集光レンズ205に戻る。この戻り光は、集光レンズ205で集光され、受光素子206で受光される。
距離測定装置200は、TOF(Time OF Flight)方式を採用することによって、測距対象までの距離を測定する。図1(b)は、TOF方式の説明図である。図1(b)で例示するように、距離測定装置200は、発光素子201がレーザパルスを出射して戻り光が測距対象から戻ってくるまでの往復時間(ΔT)を計測し、光速を乗算することによって、測距対象までの距離を算出する。
図2(a)は、角度拡大レンズ204に拡大率小のレンズおよび集光レンズ205に狭角レンズを用いた場合を例示する。図2(a)で例示するように、測定しようとする範囲が狭い場合には、狭角レンズを用いても測定対象物の距離を測定することができる。この場合、集光レンズ205に対する入射範囲が狭くなることから、集光レンズ205に入射するノイズ光を抑制することができる。それにより、良好なS/N(Signal/Noise)比を得ることができる。
このような距離測定装置に対しては、対象物を測定する測定範囲を拡大したいという要求が高くなると予想される。そこで、図2(b)で例示するように、角度拡大レンズ204に拡大率大のレンズおよび集光レンズ205に広角レンズを用いることが考えられる。図2(b)で例示するように、広角レンズを用いると、測定範囲を拡大することができる。しかしながら、集光レンズ205に対する入射範囲も広くなることから、集光レンズ205に入射するノイズ光も増える。それにより、S/N比が低下することになる。そこで、広角性を有しつつ、ノイズを抑制することができる距離測定装置が求められている。
そこで、図3(a)で例示するような、複数の受光素子が一面に配置された受光素子アレイ209を用いることが考えられる。図3(b)は、戻り光が入射する範囲を拡大した図である。図3(b)で記載された符号は、各受光素子に割り振られたチャネル番号である。例えば、図3(c)で例示するように、戻り光の中心(照射範囲の重心)が位置する受光素子の出力と、それに隣接する受光素子の出力とを用いることが考えられる。
ここで、集光レンズ205に対する入射角度と、受光素子アレイ209に対する入射範囲との関係について説明する。図4(a)は、集光レンズ205に対する入射角度を例示する図である。図4(a)で例示するように、入射光(1)および入射光(3)は、集光レンズ205の集光面に対して斜めに入射している。すなわち、入射画角が大きくなっている。これに対して、入射光(2)は、集光レンズ205の集光面に対して垂直に入射している。すなわち、入射画角が小さくなっている。
図4(b)は、受光素子アレイ209に対する入射範囲を例示する図である。図4(b)で例示するように、入射光(2)のように入射画角が小さい場合には、受光素子アレイ209に対する入射範囲は小さくなる。これに対して、入射光(1)および入射光(3)のように入射画角が大きくなると、集光レンズ205の収差に起因して、受光素子アレイ209に対する入射範囲に歪みが生じて大きくなる。この場合において図3(c)で説明した範囲の出力だけを用いると、十分な受光光量が得られなくなり、S/N比が劣化してしまう。図5で例示するように、この傾向は、入射画角が大きくなると顕著になる。そこで、以下の実施例では、受光素子アレイの受光素子の選択精度が向上する距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法について説明する。
図6(a)は、実施例1に係る距離測定装置100の全体構成を表す概略図である。図6(a)で例示するように、距離測定装置100は、発光部10、走査ミラー20、角度拡大レンズ30、バンドパスフィルタ40、集光レンズ50、受光素子アレイ60、コントローラ70などを備える。コントローラ70は、レーザ駆動部71、ミラー駆動部72、選択出力アンプ73、測定部74、および全体制御部75を備える。
発光部10は、レーザ駆動部71の指示に従ってレーザ光を出射する装置であり、半導体レーザなどの発光素子を備える。発光部10は、一例として、所定の周期でパルス光を出射する。全体制御部75は、レーザ駆動部71を制御する。レーザ駆動部71が発光部10にパルス光の出射を指示するタイミングは、全体制御部75から測定部74に送られる。すなわち、測定部74は、パルス光の出射タイミングを取得する。また、発光部10は、パルス光の広がりを抑制して略平行光とするコリメートレンズを備える。
