JP2019143131A - ドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明におけるポリエステルフィルムは、無延伸フィルム(シート)であっても延伸フィルムであってもよい。中でも、一軸方向又は二軸方向に延伸された延伸フィルムであるのが好ましい。その中でも、力学特性のバランスや平面性に優れる点で、二軸延伸フィルムであるのが好ましい。
本発明におけるポリエステルフィルムは単層構成であっても2層以上の多層であってもよく、特に限定されるものではない。ポリエステル層に粒子を添加する場合、効果的に透明性と滑り性を付与するという観点から3層以上が好ましく、コストの観点から3層が好ましい。また、3層とする場合、効果的に透明性と滑り性を付与するという観点から、両表層に粒子を含有し、中間層に粒子を含有しない2種3層、少なくとも一方の表層に粒子を含有し、中間層と他方の表層に粒子を含有しない3種3層が好ましい。
ポリエステルフィルムには、易滑性の付与及び各工程での傷付き防止性を主たる目的として、粒子Bを含有することが好ましい。本明細書において、ポリエステルフィルム中に含有された粒子を粒子Bと称する。ポリエステルフィルムが多層構成を有する場合には、粒子Bは、少なくとも一つの層に含有させることが好ましい。ポリエステルフィルムが2層構成である場合は、粒子Bは、少なくとも一つの層に含有させることが好ましい。ポリエステルフィルムが3層以上の多層構成の場合は、粒子Bは、少なくとも一つの表層に含有することが好ましく、両表面層に含有させてもよい。
ポリエステルフィルムに含有させる粒子Bの種類は、易滑性付与可能な粒子であれば特に限定されるものではない。具体例としては、シリカ、アルミナ、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、炭酸バリウム、硫酸カルシウム、リン酸カルシウム、リン酸マグネシウム、カオリン、酸化ジルコニウム、酸化チタン等の無機粒子、アクリル樹脂、スチレン樹脂、尿素樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ベンゾグアナミン樹脂等の有機粒子等が挙げられる。さらに、ポリエステルフィルムの製造工程中、触媒等の金属化合物の一部を沈殿、微分散させた析出粒子を用いることもできる。
粒子Bをポリエステルフィルムに添加することによってポリエステルフィルム表面に突起形成を行うと、配線板の製造時に突起による紫外線の露光不良やレジスト表面に凹みを生じ、近年求められている極細線の回路形成に対して解像性の低下や欠陥を及ぼしたり、フィルムの透明性を低下させたりする場合もある。これらの中でも、粒子Bとしてアルミナ粒子、有機粒子、シリカ粒子を使用することにより、ポリエステルフィルムの高度な透明性と傷付き防止性を得られ、かつ回路の欠損を低減が可能である。
これら一連の粒子は、必要に応じて2種類以上を併用してもよい。
本発明における塗布層の形成について説明し、次いで、塗布層を形成する塗布液及び塗布層の構成について説明する。塗布層の形成に関しては、ポリエステルフィルムの製膜工程中にフィルム表面に塗布液をコーティングする、インラインコーティングにより塗布層を形成してもよく、一旦製造したポリエステルフィルム上に系外で塗布液をコーティングする、オフラインコーティングにより塗布層を形成してもよい。塗布層は、加工の容易性の点からインラインコーティングにより形成されるものが好ましい。
塗布層を形成する塗布液は、用いる溶媒に制限はない。中でも、水を溶媒とする水性塗布液を用いることが好ましく、少量の有機溶剤を含有していてもよい。有機溶剤としては、エタノール、イソプロパノール、エチレングリコール、グリセリン等のアルコール類、エチルセロソルブ、t−ブチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類、酢酸エチル等のエステル類、ジメチルエタノールアミン等のアミン類等を例示することができる。これらは単独、もしくは複数を組み合わせて用いることができる。水性塗布液に、必要に応じてこれらの有機溶剤を適宜選択し、含有させることで、塗布液の安定性、塗布性を良好にすることができる場合がある。本発明のDFR基材フィルムの塗布層には、実質的に無機塩を含まないため、水性塗布液中に含まれる架橋剤や各種ポリマーによって形成される、例えば水中油型のエマルションが無機塩によって壊れることなく、ポリエステルフィルムに対して塗布液を塗布ムラなく塗布することができる。
