JP2017181190A - 付着物量の測定装置 - Google Patents

付着物量の測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017181190A
JP2017181190A JP2016066216A JP2016066216A JP2017181190A JP 2017181190 A JP2017181190 A JP 2017181190A JP 2016066216 A JP2016066216 A JP 2016066216A JP 2016066216 A JP2016066216 A JP 2016066216A JP 2017181190 A JP2017181190 A JP 2017181190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amount
deposit
detection condition
detection
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016066216A
Other languages
English (en)
Inventor
千草 井中
Chigusa Inaka
千草 井中
由起 喜多
Yuki Kita
由起 喜多
哲 友枝
Satoru Tomoe
哲 友枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toray Engineering Co Ltd filed Critical Toray Engineering Co Ltd
Priority to JP2016066216A priority Critical patent/JP2017181190A/ja
Priority to PCT/JP2017/000002 priority patent/WO2017168909A1/ja
Publication of JP2017181190A publication Critical patent/JP2017181190A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

【課題】複雑な演算処理等を必要とせず、検査対象領域に付着した物質の付着物量が大きく異なる状態で混在していても、精度の高い測定結果を得ることができる装置を提供する。【解決手段】検査対象領域Rに付着した付着物Sの付着物量を測定する装置1であって、検査対象領域Rに向けて光エネルギーを照射する光源2と、付着物Sから放出する放出エネルギーを検出する検出部3と、光エネルギー/放出エネルギーの検出条件を切り換える検出条件切換部4と、付着物量の測定に用いる関係情報を記憶しておく記憶部5と、検出部3で検出した異なる検出条件の画像に基づいて、第1領域付着物量と第2領域付着物量を算出し、第1領域付着物量に第2領域付着物量を加えて付着物量の算出を行う、付着物量算出部6を備えたことを特徴とする。【選択図】図1

Description

本発明は、検査対象物の表面に付着した異物や汚れ、しみなどの付着物量を測定する装置に関する。
従来から、画像形成装置の像担持体に形成されたトナー像のトナー量(つまり、トナーの付着量)を測定するにあたり、低濃度域から高濃度域まで広範囲に亘って良好な測定結果を得る技術が提案されている(例えば、特許文献1)。
また、接点リレーの表面の汚れを蛍光検査する技術が提案されている(例えば、特許文献2)。
また、画像中のはんだ付け部位が飽和する照明強度と、飽和しない照明強度(つまり、異なる照明条件)に設定し、これらの画像を組み合わせて生成された画像を用いて外観検査を行う技術が提案されている(例えば、特許文献3)。
特開2010-49233号公報 特開平5−232042号公報 特開2010−14530号公報
特許文献1に示す技術では、トナー像から反射した光を複数の受光素子で受光して得られるデータから反射波形のピーク位置に関する情報と、反射波形のピーク高さに関する情報を取得し、ピーク位置とピーク高さの少なくとも一つと、形成されるトナー像の濃度に関する情報とに基づいてトナー量を算出している。しかし、ピーク位置やピーク高さに関する情報を取得するためには複雑な演算処理やフィッティング処理を行う必要があった。
