JP2019086529A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2019086529A5
JP2019086529A5 JP2017211648A JP2017211648A JP2019086529A5 JP 2019086529 A5 JP2019086529 A5 JP 2019086529A5 JP 2017211648 A JP2017211648 A JP 2017211648A JP 2017211648 A JP2017211648 A JP 2017211648A JP 2019086529 A5 JP2019086529 A5 JP 2019086529A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
fluorescent substance
microscope
different
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017211648A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2019086529A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2017211648A priority Critical patent/JP2019086529A/ja
Priority claimed from JP2017211648A external-priority patent/JP2019086529A/ja
Publication of JP2019086529A publication Critical patent/JP2019086529A/ja
Publication of JP2019086529A5 publication Critical patent/JP2019086529A5/ja
Priority to JP2022002613A priority patent/JP2022044644A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2017211648A 2017-11-01 2017-11-01 顕微鏡、照明装置、及び観察方法 Pending JP2019086529A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017211648A JP2019086529A (ja) 2017-11-01 2017-11-01 顕微鏡、照明装置、及び観察方法
JP2022002613A JP2022044644A (ja) 2017-11-01 2022-01-11 顕微鏡及び観察方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017211648A JP2019086529A (ja) 2017-11-01 2017-11-01 顕微鏡、照明装置、及び観察方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022002613A Division JP2022044644A (ja) 2017-11-01 2022-01-11 顕微鏡及び観察方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019086529A JP2019086529A (ja) 2019-06-06
JP2019086529A5 true JP2019086529A5 (fr) 2020-11-19

Family

ID=66762790

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017211648A Pending JP2019086529A (ja) 2017-11-01 2017-11-01 顕微鏡、照明装置、及び観察方法
JP2022002613A Pending JP2022044644A (ja) 2017-11-01 2022-01-11 顕微鏡及び観察方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022002613A Pending JP2022044644A (ja) 2017-11-01 2022-01-11 顕微鏡及び観察方法

Country Status (1)

Country Link
JP (2) JP2019086529A (fr)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023138124A (ja) 2022-03-18 2023-09-29 株式会社リコー 傾き検出装置、視線検出装置、ヘッドマウントディスプレイ、網膜投影型表示装置、検眼装置、ユーザ状態推定装置、運転支援システム

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8570649B2 (en) * 2009-10-29 2013-10-29 California Institute Of Technology Dual-mode raster point scanning/light sheet illumination microscope
DE102009060793A1 (de) * 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
US10051240B2 (en) * 2010-06-14 2018-08-14 Howard Hughes Medical Institute Structured plane illumination microscopy
DE102010060121C5 (de) * 2010-10-22 2023-09-28 Leica Microsystems Cms Gmbh SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
DE102010044013A1 (de) * 2010-11-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Tiefenauflösungsgesteigerte Mikroskopie
WO2013173698A1 (fr) * 2012-05-18 2013-11-21 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Système, procédé et support accessible par ordinateur pour atténuer une fluorescence
CN103389573B (zh) * 2013-07-31 2015-04-08 北京信息科技大学 基于径向偏振涡旋光的受激发射损耗显微成像方法及装置
JPWO2015030202A1 (ja) * 2013-08-30 2017-03-02 国立大学法人電気通信大学 光学測定装置、光学測定方法、及び顕微イメージングシステム
JP6613552B2 (ja) * 2013-09-09 2019-12-04 株式会社ニコン 超解像観察装置及び超解像観察方法
JP7180964B2 (ja) * 2014-01-17 2022-11-30 ザ・トラスティーズ・オブ・コロンビア・ユニバーシティ・イン・ザ・シティ・オブ・ニューヨーク 三次元イメージング装置および方法
JP6379597B2 (ja) * 2014-04-01 2018-08-29 株式会社ニコン 超解像観察装置及び超解像観察方法
WO2015162921A1 (fr) * 2014-04-25 2015-10-29 株式会社ニコン Dispositif microscopique à éclairage structuré et procédé d'observation d'éclairage structuré
GB201413500D0 (en) * 2014-07-30 2014-09-10 Univ St Andrews Airy beam light sheet
WO2016125281A1 (fr) * 2015-02-05 2016-08-11 株式会社ニコン Microscope à éclairage structuré, procédé d'observation, et programme de commande
JP2018045148A (ja) * 2016-09-15 2018-03-22 オリンパス株式会社 ライトシート顕微鏡装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4418789B2 (ja) 蛍光マーカを局所化する方法
JP2010505094A (ja) 解像度を高めたルミネセンス顕微鏡検査
JP2008276191A5 (fr)
US9279973B2 (en) Image processing apparatus, fluorescence microscope apparatus, and image processing program
ATE555407T1 (de) Verfahren und anordnung zur untersuchung von proben
JP2010506203A5 (fr)
JP2010500563A5 (fr)
EP3139213A3 (fr) Procédé d'inspection de défaut, procédé de triage et procédé de production d'ébauche pour photomasque
JP2006204431A5 (fr)
JP2011125404A5 (ja) 光制御装置、制御装置及び光学スコープ
JP2014160068A5 (fr)
JP2007093250A (ja) バイオチップ読み取り装置およびバイオチップ読み取り方法
JP2013169353A5 (ja) 撮像装置及び撮像装置の制御方法
US20160195704A1 (en) High-resolution 3d fluorescence microscopy
JP2021183989A5 (fr)
JP2019086529A5 (fr)
JP2012212133A5 (fr)
JP6300658B2 (ja) 標本観察装置
JP2022058674A (ja) 試料観察装置及び試料観察方法
CN111913293B (zh) 一种荧光激发光谱超分辨显微系统和方法
JP5190886B2 (ja) 蛍光顕微鏡
JP2017144232A5 (fr)
KR101974253B1 (ko) 초고분해능 광학 현미경 및 이를 이용한 광학 이미지 생성 방법
JP5095663B2 (ja) 蛍光顕微鏡、蛍光観察方法
JP5829415B2 (ja) 電子線分析装置