JP2017509016A - データ処理装置を用いたリソグラフィ装置 - Google Patents
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Abstract
Description
[0001] 本出願は、2014年3月4日に出願された欧州特許出願第14157664.5号に関する。この出願は引用によりその全体が本願にも含まれるものとする。
基板における多くの位置で基板の表面の高さに関連した測定信号を得るための、パターン適用の前に動作可能である光学レベルセンサと、
基板における全ての位置について測定信号を局所高さ値に変換することで基板の高さマップを導出するためのプロセッサと、
パターンを適用する場合に高さマップを用いて投影システムの合焦を制御するように構成されたコントローラと、を含み、
プロセッサ及びコントローラが、基板に以前適用された処理に関する情報を用いて基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定するように、更に、測定信号を用いて投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させるように構成されている。
光学レベルセンサを用いて、基板における多くの位置で基板の表面の高さに関連した測定信号を得ることと、
基板における全ての位置について測定信号を局所高さ値に変換することで基板の高さマップを導出することと、
高さマップを用いて投影システムの合焦を制御してパターンを適用することと、を備え、
高さマップを導出するステップ及び高さマップを用いるステップの一方又は双方が、基板に適用された処理に関する情報を用いて基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定するように、更に、測定信号を用いて投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させるように実行される。
[0036] 図3は、図1のデュアルステージ装置において基板W上のターゲット部分(例えばダイ)を露光するステップを示す。まず、従来の実施に従ったプロセスについて説明する。
[0047] 図4(a)は、リソグラフィ装置LAにおけるレベルセンサLSの動作を概略的に示す。図示のように、これは光学センサであり、光源側光学部品LSSと検出器光学部品LSDとを備えている。信号処理は、高さ測定に使用できる1つ以上の信号S(x、y)を与えるように機能する。レベル検知用のこういった光学部品の詳細は当技術分野において既知であり、例えば序論で述べた以前の公報に記載されている。それらについて本明細書では詳細に記載しない。以下で更に説明するように、本例で用いる放射は単色、多色、及び/又は広帯域とすることができる。これは、P偏光又はS偏光、円偏光、及び/又は非偏光であり得る。
[0054] 上記の装置及び方法によって合焦性能のいくらかの改良が得られるが、最新のデバイスでは更に小型のフィーチャが求められ、結果として更なる焦点の向上が要求される。本発明者らは、最新のリソグラフィシステムが原理上、基板の層に次々に適用されるパターン及びプロセスについて、様々な利用可能な形態の予備知識を有することを認識している。これらは実際、いずれかの所与の層におけるレベルセンサ測定値のプロセス依存性の一因となる特徴である。本開示に従って、パターニングステップの先行物としてすでに利用可能であるこのような予備知識を用いて、付加的な測定値に頼ることなく、又は付加的な測定値に対する補足として、高さマップを改良することができる。プロセス履歴情報は、どの層が適用されたか、及びどのような物理的処理及び/又は化学的処理ステップが用いられたかを示す。以前に適用された各層のレイアウト情報は、例えばGDSII(グラフィックデータシステム)又はOASIS等のフォーマットのコンピュータ支援設計ファイルで利用可能である。レイアウトファイルに含まれない付加的な詳細は、多くの場合、パターニング放射とレチクルのクリティカルフィーチャ及び/又はウェーハシグネチャとの間の3次元相互作用の数学的モデリングによって得られる。レチクルモデリングのための1つのシステムが、P. Liu等の「Fast 3D thick mask model for full−chip EUVL simulations」(Proc. SPIE 8679、Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography IV、86790W(2013年4月1日))に記載されている。同様に、基板における3次元相互作用をモデリングするためのシステムが、P. Liu等の「A full−chip 3D computational lithography framework」(Proc. SPIE 8326、Optical Microlithography XXV、83260A(2012年2月21日))に記載されている。これらの技法を実施する製品が、BRION Technologies(カリフォルニア州サンタクララ)から入手可能である。
