JP2019020179A - 計測装置および計測装置の校正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】路面に設置される計測装置であって,その水平方向の校正をすることが容易な計測装置および計測装置の校正方法を提供することを目的とする。【解決手段】路面に設置する計測装置であって,計測装置は,ベースと,ベースから離間して配置されるプレートと,プレートにかかる負荷を計測するセンサと,センサの校正時において,プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具と,を有する計測装置である。【選択図】 図1
Description
本発明は,路面に設置される計測装置であって,とくに,水平方向の校正をすることが容易な計測装置および計測装置の校正方法に関する。
近年,走行車両のタイヤにかかる負荷(接地力)を正確に把握する試みがなされている。たとえば,特許文献1は,柱部材にゲージを取り付けたセンサユニットを路面に埋設しており,このセンサユニットによってタイヤが通過する際の負荷を3次元的に計測できるようになっている。センサユニットは,タイヤの進行方向と直交する方向にライン上に複数配置されており,タイヤにかかる負荷をタイヤの幅方向に複数箇所で計測できるようになっている。
このような計測装置は,タイヤの接地力を計測するという装置の特性上,センサユニットが路面に埋設されていることが一般的である。特許文献1には,従来の計測装置の一例が示されている。
計測装置を路面に設置する際には校正が行われる。しかし,計測装置をいったん設置したあとは,校正が行われない。これは,計測装置が路面に埋設して設置されることも一つの要因としてある。そのため,計測装置を路面に設置後,日時の経過とともにセンサから得られるデータに誤差が生じる可能性が出てくる。従来はタイヤ全体での接地力の計測について高い精度を必要としていなかったので,このような問題が着目されることがなかった。しかし,最近では,設計や開発の段階でシミュレーションが多用されるようになり,計測データに基づいての高度な解析が必要になっているため,計測データも高い精度が必要になっている。そのため,データの誤差を無視することはできず,計測装置の設置後も,校正することによって,正確なデータを取得することが求められる。
本発明者は上記課題に鑑み,計測装置を路面に設置した場合であっても校正できる,計測装置および計測装置の校正方法を発明した。
第1の発明は,路面に設置する計測装置であって,前記計測装置は,ベースと,前記ベースから離間して配置されるプレートと,前記プレートにかかる負荷を計測するセンサと,前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具と,を有する計測装置である。
第2の発明は,路面に設置する計測装置であって,前記計測装置は,ベースと,前記ベースから離間して配置されるプレートと,前記プレートにかかる負荷を計測するセンサと,を有しており,前記計測装置のプレートの外側には,前記プレートに対して校正荷重を伝える外側部材が設置されており,前記外側部材は,前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具を有する,計測装置である。
これらの発明によれば,計測装置または計測装置の外側にある外側部材に設けた校正用治具に対して校正荷重をかけることで,プレートに対して水平方向の校正荷重がかけられるようになる。これによって,計測装置を路面に設置した場合であっても,水平方向に対する校正を行うことができ,正確なデータを取得することができる。
上述の発明において,前記校正用治具は,前記センサの校正時において,その一部または全部が前記プレートまたは前記外側部材よりも上方に位置する,計測装置のように構成することができる。
センサの校正を行う場合には,水平方向への校正荷重をかけやすくなるので,校正用治具は,プレートや外側部材よりも上方に位置させることがよい。
上述の発明において,前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材から出没自在であり,前記センサの校正時に,前記校正用治具の一部または全部が前記プレートまたは前記外側部材よりも上方に出ており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,計測装置のように構成することができる。
上述の発明において,前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材に着脱自在であり,前記センサの校正時に,前記校正用治具が前記プレートまたは前記外側部材に取り付けられており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,計測装置のように構成することができる。
