JP2018138899A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018138899A
JP2018138899A JP2017033719A JP2017033719A JP2018138899A JP 2018138899 A JP2018138899 A JP 2018138899A JP 2017033719 A JP2017033719 A JP 2017033719A JP 2017033719 A JP2017033719 A JP 2017033719A JP 2018138899 A JP2018138899 A JP 2018138899A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
ray
conveyor
inspection area
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017033719A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6574797B2 (ja
Inventor
俊介 和田
Shunsuke Wada
俊介 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Infivis Co Ltd
Original Assignee
Anritsu Infivis Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Infivis Co Ltd filed Critical Anritsu Infivis Co Ltd
Priority to JP2017033719A priority Critical patent/JP6574797B2/ja
Publication of JP2018138899A publication Critical patent/JP2018138899A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6574797B2 publication Critical patent/JP6574797B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

【課題】検査作業者に非検査領域を簡易に把握させることができるX線検査装置を提供すること。【解決手段】X線検査装置は、被検査物を水平方向に搬送するコンベア2を挟んでX線発生器がコンベア2の搬送面からの高さ方向を検出するようにX線発生器とX線検出器とが配置されている。このX線検査装置は、X線検出器によって得られるX線画像中のコンベア画像2iの上端から下方の領域を検査外領域として設定する検査外領域設定部47と、X線画像中におけるコンベア画像2iの上端の位置P1を検出する制御部46と、制御部46によって検出されたコンベア画像2iの上端の位置P1と検査外領域設定部47により設定された検査外領域の上端の位置P2とが異なる場合に、位置P1と位置P2との差分を非検査領域Nとして表示する表示部5と、を備える。【選択図】図8

