JP2019152485A - 測定プログラムの管理方法及び管理装置、並びに測定システム - Google Patents

Abstract

【課題】測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる測定プログラムの管理方法及び管理装置、並びにこの管理装置を備える測定システムを提供する。【解決手段】測定項目ごとに、１又は複数の形状測定機によるワークの測定結果を参照する参照ステップと、測定項目ごとに、測定項目を省略可能な測定結果の基準条件を設定する設定ステップと、参照ステップで参照した測定結果と、設定ステップで設定された基準条件とに基づき、測定項目ごとに省略の可否を判定ステップと、を有する。【選択図】図９

Description

本発明は、形状測定機を制御する測定プログラムの管理方法及び管理装置、並びにこの管理装置を備える測定システムに関する。

従来、プローブをワークに接触させることにより、複数の測定項目に関するワークの測定（形状測定及び寸法測定等）を行う三次元座標測定機が知られている。このような三次元座標測定機では、ワークに関する複数の測定項目が規定された測定プログラムに従って、プローブの位置及び姿勢を変位させながらワークにプローブを接触させることにより、測定項目ごとのワークの測定を行う（特許文献１参照）。

特開２０１５−２２２１９６号公報

近年、三次元座標測定機による測定対象のワークとして、例えばシリンダブロック及びシリンダヘッド等のような測定項目が多岐にわたるものが増えている。このため、三次元座標測定機によりシリンダブロック等のワークについて複数の測定項目で形状等の測定を行う場合、非常に時間が掛かるという問題がある。この場合、三次元座標測定機の台数を増加させることで処理数を上げる方法が考えられるが、費用の問題があるため、この方法を採用することは困難である。

従って、ワークの測定項目ごとの測定データの蓄積結果に基づき、複数の測定項目の中から品質が十分に確保されている測定不要な測定項目を判別して、三次元座標測定機によるワークの測定を行う際に、測定不要な測定項目を省略することが望ましい。この場合、ユーザがワークの測定項目ごとの測定データの蓄積結果から測定項目の省略の可否を判断する必要があるため、この判断に時間が掛かってしまう。その結果、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができないという問題が生じる。

また、測定不要な測定項目を省略するためには、測定プログラムを修正する必要があるが、この測定プログラムの修正には専門的なスキルが必要であり、誰でも簡単に修正を行うことができない。また、測定プログラムの修正を行う場合に、その修正箇所を探すのに時間が掛かったり、その修正後の動作確認に時間が掛かったり、或いはミスが生じたりするおそれがある。その結果、測定プログラムのメンテナンスコストが上昇するという問題が生じるため、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができない。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる測定プログラムの管理方法及び管理装置、並びにこの管理装置を備える測定システムを提供することを目的とする。

本発明の目的を達成するための測定プログラムの管理方法は、形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ形状測定機に測定させるワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムの管理方法において、測定項目ごとに、１又は複数の形状測定機によるワークの測定結果を参照する参照ステップと、測定項目ごとに、測定項目を省略可能な測定結果の基準条件を設定する設定ステップと、参照ステップで参照した測定結果と、設定ステップで設定された基準条件とに基づき、測定項目ごとに省略の可否を判定ステップと、を有する。

この測定プログラムの管理方法によれば、測定プログラムに規定されている各測定項目の省略の可否を自動的に判定することができるので、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、測定プログラムに複数規定されている測定項目の中で、判定ステップで省略可と判定された測定項目をマスクする修正を行う修正ステップを有する。これにより、測定プログラムの測定項目の修正を自動で行うことができるので、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、判定ステップで省略可と判定された測定項目に対応するワークの測定の実行操作を受け付ける受付ステップを有し、修正ステップでは、受付ステップで実行操作を受け付けた場合に、測定プログラムに対して、実行操作に対応する測定項目のマスクを解除する修正を行う。これにより、必要に応じて、マスクされた測定項目に対応するワークの測定を実行させることができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、判定ステップで省略可と判定された測定項目を識別可能に表示部に表示させる表示ステップを有する。これにより、省略可と判定された測定項目をユーザ（管理者及びオペレータ等）に認識させることができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、測定結果を蓄積部に蓄積させる蓄積ステップと、蓄積ステップで蓄積された測定項目ごとの測定結果に基づき、測定項目ごとの管理図を生成する管理図生成ステップと、を有し、表示ステップでは、判定ステップで省略可と判定された測定項目に対応する管理図を識別可能に表示部に表示させる。これにより、省略可と判定された測定項目をユーザに認識させることができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、測定結果を蓄積部に蓄積させる蓄積ステップを有し、参照ステップでは、蓄積部に蓄積された測定結果を参照する。これにより、過去の測定結果の蓄積結果に基づき、測定項目ごとの省略の可否を判定することができる。

