TW201350824A - 生化檢測系統 - Google Patents

生化檢測系統 Download PDF

Info

Publication number
TW201350824A
TW201350824A TW101143099A TW101143099A TW201350824A TW 201350824 A TW201350824 A TW 201350824A TW 101143099 A TW101143099 A TW 101143099A TW 101143099 A TW101143099 A TW 101143099A TW 201350824 A TW201350824 A TW 201350824A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
light source
light
detection system
halogen
biochemical detection
Prior art date
Application number
TW101143099A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI470202B (zh
Inventor
Chung-Hsien Tsai
Original Assignee
Protectlife Internat Biomedical Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Protectlife Internat Biomedical Inc filed Critical Protectlife Internat Biomedical Inc
Publication of TW201350824A publication Critical patent/TW201350824A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI470202B publication Critical patent/TWI470202B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0213—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using attenuators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1006—Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/141—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using dichroic mirrors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1282—Spectrum tailoring
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N2021/3155—Measuring in two spectral ranges, e.g. UV and visible
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06166—Line selective sources
    • G01N2201/0618—Halogene sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

一種生化檢測系統包含一光源模組及一光譜分析儀。光源模組包含一鹵素光源分別通過第一光源通路及第二光源通路後並經第一分光鏡匯集後用以檢測一待檢測樣本。第一光源通路包含複數反射鏡及一第一濾光鏡，第一濾光鏡用以衰減鹵素光源中橘紅色波段的光源。第二光源通路包含一第二濾光鏡，第二濾光鏡係用以衰減鹵素光源中除紫外光波段以外的光源。光譜分析儀用以分析穿越待檢測樣本後的光線。