Description

本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物に対してX線発生器で発生したX線を照射し、被検査物を透過したX線をX線検出器により検出することで、被検査物の異物の有無や欠陥等について検査するX線検査装置に関するものである。
例えば食品などの被検査物への異物の混入の有無を検出するために、従来からX線検査装置が用いられている。X線検査装置は、搬送される被検査物にX線を照射し、被検査物を透過したX線の透過量から被検査物中の異物の有無や欠陥等について検査している。
従来のこの種のX線検査装置にあっては、特許文献1に記載されたものが知られている。特許文献1に記載のものは、コンベア上の搬送路を幅方向に跨ぐようにX線発生器およびX線検出器を対向して配置し、X線発生器からコンベア上の被検査物に対してX線を横向きに照射している。
特開2001−272357号公報
しかしながら、特許文献1に記載されているような横照射型のX線検査装置では、コンベア上の被検査物に対してX線を照射して得られるX線透過画像に、コンベアの上端の一部が映り込んでしまう。
X線透過画像にコンベアの上端の一部が映り込んでしまうと、X線検査装置における異物検出感度が低下するおそれがある。このような場合、X線透過画像に映り込んだコンベアの上端の一部の領域を検査外領域として設定して判定処理から除外することにより、異物検出感度を向上させることができる。
ところが、上述のようにX線透過画像に映り込んだコンベアの上端の一部の領域を検査外領域として設定した場合には、設定された検査外領域が被検査物の最下部に重なってしまうことがある。このため、検査外領域が重なった被検査物の最下部は、検査を行わない非検査領域となってしまうおそれがある。
また、この非検査領域は、例えばコンベアの経年劣化やX線検査装置またはコンベアの設置状態の変化によって変動するおそれもある。したがって、上述したような非検査領域が検査作業者によって把握されていないと、異物検出の精度を低下させてしまうおそれがある。
そこで、本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、検査作業者に非検査領域を簡易に把握させることができるX線検査装置を提供することを目的とする。
本発明に係るX線検査装置は、X線を発生するX線発生器と、X線を検出するX線検出器と、を備え、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで前記X線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記X線発生器と前記X線検出器とが配置されたX線検査装置であって、前記X線検出器によって得られるX線画像中の前記コンベアを示す領域を検査外領域として設定する検査外領域設定部と、前記X線画像中における前記コンベアの上端の位置を検出する検出部と、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置とが異なる場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知する通知部と、を備えたことを特徴とする。
この構成により、本発明に係るX線検査装置は、検出部によって検出されたX線画像中におけるコンベアの上端の位置と検査外領域設定部により設定された検査外領域の上端の位置とが異なる場合に、コンベアの上端の位置と検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知することができる。したがって、検査作業者に非検査領域を簡易に把握させることができる。
本発明に係るX線検査装置において、前記通知部は、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が下方に位置する場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知するのが好ましい。
この構成により、本発明に係るX線検査装置は、コンベアの上端が下方に変位したために被検査物の最下部が検査外領域と重なっていることを検査作業者に把握させることができる。
本発明に係るX線検査装置において、前記通知部は、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が上方に位置する場合に、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が下方に位置する場合と異なる態様で前記差分を非検査領域として通知するのが好ましい。
この構成により、本発明に係るX線検査装置は、コンベアの上端が上方に変位したためにコンベアの上端側の一部が検査領域に映り込んでいることを検査作業者に把握させることができる。
本発明に係るX線検査装置において、前記検出部は、前記コンベアが停止している状態の前記X線画像中における前記コンベアの上端の位置を検出するのが好ましい。
この構成により、本発明に係るX線検査装置は、コンベアが停止している状態のX線画像中におけるコンベアの上端の位置を検出するので、ばらつきなく、正確にコンベアの上端の位置を検出することができる。
本発明に係るX線検査装置において、前記通知部は、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置とが所定値以上異なる場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知するのが好ましい。
この構成により、本発明に係るX線検査装置は、検出部によって検出されたX線画像中におけるコンベアの上端の位置と検査外領域設定部により設定された検査外領域の上端の位置とが所定値以上異なる場合に、コンベアの上端の位置と検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知することができる。このため、コンベアの上端の位置が誤差範囲でばらついた場合に、当該ばらつきによる差分を非検査領域として通知してしまうことを防止できる。これにより、不要な通知を排除し、異物検出の精度に関わるようなコンベアの変位が生じたときにのみ通知を行うことができる。
本発明は、検査作業者に非検査領域を簡易に把握させることができるX線検査装置を提供することができる。
