JP2018116066A - 電気的接触子及び電気的接続装置 - Google Patents

電気的接触子及び電気的接続装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018116066A
JP2018116066A JP2018076162A JP2018076162A JP2018116066A JP 2018116066 A JP2018116066 A JP 2018116066A JP 2018076162 A JP2018076162 A JP 2018076162A JP 2018076162 A JP2018076162 A JP 2018076162A JP 2018116066 A JP2018116066 A JP 2018116066A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
barrel
contact
electrical contact
plunger
spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018076162A
Other languages
English (en)
Inventor
美佳 那須
Mika Nasu
美佳 那須
エーバーグ ダレン
Aaberge Darren
エーバーグ ダレン
博康 安藤
Hiroyasu Ando
博康 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2018076162A priority Critical patent/JP2018116066A/ja
Publication of JP2018116066A publication Critical patent/JP2018116066A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】十分な電気的接触性を少ない要素数で実現できる、変形に対する耐性が高い電気的接触子を提供する。
【解決手段】本発明は、第1接触対象及び第2接触対象間を電気的に接触する電気的接触子において、長手方向の一部の区間がスプリング機能を発揮する複数のスプリング部と、スプリング機能を発揮し得ない複数の非スプリング部となっているバレルと、少なくとも一部がバレルの一端から挿入されている、第1接触対象に電気的に接触する第1のプランジャーと、少なくとも一部がバレルの他端から挿入されてバレルの他端開口を閉塞すると共に、第2接触対象に電気的に接触する第2のプランジャーとを有し、第1のプランジャーにおけるバレル内の端部と、第2のプランジャーにおけるバレル内の端部とが、同一の非スプリング部の内部空間に位置していることを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は電気的接触子及び電気的接続装置に関し、例えば、配線基板や半導体集積回路等に備えられた電極に接触する電気的接触子や、複数の電気的接触子を有する電気的接続装置に適用し得るものである。
対向して配設された配線基板上の電気回路等を互いに電気的に接続する電気的接触子は良く知られている。このような電気的接触子として、例えば、特許文献1に記載のものを挙げることができる(なお、特許文献1では、電気的接触子をプローブと表現している)。
図10は、特許文献1に記載の電気的接触子1を示す縦断面図であり、電気的接触子1の中心軸を通る平面で切断した断面図である。
電気的接触子1は、共に導電性のバレル2とプランジャー3とを有する。バレル2は、概ね円筒形状を有する。バレル2は、上下方向(長手方向)に弾性力を発揮する2つのスプリング部2b及び2dを有する。すなわち、バレル2は、上側から、上方部分2a、上側スプリング部2b、中間部分2c、下側スプリング部2d及び下方部分2eを有する。プランジャー3は、概ね円柱形状を有する。バレル2の内径とプランジャー3の外径とがほぼ一致している。プランジャー3は、バレル2の内部空間に大半が挿入されている。プランジャー3は、当該電気的接触子1に外力が印加されていない状態でも印加されている状態でも、その上端がバレル2の上方部分2aから外部に突出しないように、バレル2の内部空間に挿入されている。プランジャー3の下方は、バレル2の下方部分2eより下方に突出している。バレル2の下方部分2eの所定高さの位置(1点ではなく、数点又は円を表している)Pにおいて、下方部分2eとプランジャー3とが、例えば、抵抗溶接、レーザ溶接又はかしめによって接合されて互いに固定されている。
電気的接続装置に電気的接触子1が組み込まれて使用される際には、バレル2のスプリング部2b及び2dが外力の印加を受けて蓄勢して上下方向に弾性力を発揮しながら、バレル2の上端が、図示しない上方の外部の電極等に電気的に接続し、プランジャー3の下端が、図示しない下方の外部の電極等に電気的に接続する。
特開2013−7730号公報
特許文献1に記載の電気的接触子1は、上述したように、バレル2の円環状の上端で外部の電極等に電気的に接続する。電気的接触子1は数mm程度の長さを有するものであり、そのため、円環状の上端の径は非常に小さく、上端を平坦にする処理を行うと上端の円環が歪んでしまう恐れがある。そのため、端面の平坦処理を実行しておらず、仮に、平坦処理を行うとしてもその程度は緩いものとなる。その結果、バレル2の円環状の上端はギザギザ形状となっており、外部の電極等との接触抵抗が、電気的接触子1によってばらついて安定しない。中心軸が上下方向からわずかに傾斜した場合や外部の電極の平坦度が不十分な場合などでは、電気的接触性が特に悪くなる。
従来、接触を確実にするために、電気的接触子を接触のための移動させる際にはオーバードライブさせる。上述のように、電気的接触性が悪い場合には、オーバードライブ量を多くしたりオーバードライブでの圧力を大きくしたりすることも考えられる。しかしながら、特許文献1に記載の電気的接触子1は、バレル2がスプリング部を有しているため、上述のようにオーバードライブを強くした場合に、スプリング部の位置で変形を起こす電気的接触子も生じていた。