また、特許文献2に示す技術では、試料に照射する励起光の一部をサンプリングして強度測定しつつ、蛍光発光の強度測定を行っているが、こちらも測定対象となる付着物質の量や密度、濃度などが大きく異なると、正確な付着物量を測定することが困難であった。
つまり、微小粒径或いは低密度、低濃度の物質を検出しようとして照射する光の光量を上げると、大粒径或いは高密度、高濃度の物質を検出した際に光量過多となり、正確な大きさを求めることができない。一方、大粒径或いは高密度、高濃度の物質を検出しても光量過多とならないようにすると、微小粒径或いは低密度、低濃度の物質の検出に必要な光量が不足し、正確に検出できなくなるという課題があった。
また、特許文献3に示す技術は、異なる照明条件で取得した複数の画像を合成処理し、生成された鮮明な画像を用いて検査を行うためのものであり、複数画像における同一部位の輝度情報に基づいて輝度比率を算出し、互いの画像の輝度補正を行った上で合成することで、ダイナミックレンジの広い1つの画像データを生成している。
しかしこの技術では、単純に明条件での画像と暗条件での画像との明るさの比(つまり、輝度比P)に基づく演算処理をしているが、この輝度比Pの算出は、同じ基準板を異なる照明条件A,Bで撮像した際の輝度値a,bの割り算で行っている。このとき、輝度値bは信号レベルの低い低輝度側の輝度値のため、分解能やS/N比の影響で誤差が生じやすく、この誤差に乗じて輝度比Pにも誤差が含まれてしまう。このような誤差は、撮像される輝度値の飽和を防ぐという観点からは適用可能であったと思われるが、厳密な付着物量の測定には適用できなかった。
そこで本発明は、複雑な演算処理等を必要とせず、検査対象領域に付着した物質の付着物量が大きく異なる状態で混在していても、精度の高い測定結果を得ることができる装置を提供することを目的とする。
以上の課題を解決するために、本発明に係る一態様は、
検査対象領域に付着した付着物の付着物量を測定する装置であって、
検査対象領域に向けて光エネルギーを照射する光源と、
検査対象領域に付着した付着物から放出する放出エネルギーを検出する検出部と、
光源から照射する光エネルギーの量および検出部で検出する放出エネルギーの検出感度のうち少なくとも一方に関する検出条件を切り替える検出条件切替部と、
単位面積あたりの付着物の質量とエネルギー強度との相関関係が関連付けられた関係情報が、検出条件毎に記憶された記憶部と、
検出部で検出した異なる検出条件の前記放出エネルギーの検出結果に基づいて、
第1の検出条件で検出された前記放出エネルギーの検出結果におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第1の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第1領域付着物量として算出し、
第1の検出条件で検出されたエネルギー強度が適正範囲にない領域に対応する領域であって、第2の検出条件で検出された前記放出エネルギーの検出結果におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第2の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第2領域付着物量として算出し、
第1領域付着物量に第2領域付着物量を加えて付着物量の算出を行う、付着物量算出部を備えたことを特徴とする、付着物量の測定装置である。
上記発明によれば、微小粒径、低密度または低濃度の付着物を、高感度の検出条件で高精度に検出すると共に、大粒径、高密度または高濃度の付着物を、感度オーバーとならない検出条件で取りこぼしなく確実に検出できる。
検査対象領域に付着した物質の付着物量が大きく異なる状態で混在していても、複雑な演算処理等を行うことなく、精度の高い測定結果を得ることができる。
本発明の一実施形態における全体構成を示した概略図。 本発明に係る関係情報を説明するためのイメージ図。 検査対象領域Rにおける付着物の付着物量と、各検査条件で撮像した画像の輝度のイメージを示す、イメージ図。 本発明の一実施形態における付着物量の測定例を示すフロー図である。 検査対象領域Rにおける付着物の付着物量と、各検査条件で撮像した画像の輝度と換算輝度のイメージを示す、イメージ図。 本発明を具現化する別の形態の一例の全体を示す概略図。 本発明を具現化する別の形態の一例における他品種関係情報の算出イメージを示す、イメージ図。