本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の斜視図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の搬送方向に直交する断面における断面図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置におけるX線画像を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置におけるX線画像の一部を拡大した図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置におけるX線画像の一部を拡大した図であって、検査外領域が被検査物画像の最下部と重なっている様子を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置において実行される非検査領域判定処理の流れを示すフローチャートである。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置において被検査物を搬送していない状態のX線画像を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置におけるX線画像の一部を拡大した図であって、非検査領域を示す図である。
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。
図1において、X線検査装置1は筐体4を備えている。筐体4は、被検査物Wを搬送するコンベア2に組み込まれている。コンベア2上には、被検査物Wがコンベア2の上端側にある搬送部材21に載って水平方向に通過する搬送路3が形成されている。本実施の形態では、被検査物Wが飲料ボトルである場合を例示している。
コンベア2は、被検査物Wの生産設備の一部であり、X線検査装置1と別体に構成されている。本実施の形態では、コンベア2がトップチェーンコンベアからなる場合を例示している。トップチェーンコンベアは、無端状のチェーンに複数のプレートを設けたものであり、コンベア2の搬送部材21となるプレートの上面(コンベア2の搬送面)で被検査物Wを搬送するようになっている。
このように、X線検査装置1は、別体のコンベア2に組み込まれる組み込み型のX線検査装置であり、図1で示すようなボトル搬送でよく使用されるトップチェーンコンベアやベルトコンベア等の被検査物Wを水平方向に搬送する既設のコンベアに組み込まれる。なお、ベルトコンベアによる被検査物Wの搬送の場合にはベルトが搬送部材21となる。また、コンベア2は、X線検査装置1と一体に構成されていてもよい。
筐体4には、被検査物Wが搬入される開口部7と、被検査物Wが搬出される開口部8とが形成されている。コンベア2は、開口部7、8を通って筐体4を貫通している。筐体4は、ステンレス等のX線を遮蔽可能な金属からなる遮蔽カバー16を、開口部7、8の周囲に備えており、遮蔽カバー16は、開口部7、8から外部へのX線の漏洩を防止している。
コンベア2の上方にはガイド部材61が設けられており、ガイド部材61は、被検査物Wをコンベア2上の幅方向の中央の位置で搬送されるように案内している。ガイド部材61は、被検査物Wを幅方向で挟むように、左右で一対、合計4本設けられている。
ガイド部材61は、X線透過率の高い材質でコンベア2と同様に開口部7から開口部8まで貫通するように連続して設けられていてもよいし、X線発生器9のX線照射野に入り込まないように分断されていてもよい。本実施の形態では、ガイド部材61が開口部7から開口部8まで貫通するように連続しているものとする。
図2において、X線検査装置1は、X線を発生するX線発生器9と、X線を検出するX線検出器10と、総合制御部40とを備えている。これらのX線発生器9、X線検出器10および総合制御部40は筐体4(図1参照)の内部に収納されている。
X線発生器9およびX線検出器10は、コンベア2上の被検査物Wが搬送される搬送路3を形成するコンベア2を挟むように、コンベア2の幅方向に対向して配置されている。すなわち、コンベア2を幅方向に挟んで対向するように、X線発生器9とX線検出器10とが配置されている。
X線発生器9は、その内部に設けられた図示しないX線管の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてX線を生成し、生成したX線を図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状に成形するようになっている。また、X線発生器9は、スクリーン状のX線照射野に成形したX線を、コンベア2上の搬送路3を幅方向に横切るようにして、X線検出器10に向けて照射するようになっている。
X線検出器10は、複数の検出素子10Aをライン状に整列したX線ラインセンサからなる。X線検出器10の検出素子10Aは、図示しないフォトダイオードと、このフォトダイオード上に設けられた図示しないシンチレータとからなり、X線をシンチレータにより光に変換し、この光をフォトダイオードにより検出している。X線検出器10の複数の検出素子10Aは、コンベア2の搬送面からの高さ方向を検出するように、コンベア2の搬送面を通る平面に直交する直線に沿って配置されている。なお、図2は、X線発生器9のX線照射野に、破線で示すガイド部材61が入り込んでいる場合を表している。
このように構成されたX線検出器10は、被検査物WがX線ラインセンサを通過することで被検査物Wを透過するX線の量(検出レベル)に応じたX線画像を出力する。X線検出器10は、図示しないA/D変換部を備えており、このA/D変換部によりフォトダイオードからの輝度値データをデジタルデータに変換するようになっている。なお、A/D変換部から出力されるデータは、輝度値により明暗で表されるX線画像(明暗画像)であってもよいし、輝度値を所望の濃度となるように変換した濃度値により濃淡で表されるX線画像(濃淡画像)であってもよい。本実施の形態では、X線検出器10のA/D変換部から出力されるX線画像は、検出レベルを濃淡で表した濃淡画像である。
本実施の形態において、X線発生器9は、X線照射野がコンベア2の上面上方となるように、設置作業により予め調整されている。また、X線検出器10の下端部がコンベア2の上面と同じ高さになるように、X線検出器10の位置が設置作業により予め調整されている。
X線検査装置1は、表示部5、設定操作部45および総合制御部40を備えている。
表示部5は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。表示部5は、総合制御部40による検査結果等の画像を表示するようになっている。
また、表示部5は、被検査物Wの良否判定結果を「OK」や「NG」等の文字または記号で表示するようになっている。また、表示部5は、総検査数、良品数、NG総数等の統計値を表示するようになっている。
表示部5の表示内容および表示態様は、既定設定、または設定操作部45からの所定のキー操作による要求に基づいて決定される。
さらに、表示部5は、後述する非検査領域判定処理において非検査領域Nを表示する通知部としての機能を有する。