本発明は、十分な電気的接触性を少ない要素数で実現できる電気的接触子や、そのような電気的接触子を適用した電気的接続装置を提供しようとしたものである。
また、本発明は、接触時の変形を抑えることができる電気的接触子や、そのような電気的接触子を適用した電気的接続装置を提供しようとしたものである。
第1の本発明は、第1接触対象及び第2接触対象間を電気的に接触する電気的接触子において、(1)長手方向の一部の区間がスプリング機能を発揮する複数のスプリング部と、スプリング機能を発揮し得ない複数の非スプリング部となっているバレルと、(2)少なくとも一部がバレルの一端から挿入されている、第1接触対象に電気的に接触する第1のプランジャーと、(3)少なくとも一部がバレルの他端から挿入されてバレルの他端開口を閉塞すると共に、第2接触対象に電気的に接触する第2のプランジャーとを有し、(4)第1のプランジャーにおけるバレル内の端部と、第2のプランジャーにおけるバレル内の端部とが、同一の非スプリング部の内部空間に位置していることを特徴とする。
第2の本発明は、第1接触対象及び第2接触対象間を電気的に接触する電気的接触子を複数有する電気的接続装置において、少なくとも一部の電気的接触子として、第1又は第2の本発明の電気的接触子を適用したことを特徴とする。
第1の本発明によれば、十分な電気的接触性を少ない要素数で実現できる電気的接触子を実現でき、接触時の変形を抑えることができる電気的接触子を実現でき、第2の本発明によれば、第1の本発明の電気的接触子を適用した電気的接続装置を実現できる。
第1の実施形態の電気的接触子が適用されている電気的接続装置を含む検査装置の構成を、一部断面で示す概略正面図である。 第1の実施形態の電気的接続装置(接触子支持基板)を示す概略縦断面図である。 第1の実施形態の電気的接触子を示す概略縦断面図である。 第1の実施形態の電気的接触子におけるバレルを示す正面図である。 第1の実施形態の電気的接触子におけるトッププランジャーの上端近傍を示す正面図である。 バレルに設けるスプリング部の数と変形量との関係を測定した結果を示す説明図である。 第1の実施形態から、ボトムプランジャー及びトッププランジャーの長さを変更した変形実施形態の電気的接触子を示す概略縦断面図である。 第1の実施形態から、トッププランジャーの上端形状若しくは上端位置を変更した変形実施形態の電気的接触子におけるトッププランジャーの上端近傍を示す概略縦断面図である。 スプリング部の数を、第1の実施形態の3個から2個に変更した変形実施形態の電気的接触子が適用された電気的接続装置(接触子支持基板)を示す概略縦断面図である。 従来の電気的接触子を示す縦断面図である。
(A)第1の実施形態
以下、本発明による電気的接触子及び電気的接続装置の第1の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
まず、第1の実施形態の電気的接触子が適用されている第1の実施形態の電気的接続装置を含む検査装置(プローバと呼ばれることが多い)について、図1を参照しながら説明する。検査装置は、図1のように設置されるものに限定されないが、図1及び後述する他の図面の説明における「上下方向」は、図1の上下方向を表している。
検査装置10は、主に、装置本体11と、XYZθステージ12と、チャック13と、カード状接続装置(プローブカードと呼ばれることが多い)14と、接続装置保持部15とを有する。
装置本体11は、XYZθステージ12、カード状接続装置14等を支持するための部材である。装置本体11は、主に、下部ベース16と、上部ベース17と、これら下部ベース16及び上部ベース17の間を支持する複数の支柱18とを備えている。上部ベース17の中央には開口17aが設けられている。開口17aは、円形や矩形など(以下では円形として説明する)、カード状接続装置14の外形と近似した形をしている。開口17aの内周縁の上側には、接続装置保持部15を取り付けるための段状凹部17bが設けられている。
XYZθステージ12は、チャック13をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に沿って移動させたり、チャック13を回転させたりするためのステージである。チャック13は、ウェハ等の検査対象物19を真空吸着等の手段で保持するための機構である。
カード状接続装置14は、検査対象物19と試験装置(図示を省略している)を電気的に接続するための部材である。カード状接続装置14は、円盤状の配線基板21と、接触子支持基板(第1の実施形態の電気的接続装置に該当する)22とを有する。
配線基板21は、電気的接触子20に繋がる信号線等を配設すると共に、接続装置保持部15を介して装置本体11に取り付けられて、下方に設けられたカード状接続装置14全体を支持するための部材である。
接触子支持基板22は、多数の電気的接触子20を支持するための部材である。接触子支持基板22は、円形や矩形等の形状に形成され、その上側面が配線基板21の下側面と一体的に設けられている。接触子支持基板22には、多数の電気的接触子20が取り付けられている。
各電気的接触子20は、例えば、検査対象物19上に形成された半導体デバイスの電極パッド(図示せず)に対応した位置に設けられている。電気的接触子20が、XYZθステージ12で制御されたチャック13の上側面に載置された検査対象物19の電極パッドなどに接触して検査が実行される。
図2は、接触子支持基板22の概略構成を説明するための縦断面図である。図2では、説明の簡単化のために9本の電気的接触子20を示しているが、上述したように、接触子支持基板22は、多数の電気的接触子20を支持している。また、図2では、電気的接触子20の一群を取り付ける空洞(キャビティ)が1つの場合を示しているが、接触子支持基板22が、複数の空洞を備え、各空洞がそれぞれ、電気的接触子20の一群を取り付けるようにしても良い。各空洞のそれぞれにおいて、複数の電気的接触子20の配列は1列に限定されず、上下方向から見てマトリックス状の配置など、任意に配置されていても良い。さらに、電気的接触子20の詳細構成は後述する図3に示しており、図2では、電気的接触子20の配置を示すことに重点を置いており、図2は、電気的接触子20の構成を正確に表していない。
