JP2018132611A - 光走査装置及び光走査方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることを目的としている。【解決手段】第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置であって、前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出する差分算出部と、前記差分に基づき、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する走査装置である。【選択図】図1

Description

本発明は、光走査装置及び光走査方法
従来では、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラーを駆動して、レーザ光の反射方向を順次変化させることで、レーザ光を二次元走査して画像を投影させる光走査装置が知られている。
また、従来では、MEMSミラーを水平駆動において、比較的高速な共振駆動を用いた場合に、駆動信号とMEMSミラーの変位との間に位相差が生じることが知られている。この位相差が生じた場合、投影される画像には、水平走査方向の位相差と対応したずれが生じることとなる。そこで、従来では、このような水平走査方向の位相ずれを解消することができるようにした技術が考案されている(特許文献1)。
特開2002−365568号公報
水平走査方向の位相ずれは、温度が一定であっても、MEMSミラーを垂直方向に駆動させる垂直梁の反りの変化によって発生することがわかっている。この反りは可逆的なもので、MEMSミラーの駆動が停止すると、再び初期状態に戻ってゆく。そしてこの反りによっても、水平走査方向の位相ずれが生じる。
しかしながら、特許文献1に開示されている従来の技術では、垂直梁の反りの変化による位相ずれについては考慮されておらず、水平走査方向の位相のずれの補償の精度を向上させることが困難であった。
開示の技術は、上記事情に鑑みてなされたものであり、水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることを目的としている。
開示の技術は、第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置(1)であって、
前記ミラー(110)を前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁(170A、170B)の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁(170A、170B)を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出する差分算出部(55)と、
前記差分に基づき、前記ミラー(110)を前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラー(110)の前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部(56)と、を有する光走査装置である。
なお、上記括弧内の参照符号は、理解を容易にするために付したものであり、一例にすぎず、図示の態様に限定されるものではない。
水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることができる。
第一の実施形態の光走査装置の構成を説明するである。 第一の実施形態の光走査部を説明する図である。 第一の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。 第一の実施形態における第2の駆動梁の反り量と、温度との関係を表す図である。 第一の実施形態の補償回路の動作を示すフローチャートである。 第一の実施形態の位相補償部の処理を説明するフローチャートである。 第二の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。 タイミングの補償量と温度との関係を説明する図である。 第二の実施形態の補償回路の動作を説明するフローチャートである。
(第一の実施形態)
以下に、図面を参照して第一の実施形態について説明する。図1は、第一の実施形態の光走査装置の構成を説明するである。
本実施形態の光走査装置1は、光走査制御部10、光源部20、温度センサ30、光走査部40を備えている。以下に、各部について説明する。
本実施形態の光走査制御部10は、光源部20と、光走査部40とを制御する。光走査制御部10は、システムコントローラ11、バッファ回路12、ミラー駆動回路13、レーザ駆動回路14、補償回路15を有する。
