DE112016001966B4 - Optoelektronische Anordnung - Google Patents
Optoelektronische Anordnung Download PDFInfo
- Publication number
- DE112016001966B4 DE112016001966B4 DE112016001966.1T DE112016001966T DE112016001966B4 DE 112016001966 B4 DE112016001966 B4 DE 112016001966B4 DE 112016001966 T DE112016001966 T DE 112016001966T DE 112016001966 B4 DE112016001966 B4 DE 112016001966B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- peak wavelength
- spectral range
- optoelectronic
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 111
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 81
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 36
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 13
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0289—Field-of-view determination; Aiming or pointing of a spectrometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of measurement area; Position tracking
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J3/108—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry for measurement in the infrared range
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/32—Investigating bands of a spectrum in sequence by a single detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/33—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
- H01L33/505—Wavelength conversion elements characterised by the shape, e.g. plate or foil
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
Abstract
Optoelektronische Anordnung (100)mit einem optoelektronischen Halbleiterchip (110), einem wellenlängenkonvertierenden Element (120) und einem Detektorbauteil (140),wobei der optoelektronische Halbleiterchip (110) ausgebildet ist, Licht (300) mit einer ersten Peak-Wellenlänge (330) zu emittieren,wobei das wellenlängenkonvertierende Element (120) ausgebildet ist, von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittiertes Licht (300) in Licht (400) mit einer zweiten Peak-Wellenlänge (430) zu konvertieren,wobei das von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittierbare Licht (300) bei einer Wellenlänge (210), bei der das von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittierbare Licht (300) und das von dem wellenlängenkonvertierenden Element (120) erzeugbare Licht (400) dieselbe Intensität (220) aufweisen, höchstens 10% der Intensität (340) bei der ersten Peak-Wellenlänge (330) aufweist, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ausgebildet ist, Licht (300) mit der ersten Peak-Wellenlänge (330) und Licht (400) mit der zweiten Peak-Wellenlänge (430) abzustrahlen,wobei die erste Peak-Wellenlänge (330) im sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt oder die erste Peak-Wellenlänge (330) im nicht-sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im sichtbaren Spektralbereich liegt,wobei die optoelektronische Anordnung (100) dazu vorgesehen ist, das Licht (300, 400), dessen Peak-Wellenlänge (330, 430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, in einen Zielbereich abzustrahlen,wobei das Detektorbauteil (140) ausgebildet ist, aus dem Zielbereich zurückgestreutes Licht (300, 400), dessen Peak-Wellenlänge (330, 430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, zu detektieren.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine optoelektronische Anordnung gemäß Patentanspruch 1.
- Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung
DE 10 2015 106 635 A1 , deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Bezugnahme aufgenommen wird. - Aus dem Stand der Technik sind Sensoranordnungen bekannt, die dazu ausgebildet sind, nicht-sichtbares Licht auszusenden und von zu untersuchenden Objekten rückgestreute Anteile des Lichts zu detektieren, um Informationen über diese Objekte zu gewinnen. Die Verwendung nicht-sichtbaren Lichts erschwert es dabei, das ausgesendete Licht auf die zu untersuchenden Objekte auszurichten.
- Die
EP 1 857 790 A2 beschreibt eine Vorrichtung mit einer Lichtquelle, die einen Lichtemitter und mindestens eine wellenlängenkonvertierende Schicht aufweist. Die Vorrichtung umfasst außerdem ein wellenlängenselektives Element und einen Lichtdetektor. - Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine optoelektronische Anordnung bereitzustellen. Diese Aufgabe wird durch eine optoelektronische Anordnung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. In den abhängigen Ansprüchen sind verschiedene Weiterbildungen angegeben.
- Eine optoelektronische Anordnung umfasst einen optoelektronischen Halbleiterchip, ein wellenlängenkonvertierendes Element und ein Detektorbauteil. Der optoelektronische Halbleiterchip ist ausgebildet, Licht mit einer ersten Peak-Wellenlänge zu emittieren. Das wellenlängenkonvertierende Element ist ausgebildet, von dem optoelektronischen Halbleiterchip emittiertes Licht in Licht mit einer zweiten Peak-Wellenlänge zu konvertieren. Die optoelektronische Anordnung ist ausgebildet, Licht mit der ersten Peak-Wellenlänge und Licht mit der zweiten Peak-Wellenlänge abzustrahlen. Entweder liegt die erste Peak-Wellenlänge im sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge im nicht-sichtbaren Spektralbereich oder die erste Peak-Wellenlänge liegt im nicht-sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge im sichtbaren Spektralbereich. Die optoelektronische Anordnung ist dazu vorgesehen, das Licht, dessen Peak-Wellenlänge im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, in einen Zielbereich abzustrahlen. Das Detektorbauteil ist ausgebildet, aus dem Zielbereich zurückgestreutes Licht, dessen Peak-Wellenlänge im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, zu detektieren.