走査ミラー20は、3次元に出射するレーザ光の角度を変化させるミラーである。例えば、走査ミラー20は、水平面内の回転角度および垂直面内の回転角度が変化することによって、出射するレーザ光の角度が3次元に変化する。以下、水平面内の回転角度を水平角度Hと称し、垂直面内の回転角度を垂直角度Vと称する。例えば、走査ミラー20として、MEMS(Micro Electro Mechanical System)ミラー、ガルバノミラー等を用いることができる。全体制御部75は、ミラー駆動部72に、走査ミラー20の水平角度Hおよび垂直角度Vを指示する。ミラー駆動部72は、指示された角度が実現されるように、走査ミラー20を駆動する。発光部10から出射されたパルス光は、走査ミラー20の水平角度Hおよび垂直角度Vに応じて偏向される。
角度拡大レンズ30は、走査ミラー20で偏向された光の角度をさらに拡大する。この走査ミラー20の走査により、レーザ光の角度拡大レンズ30に対する入射角度が変更される。角度拡大レンズ30から出射されるパルス光の角度が投光角度に相当する。角度拡大レンズ30から出射されたパルス光は、測距対象に照射され、散乱(反射)され、バンドパスフィルタ40を介して集光レンズ50に戻る。この戻り光は、集光レンズ50で集光され、受光素子アレイ60で受光される。バンドパスフィルタ40は、発光部10が出射するパルス光の波長帯を選択的に透過する。それにより、受光素子アレイ60に対するノイズの入射を抑制することができる。
図6(b)は、受光素子アレイ60を例示する図である。図6(b)で例示するように、受光素子アレイ60は、複数の受光素子61が基板の一面に配置された構造を有する。例えば、受光素子アレイ60は、基板の一面に20×20の受光素子61が格子状に配置された構造を有する。図6(b)の左上の受光素子61のチャネルをD(1,1)とし、座標を(−10,10)とする。右上の受光素子61のチャネルをD(m(=20),1)とし、座標を(10,10)とする。左下の受光素子61のチャネルをD(1,n(=20))とし、座標を(−10,−10)とする。右下の受光素子61のチャネルをD(m,n)とし、座標を(10,−10)とする。
全体制御部75は、受光素子アレイ60の各受光素子61のうち1以上の受光素子61を選択し、選択した受光素子61に係る情報を選択出力アンプ73に指示する。選択出力アンプ73は、指示された受光素子61が出力する電気信号(光電流)を増幅して測定部74に出力する。選択されなかった受光素子61の電気信号は測定部74に入力されない。このように、選択出力アンプ73は、各受光素子61のオンとオフとを切り替える。
本実施例においては、全体制御部75は、ミラー駆動部72に指示する水平角度Hおよび垂直角度Vに応じてチャネルを選択する。なお、走査ミラー20の水平角度Hおよび垂直角度Vは、角度検出器などの装置を用いて検出してもよい。まず、ミラー駆動部72に指示する水平角度Hおよび垂直角度Vに基づいて、角度拡大レンズ30から出射されるレーザ光の方向(投光角度)が定まる。この投光角度が定まれば、測距対象からの集光レンズ50に対する入射画角も定まる。集光レンズ50に対する入射画角が定まれば、受光素子アレイ60においてパルス光が照射される範囲が定まる。この範囲は、集光レンズ50の収差を考慮した範囲である。したがって、集光レンズ50に対する入射画角が小さい場合には照射範囲は狭く、当該入射画角が大きい場合には照射範囲は歪みで広くなる。例えば、全体制御部75は、照射範囲全体が含まれるように、チャネルを選択する。したがって、集光レンズ50に対する入射画角が小さい場合には選択されるチャネルの数は少なく、当該入射画角が大きい場合には選択されるチャネルの数は多くなる。例えば、水平角度Hまたは垂直角度Vがゼロから大きくなるにつれて、選択されるチャネル数が徐々に多くなる。また、水平角度Hおよび垂直角度Vの両方が大きくなると、水平角度Hおよび垂直角度Vのいずれかのみが大きくなる場合よりも、選択されるチャネル数が多くなる。このようにすることで、受光素子の選択精度が向上し、ノイズ光の誤検出を抑制しつつ受光光量の検出精度が向上する。それにより、S/N比の劣化を抑制することができる。
図7(a)は、水平角度Hおよび垂直角度Vと、選択される受光素子61との関係を格納するテーブルを例示する。図7(a)のテーブルでは、水平角度Hおよび垂直角度Vに関連付けて、全体制御部75によって選択されるチャネルが格納されている。
測定部74は、TOF(Time OF Flight)方式を採用することによって、測距対象までの距離を測定する。まず、測定部74は、選択出力アンプ73が出力する光電流が閾値以上となった時刻から、測距対象から戻り光が戻ってきたタイミングを算出する。この場合、受光素子アレイ60に戻り光が入射してから、測定部74に光電流が入力されるまでの時間が考慮される。次に、測定部74は、レーザ駆動部71から受け取った出射タイミングと、戻り光が戻ってきたタイミングとから、往復時間ΔTを算出する。この往復時間の半分の時間に光速を乗算することによって、測距対象までの距離を算出する。