本発明の他の態様に係る測定プログラムの管理方法は、設定ステップでは、基準条件として、測定項目ごとの測定結果のバラツキの許容範囲と、ワークの製造期間と、を設定する。

本発明の目的を達成するための測定プログラムの管理装置は、形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ形状測定機に測定させるワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムの管理装置において測定項目ごとに、１又は複数の形状測定機によるワークの測定結果を参照する参照部と、測定項目ごとに、測定項目を省略可能な測定結果の基準条件を設定する設定部と、参照部が参照した測定結果と、設定部が設定した基準条件とに基づき、測定項目ごとに省略の可否を判定して、測定項目ごとの判定結果を測定プログラムの修正回路へ出力する判定部と、を備える。

本発明の目的を達成するための測定システムは、形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ形状測定機に測定させるワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムに従って、測定項目ごとにワークの測定を行う１又は複数の形状測定機と、上記の測定プログラムの管理装置と、を備える。

本発明は、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる。

複数の測定項目に関するワークの測定を行う測定システムの概略図である。 制御装置及び管理装置の構成を示すブロック図である。 管理装置本体の構成を示すブロック図である。 測定データ蓄積部の概略図である。 管理図生成部によりワークの測定項目ごとに生成される管理図の一例を示した説明図である。 判定部による判定情報の出力と、この判定情報に応じた修正回路による測定プログラムの修正と、を説明するための説明図である。 判定部によるによる判定情報の他の例を説明するための説明図である。 表示制御部により表示部に表示される管理図の表示画面の一例である。 測定システムによるワークの測定処理の流れを示すフローチャートである。

［測定システムの全体構成］
図１は、複数の測定項目に関するワーク９の測定（形状測定及び寸法測定等）を行う測定システム１０の概略図である。図１に示すように、測定システム１０は、複数の三次元座標測定機１２と、複数の制御装置１４と、管理装置１６と、を備える。

複数の三次元座標測定機１２は、同じ構成であるので、ここでは１つの三次元座標測定機１２を例に挙げて説明を行う。また、本実施形態では、各三次元座標測定機１２による測定対象のワーク９の種類は同じであるとする。

三次元座標測定機１２は、本発明の形状測定機に相当するものであり、テーブル１８と、キャリッジ２０と、プローブヘッド２２と、プローブ２４とを備える。各三次元座標測定機１２は、不図示の駆動機構によりキャリッジ２０及びプローブヘッド２２を駆動して、プローブ２４の位置及び姿勢を変位させながらプローブ２４をワーク９に接触させることにより、ワーク９の測定箇所における座標値（互いに直交する３軸方向の座標値）を取得する。なお、三次元座標測定機１２の詳細な構成については公知技術であるので、ここでは具体的な説明は省略する。

複数の制御装置１４は、三次元座標測定機１２ごとにそれぞれ設けられている。なお、複数の制御装置１４は、同じ構成であるので、ここでは１つの制御装置１４を例に挙げて説明を行う。制御装置１４は、例えばパーソナルコンピュータ等の演算処理装置であり、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）又はＦＰＧＡ（field-programmable gate array）等を含む各種の演算部及びメモリ等から構成された演算回路と、各種の機能回路とを備える。この制御装置１４は、対応する三次元座標測定機１２に有線接続（無線接続でも可）されている。

制御装置１４は、三次元座標測定機１２によるワーク９の測定項目ごとの測定の制御と、ワーク９の測定項目ごとの測定データ２６の演算と、を実行する。また、制御装置１４は、管理装置１６に有線接続（無線接続でも可）されている。ここでワーク９の測定項目とは、少なくともワーク９内での測定箇所（測定位置）と、測定内容（形状及び寸法等）とを定めたものである。

管理装置１６は、例えばパーソナルコンピュータ等の演算処理装置であり、各制御装置１４に接続されている。この管理装置１６は、各三次元座標測定機１２により測定された測定項目ごとの測定データ２６を管理（蓄積）する。また、管理装置１６は、詳しくは後述するが、ワーク９の各測定項目の省略の可否をそれぞれ判定する。

［制御装置の構成］
図２は、各制御装置１４及び管理装置１６の構成を示すブロック図である。図２に示すように、各制御装置１４には、三次元座標測定機１２の他に操作部３０が接続されている。そして、制御装置１４ごとに、操作部３０への入力操作に応じて三次元座標測定機１２によるワーク９の測定等を制御する。

各制御装置１４は、コントローラ３２と、記憶部３４と、データ処理装置３６と、情報出力回路３７と、インタフェース３８と、修正回路４０と、を備える。なお、各制御装置１４のコントローラ３２から修正回路４０までの各部は基本的に同じ構成であるので、ここでは、１つの制御装置１４の各部について説明を行う。

