JP2018179587A - X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法 - Google Patents

X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2018179587A
JP2018179587A JP2017075433A JP2017075433A JP2018179587A JP 2018179587 A JP2018179587 A JP 2018179587A JP 2017075433 A JP2017075433 A JP 2017075433A JP 2017075433 A JP2017075433 A JP 2017075433A JP 2018179587 A JP2018179587 A JP 2018179587A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
metal
metal grid
rays
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017075433A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6914702B2 (ja
Inventor
小谷 政弘
Masahiro Kotani
政弘 小谷
川上 博己
Hiromi Kawakami
博己 川上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2017075433A priority Critical patent/JP6914702B2/ja
Priority to US16/494,889 priority patent/US11101051B2/en
Priority to PCT/JP2018/007243 priority patent/WO2018186058A1/ja
Priority to EP18781327.4A priority patent/EP3608694A4/en
Priority to CN201880011606.1A priority patent/CN110291426B/zh
Publication of JP2018179587A publication Critical patent/JP2018179587A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6914702B2 publication Critical patent/JP6914702B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/062Devices having a multilayer structure
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/06Diaphragms
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G21K1/025Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/065Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using refraction, e.g. Tomie lenses
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • G01N2223/064Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection interference of radiation, e.g. Borrmann effect
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/061Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements characterised by a multilayer structure
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/064Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements having a curved surface
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067Construction details
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線が入射可能な面積をより広くすることができるX線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法を提供する。【解決手段】金属グリッドは、湾曲した主面を有する部材と、該部材の主面上に形成された陽極酸化被膜と、陽極酸化被膜に周期的に形成された凹凸形状を含む格子構造と、を備える。また、金属グリッドの製造方法は、部材の主面上にバルブ金属膜を形成する工程と、主面が湾曲した状態でバルブ金属膜の陽極酸化処理を行って陽極酸化被膜を形成する工程と、周期的な開口を有するエッチングマスクを陽極酸化被膜の表面上に形成し、開口を介して陽極酸化被膜をエッチングすることにより、周期的な凹凸形状を含む格子構造を陽極酸化被膜に形成する工程と、を含む。【選択図】図3