設定操作部45は、総合制御部40への各種パラメータ等の設定入力を行うものである。設定操作部45は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、総合制御部40への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。本実施の形態では、表示部5と設定操作部45とがタッチパネル式表示器として一体化され、筐体4の前面上部に配置されている。X線検査装置1の動作モードには、被検査物Wの検査を行う通常の検査モードと、X線検査装置1の各種の調整や状態確認等を行うメンテナンスモードとが含まれる。
総合制御部40は、X線画像記憶部42、画像処理部43、判定部44、制御部46および検査外領域設定部47を備えている。
X線画像記憶部42は、X線検出器10から受け取ったX線画像を記憶するようになっている。
画像処理部43は、X線画像記憶部42から読み出したX線画像に対して各種の画像処理アルゴリズム等を適用して画像処理を施すようになっている。ここで、画像処理アルゴリズムは、複数の画像処理フィルタを組み合わせたものからなる。
画像処理部43は、画像処理の一環としてX線画像記憶部42から読み出したX線画像の一部の領域を後述する異物判定の対象から除外するマスキング処理を行うようになっている。
本実施の形態では、図3に示すように、X線画像記憶部42から読み出したX線画像に映り込む搬送部材21等のコンベア2の一部を異物判定の対象領域(検査領域)から除外するようにマスキング処理を行う。以下においては、X線画像に映り込んだ搬送部材21等のコンベア2の画像をコンベア画像2iという。
マスキング処理により異物判定の対象から除外される領域(以下、検査外領域Aという)は、例えばメンテナンスモードにおいて検査外領域設定部47によって予め設定されるようになっている。検査外領域設定部47は、メンテナンスモードにおいて、被検査物Wを搬送していない状態のX線画像に基づき、予め設定されている濃度閾値以上の画素の領域を検査外領域Aとして設定するようになっている。これにより、コンベア画像2iの上端から下方の領域が検査外領域Aとして設定される。
判定部44は、画像処理部43により画像処理されたX線画像に対して、被検査物Wと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する異物判定を行い、また、被検査物Wの形状の良否を判定する形状判定を行うようになっている。
制御部46は、CPUおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを有しており、X線検査装置1の全体を制御するようになっている。制御部46の制御内容には、表示部5の表示内容および表示形態の制御が含まれる。
本実施の形態では、制御部46は、後述する非検査領域判定処理を実行可能となっている。この非検査領域判定処理は、例えば設定操作部45に表示された処理開始アイコンを検査作業者がタッチすることにより開始されてもよいし、X線検査装置1の起動時に自動的に開始されてもよい。
制御部46は、図8に示すように、後述する非検査領域判定処理において特定された非検査領域Nを示す画像を表示部5に表示させるようになっている。非検査領域Nを示す画像は、画像処理部43において生成される。
次に、制御部46において実行される非検査領域判定処理について説明する。
図4は、検査外領域Aと被検査物画像Wiとの境界部分を拡大した図である。ここで、コンベア画像2iの上端から下方の領域を検査外領域Aとして設定した場合に、図4に示すように、検査外領域Aが被検査物画像Wiの最下部に重なってしまうことがある。また、例えばコンベア2の経年劣化やX線検査装置1またはコンベア2の設置状態の変化によってコンベア画像2iの上端の位置が下方にずれることがある。この場合にも、検査外領域Aが被検査物画像Wiの最下部に重なってしまう。
このように、検査外領域Aが被検査物画像Wiの最下部に重なった場合には、図5に示すように、検査外領域Aと被検査物画像Wiとが重なっている領域、すなわちコンベア画像2iの上端と検査外領域Aの上端との間の領域(図5中、ハッチングで示す領域)は、マスキング処理により異物判定の対象から除外されてしまう。したがって、この検査外領域Aと被検査物画像Wiとが重なっている領域は、異物の検査を行わない非検査領域Nとなってしまう。こうした非検査領域Nが検査作業者によって把握されていないと、異物検出の精度を低下させてしまうおそれがある。
そこで、本実施の形態では、制御部46により非検査領域判定処理を実行することで、検査作業者に非検査領域Nを簡易に把握させるようにしている。
具体的な非検査領域判定処理の流れについて、図6を参照して説明する。図6に示す非検査領域判定処理は、例えばメンテナンスモードにおいて、被検査物Wを搬送していない状態のX線画像に基づき行われる。
図8に示すように、制御部46は、X線画像中におけるコンベア画像2iの上端の位置を検出する(ステップS1)。具体的には、制御部46は、図7に示すように、コンベア画像2iを構成する画素のうち最も上方に位置する画素を、コンベア画像2iの上端の位置P1として検出する。このように、コンベア画像2iの上端の位置P1を検出する制御部46は、検出部を構成する。
次いで、制御部46は、ステップS1で検出したコンベア画像2iの上端の位置P1と、予め設定された検査外領域Aの上端の位置P2とを比較する(ステップS2)。具体的には、制御部46は、コンベア画像2iの上端の位置P1に対応する画素の上下方向の位置と、検査外領域Aの上端の位置P2に対応する画素の上下方向の位置とを比較する。
制御部46は、ステップS1で検出したコンベア画像2iの上端の位置P1と、予め設定された検査外領域Aの上端の位置P2とを比較した結果、位置P1と位置P2とが異なるか否かを判定する(ステップS3)。
具体的には、制御部46は、コンベア画像2iの上端の位置P1に対応する画素と、検査外領域Aの上端の位置P2に対応する画素とが少なくとも1画素分以上、上下方向にずれているか否かを判定する。
制御部46は、ステップS1で検出したコンベア画像2iの上端の位置P1と予め設定された検査外領域Aの上端の位置P2とが異なると判定した場合には、位置P1と位置P2との差分Dを非検査領域Nとして表示部5に表示して(ステップS4)、非検査領域判定処理を終了する。
具体的には、ステップS4において、制御部46は、非検査領域Nが検査作業者に簡易に把握されるように、図8に示すような視覚的に非検査領域Nを把握できる画像を表示部5に表示する。
図8に示す画像は、予め設定された検査外領域Aの上端の位置P2に対してコンベア画像2iの上端の位置P1が下方に位置する場合の例である。図8に示す画像では、位置P1と位置P2とがそれぞれ直線で表示され、容易に比較可能となっている。ここで、位置P1を示す直線と位置P2を示す直線とを互いに異なる色で表示させれば、比較が容易である。この他、位置P1を示す直線及び位置P2を示す直線のうちいずれか一方を破線で、いずれか他方を実線で表示する等、互いに線種を異ならせてもよい。