コントローラ３２は、不図示の駆動機構によりキャリッジ２０及びプローブヘッド２２を駆動して、プローブ２４の位置及び姿勢を変位させながらワーク９にプローブ２４を接触させることで、三次元座標測定機１２に測定項目ごとの測定を実行させる。この際に、コントローラ３２は、記憶部３４から読み出した測定プログラム２８に基づいてキャリッジ２０及びプローブヘッド２２を駆動することにより、三次元座標測定機１２にワーク９の自動測定を実行させる。これにより、三次元座標測定機１２によって、測定項目ごとの測定が自動で実行される。なお、コントローラ３２は、操作部３０に対する手動操作入力に応じてキャリッジ２０及びプローブヘッド２２を駆動する手動測定も実行可能である。

コントローラ３２は、自動測定時には、記憶部３４内に記憶されている測定プログラム２８を実行することで、この測定プログラム２８に複数規定されている測定項目に基づいて、三次元座標測定機１２に測定項目ごとの測定を実行させる。

測定プログラム２８には、ワーク９の種類に応じて複数の測定項目が規定、すなわち測定項目ごとの測定箇所、各測定箇所の測定順番、及び測定箇所ごとのプローブ２４の姿勢等が規定されている。なお、この測定プログラム２８は、後述の修正回路４０による各測定項目の修正（省略又は実行）を前提とした記述がなされており、例えば測定項目ごとに測定の省略又は実行を変更な記述部分を有している。

データ処理装置３６は、三次元座標測定機１２によって測定項目ごとの測定が実行された場合、コントローラ３２を介して、この三次元座標測定機１２からプローブ２４の接触ポイントの座標値を逐次取得して解析することにより、測定項目ごとの測定結果である測定データ２６を演算する。そして、データ処理装置３６は、測定項目ごとの測定データ２６を記憶部３４に記憶させると共に、インタフェース３８に出力する。

情報出力回路３７は、三次元座標測定機１２によるワーク９の測定開始前に、記憶部３４内の測定プログラム２８からその名称及び各測定項目に関する情報を抽出し、抽出した情報を、測定プログラム情報２９としてインタフェース３８へ出力する。

なお、情報出力回路３７による測定プログラム情報２９の出力のタイミングは特に限定はされないが、本実施形態では、後述の管理装置１６の判定部６４による判定のタイミングに合わせて、情報出力回路３７による測定プログラム情報２９の出力を行っている。

インタフェース３８は、後述の管理装置１６にＬＡＮ（Local Area Network）等で有線接続（無線接続でも可）されており、この管理装置１６との間で各種情報及びデータの遣り取りを行う。

具体的に、インタフェース３８は、データ処理装置３６から入力された測定項目ごとの測定データ２６と、情報出力回路３７から入力された測定プログラム情報２９と、を管理装置１６へ出力する。また、各インタフェース３８は、管理装置１６から入力された判定情報７６（図６参照）を修正回路４０へ出力する。なお、判定情報７６は、詳しくは後述するが、測定項目ごとの省略の可否を判定した判定結果を示す。

修正回路４０は、インタフェース３８を介して管理装置１６から入力される判定情報７６に基づき、記憶部３４内の測定プログラム２８にアクセスして、測定プログラム２８の修正、すなわち測定プログラム２８で規定されているワーク９の複数の測定項目の各々について省略又は実行（省略解除）させる修正を行う。なお、既述の通り、測定プログラム２８は修正回路４０による修正を前提とした記述であるため、修正回路４０は、測定プログラム２８内の対応する記述部分を修正することで、測定項目の修正を簡単に行うことができる。

［管理装置の構成］
管理装置１６は、本発明の測定プログラムの管理装置に相当するものであり、各制御装置１４から入力される測定項目ごとの測定データ２６の蓄積と、各制御装置１４に対する後述の判定情報７６の出力と、を行う。この管理装置１６は、管理装置本体４２と、操作部４４と、表示部４６と、を備える。操作部４４は、例えばキーボード及びマウス等であり、管理装置本体４２に対する操作指示の入力に用いられる。表示部４６は、管理装置本体４２の制御の下、後述の管理図７２（図８参照）等を含む各種表示を行う。

図３は、管理装置本体４２の構成を示すブロック図である。図３に示すように、管理装置本体４２は、インタフェース５０と、管理制御部５２と、記憶部５４と、を備える。

インタフェース５０は、各制御装置１４のインタフェース３８と間で、既述の各種情報及びデータ（測定データ２６、測定プログラム情報２９、及び判定情報７６等）の遣り取りを行う。

管理制御部５２は、例えば演算部（ＣＰＵ又はＦＰＧＡ等）とメモリとを含む各種演算回路などにより構成されている。この管理制御部５２は、記憶部５４に記憶されている管理プログラム５６に基づき、各制御装置１４から入力される測定データ２６の記憶（蓄積）制御と、各制御装置１４に対する判定情報７６の出力制御と、を含む各種制御を行う。そして、管理制御部５２は、管理プログラム５６を実行することにより、記憶制御部５８、管理図生成部６０、条件設定部６２、判定部６４、及び表示制御部６６として機能する。