図7(b)は、距離測定装置100の動作の具体例を表すフローチャートである。図7(b)で例示するように、全体制御部75は、ミラー駆動部72に水平角度Hおよび垂直角度Vを検出する(ステップS1)。角度検出器を用いない場合には、ミラー駆動部72に指示する水平角度Hおよび垂直角度Vを用いることができる。次に、全体制御部75は、図7(a)のテーブルを参照し、指示した水平角度Hおよび垂直角度Vに対応する受光チャネルを選択する(ステップS2)。次に、選択出力アンプ73は、ステップS2で選択した受光チャネルの電気信号を増幅する(ステップS3)。次に、全体制御部75は、レーザ駆動部71に、発光部10のパルス光の発光を指示する(ステップS4)。次に、測定部74は、レーザ駆動部71から受け取った出射タイミングと、戻り光が戻ってきたタイミングとから、往復時間ΔTを算出し、測距対象までの距離を算出する(ステップS5)。
本実施例によれば、受光素子アレイ60の受光素子61を選択する際に、受光素子アレイ60に対するパルス光の照射範囲の、当該パルス光の投光角度が大きくなった場合の歪みが考慮される。それにより、角度拡大レンズ30および集光レンズ50に広角レンズを用いても、受光素子61の選択精度が向上する。また、照射範囲に係る受光素子61が選択されることから、ノイズを抑制することができる。以上のことから、広角性を有しつつS/N比の劣化を抑制することができる距離測定装置を提供することができる。
(テーブルの他の例1)
選択出力アンプ73が参照するテーブルは、図7(a)のテーブルに限られない。例えば、水平角度Hおよび垂直角度Vから、受光素子アレイ60に対するレーザ光の照射範囲の重心位置が予めわかることから、当該重心位置(代表位置)のチャネルと、周辺のチャネルの情報だけが格納されていてもよい。例えば、図8で例示するように、照射範囲の重心位置およびその周辺範囲(有効選択範囲)が格納されていてもよい。このようにすることで、オフするチャネルの情報を格納する必要がなくなるため、テーブルの容量を低減することができる。
(テーブルの他の例2)
または、図9(a)で例示するように、水平角度Hおよび垂直角度Vから求まる重心位置のチャネルと、当該水平角度Hおよび垂直角度Vに対応する照射範囲の形状のパターンとをテーブルに格納してもよい。図9(b)は、各パターンを例示する。このようにすることで、オフするチャネルの情報を格納する必要がなくなるため、テーブルの容量を低減することができる。
(テーブルの他の例3)
または、図10(a)、図10(b)および図11で例示するように、水平角度Hおよび垂直角度Vの代わりに、それぞれに対応する番号(レーザ光出射カウント)を格納してもよい。
(受光面を分割する例)
各受光素子61の受光面を複数の領域に仮想的に分割し、照射範囲の重心位置が位置する領域に応じて、チャネルを選択してもよい。例えば、図12で例示するように、各受光素子61の受光面が矩形を有する場合に、当該受光面を4つの矩形(領域1〜4)に仮想的に分割してもよい。図12の例では、照射範囲の重心位置がチャネルD(2,2)の領域4に位置する場合、チャネルD(2,3)、チャネルD(3,2)、およびチャネルD(3,3)に照射範囲がまたがることになる。そこで、照射範囲の重心位置がチャネルD(2,2)の領域4に位置する場合、チャネルD(2,2)、チャネルD(2,3)、チャネルD(3,2)、およびチャネルD(3,3)を選択する。なお、照射範囲の重心位置が位置する領域は、光学シミュレータなどを用いて事前に推定することができる。または、実際に発光部10に発光させた場合に、その場合の水平角度Hおよび垂直角度Vと、重心位置とを取得してもよい。
ところで、走査ミラー20の角度を連続的に変化させる場合において、発光部が出射するパルス光の時間間隔が小さいと、1つの受光素子61に対して複数のパルス光の照射範囲の重心位置が位置することになる。すなわち、受光素子数よりも発光点数が多くなる。図12の左上において複数の円がシフトして描かれている部分が相当する。この場合、1つの受光素子61の受光面において、照射範囲の重心位置が複数箇所となる。このような場合に、上述したような仮想的に分割した領域を用いることで、1つの受光素子61に複数の重心位置が位置する場合でも、精度よく光強度を検出することができる。
(受光素子61間の距離)
高分解能化のためにデータ点数を増やすことが考えられる。データ点数とは、水平角度Hおよび垂直角度Vの組み合わせの数である。すなわち、データ点数を増やすことは、各パルス光を出射するための水平角度Hおよび垂直角度Bの間隔を小さくすることに相当する。当該間隔が小さくなると、受光素子61間の光不感領域(光電流が得られない領域)にパルス光の照射範囲の重心が位置する場合が生じ得る。この場合、受光素子61が出力する光電流のレベル低下が発生し、所望の光強度を検出できない場合がある。例えば、図13(a)の点線で囲まれた範囲の照射範囲において、信号レベルが低下する場合がある。