Description

本発明は、X線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法に関するものである。
特許文献1には、X線用金属格子及びその製造方法に関する技術が記載されている。この文献に記載された製造方法では、まず、金属基板の一つの主面上に、レジスト層を設けた第1領域と、レジスト層を設けていない第2領域とを形成する。次に、第2領域に対応する金属基板に、陽極酸化法によって複数の穴を形成する。続いて、第1領域のレジスト層を除去して第1領域に対応する金属基板に凹部を形成する。続いて、X線吸収性材料を凹部に埋設する。
特開2016−211912号公報
例えばX線撮像装置などのX線関連分野においては、X線透過率が比較的高い領域(X線通過領域)と、X線透過率が比較的低い領域(X線遮蔽領域)とが周期的に配置された金属グリッドが利用されることがある。一例として、タルボ干渉計或いはタルボ・ロー干渉計などの干渉計を用いたX線撮像装置においては、このような金属グリッドが複数枚使用される。金属グリッドでは、X線通過領域とX線遮蔽領域とが、それぞれ例えば幅数μm、厚さ数十μmといった高アスペクト比の微細構造を有することが望まれる。従来の金属グリッドの作製方法では、或る材質の基板の表面をエッチングすることによって格子構造を形成し、必要に応じて、エッチングにより生じた空隙に、X線透過率が低い金属(例えば金(Au))を埋め込む。このようにして作製された金属グリッドでは、X線通過領域の基板内部への延在方向が、基板の表面に対して垂直となる。例えば特許文献1に記載されたX線用金属格子では、基板の表面が平坦なので、全てのX線通過領域の延在方向が互いに平行になる。
このように、全てのX線通過領域の延在方向が互いに平行である場合、次の問題が生じる。すなわち、点状のX線源から放射状に広がるX線を金属グリッドにおいて受けたとき、金属グリッドの中心からの距離が遠くなるほど、入射X線の進行方向とX線通過領域の延在方向との相対角度が大きくなり、当該金属グリッドの所望の機能を得ることが難しくなる。従って、X線が入射可能な面積が限られてしまう。
なお、特許文献1には、図22に示すような構成が記載されている。この構成では、X線源101から放射されるX線XLの焦点に向かって収束するように、X線通過領域としての複数の孔102が形成されている。しかしながら、延在方向が互いに傾いた高アスペクト比の複数の微細な孔102を平板状の部材に形成することは極めて困難であると考えられる。
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線が入射可能な面積をより広くすることができるX線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態によるX線用金属グリッドは、湾曲した主面を有する部材と、部材の主面上に形成された陽極酸化被膜と、陽極酸化被膜に周期的に形成された凹凸形状を含む格子構造と、を備える。このX線用金属グリッドでは、凹凸形状の凹部が空隙とされるか或いはX線透過率が陽極酸化被膜よりも高い材料によって複数の凹部が埋め込まれた場合、凹部内がX線通過領域となり、凸部に残存する陽極酸化被膜がX線遮蔽領域となる。また、X線透過率が陽極酸化被膜よりも低い材料によって凹部が埋め込まれた場合、凹部内がX線遮蔽領域となり、凸部に残存する陽極酸化被膜がX線通過領域となる。
また、上記のX線用金属グリッドでは、部材の主面が湾曲している。これにより、X線通過領域の延在方向もまた、主面の曲率に応じて少しずつ傾斜することとなる。従って、点状のX線源から放射状に広がるX線を受ける際、主面の曲率をX線源からの距離に応じて設定することにより、該X線用金属グリッドの中心からの距離にかかわらず、X線通過領域に入射するX線の進行方向とX線通過領域の延在方向との相対角度を小さくすることが可能になる。従って、上記のX線用金属グリッドによれば、中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線が入射可能な面積をより広くすることができる。
上記のX線用金属グリッドにおいて、凹凸形状の側面は主面に対して垂直であってもよい。これにより、X線通過領域においてX線を効率良く通過させることができる。
上記のX線用金属グリッドは、部材の周縁部を支持するフレーム部、及び部材に貼り付けられ部材を支持する支持基板のうち少なくとも一方を更に備えてもよい。これにより、部材が薄い場合でもX線用金属グリッドの機械的強度を保つことができるので、部材を薄くして、部材を透過する際のX線の損失を低減することができる。
上記のX線用金属グリッドは、陽極酸化被膜よりもX線透過率が低い金属を含み格子構造の凹部を埋める金属部を更に備えてもよい。上述したように、この場合、金属部(凹部)がX線遮蔽領域となり、金属部間の陽極酸化被膜がX線通過領域となる。そして、このような場合においても、上述したX線用金属グリッドによる効果を好適に奏することができる。
上記のX線用金属グリッドは、陽極酸化被膜の凹部を除く領域上に設けられた保護膜を更に備えてもよい。このような保護膜によって、多孔質である陽極酸化被膜の孔に異物が入り込んでX線透過率が変動することを効果的に防ぐことができる。更に、金属部を形成する場合には、多孔質である陽極酸化被膜の孔に金属が入り込むことを保護膜によって効果的に防ぐことができる。この保護膜は、陽極酸化被膜をエッチングして凹部を形成する際に用いられたエッチングマスクであってもよい。通常、陽極酸化被膜をエッチングする際に用いられるエッチングマスクのX線透過率は極めて高い。従って、完成したX線用金属グリッドにおいてエッチングマスクが残存していてもX線の損失は僅かである。その一方で、X線用金属グリッドの製造工程においてエッチングマスクを除去する工程を省略し、製造コストを低減できる。
上記のX線用金属グリッドにおいて、保護膜は樹脂を含んでもよい。このように、X線透過率が極めて高い材料である樹脂を保護膜が含むことにより、保護膜を透過する際のX線の損失を極めて少なくすることができる。
また、本発明の一実施形態によるX線撮像装置は、X線を放射するX線源と、X線源から放射されたX線が照射されるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計と、タルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計から出射されたX線像を撮像するX線撮像部と、を備え、タルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計は、上記いずれかのX線用金属グリッドを有する。このX線撮像装置によれば、タルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計が上記いずれかのX線用金属グリッドを有するので、より大きな面積の撮像が可能になる。
また、本発明の一実施形態によるX線用金属グリッドの製造方法は、主面を有する部材の主面にバルブ金属膜を形成する工程と、主面が湾曲した状態でバルブ金属膜の陽極酸化処理を行って陽極酸化被膜を形成する工程と、周期的な開口を有するエッチングマスクを陽極酸化被膜の表面上に形成し、該開口を介して陽極酸化被膜をエッチングすることにより、周期的な凹凸形状を含む格子構造を陽極酸化被膜に形成する工程と、を含む。
この製造方法では、凹凸形状の凹部が空隙とされるか或いはX線透過率が陽極酸化被膜よりも高い材料によって凹部が埋め込まれた場合、凹部内がX線通過領域となり、凸部に残存する陽極酸化被膜がX線遮蔽領域となる。また、X線透過率が陽極酸化被膜よりも低い材料によって凹部が埋め込まれた場合、凹部内がX線遮蔽領域となり、凸部に残存する陽極酸化被膜がX線通過領域となる。
また、上記の製造方法では、バルブ金属膜が形成された主面が湾曲した状態で、バルブ金属膜の陽極酸化処理を行う。これにより、その後に形成されるX線通過領域の延在方向もまた、主面の曲率に応じて少しずつ傾斜することとなる。従って、点状のX線源から放射状に広がるX線を受ける際、主面の曲率をX線源からの距離に応じて設定することにより、該X線用金属グリッドの中心からの距離にかかわらず、X線通過領域に入射するX線の進行方向とX線通過領域の延在方向との相対角度を小さくすることが可能になる。従って、上記の製造方法によれば、中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線が入射可能な面積をより広くすることができるX線用金属グリッドを提供できる。
上記のX線用金属グリッドの製造方法は、格子構造を形成する工程の後に、陽極酸化被膜よりもX線透過率が低い金属を含み格子構造の凹部を埋める金属部を形成する工程を更に含んでもよい。上述したように、この場合、金属部(凹部)がX線遮蔽領域となり、金属部間の陽極酸化被膜がX線通過領域となる。そして、このような場合においても、上述した製造方法による効果を好適に奏することができる。
上記のX線用金属グリッドの製造方法において、金属部を形成する工程では、エッチングマスクを残した状態で金属部を形成してもよい。この場合、X線用金属グリッドの製造工程においてエッチングマスクを除去する工程を省略し、製造コストを低減できる。更に、金属部を形成する際、多孔質である陽極酸化被膜の孔に金属が入り込むことをエッチングマスクによって効果的に防ぐことができる。
上記のX線用金属グリッドの製造方法において、金属部を形成する工程では、金属部を電界めっき、CVD、ALDのうちいずれかの方法により形成してもよい。これにより、微細かつ高いアスペクト比を有する凹部内に金属部を好適に形成することができる。