[0068] 図4(b)を想起させる図8は、基板W上の様々なフィールド354に対する例示的なスキャン手順を示す。図4(b)と同じ参照符号は同一の特徴又はイベントを表す。各フィールド354内で、3つの別個の領域がセットアップステップ400で定義される。フィールドのほとんどは第1の領域560を構成する。第2の領域561及び第3の領域562は、上述したような予備知識に基づいて定義される。これらの領域は、図4に示すリソグラフィ方法の以前の繰り返しにおいて特定のパターン及び/又は処理ステップが適用されたフィールド部分に対応する。レベルセンサLSは経路352に沿って1回以上のスキャンを実行して、x及びyにおける各位置で様々な未処理信号S(x、y)を得る。
[0074] 図10は、高さマップの計算の変更の代わりとして又はこれに更に加えるものとして、予備知識を用いることで、焦点制御のための高さマップ使用方法に影響を及ぼす代替的な例を示す。図10のプロセスは図5に示すものと極めて類似しているので、詳細な説明は繰り返さない。この場合も目的は、全体的な焦点制御機能において予備知識を用いることで、全ての位置を使用可能な焦点深度内に収めることである。先の例(図5)では、これを実行するために、高さマップデータを生成する方法を変更し、次いで変更した高さマップを従来の焦点制御プロセスで用いる。図10の例では、露光ステップ407内の焦点制御機能407aを予備知識に基づいて変更する。
[0078] 結論として、本開示は、リソグラフィ製造プロセス中に合焦の改善及びパターニング性能の改善を可能とする方法を提供する。本方法は、「非光学」センサにより得られる付加的な測定値に頼ることなく、光学センサの誤差を計算によって補正する。しかしながら、この新規の方法は非光学メトロロジーに対する増強として実施することも可能である。更に、この新規の方法は、リソグラフィシステムのハードウェアに何ら変更を必要とせず、リソグラフィ製造プロセス中にすでに測定され記憶されているデータを入力データとして用いる。この方法は、いっそう正確な高さマップ(単に、クリティカルフィーチャのいっそう最適な合焦を達成するように変更した高さマップを意味する)を生成すること、及び/又は実際の焦点制御プロセスにおける高さマップデータの使用方法を変更することを含み得る。
1.光学投影システムを用いて基板上にパターンを適用するためのリソグラフィ装置であって、
前記基板における多くの位置で前記基板の表面の高さに関連した測定信号を得るための、前記パターン適用の前に動作可能である光学レベルセンサと、
前記基板における全ての位置について前記測定信号を局所高さ値に変換することで前記基板の高さマップを導出するためのプロセッサと、
前記パターンを適用する場合に前記高さマップを用いて前記投影システムの合焦を制御するように構成されたコントローラと、を含み、
前記プロセッサ及びコントローラが、前記基板に適用された処理に関する情報を用いて前記基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定するように、更に、前記測定信号を用いて前記投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させるように構成されている、リソグラフィ装置。
2.前記プロセッサが、前記測定信号に第1の計算を適用することによって前記第1の領域における前記局所高さ値を導出すると共に、前記測定信号に第2の計算を適用することによって前記第2の領域における前記局所高さ値を導出するように構成されている、条項1に従った装置。
3.前記光学レベルセンサが、異なる特性の放射を用いて複数の測定信号を得るように動作可能であり、前記第1及び第2の測定信号を用いる方法が前記第1の計算と前記第2の計算とで異なる、条項2に従った装置。
4.異なる特性の前記放射が異なる偏光の放射を含む、条項3に従った装置。
5.異なる特性の前記放射が異なる波長の放射を含む、条項3又は4に従った装置。
6.前記基板に適用された処理に関する前記情報が、1つ以上の以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記第1及び第2の領域の境界を画定するために用いられる、条項1から5のいずれかに従った装置。
7.基板に適用された処理に関する前記情報が、前記1つ以上の以前にパターニングが行われた層の第1及び第2の領域における材料特性に関する情報を含む、条項6に従った装置。
8.前記レイアウト情報を用いて、前記レベルセンサの空間精度よりも大きい空間精度で前記境界が画定される、条項6又は7に従った装置。
9.前記プロセッサが、前記第1の領域における複数の位置で得られた測定信号から前記基板の前記第1の領域における前記局所高さ値を導出すると共に、隣接した第1の領域で得られた測定信号からの外挿によって前記第2の領域における前記局所高さ値を導出するように構成されている、条項1から8のいずれかに従った装置。