上述の発明において,前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材にはめ込み自在であり,前記センサの校正時に,前記校正用治具が前記プレートまたは前記外側部材にはめ込まれており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,計測装置のように構成することができる。
校正用治具の設置にはさまざまな方法があるが,これらの発明のように構成することで,計測時と校正時の双方の切り替えが簡便に行える。
上述の発明において,バネ秤のフックを前記校正用治具に係止することで,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,計測装置のように構成することができる。
バネ秤を用いることで,簡便かつ正確に校正荷重をかけられるので,校正荷重をかけるのにはバネ秤を用いることが好ましい。
第8の発明は,路面に設置し,ベースと,前記ベースから離間して配置されるプレートと,前記プレートにかかる負荷を計測するセンサとを有する計測装置の校正方法であって,前記計測装置のプレートに対して水平方向に校正荷重をかけ,前記センサから得られた計測データを用いることで校正を行う,計測装置の校正方法である。
本発明のように構成することで,計測装置を路面に設置した場合であっても,水平方向に対する校正を行うことができ,正確なデータを取得することができる。
上述の発明において,前記計測装置は,さらに,前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具,を有しており,前記プレートにある前記校正用治具に対して,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけ,前記センサから得られる計測データを用いることで校正を行う,計測装置の校正方法のように構成することができる。
上述の発明において,前記計測装置のプレートの外側には,前記プレートに対して校正荷重を伝える外側部材が設置されており,前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具が前記外側部材にあり,前記校正用治具に対して,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけ,前記センサから得られる計測データを用いることで校正を行う,計測装置の校正方法のように構成することができる。
これらの発明の校正方法を用いることで,水平方向に校正荷重を簡便にかけられるので,好ましい。
本発明の計測装置および計測装置の校正方法を用いることによって,計測装置を路面に設置した場合であっても,水平方向に校正加重をかけられるので,校正を行うことができる。
まず,本発明の計測装置の構成の一実施形態を説明する。以下では,計測装置をタイヤ試験装置に適用した場合で説明するが,計測装置としてはタイヤ試験装置に限定するものではなく,様々な用途に用いることができる。たとえば,人が歩いたり走ったりする際の足の面圧を計測する装置として適用したり,工業機械の連結部において3分力や6分力を計測する装置として適用することができる。また,後述するように,計測装置におけるプレートを水平に配置する用途に限定されず,垂直や斜めに配置する用途にも適用することができる。
図1はタイヤ試験装置10の構成を模式的に示している。同図に示すタイヤ試験装置10は,タイヤ11の接地力を計測する計測部12と,その計測部12の計測値から各種の演算処理を行う制御部13を備える。制御部13は,その内部にアンプ,A/D変換器,演算回路,メモリ等を備えており,計測部12からの信号を増幅し,A/D変換し,各種の信号処理を行った後,記憶するように構成される。制御部13には表示器14が接続されており,この表示器14に演算結果などが表示される。
図2は計測部12の概略構成を示す斜視図であり,図3は計測部12の水平面での断面図である。これらの図において,X方向はタイヤ11の進行方向(水平方向)を示し,Y方向はタイヤ11の幅方向(水平方向)を示し,Z方向は鉛直方向を示している。
計測部12は,車両のタイヤ11が通過する位置に配置されており,主としてプレート21,ベース22,センサ23で構成されている。プレート21及びベース22は,金属たとえばアルミによって略同じ大きさの矩形状に形成されており,上下に間隔をあけて配置されている。プレート21とベース22の間には,プレート21の負荷を計測する8個のセンサ23が設けられている。このセンサ23は,X方向,Y方向,Z方向のいずれかを計測するように構成される。ここで,X方向を計測するセンサ23をセンサ23Xとし,Y方向を計測するセンサ23をセンサ23Yとし,Z方向を計測するセンサ23をセンサ23Zとする。センサ23Xとセンサ23Yは2個ずつ設けられ,センサ23Zは4個設けられている。