そこで、パルス光の受光素子アレイ60に対する照射範囲の大きさと、受光素子61間の幅とに関して、以下の関係が成立するようにすることで、光強度の検出精度を向上させることができる。まず、図13(b)で例示するように、各受光素子61の形状を矩形とする。また、各受光素子61の辺同士が平行に対向するものとする。照射範囲は、略円形を有しているものとする。この場合において、照射範囲の最小ビーム径をDとする。受光素子61同士の水平方向の離間距離をWhとし、垂直方向の離間距離をWvとする。離間距離Whおよび離間距離Wvが、不感領域の幅に相当する。
互いに隣接する4つの受光素子61の中心は、当該4つの受光素子61の互いに最近接する角からの距離が最小となる点である。この中心に、レーザ光の照射範囲の重心が位置する場合に、当該4つの受光素子61に少なくとも一部の照射範囲が含まれれば、信号消失を抑制することができる。具体的には、下記式(1)を満たせばよい。
Figure 2019164172
図13(c)および図13(d)は、照射範囲の重心が上記中心を通るように水平方向に移動させた場合における、上記4つの受光素子61の出力電流の合計を表す。図13(c)および図13(d)で例示するように、上記式(1)が成立すれば、いずれの場所に重心が位置していても、光電流が出力される。なお、上述したように、集光レンズ50に対する入射画角が大きくなるほど照射範囲が広くなることから、集光レンズ50に対する入射画角が0度またはそれに近い値において、上記式(1)が成立すればよい。
(テーブルの作成方法)
続いて、テーブルの作成方法について説明する。例えば、光学シミュレータなどを用いて、各水平角度Hおよび各垂直角度Vに対する、受光素子アレイ60における照射範囲を計算する。次に、当該照射範囲の少なくとも一部を含むチャネルを求める。求まったチャネルを、水平角度Hおよび垂直角度Vに関連付けてテーブルに格納する。照射範囲の計算には、集光レンズ50の収差を考慮する。以上の工程により、テーブルを作成することができる。
または、距離測定装置の現物を用いた測定により、テーブルを作成してもよい。例えば、図14で例示するように、角度拡大レンズ30から適当な距離にスクリーン80を配置する。スクリーン80は、例えば白ケント紙などで作成することができる。このスクリーン80からの反射光を受光素子アレイ60で検出する。このようにすることで、ノイズが集光レンズ50に入射することが抑制される。また、距離測定装置100の現物を用いてテーブルを作成すれば、集光レンズ50や光軸調整誤差を含んだテーブルを作成することができる。なお、距離測定装置100に、テーブル作成部76の機能を持たせておく。
図15は、スクリーン80を用いたテーブルの作成方法を表すフローチャートの一例である。図15で例示するように、レーザ駆動部71は、発光部10にパルスのレーザ光を発光させる(ステップS11)。次に、テーブル作成部76は、受光素子アレイ60において、所定の光強度が得られた受光素子61のチャネルを取得する(ステップS12)。
次に、テーブル作成部76は、全体制御部75からミラー駆動部72に指示されている水平角度Hおよび垂直角度Vを取得する(ステップS13)。次に、テーブル作成部76は、ステップS13で取得した水平角度Hおよび垂直角度Vに、ステップS12で取得したチャネルを関連付けてテーブルに格納する(ステップS14)。次に、全体制御部75は、未実施の水平角度Hおよび垂直角度Vをミラー駆動部72に指示する(ステップS15)。その後、未実施の水平角度Hおよび垂直角度Vが無くなるまで、ステップS11から再度実行される。
バンドパスフィルタ40として、透明基板(ガラス基板)の片側もしくは両側に光学的多層膜を形成したものを用いることができる。バンドパスフィルタ40を用いることで、発光部10のレーザ光以外の波長光の入射を抑制することができる。すなわち、ノイズを抑制することができる。このようなバンドパスフィルタ40の角度を変更することで、波長特性(透過波長)をさらに変更することができる。
したがって、温度変化に起因して発光部10が出射するレーザ光の波長が変化した場合に、変化後の波長が透過するようにバンドパスフィルタ40の波長特性を変更することが好ましい。しかしながら、バンドパスフィルタ40の傾斜角を変更すると、スネルの法則に基づいて、光軸がシフトする。すなわち、受光素子アレイ60に対する照射範囲がシフトする。そこで、発光部10の温度に対応して、選択出力アンプ73の選択チャネルを補正してもよい。
まず、スネルの法則について説明する。図16(a)は、スネルの法則を表す図である。空気中の屈折率をnとする。バンドパスフィルタ40の屈折率をnとする。バンドパスフィルタ40の厚さをtとする。所定の光路でバンドパスフィルタ40を透過して受光素子アレイ60にレーザ光が入射している場合に、バンドパスフィルタ40に対する入射角度がθだけシフトし、バンドパスフィルタ40からの出射角度がθだけシフトするものとする。この場合、nsinθ=nsinθが成立する。また、屈折率nは空気の屈折率であるため、n=1である。したがって、sinθ=(sinθ)/nが成立する。これらの式から、下記式(2)を導くことができる。また、下記式(2)を用いて、受光素子アレイ60における集光位置のずれ量yは、下記式(3)のように表すことができる。
