JP2018205007A - 回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体 - Google Patents
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Abstract
【課題】 物理量測定装置の異常を適切に検出する回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体等の提供。
【解決手段】 回路装置100は、物理量測定装置に用いられる回路装置であって、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQに基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路60と、検出回路60の出力信号に基づく処理を行う処理回路100を含む。処理回路100は、検出回路60で発生するフロアノイズの指標情報を出力信号に基づいて求め、指標情報に基づいて物理量測定装置の異常検出を行う。
【選択図】 図1
【解決手段】 回路装置100は、物理量測定装置に用いられる回路装置であって、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQに基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路60と、検出回路60の出力信号に基づく処理を行う処理回路100を含む。処理回路100は、検出回路60で発生するフロアノイズの指標情報を出力信号に基づいて求め、指標情報に基づいて物理量測定装置の異常検出を行う。
【選択図】 図1
Description
本発明は、回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体等に関する。
デジタルカメラ、スマートフォン等の電子機器や車、飛行機等の移動体には、外的な要因で変化する物理量を検出するための物理量測定装置が組み込まれている。例えば、角速度を検出するジャイロセンサーは、いわゆる手振れ補正、姿勢制御、GPS自律航法などに用いられている。
手振れ補正、姿勢制御等の処理を適切に行うためには、物理量測定装置の異常を検出することが重要である。物理量測定装置に異常が発生している場合、測定される物理量が本来の値(ジャイロセンサーであれば本来の角速度)と乖離してしまい、適切な処理を実行できないためである。
例えば特許文献1では、振動子(物理量トランスデューサー)のチューニングにおいて自己振動成分を0からずらすチューニングを行い、抽出された自己振動成分が減少した時に故障と判断する手法が開示されている。
また特許文献2では、入力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターを用いることで、ジャイロセンサーでのDCオフセット(ゼロ点の誤差)を低減する手法が開示されている。DCオフセットを低減することで、角度の検出誤差を低減し、手振れ補正等の処理を精度よく行うことが可能になる。
物理量測定装置では、物理量トランスデューサーと検出回路との間の接続異常が発生する場合がある。例えば、ジャイロセンサーにおいて、センサー検出電極と検出回路のパッドの少なくとも一方が断線するという故障モードが考えられる。この故障モードでは、センサー信号(検出信号)が全く検出できなくなる訳ではなく、感度異常、ゼロ点変動などの現象を引き起こすに過ぎない。例えば、ジャイロセンサーで検出される角速度が小さくなった場合に、実際に回転が小さい(遅い)のか、上記故障モードとなっているのかを判別することが容易でない。
特許文献1の手法において、上記故障モード(接続異常)を検知するには、自己振動成分(漏れ振動成分)の設定とその検出が必要となり、物理量検出回路の他に、同期検波回路、増幅器、積分回路等を含む自己振動成分抽出回路が設けられている。そのため、検出素子および物理量検出回路に問題がない場合であっても、この自己振動成分抽出回路の内部で異常が発生した場合は故障と判断されてしまう課題がある。また特許文献2の手法は、ジャイロセンサーの検出精度向上を図るものであって、異常検出を行うものではない。
本発明は、上記の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は態様として実現することが可能である。
本発明の一態様は、物理量測定装置に用いられる回路装置であって、物理量トランスデューサーからの検出信号に基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路と、前記検出回路の出力信号に基づく処理を行う処理回路と、を含み、前記処理回路は、前記検出回路で発生するフロアノイズの指標情報を前記出力信号に基づいて求め、前記指標情報に基づいて前記物理量測定装置の異常検出を行う回路装置に関係する。
本発明の一態様では、処理回路は、検出回路で発生するフロアノイズの指標情報に基づいて、物理量測定装置の異常検出を行う。このようにすれば、物理量トランスデューサーから検出回路に亘る信号処理経路における異常であって、検出信号の信号レベル判定等では検出が容易でない接続異常を適切に検出することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記処理回路は、前記物理量トランスデューサーと前記検出回路との接続の前記異常検出を、前記指標情報に基づいて行ってもよい。
このようにすれば、物理量トランスデューサーと検出回路の接続異常を適切に検出することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記処理回路は、前記フロアノイズの前記指標情報である指標値と閾値とを比較して、前記異常検出を行う異常検出部を含んでもよい。
このようにすれば、フロアノイズの指標値を用いた閾値判定により異常を検出することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記検出回路は、前記検出信号が入力される増幅回路を含み、前記フロアノイズは、前記増幅回路で発生するフロアノイズを含んでもよい。
このようにすれば、増幅回路で発生するフロアノイズの指標情報に基づいて、異常検出を行うこと等が可能になる。
また本発明の一態様では、前記増幅回路は、Q/V変換回路又はI/V変換回路であってもよい。
このようにすれば、Q/V変換回路又はI/V変換回路を増幅回路として用いる場合に、異常検出を適切に行うこと等が可能になる。
また本発明の一態様では、前記処理回路は、前記フロアノイズの前記指標情報を検出するフロアノイズ検出回路を含み、前記フロアノイズ検出回路は、前記フロアノイズの実効値を求める演算回路を有してもよい。
このようにすれば、フロアノイズの指標情報として、フロアノイズの実効値を求めることが可能になる。
また本発明の一態様では、前記フロアノイズ検出回路は、前記検出回路の前記出力信号に対してフィルター処理を行うハイパスフィルターと、前記演算回路を有し、前記演算回路は、前記フィルター処理後の信号に対して二乗演算を行う二乗演算処理部又は前記フィルター処理後の信号に対して絶対値演算を行う絶対値演算処理部と、前記二乗演算処理部又は前記絶対値演算処理部の出力を平滑化する平滑化回路と、を有してもよい。
このようにすれば、フロアノイズ検出回路を適切な構成により実現することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記処理回路は、観測ノイズ及びシステムノイズに基づいてカルマンフィルター処理を行って、前記検出回路の前記出力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターを含み、前記フロアノイズの前記指標情報は、前記カルマンフィルターが出力する誤差共分散であってもよい。
このようにすれば、出力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターを用いて、フロアノイズの指標値を求めることが可能になる。