- Bei dieser optoelektronischen Anordnung kann das ausgesandte Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem sichtbaren Spektralbereich dazu dienen, das von der optoelektronischen Anordnung abgestrahlte Licht auf einen Zielbereich auszurichten. Dadurch ist die optoelektronische Anordnung einfach handhabbar.
- Dabei wird das Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem sichtbaren Spektralbereich und das Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich bei dieser optoelektronischen Anordnung vorteilhafterweise mit nur einem optoelektronischen Halbleiterchip erzeugt, wodurch die optoelektronische Anordnung eine kompakte Bauform aufweisen und sich beispielsweise für eine mobile Anwendung eignen kann. Durch die Erzeugung des sichtbaren und des nicht-sichtbaren Lichts mit nur einem optoelektronischen Halbleiterchip kann die optoelektronische Anordnung vorteilhafterweise eine hohe Systemeffizienz aufweisen. Die Verwendung lediglich eines optoelektronischen Halbleiterchips ermöglicht außerdem vorteilhafterweise eine kostengünstige Herstellung der optoelektronischen Anordnung.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung liegt die erste Peak-Wellenlänge im sichtbaren Spektralbereich, während die zweite Peak-Wellenlänge im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt. Dabei ist das Detektorbauteil ausgebildet, Licht mit der zweiten Peak-Wellenlänge zu detektieren. In dieser Ausführungsform ist der optoelektronische Halbleiterchip der optoelektronischen Anordnung somit ausgebildet, Licht mit einer Wellenlänge aus dem sichtbaren Spektralbereich zu erzeugen, beispielsweise blaues, grünes oder rotes Licht.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung liegt die erste Peak-Wellenlänge im nicht-sichtbaren Spektralbereich, während die zweite Peak-Wellenlänge im sichtbaren Spektralbereich liegt. Dabei ist das Detektorbauteil ausgebildet, Licht mit der ersten Peak-Wellenlänge zu detektieren. In dieser Ausführungsform ist das wellenlängenkonvertierende Element der optoelektronischen Anordnung somit ausgebildet, von dem optoelektronischen Halbleiterchip emittiertes Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich in sichtbares Licht zu konvertieren, beispielsweise in blaues, grünes oder rotes Licht.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung ist der nicht-sichtbare Spektralbereich der infrarote Spektralbereich oder der ultraviolette Spektralbereich. Vorteilhafterweise eignet sich das von der optoelektronischen Anordnung ausgesandte Licht aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich dadurch für eine Untersuchung unterschiedlicher Eigenschaften zu untersuchender Objekte, beispielsweise für eine Untersuchung verschiedener Materialeigenschaften.
- Das von dem optoelektronischen Halbleiterchip emittierbare Licht weist bei einer Wellenlänge, bei der das von dem optoelektronischen Halbleiterchip emittierbare Licht und das von dem wellenlängenkonvertierenden Element erzeugbare Licht dieselbe Intensität aufweisen, höchstens 10% der Intensität bei der ersten Peak-Wellenlänge auf. Vorteilhafterweise sind die spektralen Verteilungen des von dem optoelektronischen Halbleiterchip emittierten Lichts und des durch das wellenlängenkonvertierende Element erzeugten Lichts dadurch deutlich voneinander getrennt. Dies kann es ermöglichen, parasitäre Effekte zu vermeiden.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung ist diese ausgebildet, Licht mit der ersten Peak-Wellenlänge und Licht mit der zweiten Peak-Wellenlänge in dieselbe Raumrichtung abzustrahlen. Vorteilhafterweise ermöglicht das von der optoelektronischen Anordnung ausgesandte Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem sichtbaren Spektralbereich dadurch eine besonders einfache und genaue Ausrichtung des durch die optoelektronische Anordnung abgestrahlten Lichts mit einer Peak-Wellenlänge aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich auf zu untersuchende Objekte oder einen zu untersuchenden Zielbereich.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung ist diese ausgebildet, Licht mit der ersten Peak-Wellenlänge und Licht mit der zweiten Peak-Wellenlänge in unterschiedlich große Raumwinkel abzustrahlen. Dabei kann das Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem sichtbaren Spektralbereich in einen kleineren oder einen größeren Raumwinkel abgestrahlt werden, als das Licht mit einer Peak-Wellenlänge aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich. Hierdurch wird vorteilhafterweise, je nach Anwendungsfall, eine besonders einfache und/oder besonders präzise Ausrichtung des durch die optoelektronische Anordnung abgestrahlten Lichts auf einen zu untersuchenden Zielbereich oder zu untersuchende Zielobjekte ermöglicht.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung weist diese ein optisches Element auf, das bei der ersten Peak-Wellenlänge und bei der zweiten Peak-Wellenlänge unterschiedliche Berechnungsindices aufweist. Das optische Element kann dabei beispielsweise eine optische Linse sein, insbesondere beispielsweise eine optische Sammellinse. Durch die unterschiedlichen Brechungsindices des optischen Elements bei der ersten Peak-Wellenlänge und bei der zweiten Peak-Wellenlänge wird Licht aus dem sichtbaren Spektralbereich und Licht aus dem nicht-sichtbaren Spektralbereich durch das optische Element unterschiedlich stark gebrochen, wodurch die beiden Anteile des Lichts beispielsweise durch das optische Element unterschiedlich stark gebündelt werden können.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung umfasst das Detektorbauteil einen Silicium-Detektor. Dadurch kann sich das Detektorbauteil beispielsweise zur Detektion von Licht mit einer Wellenlänge aus dem infraroten Spektralbereich eignen. Vorteilhafterweise kann das Detektorbauteil dadurch kompakt und kostengünstig ausgebildet sein.