上記のX線用金属グリッドの製造方法は、部材の周縁部を支持するフレーム部、及び部材に貼り付けられ部材を支持する支持基板のうち少なくとも一方を取り付ける工程を更に含んでもよい。これにより、部材が薄い場合でもX線用金属グリッドの機械的強度を保つことができるので、部材を薄くして、部材を透過する際のX線の損失を低減することができる。
本発明によるX線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法によれば、中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線が入射可能な面積をより広くすることができる。
本発明の一実施形態に係るX線用金属グリッドを示す斜視図である。 図1のII−II線に沿った断面図である。 図2のA部を拡大した断面図である。 金属板の一部を切り欠いて示す斜視図である。 陽極酸化被膜の一部を拡大して示す断面図である。 凹部の平面形状の例を示す図である。 金属グリッドの製造工程を示す図である。 金属グリッドの製造工程を示す図である。 陽極酸化の進行を示す図である。 第1変形例に係る金属板のX線受光部の構造を示す断面図である。 図10のB部を拡大して示す断面図である。 第2変形例に係る金属グリッドの外観を示す斜視図である。 図12に示されたXIII−XIII線に沿った断面図である。 第3変形例に係る金属グリッドの断面図である。 第4変形例に係る金属グリッドの断面図である。 第5変形例に係る金属板の斜視図である。 第6変形例に係る金属板の斜視図である。 図17に示された金属板の一部を切り欠いて示す斜視図である。 第7変形例に係る金属板の斜視図である。 本発明の一実施形態に係るX線撮像装置の構成を示す図である。 本発明の別の実施形態に係るX線撮像装置の構成を示す図である。 特許文献1に記載された構成を示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明によるX線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の一実施形態に係るX線用金属グリッド(以下、金属グリッドという)1Aを示す斜視図である。図2は、図1のII−II線に沿った断面図であり、図3は図2のA部を拡大した断面図である。図3には、金属グリッド1Aに入射するX線XLが示されている。本実施形態の金属グリッド1Aは、例えばタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮像装置などのX線装置において、X線回折格子として用いられる。図1〜図3に示すように、金属グリッド1Aは、板状の部材10と、陽極酸化被膜20と、保護膜30と、金属部40と、フレーム部50とを備える。
板状の部材10は、X線透過率が高い材料(例えば樹脂、軽金属等)によって構成された部材であって、湾曲した主面13a及び裏面13bを含むX線受光部13と、X線受光部13の周囲に設けられた平坦な主面14a及び裏面14bを含むフランジ部14(周縁部)とを有する。板状の部材10は、小さな力で変形可能な可撓性のフレキシブル基板であってもよい。X線受光部13の厚さは、例えば0.1mm以上5mm以下である。X線受光部13及びフランジ部14の平面形状(X線XLの光軸方向から見た形状)は、例えば長方形もしくは正方形である。X線受光部13の一辺の長さは例えば10mm以上500mm以下であり、フランジ部14の一辺の長さは例えば11mm以上600mm以下である。
図4は、部材10の一部を切り欠いて示す斜視図である。本実施形態のX線受光部13は、一次元の曲率を有する形状(円筒面の一部を切り取った形状)を有している。言い換えれば、X線受光部13は、X線XLの光軸を含む一の断面において湾曲しており、X線XLの光軸を含み該断面に垂直な断面においては平坦である。X線受光部13の曲率半径は、例えば50mm以上1000mm以下である。この曲率半径は、主にX線源からの距離に応じて決定される。
図3に示される陽極酸化被膜20は、部材10の主面13a上に形成されている。図5は、陽極酸化被膜20の一部を拡大して示す断面図である。図5に示すように、陽極酸化被膜20は多孔質であり、微細な複数の孔21を含んでいる。これらの孔21は、主面13aに対して垂直な方向に延在し、主面13aに平行な面に沿って規則正しく並んでいる。主面13aに垂直な方向から見たこれらの孔21の平面形状は円形である。これらの孔21の内径は例えば40nmである。なお、孔21の平面形状は円形に限らず、四角形等の他の形状であってもよい。陽極酸化被膜20は、部材10の主面13a上に形成されたバルブ金属膜9に対して陽極酸化処理を行うことにより形成される。陽極酸化被膜20と部材10の主面13aとの間には、バルブ金属膜9が残存している。バルブ金属膜9は、陽極酸化被膜20を形成可能な金属によって構成され、例えばAl,Ta,Nb,Ti,Hf,Zr,Zn,W,Bi,及びSbからなる群から選択される少なくとも1つの金属からなる。
図3及び図5に示すように、陽極酸化被膜20には、周期的に形成された凹凸形状を含む格子構造が形成されている。凹凸形状を構成する凹部22は、主面13aに対して垂直な方向に延在し、凹部22の側面22aは、主面13aに対して垂直である。また、図3及び図5に示す断面において、凹部22は、主面13aに平行な面に沿って並んでいる。凹部22の底面22bは、バルブ金属膜9に達している。すなわち、底面22bは、バルブ金属膜9のバルブ金属からなる。図6(a)〜図6(c)は、凹部22の平面形状の例を示す図である。図6(a)に示す例では、複数の凹部22が、主面13aに沿った一定の方向に延びており、該方向と直交する方向に一定の間隔で並んでいる。この場合、並び方向における複数の凹部22の幅W1は例えば0.1μm以上20μm以下であり、該方向においてる隣り合う凹部22同士の間隔W2は例えば0.1μm以上20μm以下である。また、図6(b)に示す例では、凹部22は円形状の複数の凸部(陽極酸化被膜20)を囲んでおり、複数の凸部は正方格子状に配列されている。図6(c)に示す例では、凹部22は円形状の複数の凸部(陽極酸化被膜20)を囲んでおり、複数の凸部は三角格子状に配列されている。陽極酸化被膜20からなる複数の凸部が円形状である場合、複数の凸部の内径D1は例えば0.1μm以上20μm以下であり、隣り合う凸部同士の間隔W3は例えば0.1μm以上20μm以下である。
再び図3及び図5を参照する。保護膜30は、陽極酸化被膜20の凹部22を除く領域上(すなわち陽極酸化被膜20からなる複数の凸部上)に設けられ、陽極酸化被膜20と接している。保護膜30は、凹部22に対応する開口31(図5参照)を有する。一例では、保護膜30は、凹部22を形成するための陽極酸化被膜20のエッチングの際に用いられたエッチングマスクであって、エッチングの後も除去されることなく、金属グリッド1Aに残存している。エッチングマスクは、いわゆるレジストであってもよい。保護膜30の厚さは例えば0.1μm以上1mm以下である。
金属部40は、凹部22を埋めている部分である。金属部40は、凹部22内に配置されるので、その平面形状及び配列は、凹部22と同様となる。すなわち、金属部40は、例えば図6(a)〜図6(c)に示された凹部22と同様の平面形状を有し、周期的に配列される。凹部22が図6(a)に示された形態を有する場合、主面13aに沿った一定の方向に延びる薄板状の金属部40が、該方向と直交する方向に一定の間隔をあけて並ぶ。また、凹部22が図6(b)または図6(c)に示された形態を有する場合、円柱状の複数の陽極酸化被膜20を金属部40が囲み、複数の陽極酸化被膜20は正方格子状或いは三角格子状に並ぶ。
金属部40は、陽極酸化被膜20よりもX線透過率が低い金属を主に含む。一例では、金属部40は、陽極酸化被膜20よりもX線透過率が低い金属からなる。このような金属としては、例えばAu,W,Pt,及びPbからなる群から選択される少なくとも1つが挙げられる。本実施形態において、金属部40はX線遮蔽領域として機能する。凹部22の側面22aが部材10の主面13aに対して垂直であるため、金属部40の側面41もまた部材10の主面13aに対して垂直となる。また、金属部40は、凹部22の底面22bと接している。なお、本実施形態では金属部40の上面42と保護膜30の上面32とがほぼ面一となっているが、金属部40の上面42は保護膜30の上面32よりも低くてもよく、或いは、金属部40が保護膜30の上面32を覆っていても良い。
再び図1及び図2を参照する。フレーム部50は、部材10のフランジ部14に取り付けられた支持部材である。フレーム部50は、金属グリッド1Aの機械的強度を補うとともに、金属グリッド1Aの可搬性および設置容易性を向上するために設けられる。本実施形態のフレーム部50は、部材10の主面13aに垂直な方向から見て、枠状といった平面形状を有する。フレーム部50の外縁51の形状はフランジ部14の外縁14cの形状とほぼ一致しており、フレーム部50の内縁52の形状はX線受光部13の外縁の形状とほぼ一致している。言い換えれば、本実施形態のフレーム部50の平面形状は長方形もしくは正方形の枠状である。本実施形態のフレーム部50はX線受光部13と重なっていないので、フレーム部50の構成材料及び厚さは、X線透過率を考慮することなく(或いは、X線受光部13から外れた不要なX線を吸収するように)決定される。フレーム部50の厚さは例えば0.5mm以上10cm以下である。フレーム部50の構成材料は、例えばSUSである。フレーム部50とフランジ部14とは、例えば樹脂接着剤によって接合される。なお、図ではフランジ部14の裏面14b側にフレーム部50が設けられているが、フランジ部14の主面14a側にフレーム部50が設けられてもよく、主面14a側及び裏面14b側の双方にフレーム部50が設けられてもよい。