記憶制御部５８は、各制御装置１４からインタフェース５０に対して測定項目ごとの測定データ２６が入力されるごとに、インタフェース５０から各測定データ２６を取得して記憶部５４内の測定データ蓄積部７０に記憶（蓄積）させる。

図４は、測定データ蓄積部７０の概略図である。図４及び既述の図３に示すように、記憶制御部５８は、インタフェース５０から取得した各測定データ２６を、ワーク９の種類及び測定項目の種類の双方を識別可能な状態で測定データ蓄積部７０に記憶させる。これにより、各三次元座標測定機１２が測定項目ごとの測定を実行するごとに、各制御装置１４からの測定項目ごとの測定データ２６の出力と、インタフェース５０による各測定データ２６の取得と、記憶制御部５８による各測定データ２６の測定データ蓄積部７０への記憶と、が繰り返し実行される。その結果、測定データ蓄積部７０内に測定項目ごとの測定データ２６が蓄積される。

なお、測定データ蓄積部７０への各測定データ２６の記憶方式（蓄積方式）は、図４に示した例に限定されるものではなく、少なくともワーク９の種類及び測定項目の種類の双方を識別可能であれば任意に変更してもよい。

図５は、管理図生成部６０により測定項目ごとに生成される管理図７２の一例を示した説明図である。図５及び既述の図３に示すように、管理図生成部６０は、測定データ蓄積部７０内の測定データ２６に基づき、測定項目ごとに、時系列（期間）でプロットされた測定データ２６を含む管理図７２を生成する。なお、管理図７２の横軸は、各測定項目の測定データ２６の時間的な変化を示すものであれば特に限定されず、例えばワーク９の「製造ロット番号」などに変更してもよい。

図中の符号「Ｃ」は、測定項目ごとの測定データ２６の平均値に相当する中心線であり、図中の符号「ＵＣ」は、測定項目ごとに定められた設計公差の上限値である上限公差（上方規格限界）を示し、図中の符号「ＬＣ」は、測定項目ごとに定められた設計公差の下限値である下限公差（下方規格限界）を示す。さらに図中の符号「Ｗ０」は、測定項目ごとの上限公差ＵＣと下限公差ＬＣとの幅である設計公差の公差幅を示す。なお、上限公差ＵＣ及び下限公差ＬＣは、測定データ２６の標準偏差をσとした場合、測定データ２６の平均値である中心線Ｃに対して例えば±３σ（３σ以外でも可）に設定される。

図中の符号「ＵＰ」は、測定項目ごとの測定データ２６の上方管理限界を示し、図中の符号「ＬＰ」は、測定項目ごとの測定データ２６の下方管理限界を示す。そして、図中の符号「Ｗ１」、すなわち上方管理限界ＵＰと下方管理限界ＬＰとの幅は、測定項目ごとに定められた管理限界を示す。従って、測定項目ごとの測定データ２６のバラツキがそれぞれ管理限界内に収まるか否かに基づき、各測定項目に対応するワーク９の寸法及び形状等が管理状態にあるか否かを判別することができる。なお、測定項目ごとの管理限界Ｗ１（上方管理限界ＵＰ及び下方管理限界ＬＰ）は、例えば、測定項目ごとに、中心線Ｃを基準とする±ｎσ（ｎは任意の自然数）の範囲に定められる。

管理図生成部６０は、測定項目ごとの管理図７２を記憶部５４に記憶させる。そして、管理図生成部６０は、測定データ蓄積部７０に新たな測定データ２６が記憶（蓄積）されるごとに、この新たな測定データ２６の測定項目に対応する記憶部５４内の管理図７２を更新する。

条件設定部６２は、測定項目ごとに、測定項目（測定項目に対応したワーク９の測定）を省略可能な測定データ２６の基準条件（バラツキ条件）を設定する。例えば測定項目ごとの基準条件には、測定項目ごとの測定データ２６のバラツキの許容範囲（許容幅）を定めた第１条件と、ワーク９の製造期間を定めた第２条件と、を含む。すなわち、本実施形態における測定項目ごとの基準条件とは、指定された製造期間内に製造されたワーク９の測定項目ごとの測定データ２６のバラツキが、測定項目ごとに定められたバラツキの許容範囲内に収まることである。

なお、本実施形態では、第１条件（測定データ２６のバラツキの許容範囲）を、設計公差幅Ｗ０（図５参照）に対するパーセンテージで表している。そして、このパーセンテージは、測定データ２６のバラツキの許容範囲が少なくとも管理限界Ｗ１よりも小さくなるような値に設定されていることが好ましい。