また本発明の一態様では、前記処理回路は、観測ノイズ及びシステムノイズに基づいてカルマンフィルター処理を行って、前記検出回路の前記出力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターと、前記検出回路の前記出力信号に基づいて、前記指標情報を求めるノイズ推定部と、を含み、前記ノイズ推定部は、前記指標情報に基づいて前記観測ノイズ及び前記システムノイズを推定し、前記観測ノイズ及び前記システムノイズを前記カルマンフィルターに出力してもよい。
このようにすれば、カルマンフィルターで用いる観測ノイズ及びシステムノイズを動的に変更するためのノイズ推定部により、フロアノイズの指標値を求めることが可能になる。
また本発明の他の態様は、上記に記載の回路装置と、前記物理量トランスデューサーと、を含む物理量測定装置に関係する。
また本発明の他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む電子機器に関係する。
また本発明の他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む移動体に関係する。
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
1.本実施形態の手法
図1は本実施形態の回路装置300(集積回路装置、検出装置)の構成例である。図1に示すように、本実施形態の回路装置300は、物理量測定装置に用いられる回路装置であって、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQに基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路60と、検出回路60の出力信号(処理装置100の入力信号PI)に基づく処理を行う処理回路100を含む。
図1は本実施形態の回路装置300(集積回路装置、検出装置)の構成例である。図1に示すように、本実施形態の回路装置300は、物理量測定装置に用いられる回路装置であって、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQに基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路60と、検出回路60の出力信号(処理装置100の入力信号PI)に基づく処理を行う処理回路100を含む。
上述したように、物理量測定装置の異常には、検出信号TQの感度やゼロ点が正常状態と異なる状態となる異常であって、検出信号TQが検出できない状態にはならないものが考えられる。その場合、入力信号PIの値(例えば振幅レベル)を単純に監視したとしても、異常の検出は困難である。なぜなら、入力信号PIが所定の信号レベルになったときに、そのような入力があった(例えばジャイロセンサーにおいて当該信号レベルに対応する角速度の回転があった)のか、異常によるものかを判別できないためである。
そこで本実施形態では、処理回路100は、検出回路60で発生するフロアノイズの指標情報を、検出回路60の出力信号に基づいて求め、指標情報に基づいて物理量測定装置の異常検出を行う。
ここで、フロアノイズとは、検出回路60において発生するノイズを表し、例えばサーマルノイズや1/fノイズ等である。具体的には、検出回路60は、図15に示すように検出信号TQ(図15の例では差動信号であるIQ1,IQ2)が入力される増幅回路64を含み、フロアノイズは、増幅回路64で発生するフロアノイズを含んでもよい。フロアノイズは、回路の設計や使用時の温度、信号の周波数等に応じて変動する可能性はあるが、一定のレベル(振幅)を有するものである。以下、フロアノイズに基づいて異常検出が可能である理由について説明する。
図2は、増幅回路64の構成例である。増幅回路64は、オペアンプOPと、抵抗RfとキャパシターCfを含む。オペアンプOPの反転入力端子には、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQが入力される。非反転入力端子には、低電位側電源(狭義にはグラウンド)が供給される。また、抵抗Rf及びキャパシターCfは、オペアンプOPの出力端子と反転入力端子との間に並列に設けられる。即ち、抵抗Rf及びキャパシターCfは、帰還抵抗及び帰還容量である。
図3は、検出回路60と物理量トランスデューサー12が接続された状態での、増幅回路64の構成例である。物理量トランスデューサー12が接続された状態では、増幅回路64の入力側からは、物理量トランスデューサー12による寄生容量Cpが接続されているようにみえる。具体的には、図3に示したように、増幅回路64の入力と低電位側電源(グラウンド)との間に、寄生容量Cpが接続された状態を考えればよい。
増幅回路64では、回路全体でのノイズが入力箇所(図3のNin)で発生したものと仮定し(入力換算ノイズ)、当該入力換算ノイズがノイズ伝達関数NTF(ノイズゲイン)により増幅されるものとするモデルが広く用いられる。図3の例ではノイズ伝達関数NTFは、下式(1)により表される。
図4及び図5は、上式(1)に示したノイズ伝達関数NTFの周波数特性を表す図である。図4、図5の横軸は周波数、縦軸はゲイン(増幅率、単位dB)を表す。図4は、Rf=100MΩ、Cf=1pF、Cp=2pFの例である。また図5は、Rf=100MΩ、Cf=1pF、Cp=1pFの例である。
図4及び図5からわかるように、Rf及びCfの値が共通であっても(同じ増幅回路64であっても)、寄生容量Cpの値が変化すれば、ノイズ伝達関数NTFが変化する。つまり、増幅回路64の入力換算ノイズのレベルが同程度であっても、寄生容量Cpの値が変化すれば、増幅回路64のフロアノイズ(検出回路60のフロアノイズ)が変化することになる。
ここで、物理量トランスデューサー12と検出回路60が正常に接続されていれば、検出回路60から見える寄生容量Cpの値は大きく変化せず、設計により決まる所定値に十分近いと考えられる。それに対して、物理量トランスデューサー12と検出回路60(回路装置300)との接続信号線が断線状態になるなど、接続異常が発生した場合に、寄生容量Cpの値が小さくなる(狭義には、物理量トランスデューサー12による寄生容量Cpが検出回路60から見えなくなる)。接続異常は、例えばワイヤーボンディングによりセンサー検出電極と検出回路のパッドを電気的に接続した場合において、検出電極とワイヤーの接合面積、及びパッドとワイヤーの接合面積の少なくとも一方が狭くなる(ワイヤーが剥離する)ことで生じる。
本来、フロアノイズとはある一定レベルで発生してしまうものであって、当該レベルより小さくなることは想定されない。しかし異常発生時には、寄生容量Cpの低下により、フロアノイズのレベルが、正常状態でのフロアノイズのレベルに比べて識別可能な程度に小さくなる。よって本実施形態の回路装置300(処理回路100)は、フロアノイズの指標値を求め、当該指標値を用いて、フロアノイズのレベルを判定する。処理回路100は、フロアノイズのレベルが正常状態に比べて小さくなっている場合に、異常が発生していると判定する。
以上のように、本実施形態の処理回路100は、物理量トランスデューサー12と検出回路60との接続の異常検出を、フロアノイズの指標情報に基づいて行う。入力信号PIの信号レベルを単純に用いた手法では検出が困難な接続異常についても、フロアノイズの指標情報を用いることで、適切に検出することが可能になる。
図6は、入力信号PI及びフロアノイズの指標情報(実効値)の時間変化を表す波形図である。図6の横軸が時間を表し、縦軸が信号値を表す。図6の例では、A1に示すタイミングにおいて、物理量トランスデューサー12と検出回路60との間で接続異常が発生した。
上述したように、検出回路60の入力信号PIは、接続異常の発生によりゼロ点や感度が変化してしまうが、信号値自体が0にならないケースも考えられる。図6では、A1のタイミング以降の期間においても、入力信号PIとして0でない信号が検出されており、入力信号PIの単純な監視では接続異常の検出が困難である。
それに対して、フロアノイズの指標情報(実効値)は、A1のタイミング以前ではある一定レベル付近の値を維持していたものが、接続異常の発生により、その値が明確に減少する。よって、図6のように、正常状態(A1以前)でのフロアノイズ実効値と、接続異常時(A1の後であって、特にフロアノイズ実効値が安定した後の期間)でのフロアノイズの実効値との間の値を閾値として設定しておく。そして、処理回路100は、フロアノイズの指標情報(実効値)と当該閾値を比較することで、接続異常の検出を行う。図6の例では、処理回路100はA2のタイミングにおいて接続異常を表す情報(例えば異常フラグ)を出力する。