次に、本実施形態の金属グリッド1Aを製造する方法について説明する。図7及び図8は、金属グリッド1Aの製造工程を示す図である。まず、主面及び裏面を有する平板状の部材10を用意する。そして、図7(a)に示すように、部材10の主面上に、バルブ金属膜9を形成する。バルブ金属は、陽極酸化被膜を形成可能な金属であって、例えばAl,Ta,Nb,Ti,Hf,Zr,Zn,W,Bi,及びSbからなる群から選択される少なくとも1つである。バルブ金属膜9の厚さは、例えば1μm以上1mm以下である。
続いて、図7(b)に示すように、部材10の主面を湾曲させた状態で、バルブ金属膜9に対して陽極酸化処理を行うことにより、陽極酸化被膜20を形成する。図9は、陽極酸化の進行を示す図である。図9に示される破線Lは、陽極酸化前のバルブ金属膜9の表面位置を示す。図9(a)に示すように、バルブ金属膜9の表面には、空気中の酸素によって酸化した自然酸化膜15が予め形成されている。陽極酸化処理を開始すると、図9(b)に示すように、バルブ金属膜9の表面に初期の酸化被膜20が成長する。さらに陽極酸化処理を継続すると、図9(c)に示すように、酸化被膜20の厚さが10nm〜20nmに達した時点で、複数の孔21が発生する。その後、酸化被膜20の溶解と生成とが並行して起こり、複数の孔21の上方への成長と下方への成長とが同時に生じる(図9(d))。こうして、最終的に、バルブ金属膜9の表面に対して垂直な方向に延びる高アスペクト比の複数の孔21を含む陽極酸化被膜20が形成される(図9(e))。なお、図7(b)の拡大図に示すように、部材10と酸化被膜20との間には、バルブ金属膜9が僅かに残る。
続いて、図7(c)に示すように、周期的な開口31を有する保護膜30としてのエッチングマスク33を陽極酸化被膜20の表面上に形成する。この工程では、エッチングマスク33を、例えば通常のフォトリソグラフィによって形成する。また、エッチングマスク33の開口31の開口幅を、陽極酸化被膜20の複数の孔21の内径よりも十分に大きくする。
続いて、図8(a)に示すように、エッチングマスク33の開口31を介して陽極酸化被膜20をエッチングする。これにより、周期的な凹凸形状を含む格子構造を陽極酸化被膜20に形成する。一例では、陽極酸化被膜20に対してウェットエッチングを行う。エッチャントとしては例えばリン酸が用いられる。前述したように、陽極酸化被膜20は微細な複数の孔21を有するので、これらの孔21にエッチャントが侵入して孔21の側面をエッチングすることで、凹部22の側面が、湾曲した部材10の表面に対して容易に垂直となる。
続いて、図8(b)に示すように、金属部40を形成する。この工程では、エッチングマスク33を残した状態で、金属部40を、例えば物理蒸着または化学蒸着といった蒸着法或いはめっきにより形成する。一例では、高アスペクト比の凹部22内に金属を十分に侵入させるため、電界めっき、CVD(Chemical Vapor Deposition)、ALD(Atomic Layer Deposition)のうちいずれかの方法により金属部40を形成する。電界めっきにより金属部40を形成する場合、凹部22の底面22bにおいて露出したバルブ金属膜9に通電させる。
最後に、部材10のフランジ部14にフレーム部50を取り付けて、フランジ部14を支持する。こうして、本実施形態の金属グリッド1Aが完成する。
以上に説明した、本実施形態の金属グリッド1A及びその製造方法によって得られる効果について説明する。本実施形態の金属グリッド1Aでは、X線透過率が陽極酸化被膜20よりも低い金属部40によって凹部22が埋め込まれているので、凹部22内がX線遮蔽領域となり、凹部22間に残存する陽極酸化被膜20がX線通過領域となる。従って、X線通過領域及びX線遮蔽領域が周期的に配列されたX線用金属グリッド1Aを好適に実現できる。
また、本実施形態の金属グリッド1Aでは、部材10のX線受光部13の主面13aが湾曲している。本実施形態の製造方法においても、部材10のX線受光部13の主面13aを湾曲させる。これにより、X線通過領域の延在方向もまた、主面13aの曲率に応じて少しずつ傾斜することとなる。従って、点状のX線源から放射状に広がるX線XL(図2参照)を受ける際、主面13aの曲率をX線源からの距離に応じて設定することにより、金属グリッド1Aの中心からの距離にかかわらず、X線通過領域に入射するX線XLの進行方向とX線通過領域の延在方向との相対角度を小さくすることが可能になる。従って、本実施形態の金属グリッド1A及びその製造方法によれば、中心から遠い位置においても所望の機能を得ることができ、X線XLが入射可能な金属グリッドの面積をより広くすることができる。
また、本実施形態のように、凹部22の側面22aはX線受光部13の主面13aに対して垂直であってもよい。これにより、X線通過領域においてX線XLを効率良く通過させることができる。
また、本実施形態のように、金属グリッド1Aは、部材10のフランジ部14を支持するフレーム部50を備えてもよい。また、金属グリッド1Aの製造方法は、部材10のフランジ部14を支持するフレーム部50を取り付ける工程を含んでもよい。これにより、部材10が薄い場合でも金属グリッド1Aの機械的強度を保つことができるので、部材10を薄くして、部材10を透過する際のX線XLの損失を低減することができる。
また、本実施形態のように、金属グリッド1Aは、陽極酸化被膜20よりもX線透過率が低い金属を含み凹部22を埋める金属部40を備えてもよい。また、金属グリッド1Aの製造方法は、凹部22を形成する工程の後に、金属部40を形成する工程を含んでもよい。上述したように、この場合、金属部40(凹部22)がX線遮蔽領域となり、金属部40間の陽極酸化被膜20がX線通過領域となる。そして、このような場合においても、上述した金属グリッド1Aによる効果を好適に奏することができる。
また、本実施形態のように、金属グリッド1Aは、陽極酸化被膜20の凹部22を除く領域(すなわち凸部)上に設けられた保護膜30を備えてもよい。また、金属グリッド1Aの製造方法において、金属部40を形成する工程では、エッチングマスク33を残した状態で金属部40を形成してもよい。このような保護膜30(エッチングマスク33)によって、多孔質である陽極酸化被膜20の孔21に異物が入り込んでX線透過率が変動することを効果的に防ぐことができる。更に、金属部40を形成する場合には、多孔質である陽極酸化被膜20の孔21に金属が入り込むことを保護膜30(エッチングマスク33)によって効果的に防ぐことができる。従って、金属部40間の陽極酸化被膜20の領域(X線通過領域)におけるX線透過率の低下を抑制できる。通常、陽極酸化被膜20をエッチングする際に用いられるエッチングマスク33のX線透過率は極めて高い。従って、完成したX線用金属グリッド1Aにおいてエッチングマスク33が残存していてもX線XLの損失は僅かである。その一方で、X線用金属グリッド1Aの製造工程においてエッチングマスク33を除去する工程を省略し、製造コストを低減できる。
また、本実施形態のように、保護膜30(エッチングマスク33)は樹脂を含んでもよい。このように、X線透過率が極めて高い材料である樹脂を保護膜30(エッチングマスク33)が含むことにより、保護膜30(エッチングマスク33)を透過する際のX線XLの損失を極めて少なくすることができる。
また、本実施形態のように、金属部40を形成する工程では、金属部40を電界めっき、CVD、ALDのうちいずれかの方法により形成してもよい。これにより、微細かつ高いアスペクト比を有する凹部22内の深部まで金属材料を容易に侵入させて、金属部40を好適に形成することができる。
(第1変形例)
続いて、上記実施形態の変形例について説明する。図10は、上記実施形態の第1変形例に係る部材10のX線受光部13付近の構造を示す断面図である。また、図11は、図10のC部を拡大して示す断面図である。これらの図に示すように、本変形例では、凹部22内に金属部40が設けられておらず、凹部22内は空隙となっている。この場合、凹部22がX線通過領域として機能し、凹部22間の(或いは、凹部22に囲まれた)陽極酸化被膜20及び保護膜30がX線遮蔽領域として機能する。
本変形例のように、金属部40が設けられない場合であっても、金属グリッド1Aは所望の機能を発揮することができる。このような金属グリッド1Aを製造する際には、図8(b)に示された金属部40の形成工程が省略される。なお、金属部40に代えて、陽極酸化被膜20よりもX線透過率が高い材料を凹部22に埋め込むことによっても、本変形例と同様の機能を有する金属グリッドが得られる。
(第2変形例)
図12は、上記実施形態の第2変形例に係る金属グリッド1Bの外観を示す斜視図である。図13は、図12に示されたXIII−XIII線に沿った断面図である。本変形例と上記実施形態との相違点は、フレーム部の形状である。本変形例のフレーム部50Aは、枠状ではなく、部材10のフランジ部14の一部に限定して設けられている。具体的には、本変形例の金属グリッド1Bは、X線受光部13を挟んで対称に配置された一対のフレーム部50Aを備える。各フレーム部50Aは、部材10の一辺に沿った方向A1(X線受光部13が湾曲していない断面に沿った方向)を長手方向として互いに平行に延びており、該方向A1と交差する方向A2(X線受光部13が湾曲している断面に沿った方向)に並んでいる。部材10の法線方向(方向A1及びA2の双方と直交する方向)から見て、一対のフレーム部50Aの間にはX線受光部13が配置されている。なお、フレーム部50Aの上記以外の構成及び材料は、上記実施形態のフレーム部50と同様である。