測定項目ごとの第１条件及び第２条件は、例えば各三次元座標測定機１２によるワーク９の測定開始前に、管理装置１６の管理者等により操作部４４に入力される。そして、条件設定部６２は、操作部４４に入力された測定項目ごとの第１条件及び第２条件に基づき、測定項目ごとの基準条件を設定し、測定項目ごとの基準条件に関する情報を判定部６４へ出力する。

図６は、判定部６４による判定情報７６の出力と、この判定情報７６に応じた修正回路４０による測定プログラム２８の修正と、を説明するための説明図である。なお、本実施形態の判定部６４は、本発明の参照部及び判定部として機能する。

図６及び既述の図３に示すように、判定部６４は、各制御装置１４から取得した測定プログラム情報２９と、記憶部５４の測定データ蓄積部７０内に蓄積された測定データ２６と、条件設定部６２により設定された測定項目ごとの基準条件と、に基づき、測定プログラム２８に規定されている各測定項目の省略の可否を判定する。

この判定部６４による判定は、例えば各三次元座標測定機１２によるワーク９の測定開始前に実行される。なお、判定部６４による判定のタイミングは、特に限定はされず、例えば三次元座標測定機１２による測定対象のワーク９の種類或いは製造ロットが変わる場合であったり、各三次元座標測定機１２の起動時であったりしてもよい。また、測定対象のワーク９の種類が変わらない場合、判定部６４による判定を、定期的（例えば１日１回）に行ってもよい。

判定部６４は、インタフェース５０等を介して各制御装置１４から入力された測定プログラム情報２９に基づき、測定項目の種類を判別する。そして、判定部６４は、判別した測定項目ごとに、測定データ蓄積部７０に蓄積されたワーク９の測定データ２６（管理図７２でも可）と、条件設定部６２により設定された基準条件とを比較して、測定データ２６のバラツキが基準条件を満たしているか否かを判定する。例えば、判定部６４は、測定データ２６のバラツキが基準条件を満たしている測定項目については「Ｔｒｕｅ」と判定し、測定データ２６のバラツキが基準条件を満たしていない測定項目については「Ｆａｌｓｅ」と判定する。

そして、判定部６４は、測定項目ごとの判定結果を判定情報７６として、インタフェース５０へ出力する。これにより、判定情報７６が、インタフェース５０から各制御装置１４のインタフェース３８を介して修正回路４０に入力される。

判定情報７６の中で、測定データ２６のバラツキが基準条件を満たしている測定項目に対応する「Ｔｒｕｅ」の判定結果は、この測定項目（測定項目に対応するワーク９の測定）が省略可であることを示す。また、判定情報７６の中で、測定データ２６のバラツキが基準条件を満たしていない測定項目に対応する「Ｆａｌｓｅ」の判定結果は、この測定項目（測定項目に対応するワーク９の測定）が省略不可であることを示す。

各制御装置１４の修正回路４０は、判定部６４からの判定情報７６に基づき、記憶部３４内の測定プログラム２８に対して、測定プログラム２８で規定されている測定項目の修正処理を行う。具体的に修正回路４０は、測定プログラム２８中において、「Ｆａｌｓｅ」の判定結果に対応する測定項目は修正せずに、「Ｔｒｕｅ」の判定結果に対応する測定項目をマスク（省略）する処理を行う。これにより、各制御装置１４のコントローラ３２は、修正後の測定プログラム２８に従って、マスクされている測定項目以外の測定項目に対応したワーク９の測定を、各三次元座標測定機１２に実行させることができる。

図７は、判定部６４によるによる判定情報７６の他の例を説明するための説明図である。ここでは、前回の判定部６４による判定情報７６に応じて各修正回路４０にて測定プログラム２８中の１つの測定項目Ｂが既にマスクされているものとする。そして、このマスク後に、条件設定部６２によって設定される測定項目Ｂの基準条件（第１条件等）が緩和されたものとする。

図７に示すように、測定項目Ｂの基準条件が緩和されると、判定部６４は、再度の判定の際に、前回「Ｆａｌｓｅ」と判定した測定項目Ｂを「Ｔｒｕｅ」と判定する場合がある。この場合、判定部６４は、測定項目Ｂに対する新たな判定結果を含む判定情報７６を、インタフェース５０を介して各制御装置１４へ出力する。そして、各制御装置１４の修正回路４０は、判定部６４から新たに入力された判定情報７６に基づき、制御装置１４ごとに、測定プログラム２８に対して、測定項目Ｂのマスクを解除する処理を施す。これにより、各制御装置１４のコントローラ３２は、修正後の測定プログラム２８に従って、各三次元座標測定機１２に測定項目Ｂに対応するワーク９の測定を実行させる。

