JP2017187755A - 較正用スライドガラス - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本発明の較正用スライドガラスの一例を示す概略平面図である。図1に示すように、本発明の較正用スライドガラス100は、複数の較正用パターンチップを有する較正用パターンを有する。
図2(a)は、図1に示す本発明の較正用スライドガラス100の白色破線で囲った領域R1を拡大した拡大図であり、図2(b)は、図2(a)のA−A線断面図であり、図2(c)は、図2(b)に示す較正用スライドガラス100の黒色破線で囲った領域R2を拡大した拡大図である。図2(a)〜(c)に示すように、本発明の較正用スライドガラス100は、複数の較正用パターンチップ1a、1b、1cを有する較正用パターン1と、較正用パターン1の周囲に配置された第1のスペーサ3と、第1のスペーサ3および第1のスペーサ3を介して対向するように配置され、較正用パターン1に平面視上重なる領域に少なくとも透過部20を有する一対の保護基材2a、2bと、第1のスペーサ3、および一対の保護基材2a、2bのうち少なくとも一方の保護基材の間に、較正用パターンチップの一部と平面視上重なるように配置された第2のスペーサ4とを有する。また、本発明の較正用スライドガラス100は、第2のスペーサ4が、較正用パターン1に平面視上重なる領域に少なくとも開口部Aを有することを特徴とする。
そこで、本発明の発明者等は、例えば図10に示すように、一対の保護基材2a、2bの間に較正用パターン1を配置し、較正用パターンの表面の露出を防いだ構成を有する較正用スライドガラスを作製した。その結果、較正用パターン表面の汚染や、色濃度の低下、色素変化の発生を抑制することができたが、その一方で、保護基材に設けられた透過部を介して較正用パターンを観察した際に、ニュートンリングが出現するという課題を新たに発見した。
本発明の発明者等は、再度、研究を重ねた結果、ニュートンリングの発生は、較正用パターンおよび保護基材が接触することが原因の一つであることを新たに見出した。
したがって、本発明によれば、第2のスペーサが、較正用パターンに平面視上重なる領域に少なくとも開口部を有することにより、較正用パターン、および第2のスペーサが配置された少なくとも一方の保護基材の透過部の間に、第2のスペーサの厚みに相当する分の空隙を設けることができるため、ニュートンリングの出現を抑制することが可能な較正用スライドガラスとすることができる。
本発明における第2のスペーサは、第1のスペーサ、および一対の保護基材のうち、少なくとも一方の保護基材と第1のスペーサとの間に、較正用パターンチップの一部と平面視上重なるように配置される部材である。また、本発明における第2のスペーサは、較正用パターンに平面視上重なる領域に少なくとも開口部を有することを特徴とする。さらに、本発明においては、例えば、図4に示すように、較正用パターンの周囲に配置された第1のスペーサ3に積層することができる。なお、図4の説明は後述するため、ここでの記載は省略する。
本発明における第1のスペーサは、較正用パターンの周囲に配置される部材である。
本発明における較正用パターンは、複数の較正用パターンチップを有する部材である。
一方、較正用スライドガラスは、色情報を提供するにあたり、複数の較正用パターンチップの測定が行われるが、このとき測定される複数の較正用パターンチップは、当該較正用パターンチップの厚み方向の光路長が均一であることが好ましい。中でも、較正用パターンを構成する全ての較正用パターンチップの厚み方向の光路長が均一であることが好ましい。ここで、上記「このとき測定される複数の較正用パターンチップ」とは、一回の較正で測定する較正用パターンチップであり、いわゆる同一測定対象となる複数の較正用パターンチップである。例えば、基準色として白色較正用パターンチップを利用し、その他の色を呈するパターンチップの色情報を測定する場合には、白色較正用パターンチップとその他の色を呈するパターンチップとが、「同一測定対象」となる。また、較正用パターンが、所定の色を呈する較正用パターンチップの他にも輝度調整を行うためのグレイチップを有する場合であって、当該グレイチップと較正用パターンチップとを一回の較正で測定する場合には、グレイチップと較正用パターンチップとが、「同一測定対象」となる。さらに、較正用パターンが、所定の色を呈する較正用パターンチップの他にも解像度チップを有する場合には、必ずしも一回の較正で解像度チップと較正用パターンチップとを測定しなくても良いため、解像度チャートと較正用パターンチップとは、必要に応じて「同一測定対象」とすることができる。