Description

生化檢測系統
本發明是有關於一種生化檢測系統，且特別是有關於一種光學生化檢測系統。
目前光學生化檢測系統所使用的光源大多為氙氣燈，其主要原因為氙氣燈能夠於可見光的範圍內提供強度差距較小的光源，有利於後續分析的執行。然而，氙氣燈的價格較高，卻不利於光學生化檢測系統的普及化。
雖然，目前光學生化檢測系統亦有使用價格較低的鹵素光源，但執行分析時可能需要針對可見光部份波長的光源作分析，需要執行多次才能完成可見光全光譜的分析，而無法一次執行可見光全光譜的分析。這對某些可見光全光譜的分析而言是不允許的。鹵素光源於可見光的範圍內的強弱之間的差距可能會超過20倍，在一次感測可見光全光譜後，後續分析的執行會難度很高或無法分析。
有鑑於上述的問題，光學生化檢測系統需要一種平價的光源模組解決方案。
因此，本發明之一目的是在提供一種改良的光學生化檢測系統，藉以取代以氙氣光源的光學生化檢測系統。
依據之一上述目的，提出一種生化檢測系統，其包含 一光源模組及一光譜分析儀。光源模組包含一鹵素光源分別通過第一光源通路及第二光源通路並經第一分光鏡匯集後用以檢測一待檢測樣本。第一光源通路包含複數反射鏡及一第一濾光鏡，第一濾光鏡用以衰減鹵素光源中橘紅色波段的光源。第二光源通路包含一第二濾光鏡，第二濾光鏡係用以衰減鹵素光源中除紫外光波段以外的光源。光譜分析儀用以分析穿越待檢測樣本後的光線。
依據本發明另一實施例，該些反射鏡為波長介於300奈米與800奈米之間的反射鏡。
依據本發明另一實施例，第一濾光鏡位於第一光源通路上的鹵素光源和第一分光鏡之間。
依據本發明另一實施例，第二濾光鏡位於第二光源通路上的第一分光鏡和鹵素光源之間。
依據本發明另一實施例，橘紅色波段的光源為鹵素光源中波長550奈米以上的光源。
依據本發明另一實施例，第二濾光鏡係用以衰減鹵素光源中除波長320~400奈米以外的光源。
依據本發明另一實施例，生化檢測系統更包含第二分光鏡，第二分光鏡用以分配鹵素光源至第一光源通路及第二光源通路。
依據本發明另一實施例，第一濾光鏡位於第一光路上的第一分光鏡與第二分光鏡之間。
依據本發明一實施例，光譜分析儀包含一入射狹縫、一聚焦色散元件以及一感光二極體陣列。入射狹縫用以接收穿越待檢測樣本後的光線。聚焦色散元件用以空間色散 展開穿過入射狹縫的光線。感光二極體陣列用以感測經聚焦色散元件展開後的光線。
依據本發明另一實施例，光譜分析儀包含一入射狹縫、一平行光鏡、一色散元件、一聚光鏡以及一感光二極體陣列。入射狹縫用以接收穿越待檢測樣本後的光線。平行光鏡用以反射穿越入射狹縫之光線。色散元件用以展開經平行光鏡反射後的光線。感光二極體陣列用以感測經色散元件展開後的光線。聚光鏡用以將經該色散元件展開後的光線聚焦於感光二極體陣列。
由上述可知，應用本發明之生化檢測系統，僅使用單一鹵素光源，並利用其光學模組改善鹵素光源的特性，使鹵素光源更能符合在可見光的範圍作全光譜檢測的需求，藉以替代較高成本的氙氣光源及其他特定波長的發光二極體光源，而使生化檢測系統的元件成本能進一步降低。
請參照第1A圖，其繪示依照本發明一實施方式的一種生化檢測系統。生化檢測系統100包含一鹵素光源102、一光學模組104以及一光譜分析儀108，藉以針對一裝載於樣本承載盤106內的待檢測樣本106a執行光學分析。光學模組104的功能在於調整鹵素光源102的光學特性，使鹵素光源102能更符合的光學分析的需求。在本實施例中，光譜分析儀108包含一入射狹縫108b、一平行光鏡108c、一色散元件108d、一聚光鏡108e以及一感光二極體陣列108a。入射狹縫108b用以接收並取樣穿越待檢測樣 本106a後的光線。平行光鏡108c用以反射穿越入射狹縫108b之光線，使光線平行的傳遞至色散元件108d。色散元件108d用以展開經平行光鏡108c反射後的光線，便於感光二極體陣列108a感測。聚光鏡108e用以將經色散元件108d展開後的光線聚焦於感光二極體陣列108a上以利於感測。
請參照第1B圖，其繪示依照本發明另一實施方式的一種生化檢測系統。生化檢測系統100’與生化檢測系統100的主要差異在於平行光鏡108c與色散元件108d整合成單一聚焦色散元件108f，且省略了非必要的聚光鏡108e。聚焦色散元件108f用以空間色散展開穿過入射狹縫108b的光線，並將展開後的光線導向感光二極體陣列108a。上述光譜分析儀的結構只是舉例，本案所適用的光譜分析儀並不侷限於上述例子而已。
請參照第2、3圖，其分別繪示依照本發明的生化檢測系統之鹵素光源經光學模組處理前、後所測得的數據圖(縱軸為相對強度數值，故沒有絕對單位)。第2圖是鹵素光源經光學模組處理前所測得的數據圖，而第3圖是鹵素光源經光學模組處理後所測得的數據圖。參照第2圖，鹵素光源所發出的光在未經處理前在可見光的範圍內(波長約介於400奈米到750奈米之間)的強弱差距會超過20倍以上(例如60000/2946>20)，若使用感光二極體陣列一次感測可見光範圍內的所有光譜，將使後續的數據因訊雜比過高等因素而難以分析。因此，本案之生化檢測系統加入一光學模組(例如光學模組104)，藉以處理鹵素光源，處理後 所測得的數據圖如第3圖所示。由第3圖可知，在可見光的範圍內(波長約介於400奈米到750奈米之間)的光強度差距會小於5倍(例如60000/12000<5)，將使後續的數據分析容易許多。以下將配合圖式解說各種光學模組的可能結構。此外，光學模組104因增加生化檢測所需的藍紫光源，因此波長400奈米附近的光強度會劇增。