また、非検査領域Nを周囲の画像と区別できるように、非検査領域Nにハッチング等を施してもよい。このように、非検査領域Nとして表示部5に表示する画像は、検査作業者に容易に把握できる態様であれば、上述した表示態様に限らず、どのような表示態様であってもよい。
一方、ステップS3において、制御部46は、ステップS1で検出したコンベア画像2iの上端の位置P1と予め設定された検査外領域Aの上端の位置P2とが異ならないと判定した場合には、非検査領域判定処理を終了する。
なお、上述の非検査領域判定処理を、コンベア2が停止している状態で行えば、コンベア2の上端の位置が安定したX線画像に基づき非検査領域判定処理を実行することができる。これにより、非検査領域判定処理において、コンベア2が停止している状態のX線画像中におけるコンベア画像2iの上端の位置P1を検出するので、ばらつきなく、正確にコンベア画像2iの上端の位置P1を検出することができる。
上述の非検査領域判定処理において非検査領域Nが表示部5に表示された場合には、検査作業者は、メンテナンスモードにおいて再度、検査外領域Aを設定する。これにより、実際のコンベア画像2iの領域と検査外領域Aとの間のずれが解消され、異物検出の精度が低下することを防止できる。
このように、本実施の形態のX線検査装置1は、制御部46によって検出されたX線画像中におけるコンベア画像2iの上端の位置P1と、予め検査外領域設定部47によって設定された検査外領域Aの上端の位置P2とが異なる場合に、位置P1と位置P2との差分Dを非検査領域Nとして通知することができる。したがって、コンベア2の上端の変位によって生じる非検査領域Nを検査作業者に簡易に把握させることができる。なお、コンベア2の上端の変位は、コンベア2全体または搬送部材21の設置状態の変化により生ずるものであり、コンベア2とX線検査装置1とが一体に構成されていても生ずるものである。
また、本実施の形態のX線検査装置1は、検査外領域Aの上端の位置P2に対して、コンベア画像2iの上端の位置P1が下方に位置する場合に、位置P1と位置P2との差分Dを非検査領域Nとして通知する。これにより、本実施の形態のX線検査装置1は、コンベア2の上端が下方に変位したために被検査物画像Wiの最下部が検査外領域Aと重なっていることを検査作業者に把握させることができる。
これにより、検査作業者は、メンテナンスモードにおいて再度、検査外領域Aを設定することができる。この結果、本実施の形態のX線検査装置1は、被検査物画像Wiの最下部が検査外領域Aと重なることによって被検査物Wに対して検査を行わない領域が発生することを防止できる。
また、本実施の形態のX線検査装置1は、検査外領域Aの上端の位置P2に対して、コンベア画像2iの上端の位置P1が上方に位置する場合に、位置P1と位置P2との差分Dを非検査領域Nとして通知する。これにより、本実施の形態のX線検査装置1は、コンベア2の上端が上方に変位したために搬送部材21等のコンベア2の上端側の一部が異物判定の対象領域(検査領域)に映り込んでいることを検査作業者に把握させることができる。
これにより、検査作業者は、メンテナンスモードにおいて再度、検査外領域Aを設定することができる。この結果、本実施の形態のX線検査装置1は、搬送部材21等のコンベア2の上端側の一部が異物判定の対象領域(検査領域)に映り込むことによる誤判定を防止することができる。
なお、本実施の形態では、非検査領域を通知する通知部として表示部5を用いた例について説明したが、これに限らず、例えば非検査領域を示す信号を外部に出力する制御部46を通知部としてもよい。この場合、制御部46は、X線検出装置1と接続された外部端末の表示画面に非検査領域を表示するための信号を出力する。
また、本実施の形態において、制御部46は、コンベア画像2iの上端の位置P1に対応する画素と検査外領域Aの上端の位置P2に対応する画素とが少なくとも1画素分以上、上下方向にずれている場合に、位置P1と位置P2との差分Dを示す画像を表示部5に表示するようにした。
これに対して、制御部46は、コンベア画像2iの上端の位置P1に対応する画素と検査外領域Aの上端の位置P2に対応する画素とが所定値以上、すなわち所定の画素数以上、上下方向にずれている場合に、位置P1と位置P2との差分Dを示す画像を表示部5に表示するようにしてもよい。
この場合、コンベア2の上端の位置が誤差範囲でばらついた場合に、当該ばらつきによる差分を非検査領域として通知してしまうことを防止できる。これにより、不要な通知を排除し、異物検出の精度に関わるようなコンベア2の変位が生じたときにのみ通知を行うことができる。
また、本実施の形態において、制御部46は、コンベア2の上端が下方に変位した場合も上方に変位した場合も、同一の表示態様で非検査領域Nを表示部5に表示させている。
これに対して、コンベア2の上端が上方に変位した場合には、コンベア2の上端が下方に変位した場合と異なる表示態様で、非検査領域Nを表示部5に表示させるようにしてもよい。この場合、コンベア2の上端が上方または下方のいずれに変位したのかを、検査作業者に容易に識別させることができる。これにより、検査作業者は、コンベア2の変位の状態に応じた適切な対応をとることができる。
また、本実施の形態において、制御部46は、メンテナンスモードにおいて被検査物Wを搬送していない状態のX線画像に基づき非検査領域判定処理を行っているが、メンテナンスモードに限らず、通常の検査モードにおいて被検査物Wが搬送されていない状態のX線画像に基づき非検査領域判定処理を行ってもよい。
具体的には、制御部46は、被検査物Wと被検査物Wとの間、すなわち被検査物WのないタイミングにおけるX線画像に基づき非検査領域判定処理を行う。ここで、制御部46は、上下方向に並んだ複数の画素のうち、被検査物Wの有無を判定可能な特定の画素の濃度値に基づき被検査物Wがあるか否かを判定することができる。特定の画素としては、少なくともコンベア画像2iの上端よりも上方で、かつ被検査物Wの高さ以下の範囲に位置する画素を用いる。
以上のように、本発明に係るX線検査装置は、搬送路への組み込みを容易に行うことができるという効果を有し、X線発生器から照射されて被検査物を透過したX線をX線検出器により検出して異物を検出するX線検査装置として有用である。
1 X線検査装置
2 コンベア
3 搬送路
5 表示部(通知部)
9 X線発生器
10 X線検出器
10A 検出素子
43 画像処理部
45 設定操作部
46 制御部(検出部)
47 検査外領域設定部
61 ガイド部材
W 被検査物
2i コンベア画像
A 検査外領域
P1 コンベア画像の上端の位置
P2 検査外領域の上端の位置
D 差分
N 非検査領域