そうすると、例えば、白色較正用パターンチップ1Wを基準色として利用し、赤色較正用パターンチップ1Rおよび緑色較正用パターンチップ1Gの測定を行った場合には、測定結果にズレが生じ、正確な較正を行うことが困難になるおそれがある。また、結果として、較正用パターンチップを備えた較正用スライドガラスを用いた撮像装置付きの観察装置により、精度の高い測定を行うことが困難になるおそれがある。
なお、上記「非平行光」としては、例えば、顕微鏡等の結像光学系が挙げられる。
(光源が透過する較正用パターンチップの厚み)×(較正用パターンチップの屈折率)=光路長
また、「光路長を均一にする」とは、較正用スライドガラスを用いた撮像装置付きの観察装置により、精度の高い測定を行うことができる程度であれば良いが、例えば、同一測定対象となる全ての較正用パターンチップの厚み方向の光路長の差が、少なくとも15%以下であることが好ましく、中でも10%以下であることが好ましい。
本発明における保護基材は、較正用パターンおよび第1のスペーサを介して対向するように配置され、較正用パターンに平面視上重なる領域に少なくとも透過部を有する部材である。ここで、「透過部」とは、少なくとも可視光を透過する領域をいい、例えば図2(b)、(c)に示される符号20の領域を指す。透過部の形状は、通常、図2(b)、(c)に示すように矩形形状である。
本発明においては、一対の保護基材の間に、保護基材の外周に沿って配置された封止部を有することが好ましい。
本発明においては、一対の保護基材において、一方の保護基材の表面に原点マークを有することが好ましい。なお、ここでの一方の保護基材とは、通常、較正用スライドガラスの観察側となる方の保護基材を指す。また、ここでの保護基材の表面とは、通常、一対の保護基材が対向する側の面を指す。
本発明においては、一対の保護基材、第1のスペーサ、第2のスペーサ等に、位置ずれを防止するためのアライメントマークを形成することが好ましい。
1a、1b …較正用パターンチップ
1c …較正用パターンチップ(ブランク)
2a、2b …保護基材
3 …第1のスペーサ
4 …第2のスペーサ
5 …封止部
6 …原点マーク
7 …アライメントマーク
100…較正用スライドガラス
Claims (6)
- 複数の較正用パターンチップを有する較正用パターンと、
前記較正用パターンの周囲に配置された第1のスペーサと、
前記較正用パターンおよび前記第1のスペーサを介して対向するように配置され、前記較正用パターンに平面視上重なる領域に少なくとも透過部を有する一対の保護基材と、
前記第1のスペーサ、および前記一対の保護基材のうち、少なくとも一方の前記保護基材と前記第1のスペーサとの間に、前記較正用パターンチップの一部と平面視上重なるように配置された第2のスペーサと
を有し、
前記第2のスペーサは、前記較正用パターンに平面視上重なる領域に少なくとも開口部を有することを特徴とする較正用スライドガラス。 - 前記一対の保護基材の間に、前記保護基材の外周に沿って配置された封止部を有することを特徴とする請求項1に記載の較正用スライドガラス。
- 前記第2のスペーサの表面に溝を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の較正用スライドガラス。
- 前記一対の保護基材のうち一方の前記保護基材の表面に、原点マークを有することを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれか一の請求項に記載の較正用スライドガラス。
- 前記一対の保護基材のうち一方の前記保護基材の前記透過部が、平面視上、他方の前記保護基材の前記透過部の領域内に配置されていることを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれか一の請求項に記載の較正用スライドガラス。
- 前記複数の較正用パターンチップのうち、少なくとも同一測定対象となる全ての較正用パターンチップは、前記較正用パターンチップの厚み方向の光路長が均一であることを特徴とする請求項1から請求項5までのいずれか一の請求項に記載の較正用スライドガラス。
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