JP2018017653A5 - 三次元計測装置 - Google Patents

Description

この発明は、三次元計測装置に関する。

Claims (10)

1. 対象物を含む撮像領域が第１撮像部により撮像された第１撮像画像と、前記撮像領域が第２撮像部により撮像された第２撮像画像とに基づいて前記対象物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、
   前記第１撮像画像と前記第２撮像画像に基づいて、前記第１撮像画像内において所定処理を行う対象となる第１対象領域のうち所定条件を満たす第１領域の大きさと、前記第２撮像画像内において前記所定処理を行う対象となる第２対象領域のうち前記所定条件を満たす第２領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、前記第１撮像部及び前記第２撮像部が前記対象物を撮像する際の撮像条件を変化させ三次元計測する、
   三次元計測装置。
2. 前記第１対象領域を前記第１領域の大きさに応じて変化させ、前記第２対象領域を前記第２領域の大きさに応じて変化させる、
   請求項１に記載の三次元計測装置。
3. 前記第１領域の大きさは、前記第１領域に含まれる画素数によって表され、
   前記第２領域の大きさは、前記第２領域に含まれる画素数によって表される、
   請求項１又は２に記載の三次元計測装置。
4. 前記撮像条件は、前記第１撮像部と前記第２撮像部との少なくとも一方の撮像に関するパラメーターである撮像パラメーターによって表され、
   前記第１領域の大きさと前記第２領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、前記撮像パラメーターを変化させる、
   請求項１から３のうちいずれか一項に記載の三次元計測装置。
5. 前記第１対象領域に対する前記第１領域の大きさの割合と、前記第２対象領域に対する前記第２領域の大きさの割合との少なくとも一方に基づいて前記撮像パラメーターを変化させる、
   請求項４に記載の三次元計測装置。
6. 前記撮像領域には、投射部から投射画像が投射され、
   前記撮像条件は、前記投射部の投射に関するパラメーターである投射パラメーターによって表され、
   前記第１領域の大きさと前記第２領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、前記投射パラメーターを変化させる、
   請求項１から５のうちいずれか一項に記載の三次元計測装置。
7. 前記第１対象領域に対する前記第１領域の大きさの割合と、前記第２対象領域に対する前記第２領域の大きさの割合との少なくとも一方に基づいて前記投射パラメーターを変化させる、
   請求項６に記載の三次元計測装置。
8. 前記所定条件は、第１所定閾値以上の輝度値の画素のみを含む領域であって所定大きさ以上の大きさの当該領域であることと、第２所定閾値以下の輝度値の画素のみを含む領域であって所定大きさ以上の大きさの当該領域であることとのうち少なくとも一方である、
   請求項１から７のうちいずれか一項に記載の三次元計測装置。
9. 前記第１領域及び前記第２領域は、白飛びが生じている領域である、
   請求項１から８のうちいずれか一項に記載の三次元計測装置。
10. 前記撮像条件を変化させた後に前記第１撮像部によって撮像された前記第１撮像画像と、前記撮像条件を変化させた後に前記第２撮像部によって撮像された前記第２撮像画像とに基づいて前記対象物の三次元形状を表す三次元点群を生成し、生成した三次元点群に基づいて前記対象物の位置及び姿勢を算出する、
    請求項１から９のうちいずれか一項に記載の三次元計測装置。