請參照第4圖，其繪示依照本發明一實施例的一種光學模組的示意圖。光學模組104’包含單一鹵素光源102a分別通過第一光源通路101a及第二光源通路101b後，並經第一分光鏡104b匯集後用以檢測一待檢測樣本(例如第1A圖之待檢測樣本106a)。第一光源通路101a包含複數反射鏡及第一濾光鏡104e，第一濾光鏡104e用以衰減鹵素光源102a中波長大於550奈米以上的光源(即橘紅色波段的光源)。第二光源通路101b包含一第二濾光鏡104a，第二濾光鏡104a用以衰減鹵素光源102a中除了波長介於320奈米與400奈米之間(即紫外光波段)以外的其他光源。在本實施例中，第一濾光鏡104e可位於第一光源通路101a上的鹵素光源102a和第一分光鏡104b之間，第二濾光鏡104a位於第二光源通路101b上的第一分光鏡104b和鹵素光源102a之間。在本實施例中，該些反射鏡(104c、104d、104f)可以是波長介於300奈米與800奈米之間的反射鏡或其他合適的反射鏡。此外，該些反射鏡(104c、104d、104f)之數量是不受限制的，可以光學模組的需求改變反射鏡的數量。
請參照第5圖，其繪示依照本發明另一實施例的一種 光學模組的示意圖。光學模組104”不同於光學模組104’的地方主要在於增加第二分光鏡104b’。光學模組104”包含單一鹵素光源102b分別通過第一光源通路101a及第二光源通路101b後，並經第一分光鏡104b匯集後用以檢測一待檢測樣本(例如第1A圖之待檢測樣本106a)。增加的第二分光鏡104b’用以分配鹵素光源102b至第一光源通路101a及第二光源通路101b。第一光源通路101a包含複數反射鏡及第一濾光鏡104e，第一濾光鏡104e用以衰減鹵素光源102b中波長大於550奈米以上的光源(即橘紅色波段的光源)。第二光源通路101b包含一第二濾光鏡104a，第二濾光鏡104a用以衰減鹵素光源102b中除了波長介於320奈米與400奈米之間(即紫外光波段)以外的其他光源。在本實施例中，第一濾光鏡104e可位於第一光源通路101a上第一分光鏡104b與第二分光鏡104b’之間的任何位置，第二濾光鏡104a位於第二光源通路101b上第一分光鏡104b與第二分光鏡104b’之間。在本實施例中，該些反射鏡(104c、104d)可以是波長介於300奈米與800奈米之間的反射鏡或其他合適的反射鏡。此外，該些反射鏡(104c、104d)之數量是不受限制的，可以光學模組的需求改變反射鏡的數量。
由上述本發明實施方式可知，應用本發明之生化檢測系統，僅使用單一鹵素光源，並利用其光學模組改善鹵素光源的特性，使鹵素光源更能符合在可見光的範圍作全光譜檢測的需求，藉以替代較高成本的氙氣光源及其他特定波長的發光二極體光源，而使生化檢測系統的元件成本能 進一步降低。
雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧生化檢測系統
100’‧‧‧生化檢測系統
101a‧‧‧第一光源通路
101b‧‧‧第二光源通路
102a‧‧‧鹵素光源
102b‧‧‧鹵素光源
104‧‧‧光學模組
104’‧‧‧光學模組
104”‧‧‧光學模組
104a‧‧‧第二濾光鏡
104b‧‧‧第一分光鏡
104b’‧‧‧第二分光鏡
104c‧‧‧反射鏡
104d‧‧‧反射鏡
104e‧‧‧第一濾光鏡
104f‧‧‧反射鏡
106‧‧‧樣本承載盤
106a‧‧‧待檢測樣本
108‧‧‧光譜分析儀
108a‧‧‧感光二極體陣列
108b‧‧‧入射狹縫
108c‧‧‧平行光鏡
108d‧‧‧色散元件
108e‧‧‧聚光鏡
108f‧‧‧聚焦色散元件
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1A圖係繪示依照本發明一實施方式的一種生化檢測系統。
第1B圖係繪示依照本發明另一實施方式的一種生化檢測系統。
第2、3圖係分別繪示依照本發明的生化檢測系統之光源模組經光學模組處理前、後所測得的數據圖。
第4圖係繪示依照本發明一實施例的一種光學模組的示意圖。
第5圖係繪示依照本發明另一實施例的一種光學模組的示意圖。
101a‧‧‧第一光源通路
101b‧‧‧第二光源通路
102a‧‧‧鹵素光源
104’‧‧‧光學模組
104a‧‧‧第二濾光鏡
104b‧‧‧第一分光鏡
104c‧‧‧反射鏡
104d‧‧‧反射鏡
104e‧‧‧第一濾光鏡
104f‧‧‧反射鏡