図3に示すように,センサ23Xは,ベース22の中心(すなわちプレート24の中心)を通るY方向の直線上に配置されている。また,センサ23Xは,ベース22の中心部分を挟んで両側に,かつ,ベース22の周辺部分(すなわちプレート21の周辺部分)に配置されている。センサ23Xとしては,たとえば図4に示す曲げ型の歪ゲージ式ロードセルが用いられる。このセンサ23Xは,金属等によって形成された起歪体24Xを備え,起歪体24Xの上端がプレート21(図2参照)に連結されるとともに,起歪体24Xの下端がベース22の溝22Xに係合されている。ベース22の溝22Xは,ベース22の上面にY方向に形成されており,この溝22Xに起歪体24Xの下端が入り込んでいる。また,溝22Xは,起歪体24Xの下方に僅かな隙間が形成されるような深さで形成されている。さらに溝22Xは,起歪体24Xの下端と同じ幅で形成されており,起歪体24Xの下部とベース22がX方向に一体となって動くようになっている。起歪体24Xには,Y方向に貫通した孔26Xが形成されており,薄肉部が四カ所に形成され,その薄肉部にゲージ25Xが貼り付けられている。ゲージ25Xはブリッジ回路を形成するように接続されており,さらに制御部13(図1参照)に接続されている。このように構成されたセンサ23Xによれば,プレート21がX方向に負荷を受けると,起歪体24Xの薄肉部が変形し,ゲージ25Xの電気抵抗が変化することによって,X方向の荷重を計測することができる。また,センサ23Xによれば,上端がプレート21に連結される一方で,下端がベース22の溝22Xに沿ってY方向にスライド自在なので,プレート21がY方向に膨張や収縮した際,センサ23Xがプレート21に伴ってY方向に移動することができる。
センサ23Yは,図3に示すように,ベース22の中心部分を通るX方向の直線上に配置されている。また,センサ23Yは,ベース22の中心部分を挟んで両側に,かつ,ベース22の周辺部分に配置されている。センサ23Yはセンサ23Xと同様に曲げ型の歪ゲージ式ロードセルが用いられる。図5に示すようにセンサ23Yは,柱状に形成された起歪体24Yを備え,その上端がプレート21(図2参照)に連結されるとともに,下端がベース22の溝22Yに係合されている。ベース22の溝22Yは,ベース22の上面にX方向に形成されており,この溝22Yに起歪体24Yの下端が入り込んでいる。また,溝22Yは,起歪体24Yの下方に僅かな隙間が形成されるような深さで形成されている。さらに溝22Yは,起歪体24Yの下端と同じ幅で形成されており,起歪体24Yの下部とベース22がY方向に一体となって動くようになっている。起歪体24Yには,X方向に貫通した孔26Yが形成されており,薄肉部が四カ所に形成され,その薄肉部にゲージ25Yが貼り付けられている。ゲージ25Yはブリッジ回路を形成するように接続されており,さらに制御部13(図1参照)に接続されている。このように構成されたセンサ23Yによれば,プレート21がY方向に負荷を受けると,起歪体24Yの薄肉部が変形し,ゲージ25Yの電気抵抗が変化することによって,Y方向の荷重を計測することができる。また,センサ23Yによれば,上端がプレート21に連結される一方で,下端がベース22の溝22Yに沿ってX方向にスライド自在なので,プレート21がX方向に膨張や収縮した際,センサ23Yがプレート21に伴ってX方向に移動することができる。
図2,図3に示すように,センサ23Zは,プレート21の四隅部分(すなわちベース22の四隅部分)に配置されている。ただし,センサ23Zは後述するように,下端がベース22の面上で僅かに移動することがあるので,ベース22の各縁から若干の隙間を持つように配置することが好ましい。センサ23Zとしては,たとえば圧縮型の歪ゲージ式ロードセルが用いられる。その構成は図示しないが,金属等からなる柱状の起歪体と,その側面に貼り付けられた複数のゲージとで構成される。起歪体の上端はプレート21の仮面に連結されており,起歪体の下端は(ベース22に連結されずに)ベース22に載置されている。したがって,センサ23Zは,下端がベース22の面上を自由に動くことができる。ゲージは,ブリッジ回路を形成するように接続されており,さらに制御部13(図1参照)に接続される。このように構成されたセンサ23Zによれば,プレート21にZ方向の負荷が加わると,起歪体が圧縮され,ゲージの電気抵抗が代わるので,荷重を計測することができる。また,センサ23Zによれば,起歪体の下端がベース22の面上で自在に動くので,プレート21がX方向やY方向に伸縮・収縮した際,プレート21に伴って移動することができる。
上述したセンサ23X,23Y,23Zとベース22との摺動部分には,グリスのような潤滑剤を塗布することが好ましい。具体的には,センサ23Xの起歪体24Xとベース22の溝22Xとの摺動部分や,センサ23Yの起歪体24Yとベース22の溝22Yとの摺動部分,センサ23Zの起歪体24の下面とベース22の上面との摺動部分に,潤滑剤を塗布するとよい。これにより,両者の摩擦抵抗を軽減することができる。