システムコントローラ11は、ミラー駆動回路13に対し、光走査部40の有するミラーの揺動を制御するための制御信号を供給する。また、システムコントローラ11は、ディジタルの映像信号をレーザ駆動回路14に供給する。
バッファ回路12は、光走査部40から出力されるデータを保持する。具体的には、例えば、バッファ回路12は、光走査部40の有する垂直振角センサや水平振角センサから出力される出力信号等が保持される。
ミラー駆動回路13は、システムコントローラ11からの制御信号に基づいて、光走査部40に対し、後述するミラーを水平方向(第1方向)に揺動(駆動)させるための水平駆動信号と、ミラーを垂直方向(第2方向)に揺動させるための垂直駆動信号とを供給する。
レーザ駆動回路14は、システムコントローラ11からの映像信号に基づいて、光源部20に、レーザを駆動させるためのレーザ駆動信号を供給する。
補償回路15は、光走査部40において、ミラーを垂直方向に駆動させる駆動梁の反りの変化によって発生する水平走査方向(以下、水平方向)の位相のずれを補償する。水平方向の位相のずれとは、光走査部40に供給される水平駆動信号と、ミラーの水平方向の変位を検出する水平振角センサの出力信号との位相差である。補償回路15の詳細は後述する。
本実施形態の光源部20は、LDモジュール21、減光フィルタ22を有する。LDモジュール21は、レーザ21R、レーザ21G、レーザ21Bを有する。
レーザ21R、21G、21Bは、システムコントローラ11から供給されたレーザ駆動電流に基づいて、レーザ光を出射する。レーザ21Rは、例えば、赤色半導体レーザであり、波長λR(例えば、640nm)の光を出射する。レーザ21Gは、例えば、緑色半導体レーザであり、波長λG(例えば、530nm)の光を出射する。レーザ21Gは、例えば、青色半導体レーザであり、波長λB(例えば、445nm)の光を出射する。レーザ21R、21G、21Bから出射された各波長の光は、ダイクロイックミラー等により合成され、減光フィルタ22により所定の光量に減光されて、光走査部40に入射される。
温度センサ30は、光走査装置1の周囲の温度を検出するためのセンサであり、例えば、サーミスタ等により実現されても良い。
光走査部40は、ミラー駆動回路13から供給される水平及び垂直駆動信号に応じて、ミラーを水平方向及び垂直方向に駆動させる。光走査部40では、これにより、入射されるレーザ光の反射方向を変更して、レーザ光による光走査を行い、スクリーン等に画像を投影する。
以下に、図2を参照して、本実施形態の光走査部40について、さらに説明する。図2は、第一の実施形態の光走査部を説明する図である。
本実施形態の光走査部40は、例えば圧電素子によりミラー110を駆動させるMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー等である。
光走査部40は、ミラー110と、ミラー支持部120と、捻れ梁130A、130Bと、連結梁140A、140Bと、第1の駆動梁150A、150Bと、可動枠160と、第2の駆動梁170A、170Bと、固定枠180とを有する。また、第1の駆動梁150A、150Bは、それぞれ駆動源151A、151Bを有する。また、第2の駆動梁170A、170Bは、それぞれ駆動源171A、171Bを有する。第1の駆動梁150A、150B、第2の駆動梁170A、170Bは、ミラー110を上下又は左右に揺動してレーザ光を走査するアクチュエータとして機能する。
ミラー支持部120には、ミラー110の円周に沿うようにスリット122が形成されている。スリット122により、ミラー支持部120を軽量化しつつ捻れ梁130A、130Bによる捻れをミラー110へ伝達することができる。
光走査部40において、ミラー支持部120の上面にミラー110が支持され、ミラー支持部120は、両側にある捻れ梁130A、130Bの端部に連結されている。捻れ梁130A、130Bは、揺動軸を構成し、軸方向に延在してミラー支持部120を軸方向両側から支持している。捻れ梁130A、130Bが捻れることにより、ミラー支持部120に支持されたミラー110が揺動し、ミラー110に照射された光の反射光を走査させる動作を行う。捻れ梁130A、130Bは、それぞれが連結梁140A、140Bに連結支持され、第1の駆動梁150A、150Bに連結されている。
第1の駆動梁150A、150B、連結梁140A、140B、捻れ梁130A、130B、ミラー支持部120及びミラー110は、可動枠160によって外側から支持されている。第1の駆動梁150A、150Bは、可動枠160にそれぞれの一方の側が支持されている。第1の駆動梁150Aの他方の側は内周側に延びて連結梁140A、140Bと連結している。第1の駆動梁150Bの他方の側も同様に、内周側に延びて連結梁140A、140Bと連結している。