塗布層を形成する塗布液には架橋剤を含有してもよい。塗布層を構成する塗布液に架橋剤を含有する場合には、塗布層は、架橋密度が高い緻密な塗布層を形成することができ、ドライフィルムレジスト工程において、より好適な傷付き防止性を付与することができる。架橋剤は、特に制限はなく、従来公知の架橋剤を使用することができる。架橋剤としては、例えば、メラミン化合物、オキサゾリン化合物、エポキシ化合物、イソシアネート系化合物、カルボジイミド系化合物、シランカップリング化合物等が挙げられる、これらの中でも耐久性の観点から、架橋剤は、メラミン化合物またはオキサゾリン化合物であることが好ましく、傷付き防止性の観点からメラミン化合物であることが好ましい。また、これらの架橋剤は2種以上を併用してもよい。なお、これらの架橋剤とともに硬化する成分として、任意の重合性モノマーを塗布液に含有していてもよい。
塗布液中に含まれる粒子Aには、粒子AS及び粒子AL以外の粒径1μm未満の粒子を含んでいてもよい。塗布液には、長鎖アルキル基を有する化合物、ワックス、フッ素化合物及びシリコーン化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の離型剤を含有することが好ましい。また、塗布液には、架橋剤を含有する場合には、架橋してなるポリマー以外の後述する各種のポリマーを含有してもよい。塗布液には、必要に応じて界面活性剤を含有してもよい。
塗布液中には、塗布液から形成される塗布層に含まれるように、必要に応じて界面活性剤を含有してもよい。塗布液は、必要に応じて帯電防止剤を含有してもよい。
本発明のDFR基材用フィルムの塗布層は、前述した方法によって塗布液から形成された塗布層であることが好ましい。
DFR基材用フィルムの塗布層は、ポリエステルフィルムが多層構成である場合には、粒子を含有する表層に塗布した塗布液から形成された塗布層であってもよく、粒子を含有しない表層に塗布した塗布液から形成された塗布層であってもよい。多層構成のポリエステルフィルムのうち、一つの表層に粒子Bを含み、この粒子Bを含む表層に接する塗布層を有するDFR基材フィルムは、塗布層により傷付き防止性及び滑り性がよいため加工工程において取り扱いやすく、ドライフィルムレジスト工程において、粒子Bを含まない層の側にレジスト層を形成しやすい。多層構成のポリエステルフィルムのうち、一つの表層に粒子Bを含み、粒子Bを含んでいない他の表層に接する塗布層を有するDFR基材フィルムは、塗布層により傷付き防止性及び滑り性がよいため加工工程において取り扱いやすく、ドライフィルムレジスト工程においてレジスト層を形成しやすい。
ここで、無機塩としては、前述した金属塩の架橋触媒、後述する無機塩に相当する粒子Aは含まれない。例えば塩化ナトリウム、臭化ナトリウム、硝酸ナトリウム、塩化カリウム、硝酸カリウム、塩化ストロンチウム、硝酸ストロンチウム、塩化セシウム、塩化マグネシウム、硝酸マグネシウム、塩化カルシウム、硝酸カルシウム、塩化鉄(II)、臭化鉄(II)、硝酸鉄、ヘキサシアノ鉄(II)酸カリウム、ヘキサシアノ鉄(III)酸カリウム、塩化コバルト(II)、臭化コバルト(II)、沃化コバルト(II)、硝酸コバルト(II)、硫酸コバルト(II)、塩化ニッケル(II)、臭化ニッケル(II)、硝酸ニッケル(II)、硫酸ニッケル(II)、塩化パラジウム(II)ナトリウム、塩化銅(II)、臭化銅(II)、硝酸銅(II)、硫酸銅(II)、硝酸銀、塩化亜鉛、硝酸亜鉛、塩化アルミニウム、硝酸アルミニウム、塩化インジウム(III)、硝酸インジウム(III)などが挙げられる。
DFR基材フィルムの塗布層は、必要に応じて界面活性剤を含有してもよい。塗布層は、塗布層を形成する塗布液中に含有された界面活性剤によって、ポリエステルフィルムに対する塗布液の濡れ性を向上させて、塗布ムラ(塗布層の不均一さ)を抑制し、塗布層の外観を良好にすることができる。塗布層中の界面活性剤の含有量は、好ましくは0.01〜10質量%、より好ましくは0.05〜5.0質量%、さらに好ましくは0.10〜3.0質量%、特に好ましくは0.10〜1.0質量%、最も好ましくは0.30〜1.0質量%である。塗布層中の界面活性剤の含有量が、0.01〜10質量%であれば、塗布層の透明性、傷付き防止性及び滑り性の特性を維持しながら、ポリエステルフィルムに対する濡れ性を向上することができ、塗布ムラを抑制して、塗布層の外観をより良好にすることができる。塗布層中の界面活性剤の含有量が0.01質量%未満であると、濡れ性を改善することが困難となり、10質量%を超えると、塗布層の透明性が低下し、DFR基材フィルムのヘーズの値が大きくなる場合がある。塗布層中の界面活性剤の含有量は、塗布液中の不揮発成分に対する界面活性剤の含有量にほぼ等しいと推測される。塗布液中の界面活性剤の含有量は、塗布液中の不揮発成分に対して好ましくは0.01〜10質量%、より好ましくは0.05〜5.0質量%、さらに好ましくは0.10〜3.0質量%、特に好ましくは0.10〜1.0質量%、最も好ましくは0.30〜1.0質量%である。