図2に示すように,プレート21には,校正用治具30が設置される。校正用治具30はプレート21のX軸方向,Y軸方向のそれぞれの辺の縁部付近であってセンサ23X,センサ23Yの直上またはその周辺付近,および/またはプレート21の中心付近に設置している。図2では,X軸方向に沿って,校正用治具30a,30cが,Y軸方向に沿って校正用治具30b,30dが,中心付近に校正用治具30eが設けられた場合を示している。プレート21の上面には,校正用治具30を収納するための凹部27が設けられている。凹部27は,校正用治具30を収納するため,校正用治具30とほぼ同じ大きさで形成されている。したがって,校正用治具30を凹部27に収納した状態においては,校正用治具30とプレート21とは同一平面となる高さになるように形成される。
図6および図7に,校正用治具30付近のプレート21の断面図を示す。図6は校正用治具30をプレート21の凹部27に収納した状態を示している。校正用治具30は,通常状態では,プレート21の凹部27に収納されている。また校正用治具30の一端には孔が設けられており,軸31が孔を貫通することで,校正用治具30は軸31を中心として,Z軸方向に回動可能である。図7に,校正用治具30をプレート21の凹部27から突出させた状態を示す。校正用治具30の他の一端(孔とは反対側の端部)付近には,係止部32が設けられている。係止部32は,タイヤ試験装置10の計測部12の校正を行う際に,校正用治具30をプレート21の上面より突出させた状態とし,その状態において,校正荷重をかけるためのバネ秤のフックを係止する部位である。係止部32としては,たとえば貫通孔が一例としてあるが,それに限定するのもではなく,バネ秤のフックを係止可能であればよい。なお,係止部32は,プレート21の上面より突出させた状態において,プレート21の各辺の中心または中心付近に位置することが好ましい。
通常の計測状態におけるタイヤ試験装置10の動作を説明する。上記のごとく構成された計測部12は,図8に示すように,路面100の凹部100Aに配置される。路面100の凹部100Aは,プレート21よりも僅かに大きく形成されており,プレート21が凹部100Aの壁面に接触しないようになっている。また,凹部100Aの深さは,計測部12の高さに一致するようになっており,プレート21の上面と路面100が同一面をなすようになっている。したがって,路面100上を転動したタイヤ11は,そのままプレート21の上に乗り移り,プレート21上を転動した後,路面100の上に再び乗り移る。その際,タイヤ11がプレート21に及ぼす接地力がセンサ23によって計測される。具体的には,センサ23XによってX方向の負荷が計測され,センサ23YによってY方向の負荷が計測され,センサ23ZによってZ方向の負荷が計測される。
図9は計測原理を説明する図であり,図9(a)は無負荷の状態を示しており,図9(b)はX方向に負荷が加わった状態を誇張して示している。なお,これらの図は計測部12の正面図を模式的に示したものであり,右側の一部はセンサ23Yの位置での断面が示されている。
図9(b)に示すように,プレート21にX方向の負荷が加わると,プレート21はX方向に僅かに変異する。センサ23Xは上端がプレート21に連結され,下端はベース22の溝22Xに対してX方向に隙間なく係合しているので,プレート21がX方向に変位すると,センサ23Xの上端と下端の位置がX方向にずれて変形する。これに対して,センサ23Yは下端が溝22Yに沿ってX方向に自在に移動できるので,センサ23Y全体がX方向に移動し,変形しない。またセンサ23Zは下端がベース22に載置されただけでX方向に自在に移動できるので,センサ23Z全体がX方向に移動し,変形しない。したがって,プレート21にX方向の負荷が加わった場合は,センサ23Xのみが変形し,センサ23XによってX方向の負荷を正確に計測することができる。
同様に,プレート21にY方向の負荷が加わると,プレート21はY方向に僅かに変異する。センサ23Yは上端がプレート21に連結され,下端がベース22の溝22Yに対してY方向に隙間なく係合しているので,プレート21がY方向に変位すると,センサ23Yの上端と下端の位置がY方向にずれて変形する。これに対して,センサ23Xは下端が溝22Xに沿ってY方向に自在に移動できるので,センサ23X全体がY方向に移動し,変形しない。また,センサ23Zは下端がベース22に載置されただけでY方向に自在に移動できるので,センサ23Z全体がY方向に移動し,変形しない。したがって,プレート21にY方向の負荷が加わった場合は,センサ23Yのみが変形し,センサ23YによってY方向の負荷を正確に計測することができる。