また、本実施形態の増幅回路64の構成は図2には限定されない。本実施形態の増幅回路64は、寄生容量Cpに応じてノイズゲインが変化する構成の増幅回路を広く適用可能である。
図7は増幅回路64の他の構成例である。図7に示すように増幅回路64は、差動入力(及び差動出力)の増幅回路であってもよい。より広義には、本実施形態の増幅回路64は、Q/V変換回路(電荷電圧変換回路)又はI/V変換回路(電流電圧変換回路)である。
2.フロアノイズの指標情報の算出手法
処理回路100において、検出回路60のフロアノイズの指標情報を求める(フロアノイズを推定する)手法はいくつか考えられる。以下、第1〜第3の実施形態について説明する。
処理回路100において、検出回路60のフロアノイズの指標情報を求める(フロアノイズを推定する)手法はいくつか考えられる。以下、第1〜第3の実施形態について説明する。
2.1 第1の実施形態
図8は第1の実施形態に係る処理回路100の構成例である。図8に示すように、処理回路100は、フロアノイズの実効値を求める演算回路132を有し、フロアノイズの指標情報を検出するフロアノイズ検出回路130を含む。ここでの実効値とは、広く用いられるRMS(root mean square,二乗平均の平方根)であってもよいが、これには限定されずRMSに相当する他の情報であってもよい。なお、本実施形態は図8の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
図8は第1の実施形態に係る処理回路100の構成例である。図8に示すように、処理回路100は、フロアノイズの実効値を求める演算回路132を有し、フロアノイズの指標情報を検出するフロアノイズ検出回路130を含む。ここでの実効値とは、広く用いられるRMS(root mean square,二乗平均の平方根)であってもよいが、これには限定されずRMSに相当する他の情報であってもよい。なお、本実施形態は図8の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
図8に示すように、フロアノイズ検出回路130は、ハイパスフィルター131と、演算回路132を有してもよい。そして演算回路132は、二乗演算処理部133と、二乗演算処理部133の出力を平滑化する平滑化回路134と、を有する。
ハイパスフィルター131は、検出回路60の出力信号(入力信号PI)に対するフィルター処理(ハイパスフィルター処理)を行い、出力信号からDC成分を除去する。二乗演算処理部133は、DC成分除去後の信号を二乗する。平滑化回路134は、二乗演算処理部133により二乗された信号を平滑化し、二乗平均を求める。この二乗平均により信号のノイズ成分が抽出される。平滑化回路134は、例えばローパスフィルターにより実現できる。平滑化回路134からは、フロアノイズの実効値(フロアノイズの分散)が出力される。
ただし、演算回路132はフロアノイズの実効値を求めればよい。実効値は、入力信号PIが二乗演算処理された信号の信号レベルに限定されず、信号値の大きさを表す他の値であってもよい。信号値の大きさは、信号に基づいて生成される正の値であり、例えば信号値の絶対値や、信号値の二乗や、信号のピークトゥーピーク値や、所定時間内での信号の最大値と最小値との差分等である。或いは、それらに対して何らかの演算(例えばゲイン処理等)を行って得られる値であってもよい。
例えば演算回路132は、絶対値演算処理部と、絶対値演算処理部の出力を平滑化する平滑化回路134と、を有してもよい。この場合、平滑化回路134からはフロアノイズの絶対値の平均に相当する情報が出力される。
以上のように、フロアノイズ検出回路130を用いることで、フロアノイズのレベルを表す指標情報(分散、絶対値平均等)が求められる。処理回路100は、フロアノイズの指標情報である指標値と閾値とを比較し、異常検出を行う異常検出部170を含む。ここでの閾値は、正常状態でのフロアノイズの指標値と、異常状態でのフロアノイズの指標値とを識別可能な値である。フロアノイズのノイズレベルが高いほど指標値が大きくなる例であれば、異常検出部170は、指標情報により表される指標値が閾値より小さい場合に、異常が発生したと判定する。
2.2 第2の実施形態
図9は、第2の実施形態に係る処理回路100の構成例である。処理回路100は、カルマンフィルター120と、異常検出部170と、監視部180を含む。なお、本実施形態は図9の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。例えば、監視部180を省略し、広く知られた構成のカルマンフィルター120を用いてもよい。
図9は、第2の実施形態に係る処理回路100の構成例である。処理回路100は、カルマンフィルター120と、異常検出部170と、監視部180を含む。なお、本実施形態は図9の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。例えば、監視部180を省略し、広く知られた構成のカルマンフィルター120を用いてもよい。
カルマンフィルター120は、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysに基づいてカルマンフィルター処理を行って、入力信号PIのDC成分DCQを推定値として出力する。またカルマンフィルター120は、推定値の誤差共分散Vc2を、異常検出部170に出力する。
カルマンフィルター120により推定された入力信号PIのDC成分DCQを用いることで、DCオフセット(ゼロ点の誤差)を低減できる。例えば、処理回路100は、推定されたDC成分DCQを、入力信号PIから減算する処理を行えばよい。
ここで、カルマンフィルター処理とは、観測値及びシステムの状態を表す変数にノイズ(誤差)が含まれると仮定し、過去から現在までに取得した観測値を用いてシステムの最適な状態を推定する処理である。本実施形態の場合、観測値は入力信号PIであり、推定する変数はDC成分DCQである。カルマンフィルター処理では、観測更新(観測過程)と時間更新(予測過程)を繰り返し行って状態を推定する。観測更新は、観測値と時間更新の結果を用いてカルマンゲイン、推定値、誤差共分散を更新する過程である。時間更新は、観測更新の結果を用いて、次の時刻での推定値、誤差共分散を予測する過程である。
観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysとしては、例えば予め見積もられた所定の値を用いる。この場合、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsys(或いは、それらの分散σmeas 2、σsys 2)は、例えばレジスターやメモリー等に記憶され、カルマンフィルター120がレジスターやメモリーから観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを読み出す。或いは、第3の実施形態で後述するように、処理回路100が、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを動的に変化させるノイズ推定部110を含んでもよい。この場合、ノイズ推定部110からカルマンフィルター120に観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysが供給される。
カルマンフィルター120が推定(抽出)するDC成分DCQは、入力信号PIから取り出したい所望の信号成分よりも周波数が低い成分である。例えばジャイロセンサーでは、入力信号PI(物理量信号)にはオフセットが含まれており、そのオフセットを基準とする変化が実際の信号成分となる。この信号成分の周波数は、ジャイロセンサーが検出した動きの周波数に対応している。オフセットは温度変化等によって時間的に変動するため周波数ゼロではないが、動きの周波数に比べれば低い周波数である。