接触子支持基板22は、ボトムガイド板30と、下側絶縁シート31と、中間スペーサ32と、上側絶縁シート33と、トップガイド板34と、ガイドピン35と、固定ネジ36とを有する。
ボトムガイド板30は、各電気的接触子20の下部を位置決めして保持し、電気的接触子20の摺動を許すための支持部材である。すなわち、ボトムガイド板30は、各電気的接触子20の下部の位置保持ガイドである。ボトムガイド板30は、中央に下方に向かう凹部30aを有する平板状に形成されている。凹部30aには、電気的接触子20の下部が貫通されて支持される下部支持穴30bが設けられている。下部支持穴30bは、検査対象物19の各電極パッド19aと整合する位置に、各電極パッド19aにそれぞれ対応するように設けられている。これにより、各下部支持穴30bに各電気的接触子20の下部が嵌り込むことで、各電気的接触子20の下端部が検査対象物19の各電極パッド19aと接触するようになっている。各電気的接触子20の後述する伸縮機能により、各電気的接触子20の下部は、電気的接触子20の伸縮に伴って、各下部支持穴30bを貫通している状態で摺動するようになっている。ボトムガイド板30は、例えば、セラミックで成形されていて絶縁性を有する。
下側絶縁シート31は、隣接する電気的接触子20間でのショートを防止すると共に各電気的接触子20の垂直性を保持するための部材である。下側絶縁シート31は、耐摩耗性及び耐熱性に優れた合成樹脂製フィルム、例えばポリイミドフィルム等で薄く構成されている。
下側絶縁シート31には、ボトムガイド板30の各下部支持穴30bに整合する位置に、各下部支持穴30bにそれぞれ対応するガイド穴31aが設けられている。ガイド穴31aの径は、電気的接触子20の外径とほぼ同じに設定されている。これにより、電気的接触子20が、ガイド穴31aに挿入されて、がたつくことなく確実に支持されるようになっている。下側絶縁シート31は、各電気的接触子20の下寄りの中間部を支持している。
下側絶縁シート31は、その周縁部が、ボトムガイド板30と中間スペーサ32とで挟まれて支持されている。下側絶縁シート31の上下方向の位置については、後述の電気的接触子20の具体的構成の説明の中で明らかにする。
中間スペーサ32は、下側絶縁シート31と上側絶縁シート33とを所定の間隔に保つと共に、下側絶縁シート31及び上側絶縁シート33をボトムガイド板30及びトップガイド板34と共に挟んで支持するための部材である。中間スペーサ32は、肉厚の環状に形成されている。中間スペーサ32は、ボトムガイド板30の形状に合わせて、円環や矩形環等に形成されている。中間スペーサ32の厚さは、下側絶縁シート31及び上側絶縁シート33の上下方向の位置を所定位置にするように選定されている。
上側絶縁シート33は、下側絶縁シート31と同様に、隣接する電気的接触子20間でのショートを防止すると共に、各電気的接触子20の垂直性を保持するための部材である。上側絶縁シート33も、耐摩耗性及び耐熱性に優れた合成樹脂製フィルム、例えばポリイミドフィルム等で薄く構成されている。
上側絶縁シート33には、下側絶縁シート31の各ガイド穴31aに整合する位置に、各ガイド穴31aにそれぞれ対応するガイド穴33aが設けられている。ガイド穴33aの径は、電気的接触子20の外径とほぼ同じに設定されている。これにより、電気的接触子20が、ガイド穴33aに挿入されて、がたつくことなく確実に支持されるようになっている。上側絶縁シート33は、各電気的接触子20の上寄りの中間部を支持している。
上側絶縁シート33は、その周縁部が、中間スペーサ32とトップガイド板34とで挟まれて支持されている。上側絶縁シート33の上下方向の位置については、後述の電気的接触子20の具体的構成の説明の中で明らかにする。
トップガイド板34は、各電気的接触子20の上部を位置決めして保持し、電気的接触子20の摺動を許すための支持部材である。すなわち、トップガイド板34は、各電気的接触子20の上部の位置保持ガイドである。トップガイド板34は、中央に上方に向かう凹部34aを有する平板状に形成されている。凹部34aには、電気的接触子20の上部が貫通されて支持される上部支持穴34bが設けられている。上部支持穴34bは、上側絶縁シート33の各ガイド穴33aに整合する位置で、しかも、配線基板21の図示しない各電極と整合する位置に、配線基板21の各電極にそれぞれ対応するように設けられている。これにより、各上部支持穴34bに各電気的接触子20の上部が嵌り込むことで、各電気的接触子20の上端部が配線基板21の各電極と接触するようになっている。各電気的接触子20の後述する伸縮機能により、各電気的接触子20の上部は、電気的接触子20の伸縮に伴って、各上部支持穴34bを貫通している状態で摺動するようになっている。トップガイド板30は、例えば、セラミックで成形されていて絶縁性を有する。
なお、トップガイド板34に代えて、円環や矩形環等に形成されているスペーサを適用するものであっても良い(特開2011−145279号公報参照)。
ガイドピン35は、少なくともボトムガイド板30と中間スペーサ32とトップガイド板34とを重ね合わせるときに、互いに正確に位置決めされるようにするためのピンである。なお、ガイドピン35が、カード状接続装置14の図示しない他の構成要素をも貫通して位置決めするものであっても良い。
固定ネジ36は、接触子支持基板22全体を一体的に固定するためにネジである。ボトムガイド板30、下側絶縁シート31、中間スペーサ32、上側絶縁シート33及びトップガイド板34は、固定ネジ36によって一体的に固定され、かつ着脱自在に配設されている。これにより、絶縁シート31、33及び中間スペーサ32は適宜付け替えられるようになっている。
図3は、第1の実施形態の電気的接触子20の構成を示す断面図であり、電気的接触子20の中心軸を通る平面で切断した縦断面図である。