以下に、本発明を実施するための形態について、図を用いながら説明する。なお、各図においては、直交座標系の3軸をX、Y、Zとし、XY平面を水平面、Z方向を鉛直方向とする。特に、X方向は、矢印の方向を右側、その逆方向を左側と表現し、Y方向は、矢印の方向を奥側、その逆方向を手前側と表現し、Z方向は矢印の方向(重力上方)を上側、その逆方向を下側と表現する。
図1は、本発明の一実施形態における全体構成を示した概略図である。図1には、本発明に係る付着物量の測定装置1で、容器Wの内面に設定された検査対象領域Rに付着した付着物の付着物量を測定する様子が示されている。容器Wは、縦長の側面4面と上面と底面とで構成される略直方体形であって、側面は、略正方形状の断面形状をしている。また、上面の一部には、開口部を有している。
さらに、容器Wの底面Wbは水平面と平行に配置され、容器Wの側面はZ方向と平行に配置されているものとして、説明を行う。なお、容器Wの4つある側板内面については、向かって左側を第1側板内面Ws1、正面奥側を第2側板内面Ws2、向かって右側を第3側板内面Ws3、正面手前側を第4側板内面Ws4(不図示)と呼ぶ。
本発明に係る付着物量の測定装置1は、光源2と、検出部3と、検出条件切替部4と、記憶部5と、付着物量算出部6とを備えて構成されている。この付着物量の測定装置1は、検査対象物の表面に付着した異物や汚れ、しみなどの付着物量を測定するものである。
以下、付着物量の測定装置1の具体的な構成として、検査対象物の表面に設定された検査対象領域Rに付着した付着物Sの付着物量を測定する構成を示す。
光源2は、検査対象領域に向けて光エネルギーを照射するものである。光エネルギーは、測定対象である付着物Sを検出するためのものである。ここでは、光源2の一類型として照明ユニット20を例示し、光エネルギーの一類型として白色光23を例示する。照明ユニット20は、白色光23を検査対象領域Rに向けて照射するものである。より具体的には、照明ユニット20は、白色光23を照射するLEDモジュールが組み込まれたものが例示できる。
検出部3は、検査対象領域Rに付着した付着物Sから放出する放出エネルギーを検出するものである。ここでは、検出部3の一類型として、撮像部30を例示する。
撮像部30は、付着物Sから放出する放出エネルギーの一類型である、付着物Sから放出された光(例えば、反射光や散乱光など)35を撮像するものである。具体的には、撮像部30は、撮像カメラ30、レンズ31を備えている。
照明ユニット20と撮像部30は、連結金具BKに固定されている。
検出条件切替部4は、
光源2から照射する光エネルギーの量および検出部3で検出する放出エネルギーの検出感度のうち少なくとも一方に関する検出条件(単に、検出条件とも言う)を切り替えるものである。
具体的には、検出条件切替部4では、照明ユニット20から放出される白色光23の光量を切り替えや、撮像カメラ30で受光する光の光量に関する設定(つまり、検出感度)を切り替えが行われる。また、検出条件切替部4では、上述の切り替えに代えて、或いは上述の切り替えに加えて、撮像カメラ30の撮像カメラ30の露光時間(またはシャッター速度)の変更、レンズ31に備えられた絞り(図示せず)の変更、濃度の異なる減光フィルタ(図示せず)の切り替えなどが行われる。
ここでは、検出条件の切り替えとして、照明ユニット20から放出される白色光23の光量を切り替える構成を例示して、説明を行う。より具体的には、照明ユニット20から放出される白色光23の光量の切り替えは、照明ユニット20に備えられたLEDモジュールに印加する電圧や電流を変更することで行う。なお、照明ユニット20は、後述の制御部CNと接続されており、制御部CNからの制御信号に基づいて、LEDモジュールに印加する電圧や電流の変更(つまり、光量の切り替え)が行われる。
付着物量の測定装置1には、制御処理部CNが備えられている。制御処理部CNは、付着物量を測定するために必要な処理や、機器の制御を行うものであり、コンピュータなどのハードウェアと、その実行プログラム(ソフトウェア)で構成されている。そして、制御処理部CNの一部として、検出条件切替部4、記憶部5、付着物量算出部6が備えられている。