誤差共分散Vc2は、推定値(DC成分DCQ)がどの程度信用できるかをカルマンフィルター120が推定したものである。真値に近い推定値が得られていると判断されているほど、誤差共分散Vc2が小さくなる。即ち、誤差共分散Vc2が十分小さくなった(所定値に収束した)場合とは、DC成分の推定精度が十分高くなっている状態を表す。入力信号PIに含まれるフロアノイズが小さくなれば、DC成分の推定精度も高くなり、誤差共分散Vc2はさらに小さくなる。つまり、誤差共分散Vc2は、フロアノイズが小さくなった場合に連動して小さくなる情報であるため、フロアノイズの指標情報として利用可能である。
異常検出部170は、カルマンフィルター120からの誤差共分散Vc2の値と、所与の閾値の比較処理に基づいて異常検出を行う。なお、誤差共分散Vc2はフロアノイズの値そのものになるとは限らないため、ここでの閾値はその点を考慮して設定するとよい。
なお特許文献2では、入力信号の信号レベルが所定範囲を超えたか否かを判断し、カルマンフィルターは、所定範囲を超えたと判断された場合に誤差共分散の時間更新を停止する。本実施形態のカルマンフィルター120は、特許文献2と同様の構成であってもよい。
しかし特許文献2の手法では、カルマンフィルターの推定動作の有効と無効を切り替える閾値設定が固定である。そのため、固定の閾値よりも小さい入力(例えばジャイロセンサーにおける微小な角速度の回転)があった場合に、カルマンフィルターの推定動作が停止せず、推定値が入力に追従してしまうおそれがある。そうすると、DC成分の真値に対して推定値の正確性或いは安定性が低下するおそれがある。
よって本実施形態の処理回路100は、図9に示したように監視部180を含んでもよい。監視部180は、入力信号PIに対応する信号レベルに対する、誤差共分散Vc2に基づく判定処理の結果に基づいて、カルマンフィルター120での観測更新処理の停止指示を行う。このようにすれば、観測更新処理の停止指示を行う信号レベルを、誤差共分散Vc2に応じて適応的に変化させることが可能になる。例えば、固定の閾値ではなく、誤差共分散Vc2に応じて変化する閾値を設定することが可能になる。
図10は、本実施形態の信号処理装置の動作を模式的に示したタイミングチャートである。観測値である入力信号PIにはノイズが含まれている。カルマンフィルター120は、このノイズが含まれた入力信号PIから真値(真のゼロ点)を推定し、その推定値をDC成分DCQとして出力する。またカルマンフィルター120は、推定値の確からしさを誤差共分散Vc2として推定している。図10では、誤差共分散の平方根である誤差推定値Vc(偏差)を図示している。また図10では、誤差推定値Vcを範囲で図示しているが、この範囲の上限が+Vcに相当し、下限が−Vcに相当している。カルマンフィルター120は、推定値(DC成分DCQ)を中心とし且つ誤差推定値Vcを偏差とする分布内に真値が存在すると推定している。
監視部180は、誤差推定値Vcに応じて観測更新処理の停止判定に用いる閾値Vthを設定する。具体的には、誤差推定値Vcが小さいほど、閾値Vthを小さくする。例えば、図12で後述するように、誤差共分散Vc2を変数とする一次関数により閾値の二乗Vth2を求める。監視部180は、入力信号PIが−Vth〜+Vthの範囲外となった場合に、停止フラグFLOVを非アクティブ(第1論理レベル、ローレベル)からアクティブ(第2論理レベル、ハイレベル)にする。図10には、入力信号PIが+Vthを超えた場合に、停止フラグFLOVをアクティブにする例を図示している。停止フラグFLOVをアクティブにすることが観測更新処理の停止指示に相当しており、カルマンフィルター120は、停止フラグFLOVがアクティブの間、観測更新処理を停止する。
2.3 第3の実施形態
図11は、第3の実施形態に係る処理回路100の構成例である。図11では、図9の構成と比較した場合、処理回路100がノイズ推定部110を更に含む。なお、図9で説明した構成要素には同一の符号を付し、適宜説明を省略する。また、本実施形態は図11の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
図11は、第3の実施形態に係る処理回路100の構成例である。図11では、図9の構成と比較した場合、処理回路100がノイズ推定部110を更に含む。なお、図9で説明した構成要素には同一の符号を付し、適宜説明を省略する。また、本実施形態は図11の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
ノイズ推定部110は、入力信号PI(入力データ)に応じて動的に変化する観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを推定する。具体的には、ノイズ推定部110は、入力信号PIから観測ノイズの分散σmeas 2及びシステムノイズの分散σsys 2を生成し、入力信号PIの信号値或はその変化に応じて観測ノイズの分散σmeas 2及びシステムノイズの分散σsys 2を変化させる。ノイズ推定部110は、推定した観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysをカルマンフィルター120に出力する。
カルマンフィルター120は、ノイズ推定部110により推定された観測ノイズの分散σmeas 2及びシステムノイズの分散σsys 2に基づいてカルマンフィルター処理を行って、入力信号PIのDC成分DCQを抽出する。
一般的なカルマンフィルターでは、誤差共分散の初期値及びシステムノイズを既知のものとして予め与えておく。誤差共分散は観測更新や時間更新により値が更新されていく。このように、一般的なカルマンフィルターでは、更新の繰り返しの途中で新たに観測ノイズやシステムノイズが外部から与えられるものではない。
一方、本実施形態では観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを動的に変化させ、カルマンフィルター120に外部から供給する。下式(2)〜(6)で後述するように、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysはカルマンゲインg(k)等の内部変数に影響を与える。即ち、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを制御することでカルマンフィルター120のフィルター特性を適応的に制御できることを意味している。本実施形態では、これを利用することで、入力信号PI(ジャイロセンサーの物理量信号)のDC成分が変化していないときには通過帯域を低周波数にしておき、信号成分の通過帯域を低周波側に広げることができる。また、DC成分が変化したときには観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを変化させて通過帯域を広げ、DC成分の変化に追従させることができる。このようにして、入力信号PIの変化に対する過渡応答性や、DC成分の変化に対する追従性を向上できる。
図12を用いて後述するように、ノイズ推定部110は、図8に示したフロアノイズ検出回路130と同様の構成である第2の推定部150を含み、第2の推定部150の出力であるVn2に基づいて、観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysを推定する。第2の推定部150の出力Vn2はフロアノイズの指標値として利用可能である。即ち、本実施形態の処理回路100では、カルマンフィルター120の過渡応答性や追従性を向上させるための構成を、フロアノイズの推定に利用できる。言い換えれば、本実施形態のノイズ推定部110により、カルマンフィルター120の特性改善と、異常検出のための指標情報算出の2つの処理を実現することが可能である。
以下、カルマンフィルター処理の詳細を説明する。カルマンフィルター120は、下式(2)〜(6)に示す一次の線形カルマンフィルター処理を行う。
上式(2)、(3)は時間更新(予測過程)の式であり、上式(4)〜(6)は観測更新(観測過程)の式である。kは離散的な時間を表し、kが1つ進む度に時間更新及び観測更新が1回行われる。x(k)はカルマンフィルター120の推定値である。即ちDCQ=x(k)である。x-(k)は観測値を得る前に予測した事前推定値である。P(k)はカルマンフィルター120の誤差共分散である。即ち、Vc2=P(k)である。P-(k)は観測値を得る前に予測した誤差共分散である。y(k)は観測値である。即ち、PI=y(k)である。σsys(k)はシステムノイズであり、σmeas(k)は観測ノイズである。
