JP2018515913A - オプトエレクトロニクス装置 - Google Patents
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Abstract
Description
110 オプトエレクトロニクス半導体チップ
120 波長変換素子
130 光学素子
135 空間方向
140 検出部品
145 シリコン検出器
200 スペクトル図
201 波長
202 強度
210 等価波長
220 等価強度
300 第1の光
310 第1の立体角
320 第1の分光分布
330 第1のピーク波長
340 第1の最大強度
400 第2の光
410 第2の立体角
420 第2の分光分布
430 第2のピーク波長
440 第2の最大強度
Claims (10)
- オプトエレクトロニクス半導体チップ(110)と、波長変換素子(120)と、検出部品(140)とを備えるオプトエレクトロニクス装置(100)であって、
前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(110)は、第1のピーク波長(330)を有する光(300)を出射するように構成されており、
前記波長変換素子(120)は、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(110)によって出射される光(300)を第2のピーク波長(430)を有する光(400)に変換するように構成されており、
前記オプトエレクトロニクス装置(100)は、前記第1のピーク波長(330)を有する光(300)を出射し、かつ前記第2のピーク波長(430)を有する光(400)を出射するように構成されており、
前記第1のピーク波長(330)が可視スペクトル領域にあり、かつ前記第2のピーク波長(430)が非可視スペクトル領域にあるか、または前記第1のピーク波長(330)が非可視スペクトル領域にあり、かつ前記第2のピーク波長(430)が可視スペクトル領域にあり、
前記オプトエレクトロニクス装置(100)は、ピーク波長(330,430)が非可視スペクトル領域にある光(300,400)をターゲット領域に出射するように設けられており、
前記検出部品(140)は、前記ターゲット領域から後方散乱され、ピーク波長(330,430)が非可視スペクトル領域にある光(300,400)を検出するように構成されている、オプトエレクトロニクス装置(100)。 - 前記第1のピーク波長(330)が可視スペクトル領域にあり、かつ前記第2のピーク波長(430)が非可視スペクトル領域にあり、
前記検出部品(140)が前記第2のピーク波長(430)を有する光(400)を検出するように構成されている、請求項1に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。 - 前記第1のピーク波長(330)が非可視スペクトル領域にあり、かつ前記第2のピーク波長(430)が可視スペクトル領域にあり、
前記検出部品(140)が前記第1のピーク波長(330)を有する光(300)を検出するように構成されている、請求項1に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。 - 前記非可視スペクトル領域が赤外スペクトル領域または紫外スペクトル領域にある、請求項1から3のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
- 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(110)によって出射されうる前記光(300)は、波長(210)において前記第1のピーク波長(330)での強度(340)の10%以下であって、前記波長(210)において前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(110)によって出射されうる前記光(300)と、前記波長変換素子(120)によって生成されうる前記光(400)とが同じ強度(220)を有する、請求項1から4のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
- 前記オプトエレクトロニクス装置(100)は、前記第1のピーク波長(330)を有する光(300)と、前記第2のピーク波長(430)を有する光(400)とを同じ空間方向(135)に出射するように構成されている、請求項1から5のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
- 前記オプトエレクトロニクス装置(100)は、前記第1のピーク波長(330)を有する光(300)と、前記第2のピーク波長(430)を有する光(400)とを異なる立体角(310,410)に出射するように構成されている、請求項1から6のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
- 前記オプトエレクトロニクス装置(100)は、光学素子(130)をさらに備え、
前記光学素子(130)は、前記第1のピーク波長(330)および前記第2のピーク波長(430)において異なる屈折率である、請求項1から7のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。 - 前記検出部品(140)はシリコン検出器(145)を含む、請求項1から8のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
- 前記オプトエレクトロニクス装置(100)は赤外分光光度計または紫外分光光度計である、請求項1から9のいずれか一項に記載のオプトエレクトロニクス装置(100)。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2020217671A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | ||
JPWO2020217669A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | ||
WO2020217670A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置並びにそれを用いた医療システム、電子機器及び検査方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017121346A1 (de) | 2016-09-15 | 2018-03-15 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Messsystem, Verwendung zumindest einer individuell betreibbaren Leuchtdioden-Leuchteinheit als Sendereinheit in einem Messsystem, Verfahren zum Betrieb eines Messsystems und Beleuchtungsquelle mit einem Messsystem |
DE102016222047A1 (de) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | Robert Bosch Gmbh | Beleuchtungseinheit für ein Mikrospektrometer, Mikrospektrometer und mobiles Endgerät |
DE102017101363B4 (de) | 2017-01-25 | 2024-06-06 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Strahlungsemittierende Halbleiteranordnung und Vorrichtung mit einer strahlungsemittierenden Halbleiteranordnung |