DFR基材用フィルムの塗布層は、必要に応じて帯電防止剤を含有してもよい。塗布層は、所望の傷付き防止性と滑り性を有する塗布層が得られる場合には、帯電防止剤を含んでいなくてもよい。塗布層中の帯電防止剤の含有量は制限が無く、通常45質量%以下であり、好ましくは1〜45質量%、より好ましくは5〜40質量%、さらに好ましくは10〜35質量%、特に好ましくは15〜30質量%である。塗布層中の帯電防止剤の含有量が45質量%以下であれば、塗布層からの帯電防止剤のブリードアウトを抑制することができる。また、塗布層中の帯電防止剤の含有量が、1質量%以上であれば、塗布層の表面抵抗を下げて、塗布層からの帯電防止剤のブリードアウトによるDFR基材用フィルムの汚染を防止しつつ、埃などの吸着を抑制することができる。塗布層中の帯電防止剤の含有量は、例えば元素分析、蛍光X線、NMR等により測定することができる。塗布液中の帯電防止剤の含有量は制限が無く、塗布液中の不揮発成分に対して通常45質量%以下であり、好ましくは1〜45質量%、より好ましくは5〜40質量%、さらに好ましくは10〜35質量%、特好ましくは15〜30質量%である。
塗布層は、DFR基材用フィルムの透明性を維持しながら、滑り性を向上させ、傷付き防止性、削れ防止性及び空気抜け性をより向上させるために粒子Aを含有する。粒子Aは、特に制限はなく、従来公知の粒子を使用することが可能である。粒子Aの具体例としては、コロイダルシリカ、多孔質シリカ、アルミナ、炭酸カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化チタン等の無機粒子、アクリル樹脂、スチレン樹脂等の有機粒子等が挙げられる。粒子Aは、粒径が30〜80nmの粒子ASと、粒径が100〜400nmの粒子ALとを含み、粒子AS及び粒子AL以外の粒径1μm未満の粒子を含んでいてもよい。
塗布層の透明性を維持しながら、滑り性、傷付き防止性、削れ防止性及び空気抜け性をより向上させるために、塗布層の表面を観察した際の該塗布層表面に占める粒子の面積合計に対し、粒子ASの面積割合が60〜99.9%の範囲内となり、粒子ALの面積割合が0.1〜15%の範囲内となるように、粒子AS及び粒子ALが塗布層中に含有される。ここで、塗布層の表面を観察した際に、ポリエステルフィルムに含有される粒子Bが観察される場合は、当該粒子Bは含まないものとする。
塗布層に含有される粒子Aの中で、粒子AS、粒子AL及びその他の粒子AEは、同種の粒子であってもよく、異種の粒子であってもよい。粒子AS、粒子AL及びその他の粒子AEは、粒度分布における1つのピークを構成する中での各粒径範囲のフラクションであってもよく、粒度分布における異なるピークを構成する中での各粒径範囲のフラクションであってもよい。また、粒子AS、粒子AL及びその他の粒子AEは、ポリエステルフィルムに含まれる粒子Bと同種の粒子であってもよく、粒子Bと異種の粒子であってもよい。塗布層の形成時の耐熱性や安価に入手可能という点からコロイダルシリカ、多孔質シリカ、有機粒子が好ましい。
塗布層の表面を観察した際の塗布層表面に占める粒子の面積合計に対し、粒子ASの面積割合が60〜99.9%の範囲内となるように塗布層中に粒子が含有されることによって、塗布層の透明性を維持しつつ、ドライフィルムレジスト工程における滑り性をより向上し、傷付き防止性及び削れ防止性を向上させることができる。粒子ASは、上記の面積割合が65〜99.5%の範囲内となることが好ましく、70〜99.0%の範囲内となることがより好ましい
粒子AS及び粒子ALの粒径は、粒子AS及び粒子ALが粉体である場合には、遠心沈降式粒度分布測定装置(島津製作所社製、SA−CP3型)を用いて粉体を測定した等価球形分布によって測定することができる。塗布層中に含まれる粒子AS及び粒子ALの粒径は、例えば走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM、日本FEI株式会社製、「NovaNanoSEM」)を用いて塗布層表面を観察し、得られる画像データから、画像解析ソフトウェア(株式会社日本ローパー製、「Image−Pro Premier」)を用いて個々の粒子の粒径を測定することができる。画像データにおいて粒子が円形ではない場合は、該粒子の面積を測定し、同一面積を有する円形に換算して粒径を測定する。