- In einer Ausführungsform der optoelektronischen Anordnung ist diese ein Infrarotspektrometer oder ein UV-Spektrometer. Dadurch kann die optoelektronische Anordnung beispielsweise zur Untersuchung von Materialeigenschaften zu untersuchender Objekte dienen.
- Die oben beschriebenen Eigenschaften, Merkmale und Vorteile dieser Erfindung sowie die Art und Weise, wie diese erreicht werden, werden klarer und deutlicher verständlich im Zusammenhang mit der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert werden. Dabei zeigen in jeweils schematisierter Darstellung
-
1 ein Blockschaltbild einer optoelektronischen Anordnung; und -
2 ein Spektrumsdiagramm von durch die optoelektronische Anordnung ausgesandtem Licht. -
1 zeigt ein stark schematisiertes Blockschaltbild einer optoelektronischen Anordnung100 . Die optoelektronische Anordnung100 dient zur Sensierung eines Untersuchungsbereichs oder in einem Untersuchungsbereich angeordneter Objekte. Die optoelektronische Anordnung100 kann beispielsweise als Spektrometer ausgebildet sein, insbesondere beispielsweise als Infrarotspektrometer. Die optoelektronische Anordnung100 kann als tragbares Gerät ausgebildet und für eine mobile Anwendung vorgesehen sein. - Die optoelektronische Anordnung
100 umfasst einen optoelektronischen Halbleiterchip110 . Der optoelektronische Halbleiterchip110 ist dazu ausgebildet, Licht, also elektromagnetische Strahlung, zu emittieren. Der optoelektronische Halbleiterchip110 kann beispielsweise als Leuchtdiodenchip (LED-Chip) oder als Laserchip ausgebildet sein. -
2 zeigt ein schematisches Spektrumsdiagramm200 . Auf einer horizontalen Achse des Spektrumsdiagramms200 ist eine Wellenlänge201 aufgetragen. Auf einer vertikalen Achse des Spektrumsdiagramms200 ist eine Intensität202 aufgetragen. - Der optoelektronische Halbleiterchip
110 ist dazu ausgebildet, erstes Licht300 zu emittieren, das eine in2 dargestellte erste spektrale Verteilung320 mit einer ersten Peak-Wellenlänge330 aufweist. Bei der ersten Peak-Wellenlänge330 weist das erste Licht300 eine erste Maximalintensität340 auf. - Die in
1 gezeigte optoelektronische Anordnung100 umfasst ferner ein wellenlängenkonvertierendes Element120 . Das wellenlängenkonvertierende Element120 ist dazu ausgebildet, einen Teil des durch den optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierten ersten Lichts300 in zweites Licht400 zu konvertieren. Das zweite Licht400 weist, wie in2 dargestellt, eine von der ersten spektralen Verteilung320 verschiedene zweite spektrale Verteilung420 mit einer von der ersten Peak-Wellenlänge330 verschiedenen zweiten Peak-Wellenlänge430 auf. Bei der zweiten Peak-Wellenlänge430 besitzt das zweite Licht400 eine zweite Maximalintensität440 . - Das wellenlängenkonvertierende Element
120 kann direkt an dem optoelektronischen Halbleiterchip110 angeordnet oder von dem optoelektronischen Halbleiterchip110 beabstandet sein. Das wellenlängenkonvertierende Element120 kann beispielsweise als Beschichtung oder als Plättchen ausgebildet sein. Das wellenlängenkonvertierende Element120 kann beispielsweise ein Matrixmaterial und in das Matrixmaterial eingebettete wellenlängenkonvertierende Partikel aufweisen. In diesem Fall sind die wellenlängenkonvertierenden Partikel des wellenlängenkonvertierenden Elements120 dazu ausgebildet, einen Teil des durch den optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierten ersten Lichts300 in das zweite Licht400 zu konvertieren. - Im in
2 gezeigten Beispiel ist die zweite Peak-Wellenlänge430 des zweiten Lichts400 größer als die erste Peak-Wellenlänge330 des ersten Lichts300 . Es ist jedoch auch möglich, dass die zweite Peak-Wellenlänge430 des zweiten Lichts400 kleiner als die erste Peak-Wellenlänge330 des ersten Lichts300 ist. In diesem Fall kann das wellenlängenkonvertierende Element120 beispielsweise dazu ausgebildet sein, zur Erzeugung eines Lichtquants des zweiten Lichts400 zwei oder mehr Lichtquanten des ersten Lichts300 zu absorbieren. - Die erste spektrale Verteilung