一方,プレート21にZ方向の負荷が加わると,センサ23ZはZ方向に圧縮され,変形する。これに対して,センサ23X,23Yは,その下方に若干の隙間があるので,圧縮されることがなく,変形しない。したがって,プレート21にZ方向の負荷が加わった場合は,センサ23Zのみが変形し,センサ23ZによってZ方向への負荷を正確に計測することができる。
このようにプレート21が受ける負荷のうち,X方向成分はセンサ23Xによって計測され,Y方向成分はセンサ23Yによって計測され,Z成分はセンサ23Zによって計測される。センサ23X,23Y,23Zは制御部13に接続されており,計測データが制御部13に送信される。制御部13は,計測データから接地力の3分力(X方向成分,Y方向成分,Z方向成分)を算出した後,その結果を表示器14に表示する。また,制御部13は,必要に応じて4つのセンサ23Zの計測データからタイヤ11の重心軌道を求め,その結果を表示器14に表示する。さらに,制御部13は,必要に応じて6分力(X方向成分,Y方向成分,Z方向成分,X軸まわりのモーメント,Y軸まわりのモーメント,Z軸まわりのモーメント)を求め,その結果を表示器14に表示する。このとき,モーメントはプレート21の中心に対して求めてもよいし,それ以外の点でのモーメントに補正してもよい。
つぎに,計測部12のセンサ23に対する校正を行う場合を説明する。計測時のプレート21においては,校正用治具30はプレート21の凹部27に収納されている。凹部27に収納されている校正用治具30は凹部27とほぼ同じ大きさであるので,プレート21と同一平面の高さとなっている。一方,校正を行う場合には,校正用治具30を軸31を中心にZ軸方向に回動させて,校正用治具30の係止部32をプレート21の上面よりも上方に位置させる。そして係止部32にバネ秤のフックを係止させ,水平方向に所定の校正荷重をかける。その際にセンサ23で検出する計測データS(S1〜S8)を計測する。図10に,各センサ23の位置と,そのセンサ23から得られる計測データとの対応関係を模式的に示す。
図11に示すように,Y軸方向の校正,すなわちセンサ23Yの校正については,校正用治具30aの場合,校正用治具30aをZ軸方向に回動させることで,係止部32aがプレート21の上面より上方に位置する。そして,係止部32aにバネ秤のフックを係止させ,XY平面に対して平行に,Y軸方向に所定の校正荷重Fyをかける。この際にセンサ23Yで検出した計測データS7,S8を計測する。
また,同様に,X軸方向の校正,すなわちセンサ23Xの校正については,校正用治具30bの場合,校正用治具30bをZ軸方向に回動させることで,係止部32bがプレート21の上面より上方に位置する。そして,係止部32bにバネ秤のフックを係止させ,XY平面に対して平行に,X軸方向に所定の校正荷重Fxをかける。この際にセンサ23Xで検出した計測データS5,S6を計測する。
水平方向に対する校正における校正用治具30a乃至30eの配置の一例を図12に示す。図12では,網掛け部分に校正用治具30a乃至30eを配置することを示している。また,校正用治具30a乃至30dは,センサ23X,23Yの直上またはその周辺付近に配置される。なお,水平方向に対する校正は,各校正用治具30a乃至30eに対して順次行う。
Z軸方向の校正,すなわちセンサ23Zの校正については,プレート21の所定箇所,たとえばプレート21の中心付近および/または四隅付近(センサ23Zの直上またはその周辺付近)に,所定重量の校正用の分銅を載置する。この際の校正荷重Fzは分銅の重量である。そして,センサ23Zで検出した計測データS1〜S4を計測する。さらにプレート21に載置する分銅の位置を変更して,荷重×中心からの距離を演算することにより,モーメントMx,Myを算出できる。同様に,バネ秤による校正荷重F×中心からの距離を演算することにより,モーメントMzを算出できる。
垂直方向に対する校正における校正荷重をかけるための分銅の配置の一例を図13に示す。図13では,網掛け部分に校正用の分銅を配置することを示している。四隅に校正用の分銅が配置される場合には,センサ23Zの直上またはその周辺付近に配置される。なお,校正用の分銅の配置は,各場所に対して順次行う。
実際には,各センサ23から得られる計測データには誤差が発生しているので,Fx=aS5+bS6のように補正係数を含む数式となる。そして,補正係数をそれぞれa乃至hとすると,各センサ23から求められる6分力は,数2で示される。
センサ23に対して,X軸方向,Y軸方向,Z軸方向に対してそれぞれ校正荷重Fをかけることにより得られた計測データSから最小二乗法を用いて係数Aが算出可能となる。
タイヤ試験装置10で計測を行う場合には,各センサ23から得られた計測データSに対して,以上のように算出した補正係数Aを乗算することで,より正確な6分力が算出可能できる。