本変形例のように、フランジ部14の一部にのみフレーム部50Aが設けられる場合であっても、フランジ部14を支持して金属グリッド1Aの機械的強度を保つことができる。なお、本変形例では方向A1に沿って延びる一対のフレーム部50が方向A2に並んでいるが、方向A2に沿って延びる一対のフレーム部50が方向A1に並んでもよい。
(第3変形例)
図14は、上記実施形態の第3変形例に係る金属グリッド1Cの断面図である。本変形例の金属グリッド1Cは、上記実施形態のフレーム部50に代えて、支持基板50Bを備える。支持基板50Bは、部材10と同様の形状を有する表面53を有しており、該表面53に部材10が貼り付けられている。具体的には、支持基板50Bは部材10と同じ平面形状を有しており、X線受光部13及びフランジ部14に接着剤を介して隙間無く貼り付けられている。これにより、部材10が支持基板50Bによって支持され、金属グリッド1Aの機械的強度が保たれる。支持基板50Bの材料としては、上記実施形態のフレーム部50とは異なり、X線透過率の高い材料(軽元素)が選択される。支持基板50BはX線受光部13にも設けられており、X線XLが支持基板50Bを効率よく透過できることが望まれるからである。一例では、支持基板50Bの材料としてCFRPが挙げられる。支持基板50Bの厚さは例えば0.5mm以上10cm以下である。なお、本変形例の支持基板50Bは、上記実施形態のフレーム部50とは異なり、部材10がフランジ部14を有していない場合であっても、部材10を好適に支持することができる。本変形例の金属グリッド1Cを製造する際には、上記実施形態のフレーム部50を取り付ける工程において、フレーム部50に代えて支持基板50Bを部材10に取り付けるとよい。また、図では部材10の裏面13b側に支持基板50Bが設けられているが、部材10の主面13a側に支持基板50Bが設けられてもよい。
(第4変形例)
図15は、上記実施形態の第4変形例に係る金属グリッド1Dの断面図である。本変形例の金属グリッド1Dは、上記実施形態のフレーム部50に代えて、支持基板50Cを備える。支持基板50Cは、部材10と同様の形状を有する表面53を有しており、該表面53に部材10が貼り付けられている。これにより、部材10が支持基板50Cによって支持され、金属グリッド1Dの機械的強度が保たれる。但し、本変形例の支持基板50Cは、第3変形例とは異なり、X線受光部13の中心を含む部分に開口54を有する。部材10の法線方向から見て、開口54の平面形状はX線受光部13の平面形状と相似しており、例えば長方形もしくは正方形である。本変形例によれば、支持基板50Cによって部材10を支持しつつ、開口54においてX線XLを通過させ、支持基板50CによるX線XLの減衰を回避することができる。なお、本変形例の支持基板50Cもまた、部材10がフランジ部14を有していない場合であっても部材10を好適に支持することができる。本変形例の金属グリッド1Dを製造する際には、上記実施形態のフレーム部50を取り付ける工程において、フレーム部50に代えて支持基板50Cを部材10に取り付けるとよい。また、図では部材10の裏面13b側に支持基板50Cが設けられているが、部材10の主面13a側に支持基板50Cが設けられてもよい。
(第5変形例)
図16は、上記実施形態の第5変形例に係る部材10Aの斜視図である。同図に示される部材10Aは、上記実施形態の部材10とは異なり、方向A2の両端にのみフランジ部14を有する。このような構成であっても、例えば第2変形例に示された一対のフレーム部50A(図12及び図13を参照)をフランジ部14に貼り付けることにより、金属グリッドの機械的強度を好適に保つことができる。なお、部材10Aは、方向A1の両端にのみフランジ部14を有してもよい。
(第6変形例)
図17は、上記実施形態の第6変形例に係る部材10Bの斜視図である。図18は、図17に示された部材10Bの一部を切り欠いて示す斜視図である。これらの図に示される部材10Bは、上記実施形態の部材10とはX線受光部の形状において異なる。本変形例のX線受光部13Aの主面13a及び裏面13bは、二次元の曲率を有する。すなわち、X線XLの光軸を含む一の断面においてX線受光部13Aの主面13a及び裏面13bは曲率を有し、X線XLの光軸を含み該断面に垂直な別の断面においても、X線受光部13Aの主面13a及び裏面13bは曲率を有する。一例では、X線受光部13Aの主面13a及び裏面13bの形状は球面である。また、部材10の法線方向から見たX線受光部13の平面形状は円形である。
(第7変形例)
図19は、上記実施形態の第7変形例に係る部材10Cの斜視図である。同図に示される部材10Cは、第6変形例の部材10Bとは異なり、或る一方向の両端にのみフランジ部14を有する。このような構成であっても、例えば第2変形例に示された一対のフレーム部50A(図12及び図13を参照)をフランジ部14に貼り付けることにより、金属グリッドの機械的強度を好適に保つことができる。
(第2実施形態)
図20は、本発明の一実施形態に係るX線撮像装置70Aの構成を示す図である。本実施形態のX線撮像装置70Aは、X線XLを放射するX線源71と、X線源71から放射されたX線XLが照射されるタルボ干渉計72と、タルボ干渉計72から出射されたX線像XMを撮像するX線撮像部73と、を備える。撮像対象である試料Fは、X線源71とタルボ干渉計72との間に配置される。タルボ干渉計72は2枚の金属グリッド72a,72bを有するが、これらの金属グリッド72a,72bは、前述した第1実施形態及び第1ないし第7変形例のうちいずれかの金属グリッドである。本変形例のX線撮像装置70Aによれば、タルボ干渉計72においてX線XLが入射可能な面積が広くなるので、より大きな面積の撮像が可能になる。
(第3実施形態)
図21は、本発明の別の実施形態に係るX線撮像装置70Bの構成を示す図である。本実施形態のX線撮像装置70Bは、X線XLを放射するX線源74と、X線源74から放射されたX線XLが照射されるタルボ・ロー干渉計75と、タルボ・ロー干渉計75から出射されたX線像XMを撮像するX線撮像部76と、を備える。タルボ・ロー干渉計75は、3枚の金属グリッド(X線源74に近い側から第1金属グリッド75a、第2金属グリッド75b、及び第3金属グリッド75c)を有する。撮像対象である試料Fは、第1金属グリッド75aと第2金属グリッド75bとの間に配置される。3枚の金属グリッド75a〜75cは、前述した第1実施形態及び第1ないし第7変形例のうちいずれかの金属グリッドである。一例では、第1金属グリッド75a及び第3金属グリッド75cとしては金属部40を備える金属グリッド(例えば第1実施形態の金属グリッド1A)が用いられ、第2金属グリッド75bとしては金属部40を備えない金属グリッド(例えば第1変形例の金属グリッド)が用いられる。本変形例のX線撮像装置70Bによれば、タルボ・ロー干渉計75においてX線XLが入射可能な面積が広くなるので、より大きな面積の撮像が可能になる。
本発明によるX線用金属グリッド、X線撮像装置、及びX線用金属グリッドの製造方法は、上述した各実施形態及び各変形例に限られるものではなく、他に様々な変形が可能である。例えば、上述した各実施形態及び各変形例を、必要な目的及び効果に応じて互いに組み合わせてもよい。また、上記実施形態及び各変形例では、フレーム部及び支持基板のうち一方を板状の部材に取り付けているが、フレーム部及び支持基板の双方を板状の部材に取り付けてもよい。また、フレーム部及び支持基板は、必ずしも陽極酸化被膜が形成されていない側の面に取り付けられなくてもよく、陽極酸化被膜が形成された側の面に、陽極酸化被膜を介して取り付けられてもよい。
また、上記各実施形態及び各変形例では、湾曲した部材の外側(凸側)の表面を主面と定義しているが、湾曲した部材の内側(凹側)の表面を主面と定義してもよい。その場合、部材の内側(凹側)の表面に陽極酸化被膜が形成される。そのような構成においても、上記各実施形態及び各変形例の効果を好適に奏することができる。但し、湾曲した部材の外側(凸側)の表面上に陽極酸化被膜を形成するほうが、エッチングマスクを形成しやすいという利点がある。
また、上記各実施形態及び各変形例では、板状の部材を支持するためのフレーム部または支持基板が取り付けられているが、板状の部材自体の機械的強度が十分に得られる場合は、フレーム部及び支持基板は省かれてもよい。また、部材は必ずしも板状である必要はなく、湾曲した主面を有するブロック状の部材であってもよい。
1A,1B,1C,1D…金属グリッド、9…バルブ金属膜、10,10A,10B,10C…部材、13,13A…X線受光部、13a…主面、13b…裏面、14…フランジ部、14a…主面、14b…裏面、14c…外縁、15…自然酸化膜、20…陽極酸化被膜、21…孔、22…凹部、30…保護膜、31…開口、33…エッチングマスク、40…金属部、50,50A…フレーム部、50B,50C…支持基板、51…外縁、52…内縁、53…表面、54…開口、70A,70B…X線撮像装置、71,74…X線源、72…タルボ干渉計、72a,72b…金属グリッド、73,76…X線撮像部、74…X線源、75…タルボ・ロー干渉計、75a,75b,75c…金属グリッド、F…試料、XL…X線、XM…X線像。