記憶部5は、付着物量の測定に用いる、単位面積あたりの付着物の質量と撮像カメラ30(つまり、検出部3)で検出される輝度値(エネルギー強度の一類型)との相関関係が関連付けられた関係情報を、検出条件毎に記憶しておくものである。
具体的には、関係情報は、第1の検出条件の関係情報と、第2の検出条件の関係情報を含んで構成されている。第1の検出条件の関係情報は、第1の検出条件で撮像した画像の輝度値から付着物量を算出するためのものである。第2の検出条件の関係情報は、第2の検出条件で撮像した画像の輝度値から付着物量を算出するためのものである。なお、これら画像は、検出部3で検出される放出エネルギーの検出結果の一類型である。
より具体的には、主に微小粒径、低密度または低濃度の付着物の測定に適した条件(説明の便宜上、低濃度用、高感度・明条件とも言う)を第1の検出条件とし、主に大粒径、高密度または高濃度の付着物の測定に適した条件(説明の便宜上、高濃度用、低感度・暗条件とも言う)を第2の検出条件として、具体的な説明を行う。なお、記憶部5に記憶しておく関係情報は、予め付着物量の基準サンプルを複数(例えば、基準サンプルA〜G)準備し、次のようにして定義する。なお、これら基準サンプルA〜Gは、品種が同じで付着物量がそれぞれ異なるが、それぞれの付着物量は既知である。
そして、これらの基準サンプルを撮像カメラ30で撮像した際に、いずれの基準サンプルも、黒つぶれやS/N比の低下、或いは飽和や白飛びを起こさない輝度値となるように、または所望の相関関係が維持できる範囲に収まるように、第1の検出条件(明条件)における白色光23の光量を調節し、設定する。このとき、予め決めた付着物量の下限値と上限値で黒つぶれやS/N比の低下、或いは飽和や白飛びを起こす場合、または所望の相関関係が維持できない場合は、付着物量の下限値及び/又は上限値を決め直し、設定する。なお、所望の相関関係が維持できるかどうかについては、最小二乗法により算出した近似式の相関係数の大小や、その他の基準に基づいて判断する。
図2は、本発明に係る関係情報を説明するためのイメージ図である。
図2には、付着物量を横軸に、各検出条件で撮像した画像の輝度値を縦軸にして、各基準サンプルを第1の検出条件および第2の検出条件で撮像した場合の付着物量と輝度値の相関関係、ならびに付着物量および輝度値の下限値、上限値および適正範囲がそれぞれ示されている。また、基準サンプルA〜Gを黒丸でプロットした左横には、それぞれの基準サンプル第1および第2の検出条件で撮像した際の輝度値が示されている。
例えば、第1の検出条件および第2の検出条件で検出対象とする付着物量を測定するための輝度値について、それぞれ下限値を50、上限値を200と規定する。つまり、この間の範囲が、付着物量を測定するための輝度値の適正範囲となる。
そして、第1の検出条件(明条件)で各基準サンプルを撮像すると、基準サンプルA〜Cは、それぞれ輝度値が70,130,180(つまり、適正範囲にある)で、一直線上にプロットされるような相関関係にある。一方、基準サンプルD,Eは、輝度値が230,254で、飽和や白飛びを起こす範囲にある(つまり、輝度値の上限値:200を超えている)。そのため、図2に実線で示す様な一次関数で、第1の検出条件の関係情報を定義する。
次に、第2の検出条件(暗条件)で各基準サンプルを撮像すると、基準サンプルCは、輝度値が47で、S/N値の低い範囲にある(つまり、輝度値の下限値:50より低い)。一方、基準サンプルD〜Gは、それぞれ輝度値が66,100,133,182(つまり、適正範囲にある)で、非直線の近似式上にプロットされるような相関関係にある。そのため、図2に実線で示す様な非直線の近似式で、第2の検出条件の関係情報を定義する。
なお、第1の検出条件の関係情報は、一次関数に限らず、多次関数や多項式による近似式などで定義しても良いし、線形補間やルックアップテーブルとして定義しても良い。また、各検出条件での輝度値の適正範囲にある付着物量の基準サンプルは、適宜増やしても良い。また、明らかに直線関係が成り立つ品種であれば、基準サンプルを2つに減らし、第1の検出条件の関係情報を一次関数で定義しても良い。
なお、第2の検出条件の関係情報は、上述の様な非直線の近似式に限らず、区分線形補間やルックアップテーブルとして定義しても良い。また、各検出条件での輝度値の適正範囲にある付着物量の基準サンプルは、適宜増やしても良い。また、明らかに直線関係が成り立つ品種であれば、基準サンプルを2つに減らし、第2の検出条件の関係情報を一次関数で定義しても良い。