Figure 2019164172
Figure 2019164172
図16(b)は、このスネルの法則を用いて選択チャネルを補正するための構成を表す図である。図16(b)で例示するように、バンドパスフィルタ40は、光学的多層膜の傾斜角度を変更するための回転装置として、ステッピングモータ41を備えている。さらに、バンドパスフィルタ40の制御装置42が備わっている。制御装置42は、温度計測部43、記憶部44、および処理部45を備えている。
温度計測部43は、発光部10の発光素子の温度を計測する温度センサなどである。記憶部44は、発光素子の温度に関連付けて、ステッピングモータ41の回転量(回転角度)を記憶するメモリなどである。処理部45は、温度計測部43が計測した温度に対応する回転角度を記憶部44から読み出し、当該回転角度が実現するようにステッピングモータ41を制御する。また、処理部45は、上述したスネルの法則を用いて、回転角度に応じて、受光素子アレイ60における照射範囲の重心位置を補正する。選択出力アンプ73は、補正された重心位置に関連付けられたチャネルをテーブルから読み出す。このようにすることで、バンドパスフィルタ40の波長特性の変化に対応して、受光素子アレイ60のチャネルを選択することができる。
(他の例)
図17は、全体制御部75の他のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。図17を参照して、全体制御部75は、CPU101、RAM102、記憶装置103、インタフェース104などを備える。これらの各機器は、バスなどによって接続されている。CPU(Central Processing Unit)101は、中央演算処理装置である。CPU101は、1以上のコアを含む。RAM(Random Access Memory)102は、CPU101が実行するプログラム、CPU101が処理するデータなどを一時的に記憶する揮発性メモリである。記憶装置103は、不揮発性記憶装置である。記憶装置103として、例えば、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリなどのソリッド・ステート・ドライブ(SSD)、ハードディスクドライブに駆動されるハードディスクなどを用いることができる。CPU101が距離測定プログラムを実行することによって、距離測定装置100に全体制御部75が実現される。または、CPU101が距離測定プログラムを実行することによって、距離測定装置100に全体制御部75およびテーブル作成部76が実現されてもよい。
上記各例において、発光部10、走査ミラー20および角度拡大レンズ30が、レーザ光を投光する投光部の一例として機能する。受光素子アレイ60が、複数の受光素子が配置された受光素子アレイの一例として機能する。集光レンズ50が、受光素子アレイに対して集光する集光レンズの一例として機能する。測定部74が、受光素子アレイの1以上の受光素子の出力を検出する検出部の一例として機能する。全体制御部75が、レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光の集光レンズに対する入射角度に応じて、投光角度が大きくなった場合の受光素子アレイにおけるレーザ光の照射範囲の歪みを考慮して、検出部に出力させる前記受光素子を選択する選択部の一例として機能する。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10 発光部
20 走査ミラー
30 角度拡大レンズ
40 バンドパスフィルタ
50 集光レンズ
60 受光素子アレイ
70 コントローラ
71 レーザ駆動部
72 ミラー駆動部
73 選択出力アンプ
74 測定部74
75 全体制御部
76 テーブル作成部
100 距離測定装置

Claims (10)

  1. レーザ光を投光する投光部と、
    複数の受光素子が所定面内に2次元配列された受光素子アレイと、
    前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、
    前記受光素子アレイの1以上の前記受光素子の出力を検出する検出部と、
    前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光の前記集光レンズに対する入射角度に応じて、前記投光角度が大きくなった場合の前記所定面内における前記レーザ光の照射範囲の2次元方向の歪みを考慮して、前記検出部に出力させる前記受光素子を選択する選択部と、を備えることを特徴とする距離測定装置。