Claims (12)

  1. 湾曲した主面を有する部材と、
    前記部材の前記主面上に形成された陽極酸化被膜と、
    前記陽極酸化被膜に周期的に形成された凹凸形状を含む格子構造と、
    を備える、X線用金属グリッド。
  2. 前記凹凸形状の側面が前記主面に対して垂直である、請求項1に記載のX線用金属グリッド。
  3. 前記部材の周縁部を支持するフレーム部、及び前記部材に貼り付けられ前記部材を支持する支持基板のうち少なくとも一方を更に備える、請求項1または2に記載のX線用金属グリッド。
  4. 前記陽極酸化被膜よりもX線透過率が低い金属を含み前記格子構造の凹部を埋める金属部を更に備える、請求項1〜3のいずれか一項に記載のX線用金属グリッド。
  5. 前記陽極酸化被膜の凹部を除く領域上に設けられた保護膜を更に備える、請求項1〜4のいずれか一項に記載のX線用金属グリッド。
  6. 前記保護膜が樹脂を含む、請求項5に記載のX線用金属グリッド。
  7. X線を放射するX線源と、
    前記X線源から放射されたX線が照射されるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計と、
    前記タルボ干渉計または前記タルボ・ロー干渉計から出射されたX線像を撮像するX線撮像部と、
    を備え、
    前記タルボ干渉計または前記タルボ・ロー干渉計は、請求項1〜6のいずれか一項に記載のX線用金属グリッドを有する、X線撮像装置。
  8. 主面を有する部材の前記主面上にバルブ金属膜を形成する工程と、
    前記主面が湾曲した状態で前記バルブ金属膜の陽極酸化処理を行って陽極酸化被膜を形成する工程と、
    周期的な開口を有するエッチングマスクを前記陽極酸化被膜の表面上に形成し、前記開口を介して前記陽極酸化被膜をエッチングすることにより、周期的な凹凸形状を含む格子構造を前記陽極酸化被膜に形成する工程と、
    を含む、X線用金属グリッドの製造方法。
  9. 前記格子構造を形成する工程の後に、前記陽極酸化被膜よりもX線透過率が低い金属を含み前記格子構造の凹部を埋める金属部を形成する工程を更に含む、請求項8に記載のX線用金属グリッドの製造方法。
  10. 前記金属部を形成する工程では、前記エッチングマスクを残した状態で前記金属部を形成する、請求項9に記載のX線用金属グリッドの製造方法。
  11. 前記金属部を形成する工程では、前記金属部を電界めっき、CVD、ALDのうちいずれかの方法により形成する、請求項9または10に記載のX線用金属グリッドの製造方法。
  12. 前記部材の周縁部を支持するフレーム部、及び前記部材に貼り付けられ前記部材を支持する支持基板のうち少なくとも一方を取り付ける工程を更に含む、請求項9〜11のいずれか一項に記載のX線用金属グリッドの製造方法。
JP2017075433A 2017-04-05 2017-04-05 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法 Active JP6914702B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017075433A JP6914702B2 (ja) 2017-04-05 2017-04-05 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
US16/494,889 US11101051B2 (en) 2017-04-05 2018-02-27 Metal X-ray grid, X-ray imaging device, and production method for metal X-ray grid
PCT/JP2018/007243 WO2018186058A1 (ja) 2017-04-05 2018-02-27 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
EP18781327.4A EP3608694A4 (en) 2017-04-05 2018-02-27 X-RAY WIRE GRID, X-RAY IMAGING DEVICE AND X-RAY WIRE GRID PRODUCTION PROCESS
CN201880011606.1A CN110291426B (zh) 2017-04-05 2018-02-27 X射线用金属网格、x射线摄像装置及x射线用金属网格的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017075433A JP6914702B2 (ja) 2017-04-05 2017-04-05 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018179587A true JP2018179587A (ja) 2018-11-15
JP6914702B2 JP6914702B2 (ja) 2021-08-04