また、基準条件を緩和することなく、修正回路４０によりマスクされた測定項目の測定を各三次元座標測定機１２に実行させる場合には、例えば管理装置１６の管理者等が、マスクされている測定項目の測定の実行操作を操作部４４に対して入力する。この場合、管理制御部５２は、実行操作に対応する測定項目のマスクを解除するマスク解除指示７７を、インタフェース５０等を介して各制御装置１４（修正回路４０）に出力する。

そして、各制御装置１４の修正回路４０は、管理制御部５２から入力されたマスク解除指示７７に基づき、制御装置１４ごとに、測定プログラム２８に対して、実行操作に対応する測定項目のマスクを解除する処理を施す。その結果、マスクされている測定項目に対応する測定を各三次元座標測定機１２に実行させることができる。これにより、ワーク９の製造条件又は加工条件が変更された場合に、各三次元座標測定機１２にワーク９の各測定項目の測定を全て実行させることができる。

なお、判定部６４は、「Ｔｒｕｅ」と判定した測定項目、すなわち省略可と判定した測定項目に関する省略測定項目情報を表示制御部６６へ出力する。

図３に戻って、表示制御部６６は、既述の測定項目ごとの第１条件及び第２条件の入力画面と、測定データ蓄積部７０に蓄積された測定項目ごとの測定データ２６を適宜統計処理した検査成績表の表示画面と、既述の実行操作の入力画面と、測定項目ごとの管理図７２の表示画面と、を含む各種画面を表示部４６に表示させる。

図８は、表示制御部６６により表示部４６に表示される管理図７２の表示画面の一例である。表示制御部６６は、例えば操作部４４においてワーク９の任意の測定項目に関する管理図７２の表示操作が実行された場合、この表示操作に対応する管理図７２を記憶部５４から取得して表示部４６に表示させる。この際に、表示制御部６６は、判定部６４から入力される省略測定項目情報に基づき、省略測定項目情報に含まれている測定項目に対応する管理図７２を表示部４６に表示させる場合には、メッセージ欄７８を表示部４６に合わせて表示させる。

メッセージ欄７８には、例えば、表示部４６に表示中の管理図７２に対応する測定項目についてのワーク９の測定が省略されている点と、この測定項目に関するワーク９の測定を実行する場合には管理者等に連絡する必要がある点とが記載されている。これにより、表示部４６において、省略指示（マスク指示）がなされている測定項目が識別可能に表示される。

［測定システム（管理装置）の作用］
図９は、上記構成の測定システム１０によるワーク９の測定処理の流れを示すフローチャートである（本発明の測定プログラムの管理方法に相当）。図９に示すように、最初に各三次元座標測定機１２、各制御装置１４、及び管理装置１６が起動される（ステップＳ１Ａ，Ｓ１Ｂ）。

次いで、管理者等が、管理装置１６の操作部４４に対して、測定項目ごとの第１条件及び第２条件の入力操作を行う。この入力操作がなされると、管理装置１６の条件設定部６２が、測定項目ごとに第１条件及び第２条件に基づき基準条件を設定し、測定項目ごとの基準条件に関する情報を判定部６４へ出力する（ステップＳ２Ａ、本発明の設定ステップに相当）。

一方、各三次元座標測定機１２及び各制御装置１４の起動後、各制御装置１４の情報出力回路３７が記憶部３４内の測定プログラム２８から測定プログラム情報２９を抽出してインタフェース３８へ出力する（ステップＳ２Ｂ）。これにより、各制御装置１４から出力された測定プログラム情報２９が、インタフェース５０等を介して、管理装置１６の判定部６４に入力される（ステップＳ３Ａ）。

測定プログラム情報２９の入力を受けた判定部６４は、この測定プログラム情報２９に基づき、各三次元座標測定機１２で測定対象となるワーク９の測定項目の種類を判別する（ステップＳ４Ａ）。

次いで、判定部６４は、判別した測定項目ごとに、測定データ蓄積部７０に蓄積されたワーク９の測定データ２６を参照した参照結果と、条件設定部６２により設定された基準条件とを比較して、測定データ２６のばらつきが基準条件を満たしているか否かを判定する（ステップＳ５Ａ）。なお、ステップＳ５Ａは本発明の参照ステップ及び判定ステップに相当する。これにより、測定項目ごとの省略の可否を自動的に判定することができる。

そして、判定部６４は、既述の図６に示したように、測定項目ごとの判定結果を示す判定情報７６をインタフェース５０へ出力する（ステップＳ６Ａ）。これにより、判定情報７６が、インタフェース５０を介して各制御装置１４の修正回路４０に向けて出力される。また、判定部６４は、「Ｔｒｕｅ」と判定した測定項目に関する省略測定項目情報を表示制御部６６へ出力する。