なお、第1の検出条件の関係情報における輝度値の上限値付近と、第2の検出条件の関係情報における輝度値の下限値付近で、適正範囲がオーバーラップする場合は、第1の検出条件側を適正範囲として規定して設定する。そうすることで、測定の分解能が向上するため好ましい。ただし、近似式を当てはめて使用する場合に、第1の検出条件の関係情報における輝度値の上限値付近の直線性が悪く、第2の検出条件の関係情報における輝度値の下限値付近の直線性が高い場合は、第2の検出条件側を適正範囲として規定して設定する。
このように、第1の検出条件の関係情報と輝度値の適正範囲、ならびに第2の検出条件の関係情報の輝度値の適正範囲をそれぞれ個別に設定しておくことで、第1の検出条件と第2の検出条件とで、関係情報や適正範囲が正比例的に対応する関係に無くても、第1領域付着物量と第2領域付着物量を個別に算出して、全体としての付着物量を正しく算出することができる。そうすることで、付着物量の測定の精度が向上するため好ましい。
この様にして定義した第1の検出条件の関係情報と第2の検出条件の関係情報は、記憶部5に記憶しておく。
付着物量算出部6は、
検出部3で検出した異なる検出条件の画像に基づいて、検査対象領域Rをさらに複数の領域に区分し、それぞれの領域における付着物量を算出して加えることで、検査対象領域R全体の付着物量を算出するものである。
具体的には、検査対象領域Rを、第1の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域(以下、「領域A」という)と、第1の検出条件で検出されたエネルギー強度が適正範囲にない領域に対応する領域であって、第2の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域(以下、「領域B」という)とに区分する。
そして、領域Aについては、当該エネルギー強度と当該第1の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第1領域付着物量として算出する。一方、領域Bについては、当該エネルギー強度と当該第2の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第2領域付着物量として算出する。
そして、第1領域付着物量に第2領域付着物量を加えて、検査対象領域R全体の付着物量の算出を行う。
図3は、検査対象領域Rにおける付着物の付着物量と、各検査条件で撮像した画像の輝度のイメージを示す、イメージ図である。
図3(a)は、検査対象領域Rにおける付着物の付着物量を示すイメージ図であり、検査対象領域Rを縦横それぞれ8つずつ(全部で64)に分割した場合について、それぞれの分割された領域における付着物の付着物量の多少の様子が示されている。なお、ここで示されている領域の内、「付着物なし」と示されている領域は、上述の第1の検出条件(明条件)でも、第2の検出条件(暗条件)でも、付着物量が正しく算出できず、「付着物なし」として扱う領域である。一方、「付着物量:少」と示されている領域は、上述の第1の検出条件(明条件)で付着物量が正しく算出できる領域である。一方、「付着物量:多」と示されている領域は、上述の第1の検出条件(明条件)では輝度値が飽和しており付着物量が正しく算出できないが、上述の第2の検出条件(暗条件)であれば付着物量が正しく算出できる領域である。一方、「別処理が必要」と示されている領域は、上述の第1の検出条件(明条件)、第2の検出条件(暗条件)共に、検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にない領域であり、正しい付着物量の算出ができないため、付着物量の算出とは別の処理(いわゆる、エラー処理)を行うこととする。
図3(b)は、検査対象領域Rを第1の検出条件で撮像した画像における、分割された領域毎の輝度イメージが示されている。この画像において、輝度値が下限値以下であれば、付着物が無いものとする。一方、輝度値が適正範囲にあるもの(つまり、領域A)は、当該輝度値と当該第1の検出条件に対応する関係情報に基づいて付着物量を算出する。これを、第1領域付着物量として取り扱う。一方、輝度値が上限値以上の領域については、第2の検出条件で撮像した画像に基づいて、処理を行う。