電気的接触子20は、バレル40と、ボトムプランジャー41と、トッププランジャー42とを有する。バレル40、ボトムプランジャー41及びトッププランジャー42は、いずれも導電性の材質で形成されている。
バレル40は、概ね円筒形状を有する。第1の実施形態の電気的接触子20におけるバレル40は、上下方向(長手方向)に弾性力を発揮する3つのスプリング部40b、40d及び40fを有し、それ以外の部分は弾性力を発揮しない非スプリング部40a、40c、40e及び40gとなっている。すなわち、バレル40は、下側から、第1の非スプリング部40a、第1のスプリング部40b、第2の非スプリング部40c、第21のスプリング部40d、第3の非スプリング部40e、第3のスプリング部40f及び第5の非スプリング部40gを有する。
3つのスプリング部40b、40d及び40fにより、上下方向に、所望する弾性力を発揮できる。所望する弾性力を発揮するだけならば、3つのスプリング部40b、40d及び40fの長さの総和と等しい長さを有する1つのスプリング部を設けるようにしても良い。しかし、第1の実施形態では、以下の理由により、3つのスプリング部40b、40d及び40fを設けることとしている。
検査対象物19を上昇させて(図2参照)、電気的接触子20の両端を、検査対象物19の電極パッド19aや配線基板21(図1)の電極に接触させる際には、接触時点以降も検査対象物19を多少上昇(オーバードライブ)させて接触をより確実なものとしている。このようなオーバードライブ時には、電気的接触子20への抗力も大きくなる。スプリング部の長さが長いような状況では、抗力の方向が多少でも上下方向からずれると、スプリング部の部分で、電気的接触子が上下方向に直交する方向へ変形し易いが、スプリング部の長さが短いほど、このような変形がし難くなる。
上述したように、電気的接触子20は、下部及び上部だけでなく、その中間部分も、下側絶縁シート31及び上側絶縁シート33によって垂直性が保持される。下側絶縁シート31又は上側絶縁シート33に接触する電気的接触子20の部分がスプリング部の場合には、オーバードライブやその解放により、電気的接触子20が上下方向に移動するのを妨害する。そのため、下側絶縁シート31又は上側絶縁シート33に接触する電気的接触子20の部分は非スプリング部が好ましい。下側絶縁シート31又は上側絶縁シート33に接触する電気的接触子20の部分を非スプリング部にするには、3つのスプリング部40b、40d及び40fを設けることが適切である。下側絶縁シート31及び上側絶縁シート33に接触する電気的接触子20の部分を同一の非スプリング部にし、スプリング部を2つにすることも考えられるが、この場合は、3つのスプリング部を設けた場合に比較し、上述したオーバードライブ時の変形の恐れが大きくなってしまう。
図4は、第1の実施形態の電気的接触子20におけるバレル40を示す正面図である。第1の実施形態の電気的接触子20が上下動に伴う中心軸周りの回転が問題とならないものである場合には、図4(A)に示すように、バレル40における3つのスプリング部40b、40d及び40f共に、同じ螺旋状のものを適用すれば良い。第1の実施形態の電気的接触子20が上下動に伴う中心軸周りの回転が問題とならないものである場合には、図4(B)に示すように、バレル40における3つのスプリング部40b、40d及び40fとして、異なる方向の螺旋を有する部分の長さが同じになるようにしたものを適用すれば良い。図4(B)は、スプリング部40bの螺旋が右上がりで、スプリング部40fの螺旋が左上がりで、スプリング部40dが、右上がりの螺旋部分と左上がりの螺旋部分とが半々になっている例を示している。
ボトムプランジャー41は概ね円柱形状を有する。ボトムプランジャー41の外径は、バレル40の内径とほぼ一致しており、ボトムプランジャー41がバレル40の下端の開口から上方へ挿通されている。
ボトムプランジャー41の下部41aは、バレル40の下端から下方へ突出している。下部41aの突出量は、ボトムガイド板30の下部支持穴30bを貫通し、検査対象物19の電極パッド19aと接触し得る長さに選定されている。ボトムプランジャー41がバレル40の下端から突出することにより、バレル40の下端にできる段差が、ボトムガイド板30の下部支持穴30b周辺の上面(内面)部分と係合することにより、電気的接触子20が下部支持穴30bから抜けないようになっている。ボトムガイド板30の下部支持穴30bの径は、ボトムプランジャー41の外径とほぼ同じになっている。
バレル40の最も下の非スプリング部40aの所定高さの位置(周方向の1点ではなく、数点又は円を表している;ここでの点は、微小な点に限定されず、例えば長手方向に長い長円などの接合領域をかせぐ領域であっても良い)PBにおいて、非スプリング部40aとボトムプランジャー41とが、例えば、抵抗溶接(スポット溶接)、レーザ溶接又はかしめによって接合されて互いに固定されている。抵抗溶接を適用する場合には、抵抗溶接による接合が強固になるように、バレル40の内周面の全域若しくは一部領域や、ボトムプランジャー41の外周面の一部領域等に同一材質(例えば金)によるメッキを施すようにしていても良い。
ボトムプランジャー41の上端は、電気的接触子20に上下方向の外力が印加されていない状態においても、最も上方に位置している非スプリング部40gの内部に達している。ボトムプランジャー41における固定点PBより上の大半の部分は、スプリング部40b、40d及び40fの伸縮により、バレル40内を相対的に摺動する。
トッププランジャー42は概ね円柱形状を有する。トッププランジャー42の外径は、バレル40の内径とほぼ一致しており、トッププランジャー42がバレル40の上端の開口から下方へ挿通されている。トップガイド板34の上部支持穴34bの径は、トッププランジャー42の外径とほぼ同じになっている。