第1の駆動梁150A、150Bは、捻れ梁130A、130Bと直交する方向に、ミラー110及びミラー支持部120を挟むように、対をなして設けられている。第1の駆動梁150A、150Bの上面には、駆動源151A、151Bがそれぞれ形成されている。駆動源151A、151Bは、第1の駆動梁150A、150Bの上面の圧電素子の薄膜(以下「圧電薄膜」ともいう。)の上に形成された上部電極と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。駆動源151A、151Bは、上部電極と下部電極に印加する駆動電圧の極性に応じて伸長したり縮小したりする。
このため、第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bとで異なる位相の駆動電圧を交互に印加すれば、ミラー110の左側と右側で第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bとが上下反対側に交互に振動する。これにより、捻れ梁130A、130Bを揺動軸又は回転軸として、ミラー110を軸周りに揺動させることができる。
ミラー110が捻れ梁130A、130Bの軸周りに揺動する方向を、以後、水平方向と呼ぶ。つまり、本実施形態の第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bは、捻れ梁130A、130Bの捻れ変形させることで、ミラー110を水平方向(第1方向)に揺動させる。例えば第1の駆動梁150A、150Bによる水平駆動には、共振振動が用いられ、高速にミラー110を揺動駆動することができる。
また、可動枠160の外部には、第2の駆動梁170A、170Bの一端が連結されている。第2の駆動梁170A、170Bは、可動枠160を左右両側から挟むように、対をなして設けられている。そして、第2の駆動梁170A、170Bは、可動枠160を両側から支持すると共に、光反射面の中心を通る所定の軸周りに揺動させる。第2の駆動梁170Aは、第1の駆動梁150Aと平行に延在する複数個(例えば偶数個)の矩形梁の各々が、隣接する矩形梁と端部で連結され、全体としてジグザグ状の形状を有する。
そして、第2の駆動梁170Aの他端は、固定枠180の内側に連結されている。第2の駆動梁170Bも同様に、第1の駆動梁150Bと平行に延在する複数個(例えば偶数個)の矩形梁の各々が、隣接する矩形梁と端部で連結され、全体としてジグザグ状の形状を有する。そして、第2の駆動梁170Bの他端は、固定枠180の内側に連結されている。
第2の駆動梁170A、170Bの上面には、それぞれ曲線部を含まない矩形単位ごとに駆動源171A、171Bが形成されている。駆動源171Aは、第2の駆動梁170Aの上面の圧電薄膜の上に形成された上部電極と、上部電極の上面に形成された応力カウンター膜8と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。駆動源171Bは、第2の駆動梁170Bの上面の圧電薄膜の上に形成された上部電極と、上部電極の上面に形成された応力カウンター膜8と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。
尚、応力カウンター膜8は、圧電薄膜が形成されていない領域には形成されていない。これは、圧電薄膜が形成されていない領域に応力カウンター膜8を形成すると、応力カウンター膜8により不必要な箇所に新たな応力が発生し、変形や破損の原因となるためである。
本実施形態では、応力カウンター膜8を形成することにより、初期状態において、例えば図2に示されるように、第2の駆動梁170A、170Bに対して圧縮応力を発生させて、固定枠180に対して下方向に撓んだ状態(下反りの状態)になるようにする。圧縮応力とは、第2の駆動梁170A、170Bを固定枠180に対して下反りにさせる応力である。また、初期状態とは、光走査部40に駆動信号が供給されていない状態を示す。
図2に示す光走査部40では、第2の駆動梁170A、170Bは、初期状態において下反りになっているため、第2の駆動梁170A、170Bが上方に反るように動作しても、第2の駆動梁170A、170Bが固定枠180に対して上反りにならない、又は、上反りになりにくい。このため、初期状態において第2の駆動梁170A、170Bに反りがない光走査部よりも破損や材料疲労を低減させることができる。
尚、第2の駆動梁170A、170Bは、駆動源171A、171に電圧が供給されず、ミラー110が静止した初期状態においても、第2の駆動梁170A、170Bに発生させる圧縮応力によって、下方向に撓んだ状態(下反りの状態)となる。
第2の駆動梁170A、170Bは、矩形単位ごとに隣接している駆動源171A、171B同士で、異なる極性の駆動電圧を印加することにより、隣接する矩形梁を上下反対方向に反らせ、各矩形梁の上下動の蓄積を可動枠160に伝達する。