10.基板に適用された処理に関する前記情報が、1つ以上の以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記第1及び第2の領域の境界にまたがる第3の領域を画定するために用いられ、前記プロセッサが、前記第1の領域における隣接した複数の位置で得られた測定信号からの外挿入によって前記第3の領域の第1の部分における前記局所高さ値を導出すると共に、前記第2の領域における隣接した複数の位置で得られた測定信号からの外挿入によって前記第3の領域の第2の部分における前記局所高さ値を導出するように構成されている、条項1から9のいずれかに従った装置。
11.前記コントローラが、前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域でそれぞれ異なるように前記高さマップのデータを用いるように構成されている、条項1から10のいずれかに従った装置。
12.前記基板に適用された処理に関する前記情報が、以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記異なる領域の境界を画定するために用いられる、条項11に従った装置。
13.前記コントローラが、前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域においてそれぞれ異なる重みを高さマップのデータに適用するように構成されている、条項11又は12に従った装置。
14.基板の多数の層に形成されるデバイスを製造する方法であって、各層を形成するため、前記基板上にパターンを適用することと、前記基板に1つ以上の化学的及び/又は物理的処理ステップを行って前記適用したパターンに従ったデバイスフィーチャを形成することと、を備え、前記層の少なくとも1つについて、前記パターンを適用する前記ステップが、
光学レベルセンサを用いて、前記基板における多くの位置で前記基板の表面の高さに関連した測定信号を得ることと、
前記基板における全ての位置について前記測定信号を局所高さ値に変換することで前記基板の高さマップを導出することと、
前記高さマップを用いて前記投影システムの合焦を制御して前記パターンを適用することと、を備え、
前記高さマップを導出する前記ステップ及び前記高さマップを用いる前記ステップの一方又は双方が、前記基板に適用された処理に関する情報を用いて前記基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定するように、更に、前記測定信号を用いて前記投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させるように実行される、方法。
15.前記局所高さ値が、前記測定信号に第1の計算を適用することによって前記第1の領域において導出され、前記測定信号に第2の計算を適用することによって前記第2の領域において導出される、条項14に従った方法。
16.前記光学レベルセンサが、異なる特性の放射を用いて複数の測定信号を得るように動作可能であり、前記第1及び第2の測定信号を用いる方法が前記第1の計算と前記第2の計算とで異なる、条項15に従った方法。
17.異なる特性の前記放射が異なる偏光の放射を含む、条項16に従った方法。
18.異なる特性の前記放射が異なる波長の放射を含む、条項16又は17に従った方法。
19.前記基板に適用された処理に関する前記情報が、1つ以上の以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記第1及び第2の領域の境界を画定するために用いられる、条項14から18のいずれかに従った方法。
20.前記基板に適用された処理に関する前記情報が、前記1つ以上の以前にパターニングが行われた層の前記第1及び第2の領域における材料特性に関する情報を更に含む、条項19に従った方法。
21.基板に適用された処理に関する前記情報が、放射とパターニングデバイス及び基板の一方又は双方との間の3次元相互作用のモデリングから得られた情報を更に含む、条項19又は20に従った方法。
22.前記高さマップを用いる前記ステップが、前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域でそれぞれ異なるように前記高さマップのデータを用いるように実行される、条項14から21のいずれかに従った方法。
23.前記基板に適用された処理に関する前記情報が、以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記異なる領域の境界を画定するために用いられる、条項22に従った方法。
24.前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域においてそれぞれ異なる重みを前記高さマップのデータに適用する、条項22又は23に従った方法。
25.一時的又は非一時的な媒体に記憶された機械読み取り可能命令を備えるコンピュータプログラム製品であって、命令が、条項1から13のいずれかに従った装置のプロセッサ及び/又はコントローラの機能をプログラマブルプロセッサに実施させるためのものである、コンピュータプログラム製品。
Claims (15)
- 光学投影システムを用いて基板上にパターンを適用するためのリソグラフィ装置であって、
前記パターン適用の前に動作可能であり、前記基板における多くの位置で前記基板の表面の高さに関連した測定信号を得る光学レベルセンサと、