トッププランジャー42の概ね上半部42aは、バレル40の上端から上方へ突出している。上半部42aの突出量は、配線基板21(図1)の電極と接触する部分が、バレル40ではなく、トッププランジャー42であることを保証できる量に選定されている。バレル40の最も上の非スプリング部40gの所定高さの位置PTにおいて、非スプリング部40gとトッププランジャー42とが接合されて互いに固定されている。バレル40とトッププランジャー42との接合方法は、上述したバレル40とボトムプランジャー44との接合方法と同様である。
電気的接触子20に上下方向の外力が印加されていない状態で、トップガイド板34の上部支持穴34bを、バレル40の最も上の非スプリング部40gが貫通しているように、上部支持穴34bや非スプリング部40gの長さが選定されている。また、仮に、電気的接触子20に上下方向の外力が加わり、トッププランジャー42の上端が、トップガイド板34の上面とほぼ同じになったとしても、バレル40の最も上の非スプリング部40gの一部が上部支持穴34b内に位置しているように、上部支持穴34bや非スプリング部40gの長さが選定されている。
図5は、第1の実施形態の電気的接触子におけるトッププランジャー42の上端近傍を示す正面図である。
第1の実施形態の電気的接触子20は、従来の電気的接触子とは異なり、バレルの上端ではなく、トッププランジャー42の上端が配線基板21の電極と接触する。そのため、配線基板21の電極の形状などに応じて、トッププランジャー42の上端形状を選定すれば良い。従来の電気的接触子では、配線基板の電極に接触するのが、バレルの上端、すなわち円環であるため、配線基板の電極の形状などに応じて、バレルの上端形状を選定する余地はない。第1の実施形態の場合、トッププランジャー42の上端が配線基板21の電極と接触するため、接触する上端の形状を選定することができる。例えば、トッププランジャー42の上端を、図5(A)に示すようにフラットにしても良く、また、図5(B)に示すようにフラットの角を面取りした形状としても良く、さらに、図5(C)に示すように半球状にしても良い。
トッププランジャー42の下端は、電気的接触子20に上下方向の外力が印加されていない状態において、最も上方に位置している非スプリング部40gの内部に位置している。
ボトムプランジャー41の上端とトッププランジャー42の下端との隙間は、電気的接触子20に上下方向の外力が印加されていない状態において最も大きい。電気的接触子20に上下方向の外力が最も印加された上述したオーバードライブ状態においても、ボトムプランジャー41の上端とトッププランジャー42の下端との間に隙間があるように、ボトムプランジャー41の長さや上端位置、トッププランジャー42の長さや下端位置、並びに、非スプリング部40gの長さなどが選定されている。
円柱形状を有するボトムプランジャー41及びトッププランジャー42は、中実のものであっても良く中空のものであっても良い。また、ボトムプランジャー41とトッププランジャー42とで材質が異なっていても良い。
新たな検査対象物19の検査を行う際には、検査対象物19が、それを保持したチャック13と共にXYZθステージ12によって上動され、やがて検査対象物19の電極パッド19aが電気的接触子20のボトムプランジャー41の下端と接触し、また、電気的接触子20のトッププランジャー42の上端と配線基板21の電極ともより接触する。これ以降、検査対象物19が所定量だけ上動されてオーバードライブ状態となる。位置PBでボトムプランジャー41に固定されていると共に、位置PTでトッププランジャー42に固定されているバレル40のスプリング部40b、40d、40fはオーバードライブにより圧縮され、弾性力により上下方向に抗力を発揮する。そのため、検査対象物19の電極パッド19aと電気的接触子20のボトムプランジャー41の下端との接触や、トッププランジャー42の上端と配線基板21の電極との接触が十分なものとなる。このような接触状態では、検査対象物19の電極パッド19aと配線基板21の電極とは、ボトムプランジャー41、バレル40及びトッププランジャー42を介して電気的に接続される。
今回の検査対象の検査対象物19の検査が終了すると、検査対象物19が下動され、検査対象物19の電極パッド19aと電気的接触子20のボトムプランジャー41の下端とが非接触となる。これに伴い、バレル40のスプリング部40b、40d、40fが待機状態まで伸長し、次の検査対象物19の検査を待ち受ける状態に変化する。
第1の実施形態によれば、配線基板側との接触を担当するトッププランジャーを設けたので、十分な電気的接触性を実現することができ、製品ばらつきも小さくなった。従来の電気的接触子の接触抵抗を多数のサンプル(500個以上)について測定した所、接触抵抗は1〜13Ω(抵抗値を1Ω単位で測定)の範囲でばらつき、最頻値は3Ωであった。一方、第1の実施形態の電気的接触子20の接触抵抗を多数のサンプル(500個以上)について測定した所、接触抵抗は1〜2Ωの範囲でばらつき、最頻値は1Ωであった。
その結果、測定値にシビアな電気的特性を特定する箇所にも、第1の実施形態の電気的接触子を適用することができる。
また、第1の実施形態の電気的接触子は、構成要素として、従来よりトッププランジャーが多くなったが、それでも部品数は僅か3個であり、電気的接触子の製造は容易である。
さらに、第1の実施形態によれば、バレル40が3つのスプリング部を備え、ボトムプランジャー41が、バレル40における全てのスプリング部40b、40d、40fを通っているので、オーバードライブされても上下方向に直交する方向等への変形を防止することができる。
本願発明者は、バレルに設けるスプリング部の数と変形量との関係を測定した。図6は、その結果を示す説明図である。
長さ5.7mm、外径70μm、内径54μmの純ニッケル(純Ni)で形成された、スプリング部の数が異なる測定用バレルを5種類用意した。その製作は、特許文献1に記載の方法を適用した。スプリング部の数はそれぞれ、1、2、3、4、5であり、全てのスプリング部の長さの総和がどの種類のバレルでも3.2841mmとなるようにした。なお、スプリング部の数を除き、測定用バレルは、概ね実製品のスペックと同様なものである。そして、測定用バレルの一端を固定し、他端からバレルの長手方向に対して200μmだけ押し込んだ。図6は、バレルの中心軸から直交方向に最も離れた箇所までの距離(以下、変形量と呼ぶ)を表しており、バレルの中心軸から直交方向に最も離れた箇所は、どの種類の測定用バレルでもスプリング部における中央部分の箇所であった。