Family

ID=63712467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017075433A Active JP6914702B2 (ja) 2017-04-05 2017-04-05 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11101051B2 (ja)
EP (1) EP3608694A4 (ja)
JP (1) JP6914702B2 (ja)
CN (1) CN110291426B (ja)
WO (1) WO2018186058A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6914702B2 (ja) * 2017-04-05 2021-08-04 浜松ホトニクス株式会社 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
EP3498889A1 (en) * 2017-12-12 2019-06-19 Koninklijke Philips N.V. Device and method for anodic oxidation of an anode element for a curved x-ray grating, system for producing a curved x-ray grating and curved x-ray grating

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11104119A (ja) * 1997-07-10 1999-04-20 Siemens Ag 散乱線除去用格子及びその製造方法
JP2011069818A (ja) * 2009-08-31 2011-04-07 Canon Inc X線撮像装置に用いる格子の製造方法
JP2012093332A (ja) * 2010-03-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法
JP2014006194A (ja) * 2012-06-26 2014-01-16 Canon Inc 構造体の製造方法
US20150092918A1 (en) * 2013-09-27 2015-04-02 Samsung Electronics Co., Ltd. X-ray detector and x-ray photographing apparatus including the same
JP2015127702A (ja) * 2013-11-29 2015-07-09 キヤノン株式会社 構造体、およびその構造体を備えたx線トールボット干渉計
JP2015221192A (ja) * 2014-04-30 2015-12-10 キヤノン株式会社 X線遮蔽格子および該x線遮蔽格子を備えたx線トールボット干渉計
JP2017032476A (ja) * 2015-08-05 2017-02-09 コニカミノルタ株式会社 高アスペクト比構造物の製造方法及び超音波ブローブの製造方法
WO2017036729A1 (en) * 2015-09-01 2017-03-09 Paul Scherrer Institut Method for fabricating high aspect ratio gratings for phase contrast imaging