前記基板における全ての位置について前記測定信号を局所高さ値に変換することで前記基板の高さマップを導出するプロセッサと、
前記パターンを適用する場合に前記高さマップを用いて前記投影システムの合焦を制御するコントローラと、を含み、
前記プロセッサ及びコントローラが、前記基板に適用された処理に関する情報を用いて前記基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定すると共に、前記測定信号を用いて前記投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させる、リソグラフィ装置。 - 前記プロセッサが、前記測定信号に第1の計算を適用することによって前記第1の領域における前記局所高さ値を導出すると共に、前記測定信号に第2の計算を適用することによって前記第2の領域における前記局所高さ値を導出する、請求項1に記載の装置。
- 前記光学レベルセンサが、異なる特性の放射を用いて複数の測定信号を得るように動作可能であり、
前記第1及び第2の測定信号を用いる方法が、前記第1の計算と前記第2の計算とで異なる、請求項2に記載の装置。 - 前記基板に適用された処理に関する前記情報が、1つ以上の以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記第1及び第2の領域の境界を画定するために用いられる、請求項1から3のいずれか一項に記載の装置。
- 前記レイアウト情報を用いて、前記レベルセンサの空間精度よりも大きい空間精度で前記境界が画定される、請求項4に記載の装置。
- 前記プロセッサが、前記第1の領域における複数の位置で得られた測定信号から前記基板の前記第1の領域における前記局所高さ値を導出すると共に、隣接した第1の領域で得られた測定信号からの外挿によって前記第2の領域における前記局所高さ値を導出する、請求項1から5のいずれか一項に記載の装置。
- 前記コントローラが、前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域でそれぞれ異なるように前記高さマップのデータを用いる、請求項1から6のいずれか一項に記載の装置。
- 前記基板に適用された処理に関する前記情報が、以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記異なる領域の境界を画定するために用いられる、請求項7に記載の装置。
- 基板の多数の層に形成されるデバイスを製造する方法であって、各層を形成するため、前記基板上にパターンを適用することと、前記基板に1つ以上の化学的及び/又は物理的処理ステップを行って前記適用したパターンに従ったデバイスフィーチャを形成することと、を含み、
前記層の少なくとも1つについて、前記パターンを適用する前記ステップが、
光学レベルセンサを用いて、前記基板における多くの位置で前記基板の表面の高さに関連した測定信号を得ることと、
前記基板における全ての位置について前記測定信号を局所高さ値に変換することで前記基板の高さマップを導出することと、
前記高さマップを用いて前記投影システムの合焦を制御して前記パターンを適用することと、を含み、
前記高さマップを導出する前記ステップ及び前記高さマップを用いる前記ステップの一方又は双方が、前記基板に適用された処理に関する情報を用いて前記基板の少なくとも第1及び第2の領域を画定するように、更に、前記測定信号を用いて前記投影システムの合焦を制御する方法を領域間で変動させるように、実行される、方法。 - 前記局所高さ値が、前記測定信号に第1の計算を適用することによって前記第1の領域において導出され、前記測定信号に第2の計算を適用することによって前記第2の領域において導出される、請求項9に記載の方法。
- 前記光学レベルセンサが、異なる特性の放射を用いて複数の測定信号を得るように使用され、
前記第1及び第2の測定信号を用いる方法が、前記第1の計算と前記第2の計算とで異なる、請求項10に記載の方法。 - 前記基板に適用された処理に関する前記情報が、1つ以上の以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記第1及び第2の領域の境界を画定するために用いられる、請求項9から11のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基板に適用された処理に関する前記情報が、前記1つ以上の以前にパターニングが行われた層の前記第1及び第2の領域における材料特性に関する情報を更に含む、請求項12に記載の方法。
- 前記高さマップを用いる前記ステップが、前記投影システムの合焦を制御する場合、異なる領域でそれぞれ異なるように前記高さマップのデータを用いるように実行される、請求項9から13のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基板に適用された処理に関する前記情報が、以前にパターニングが行われた層のレイアウト情報を含み、前記異なる領域の境界を画定するために用いられる、請求項14に記載の方法。
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