  2. 前記選択部は、前記照射範囲の重心位置に基づいて、前記選択を行うことを特徴とする請求項1記載の距離測定装置。
  3. 前記選択部は、前記受光素子の受光面を仮想的に複数の領域に分割し、前記複数の領域のうち前記重心位置が位置する領域に応じて、前記選択を行うことを特徴とする請求項2記載の距離測定装置。
  4. 前記集光レンズに入射する光のうち、前記レーザ光の波長を選択的に透過するバンドパスフィルタを備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の距離測定装置。
  5. 前記バンドパスフィルタは、光学的多層膜を備え、前記レーザ光の波長変化に応じて前記光学的多層膜の角度を調整することによって、前記レーザ光の波長を選択的に透過することを特徴とする請求項4記載の距離測定装置。
  6. 前記選択部は、前記光学的多層膜の角度に応じて、前記選択を行うことを特徴とする請求項5記載の距離測定装置。
  7. 前記受光素子アレイは、直交する2軸がなす平面において、矩形の受光素子が格子点上に配置された構造を有し、
    各軸方向における受光素子間の距離をWvおよびWhとした場合に、前記受光素子アレイに入射する前記レーザ光のビーム径の最小値は、(Wv+Wh)の平方根を上回ることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の距離測定装置。
  8. レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が所定面内に2次元配列された受光素子アレイと、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光を前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、前記受光素子アレイの1以上の前記受光素子の出力を検出する検出部と、を備える距離測定装置において、
    前記反射光の前記集光レンズに対する入射角度に応じて、前記投光角度が大きくなった場合の前記所定面内における前記レーザ光の照射範囲の2次元方向の歪みを考慮して、前記検出部に出力させる前記受光素子を選択する、ことを特徴とする距離測定方法。
  9. レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が所定面内に2次元配列された受光素子アレイと、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光を前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、前記受光素子アレイの1以上の前記受光素子の出力を検出する検出部と、を備える距離測定装置において、
    コンピュータに、
    前記反射光の前記集光レンズに対する入射角度に応じて、前記投光角度が大きくなった場合の前記所定面内における前記レーザ光の照射範囲の2次元方向の歪みを考慮して、前記検出部に出力させる前記受光素子を選択する、処理を実行させることを特徴とする距離測定プログラム。
  10. レーザ光を投光する投光部と、複数の受光素子が一面に配置された受光素子アレイと、前記レーザ光の投光角度に対応する対象物からの反射光を前記受光素子アレイに対して集光する集光レンズと、を備える距離測定装置において、
    前記レーザ光の投光角度を順次変更し、
    各投光角度において、前記受光素子アレイに対する前記レーザ光の照射範囲に応じた受光素子を選択し、前記投光角度と、選択した受光素子とを関連付けてテーブルに格納し、
    前記受光素子を選択する際に、前記レーザ光の投光角度が大きくなった場合の照射範囲の歪みを考慮する、ことを特徴とするテーブルの作成方法。
JP2019126396A 2019-07-05 2019-07-05 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法 Active JP6879337B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019126396A JP6879337B2 (ja) 2019-07-05 2019-07-05 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019126396A JP6879337B2 (ja) 2019-07-05 2019-07-05 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015200783A Division JP6597150B2 (ja) 2015-10-09 2015-10-09 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019164172A true JP2019164172A (ja) 2019-09-26