塗布層の表面を観察した際の塗布層表面に占める粒子の面積合計に対し、粒子ALの面積割合が0.1〜15%の範囲内となるように塗布層中に粒子が含有されることによって、塗布層の透明性を維持しつつ、ドライフィルムレジスト工程において、空気抜け性を向上し、滑り性をより向上させることができ、削れ防止性も維持される。粒子ALは、上記の面積割合が0.2〜15%の範囲内となることが好ましく、1.0〜10%の範囲内となることがより好ましい。
塗布層は、DFR基材用フィルムの滑り性をより向上させるために、離型剤を含有することが好ましい。離型剤は、長鎖アルキル基を有する化合物、ワックス、フッ素化合物及びシリコーン化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の離型剤であることが好ましい。その中でも汚染性に優れるという観点から、離型剤は、長鎖アルキル基を有する化合物又はワックスが好ましい。また、傷付き防止という観点から、離型剤は、ワックスが好ましい。これらの離型剤は単独で用いてもよいし、複数種使用してもよい。塗布層中にはワックスを含有することが好ましい。
少量で効果的に滑り性を付与できるという観点からポリエチレンワックスが好ましい。
これらの反応性基を有する化合物としては、例えば、ポリビニルアルコール、ポリエチレンイミン、ポリエチレンアミン、反応性基含有ポリエステル樹脂、反応性基含有ポリ(メタ)アクリル樹脂等が挙げられる。これらの中でも離型性や取り扱いやすさを考慮するとポリビニルアルコールであることが好ましい。
塗布層には、塗布層の外観やDFR基材フィルムの透明性の向上などのために、架橋剤が架橋してなるポリマー以外の各種のポリマーを含有していてもよい。
本発明のDFR基材用フィルムは、ポリエステルフィルムの少なくとも一方の片面に塗布層を有するものであり、このDFR基材用フィルムの平均表面粗さ(Ra)は、好ましくは1〜10nmであり、より好ましくは1〜8nm、さらに好ましくは1〜5nmである。DFR基材用フィルムの平均表面粗さ(Ra)が1〜10nmの範囲にあることにより、透明性を維持することができる。平均表面粗さ(Ra)が10nmを超える場合、DFR基材用フィルムの透明性が低下し、紫外線の露光が不十分となり、回路の欠損や解像度の低下を引き起こす可能性がある。一方、平均表面粗さ(Ra)が1nm未満の場合、滑り性が劣化することにより、工程適正、特に製膜工程でフィルム表面に傷が発生しやすくなり、傷は当該表面に塗工したレジスト表面の結果となり、レジスト厚みが薄い高解像度のドライフィルムレジストでは大きな影響を及ぼす可能性がある。DFR基材用フィルムの平均表面粗さ(Ra)は、後述する実施例の測定方法により測定することができる。
本発明のドライフィルムレジストは、本発明のDFR基材用ポリエステルフィルムの少なくとも片面に塗布層を有し、該塗布層とは反対側に感光性樹脂層を有する。ドライフィルムレジスト(以下、「DFR」とも称する。)は本発明のDFR基材用フィルムの塗布層側と反対側の片面に感光性樹脂を塗布して感光性樹脂層を形成し、この感光性樹脂層表面に、本発明のDFR基材用ポリエステルフィルムをさらに加圧積層することにより貼りあわせてもよい。具体的には、2つのDFR基材用ポリエステルフィルムの塗布層側と反対側を、感光性樹脂層を接触させて、2つのDFR基材用ポリエステルフィルムで挟んだ状態とし、2つのDFR基材用フィルムを感光性樹脂層の保護フィルムとしても使用することができる。本発明のDFRは、DFR基材用フィルムの少なくとも片面に塗布層を有し、この塗布層によって、透明性を維持しつつ、ドライフィルムレジスト工程における滑り性、傷付き防止性及び削れ防止性が向上されているので、巻き取りや加工工程にて塗布層が擦られることによる粒子の脱落や塗膜の削れを抑制することができ、感光性樹脂層により高精細化な導電パターンを形成することができる。
ポリエステルに非相溶な他のポリマー成分及び顔料を除去したポリエステル1gを精秤し、フェノール/テトラクロロエタン=50/50(重量比)の混合溶媒100mlを加えて溶解させ、30℃で測定した。
株式会社島津製作所製の遠心沈降式粒度分布測定装置(SA−CP3型)を用いて粉体からなる粒子A又は粒子Bの等価球形分布を測定し、各粒径の範囲の積算分率を求めた。また、各粒子を測定した等価球形分布における積算体積分率50%の粒径を平均粒径d50とした。
株式会社小坂研究所社製の表面粗さ測定機(SE−3500)を用いて次のようにして求めた。すなわち、DFR基材用フィルムの試料フィルムの塗布層表面の断面曲線からその平均線の方向に基準長さL(2.5mm)の部分を抜き取り、この抜き取り部分の平均線をx軸、縦倍率の方向をy軸として粗さ曲線 y=f(x)で表わしたとき、次の式(1)で与えられた値を〔nm〕で表わす。算術平均粗さは、試料フィルム表面から10本の粗さ曲線を求め、これらの粗さ曲線から求めた抜き取り部分の算術平均粗さの平均値で表わした。なお、触針の先端半径は2μm、荷重は30mgとし、カットオフ値は0.08mmとした。