DE102017121889B3 (de) * | 2017-09-21 | 2018-11-22 | Heraeus Noblelight Gmbh | Breitbandige halbleiterbasierte UV-Lichtquelle für eine Spektralanalysevorrichtung |
DE102017222974A1 (de) | 2017-12-15 | 2019-06-19 | Ibeo Automotive Systems GmbH | Anordnung und Verfahren zur Ermittlung einer Entfernung wenigstens eines Objekts mit Lichtsignalen |
DE102017222972A1 (de) | 2017-12-15 | 2019-07-04 | Ibeo Automotive Systems GmbH | Empfangsanordnung zum Empfang von Lichtsignalen |
DE102018205381A1 (de) * | 2018-04-10 | 2019-10-10 | Ibeo Automotive Systems GmbH | LIDAR Messsystem mit Wellenlängenumwandlung |
DE102018119462A1 (de) | 2018-08-09 | 2020-02-13 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Sichtbares licht und ir-strahlung emittierendes optoelektronisches bauelement |
US20230143322A1 (en) * | 2020-04-22 | 2023-05-11 | Ams-Osram International Gmbh | Method for detecting a spectrum, and spectroscopy assembly |
US11211707B1 (en) | 2020-11-13 | 2021-12-28 | Lyteloop Technologies, Llc | Apparatus for broadband wavelength conversion of dual-polarization phase-encoded signal |
US11346923B1 (en) | 2020-11-13 | 2022-05-31 | Lyteloop Technologies, Llc | LiDAR system implementing wavelength conversion |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56165587U (ja) * | 1980-05-07 | 1981-12-08 | ||
JPH04248445A (ja) * | 1991-02-04 | 1992-09-03 | Japan Tobacco Inc | 携帯型赤外線水分測定装置 |
JP2002164577A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Hitachi Cable Ltd | 発光素子 |
JP2003243723A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 紫外光照射装置 |
JP2005106521A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Anritsu Corp | 半導体レーザユニット及びガス濃度測定装置 |
JP2005277299A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Ushio Inc | 紫外光照射装置 |
JP2006114911A (ja) * | 2004-10-14 | 2006-04-27 | Agilent Technol Inc | 蛍光物質を使用して可視範囲と赤外線範囲に波長スペクトラムを有するフラッシュ光を生成する電子フラッシュ、撮影装置、およびその方法 |
JP2007017986A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | 赤外波長範囲と可視光波長範囲の波長スペクトルを有する出力光を発生する装置及び方法 |
JP2008107260A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Yamatake Corp | 照明装置 |
KR20090039157A (ko) * | 2007-10-17 | 2009-04-22 | 서울옵토디바이스주식회사 | 자외선 방사장치 |
JP2010251763A (ja) * | 2009-04-20 | 2010-11-04 | Yiguang Electronic Ind Co Ltd | 発光デバイス、電子デバイス及び発光装置 |
JP2013181912A (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Seiko Epson Corp | 成分分析装置 |
JP2013539865A (ja) * | 2010-10-13 | 2013-10-28 | ザ・ボーイング・カンパニー | 表面の化学的性質の非接触測定装置および方法 |
US20140160253A1 (en) * | 2012-12-10 | 2014-06-12 | Microsoft Corporation | Hyperspectral imager |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5025149A (en) | 1990-06-18 | 1991-06-18 | Hughes Aircraft Company | Integrated multi-spectral boresight target generator |
EP1228540B1 (en) * | 2000-06-29 | 2010-09-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optoelectric element |
US20040159900A1 (en) * | 2003-01-27 | 2004-08-19 | 3M Innovative Properties Company | Phosphor based light sources having front illumination |
KR100538996B1 (ko) * | 2003-06-19 | 2005-12-27 | 한국전자통신연구원 | 적외선 흡수층으로 실리콘 산화막을 사용한 적외선 센서및 그 제조 방법 |
US7230684B2 (en) | 2004-03-10 | 2007-06-12 | Raytheon Company | Method and apparatus for range finding with a single aperture |
DE102006020529A1 (de) * | 2005-08-30 | 2007-03-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement |
US7796251B2 (en) * | 2006-03-22 | 2010-09-14 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Method, apparatus and system for rapid and sensitive standoff detection of surface contaminants |
US20070262714A1 (en) * | 2006-05-15 | 2007-11-15 | X-Rite, Incorporated | Illumination source including photoluminescent material and a filter, and an apparatus including same |
US8368034B2 (en) * | 2006-06-29 | 2013-02-05 | Cdex, Inc. | Substance detection, inspection and classification system using enhanced photoemission spectroscopy |
JP4766697B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2011-09-07 | アンリツ株式会社 | 小型ガス検知装置 |
US8297061B2 (en) * | 2007-08-02 | 2012-10-30 | Cree, Inc. | Optoelectronic device with upconverting luminophoric medium |
JP4975797B2 (ja) * | 2009-10-14 | 2012-07-11 | シャープ株式会社 | 照明装置、車両用灯具および車両 |
DE102010025608A1 (de) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauteil |
WO2012008325A1 (ja) * | 2010-07-12 | 2012-01-19 | 国立大学法人名古屋大学 | 広帯域赤外光放射装置 |
US9404627B2 (en) * | 2012-04-13 | 2016-08-02 | Koninklijke Philips N.V. | Light conversion assembly, a lamp and a luminaire |
DE102012215702A1 (de) * | 2012-09-05 | 2014-03-06 | Osram Gmbh | Beleuchtungseinrichtung |
-
2015
- 2015-04-29 DE DE102015106635.1A patent/DE102015106635A1/de not_active Withdrawn
-
2016
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Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56165587U (ja) * | 1980-05-07 | 1981-12-08 | ||
JPH04248445A (ja) * | 1991-02-04 | 1992-09-03 | Japan Tobacco Inc | 携帯型赤外線水分測定装置 |
JP2002164577A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Hitachi Cable Ltd | 発光素子 |
JP2003243723A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 紫外光照射装置 |
JP2005106521A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Anritsu Corp | 半導体レーザユニット及びガス濃度測定装置 |
JP2005277299A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Ushio Inc | 紫外光照射装置 |
JP2006114911A (ja) * | 2004-10-14 | 2006-04-27 | Agilent Technol Inc | 蛍光物質を使用して可視範囲と赤外線範囲に波長スペクトラムを有するフラッシュ光を生成する電子フラッシュ、撮影装置、およびその方法 |
JP2007017986A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | 赤外波長範囲と可視光波長範囲の波長スペクトルを有する出力光を発生する装置及び方法 |
JP2008107260A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Yamatake Corp | 照明装置 |
KR20090039157A (ko) * | 2007-10-17 | 2009-04-22 | 서울옵토디바이스주식회사 | 자외선 방사장치 |
JP2010251763A (ja) * | 2009-04-20 | 2010-11-04 | Yiguang Electronic Ind Co Ltd | 発光デバイス、電子デバイス及び発光装置 |
JP2013539865A (ja) * | 2010-10-13 | 2013-10-28 | ザ・ボーイング・カンパニー | 表面の化学的性質の非接触測定装置および方法 |
JP2013181912A (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Seiko Epson Corp | 成分分析装置 |
US20140160253A1 (en) * | 2012-12-10 | 2014-06-12 | Microsoft Corporation | Hyperspectral imager |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2020217671A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | ||
JPWO2020217669A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | ||
WO2020217670A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置並びにそれを用いた医療システム、電子機器及び検査方法 |
WO2020217671A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 波長変換体、並びにそれを用いた発光装置、医療システム、電子機器及び検査方法 |
JPWO2020217670A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | ||
WO2020217669A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置並びにそれを用いた医療システム、電子機器及び検査方法 |
CN113711449A (zh) * | 2019-04-24 | 2021-11-26 | 松下知识产权经营株式会社 | 波长转换体以及使用了该波长转换体的发光装置、医疗系统、电子设备及检验方法 |
JP7361346B2 (ja) | 2019-04-24 | 2023-10-16 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置並びにそれを用いた医療システム、電子機器及び検査方法 |
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