320 des durch den optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierten ersten Lichts300 ist in vielen Fällen schmalbandiger als die zweite spektrale Verteilung420 des zweiten Lichts400 . - Entweder die erste Peak-Wellenlänge
330 des ersten Lichts300 oder die zweite Peak-Wellenlänge430 des zweiten Lichts400 liegt im sichtbaren Spektralbereich. Die andere Peak-Wellenlänge430 ,330 des anderen Lichts400 ,300 liegt dagegen in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich, also in einem anderen als dem obengenannten sichtbaren Spektralbereich. Somit liegt entweder die erste Peak-Wellenlänge330 im sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich oder die erste Peak-Wellenlänge330 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge430 im sichtbaren Spektralbereich. Die im sichtbaren Spektralbereich liegende Peak-Wellenlänge330 ,430 kann beispielsweise im blauen, grünen, roten oder hyperroten Spektralbereich liegen. Die in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegende Peak-Wellenlänge330 ,430 kann beispielsweise im infraroten oder im ultravioletten Spektralbereich liegen. - Die optoelektronische Anordnung
100 ist dazu ausgebildet, sowohl den nicht durch das wellenlängenkonvertierende Element120 konvertierten Teil des durch den optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierten ersten Lichts300 als auch das durch das wellenlängenkonvertierende Element120 erzeugte zweite Licht400 nach außen abzustrahlen. Es ist zweckmäßig, dass das erste Licht300 und das zweite Licht400 in eine gemeinsame Raumrichtung135 abgestrahlt werden. Dabei wird das erste Licht300 in einen ersten Raumwinkel310 abgestrahlt. Das zweite Licht400 wird in einen zweiten Raumwinkel410 abgestrahlt. Der erste Raumwinkel310 und der zweite Raumwinkel410 können unterschiedliche Größen aufweisen. Beispielsweise kann der zweite Raumwinkel410 , wie in1 schematisch dargestellt, größer als der erste Raumwinkel310 sein. Der erste Raumwinkel310 kann aber auch größer als der zweite Raumwinkel410 sein. - Die optoelektronische Anordnung
100 kann ein optisches Element130 umfassen, das dazu ausgebildet ist, die räumliche Verteilung des durch die optoelektronische Anordnung100 abgestrahlten ersten Lichts300 und/oder die räumliche Verteilung des durch die optoelektronische Anordnung100 abgestrahlten zweiten Lichts400 zu formen. Das optische Element130 kann beispielsweise eine optische Linse umfassen, insbesondere beispielsweise eine Sammellinse. Das optische Element130 kann das erste Licht300 mit der ersten Peak-Wellenlänge330 und das zweite Licht400 mit der zweiten Peak-Wellenlänge430 unterschiedlich abbilden, beispielsweise unterschiedlich stark brechen. Hierzu kann das optische Element130 beispielsweise unterschiedliche Brechungsindices bei der ersten Peak-Wellenlänge330 und bei der zweiten Peak-Wellenlänge430 aufweisen. Das optische Element130 kann entfallen. - Die optoelektronische Anordnung
100 umfasst ferner ein Detektorbauteil140 . Das Detektorbauteil140 ist dazu vorgesehen, das von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, zu detektieren. Falls die erste Peak-Wellenlänge330 des durch den optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierten ersten Lichts330 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, so ist das Detektorbauteil140 also ausgebildet, das erste Licht300 mit der ersten Peak-Wellenlänge330 zu detektieren. Andernfalls ist das Detektorbauteil140 ausgebildet, das von dem wellenlängenkonvertierenden Element120 der optoelektronischen Anordnung100 erzeugte zweite Licht400 , dessen zweite Peak-Wellenlänge430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, zu detektieren. - Es ist zweckmäßig, dass das Detektorbauteil