なお、管理者は、既に測定プログラム２８中にマスクされている測定項目が存在している場合であって、且つマスクされている測定項目に対応するワーク９の測定を実行させる必要がある場合（例えばワーク９の製造条件等の変更が行われた場合等）、この測定の実行操作を操作部４４に入力する（ステップＳ７Ａ、本発明の受付ステップに相当）。この実行操作が操作部４４にて受け付けられると、管理制御部５２は、マスク解除指示７７を、インタフェース５０等を介して各制御装置１４の修正回路４０へ出力する（ステップＳ８Ａ）。その結果、必要に応じて、マスクされた測定項目に対応するワーク９の測定を実行させることができる。

各制御装置１４の修正回路４０は、管理装置１６から入力された判定情報７６又はマスク解除指示７７に基づき、測定プログラム２８の修正が必要である場合、記憶部３４内の測定プログラム２８にアクセスする（ステップＳ３Ｂ）。そして、各修正回路４０は、判定情報７６又はマスク解除指示７７に基づき、既述の図６及び図７に示したように、測定プログラム２８に対して測定項目の修正処理を行う（ステップＳ４Ｂ、本発明の修正ステップに相当）。

次いで、各制御装置１４のコントローラ３２が記憶部３４から測定プログラム２８を読み出して実行する（ステップＳ５Ｂ）。これにより、制御装置１４ごとに、コントローラ３２が測定プログラム２８で定められた複数の測定項目の中でマスクされていない測定項目に関するワーク９の測定を三次元座標測定機１２に実行させる（ステップＳ６Ｂ）
また、各三次元座標測定機１２によるワーク９の測定が開始されると、各制御装置１４のデータ処理装置３６が、マスクされていない測定項目に対応する測定データ２６を演算し、演算した測定データ２６を管理装置１６に対して出力する（ステップＳ７Ｂ）。

各制御装置１４から出力された各測定データ２６は、管理装置１６のインタフェース５０に入力される。そして、記憶制御部５８が各測定データ２６を、既述の図４に示したように、ワーク９の種類及び測定項目の種類の双方を識別可能な状態で測定データ蓄積部７０に記憶（蓄積）させる（ステップＳ９Ａ、本発明の蓄積ステップに相当）。

次いで、管理図生成部６０が、測定データ蓄積部７０に新たな測定データ２６が記憶されるのに応じて、この新たな測定データ２６に対応する記憶部５４内の管理図７２を更新する（ステップＳ１０Ａ、本発明の管理図生成ステップに相当）。

そして、操作部４４にてワーク９の任意の測定項目に関する管理図７２の表示操作が実行されると、表示制御部６６が記憶部５４内から表示操作に対応する管理図７２を読み出して表示部４６に表示させる。この際に、表示制御部６６は、判定部６４から先に入力された省略測定項目情報に基づき、表示部４６に表示させる管理図７２に対応する測定項目の測定が省略されている場合、既述の図８に示したように、メッセージ欄７８を表示部４６に合わせて表示させる（ステップＳ１１Ａ、本発明の表示ステップに相当）。これにより、表示部４６において省略されている測定項目が識別可能に表示される。

以下、各ステップの処理が繰り返し実行されることで、測定プログラム２８の測定項目が最適化され、各三次元座標測定機１２がワーク９の測定に要する時間をより短くすることができる。

［本実施形態の効果］
以上のように本実施形態では、ワーク９の複数の測定項目の中で基準条件を満たす測定項目、すなわち測定不要な測定項目が存在する場合に、管理装置１６から各制御装置１４に対して判定情報７６を出力させると共に、各制御装置１４において不要な測定項目をマスクする測定プログラム２８の修正を自動的に行わせることができる。これにより、測定プログラム２８の修正に習熟したスキルが必要なくなり、測定プログラム２８の修正に要する時間及び修正後の動作確認に要する時間が掛からなくなり、さらに測定プログラム２８の修正にミスが発生することが防止されるので、測定プログラムのメンテナンスコストが抑えられる。その結果、測定不要な測定項目の省略を簡単に行うことができる。

［その他］
上記実施形態では、表示部４６に管理図７２及びメッセージ欄７８を同時に表示させることにより、判定部６４により省略可と判定された測定項目を識別可能に表示部４６に表示させているが、判定部６４により省略可と判定された測定項目を識別可能に表示部４６に表示させる方法は特に限定はされず、任意の方法を用いてもよい。

上記実施形態の測定システム１０では、複数組の三次元座標測定機１２及び制御装置１４が設けられているが、三次元座標測定機１２及び制御装置１４は一組であってもよい。すなわち、本発明の測定システム１０は、一組の三次元座標測定機１２及び制御装置１４により構成されるスタンドアロンシステムであってもよい。この場合、制御装置１４に既述の管理プログラム５６がインストールされており、制御装置１４が上記実施形態の管理装置１６としても機能する。すなわち、１つの装置で測定不要な測定項目の判定と、測定プログラム２８の修正とを行ってもよい。