Ra=(1/L)∫L0|f(x)|dx (1)
DFR基材用フィルムの試料フィルムの平均表面粗さ(Ra)測定時に得られた断面曲線の抜き取り部分を、その平均線に平行な2直線で抜き取り部分を挟んだとき、この2直線の間隔を断面曲線の縦倍率の方向に測定して、その値をマイクロメートル(μm)単位で表したものを抜き取り部分の最大表面高さ(Rt)とした。最大高さは、試料フィルム表面から10本の断面曲線を求め、これらの断面曲線から求めた抜き取り部分の最大高さの平均値で表した。
DFR基材用フィルムの試料フィルムの塗布層表面をRuO4で染色し、エポキシ樹脂中に包埋した。その後、超薄切片法により作成した切片をRuO4で染色し、離型層の断面を株式会社日立ハイテクノロジーズ製の透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope;TEM)(H−7650、加速電圧100kV)を用いて測定した。
DFR基材用フィルムの試料フィルムの塗布層表面をジェントス株式会社製のLEDライト(GF−006)を照射して目視で観察し、塗布ムラが見られないものをA、わずかに見られるものをB、やや見られるものをC、全面に見られるものをDとした。
DFR基材用フィルムの試料フィルムをJIS−K7136に準拠して、株式会社村上色彩技術研究所製のヘーズメーター(HM−150)を用いて、フィルムヘーズを測定した。
幅10mm、長さ100mmの平滑なガラス板上に塗布層を上面にしてDFR用基材フィルムの試料フィルムを貼り付け、該塗布層上に幅18mm、長さ120mmに切り出した他の試料フィルムを塗布層同士が接するように積層した。さらに他の試料フィルム上から直径8mmの金属ピンに押し当て、金属ピンをガラス板の長手方向に、加重30g、40mm/分で滑らせて摩擦力を測定し、10mm滑らせた点での摩擦係数を動摩擦係数とした。
DFR基材用フィルムの試験フィルムの塗布層表面を太平理化工業株式会社製のラビングテスターを使用して5往復ラビングし、ラビングした箇所をジェントス株式会社製のLEDライト:GF−006を照射して目視で観察して、塗布層の傷付きが全く見られないものをA、傷付きがあるが、傷付き面積が試験フィルムの全面積に対して20%以下のものをB、20%を超え50%以下のものをC、50%を超えるものをDとした。
東洋精機株式会社製のデジベック平滑度試験機:DB−2を使用し、JIS P8119に準拠して、温度23℃、湿度50%RHの雰囲気下で測定した。加圧装置の圧力は100kPa、真空容器は容積38mlの容器を使用し、1mLの空気が流れる時間、すなわち容器内の圧力が50.7kPaから48.0kPaに変化するまでの時間(秒)を計測し、得られた秒数の10倍を空気漏れ指数とした。DFR基材用フィルムの試験フィルムのサンプルサイズは70mm四方として、試験フィルムの表裏(塗布層側とポリエステルフィルム側)が重なるように20枚を積層し、空気の漏れが均一になるように積層したフィルムの中央に直径5mmの穴を開けて測定した。この空気漏れ指数の値が大きいほど、フィルム同士の隙間から空気が漏れるのに時間を要するので、フィルム同士がより密に接していることを示している。
DFR基材用フィルムの試料フィルムを500mロール状に巻き取り、温度23℃、湿度50%RHの雰囲気下で16時間放置した。16時間経過後にロール状に巻き取った状態のフィルムの表層を観察した。表層にシワが発生していなかったものをA、表層に発生していたシワのロール巻き芯方向の幅(以下、シワの巻き芯方向の幅を「横幅」と称する。)が1cm以下のものをB、横幅が1cmを超え5cm以下のものをC、横幅が5cmを超えるものをDとした。
粒子AS及び粒子ALの粒径は、走査型電子顕微鏡(日本FEI株式会社製、「NovaNanoSEM」))を用いて塗布層表面を5万倍又は10万倍で観察し、得られる画像データから、識別できる粒子を任意に2000個選択し、2000個の粒子を画像解析ソフトウェア(株式会社日本ローパー製、「Image−Pro Premier」)を用いて個々の粒子の粒径を測定した。測定した全ての粒子の面積を合計し、粒径が30〜80nmの粒子ASの面積を合計し、測定した全ての粒子の面積合計100%に対する粒子ASの面積割合を算出した。また、画像データを解析して測定した粒子の中から粒径100〜400nmの粒子ALの面積を合計し、測定した全ての粒子の面積合計100%に対する粒子ALの面積割合を算出した。
<ポリエステル(A)>