計測部12における校正用治具30の異なる実施態様としては,図14および図15がある。図14は,校正用治具30をネジ35でプレート21に螺合する場合の実施態様である。この場合の校正用治具30としては,図14(a)に示すように,たとえばL字形状の金属部材とし,その一面にネジ孔33を設け,他の一面に,係止部32となる貫通孔を設ける。また,図14(b)に示すように,校正用治具30に設けたプレート21のネジ孔33に対応する,プレート21の位置にネジ孔34を設ける。ネジ孔34は,校正用治具30が,センサ23X,23Yの直上またはその周辺付近に位置するように,および/またはプレート21の中心付近に設けられる。
校正を行う際には,図14(c)に示すように,校正用治具30の一面のネジ孔33と,プレート21のネジ孔34とが同じ位置になるように位置合わせをし,そこにネジ35を通し,校正用治具30をプレート21にネジ35で固定する。そして,バネ秤のフックを校正用治具30の係止部32に係止させ,図11と同様に,XY平面に対して平行にプレート21に対して所定の校正荷重をかけることで,校正を行う。校正が終了したあとは,ネジ35を取り外すことでプレート21から校正用治具30を取り外す。
この場合,校正用治具30としてL字形状の金属部材のほか,図14(d)に示すように,L字形状および逆L字形状が組み合わさった金属部材としてもよい。また材質としては金属に限らず,校正荷重に耐えられるものであればいかなる材質であってもよい。
さらに図15に示す校正用治具30の異なる実施態様としては,校正用治具30をプレート21にはめ込む方式としてもよい。この場合の校正用治具30は,図15(a)に示すように,平板部36と,プレート21に対して垂直方向に起立する垂直部37とからなる。平板部36には一または複数のネジ孔33が設けられており,垂直部37には係止部32となる貫通孔が設けられている。また図15(b)に示すように,プレート21には,校正用治具30の平板部36がはめ込まれる凹部38が設けられている。そして,凹部38の底面には,平板部36に設けたネジ孔33と同じ位置になるように,一または複数のネジ孔39が設けられている。凹部38は,校正用治具30が,センサ23X,23Yの直上またはその周辺付近に位置するように,および/またはプレート21の中心付近に設けられる。
校正を行う際には,図15(c)に示すように,校正用治具30の平板部36をプレート21の凹部38にはめ込む。そして,平板部36のネジ孔33と,凹部38の底面のネジ孔39にネジを通し,校正用治具30をネジ35で螺合する。そして,バネ秤のフックを校正用治具30の係止部32に係止させ,図11と同様に,XY平面に対して平行にプレート21に対して所定の校正荷重をかけることで,校正を行う。校正が終了したあとは,ネジ35を取り外すことでプレート21から校正用治具30を取り外す。なお,校正を行わない場合には,校正用治具30の平板部36と同じ大きさの平板を,プレート21の凹部38にはめ込めばよい。平板には,凹部38の底面のネジ孔39と同じ位置になるように,一または複数のネジ孔を設け,ネジ35で螺合する。これによって,計測時にはプレート21は平面となり,計測を妨げることがない。
計測部12の校正を行うための別の実施態様として,プレート21ではなく,計測部12が設置される周囲の路面100に,校正用治具としてのブロック40(40a乃至40d)を設置するように構成してもよい。この場合を図16に示す。計測部12のプレート21とブロック40との間には若干の間隙が設けられており,ブロック40は,プレート21の方向に移動可能となっている。また,ブロック40とプレート21の間隙の幅は,ブロック40に対してXY平面に対して平行に校正荷重がかけられた場合に,プレート21が前後左右に移動可能な幅であればよい。
ブロック40には垂直方向に対して係止部41(41a乃至41d)が設けられている。係止部41は,ブロック40の中心付近にあるとよい。係止部41にバネ秤のフックが係止され,XY平面に対して平行に,プレート方向に対して校正荷重がかけられる。ブロック40が校正荷重によってプレート方向に対して移動し,プレート21に対して水平方向の力を伝えることで,センサ23の計測データを計測し,上述と同様の校正を行う。なお,係止部41は,プレート21の上面よりも上方に位置するとよいが,それに限定するものではない。ブロック40に対して,プレート21の方向に対して校正荷重がかけられればよい。
たとえばブロック40dの係止部41dにバネ秤のフックが係止され,プレート方向に対して校正荷重がかけられた場合,ブロック40dがプレート方向に平行に移動し,プレート21に対して水平方向の校正加重Fxが伝えられる。そして,センサ23Xの計測データを計測し,上述と同様の校正を行う。また,ブロック40aの係止部41aにバネ秤のフックが係止され,プレート方向に対して校正加重がかけられた場合,ブロック40aがプレート方向に平行に移動し,プレート21に対して水平方向の校正加重Fyが伝えられる。そしてセンサ23Yの計測データを計測し,上述と同様の校正を行う。