スプリング部が1個の測定用バレルの変形量は442.34μmであり、スプリング部が2個の測定用バレルの変形量は170.51μmであり、見た目にも変形が分かるものであった。スプリング部が3個の測定用バレルの変形量は10.75μmであり、スプリング部が2個の測定用バレルの変形量の1/16であった。スプリング部が4個の測定用バレルの変形量は7.20μmであり、スプリング部が5個の測定用バレルの変形量は4.28μmであった。スプリング部が3個以上の測定用バレルの変形量では、見た目で変形を認識できない程度である。
バレル40の内部の大半にボトムガイド41が挿通され、ボトムガイド41が長手方向(上下方向)に直交する方向の変形を防止する機能を果たすとは言え、バレル40自体が変形に対する耐性が高いことが好ましく、それにより、変形を防止することができる。すなわち、第1の実施形態のバレル40のようにスプリング部が非スプリング部を挟むことで3つのスプリング部に分割されていることや、バレルがそれより多くのスプリング部に分割されていることが好ましい。
第1の実施形態によれば、ボトムガイド板30及びトップガイド板34だけでなく、バレル40における非スプリング部40c及び40eを保持する下側絶縁シート31及び上側絶縁シート33によっても、電気的接触子20を保持するようにしたので、電気的接触子20を安定に垂直に保持でき、その結果、電気的接触子20への外力方向を上下方向に安定できて変形を防止することができる。
(B)他の実施形態
上記第1の実施形態の説明においても種々変形実施形態に言及したが、さらに、以下に例示するような変形実施形態を挙げることができる。
第1の実施形態においては、ボトムプランジャー41の上端とトッププランジャー42の下端とが、バレル40の最も上方に位置している非スプリング部40gの内部に達するように、ボトムプランジャー41及びトッププランジャー42の長さ等が選定されているものを示したが、ボトムプランジャー41の上端とトッププランジャー42の下端とが、バレル40の他の非スプリング部40a、40c又は40eの内部に達するように、ボトムプランジャー41及びトッププランジャー42の長さ等が選定されていても良い。例えば、図7に示すように、ボトムプランジャー41の上端とトッププランジャー42の下端とが、バレル40の上から2番目の非スプリング部40eの内部に達するように、ボトムプランジャー41及びトッププランジャー42の長さ等が選定されていても良い。
第1の実施形態では、配線基板21の電極に接触する、電気的接触子20の部材として円柱状のトッププランジャー42を示したが、バレル20の上端に代わって配線基板21の電極に接触する部材であれば良く、その形状等は限定されないものである。例えば、図8(A)に示すような円柱状の上端部が外径より大きな頭デッカチな部材であっても良く、また、図8(B)に示すようなバレル20の上端開口を塞ぐような蓋体であっても良く、さらに、図8(C)に示すようなバレル20の上端円環を面に変換するための栓状部材であっても良い。特許請求の範囲では、蓋体や栓状部材を含めて「第2のプランジャー」と呼んでいる。
第1の実施形態の電気的接触子20は、配線基板21の電極との電気的接触性を高めるトッププランジャー42を設けたこと(第1の特徴)、及び、バレル40のスプリング部の数が3個であること(第1の実施形態の効果の説明で言及したように3個に限らず3個以上であれば良い;第2の特徴)を大きな特徴とするものである。これら2つの特徴のうち、いずれか一方の特徴だけを適用して電気的接触子を構成するようにしても良い。
例えば、第1の特徴を適用しているならば、スプリング部の数が1個や2個であっても良い。バレル40の材質や肉厚等によって変形の恐れが小さい場合であれば、電気的接触性を高めるために、トッププランジャーを設けることだけを導入するようにしても良い。図9は、2個のスプリング部を有する電気的接触子が適用された接触子支持基板(電気的接続装置)の概略構成を示しており、描画の簡易化を期して、1個の電気的接触子だけを適用しているように描いている。図9に示す接触子支持基板は、ボトムガイド板と、中間絶縁シートと、トップガイド板とによって、電気的接触子を保持するものであり、中間絶縁シートは、電気的接触子の中間の非スプリング部の部分を保持する。
また例えば、第2の特徴を適用しているならば、電気的接触子がトッププランジャーを備えていなくても良い。測定信号がデジタル信号であって、アナログ信号の場合と異なり、電気的接触子に要求される信号の伝達性能がシビアでない場合には、変形を防止し得るバレルのスプリング部が3個以上にすることだけを導入するようにしても良い。例えば、検査に供する信号がアナログ信号の場合には第1の実施形態の電気的接触子を適用し、検査に供する信号がデジタル信号の場合にはトッププランジャーを備えないスプリング部が3個以上のバレルを有する電気的接触子を適用するようにしても良い。
第1の実施形態では、断面円形の電気的接触子を示したが、矩形や楕円形など、他の断面形状を有する電気的接触子であっても良い。
本発明の電気的接触子は、配線基板や半導体集積回路等に備えられた電極などに接触される装置全般に用いることができる。また、本発明の電気的接続装置は、本発明の電気的接触子を少なくとも一部に用いた装置であり、装置の用途は検査装置に限定されるものではない。
19…検査対象物、20…電気的接触子、22…接触子支持基板(電気的接続装置)、
30…ボトムガイド板、31…下側絶縁シート、32…中間スペーサ、33…上側絶縁シート、34…トップガイド板、
40…バレル、40a、40c、40e、40g…非スプリング部、40b、40d、40f…スプリング部、41…ボトムプランジャー、42…トッププランジャー。

Claims (3)

  1. 第1接触対象及び第2接触対象間を電気的に接触する電気的接触子において、
    長手方向の一部の区間がスプリング機能を発揮する複数のスプリング部と、スプリング機能を発揮し得ない複数の非スプリング部となっているバレルと、
    少なくとも一部が上記バレルの一端から挿入されている、上記第1接触対象に電気的に接触する第1のプランジャーと、
    少なくとも一部が上記バレルの他端から挿入されて上記バレルの他端開口を閉塞すると共に、上記第2接触対象に電気的に接触する第2のプランジャーと
    を有し、
    上記第1のプランジャーにおける上記バレル内の端部と、上記第2のプランジャーにおける上記バレル内の端部とが、同一の非スプリング部の内部空間に位置している
    ことを特徴とする電気的接触子。
  2. 上記バレルが、非スプリング部を介して分離されている3個以上のスプリング部を有することを特徴とする請求項1に記載の電気的接触子。
  3. 第1接触対象及び第2接触対象間を電気的に接触する電気的接触子を複数有する電気的接続装置において、
    少なくとも一部の電気的接触子として、請求項1又は2に記載の電気的接触子を適用したことを特徴とする電気的接続装置。
JP2018076162A 2018-04-11 2018-04-11 電気的接触子及び電気的接続装置 Pending JP2018116066A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018076162A JP2018116066A (ja) 2018-04-11 2018-04-11 電気的接触子及び電気的接続装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018076162A JP2018116066A (ja) 2018-04-11 2018-04-11 電気的接触子及び電気的接続装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014215311A Division JP6411169B2 (ja) 2014-10-22 2014-10-22 電気的接触子及び電気的接続装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2018116066A true JP2018116066A (ja) 2018-07-26

Family

ID=62984060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018076162A Pending JP2018116066A (ja) 2018-04-11 2018-04-11 電気的接触子及び電気的接続装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2018116066A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020106296A (ja) * 2018-12-26 2020-07-09 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP2020183911A (ja) * 2019-05-09 2020-11-12 東京特殊電線株式会社 プローブ針及びプローブユニット

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10288626A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Alphatest Corp 管状ばねを持つ弾性コネクタ
JP2006208329A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Japan Electronic Materials Corp 垂直型コイルスプリングプローブ
JP2010281592A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Nidec-Read Corp プローブ及び検査用治具
JP2010281583A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Nidec-Read Corp 検査用治具
JP2011058880A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd スプリングピン及びそれを用いたプローブカード
JP2011145279A (ja) * 2009-12-18 2011-07-28 Micronics Japan Co Ltd プローブカード及び検査装置
JP2011164028A (ja) * 2010-02-12 2011-08-25 Luzcom:Kk 通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具
JP2012181119A (ja) * 2011-03-02 2012-09-20 Ibiden Co Ltd 基板の検査装置及びその検査装置の製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10288626A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Alphatest Corp 管状ばねを持つ弾性コネクタ
JP2006208329A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Japan Electronic Materials Corp 垂直型コイルスプリングプローブ
JP2010281592A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Nidec-Read Corp プローブ及び検査用治具
JP2010281583A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Nidec-Read Corp 検査用治具
JP2011058880A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd スプリングピン及びそれを用いたプローブカード
JP2011145279A (ja) * 2009-12-18 2011-07-28 Micronics Japan Co Ltd プローブカード及び検査装置
JP2011164028A (ja) * 2010-02-12 2011-08-25 Luzcom:Kk 通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具
JP2012181119A (ja) * 2011-03-02 2012-09-20 Ibiden Co Ltd 基板の検査装置及びその検査装置の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020106296A (ja) * 2018-12-26 2020-07-09 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP7346026B2 (ja) 2018-12-26 2023-09-19 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP2020183911A (ja) * 2019-05-09 2020-11-12 東京特殊電線株式会社 プローブ針及びプローブユニット
JP7390115B2 (ja) 2019-05-09 2023-12-01 株式会社Totoku プローブユニット

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6411169B2 (ja) 電気的接触子及び電気的接続装置
JP4979214B2 (ja) プローブカード
KR101025895B1 (ko) 프로브 카드
JP5426365B2 (ja) プローブカード
US20080088331A1 (en) Socket for test
US7815473B2 (en) Contact and connecting apparatus
US8816710B2 (en) Inspection contact element and inspecting jig
US9535095B2 (en) Anti-rotation for wire probes in a probe head of a die tester
CN110268275B (zh) 探针和电连接装置
JP2012181096A (ja) 接触子及び電気的接続装置
JP2018116066A (ja) 電気的接触子及び電気的接続装置
JPWO2004072661A1 (ja) 電気的接続装置
KR101112749B1 (ko) 반도체 디바이스 테스트 소켓 및 그 제조 방법
JP6872943B2 (ja) 電気的接続装置
JP6665979B2 (ja) 電気的接触子
JP2010032226A (ja) プローブカード
WO2013084874A1 (ja) プローブカード用のバンプ付きメンブレンシート、プローブカード及びプローブカード用のバンプ付きメンブレンシートの製造方法
JP2016001197A (ja) プローブカード用のバンプ付きメンブレンシート、プローブカード及びプローブカード用のバンプ付きメンブレンシートの製造方法
US11977100B2 (en) Inspection jig
JP2014154265A (ja) ソケット本体及びicソケット
US20220155346A1 (en) Contact terminal, inspection jig, and inspection device
JP2018165670A (ja) 導電性接触子、導電性接触子ユニット、および導電性接触子ユニットを備える半導体検査装置
US20220155345A1 (en) Contact terminal, inspection jig, and inspection device
US20220178968A1 (en) Contact terminal, inspection jig, and inspection device
TW202342993A (zh) 導電接觸針以及具有其之檢測裝置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180411

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190820

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200331

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200622

C60 Trial request (containing other claim documents, opposition documents)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60

Effective date: 20200622

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20200708

C21 Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21

Effective date: 20200714

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20200828

C211 Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211

Effective date: 20200901

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20201208

C23 Notice of termination of proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23

Effective date: 20210406

C03 Trial/appeal decision taken

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03

Effective date: 20210511

C30A Notification sent

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012

Effective date: 20210511