Claims (10)

  1. 一種生化檢測系統，至少包含：一光源模組包含：一鹵素光源，分別通過第一光源通路及第二光源通路並經第一分光鏡匯集後用以檢測一待檢測樣本；該第一光源通路包含複數反射鏡及一第一濾光鏡，該第一濾光鏡用以衰減該鹵素光源中橘紅色波段的光源；以及該第二光源通路包含一第二濾光鏡，該第二濾光鏡係用以衰減該鹵素光源中除紫外光波段以外的光源；以及一光譜分析儀，用以分析穿越該待檢測樣本後的光線。
  2. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該些反射鏡為波長介於300奈米與800奈米之間的反射鏡。
  3. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該第一濾光鏡位於該第一光源通路上的該鹵素光源和該第一分光鏡之間。
  4. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該第二濾光鏡位於該第二光源通路上的該第一分光鏡和該鹵素光源之間。
  5. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該橘紅色波段的光源為該鹵素光源中波長550奈米以上的光源。
  6. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該第二濾光鏡係用以衰減該鹵素光源中除波長320~400奈米以外的光源。
  7. 如請求項1所述之生化檢測系統，更包含第二分光鏡，該第二分光鏡用以分配該鹵素光源至該第一光源通路及該第二光源通路。
  8. 如請求項7所述之生化檢測系統，其中該第一濾光鏡位於該第一光路上的該第一分光鏡與該第二分光鏡之間。
  9. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中該光譜分析儀包含：一入射狹縫，用以接收該穿越該待檢測樣本後的光線；一聚焦色散元件，用以空間色散展開穿過該入射狹縫的光線；以及一感光二極體陣列，用以感測經該聚焦色散元件展開後的光線。
  10. 如請求項1所述之生化檢測系統，其中其中該光譜分析儀包含：一入射狹縫，用以接收該穿越該待檢測樣本後的光線；一平行光鏡，用以反射穿越該入射狹縫之光線；一色散元件，用以展開經該平行光鏡反射後的光線；一感光二極體陣列，用以感測經該色散元件展開後的光線；以及一聚光鏡，用以將經該色散元件展開後的光線聚焦於感光二極體陣列。
TW101143099A 2012-06-11 2012-11-19 生化檢測系統 TWI470202B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2012/076727 WO2013185282A1 (zh) 2012-06-11 2012-06-11 生化检测系统及其光源模块

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201350824A true TW201350824A (zh) 2013-12-16
TWI470202B TWI470202B (zh) 2015-01-21

Family

ID=49757404

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101143099A TWI470202B (zh) 2012-06-11 2012-11-19 生化檢測系統