JP6879337B2 JP6879337B2 (ja) 2021-06-02

Family

ID=68064849

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019126396A Active JP6879337B2 (ja) 2019-07-05 2019-07-05 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6879337B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021090368A1 (ja) * 2019-11-05 2021-05-14

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0763512A (ja) * 1993-08-24 1995-03-10 Sekisui Chem Co Ltd 光位置検出装置
JPH0798381A (ja) * 1993-08-06 1995-04-11 Omron Corp 走査式距離測定装置,走査式距離測定装置を搭載した車両および光の検出装置
JPH07191148A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Mitsubishi Electric Corp 広角レーザレーダ装置
JP2000056018A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Denso Corp 距離測定装置
JP2004157044A (ja) * 2002-11-07 2004-06-03 Nippon Signal Co Ltd:The 走査型レーザレーダ
JP2005331273A (ja) * 2004-05-18 2005-12-02 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency レーザ距離画像生成装置及び方法
JP2010122183A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Sanyo Electric Co Ltd 物体検出装置および情報取得装置
JP2010133828A (ja) * 2008-12-04 2010-06-17 Denso Corp レーダ装置
JP2014059301A (ja) * 2012-09-18 2014-04-03 Sick Ag 光電センサおよびデプスマップ検出方法
JP2014059302A (ja) * 2012-09-18 2014-04-03 Sick Ag 光電センサおよび物体検出方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0798381A (ja) * 1993-08-06 1995-04-11 Omron Corp 走査式距離測定装置,走査式距離測定装置を搭載した車両および光の検出装置
JPH0763512A (ja) * 1993-08-24 1995-03-10 Sekisui Chem Co Ltd 光位置検出装置
JPH07191148A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Mitsubishi Electric Corp 広角レーザレーダ装置
JP2000056018A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Denso Corp 距離測定装置
JP2004157044A (ja) * 2002-11-07 2004-06-03 Nippon Signal Co Ltd:The 走査型レーザレーダ
JP2005331273A (ja) * 2004-05-18 2005-12-02 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency レーザ距離画像生成装置及び方法
JP2010122183A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Sanyo Electric Co Ltd 物体検出装置および情報取得装置
JP2010133828A (ja) * 2008-12-04 2010-06-17 Denso Corp レーダ装置
JP2014059301A (ja) * 2012-09-18 2014-04-03 Sick Ag 光電センサおよびデプスマップ検出方法