上記実施形態では、三次元座標測定機１２及び制御装置１４が別体で設けられているが、両者が一体化されていてもよい。

上記実施形態では、条件設定部６２により設定される基準条件として第１条件及び第２条件を例に挙げて説明したが、この基準条件は、測定項目（測定項目に対応したワーク９の測定）を省略可能な測定データ２６の条件（工程能力指数及び不良率など）であれば特に限定されない。

上記実施形態では、測定データ蓄積部７０が管理装置１６内に設けられているが、測定データ蓄積部７０の管理装置１６の外部、例えば、インターネット上のサーバ又はデータベース等に設けられていてもよい。

上記実施形態では、各三次元座標測定機１２においてそれぞれ同一種類のワーク９の測定を行う場合を例に挙げて説明したが、三次元座標測定機１２ごとに測定するワーク９の種類が同一でなくとも本発明を適用することができる。

上記実施形態では、本発明の形状測定機として三次元座標測定機１２を例に挙げて説明したが、測定プログラムに従ってワーク９の各種形状（真直度、真円度、表面粗さ、寸法、及び形状等）を測定する各種の形状測定機の測定プログラムの修正に本発明を適用することができる。

９…ワーク，
１０…測定システム，
１２…三次元座標測定機，
１４…制御装置，
１６…管理装置，
２６…測定データ，
２８…測定プログラム，
４０…修正回路，
４２…管理装置本体，
４４…操作部，
４６…表示部，
５２…管理制御部，
５８…記憶制御部，
６０…管理図生成部，
６２…条件設定部，
６４…判定部，
６６…表示制御部，
７０…測定データ蓄積部，
７８…メッセージ欄

Claims (9)

1. 形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ前記形状測定機に測定させる前記ワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムの管理方法において、
   前記測定項目ごとに、１又は複数の前記形状測定機による前記ワークの測定結果を参照する参照ステップと、
   前記測定項目ごとに、前記測定項目を省略可能な前記測定結果の基準条件を設定する設定ステップと、
   前記参照ステップで参照した前記測定結果と、前記設定ステップで設定された前記基準条件とに基づき、前記測定項目ごとに省略の可否を判定する判定ステップと、
   を有する測定プログラムの管理方法。
2. 前記測定プログラムに複数規定されている前記測定項目の中で、前記判定ステップで省略可と判定された前記測定項目をマスクする修正を行う修正ステップを有する請求項１に記載の測定プログラムの管理方法。
3. 前記判定ステップで省略可と判定された前記測定項目に対応する前記ワークの測定の実行操作を受け付ける受付ステップを有し、
   前記修正ステップでは、前記受付ステップで前記実行操作を受け付けた場合に、前記測定プログラムに対して、前記実行操作に対応する前記測定項目のマスクを解除する修正を行う請求項２に記載の測定プログラムの管理方法。
4. 前記判定ステップで省略可と判定された前記測定項目を識別可能に表示部に表示させる表示ステップを有する請求項１から３のいずれか１項に記載の測定プログラムの管理方法。
5. 前記測定結果を蓄積部に蓄積させる蓄積ステップと、
   前記蓄積ステップで蓄積された前記測定項目ごとの前記測定結果に基づき、前記測定項目ごとの管理図を生成する管理図生成ステップと、
   を有し、
   前記表示ステップでは、前記判定ステップで省略可と判定された前記測定項目に対応する前記管理図を識別可能に前記表示部に表示させる請求項４に記載の測定プログラムの管理方法。
6. 前記測定結果を蓄積部に蓄積させる蓄積ステップを有し、
   前記参照ステップでは、前記蓄積部に蓄積された前記測定結果を参照する請求項１から５のいずれか１項に記載の測定プログラムの管理方法。
7. 前記設定ステップでは、前記基準条件として、前記測定項目ごとの前記測定結果のバラツキの許容範囲と、前記ワークの製造期間と、を設定する請求項１から６のいずれか１項に記載の測定プログラムの管理方法。
8. 形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ前記形状測定機に測定させる前記ワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムの管理装置において
   前記測定項目ごとに、１又は複数の前記形状測定機による前記ワークの測定結果を参照する参照部と、
   前記測定項目ごとに、前記測定項目を省略可能な前記測定結果の基準条件を設定する設定部と、
   前記参照部が参照した前記測定結果と、前記設定部が設定した前記基準条件とに基づき、前記測定項目ごとに省略の可否を判定する判定部と、
   を備える測定プログラムの管理装置。
9. 形状測定機によるワークの測定を制御する測定プログラムであって、且つ前記形状測定機に測定させる前記ワークの測定項目が複数規定されている測定プログラムに従って、前記測定項目ごとに前記ワークの測定を行う１又は複数の形状測定機と、
   請求項８に記載の測定プログラムの管理装置と、
   を備える測定システム。

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