図3(c)は、検査対象領域Rを第2の検出条件で撮像した画像における、分割された領域毎の輝度イメージが示されている。この画像において、輝度値が適正範囲にあるもの(つまり、領域B)は、当該輝度値と当該第2の検出条件に対応する関係情報に基づいて付着物量を算出する。これを、第2領域付着物量として取り扱う。一方、輝度値が上限値以上の領域については、別の処理(いわゆる、エラー処理)を行う。なお、このエラー処理については、付着物量を0として結果出力しつつ、当該部位を目視で確認したり、別方式による付着物量の算出結果と組み合わせて結果出力したりする構成とすることができる。
[測定フロー]
図4は、本発明の一実施形態における付着物量の測定例を示すフロー図である。
まず、検出条件切替部4からの出力に基づいて、撮像部30で撮像する画像が、第1の検出条件(つまり、明条件)となるように設定する(ステップs101)。具体的には、照明ユニット20から照射される白色光23の強度を強くしたり、発光時間を長くしたりする。
そして、この明条件で、検査対象領域Rに向けて照明ユニット20から照明光を照射し、当該検査対象領域Rから放出される光を撮像部30にて撮像を行い、画像を取得する(ステップs102)。
次に、撮像部2で撮像する画像が、第2の検出条件(つまり、暗条件)となるように設定する(ステップs106)。具体的には、照明ユニット20から照射される照明光の強度を弱くしたり、照明光の発光時間を短くしたりする。
そして、この暗条件で、検査対象領域Rに向けて照明ユニット20から照明光を照射し、当該検査対象領域Rから放出される光を撮像部30にて撮像を行い、画像を取得する(ステップs107)。
次に、上述のステップs102(つまり、第1の検出条件:明条件)で取得した画像の処理対象部位(例えば、検査対象領域Rを縦横8×8で64分割した領域のうちの1つ)について、輝度値を取得する(ステップs111)。なお、この処理対象部位が、複数の画素で撮像されている場合は、これら複数の画素の輝度値を平均した平均輝度値を、当該処理対象部位の輝度値とする。
そして、処理対象部位の輝度値が、第1の検出条件での適正範囲の下限値より小さいかどうかを判定する(ステップs112)。
もし、処理対象部位の輝度値が、第1の検出条件での適正範囲の下限値より小さければ、当該処理対象部位には付着物量はないものし、付着物量の算出は行わない。
一方、処理対象部位の輝度値が、第1の検出条件での適正範囲の下限値以上であれば、第1の検出条件での適正範囲の上限値より小さいかどうかを判定する(ステップs113)。
そして、処理対象部位の輝度値が、第1の検出条件での適正範囲の下限値以上で、第1の検出条件での適正範囲の上限値より小さい(つまり、適正範囲)であれば、当該輝度値と第1の検出条件の関係情報に基づいて、付着物量を算出する(ステップs114)。
一方、処理対象部位の輝度値が、第1の検出条件での適正範囲の上限値以上であれば、当該処理対象部位に対応する、上述のステップs107(つまり、第2の検出条件:暗条件)で取得した画像の処理対象部位について、輝度値を取得する(ステップs116)。
そして、処理対象部位の輝度値が、第2の検出条件での適正範囲の下限値より小さいかどうかを判定する(ステップs117)。
もし、処理対象部位の輝度値が、第2の検出条件での適正範囲の下限値より小さければ、当該処理対象部位の算出は行わない。ステップs114で算出されているからである。
一方、処理対象部位の輝度値が、第2の検出条件での適正範囲の下限値以上であれば、第2の検出条件での適正範囲の上限値より小さいかどうかを判定する(ステップs118)。
そして、処理対象部位の輝度値が、第2の検出条件での適正範囲の下限値以上で、第2の検出条件での適正範囲の上限値より小さい(つまり、適正範囲)であれば、当該輝度値と第2の検出条件の関係情報に基づいて、付着物量を算出する(ステップs119)。
一方、処理対象部位の輝度値が、第2の検出条件での適正範囲の上限値以上であれば、当該処理対象部位はエラー処理とする(ステップs120)。