140 der optoelektronischen Anordnung für das von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 im sichtbaren Spektralbereich liegt, möglichst unempfindlich ist. Dies kann dadurch unterstützt werden, dass die erste spektrale Verteilung320 des ersten Lichts300 und die zweite spektrale Verteilung420 des zweiten Lichts400 möglichst vollständig voneinander getrennt sind. Eine ausreichende Trennung der spektralen Verteilungen320 ,420 kann beispielsweise dann erreicht sein, wenn das von dem optoelektronischen Halbleiterchip110 der optoelektronischen Anordnung100 emittierte erste Licht300 bei einer Gleichheitswellenlänge210 , bei der das von dem optoelektronischen Halbleiterchip110 emittierte erste Licht300 und das von dem wellenlängenkonvertierenden Element120 erzeugte zweite Licht400 jeweils eine übereinstimmende Gleichheitsintensität220 aufweisen, höchstens 10% der ersten Maximalintensität340 aufweist. Das erste Licht300 und das zweite Licht400 weisen dann somit bei der Gleichheitswellenlänge210 dieselbe Intensität auf, nämlich die Gleichheitsintensität220 . Die Gleichheitsintensität220 beträgt dabei höchstens 10% der ersten Maximalintensität340 . - Das Detektorbauteil
140 der optoelektronischen Anordnung100 kann beispielsweise einen Silicium-Detektor145 umfassen. In diesem Fall kann die Peak-Wellenlänge330 ,430 des von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahlten Lichts300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, beispielsweise im infraroten Spektralbereich liegen. - Das von der optoelektronischen Anordnung
100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, ist zur Detektion oder Untersuchung eines Zielbereichs oder im Zielbereich angeordneter Objekte vorgesehen. Hierzu muss das von der optoelektronischen Anordnung100 in die Raumrichtung135 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, auf den Zielbereich oder die im Zielbereich angeordneten Zielobjekte gerichtet werden. - Von dem Zielbereich oder den im Zielbereich angeordneten Zielobjekten zurückgestreutes Licht
300 ,400 wird durch das Detektorbauteil140 der optoelektronischen Anordnung100 erfasst und kann Informationen über den Zielbereich oder die Zielobjekte liefern. Die Informationen können sich beispielsweise aus Änderungen der spektralen Verteilung320 ,420 des Lichts300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, ergeben, beispielsweise aus durch Absorption bewirkten Änderungen der spektralen Verteilung320 ,420 . - Das Detektorbauteil
140 ist derart angeordnet, dass aus dem Zielbereich zurückgestreutes Licht300 ,400 auf das Detektorbauteil140 trifft. Es ist zweckmäßig, das Detektorbauteil140 so anzuordnen, dass kein oder nur wenig von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahltes Licht300 ,400 auf direktem Weg, also ohne Rückstreuung aus dem Zielbereich, auf das Detektorbauteil140 trifft. Dies kann beispielsweise durch ein Vorsehen geeigneter Blenden zwischen dem optoelektronischen Halbleiterchip110 , dem wellenlängenkonvertierenden Element120 und dem optischen Element130 auf der einen Seite und dem Detektorbauteil140 auf der anderen Seite erreicht werden. - Das von der optoelektronischen Anordnung
100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 im sichtbaren Spektralbereich liegt, erleichtert es, das von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 in einem nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, auf den Zielbereich oder die zu untersuchenden Zielobjekte auszurichten. Falls sowohl das erste Licht300 als auch das zweite Licht400 in die gleiche Raumrichtung135 abgestrahlt werden, muss hierfür auch das von der optoelektronischen Anordnung100 abgestrahlte Licht300 ,400 , dessen Peak-Wellenlänge330 ,430 im sichtbaren Spektralbereich liegt, auf den zu untersuchenden Zielbereich oder die zu untersuchenden Zielobjekte gerichtet werden. - Die Erfindung wurde anhand der bevorzugten Ausführungsbeispiele näher illustriert und beschrieben. Dennoch ist die Erfindung nicht auf die offenbarten Beispiele eingeschränkt. Vielmehr können hieraus andere Variationen vom Fachmann abgeleitet werden, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen.