Claims (5)

  1. X線を発生するX線発生器(9)と、
    X線を検出するX線検出器(10)と、を備え、
    被検査物(W)が水平方向に通過する搬送路(3)を形成するコンベア(2)を挟んで前記X線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記X線発生器と前記X線検出器とが配置されたX線検査装置であって、
    前記X線検出器によって得られるX線画像中の前記コンベアを示す領域を検査外領域(A)として設定する検査外領域設定部(47)と、
    前記X線画像中における前記コンベアの上端の位置(P1)を検出する検出部(46)と、
    前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置(P2)とが異なる場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分(D)を非検査領域(N)として通知する通知部(5)と、を備えたことを特徴とするX線検査装置。
  2. 前記通知部は、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が下方に位置する場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知することを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記通知部は、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が上方に位置する場合に、前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置に対して前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置が下方に位置する場合と異なる態様で前記差分を非検査領域として通知することを特徴とする請求項2に記載のX線検査装置。
  4. 前記検出部は、前記コンベアが停止している状態の前記X線画像中における前記コンベアの上端の位置を検出することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のX線検査装置。
  5. 前記通知部は、前記検出部によって検出された前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域設定部により設定された前記検査外領域の上端の位置とが所定値以上異なる場合に、前記コンベアの上端の位置と前記検査外領域の上端の位置との差分を非検査領域として通知することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のX線検査装置。
JP2017033719A 2017-02-24 2017-02-24 X線検査装置 Active JP6574797B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017033719A JP6574797B2 (ja) 2017-02-24 2017-02-24 X線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017033719A JP6574797B2 (ja) 2017-02-24 2017-02-24 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018138899A true JP2018138899A (ja) 2018-09-06
JP6574797B2 JP6574797B2 (ja) 2019-09-11