カルマンフィルター120は、1つ前の時間k−1に更新した推定値x(k−1)と誤差共分散P(k−1)を記憶している。そして、現在の時間kにおいて観測値y(k)と観測ノイズσmeas(k)とシステムノイズσsys(k)を受付け、それらを用いて上式(2)〜(6)の時間更新及び観測更新を実行し、推定値x(k)をDC成分として出力する。
観測更新処理の停止は、推定値及び誤差共分散の少なくとも一方の更新停止である。推定値の更新停止は、上式(5)による更新を停止することである。例えば、上式(5)の右辺の演算結果をレジスターに格納することが、推定値の更新に相当する。このレジスターへの格納を停止することで、推定値の更新停止を行う。或いは、上式(5)の右辺の演算を停止することで、推定値の更新停止を行ってもよい。誤差共分散の更新停止は、上式(6)による更新を停止することである。
2.4 変形例
なお、フロアノイズの指標情報を求める手法は上記の第1〜第3の実施形態で説明したものに限定されない。
なお、フロアノイズの指標情報を求める手法は上記の第1〜第3の実施形態で説明したものに限定されない。
例えば、第3の実施形態では、ノイズ推定部110の出力であるVn2をフロアノイズの指標情報(指標値)とする例を示したが、第2の実施形態と同様に、カルマンフィルター120の出力する誤差共分散Vc2をフロアノイズの指標情報としてもよい。或いは異常検出部170は、Vn2を第1の指標情報とし、誤差共分散Vc2を第2の指標情報として、その両方を用いて異常検出を行ってもよい。或いは、異常検出部170は、2つの指標情報を取得可能な構成であって、選択された一方を異常検出に利用してもよい。
また、第1の実施形態と第2の実施形態を組み合わせることも可能である。例えば処理回路100は、図8に示したフロアノイズ検出回路130と、図9に示したカルマンフィルター120(観測ノイズσmeas及びシステムノイズσsysが固定のカルマンフィルター)を含んでもよい。そして異常検出部170は、フロアノイズ検出回路130からの第1の指標値と、カルマンフィルター120の誤差共分散Vc2である第2の指標値とを用いて異常検出を行う。
3.処理回路の詳細な構成例
図12は、上記第3の実施形態における処理回路100の詳細な構成例である。処理回路100は、カルマンフィルター120、第1の推定部140、第2の推定部150、第3の推定部160、監視部180、異常検出部170、減算処理部121、セレクター122、ゲイン処理部115、加算処理部167を含む。第1の推定部140、第2の推定部150、第3の推定部160、ゲイン処理部115、加算処理部167が、図11のノイズ推定部110に対応している。なお、処理回路100の構成は図12に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
図12は、上記第3の実施形態における処理回路100の詳細な構成例である。処理回路100は、カルマンフィルター120、第1の推定部140、第2の推定部150、第3の推定部160、監視部180、異常検出部170、減算処理部121、セレクター122、ゲイン処理部115、加算処理部167を含む。第1の推定部140、第2の推定部150、第3の推定部160、ゲイン処理部115、加算処理部167が、図11のノイズ推定部110に対応している。なお、処理回路100の構成は図12に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
セレクター122は、カルマンフィルター120が推定したDC成分DCQ、又はデータ「0」のいずれかを選択する。減算処理部121は、入力信号PIからセレクター122の出力を減算し、その結果を信号PQとして出力する。セレクター122がDC成分DCQを選択した場合、PQ=PI−DCQであり、セレクター122がデータ「0」を選択した場合、PQ=PIである。なお、セレクター122を省略し、DC成分DCQを直接、減算処理部121に入力してもよい。或いは、セレクター122及び減算処理部121を省略し、入力信号PIを直接、信号PQとして用いてもよい。
監視部180は、ゲイン処理部181、オフセット加算処理部182、コンパレーター183を含む。ゲイン処理部181は、誤差共分散Vc2をゲイン処理する。オフセット加算処理部182は、ゲイン処理部181の出力にオフセットVOSを加算処理する。コンパレーター183は、信号PQの信号レベルとオフセット加算処理部182の出力とを比較する処理を、誤差共分散Vc2に基づく判定処理として行う。
具体的には、ゲイン処理部181は、誤差共分散Vc2にゲインGA3を乗算する。オフセット加算処理部182の出力は閾値Vthの二乗(Vth2)に対応しており、下式(7)となる。コンパレーター183は、信号PQの二乗(PQ2)と閾値Vthの二乗(Vth2)を比較し、信号PQの二乗(PQ2)が閾値Vthの二乗(Vth2)より大きい場合にアクティブの停止フラグFLOVを出力し、信号PQの二乗(PQ2)が閾値Vthの二乗(Vth2)より小さい場合に非アクティブの停止フラグFLOVを出力する。なお、下式(7)のゲインGA3、オフセットVOSの詳細は後述する。
本実施形態によれば、誤差共分散Vc2をゲイン処理し、その結果にオフセットVOSを加算処理することで、誤差共分散Vc2に応じて変化する閾値Vthを求めることができる。そして、信号PQの信号レベルとオフセット加算処理部182の出力とを比較することで、信号レベルが、誤差共分散Vc2に応じて変化する閾値Vthを超えたか否かを判定処理できる。また、誤差共分散Vc2の一次関数(ゲイン処理、オフセットの加算処理)により閾値Vthの二乗を求めるので、その一次関数により閾値Vthを調整できる。これにより、システムに適切な閾値Vthを設定できる。
第1の推定部140は、ジャイロセンサーの動き(入力信号PIの大きな変化)によるノイズを推定する。具体的には、第1の推定部140は、ハイパスフィルター141、二乗演算処理部142、ピークホールド部143、ゲイン処理部144、加算処理部145を含む。
ハイパスフィルター141は、信号PQからDC成分を除去する。後段で2乗平均を行うので、DC成分を除去しておくことで、DC成分が2乗されて観測ノイズσmeasの誤差となることを防止できる。二乗演算処理部142は、ハイパスフィルター141からの信号を二乗する。ピークホールド部143は、ハイパスフィルター141と二乗演算処理部142を通過したAC成分の信号を受けて、その信号をピークホールドする。ゲイン処理部144は、ピークホールド部143の出力にゲイン処理(ゲインGA4を乗じる処理)を行い、その結果を動きノイズVpp2(動きノイズの分散)として出力する。加算処理部145は、動きノイズVpp2と、第2の推定部150が生成するフロアノイズVn2とを加算し、その結果を観測ノイズの分散σmeas 2として出力する。
ジャイロセンサーが検出した動きが大きいほど、ピークホールド部143からの信号も大きくなるため、動きが大きいほど観測ノイズσmeasが増加する。観測ノイズσmeasを増加させると、上式(4)から分かるようにカルマンゲインg(k)が小さくなり、上式(5)から分かるように観測値y(k)のウエイトを下げて推定値x(k)を算出できる。これにより、動きのAC成分が大きいほど観測値y(k)の影響を低下させて、より精度の高いDC成分を抽出できる。
動きノイズVpp2から出力されるフロアノイズは、下式(8)で表される。Vnは入力信号PIのフロアノイズである。GA4はゲイン処理部のゲインであり、ピークホールド部143の影響度を調整する係数である。なお、ノイズの二乗信号をピークホールド処理することは、ある一定期間の最大値を出力することとなり、ノイズの二乗信号の平均値に対して実効的なゲインGpeakがかかる。ピークホールド部143は、入力信号をピークホールドしたのち、Gpeakで除算した信号を出力する。
第2の推定部150は、入力信号PIのフロアノイズを推定する。具体的には、第2の推定部150は、二乗演算処理部151、セレクター152、ローパスフィルター153、リミッター154を含む。