Z軸方向に対する校正荷重は,上述の場合と同様に,プレート21に分銅などを載置することで,行える。
図16では,プレート21の各辺に対して平行に一つのブロック40を設置する場合を説明したが,プレート21の各辺に対して複数のブロック40を設置するようにしてもよい。この場合の一例を図17に示す。
図17では,プレート21の各辺について2つずつブロック40(40a乃至40h)を設置している。そしてブロック40の係止部41(41a乃至41h)は,プレート21の各辺の中心の位置からずれることとなる。そのため,それぞれ図16と同様に校正加重をかけた場合であっても,バネ秤による校正加重F×中心からの距離を演算することにより,モーメントを算出することも可能となる。
なおブロック40に対して係止部41を設ける場合には,係止部32を備えた校正用治具30を用いる場合と同様に,係止部41を備えた校正用治具30がブロック40から出没自在,はめ込み自在,着脱自在となるように構成してもよい。また,プレート21の周囲に設置する部材としてブロック40の場合を説明したが,プレート21に対して,その外側からXY平面(水平方向)に対して校正荷重をかけられる部材(外側部材)であれば,ブロック40に限定するものではない。
上述した計測部12の実施形態はベース22に溝22X,22Yを形成してセンサ23X,26Yを係合させるようにしたが,溝22X,22Yに限定するものではなく,センサ23X,23Yを所定の方向にガイドする手段であればよい。したがって,たとえばベース22の上面に突起を設けてガイドを形成したり,ローラーやベアリング等を用いたリニアガイドを用いてもよい。
また,上述した実施形態は,センサ23X,23Yをプレート21の中心部の両側に1個ずつ配置したが,センサ23X,23Yの個数や配置はこれに限定するものではなく,センサ23Xまたはセンサ23Yをプレート21の中央部に1個のみ設けたり,あるいは全部で3個以上設けたりしてもよい。
また,上述した実施形態は,センサ23Zの下端をベース22に載置したが,これに限定するものではなく,センサ23Zの下端がXY平面上で移動自在であるとともに,Z方向に係合するような構成を適用してもよい。
また,上述した実施形態は,計測方向が1方向のみである3種類のセンサ23X,23Y,23Zを用いたが,これに限定するものではなく,様々な態様が可能である。たとえば,図18は,2方向に計測を行う2種類のセンサ23XZ,23YZを用いた例を示している。センサ23XZは,X方向とZ方向に計測を行うセンサであり,その構成や配置は上述のセンサ23Xと略同じであるが,センサ23XZの下面が溝22Xの底面に接しており,さらに,Z方向の圧縮を計測するゲージを備えている。センサ23YZは,Y方向とZ方向に計測を行うセンサであり,その構成や配置は上述のセンサ23Yと略同じであるが,センサ23YZの下面が溝22Yの底面に接しており,さらに,Z方向の圧縮を計測するゲージを備えている。このような構成にした場合であっても,センサ23XZがY方向にスライド自在であり,かつ,センサ23YZがX方向にスライド自在なので,プレート21が膨張や収縮した際に,センサ23XZ,23YZが変形することを防止できる。なお,本発明は,複数のセンサ23の少なくとも一つが,プレート21またはベース22に対して計測方向と直交する方向にスライド自在であればよく,これによってプレート21の膨張や収縮による計測誤差を抑制することができる。
また,上述した実施形態は,センサ23X,23Y,23Zをプレート21に固定してベース22に対して移動自在としたが,逆にベース22に固定してプレート21に対して移動自在としてもよい。
さらに上述した実施形態は,タイヤ11全体での接地力を計測する装置の例であるが,タイヤ11の局所的な接地力を計測するセンサをプレート21に組み込んで同時に計測するようにしてもよい。
水平方向に対して校正荷重をかける場合,バネ秤に限定するものではなく,所定の校正荷重がかけられる器具,装置であればいかなるものであってもよい。また垂直方向に対して校正荷重をかける場合,分銅に限定するものではなく,所定の校正荷重がかけられる器具,装置であればいかなるものであってもよい。
本発明の計測装置および計測装置の校正方法を用いることによって,計測装置を路面に設置した場合であっても,水平方向に校正加重をかけられるので,校正を行うことができる。
10:タイヤ試験装置
11:タイヤ
12:計測部
13:制御部
14:表示器
21:プレート
22:ベース
23:センサ
24:起歪体
25:ゲージ
26:孔
27:プレートの凹部
30:校正用治具
31:軸
32:係止部
33:ネジ孔
34:プレート側の孔
35:ネジ
36:平板部
37:垂直部
38:プレート側の凹部
39:凹部底面の孔
40:ブロック
41:係止部
100:路面
100A:路面の凹部
11:タイヤ
12:計測部
13:制御部
14:表示器
21:プレート
22:ベース
23:センサ
24:起歪体
25:ゲージ