第2の駆動梁170A、170Bは、この動作により、平行方向と直交する方向である垂直方向にミラー110を揺動させる。つまり、第2の駆動梁170A、170Bは、ミラー110を垂直方向に揺動させる垂直梁である。言い換えれば、本実施形態の第2の駆動梁170A、170Bは、自身を曲げて変形させることで、ミラー110を垂直方向(第2方向)に揺動させる。例えば第2の駆動梁170A、170Bによる垂直駆動には、非共振振動を用いることができる。
例えば、駆動源171Aを、可動枠160側から右側に向かって並ぶ駆動源171A1、171A2、171A3、171A4、171A5及び171A6を含むものとする。また、駆動源171Bを、可動枠160側から左側に向かって並ぶ駆動源171B1、171B2、171B3、171B4、171B5及び171B6を含むものとする。この場合、駆動源171A1、171B1、171A3、171B3、171A5、171B5を同波形、駆動源171A2、171B2、171A4、171B4、171A6及び171B6を前者と位相の異なる同波形で駆動することで垂直方向へ遥動できる。
駆動源151Aの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源151Bの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源171Aの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源171Bの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。
また、光走査部40は、駆動源151A、151Bに駆動電圧が印加されてミラー110が水平方向に遥動している状態におけるミラー110の水平方向の傾き具合(水平方向の振角)を検出する水平振角センサとして圧電センサ191、192を有する。圧電センサ191は連結梁140Aに設けられ、圧電センサ192は連結梁140Bに設けられている。
また、光走査部40は、駆動源171A、171Bに駆動電圧が印加されてミラー110が垂直方向に遥動している状態におけるミラー110の垂直方向の傾き具合(垂直方向の振角)を検出する垂直振角センサとして圧電センサ195、196を有する。圧電センサ195は第2の駆動梁170Aの有する矩形梁の一つに設けられており、圧電センサ196は第2の駆動梁170Bの有する矩形梁の一つに設けられている。
圧電センサ191は、ミラー110の水平方向の傾き具合に伴い、捻れ梁130Aから伝達される連結梁140Aの変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ192は、ミラー110の水平方向の傾き具合に伴い、捻れ梁130Bから伝達される連結梁140Bの変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ195は、ミラー110の垂直方向の傾き具合に伴い、第2の駆動梁170Aのうち圧電センサ195が設けられた矩形梁の変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ196は、ミラー110の垂直方向の傾き具合に伴い、第2の駆動梁170Bのうち圧電センサ196が設けられた矩形梁の変位に対応する電流値を出力する。
本実施形態では、圧電センサ195、196の出力を用いてミラー110の垂直方向の傾き具合を検出する。圧電センサ195、196から出力された電圧は、バッファ回路12に保持される。尚、バッファ回路12に保持される電圧は、圧電センサ195、196の何れか一方から出力された電圧であっても良い。
本実施形態では、補償回路15は、バッファ回路12に保持された電圧に基づき、光源部20からのレーザ光の出射のタイミングを補償する。
圧電センサ191、192、195、196は、圧電薄膜の上面に形成された上部電極と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。本実施形態では、各圧電センサの出力は、上部電極と下部電極とに接続されたセンサ配線の電流値となる。
圧電センサ191の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ195の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ192の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ196の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。
次に、図3を参照して、本実施形態の補償回路15の機能について説明する。図3は、第一の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。
本実施形態の補償回路15は、温度取得部51、位相補償部52を有する。本実施形態の温度取得部51は、温度センサ30により検出された温度を取得する。