- Bezugszeichenliste
-
- 100
- optoelektronische Anordnung
- 110
- optoelektronischer Halbleiterchip
- 120
- wellenlängenkonvertierendes Element
- 130
- optisches Element
- 135
- Raumrichtung
- 140
- Detektorbauteil
- 145
- Silicium-Detektor
- 200
- Spektrumsdiagramm
- 201
- Wellenlänge
- 202
- Intensität
- 210
- Gleichheitswellenlänge
- 220
- Gleichheitsintensität
- 300
- erstes Licht
- 310
- erster Raumwinkel
- 320
- erste spektrale Verteilung
- 330
- erste Peak-Wellenlänge
- 340
- erste Maximalintensität
- 400
- zweites Licht
- 410
- zweiter Raumwinkel
- 420
- zweite spektrale Verteilung
- 430
- zweite Peak-Wellenlänge
- 440
- zweite Maximalintensität
Claims (9)
- Optoelektronische Anordnung (100) mit einem optoelektronischen Halbleiterchip (110), einem wellenlängenkonvertierenden Element (120) und einem Detektorbauteil (140), wobei der optoelektronische Halbleiterchip (110) ausgebildet ist, Licht (300) mit einer ersten Peak-Wellenlänge (330) zu emittieren, wobei das wellenlängenkonvertierende Element (120) ausgebildet ist, von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittiertes Licht (300) in Licht (400) mit einer zweiten Peak-Wellenlänge (430) zu konvertieren, wobei das von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittierbare Licht (300) bei einer Wellenlänge (210), bei der das von dem optoelektronischen Halbleiterchip (110) emittierbare Licht (300) und das von dem wellenlängenkonvertierenden Element (120) erzeugbare Licht (400) dieselbe Intensität (220) aufweisen, höchstens 10% der Intensität (340) bei der ersten Peak-Wellenlänge (330) aufweist, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ausgebildet ist, Licht (300) mit der ersten Peak-Wellenlänge (330) und Licht (400) mit der zweiten Peak-Wellenlänge (430) abzustrahlen, wobei die erste Peak-Wellenlänge (330) im sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt oder die erste Peak-Wellenlänge (330) im nicht-sichtbaren Spektralbereich und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im sichtbaren Spektralbereich liegt, wobei die optoelektronische Anordnung (100) dazu vorgesehen ist, das Licht (300, 400), dessen Peak-Wellenlänge (330, 430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, in einen Zielbereich abzustrahlen, wobei das Detektorbauteil (140) ausgebildet ist, aus dem Zielbereich zurückgestreutes Licht (300, 400), dessen Peak-Wellenlänge (330, 430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, zu detektieren.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Peak-Wellenlänge (330) im sichtbaren Spektralbereich liegt und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt, wobei das Detektorbauteil (140) ausgebildet ist, Licht (400) mit der zweiten Peak-Wellenlänge (430) zu detektieren. - Optoelektronische Anordnung (100) gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Peak-Wellenlänge (330) im nicht-sichtbaren Spektralbereich liegt und die zweite Peak-Wellenlänge (430) im sichtbaren Spektralbereich liegt, wobei das Detektorbauteil (140) ausgebildet ist, Licht (300) mit der ersten Peak-Wellenlänge (330) zu detektieren. - Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der nicht-sichtbare Spektralbereich der infrarote Spektralbereich oder der ultraviolette Spektralbereich ist.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ausgebildet ist, Licht (300) mit der ersten Peak-Wellenlänge (330) und Licht (400) mit der zweiten Peak-Wellenlänge (430) in dieselbe Raumrichtung (135) abzustrahlen.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ausgebildet ist, Licht (300) mit der ersten Peak-Wellenlänge (330) und Licht (400) mit der zweiten Peak-Wellenlänge (430) in unterschiedlich große Raumwinkel (310, 410) abzustrahlen.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ein optisches Element (130) aufweist, wobei das optische Element (130) bei der ersten Peak-Wellenlänge (330) und bei der zweiten Peak-Wellenlänge (430) unterschiedliche Brechungsindices aufweist.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Detektorbauteil (140) einen Silicium-Detektor (145) umfasst.
- Optoelektronische Anordnung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die optoelektronische Anordnung (100) ein Infrarotspektrometer oder ein UV-Spektrometer ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015106635.1A DE102015106635A1 (de) | 2015-04-29 | 2015-04-29 | Optoelektronische Anordnung |
DE102015106635.1 | 2015-04-29 | ||
PCT/EP2016/059595 WO2016174194A1 (de) | 2015-04-29 | 2016-04-29 | Optoelektronische anordnung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112016001966A5 DE112016001966A5 (de) | 2018-01-11 |
DE112016001966B4 true DE112016001966B4 (de) | 2020-12-24 |
Family
ID=55860861
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102015106635.1A Withdrawn DE102015106635A1 (de) | 2015-04-29 | 2015-04-29 | Optoelektronische Anordnung |
DE112016001966.1T Active DE112016001966B4 (de) | 2015-04-29 | 2016-04-29 | Optoelektronische Anordnung |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102015106635.1A Withdrawn DE102015106635A1 (de) | 2015-04-29 | 2015-04-29 | Optoelektronische Anordnung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9983057B2 (de) |