二乗演算処理部151は、信号PQを二乗する。セレクター152は、二乗演算処理部151の出力、又は第1の推定部140の二乗演算処理部142の出力を選択する。ローパスフィルター153は、二乗演算処理部151により二乗された信号をフィルタリング(平滑化)し、二乗平均を求める。この二乗平均により信号のノイズ成分が抽出される。リミッター154は、ローパスフィルター153からの信号に対してリミット処理を行う。具体的には、ローパスフィルター153からの信号が下限値以下である場合には出力を下限値にリミットし、ローパスフィルター153からの信号が下限値よりも大きい場合には、その信号をそのまま出力する。下限値は、想定される最小のフロアノイズよりも小さい値であり、例えば1digitである。その結果、リミッター154の出力からは、フロアノイズの指標値Vn2(フロアノイズの分散に相当する指標値)が出力される。
ゲイン処理部115は、第2の推定部150からのフロアノイズVn2に対して一定のゲインGA1を乗算し、加算処理部167に出力する。ゲインGA1は、下式(12)のように設定する。下式(12)の導出手法について以下に説明する。
まず、十分に時間が経過した状態での観測ノイズσmeasとシステムノイズσsysの関係を求める。十分に時間が経過した状態はk=∞の状況を想定すればよく、事前誤差共分散P-(k)が一定値に収束しているとすると、下式(9)が成り立つ。事前誤差共分散P-(k)の収束値をP0としている。
上式(3)、(6)に上式(9)を適用した式と、上式(4)に上式(9)を適用した式とを連立方程式としてカルマンゲインg(k)について解くと、下式(10)となる。下式(10)では、収束状態k=∞におけるカルマンゲインg(k)をgとしている。また右辺の近似では、カルマンフィルター120の収束状態では通過帯域が非常に低いためσsys<<σmeasが成り立つと仮定している。
上式(10)より、収束状態ではσsys 2=g2σmeas 2なので、ゲインGA1=g2である。DC成分を抽出するための所望のフィルター特性とカルマンゲインgとの関係が分かれば、その所望のフィルター特性が得られるようにゲインGA1を設定できる。
上式(2)、(5)より、時間が経過したときの最終的な伝達関数を求め、その伝達関数に双一次変換を適用し、その伝達関数に含まれるローパスフィルター特性のカットオフ周波数fcを求め、カルマンゲインgについて解くと、下式(11)となる。fsは、カルマンフィルター120のサンプリング周波数(動作周波数)である。下式(11)の右辺の近似では、fc<<fsとした。
上式(11)より、ゲインGA1=g2は下式(12)のように求まる。下式(12)において、収束状態で最終的に得たい所望のカットオフ周波数(ターゲットカットオフ周波数)をfcに設定する。
第3の推定部160は、温度変動によるゼロ点(DCオフセット)の変動を推定する。第3の推定部160は、温度変化があった場合にシステムノイズσsysを増加させ、カルマンフィルター120を収束状態から推定状態に戻す。具体的には、第3の推定部160は、遅延部161、減算処理部162、ローパスフィルター163、ゲイン処理部164、二乗演算処理部165、乗算処理部166、加算処理部167を含む。
遅延部161と減算処理部162は、温度センサー(例えば図14の温度センサー190)の時間kでの検出信号TSと1つ前の時間k−1での検出信号TSとの差分を求める。ローパスフィルター163は、その差分を平滑化する。
ゲイン処理部164は、ローパスフィルター163からの信号にゲインGA5を乗算する。二乗演算処理部165は、その乗算後の信号を2乗する。乗算処理部166は、その2乗後の信号と第2の推定部150からのフロアノイズの指標値Vn2とを乗算する。加算処理部167は、乗算処理部166の出力とゲイン処理部115の出力を加算し、その結果をシステムノイズの分散σsys 2としてカルマンフィルター120に出力する。
ゲインGA5は、下式(13)により設定される。TSENは、温度センサーの感度(digi/℃)であり、TCOEFFは、ジャイロセンサーの温度係数(dps/℃)であり、SENは、ジャイロセンサーの感度(digit/dps)である。
以下、図13を用いて、監視部180が閾値Vthを設定する上式(7)のゲインGA3、オフセットVOSについて説明する。図13は、閾値Vthの設定手法を説明する図である。
観測ノイズの分散σmeas 2は、上式(8)より下式(14)となる。
誤差共分散の収束状態における入力信号PIのノイズレベルをVmin(フロアノイズ)とすると、Vn2=Vmin 2である。このとき、上式(14)より下式(15)が成り立つ。また、動作開始時(収束前状態)は、信号PQは入力信号PIのDC成分DCQとなる。DC成分DCQの想定されうる最大値をVmax(最大ゼロ点誤差)とすると、ハイパスフィルター141の出力はVmax、二乗演算処理部142の出力はVmax 2、ゲイン処理部144の出力はGA4×Vmax 2となる。一方、ローパスフィルター153の出力はVmax 2となり、下式(16)が成り立つ。なお、計算の簡略化のため、ピークホールド部143の実効的なゲインGpeakを1とする。
収束状態では、上式(3)、(6)、(10)より下式(17)が成り立つ。
上式(9)、(11)、(17)より、収束状態における誤差共分散P0として下式(18)が求められる。
収束前状態を、ターゲットカットオフ周波数fcの時定数時間前の状態と仮定すると、収束前状態における誤差共分散P1として下式(19)が求められる。
図13に示すように、収束前状態における閾値を最大閾値V1とし、収束状態における閾値を最小閾値V0とする。上式(7)より、最大閾値V1を下式(20)、最小閾値V0を下式(21)とおくことができる。
上式(20)、(21)を連立方程式として解き、上式(15)、(16)、(18)、(19)を用いると、下式(22)、(23)が求められる。即ち、監視部180のゲインGA3は下式(22)により設定され、オフセットVOSは下式(23)により設定される。
4.回路装置、物理量測定装置
図14は、本実施形態の回路装置300(検出装置)の詳細な構成例である。回路装置300は、駆動回路30、検出回路60、処理回路100(信号処理回路)、温度センサー190を含む。なお、回路装置300は図14の構成に限定されず、その構成要素の一部(例えば温度センサー)を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
図14は、本実施形態の回路装置300(検出装置)の詳細な構成例である。回路装置300は、駆動回路30、検出回路60、処理回路100(信号処理回路)、温度センサー190を含む。なお、回路装置300は図14の構成に限定されず、その構成要素の一部(例えば温度センサー)を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
駆動回路30は、物理量トランスデューサー12に駆動信号DQを供給し、物理量トランスデューサー12を駆動する。検出回路60は、物理量トランスデューサー12からの検出信号TQを受けて、物理量に応じた物理量信号を検出する。処理回路100(異常検出部170)は、物理量信号を入力信号PIとして物理量測定装置の異常検出を行う。
具体的には、物理量トランスデューサー12は、物理量を検出するための素子やデバイスである。物理量は、例えば角速度、角加速度、速度、加速度、距離、圧力、音圧、磁気量又は時間等である。なお、回路装置300は、複数の物理量トランスデューサーからの検出信号に基づいて物理量を検出してもよい。例えば、第1〜第3の物理量トランスデューサーが、各々、第1軸、第2軸、第3軸についての物理量を検出する。第1軸、第2軸、第3軸についての物理量とは、一例としては第1軸、第2軸、第3軸回りでの角速度又は角加速度、或いは第1軸、第2軸、第3軸方向での速度又は加速度などである。第1軸、第2軸、第3軸は一例としてはX軸、Y軸、Z軸である。なお第1軸〜第3軸のうちの2軸の物理量だけを検出するものであってもよい。
処理回路100はDSP(Digital Signal Processor)等のプロセッサーにより実現され、例えば各部の処理がDSPによる時分割処理で実現される。或いは、処理回路100は、その各部が個別のハードウェア(ロジック回路)として構成されてもよい。