Family

ID=63451394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017033719A Active JP6574797B2 (ja) 2017-02-24 2017-02-24 X線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6574797B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020014629A (ja) * 2018-07-24 2020-01-30 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020014628A (ja) * 2018-07-24 2020-01-30 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020144003A (ja) * 2019-03-06 2020-09-10 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置
JP2022174152A (ja) * 2020-01-10 2022-11-22 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置、画像検査システム、画像検査方法、および画像検査プログラム

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000039404A (ja) * 1998-07-21 2000-02-08 Hitachi Ltd X線検査装置自動検査システム
JP2001272357A (ja) * 2000-03-23 2001-10-05 Hitachi Medical Corp X線異物検査装置
JP2005003480A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005091331A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Dainippon Printing Co Ltd 印刷物の検査装置および方法
JP2005351794A (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Osamu Hirose X線検査装置
JP2007127611A (ja) * 2005-11-07 2007-05-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 異物検出装置
JP2008026198A (ja) * 2006-07-24 2008-02-07 Ishida Co Ltd X線検査装置およびx線検査プログラム
US7453980B1 (en) * 2007-06-25 2008-11-18 Gilevich Alexander I Apparatus and method for acquiring an image of an object

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000039404A (ja) * 1998-07-21 2000-02-08 Hitachi Ltd X線検査装置自動検査システム
JP2001272357A (ja) * 2000-03-23 2001-10-05 Hitachi Medical Corp X線異物検査装置
JP2005003480A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005091331A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Dainippon Printing Co Ltd 印刷物の検査装置および方法
JP2005351794A (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Osamu Hirose X線検査装置
JP2007127611A (ja) * 2005-11-07 2007-05-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 異物検出装置
JP2008026198A (ja) * 2006-07-24 2008-02-07 Ishida Co Ltd X線検査装置およびx線検査プログラム
US7453980B1 (en) * 2007-06-25 2008-11-18 Gilevich Alexander I Apparatus and method for acquiring an image of an object

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020014629A (ja) * 2018-07-24 2020-01-30 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020014628A (ja) * 2018-07-24 2020-01-30 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020144003A (ja) * 2019-03-06 2020-09-10 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置
JP7108564B2 (ja) 2019-03-06 2022-07-28 アンリツ株式会社 X線検査装置
JP2022174152A (ja) * 2020-01-10 2022-11-22 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置、画像検査システム、画像検査方法、および画像検査プログラム
JP7359268B2 (ja) 2020-01-10 2023-10-11 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置、画像検査システム、画像検査方法、および画像検査プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP6574797B2 (ja) 2019-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6574797B2 (ja) X線検査装置
JP6546208B2 (ja) X線検査装置
KR20170127565A (ko) 검사 장치
JP4849805B2 (ja) 検査装置及びptp包装機
JPWO2019159440A1 (ja) 検査装置
JP5864404B2 (ja) X線検査装置
JP5243008B2 (ja) X線異物検出装置
JP5860347B2 (ja) X線検査装置
JP2008157821A (ja) X線異物検査装置
JP6480171B2 (ja) X線検査装置
JP2007322344A (ja) X線検査装置
JP6450075B2 (ja) X線検査装置
JP4170366B2 (ja) X線検査装置
JP6678612B2 (ja) X線検査装置
JP6774895B2 (ja) X線検査装置
JP2009080030A (ja) X線検査装置
JP6901294B2 (ja) X線検査装置
JP6861990B2 (ja) X線検査装置
JP7046708B2 (ja) X線検査装置
JP2005091016A (ja) X線検査装置
JP2006317259A (ja) X線異物検出装置
JP6933497B2 (ja) X線検査装置
JP2005106640A (ja) X線検査装置
JP7102303B2 (ja) X線検査装置及びx線発生器高さ調整方法
JP6578309B2 (ja) X線検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181010

TRDD Decision of grant or rejection written
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190731

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190806

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190819

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6574797

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250