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6408054B1 (en) * 1999-11-24 2002-06-18 Xerox Corporation Micromachined x-ray image contrast grids
JP2008026109A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Fujifilm Corp 微細構造体及びその製造方法、センサデバイス及びラマン分光用デバイス
JP5627247B2 (ja) 2010-02-10 2014-11-19 キヤノン株式会社 マイクロ構造体の製造方法および放射線吸収格子
JP2012013530A (ja) 2010-06-30 2012-01-19 Fujifilm Corp 回折格子及びその製造方法、並びに放射線撮影装置
US20140241493A1 (en) * 2011-07-27 2014-08-28 Mitsuru Yokoyama Metal Lattice Production Method, Metal Lattice, X-Ray Imaging Device, and Intermediate Product for Metal Lattice
JP2014142332A (ja) * 2012-12-27 2014-08-07 Canon Inc 構造体及び樹脂構造体の製造方法、構造体、並びに構造体を備えるx線撮像装置
JP6221738B2 (ja) 2013-01-07 2017-11-01 セイコーエプソン株式会社 記録媒体判別装置および記録媒体判別方法
US9970119B2 (en) * 2013-10-25 2018-05-15 Konica Minolta, Inc. Curved grating structure manufacturing method, curved grating structure, grating unit, and x-ray imaging device
JP2015219024A (ja) * 2014-05-14 2015-12-07 コニカミノルタ株式会社 格子、格子ユニット、湾曲型格子、湾曲型格子の製造方法及びx線撮像装置
JP6667215B2 (ja) * 2014-07-24 2020-03-18 キヤノン株式会社 X線遮蔽格子、構造体、トールボット干渉計、x線遮蔽格子の製造方法
AT14686U1 (de) * 2015-01-27 2016-04-15 Plansee Se Streustrahlenraster
JP2016211912A (ja) 2015-05-01 2016-12-15 コニカミノルタ株式会社 X線用金属格子の製造方法、x線撮像装置およびx線用金属格子
JP6857071B2 (ja) * 2017-04-05 2021-04-14 浜松ホトニクス株式会社 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
JP6914702B2 (ja) * 2017-04-05 2021-08-04 浜松ホトニクス株式会社 X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11104119A (ja) * 1997-07-10 1999-04-20 Siemens Ag 散乱線除去用格子及びその製造方法
JP2011069818A (ja) * 2009-08-31 2011-04-07 Canon Inc X線撮像装置に用いる格子の製造方法
JP2012093332A (ja) * 2010-03-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法
JP2014006194A (ja) * 2012-06-26 2014-01-16 Canon Inc 構造体の製造方法
US20150092918A1 (en) * 2013-09-27 2015-04-02 Samsung Electronics Co., Ltd. X-ray detector and x-ray photographing apparatus including the same
JP2015127702A (ja) * 2013-11-29 2015-07-09 キヤノン株式会社 構造体、およびその構造体を備えたx線トールボット干渉計
JP2015221192A (ja) * 2014-04-30 2015-12-10 キヤノン株式会社 X線遮蔽格子および該x線遮蔽格子を備えたx線トールボット干渉計
JP2017032476A (ja) * 2015-08-05 2017-02-09 コニカミノルタ株式会社 高アスペクト比構造物の製造方法及び超音波ブローブの製造方法
WO2017036729A1 (en) * 2015-09-01 2017-03-09 Paul Scherrer Institut Method for fabricating high aspect ratio gratings for phase contrast imaging

Also Published As

Publication number Publication date
EP3608694A4 (en) 2020-12-09
CN110291426B (zh) 2023-08-04
JP6914702B2 (ja) 2021-08-04
WO2018186058A1 (ja) 2018-10-11
EP3608694A1 (en) 2020-02-12
CN110291426A (zh) 2019-09-27
US20200284736A1 (en) 2020-09-10
US11101051B2 (en) 2021-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6296062B2 (ja) X線用金属格子、x線用金属格子の製造方法、x線用金属格子ユニットおよびx線撮像装置
JP4025779B2 (ja) X線集光装置
JP2010249533A (ja) タルボ・ロー干渉計用の線源格子
US20160265125A1 (en) Curved Grating Structure Manufacturing Method, Curved Grating Structure, Grating Unit, And X-Ray Imaging Device
US10128015B2 (en) X-ray shield grating and X-ray talbot interferometer including X-ray shield grating
US20070064878A1 (en) Antiscatter grid having a cell-like structure of radiation channels, and method for producing such an antiscatter grid
JP6700657B2 (ja) 積層構造体、x線トールボット干渉計、線源格子、遮蔽格子および積層構造体の製造方法
US9891327B2 (en) Structure, method for manufacturing the same, and image pickup apparatus including the structure
JP6914702B2 (ja) X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
JP6857071B2 (ja) X線用金属グリッド、x線撮像装置、及びx線用金属グリッドの製造方法
EP3127861B1 (en) Method of manufacturing high aspect ratio structure and method of manufacturing ultrasonic probe
JP6365299B2 (ja) 回折格子および回折格子の製造方法、格子ユニットならびにx線撮像装置
JP6217381B2 (ja) 格子湾曲方法
CN102530838A (zh) 用于在衬底中制造斜面的方法和具有斜面的晶片
JP2013198661A (ja) 格子および格子の製造方法ならびに格子ユニットおよび格子ユニットの製造方法
JP6016337B2 (ja) X線遮蔽格子の製造方法
JP2016211912A (ja) X線用金属格子の製造方法、x線撮像装置およびx線用金属格子
JP7059545B2 (ja) 構造体の製造方法、および構造体
JP6911523B2 (ja) 構造体の製造方法、および構造体
US20200222017A1 (en) Apparatus with flexible x-ray gratings
JP2015219024A (ja) 格子、格子ユニット、湾曲型格子、湾曲型格子の製造方法及びx線撮像装置
JP2018149015A (ja) 高アスペクト比構造物の製造方法、超音波プローブの製造方法、高アスペクト比構造物、および、x線撮像装置
JP2018151472A (ja) 高アスペクト比構造物の製造方法、超音波プローブの製造方法、高アスペクト比構造物、および、x線撮像装置
JP2022534091A (ja) 安定化回折格子構造
JP2022095086A (ja) 受光素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200915

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210316

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210324

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210706

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210714

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6914702

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150