ゼロ点推定部102は、入力信号PIと温度センサー190からの検出信号TS(温度検出電圧)とに基づいて観測ノイズ及びシステムノイズを動的に変化させ、その観測ノイズ及びシステムノイズに基づいてカルマンフィルター処理を行い、入力信号PIのDC成分DCQ(DCオフセット、ゼロ点)を推定する。ゼロ点推定部102は、図9のカルマンフィルター120、監視部180、或いは図11のカルマンフィルター120、監視部180、ノイズ推定部110に対応している。
減算処理部104は、入力信号PIからDC成分DCQを減算し、その結果を信号PQとして出力する。なお、減算処理部104として図12の減算処理部121を用いてもよい。
処理部106は、信号PQに対して種々のデジタル信号処理(例えば補正、積分等)を行い、物理量を表すデジタル値を出力する。処理部106が出力する物理量の種類は、検出回路60が検出する物理量の種類と同一でもよいし、非同一でもよい。例えば、ジャイロセンサーでは検出回路60が角速度を検出するが、処理部106は角速度を出力してもよいし、或いは角速度を積分した角度を出力してもよい。
図15は、本実施形態の回路装置を含む物理量測定装置の構成例である。図15では、物理量測定装置の一例として、角速度を検出するジャイロセンサーの構成例を示す。なお、例えば角速度、角加速度、速度、加速度、距離、圧力、音圧、磁気量又は時間等の種々の物理量を検出する物理量測定装置に、本実施形態の処理回路100を適用可能である。
ジャイロセンサー400(角速度センサー)は、振動子10、駆動回路30、検出回路60、処理回路100を含む。
振動子10(角速度検出素子)は、所定の軸での回転により振動子10に働くコリオリ力を検出し、そのコリオリ力に応じた信号を出力する素子(物理量トランスデューサー)である。振動子10は、例えば圧電振動子である。例えば、振動子10はダブルT字型、T字型、音叉型等の水晶振動子等である。なお、振動子10として、シリコン基板を用いて形成されたシリコン製振動子としてのMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)振動子等を採用してもよい。
駆動回路30は、振動子10からのフィードバック信号DIが入力される増幅回路32と、自動ゲイン制御を行うゲイン制御回路40と、駆動信号DQを振動子10に出力する駆動信号出力回路50を含む。また同期信号SYCを検出回路60に出力する同期信号出力回路52を含む。
増幅回路32(I/V変換回路)は、振動子10からのフィードバック信号DIを増幅する。例えば振動子10からの電流の信号DIを電圧の信号DVに変換して出力する。この増幅回路32は、演算増幅器、帰還抵抗素子、帰還キャパシターなどにより実現できる。
駆動信号出力回路50は、増幅回路32による増幅後の信号DVに基づいて、駆動信号DQを出力する。例えば駆動信号出力回路50が、矩形波(又は正弦波)の駆動信号を出力する場合には、駆動信号出力回路50はコンパレーター等により実現できる。
ゲイン制御回路40(AGC)は、駆動信号出力回路50に制御電圧DSを出力して、駆動信号DQの振幅を制御する。具体的には、ゲイン制御回路40は、信号DVを監視して、発振ループのゲインを制御する。例えば駆動回路30では、ジャイロセンサーの感度を一定に保つために、振動子10の駆動用振動部に供給する駆動電圧の振幅を一定に保つ必要がある。このため、駆動振動系の発振ループ内に、ゲインを自動調整するためのゲイン制御回路40が設けられる。ゲイン制御回路40は、振動子10からのフィードバック信号DIの振幅(振動子10の駆動用振動部の振動速度)が一定になるように、ゲインを可変に自動調整する。このゲイン制御回路40は、増幅回路32の出力信号DVを全波整流する全波整流器や、全波整流器の出力信号の積分処理を行う積分器などにより実現できる。
同期信号出力回路52は、増幅回路32による増幅後の信号DVを受け、同期信号SYC(参照信号)を検出回路60に出力する。この同期信号出力回路52は、正弦波(交流)の信号DVの2値化処理を行って矩形波の同期信号SYCを生成するコンパレーターや、同期信号SYCの位相調整を行う位相調整回路(移相器)などにより実現できる。
検出回路60は、増幅回路64、同期検波回路81、A/D変換回路82、処理回路100(DSP)を含む。増幅回路64は、振動子10からの第1、第2の検出信号IQ1、IQ2を受けて、電荷−電圧変換や差動の信号増幅やゲイン調整などを行う。同期検波回路81は、駆動回路30からの同期信号SYCに基づいて同期検波を行う。A/D変換回路82は、同期検波後の信号のA/D変換を行う。処理回路100はA/D変換回路82からのデジタル信号(入力信号PI)に対してデジタルフィルター処理やデジタル補正処理(例えばゼロ点補正処理や感度補正処理など)を行う。
5.移動体、電子機器
図16に本実施形態の電子機器200の構成例を示す。電子機器200は、本実施形態の回路装置300を含む。またアンテナANT、通信部210、処理部220、操作部230、表示部240、記憶部250を含むことができる。なお本実施形態の電子機器200は、図16の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
図16に本実施形態の電子機器200の構成例を示す。電子機器200は、本実施形態の回路装置300を含む。またアンテナANT、通信部210、処理部220、操作部230、表示部240、記憶部250を含むことができる。なお本実施形態の電子機器200は、図16の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
本実施形態の電子機器200としては、例えばデジタルカメラ(デジタルスチルカメラ、ビデオカメラ)、生体情報検出装置(脈拍計、活動量計、歩数計、健康時計等)、頭部装着型表示装置、ロボット、GPS内蔵時計、カーナビゲーション装置、ゲーム装置、各種のウェアラブル機器、携帯情報端末(スマートフォン、携帯電話機、携帯型ゲーム装置、タブレットPC等)、コンテンツを配信するコンテンツ提供端末、映像機器、オーディオ機器、或いはネットワーク関連機器(基地局、ルーター等)などの種々の機器を想定できる。例えばデジタルカメラにおいては、本実施形態の回路装置を用いることで、ジャイロセンサーや加速度センサーを利用した手振れ補正等を実現できる。また生体情報検出装置においては、本実施形態の回路装置を用いることで、ジャイロセンサーや加速度センサーを利用したユーザーの体動検出や、運動状態の検出を実現できる。ロボットにおいては、その可動部(アーム、関節)や本体部において本実施形態の回路装置を用いることができる。ロボットは、移動体(走行・歩行ロボット)、電子機器(非走行・非歩行ロボット)のいずれも想定できる。走行・歩行ロボットの場合には、例えば自律走行に本実施形態の回路装置を利用できる。ネットワーク関連機器においては、例えば時刻(絶対時刻等)やタイミングを計時するための装置として本実施形態の回路装置を利用できる。
図16において、通信部210(無線回路)は、アンテナANTを介して外部からのデータを受信したり、外部にデータを送信する処理を行う。CPU、MPUなどにより実現される処理部220(プロセッサー)は、記憶部250(メモリー)に記憶された情報に基づいて、各種の演算処理や電子機器200の制御処理などを行う。操作部230は、ユーザーが入力操作を行うためのものであり、操作ボタンやタッチパネルディスプレイをなどにより実現できる。表示部240は、各種の情報を表示するものであり、液晶や有機ELなどのディスプレイにより実現できる。記憶部250は、各種の情報を記憶するものであり、その機能はRAMやROMなどの半導体メモリーやHDD(ハードディスクドライブ)などにより実現できる。
また本実施形態の回路装置は、例えば、車、飛行機、バイク、自転車、或いは船舶等の種々の移動体に組み込むことができる。移動体は、例えばエンジンやモーター等の駆動機構、ハンドルや舵等の操舵機構、各種の電子機器を備えて、地上や空や海上を移動する機器・装置である。