26:孔
27:プレートの凹部
30:校正用治具
31:軸
32:係止部
33:ネジ孔
34:プレート側の孔
35:ネジ
36:平板部
37:垂直部
38:プレート側の凹部
39:凹部底面の孔
40:ブロック
41:係止部
100:路面
100A:路面の凹部
Claims (10)
- 路面に設置する計測装置であって,
前記計測装置は,
ベースと,
前記ベースから離間して配置されるプレートと,
前記プレートにかかる負荷を計測するセンサと,
前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具と,
を有することを特徴とする計測装置。 - 路面に設置する計測装置であって,
前記計測装置は,
ベースと,
前記ベースから離間して配置されるプレートと,
前記プレートにかかる負荷を計測するセンサと,を有しており,
前記計測装置のプレートの外側には,前記プレートに対して校正荷重を伝える外側部材が設置されており,
前記外側部材は,前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具を有する,
ことを特徴とする計測装置。 - 前記校正用治具は,
前記センサの校正時において,その一部または全部が前記プレートまたは前記外側部材よりも上方に位置する,
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の計測装置。 - 前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材から出没自在であり,
前記センサの校正時に,前記校正用治具の一部または全部が前記プレートまたは前記外側部材よりも上方に出ており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の計測装置。 - 前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材に着脱自在であり,
前記センサの校正時に,前記校正用治具が前記プレートまたは前記外側部材に取り付けられており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の計測装置。 - 前記校正用治具は前記プレートまたは前記外側部材にはめ込み自在であり,
前記センサの校正時に,前記校正用治具が前記プレートまたは前記外側部材にはめ込まれており,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の計測装置。 - バネ秤のフックを前記校正用治具に係止することで,前記校正用治具に対して前記プレートの水平方向に校正荷重をかける,
ことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の計測装置。 - 路面に設置し,ベースと,前記ベースから離間して配置されるプレートと,前記プレートにかかる負荷を計測するセンサとを有する計測装置の校正方法であって,
前記計測装置のプレートに対して水平方向に校正荷重をかけ,
前記センサから得られた計測データを用いることで校正を行う,
ことを特徴とする計測装置の校正方法。 - 前記計測装置は,さらに,
前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具,を有しており,
前記プレートにある前記校正用治具に対して,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけ,
前記センサから得られる計測データを用いることで校正を行う,
ことを特徴とする請求項8に記載の計測装置の校正方法。 - 前記計測装置のプレートの外側には,前記プレートに対して校正荷重を伝える外側部材が設置されており,
前記センサの校正時において,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけるための校正用治具が前記外側部材にあり,
前記校正用治具に対して,前記プレートの水平方向に校正荷重をかけ,
前記センサから得られる計測データを用いることで校正を行う,
ことを特徴とする請求項8に記載の計測装置の校正方法。
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JP2017136800A JP2019020179A (ja) | 2017-07-13 | 2017-07-13 | 計測装置および計測装置の校正方法 |
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- 2017-07-13 JP JP2017136800A patent/JP2019020179A/ja active Pending
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