位相補償部52は、係数記憶部53、センサ出力取得部54、差分算出部55、位相ずれ算出部56、タイミング補償部57を有する。
係数記憶部53は、第2の駆動梁170A、170Bの反り量と、温度との関係を表す関数を示す係数を記憶する。また、係数記憶部53は、反り量の変化と、水平方向の位相のずれ量との関係を示す係数を記憶する。係数記憶部53によって記憶された係数が示す関数の詳細は後述する。
センサ出力取得部54は、バッファ回路12に保持された電圧を取得する。バッファ回路12に保持される電圧は、圧電センサ191、192、195、196の出力信号である。
差分算出部55は、温度取得部51が取得した温度と、係数記憶部53に記憶された係数により表される関数と、センサ出力取得部54が取得した出力信号と、に基づき、第2の駆動梁170A、170Bの初期駆動時における反り量と、現在の駆動梁170A、170Bの反り量との差分を算出する。尚、現在の駆動梁170A、170Bの反り量とは、駆動梁170A、170Bを所定時間駆動させた状態の反り量であり、圧電センサ195、196の出力信号によって示される。
位相ずれ算出部56は、差分算出部55により算出された差分と、係数記憶部53に記憶された係数と、に基づき、水平方向の位相のずれ量を算出する。水平方向の位相のずれ量は、レーザ光を照射するタイミングの補償量に相当する。タイミングの補償量とは、水平振角センサである圧電センサ191又は圧電センサ192の出力信号の波形におけるゼロクロス点から、レーザ光を照射する時刻までの期間を示す。
タイミング補償部57は、タイミングの補償量に基づき、レーザ光の出射のタイミングを補償する。具体的には、タイミング補償部57は、タイミングの補償量が示すタイミングを、システムコントローラ11へ通知し、レーザ光を照射するタイミングを更新させる。
以下に、図4を参照して、係数記憶部53に記憶された係数について説明する。
図4は、第一の実施形態における第2の駆動梁の反り量と、温度との関係を表す図である。
図4に示すグラフでは、横軸は温度を示している。また、縦軸は、第2の駆動梁170A、170Bの反り量を示している。本実施形態では、圧電センサ195、196の出力信号(出力電圧)を、第2の駆動梁170A、170Bの反り量として示している。尚、本実施形態では、第2の駆動梁170A、170Bの反り量は同じとし、図4では、縦軸は、圧電センサ195の出力信号によって示されるものとした。
図4に示すグラフにおいて、曲線L1は、光走査部40の初期駆動時における温度Tと反り量Vinitとの関係を示す関数Vinit(T)である。初期駆動時とは、光走査部40に対して駆動信号の供給を開始した時である。
また、図4に示すグラフにおいて、曲線L2は、光走査部40が駆動を開始してから所定時間が経過したときの、光走査部40における温度Tと反り量Vsenとの関係を示す関数Vsen(T)である。尚、反り量Vsenは、垂直振角センサである圧電センサ195の出力信号の値(電圧)である。
このグラフからわかるように、本実施形態では、第2の駆動梁170Aに反り方が変化すると、温度が一定であっても、圧電センサ195の出力信号の値が変化する。この変化が、水平方向の位相のずれの原因となる。したがって、本実施形態では、温度取得部51が取得した温度Tにおいて、光走査部40の初期駆動時の反り量と、駆動を開始してから所定時間後の反り量との差分αから、水平方向の位相のずれを算出する。
関数Vinit(T)は、以下の式(1)で示される。係数a,b,cは、予め係数記憶部53に記憶されている。
関数Vinit(T)=aT+bT+c[V] 式(1)
尚、関数Vinit(T)は、例えば、光走査部40の初期駆動時において、複数の異なる温度毎に、温度を一定とし、水平方向の位相のずれを0としたときの圧電センサ195の出力信号を測定することによって、予め求められても良い。また、本実施形態では、差分αから位相ずれ量を求める係数βを求め、係数記憶部53に保持させる。
尚、水平方向の位相のずれが0となるときとは、光走査部40に供給される水平駆動信号と、ミラーの水平方向の変位を検出する水平振角センサの出力信号との位相差が一定となる場合である。
次に、図5を参照して、本実施形態の補償回路15の動作について説明する。図5は、第一の実施形態の補償回路の動作を示すフローチャートである。
本実施形態の補償回路15は、光走査装置1の電源がオンであるか否かを判定する(ステップS51)。ステップS52において、電源がオフとされた場合、補償回路15は、処理を終了する。
ステップS51において、電源がオンである場合、補償回路15は、温度取得部51により、温度測定間隔が経過したか否かを判定する(ステップS52)。尚、温度測定間隔は、予め温度取得部51に設定されていても良い。ステップS52において、温度測定間隔が経過していない場合、補償回路15は、温度測定間隔が経過するまで待機する。