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20150049328A1 (zh)
CN (1) CN203719767U (zh)
DE (1) DE112012006501B4 (zh)
TW (1) TWI470202B (zh)
WO (1) WO2013185282A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109406411B (zh) * 2017-08-15 2022-02-15 台湾超微光学股份有限公司 光源装置
CN113008814A (zh) * 2021-02-22 2021-06-22 山东省科学院海洋仪器仪表研究所 一种利用双激光器进行水汽浓度检测的装置及方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3666362A (en) * 1970-12-22 1972-05-30 Johnson Research Foundation Me Dual wavelength spectrophotometry
US3676005A (en) * 1971-03-17 1972-07-11 Britton Chance Rapid-scanning dual wavelength spectrophotometer
JPS5291483A (en) * 1976-01-28 1977-08-01 Hitachi Ltd Multi-component analyzer
JPS5352180A (en) * 1976-10-22 1978-05-12 Hitachi Ltd Two light beams spectrophotometer
DE3604815A1 (de) * 1986-02-15 1987-08-20 Zeiss Carl Fa Mikroskopphotometer
US4795256A (en) * 1987-03-09 1989-01-03 Photon Technology International, Inc. Dual-wavelength spectrophotometry system
US5243460A (en) * 1991-11-08 1993-09-07 Elliot Kornberg Light filtering system for creating perception of stereoscopic images from two-dimensional images and enhancing perception of objects
JPH0915156A (ja) * 1995-06-28 1997-01-17 Kdk Corp 分光測定方法及び測定装置
US6119031A (en) * 1996-11-21 2000-09-12 Boston Scientific Corporation Miniature spectrometer
US6710363B1 (en) * 2000-11-27 2004-03-23 Uview Ultraviolet Systems, Inc. Detection lamp equipped with light-emitting diode
DE10136192C1 (de) * 2001-07-25 2003-04-24 Wolf Gmbh Richard Vorrichtung zur bildgebenden und spektroskopischen Diagnose von Gewebe
CN1131421C (zh) * 2001-10-12 2003-12-17 周向前 微型双光谱检测生化分析仪
DE10231667A1 (de) * 2002-07-12 2004-01-22 Olympus Biosystems Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und optische Objektuntersuchungseinrichtung
JP3912228B2 (ja) * 2002-08-30 2007-05-09 株式会社島津製作所 分析・計測用光源
EP1691189A3 (en) * 2005-02-14 2010-12-01 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) Photothermal conversion measurement apparatus, photothermal conversion measurement method, and sample cell
KR100798486B1 (ko) * 2006-03-29 2008-01-28 한국전기연구원 형광 진단 및 광역동치료를 위한 광원장치
JP5134862B2 (ja) * 2007-05-16 2013-01-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置
JP5453730B2 (ja) * 2008-04-18 2014-03-26 横河電機株式会社 分光器
CN201368878Y (zh) * 2009-01-23 2009-12-23 北京松上技术有限公司 用于全自动生化分析仪的改良型光谱仪
US9767342B2 (en) * 2009-05-22 2017-09-19 Affymetrix, Inc. Methods and devices for reading microarrays
JP5048795B2 (ja) * 2010-01-21 2012-10-17 浜松ホトニクス株式会社 分光装置
CN102175324B (zh) * 2011-01-26 2012-09-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪
CN202177452U (zh) * 2011-07-27 2012-03-28 杭州轻通博科自动化技术有限公司 采用卤钨灯滤光模拟的d65光源

Also Published As

Publication number Publication date
DE112012006501T5 (de) 2015-04-02
US20150049328A1 (en) 2015-02-19
CN203719767U (zh) 2014-07-16
DE112012006501B4 (de) 2016-04-28
WO2013185282A1 (zh) 2013-12-19
TWI470202B (zh) 2015-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1815196B (zh) 多通道荧光样本分析仪
US9151672B2 (en) Optical absorption spectrometry system including dichroic beam combiner and splitter
JP4536754B2 (ja) 分光光度計及び液体クロマトグラフィ
US20130301051A1 (en) Scattering light source multi-wavelength photometer
WO2008027929A3 (en) Spectroscope with vignetting reduction
CN107209102B (zh) 光学检测系统及其使用方法
CN111007054A (zh) 具有白光成像功能的拉曼光谱检测装置
CN102798621A (zh) 多片反射式紫外光诱导生物荧光检测系统
Kricka et al. 9 Optical Techniques
US20160061730A1 (en) Fluorescence detection apparatus, test substance detection apparatus, and fluorescence detection method
CN107250742A (zh) 多通道分光光度计以及多通道分光光度计用数据处理方法
TWI470202B (zh) 生化檢測系統
ES2911722T3 (es) Espectrofotómetro
US9086377B2 (en) Optical system for fluorescence detection and fine particle analyzing apparatus
US20160234904A1 (en) Optical analyzer
KR20150116999A (ko) 다채널 여기 광원 스위칭용 마이크로 라만 및 형광 분광분석장치
US10451479B2 (en) Multichannel ultra-sensitive optical spectroscopic detection
TWI454684B (zh) 生化檢測系統及其光源模組
US8994941B2 (en) Optical system, apparatus and method for performing flow cytometry
US20190154505A1 (en) Spectrometric measuring device
CN103528970A (zh) 便携式近红外分析仪中的光路系统
CN212059104U (zh) 一种宽光谱高灵敏度拉曼光谱仪
JP2023500314A (ja) 光学撮像システム
CN207181290U (zh) 一种基于dlp技术的光谱系统
US9658154B2 (en) Spectrometer and gas analyzer