ジカルボン酸成分としてテレフタル酸、多価アルコール成分としてエチレングリコールを使用し、定法の溶融重合法にて得られた、極限粘度が0.65dl/gのポリエステル(A)。
ポリエステル(A)の製造方法において、溶融重合前に粒子Bとして平均粒径0.05μmのアルミナ粒子を1.5重量部添加する以外はポリエステル(A)の製造方法と同様の方法を用いて得られたポリエステル(B)。
ポリエステル(A)の製造方法において、溶融重合前に粒子Bとして平均粒径0.35μmのスチレン樹脂を0.5重量部添加する以外はポリエステル(A)の製造方法と同様の方法を用いて得られたポリエステル(C)。
ポリエステル(A)の製造方法において、溶融重合前に粒子Bとして平均粒径2.0μmのシリカ粒子を0.2重量部添加する以外はポリエステル(A)の製造方法と同様の方法を用いて得られたポリエステル(D)。
架橋剤
・メラミン化合物(I):ヘキサメトキシメチロールメラミン。
・ポリエチレンワックス(II):
攪拌機、温度計、温度コントローラーを備えた内容量1.5Lの乳化設備に融点105℃、酸価16mgKOH/g、密度0.93g/mL、平均分子量5000の酸化ポリエチレンワックス300g、イオン交換水650gとデカグリセリンモノオレエート界面活性剤を50g、48%水酸化カリウム水溶液10gを加え窒素で置換後、密封し150℃で1時間高速攪拌した後130℃に冷却し、高圧ホモジナイザーを400気圧下で通過させ40℃に冷却したワックスエマルション。
・シリカ粒子(IIIA):平均粒径0.02μmのコロイダルシリカ(粒子A−1)。
溶媒として水を用いた該シリカ粒子の分散液(固形分濃度10質量%)の状態で、粒径測定装置(大塚電子株式会社製、「ELSZ−2000ZS」)で測定した粒径から算出した粒径30nm未満の粒子の体積分率77.3%、粒径30〜80nmの粒子ASの体積分率が22.0%であった。なお、分散液の状態で測定したシリカ粒子の粒度分布は、塗布層の表面を観察した際の塗布層表面の粒子の面積合計に対するシリカ粒子の面積割合とは、測定方法が異なるため一致しない。
溶媒として水を用いた該シリカ粒子の分散液(固形分濃度10質量%)の状態で、粒径測定装置(大塚電子株式会社製、「ELSZ−2000ZS」)で測定した粒径から算出した粒径30〜80nmの粒子ASの体積分率92.4%、粒径100〜400nmの粒子ALの体積分率1.4%であった。
溶媒として水を用いた該シリカ粒子の分散液(固形分濃度10質量%)の状態で、粒径測定装置(大塚電子株式会社製、「ELSZ−2000ZS」)で測定した粒径から算出した粒径30〜80nmの粒子ASの体積分率65.8%、粒径100〜400nmの粒子ALの体積分率16.5%であった。
溶媒として水を用いた該シリカ粒子の分散液(固形分濃度10質量%)の状態で、粒径測定装置(大塚電子株式会社製、「ELSZ−2000ZS」)で測定した粒径から算出した粒径100〜400nmの粒子ALの体積分率100%であった。
溶媒として水を用いた該シリカ粒子の分散液(固形分濃度10質量%)の状態で、粒径測定装置(大塚電子株式会社製、「ELSZ−2000ZS」)で測定した粒径から算出した粒径400nmを超えて1000nm以下の粒子の体積分率100%であった。
・アクリル樹脂(IVA):
n−ブチルアクリレート/n−ブチルメタクリレート/エチルアクリレート/エチルメタクリレート=20/26/40/14(モル%)で共重合したアクリル樹脂。
(酸成分)テレフタル酸/イソフタル酸/5−ソジウムスルホイソフタル酸/(ジオール成分)エチレングリコール/1,4−ブタンジオール/ジエチレングリコール=56/40/4/70/20/10(モル%)で共重合したポリエステル樹脂水分散体。
・メラミン架橋触媒(V):2−アミノ−2−メチルハイドロクロライド。
・塩化ナトリウム(VI):和光純薬工業株式会社製 試薬特級。
・界面活性剤(VIIC):グリセリルエーテル。
ポリエステル(A)、(B)、(C)をそれぞれ75%、20%、5%の質量割合で混合した混合原料を最外層(表層)の原料とし、ポリエステル(A)を中間層の原料として、2台の押出機に各々を供給し、各々285℃で溶融した後、35℃に設定した冷却ロール上に、2種3層(表層/中間層/表層=1:14:1の吐出量)の層構成で共押出し冷却固化させて未延伸シートを得た。次いで、ロール周速差を利用してフィルム温度85℃で縦方向に3.2倍延伸した後、この縦延伸フィルムの片面に、下記表1に示す配合の塗布液5を塗布し、テンターに導き、横方向に95℃で4.0倍延伸し、230℃で熱処理を行った後、横方向に2%弛緩し、DFR基材用フィルムを得た。得られたDFR基材用フィルムは、厚さ16μmのポリエステルフィルムの片面に、乾燥後の膜厚が0.04μmの塗布層を有し、塗布層表面の平均表面粗さ(Ra)4nm、塗布層表面の最大表面高さ(Rt)100nmであった。このフィルムの特性を下記表2に示す。表2に示すとおり、実施例1のDFR基材用フィルムは、フィルムヘーズ、動摩擦係数が低く、塗布層の透明性を維持しつつ、滑り性が良好であり、塗布外観、傷付き防止性、表面抵抗、空気漏れ指数も良好であった。