ステップS52において、温度測定間隔が経過すると、温度取得部51は、温度センサ30が検出した温度を取得し、保持する(ステップ53)。
続いて、補償回路15は、位相補償部52により、位相補償間隔が経過したか否かを判定する(ステップS54)。尚、位相補償間隔は、予め位相補償部52に設定されていても良い。また、位相補償間隔は、温度測定間隔よりも長い間隔であるほうが好ましい。
ステップS54において、位相補償間隔が経過していない場合、補償回路15は、位相補償間隔が経過するまで待機する。
ステップS54において、位相補償間隔が経過すると、補償回路15は、位相補償部52により、水平方向の位相のずれを補償する処理を行い(ステップS55)、ステップS51へ戻る。
このように、本実施形態では、温度取得部51により温度を取得する処理と、位相補償部52により位相のずれを補償する処理と、をそれぞれ独立して行う。したがって、本実施形態では、温度取得部51により、任意のタイミングで温度の取得することができ、例えば、位相補償部52以外の処理部による処理と同期して温度を取得したりすることもできる。このため、本実施形態によれば、例えば、温度の取得を位相補償部52による処理よりも頻繁に行いたい場合等には、温度測定間隔を位相補償間隔より短くすればよく、補償回路15による処理の負荷の増大を抑制できる。
次に、図6を参照して、本実施形態の位相補償部52の処理について説明する。図6は、第一の実施形態の位相補償部の処理を説明するフローチャートである。
本実施形態の位相補償部52は、センサ出力取得部54により、バッファ回路12に保持された圧電センサ195の出力信号を取得する(ステップS61)。続いて、位相補償部52は、差分算出部55により、温度取得部51が保持している温度を参照する(ステップS62)。
次に、差分算出部55は、係数記憶部53に記憶されている係数が表す関数Vinit(T)と、参照した温度Tから、温度Tにおける初期駆動時の第2の駆動梁170Aの反り量を算出する。そして、差分算出部55は、初期駆動時の第2の駆動梁170Aの反り量と、センサ出力取得部54により取得した出力信号(反り量)との差分αを算出する(ステップS63)。尚、温度がTのときの差分αは、以下の式(2)から算出される。式(2)のVsen(T)は、温度がTのときの圧電センサ195の出力信号である。
Vsen(T)=Vinit(T)+α [V] 式(2)
続いて、補償回路15は、位相ずれ算出部56により、差分αに起因する水平方向の位相のずれを算出する(ステップS64)。位相ずれ算出部56は、位相のずれ量をPcompとしたとき、以下の式(3)により、位相のずれ量Pcompを算出する。本実施形態では、式(3)により、差分αが、差分αと対応する位相のずれ量に換算される。
Pcomp=α×β[sec] 式(3)
続いて、位相ずれ算出部56は、位相のずれ量Pcompに基づき、タイミングの補償量を算出する(ステップS65)。位相ずれ算出部56は、タイミングの補償量をPoptとしたとき、以下の式(4)により、タイミングの補償量Poptを算出する。尚、式(4)のPiniは、初期駆動時における位相のずれ量を示す。
Popt=Pcomp+Pini[sec] 式(4)
続いて、補償回路15は、タイミング補償部57により、システムコントローラ11におけるレーザ光の照射のタイミングを、圧電センサ191、192の出力信号の波形のゼロクロス点からPopt[sec]後に更新し(ステップS66)、処理を終了する。
このように、本実施形態によれば、第2の駆動梁170A、170Bの反りの変化に起因する、水平方向の駆動信号と、圧電センサ191、192からの出力信号との位相のずれを補償できる。よって、本実施形態によれば、水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることができる。
また、本実施形態によれば、位相のずれを補償するための専用のセンサ等を追加することなく、簡素な構成で水平方向の位相のずれを補償することができる。
このため、本実施形態によれば、水平方向の位相のずれによって、投影される画像が二重に見える等といった画質の低下を抑制することができる。
(第二の実施形態)
以下に、第二の実施形態について説明する。第二の実施形態では、ミラーを垂直方向に揺動させる駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定し、安定した場合には、反りの差分を用いずに位相のずれを補償する点が、第一の実施形態と相違する。以下の第二の実施形態の説明では、第一の実施形態との相違点についてのみ説明し、第一の実施形態と同様の機能構成を有するものには、第一の実施形態の説明で用いた符号と同様の符号を付与し、その説明を省略する。
図7は、第二の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。本実施形態の補償回路15Aは、温度取得部51と、位相補償部52Aと、を有する。