図17は、移動体の具体例としての自動車206を概略的に示したものである。自動車206には、処理回路100を含むジャイロセンサー(不図示)が組み込まれている。ジャイロセンサーは車体207の姿勢を検出することができる。ジャイロセンサーの検出信号は車体姿勢制御装置208に供給される。車体姿勢制御装置208は例えば車体207の姿勢に応じてサスペンションの硬軟を制御したり個々の車輪209のブレーキを制御したりすることができる。その他、こういった姿勢制御は二足歩行ロボットや航空機、ヘリコプター等の各種の移動体において利用されることができる。姿勢制御の実現にあたってジャイロセンサーは組み込まれることができる。
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また本実施形態及び変形例の全ての組み合わせも、本発明の範囲に含まれる。また信号処理装置、検出装置、物理量測定装置、電子機器、移動体の構成・動作等も、本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。
ANT…アンテナ、Cf…キャパシター、Cp…寄生容量、DCQ…DC成分、
DI…フィードバック信号、DQ…駆動信号、FLOV…停止フラグ、
OP…オペアンプ、PI…入力信号、Rf…抵抗、TQ…検出信号、
σmeas…観測ノイズ、σsys…システムノイズ、10…振動子、
12…物理量トランスデューサー、30…駆動回路、32…増幅回路、
40…ゲイン制御回路、50…駆動信号出力回路、52…同期信号出力回路、
60…検出回路、64…増幅回路、81…同期検波回路、82…A/D変換回路、
100…処理回路、102…ゼロ点推定部、104…減算処理部、106…処理部、
110…ノイズ推定部、115…ゲイン処理部、120…カルマンフィルター、
121…減算処理部、122…セレクター、130…フロアノイズ検出回路、
131…ハイパスフィルター、132…演算回路、133…二乗演算処理部、
134…平滑化回路、140…第1の推定部、141…ハイパスフィルター、
142…二乗演算処理部、143…ピークホールド部、144…ゲイン処理部、
145…加算処理部、150…第2の推定部、151…二乗演算処理部、
152…セレクター、153…ローパスフィルター、154…リミッター、
160…第3の推定部、161…遅延部、162…減算処理部、
163…ローパスフィルター、164…ゲイン処理部、165…二乗演算処理部、
166…乗算処理部、167…加算処理部、170…異常検出部、180…監視部、
181…ゲイン処理部、182…オフセット加算処理部、183…コンパレーター、
190…温度センサー、200…電子機器、206…自動車、207…車体、
208…車体姿勢制御装置、209…車輪、210…通信部、220…処理部、
230…操作部、240…表示部、250…記憶部、300…回路装置、
400…ジャイロセンサー
DI…フィードバック信号、DQ…駆動信号、FLOV…停止フラグ、
OP…オペアンプ、PI…入力信号、Rf…抵抗、TQ…検出信号、
σmeas…観測ノイズ、σsys…システムノイズ、10…振動子、
12…物理量トランスデューサー、30…駆動回路、32…増幅回路、
40…ゲイン制御回路、50…駆動信号出力回路、52…同期信号出力回路、
60…検出回路、64…増幅回路、81…同期検波回路、82…A/D変換回路、
100…処理回路、102…ゼロ点推定部、104…減算処理部、106…処理部、
110…ノイズ推定部、115…ゲイン処理部、120…カルマンフィルター、
121…減算処理部、122…セレクター、130…フロアノイズ検出回路、
131…ハイパスフィルター、132…演算回路、133…二乗演算処理部、
134…平滑化回路、140…第1の推定部、141…ハイパスフィルター、
142…二乗演算処理部、143…ピークホールド部、144…ゲイン処理部、
145…加算処理部、150…第2の推定部、151…二乗演算処理部、
152…セレクター、153…ローパスフィルター、154…リミッター、
160…第3の推定部、161…遅延部、162…減算処理部、
163…ローパスフィルター、164…ゲイン処理部、165…二乗演算処理部、
166…乗算処理部、167…加算処理部、170…異常検出部、180…監視部、
181…ゲイン処理部、182…オフセット加算処理部、183…コンパレーター、
190…温度センサー、200…電子機器、206…自動車、207…車体、
208…車体姿勢制御装置、209…車輪、210…通信部、220…処理部、
230…操作部、240…表示部、250…記憶部、300…回路装置、
400…ジャイロセンサー
Claims (12)
- 物理量測定装置に用いられる回路装置であって、
物理量トランスデューサーからの検出信号に基づいて、物理量の検出処理を行う検出回路と、
前記検出回路の出力信号に基づく処理を行う処理回路と、
を含み、
前記処理回路は、
前記検出回路で発生するフロアノイズの指標情報を前記出力信号に基づいて求め、前記指標情報に基づいて前記物理量測定装置の異常検出を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1に記載の回路装置において、
前記処理回路は、
前記物理量トランスデューサーと前記検出回路との接続の前記異常検出を、前記指標情報に基づいて行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1又は2に記載の回路装置において、
前記処理回路は、
前記フロアノイズの前記指標情報である指標値と閾値とを比較して、前記異常検出を行う異常検出部を含むことを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記検出回路は、前記検出信号が入力される増幅回路を含み、
前記フロアノイズは、前記増幅回路で発生するフロアノイズを含むことを特徴とする回路装置。 - 請求項4に記載の回路装置において、
前記増幅回路は、Q/V変換回路又はI/V変換回路であることを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記処理回路は、
前記フロアノイズの前記指標情報を検出するフロアノイズ検出回路を含み、
前記フロアノイズ検出回路は、
前記フロアノイズの実効値を求める演算回路を有することを特徴とする回路装置。 - 請求項6に記載の回路装置において、
前記フロアノイズ検出回路は、
前記検出回路の前記出力信号に対してフィルター処理を行うハイパスフィルターと、前記演算回路と、を有し、
前記演算回路は、
前記フィルター処理後の信号に対して二乗演算を行う二乗演算処理部又は前記フィルター処理後の信号に対して絶対値演算を行う絶対値演算処理部と、
前記二乗演算処理部又は前記絶対値演算処理部の出力を平滑化する平滑化回路と、を有することを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記処理回路は、
観測ノイズ及びシステムノイズに基づいてカルマンフィルター処理を行って、前記検出回路の前記出力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターを含み、
前記フロアノイズの前記指標情報は、前記カルマンフィルターが出力する誤差共分散であることを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記処理回路は、
観測ノイズ及びシステムノイズに基づいてカルマンフィルター処理を行って、前記検出回路の前記出力信号のDC成分を抽出するカルマンフィルターと、
前記検出回路の前記出力信号に基づいて、前記指標情報を求めるノイズ推定部と、
を含み、
前記ノイズ推定部は、
前記指標情報に基づいて前記観測ノイズ及び前記システムノイズを推定し、前記観測ノイズ及び前記システムノイズを前記カルマンフィルターに出力することを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の回路装置と、
前記物理量トランスデューサーと、
を含むことを特徴とする物理量測定装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
- 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする移動体。
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