塗布層の組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例1と同様にして製造し、DFR基材用フィルムを得た。表2に示すとおり、実施例2、3のDFR基材用フィルムは、フィルムヘーズ、動摩擦係数が低く、塗布層の透明性を維持しつつ、滑り性が良好であり、塗布外観、傷付き防止性、表面抵抗、空気漏れ指数も良好であった。
ポリエステル(A)、(B)をそれぞれ80%、20%の質量割合で混合した混合原料を最外層(表層)の原料とし、ポリエステル(A)を中間層の原料として、2台の押出機に各々を供給し、各々285℃で溶融した後、40℃に設定した冷却ロール上に、2種3層(表層/中間層/表層=1:14:1の吐出量)の層構成で共押出し冷却固化させて未延伸シートを得た。次いで、ロール周速差を利用してフィルム温度85℃で縦方向に3.2倍延伸した後、この縦延伸フィルムの片面に、この縦延伸フィルムの片面に、下記表1に示す配合の塗布液5を塗布し、テンターに導き、横方向に95℃で4.0倍延伸し、230℃で熱処理を行った後、横方向に2%弛緩し、DFR基材用フィルムを得た。得られたDFR基材用フィルムは、厚さ16μmのポリエステルフィルムの片面に、乾燥後の膜厚が0.04μmの塗布層を有し、塗布層表面の平均表面粗さ(Ra)2nm、塗布層表面の最大表面高さ(Rt)70nmであった。このフィルムの特性を下記表3に示す。表3に示すとおり、実施例4のDFR基材用フィルムは、フィルムヘーズ、動摩擦係数が低く、塗布層の透明性を維持しつつ、滑り性が良好であり、塗布外観、傷付き防止性、表面抵抗、空気漏れ指数も良好であった。
塗布層の組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例4と同様にして製造し、DFR基材用フィルムを得た。表3に示すとおり、実施例5〜8のDFR基材用フィルムは、フィルムヘーズ、動摩擦係数が低く、塗布層の透明性を維持しつつ、滑り性が良好であり、塗布外観、傷付き防止性、表面抵抗、空気漏れ指数も良好であった。
塗布層を設けないこと以外は実施例1と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、塗布層を有していないため、表2に示すとおり、動摩擦係数や傷付き防止性が劣るフィルムであった。
塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例1と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表2に示すとおり、塗布液14に架橋剤が含有されていないため、比較例2のフィルムは、塗布外観は良好なものの、塗布層を有するフィルムであっても、傷付き防止性が劣るフィルムであった。また、比較例3のフィルムは、塗布液15に無機塩が含有されているため、フィルム製造中に塩がフィルム表面に析出し、塗布外観及びフィルムヘーズが劣り、傷付き防止性が劣るフィルムであった。
塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例1と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表2に示すとおり、塗布液19には架橋剤が含有されているものの、粒径が1μmを超える粒子を含むため、削れが生じる場合があり、粒子ALの面積割合が15%を超えているため、傷付き防止性に劣るフィルムであった。
塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例1と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表2に示すとおり、塗布液4には架橋剤が含有されているものの、粒子ALの面積割合が0%であるため、塗布外観及び傷付き防止性に劣るフィルムであった。比較例6のフィルムは、塗布液6に架橋剤を含有するものの、粒子ASの面積が0.3%であり、粒子ALの面積が98.3%であるため、塗布外観及び傷付き防止性に劣るフィルムであった。
塗布層を設けないこと以外は実施例4と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、塗布層を有していないため、表3に示すとおり、動摩擦係数や傷付き防止性が劣るフィルムであった。
塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例4と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表3に示すとおり、塗布液14に架橋剤が含有されていないため、比較例8のフィルムは、塗布外観は良好なものの、架橋剤が含有させていないため、傷付き防止性が劣るフィルムであった。比較例9のフィルムは、塗布液15に無機塩が含有されているため、フィルム製造中に塩がフィルム表面に析出し、塗布外観及びフィルムヘーズが劣り、傷付き防止性が劣るフィルムであった。
実施例4において、塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例4と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表3に示すとおり、塗布液18には架橋剤が含有されているものの、粒子ALの面積割合が15%を超えているため、傷付き防止性が劣るフィルムであった。
塗布層の塗布剤組成を表1に示す配合の塗布液の組成に変更したこと以外は実施例4と同様にして製造し、フィルムを得た。得られたフィルムを評価したところ、表3に示すとおり、比較例11〜15のフィルムは、塗布液1〜4には架橋剤が含有されているものの、粒子ALの面積割合が0%であるため、塗布外観及び傷付き防止性に劣るか、横幅の大きい表層シワが発生したフィルムであった。比較例16のフィルムは、塗布液6に架橋剤を含有するものの、粒子ASの面積が0.3%であり、粒子ALの面積が98.3%であるため、塗布外観及び傷付き防止性に劣るフィルムであった。
Claims (10)
- ポリエステルフィルムの少なくとも片面に塗布層を有し、塗布層中に実質的に無機塩を含まず、
該塗布層中に粒子を含有し、
該塗布層の表面を観察した際の該塗布層表面に占める粒子の面積合計に対し、粒径が30〜80nmの粒子ASの面積割合が60〜99.9%の範囲内であり、粒径が100〜400nmの粒子ALの面積割合が0.1〜15%の範囲内であり、粒径が1μmを超える粒子を実質的に含まない、ことを特徴とするドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。 - ポリエステルフィルムの少なくとも片面に、架橋剤を含有する塗布液から形成された塗布層を有し、
該塗布層中に実質的に無機塩を含まず、
該塗布層中に粒子A−1及び粒子A−2を含有し、
該粒子A−1の平均粒径が0.001〜0.06μmであり、
該粒子A−2の平均粒径が0.06〜1.0μmであることを特徴とするドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。 - 前記塗布層を有する表面の平均表面粗さ(Ra)が1〜10nmの範囲内である請求項1又は2に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記塗布層を有する表面は、JIS P8119に準拠して測定した空気漏れ指数が400000秒以下である請求項1〜3のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記塗布層の厚さが0.001〜1μmの範囲内である請求項1〜4のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記塗布層中にワックスを含有する請求項1〜5のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記ポリエステルフィルム中に粒子Bを含有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記塗布層が塗布液から形成され、該塗布液が架橋剤を含有し、該架橋剤がメラミン化合物またはオキサゾリン化合物である請求項1〜7のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 前記塗布液中の全不揮発成分に対する前記架橋剤の含有量が5〜85質量%である、請求項8に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルム。
- 請求項1〜9のいずれか1項に記載のドライフィルムレジスト基材用ポリエステルフィルムの前記塗布層側と反対側に感光性樹脂層を有するドライフィルムレジスト。
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