本実施形態の位相補償部52Aは、係数記憶部53A、センサ出力取得部54、差分算出部55、位相ずれ算出部56A、タイミング補償部57、反り状態判定部58を有する。
本実施形態の係数記憶部53Aは、係数a、b、c、βに加え、タイミングの補償量Poptと温度Tとの関係を示す関数を表すための係数e、f、gを保持している。係数e、f、gの詳細は後述する。
本実施形態の位相ずれ算出部56Aは、反り状態判定部58により、第2の駆動梁170A、170Bの反りの状態が安定したと判定された場合に、係数e、f、gにより表される関数(式(5))を参照して、タイミングの補償量Poptを算出する。
本実施形態の反り状態判定部58は、第2の駆動梁170A、170Bの反りの状態が安定したか否かを判定する。具体的には、反り状態判定部58は、センサ出力取得部54により取得した圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、直前に取得した出力信号の値(電圧)とが一致したとき、安定した状態と判定する。
尚、反り状態判定部58による判定の方法は、上述した方法に限定されない。例えば、反り状態判定部58は、センサ出力取得部54により取得した圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、初期駆動時の圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、の差分が、複数回続けて一致したときに、反りの状態が安定したと判定しても良い。
以下に、図8を参照して、タイミングの補償量Pと温度Tとの関係について説明する。図8は、タイミングの補償量と温度との関係を説明する図である。図8に示すグラフでは、縦軸をタイミングの補償量Pとし、横軸を温度Tとしている。
図8に示す曲線L3は、光走査部40の初期駆動時におけるタイミングの補償量Piniと温度Tとの関係を示す関数Pini(T)を示す。関数Pini(T)は、以下の式(5)のように示される。
Pini=eT+fT+g 式(5)
尚、関数Pini(T)は、例えば、複数の異なる温度毎に、光走査部40を所定の期間連続して駆動させ、第2の駆動梁170A、170Bの反りが安定した状態とし、水平方向の位相のずれを0としたときのタイミングの補償量を検出することによって、予め求められても良い。そして、本実施形態では、関数Pini(T)を表すための係数e、f、gを係数記憶部53Aに保持させても良い。
次に、図9を参照して、本実施形態の補償回路15Aの動作について説明する。図9は、第二の実施形態の補償回路の動作を説明するフローチャートである。
図9のステップS91とステップS92の処理は、図6のステップS61とステップS62の処理と同様であるから、説明を省略する。
続いて、補償回路15Aは、反り状態判定部58により、第2の駆動梁170A、170Bの反りが安定した状態であるか否かを判定する(ステップS93)。反り状態判定部58による判定の方法は上述した通りである。
ステップS93において、反りの状態が安定したと判定された場合、補償回路15Aは、位相ずれ算出部56Aにより、温度取得部51が取得した温度を参照し、 関数Pini(T)から、タイミングの補償量Popt′を算出し(ステップS94)、後述するステップS98へ進む。
ステップS93において、反りの状態が安定していないと判定された場合、補償回路15Aは、ステップS95へ進む。
図9のステップS95からステップS98までの処理は、図6のステップS63からステップS66までの処理と同様であるから、説明を省略する。
以上のように、本実施形態によれば、反りが安定した状態であれば、関数Pini(T)から、温度に対応したタイミングの補償量を直接算出することができ、処理の負荷を軽減することができる。
また、上述した各実施形態は、例えば、アイウェアやプロジェクタ等の二次元走査型の光走査装置であれば、適用することができる。
以上、各実施形態に基づき本発明の説明を行ってきたが、上記実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。
1 光走査装置
10 光走査制御部
11 システムコントローラ
12 バッファ回路
13 ミラー駆動回路
14 レーザ駆動回路
15、15A 補償回路
20 光源
30 温度センサ
40 光走査部
51 温度取得部
52、52A 位相補償部
53、53A 係数記憶部
54 センサ出力取得部
55 差分算出部
56、56A 位相ずれ算出部
57 タイミング補償部
58 反り状態判定部

Claims (12)

  1. 第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置であって、
    前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出する差分算出部と、