JP (1) | JP2018515913A (de) |
KR (1) | KR102608057B1 (de) |
CN (1) | CN107532940A (de) |
DE (2) | DE102015106635A1 (de) |
WO (1) | WO2016174194A1 (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017121346A1 (de) | 2016-09-15 | 2018-03-15 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Messsystem, Verwendung zumindest einer individuell betreibbaren Leuchtdioden-Leuchteinheit als Sendereinheit in einem Messsystem, Verfahren zum Betrieb eines Messsystems und Beleuchtungsquelle mit einem Messsystem |
DE102016222047A1 (de) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | Robert Bosch Gmbh | Beleuchtungseinheit für ein Mikrospektrometer, Mikrospektrometer und mobiles Endgerät |
DE102017101363A1 (de) * | 2017-01-25 | 2018-07-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierende Halbleiteranordnung und Vorrichtung mit einer strahlungsemittierenden Halbleiteranordnung |
DE102017121889B3 (de) * | 2017-09-21 | 2018-11-22 | Heraeus Noblelight Gmbh | Breitbandige halbleiterbasierte UV-Lichtquelle für eine Spektralanalysevorrichtung |
DE102017222974A1 (de) | 2017-12-15 | 2019-06-19 | Ibeo Automotive Systems GmbH | Anordnung und Verfahren zur Ermittlung einer Entfernung wenigstens eines Objekts mit Lichtsignalen |
DE102017222972A1 (de) | 2017-12-15 | 2019-07-04 | Ibeo Automotive Systems GmbH | Empfangsanordnung zum Empfang von Lichtsignalen |
DE102018205381A1 (de) * | 2018-04-10 | 2019-10-10 | Ibeo Automotive Systems GmbH | LIDAR Messsystem mit Wellenlängenumwandlung |
DE102018119462A1 (de) | 2018-08-09 | 2020-02-13 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Sichtbares licht und ir-strahlung emittierendes optoelektronisches bauelement |
EP3961827B1 (de) * | 2019-04-24 | 2023-10-11 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Wellenlängenkonverter und lichtemittierende vorrichtung, medizinisches system, elektronische einrichtung und inspektionsverfahren unter verwendung davon |
WO2020217670A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置並びにそれを用いた医療システム、電子機器及び検査方法 |
CN113728522A (zh) * | 2019-04-24 | 2021-11-30 | 松下知识产权经营株式会社 | 发光装置以及使用了该发光装置的医疗系统、电子设备及检验方法 |
EP4139642A1 (de) * | 2020-04-22 | 2023-03-01 | ams-OSRAM International GmbH | Verfahren zur detektion eines spektrums und spektroskopieanordnung |
US11346923B1 (en) | 2020-11-13 | 2022-05-31 | Lyteloop Technologies, Llc | LiDAR system implementing wavelength conversion |
US11211707B1 (en) | 2020-11-13 | 2021-12-28 | Lyteloop Technologies, Llc | Apparatus for broadband wavelength conversion of dual-polarization phase-encoded signal |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1857790A2 (de) * | 2006-05-15 | 2007-11-21 | X-Rite, Incorporated | Beleuchtungsquelle mit photolumineszentem Material und Filter sowie Vorrichtung damit |
US20110084609A1 (en) * | 2009-10-14 | 2011-04-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Illumination device, automotive lighting equipment, and vehicle |
DE102012215702A1 (de) * | 2012-09-05 | 2014-03-06 | Osram Gmbh | Beleuchtungseinrichtung |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5927990Y2 (ja) * | 1980-05-07 | 1984-08-13 | 旭光学工業株式会社 | 不可視レ−ザ−加工機の照準装置 |
US5025149A (en) * | 1990-06-18 | 1991-06-18 | Hughes Aircraft Company | Integrated multi-spectral boresight target generator |
JP3124047B2 (ja) * | 1991-02-04 | 2001-01-15 | 日本たばこ産業株式会社 | 携帯型赤外線水分測定装置 |
EP1228540B1 (de) * | 2000-06-29 | 2010-09-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optoelektrisches element |
JP2002164577A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Hitachi Cable Ltd | 発光素子 |
JP2003243723A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 紫外光照射装置 |
US7157839B2 (en) * | 2003-01-27 | 2007-01-02 | 3M Innovative Properties Company | Phosphor based light sources utilizing total internal reflection |
KR100538996B1 (ko) * | 2003-06-19 | 2005-12-27 | 한국전자통신연구원 | 적외선 흡수층으로 실리콘 산화막을 사용한 적외선 센서및 그 제조 방법 |
JP2005106521A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Anritsu Corp | 半導体レーザユニット及びガス濃度測定装置 |
US7230684B2 (en) * | 2004-03-10 | 2007-06-12 | Raytheon Company | Method and apparatus for range finding with a single aperture |
JP2005277299A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Ushio Inc | 紫外光照射装置 |
US7679672B2 (en) * | 2004-10-14 | 2010-03-16 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Electronic flash, imaging device and method for producing a flash of light having a wavelength spectrum in the visible range and the infrared range using a fluorescent material |
TW200711539A (en) * | 2005-07-08 | 2007-03-16 | Avago Tech Ecbu Ip Sg Pte Ltd | Device and method for producing output light having a wavelength spectrum in the infrared wavelength range and the visible wavelength range |
DE102006020529A1 (de) * | 2005-08-30 | 2007-03-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement |
US7796251B2 (en) | 2006-03-22 | 2010-09-14 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Method, apparatus and system for rapid and sensitive standoff detection of surface contaminants |
US8368034B2 (en) * | 2006-06-29 | 2013-02-05 | Cdex, Inc. | Substance detection, inspection and classification system using enhanced photoemission spectroscopy |
JP2008107260A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Yamatake Corp | 照明装置 |
JP4766697B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2011-09-07 | アンリツ株式会社 | 小型ガス検知装置 |
US8297061B2 (en) * | 2007-08-02 | 2012-10-30 | Cree, Inc. | Optoelectronic device with upconverting luminophoric medium |
KR20090039157A (ko) * | 2007-10-17 | 2009-04-22 | 서울옵토디바이스주식회사 | 자외선 방사장치 |
TW201039469A (en) * | 2009-04-20 | 2010-11-01 | Everlight Electronics Co Ltd | Light emitting device and electronic device |
DE102010025608A1 (de) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauteil |
EP2595206A4 (de) * | 2010-07-12 | 2016-01-13 | Univ Nagoya Nat Univ Corp | Breitband-infrarot-licht emittierende vorrichtung |
US8536529B2 (en) * | 2010-10-13 | 2013-09-17 | The Boeing Company | Non-contact surface chemistry measurement apparatus and method |
JP2013181912A (ja) | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Seiko Epson Corp | 成分分析装置 |
WO2013153511A1 (en) * | 2012-04-13 | 2013-10-17 | Koninklijke Philips N.V. | A light conversion assembly, a lamp and a luminaire |
US20140160253A1 (en) * | 2012-12-10 | 2014-06-12 | Microsoft Corporation | Hyperspectral imager |
-
2015
- 2015-04-29 DE DE102015106635.1A patent/DE102015106635A1/de not_active Withdrawn
-
2016
- 2016-04-29 JP JP2017554467A patent/JP2018515913A/ja active Pending
- 2016-04-29 DE DE112016001966.1T patent/DE112016001966B4/de active Active
- 2016-04-29 WO PCT/EP2016/059595 patent/WO2016174194A1/de active Application Filing
- 2016-04-29 US US15/568,913 patent/US9983057B2/en active Active
- 2016-04-29 KR KR1020177030744A patent/KR102608057B1/ko active IP Right Grant
- 2016-04-29 CN CN201680024713.9A patent/CN107532940A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1857790A2 (de) * | 2006-05-15 | 2007-11-21 | X-Rite, Incorporated | Beleuchtungsquelle mit photolumineszentem Material und Filter sowie Vorrichtung damit |
US20110084609A1 (en) * | 2009-10-14 | 2011-04-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Illumination device, automotive lighting equipment, and vehicle |
DE102012215702A1 (de) * | 2012-09-05 | 2014-03-06 | Osram Gmbh | Beleuchtungseinrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20170140222A (ko) | 2017-12-20 |
WO2016174194A1 (de) | 2016-11-03 |
CN107532940A (zh) | 2018-01-02 |
US9983057B2 (en) | 2018-05-29 |
JP2018515913A (ja) | 2018-06-14 |
DE102015106635A1 (de) | 2016-11-03 |
KR102608057B1 (ko) | 2023-11-30 |
DE112016001966A5 (de) | 2018-01-11 |
US20180120157A1 (en) | 2018-05-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112016001966B4 (de) | Optoelektronische Anordnung | |
DE102011012297B4 (de) | Beleuchtungsvorrichtung | |
DE102013204476B4 (de) | Optisches Element und optoelektronisches Bauelement mit optischem Element | |
DE102014202294A1 (de) | Beleuchtungseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung | |
DE112016000316B4 (de) | Optoelektronisches Bauelement | |
DE102014112891A1 (de) | Optisches Element und optoelektronisches Bauelement | |
EP3295144B1 (de) | Vorrichtung zur messung einer abbildungseigenschaft eines optischen systems | |
DE102015117539A1 (de) | Anordnung | |
DE102016123002A1 (de) | Vorrichtung zum ausleuchten eines vorgegebenen flächenbereiches | |
DE10022713A1 (de) | Signalgeber für Verkehrssignale | |
DE102016104947A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zum Betreiben eines optoelektronischen Bauelements | |
EP1574880B1 (de) | Sendeelement für Lichtschranken, Lichtgitter und dergleichen | |
DE102017101267A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements | |
DE102016211013A1 (de) | Lidar-Vorrichtung und Verfahren zum Analysieren eines Objekts | |
DE102016117411B4 (de) | System zur Beleuchtung für ein Kraftfahrzeug mit einer Laserlichtquelle | |
DE102013207460A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement | |
DE102014116687A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement und Beleuchtungsvorrichtung | |
DE102019003198A1 (de) | Kraftfahrzeug-Laserscheinwerfer-Anordnung mit Frequenzüberwachung | |
DE102016116468A1 (de) | Optoelektronische anordnung | |
DE102022110651B4 (de) | Kompaktes optisches Spektrometer | |
DE102012203683B4 (de) | Projektionsvorrichtung | |
DE102016222244A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Tiefenbestimmung eines Objektes | |
DE102005011355A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement mit modifizierter Abstrahlcharakteristik | |
WO2021204511A1 (de) | Strahlungsemittierende vorrichtung und projektor damit | |
DE102015103696A1 (de) | Vorrichtung und System sowie Verfahren zur Umwandlung von monochromatischem Licht in polychromatisches Licht |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |