JP2018097048A - 検出装置および顕微鏡システム - Google Patents

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Abstract

【課題】観察用途に応じて、検出素子の特性を最大限に生かした観察を行う。【解決手段】所定量以下の入射光量に対しては出力信号が線形に変化する線形応答特性と、所定量よりも多い入射光量に対しては出力信号が非線形に変化する非線形応答特性とを有し、標本Sからの光を検出してその光量に応じた出力信号を出力する検出器47と、線形応答特性の範囲内の出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となる第1増幅率と非線形応答特性の範囲を含む出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となる、第1増幅率よりも低い第2増幅率とを切り替え可能であり、検出器47から出力された出力信号を第1増幅率または第2増幅率で増幅して輝度信号を生成する光検出回路49と、光検出回路49による出力信号の増幅率を第1増幅率と第2増幅率とでユーザに切り替えさせる入力部51とを備える検出装置7を提供する。【選択図】図1

Description

本発明は、検出装置および顕微鏡システムに関するものである。
従来、標本からの光を検出する検出素子のゲインを切り替える顕微鏡装置が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。特許文献1に記載の顕微鏡装置は、検出器のゲインを切り替えて画像を取得し、ある閾値を基に低ゲインで取得した画像と高ゲインで取得した画像とを切り貼りして、全体としてS/Nがよい画像を生成している。また、特許文献2に記載の顕微鏡装置は、オフセット、ゲインおよびHV(High Voltage)を切り替えて、検出素子からの出力信号のダイナミックレンジを測定し、最適な観察パラメータを自動設定している。
特開2007−041120号公報 特開平09−236750号公報
しかしながら、特許文献1には、検出素子から出力される出力信号のリニアリティやダイナミックレンジという特性を最大限に生かす方法については言及されていない。また、特許文献2には、検出素子から出力される出力信号のダイナミックレンジの観点しか言及されておらず、リニアリティを重視する観察方法については言及されていない。したがって、これら特許文献1,2の技術では、観察用途に合わせて検出素子の特性を十分に生かすことができないという不都合がある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、観察用途に応じて、検出素子の特性を最大限に生かした観察を行うことができる検出装置および顕微鏡システムを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明の第1態様は、所定量以下の入射光量に対しては出力信号が線形に変化する線形応答特性と、前記所定量よりも多い入射光量に対しては前記出力信号が非線形に変化する非線形応答特性とを有し、標本からの光を検出してその光量に応じた前記出力信号を出力する検出素子と、前記線形応答特性の範囲内の前記出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となる第1増幅率および前記非線形応答特性の範囲を含む前記出力信号が前記所定の輝度信号取り込み範囲内となる、前記第1増幅率よりも低い第2増幅率が切り替え可能であり、前記検出素子から出力された前記出力信号を増幅して輝度信号を生成する検出回路と、該検出回路による前記出力信号の増幅率を前記第1増幅率と前記第2増幅率とで操作者に切り替えさせる入力部とを備える検出装置である。
本態様によれば、検出素子から出力される出力信号が線形応答特性の範囲内からなる場合は明るさが暗いものの標本の高精細な情報が得られ、出力信号が非線形応答特性の範囲を含む場合は標本の精細さに欠けるものの明るい情報が得られる。この場合において、線形応答特性の範囲内の出力信号を第1増幅率で増幅して所定の輝度信号取り込み範囲内の輝度信号を生成すれば、輝度信号に定量性がある観察を行うことができる。一方、非線形応答特性の範囲を含む出力信号を第1増幅率よりも低い第2増幅率で増幅して所定の輝度信号取り込み範囲内の輝度信号を生成すれば、輝度信号を飽和させずにダイナミックレンジが広い観察を行うことができる。
したがって、入力部により、操作者が検出素子から出力される出力信号の応答特性に応じて、検出回路の増幅率を第1増幅率と第2増幅率とで適宜切り替えることで、観察用途に応じて、検出素子の特性を最大限に生かした観察を行うことができる。
上記態様においては、前記非線形応答特性の範囲を含む前記出力信号を前記第2増幅率で増幅して得られる前記輝度信号に対して、前記非線形応答特性の逆関数を乗じて線形補間を行う補間部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、ダイナミックレンジを優先する輝度信号においても、定量性を向上することができる。
本発明の第2態様は、標本からの光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された前記光を検出して前記輝度信号を生成する上記いずれかの検出装置と、前記検出回路により生成された前記輝度信号に基づいて画像を構築する画像構築部とを備える顕微鏡システムである。
本態様によれば、観察用途に応じて、検出素子の特性を最大限に生かすことができる検出装置により、観察対象の標本に対して所望の観察を実現することができる。
上記態様においては、前記画像構築部が、前記線形応答特性の範囲内の前記出力信号を前記第1増幅率で増幅して生成された前記輝度信号が飽和する場合に、その輝度信号に基づく画素を他の画素と識別可能に前記画像を構築することとしてもよい。
このように構成することで、定量性の確保を所望する高精細な画像において、輝度信号が飽和している画素を容易に把握することができる。
本発明によれば、観察用途に応じて、検出素子の特性を最大限に生かした観察を行うことができるという効果を奏する。
本発明の一実施形態に係る顕微鏡システムの概略構成図である。 図1の検出素子の出力信号の応答特性の一例を示すグラフである。 図1の検出回路の構成を示す概略構成図である。 本発明の一実施形態の変形例に係る検出回路の構成を示す概略構成図である。
以下、本発明の一実施形態に係る検出装置および顕微鏡システムについて、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム1は、図1に示すように、レーザ光を発生する光源ユニット3と、顕微鏡装置5と、標本Sからの蛍光を検出する検出装置7と、これら顕微鏡装置5、光源ユニット3および検出装置7を制御する制御装置9と、画像を構築等するPC(Personal Computer、画像構築部)11と、画像やGUI(Graphical User Interface)等を表示するモニタ13とを備えている。
光源ユニット3としては、例えば、多波長レーザ光源が用いられる。光源ユニット3は、レーザ光を発生するスーパコンティニュムレーザ等のレーザ15A,15Bと、レーザ15Aから発せられたレーザ光を反射する反射ミラー17と、反射ミラー17により反射されたレーザ光を透過する一方、レーザ15Bから発せられたレーザ光を反射し、これら各レーザ光の光路を合成するダイクロイックミラー19と、ダイクロイックミラー19により光路が合成されたレーザ光を調光する音響光学素子等の調光部21とを備えている。
この光源ユニット3は、レーザ15A,15Bからレーザ光を発生させて調光部21によりこれらレーザ光の波長選択および強度調整を制御することによって、所定の波長域で所定の強度のレーザ光を発することができるようになっている。
顕微鏡装置5は、標本Sを載置するステージ31を有する顕微鏡本体23と、光源ユニット3からのレーザ光を走査させるスキャナ25と、スキャナ25により走査されたレーザ光を集光する瞳投影レンズ27と、瞳投影レンズ27により集光されたレーザ光を顕微鏡本体23に向けて反射する反射ミラー29とを備えている。
スキャナ25としては、例えば、ガルバノミラー、共振スキャナ、または、AOD(Acousto−Optic Deflector、音響光学偏向素子)等が用いられる。
顕微鏡本体23は、上記ステージ31の他に、反射ミラー29により反射されたレーザ光を平行光に変換する結像レンズ33と、結像レンズ33により平行光に変換されたレーザ光をステージ31上の標本Sに照射する一方、標本Sにおいて発生する蛍光を集光する対物レンズ35と、倍率が異なる複数の対物レンズ35を切り替え可能に支持するレボルバ37とを備えている。
また、顕微鏡装置5には、対物レンズ35により集光されてレーザ光の光路を戻る蛍光をレーザ光の光路から分岐させるダイクロイックミラー39と、ダイクロイックミラー39によりレーザ光の光路から分岐された蛍光を集光する集光レンズ41と、集光レンズ41により集光された蛍光の内、標本Sにおける対物レンズ35の焦点位置において発生した蛍光のみを通過させるピンホール43と、ピンホール43を通過した蛍光を平行光に変換して光検出装置7に入射させるコリメートレンズ45とを備えている。
検出装置7は、コリメートレンズ45により平行光に変換された蛍光を検出してその光量に応じた出力信号を出力する検出器(検出素子)47と、検出器47から出力された出力信号を処理する光検出回路(検出回路)49と、光検出回路49に送る指示をユーザ(操作者)に入力させる入力部51とを備えている。
検出器47としては、例えば、SIPM(Silicon Photomultipliers)などの光電変換素子が用いられる。この検出器47は、図2に示すように、所定量以下の入射光量に対しては出力信号が線形に変化する線形応答特性と、所定量よりも多い入射光量に対しては出力信号が非線形に変化する非線形応答特性とを有している。
光検出回路49は、例えば図3に示すように、検出器47から出力される出力信号を電流から電圧に変換する増幅部53と、増幅部53により電圧に変換された出力信号をアナログからディジタルに変換するADコンバータ(ADC)55と、ADコンバータ55から出力される出力信号をピクセルの輝度信号に加工する演算処理部57と、増幅部53により電流から電圧に変換される出力信号の増幅率を切り替え制御するゲイン切替制御部59とを備えている。
増幅部53は、反転入力端子(−)と非反転入力端子(+)と出力端子とを備えている。増幅部53の反転入力端子(−)と出力端子との間には抵抗61,63が並列に接続されている。非反転入力端子(+)は接地されている。また、増幅部53には、抵抗63による抵抗の有無を切り替えるスイッチ65が設けられている。
また、増幅部53は、図2に示す検出器47の線形応答特性の範囲内の出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となる高いゲイン設定の第1増幅率と、図2に示す検出器47の非線形応答特性の範囲を含む出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となるゲイン設定、すなわち、第1増幅率よりも低いゲイン設定の第2増幅率とが切替可能に構成されている。所定の輝度信号取り込み範囲は、例えば、ADコンバータ55の入力レンジ(例えば、12bit)に相当する。
この増幅部53は、入力部51から送られてくるユーザからの指示に従い、スイッチ65がOFF(開)されると高いゲイン設定の第1増幅率が設定され、スイッチ65がON(閉)されると低いゲイン設定の第2増幅率が設定されるようになっている。
入力部51は、例えば、マウス、キーボード等の入力デバイスで構成され、モニタ13に表示されるGUIに従って各種の設定情報を入力することができるようになっている。モニタ13に表示されるGUIは、図2に示す検出器47の線形応答特性の範囲内の出力信号がADコンバータ55の入力レンジ(12bit)となるように第1増幅率を設定する「リニアリティ優先モード」と、図2に示す検出器47の非線形応答特性の範囲を含む出力信号がADコンバータ55の入力レンジ(12bit)となるように第2増幅率を設定する「ダイナミックレンジ優先モード」とを切り替えるモード切替機能を表示して、入力部51を用いてユーザ入力により「リニアリティ優先モード」と「ダイナミックレンジ優先モード」とを切り替えるようになっている。
ゲイン切替制御部59は、ユーザが入力部51を用いてGUI上のモード切替機能によりいずれかのモードを選択すると、制御装置9を介して送られてくるモードの選択情報に従い、増幅部53のスイッチ65のON/OFFを切り替えるようになっている。
演算処理部57は、ADコンバータ55から送られてくる出力信号をスキャナ25の走査位置に対応する画素毎に輝度情報に変換するようになっている。
制御装置9は、光源ユニット3の調光部21によるレーザ光の調光を制御したり、スキャナ25によるレーザ光の走査を制御したりするようになっている。
PC11は、演算処理部57から制御装置9を介して送られてくる輝度情報を1ピクセルごとに積算して標本Sの画像を生成するようになっている。
このように構成された検出装置7および顕微鏡システム1の作用について説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム1により標本Sを観察する場合は、まず、ステージ31に標本Sを載置し、光源ユニット3のレーザ15Aまたはレーザ15Bからレーザ光を発生させて、調光部21により調光して射出させる。また、ユーザは入力部51を用いて、モニタ13に表示されるGUI上のモード切替機能により、「リニアリティ優先モード」か「ダイナミックレンジ優先モード」を選択する。
光源ユニット3から射出されたレーザ光は、ダイクロイックミラー39により反射されてスキャナ25により走査された後、瞳投影レンズ27により集光されて反射ミラー29により反射され、結像レンズ33により平行光に変換されて対物レンズ35により標本Sに照射される。
レーザ光が照射されることにより標本Sにおいて発生する蛍光は、対物レンズ35により集光されて結像レンズ33、反射ミラー29、瞳投影レンズ27およびスキャナ25を介してレーザ光の光路を戻り、ダイクロイックミラー39を透過してレーザ光の光路から分岐される。
ダイクロイックミラー39によりレーザ光の光路から分岐された蛍光は、集光レンズ41により集光されてその一部がピンホール43を通過し、コリメートレンズ45により平行光に変換されて検出器47により検出される。
検出器47により蛍光が検出されると、検出された蛍光の量に応じた大きさの出力信号が検出器47から出力され、増幅部53により出力信号が電流から電圧に変換される。また、ゲイン切替制御部59により、入力部51から制御装置9を介して送られてくるユーザが選択したモードの選択情報に従い、増幅部53のスイッチ65のON/OFFが切り替えられ、高いゲイン設定の第1増幅率または低いゲイン設定の第2増幅率で出力信号が増幅される。
そして、増幅部53において増幅された出力信号は、ADコンバータ55によりアナログからディジタルに変換された後、演算処理部57によりピクセルの輝度信号に加工されて、制御装置9を介してPC11に入力される。そして、PC11によりその輝度情報が1ピクセルごとに積算されて標本Sの画像が生成され、モニタ13によりその画像が表示される。
ここで、検出器47から出力される出力信号が線形応答特性の範囲内からなる場合は明るさが暗いものの標本Sの高精細な情報が得られる。一方、検出器47から出力される出力信号が非線形応答特性の範囲を含む場合は標本Sの精細さに欠けるものの明るい情報が得られる。
この場合において、リニアリティ優先モードにより、検出器47の線形応答特性の範囲内の出力信号を第1増幅率で増幅して所定の輝度信号取り込み範囲内の輝度信号を生成すれば、輝度信号に定量性がある観察を行うことができる。一方、ダイナミックレンジ優先モードにより、検出器47の非線形応答特性の範囲を含む出力信号を第1増幅率よりも低い第2増幅率で増幅して所定の輝度信号取り込み範囲内の輝度信号を生成すれば、輝度信号を飽和させずにダイナミックレンジが広い観察を行うことができる。
したがって、本実施形態に係る検出装置7および顕微鏡システム1によれば、入力部51により、ユーザが検出器47から出力される出力信号の応答特性に応じて、光検出回路49の増幅率を第1増幅率または第2増幅率に適宜切り替えることで、観察用途に応じて、検出器47の特性を最大限に生かした観察を行うことができる。
本実施形態においては、増幅部53において増幅率の切り替えを行うこととしたが、これに代えて、例えば図4に示すように、ADコンバータ55がゲイン切替機能を有し、入力部51のGUIにおいてモード切替機能によりユーザが選択するモードの選択情報に従い、ゲイン切替制御部59により、ADコンバータ55のゲイン切替機構を制御して、出力信号の増幅率の切り替えを行うこととしてもよい。この場合、増幅部53は、抵抗63およびスイッチ65を備える必要がなく、簡易な構成にすることができる。
本実施形態は、以下のように変形することができる。
例えば、第1変形例としては、ダイナミックレンジ優先モードにおいて、検出器47の非線形応答特性の範囲を含む出力信号を第2増幅率で増幅して得られる輝度信号に対して非線形応答特性の逆関数を乗じて線形補間を行う補間部(図示略)を備えることとしてもよい。
このようにすることで、ダイナミックレンジを優先する輝度信号においても、定量性を向上することができる。本変形例においては、例えば、補間部により輝度信号に対して線形補間を行った場合に、ADコンバータ55のbit長を超えて表現してもよい。
第2変形例としては、例えば、蛍光ライブイメージングのように、生きた標本Sの活動をリアルタイムに観察するレシオイメージングと呼ばれる手法を実行する観察設定であるレシオモードをGUIが有することとしてもよい。
レシオイメージングは、イオン濃度や膜電位、pHの変化に応じて蛍光量が変化するプローブを用い、1つの蛍光プローブ分子から発する2種類の蛍光量の比(レシオ)を測定し、その比の変化量から目的としている生命現象の活動を観察するものである。
レシオイメージングでは、2種類の蛍光量をそれぞれ正確に測定しなくてはならない。したがって、ユーザが入力部51を用いて、レシオイメージングを行うレシオモードをGUI上から設定した場合に、リニアリティ優先モードが自動的に選択されるようにしてもよい。
このようにすることで、ユーザは観察設定を意識せず、正確な計測を実施することが可能となる。
第3変形例としては、リニアリティ優先モードが選択されている場合において、PC11が、検出器47の線形応答特性の範囲内の出力信号を第1増幅率で増幅して生成した輝度信号が飽和する場合に、その輝度信号に基づく画素を他の画素と識別可能にオーバレイで表示した画像を構築することとしてもよい。
このようにすることで、定量性の確保を所望する高精細な画像において、輝度信号が飽和している画素を容易に把握することができる。
1 顕微鏡システム
7 検出装置
11 PC(画像構築部)
35 対物レンズ
47 検出器(検出素子)
49 光検出回路(検出回路)
51 入力部
S 標本

Claims (4)

  1. 所定量以下の入射光量に対しては出力信号が線形に変化する線形応答特性と、前記所定量よりも多い入射光量に対しては前記出力信号が非線形に変化する非線形応答特性とを有し、標本からの光を検出してその光量に応じた前記出力信号を出力する検出素子と、
    前記線形応答特性の範囲内の前記出力信号が所定の輝度信号取り込み範囲内となる第1増幅率および前記非線形応答特性の範囲を含む前記出力信号が前記所定の輝度信号取り込み範囲内となる、前記第1増幅率よりも低い第2増幅率が切り替え可能であり、前記検出素子から出力された前記出力信号を増幅して輝度信号を生成する検出回路と、
    該検出回路による前記出力信号の増幅率を前記第1増幅率と前記第2増幅率とで操作者に切り替えさせる入力部とを備える検出装置。
  2. 前記非線形応答特性の範囲を含む前記出力信号を前記第2増幅率で増幅して得られる前記輝度信号に対して、前記非線形応答特性の逆関数を乗じて線形補間を行う補間部を備える請求項1に記載の検出装置。
  3. 標本からの光を集光する対物レンズと、
    該対物レンズにより集光された前記光を検出して前記輝度信号を生成する請求項1または請求項2に記載の検出装置と、
    前記検出回路により生成された前記輝度信号に基づいて画像を構築する画像構築部とを備える顕微鏡システム。
  4. 前記画像構築部が、前記線形応答特性の範囲内の前記出力信号を前記第1増幅率で増幅して生成された前記輝度信号が飽和する場合に、その輝度信号に基づく画素を他の画素と識別可能に前記画像を構築する請求項3に記載の顕微鏡システム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11933668B2 (en) * 2020-02-03 2024-03-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Sampling assembly and testing instrument

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62115902A (ja) * 1985-11-14 1987-05-27 Nec Corp 光受信回路
JP2005173555A (ja) * 2003-11-21 2005-06-30 Olympus Corp 光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡
JP2015084057A (ja) * 2013-10-25 2015-04-30 株式会社キーエンス 顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法および顕微鏡撮像プログラム
WO2016135178A1 (de) * 2015-02-24 2016-09-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur verbesserung des dynamikbereichs einer vorrichtung zum detektieren von licht

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5068718A (en) * 1988-11-04 1991-11-26 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image quality correcting system for use with an imaging apparatus
JPH09236750A (ja) 1996-03-01 1997-09-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法
JP4865271B2 (ja) 2005-08-01 2012-02-01 株式会社キーエンス 共焦点走査型顕微鏡
US8222589B2 (en) 2009-05-29 2012-07-17 General Electric Company Solid-state photomultiplier module with improved signal-to-noise ratio
US8111905B2 (en) * 2009-10-29 2012-02-07 Mitutoyo Corporation Autofocus video tool and method for precise dimensional inspection
DE102015102632A1 (de) * 2015-02-24 2016-08-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Verbesserung des Dynamikbereichs einer Vorrichtung zum Detektieren von Licht und Vorrichtung
DE102015102631A1 (de) 2015-02-24 2016-08-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62115902A (ja) * 1985-11-14 1987-05-27 Nec Corp 光受信回路
JP2005173555A (ja) * 2003-11-21 2005-06-30 Olympus Corp 光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡
JP2015084057A (ja) * 2013-10-25 2015-04-30 株式会社キーエンス 顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法および顕微鏡撮像プログラム
WO2016135178A1 (de) * 2015-02-24 2016-09-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur verbesserung des dynamikbereichs einer vorrichtung zum detektieren von licht

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