    前記差分に基づき、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する光走査装置。
  2. 前記ミラーの前記第2方向の振れ角を検出する振角センサを有し、
    前記反り量は、前記振角センサの出力信号から算定される、請求項1記載の光走査装置。
  3. 前記位相ずれ算出部は、
    前記差分を係数倍することで、前記差分を位相のずれ量に換算する、請求項1又は2記載の光走査装置。
  4. 温度を検出する温度検出部と、
    温度と、前記第2の駆動梁の初期駆動時における反り量との関係を示す第一の関数を保持する係数記憶部と、を有し、
    前記差分算出部は、
    前記温度検出部により検出された温度と、前記第一の関数と、に基づき、検出された温度における前記差分を算出する、請求項1乃至3の何れか一項に記載の光走査装置。
  5. 前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定する反り状態判定部を有し、
    前記係数記憶部は、前記温度と、前記位相のずれ量との関係を示す第二の関数を保持しており、
    前記位相ずれ算出部は、
    前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合、前記温度検出部により検出された温度と、前記第二の関数とから、前記位相のずれ量を算出する、請求項4記載の光走査装置。
  6. 第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置であって、
    温度を検出する温度検出部と、
    前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定する反り状態判定部と、
    温度と、前記第2の駆動梁の初期駆動時における反り量との関係を示す関数を保持する係数記憶部と、
    前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合に、前記温度検出部により検出された温度と、前記関数とから、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する光走査装置。
  7. レーザ光を照射する光源と、
    前記位相のずれ量に応じて、前記第1方向の変位を示す信号のゼロクロス点から前記レーザ光を照射するタイミングまでの期間を決定するタイミング補償部と、を有する、請求項1乃至6の何れか一項に記載の光走査装置。
  8. 第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置による光走査方法であって、
    前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出し、
    前記差分に基づき、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する、光走査方法。
  9. 梁を捻れ変形させてミラーを揺動する第1の駆動梁と、梁を曲げ変形させてミラーを揺動する第2の駆動梁とからなる光走査装置であって、
    前記ミラーを曲げ変形によって揺動する前記第2の駆動梁の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出する差分算出部と、
    前記差分に基づき、前記捻れ変形によって前記ミラーを揺動させる第1の駆動梁への駆動信号と、前記捻れ変形によって前記ミラーの変位する量を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する光走査装置。
  10. 前記第2の駆動梁は、
    前記第1の駆動梁と平行に延在する複数個の矩形梁の各々が、隣接する矩形梁と端部で連結され、全体としてジグザグ状の形状を有し、前記矩形梁が曲げ変形することで前記ミラーを揺動することを備えた請求項9に記載の光走査装置。
  11. 前記第2の駆動梁は、
    前記初期駆動時において、固定枠に対して下方向に反った状態である請求項10に記載の光走査装置。
  12. 梁を捻れ変形させてミラーを揺動する第1の駆動梁と、梁を曲げ変形させてミラーを揺動する第2の駆動梁とからなる光走査装置による光走査方法であって、
    前記ミラーを曲げ変形によって揺動させる第2の駆動梁の初期駆動時における反り量と、前記第2の駆動梁を所定時間駆動させた場合の反り量と、の差分を算出し、
    前記差分に基づき、前記捻れ変形によって前記ミラーを揺動させる第1の駆動梁の駆動信号と、前記捻れ変形によって前記ミラーの変位する量を示す信号との位相のずれ量を算出する光走査方法。
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