JP2014059302A (ja) * 2012-09-18 2014-04-03 Sick Ag 光電センサおよび物体検出方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021090368A1 (ja) * 2019-11-05 2021-05-14
WO2021090368A1 (ja) * 2019-11-05 2021-05-14 三菱電機株式会社 ライダ制御装置、ライダ制御方法、及び、ライダ装置
JP6991413B2 (ja) 2019-11-05 2022-01-12 三菱電機株式会社 ライダ制御装置、ライダ制御方法、及び、ライダ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6879337B2 (ja) 2021-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6597150B2 (ja) 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法
CN113330327B (zh) 使用脉冲束稀疏阵列的深度感测校准
US10764487B2 (en) Distance image acquisition apparatus and application thereof
US20170199273A1 (en) Apparatus, method for laser distance measurement, and non-transitory computer-readable storage medium
JP2009103529A (ja) レーザビーム照射装置
KR20190011497A (ko) 하이브리드 라이다 스캐너
CN114073075B (zh) 将三维深度图数据映射到二维图像上
US9329025B2 (en) Measuring device
JP7317530B2 (ja) 距離計測装置、距離計測方法、及び信号処理方法
US20210181308A1 (en) Optical distance measuring device
CN111796295B (zh) 一种采集器、采集器的制造方法及距离测量系统
JP6186863B2 (ja) 測距装置及びプログラム
JP6879337B2 (ja) 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法
WO2021032298A1 (en) High resolution optical depth scanner
JP2020160044A (ja) 測距装置および測距方法
JP2007163429A (ja) 3次元距離測定方法およびその装置
US11575875B2 (en) Multi-image projector and electronic device having multi-image projector
JP2009128238A (ja) レーザレーダ装置
US20240045032A1 (en) LiDAR SYSTEM AND CROSSTALK REDUCTION METHOD THEREOF
JP2020060377A (ja) マルチ画像プロジェクタ及びマルチ画像プロジェクタを有する電子デバイス
EP3637044B1 (en) Multi-image projector and electronic device having the multi-image projector
JP7143815B2 (ja) 測距装置
JP2014035304A (ja) 情報取得装置および物体検出装置
WO2023149242A1 (ja) 測定装置
JP2019113408A (ja) 測距装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190709

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200804

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201002

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210330

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210412

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6879337

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150