そして、各処理対象部位について、上述のステップs111〜s120の処理を行い、第1の検出条件での適正範囲の輝度値と第1の検出条件の関係情報に基づく第1領域付着物量、または、第2の検出条件での適正範囲の輝度値と第2の検出条件の関係情報に基づく第2領域付着物量を算出し、それらを加算することで、検査対象領域Rにおける付着物の付着物量を算出する(ステップs130)。
つまり、付着物量算出部6は、
第1の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第1の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第1領域付着物量として算出し、
第1の検出条件で検出されたエネルギー強度が適正範囲にない領域に対応する領域であって、第2の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第2の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第2領域付着物量として算出し、
第1領域付着物量に第2領域付着物量を加えて付着物量の算出を行うことができる。
この際、付着物量算出部6は、LUT(ルックアップテーブル)を用いた変換処理や、計算が簡単な一次関数や近似式などを用いて、付着物量の算出を行う構成としておく。
付着物量の測定装置1は、この様な構成をしているため、検査対象領域に付着した物質の付着物量が大きく異なる状態で混在していても、複数の検出条件に分けて撮像を行い、複数の画像の中から適正範囲にある領域の輝度値に基づいて、付着物量の算出をおこなうことで、複雑な演算処理等を行うことなく、迅速に精度の高い測定結果を得ることができる。
なお、上述では、容器Wの第1側板内面Ws1と底面Wbの一部に設定された検査対象領域Rに付着した付着物Sの付着物量を測定する構成を例示して説明を行った。同様の手順で、他の検査対象領域を設定し、第1の検出条件での撮像、第2の検出条件で撮像等を行い、当該検査対象領域に付着した付着物の付着物量を測定する。これを、容器Wの内面全体に渡って行うことで、容器Wの内面に付着した付着物の付着物量を測定することができる。
[別の形態]
上述では、検査対象領域Rを縦横それぞれ8つずつ(全部で64)に分割した場合を例示して説明を行ったが、縦横の分割数は、所望の精度と処理時間を鑑みて、適宜決定することができる。
その中でも特に、上述の付着物量算出部6は、
第1の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が当該第1の検出条件における適正範囲にあるか否か、
第2の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が当該第2の検出条件における適正範囲にあるか否か、
の判定処理について、検出部で検出された画像を構成する画素単位で行う構成とすることが好ましい。
つまり、撮像カメラ30で撮像される画像を構成する画素1つずつ(つまり、画素単位)で、輝度値が第1の検出条件における適正範囲にあるか、第2の検出条件における適正範囲にあるかを判定し、適正範囲にある方の輝度値と検出条件に基づいて、付着物量の算出を行う構成とする。
この様な構成とすることで、複数の画素を1つの処理単位として付着物量の算出を行う場合と比較して、より高精度な付着物量の算出を行うことができる。
[別の形態]
なお上述では、第1の検出条件の関係情報と、第2の検出条件の関係情報を、独立した状態で記憶部5に記憶し、第1の検出条件で撮像した画像の輝度値と、第2の検出条件で撮像した画像の輝度値に対して、いずれの適正範囲内にあるかを判断して付着物量を算出する構成を示した。
しかし、第1の検出条件の関係情報と、第2の検出条件の関係情報を、一元化された「一元化関係情報」として記憶部5に記憶し、付着物量算出部6での付着物量の算出に用いることが好ましい。
図5は、検査対象領域Rにおける付着物の付着物量と、各検査条件で撮像した画像の輝度と換算輝度のイメージを示す、イメージ図である。
図5には、付着物量を横軸に、各検出条件で撮像した画像の輝度値を縦軸にして、各基準サンプルを第1の検出条件で撮像した場合の付着物量と輝度値の相関関係、ならびに付着物量および輝度値の下限値、上限値および適正範囲が示されている。同様にして、各基準サンプルを第2の検出条件で撮像した場合の付着物量と輝度値および換算輝度値の相関関係、ならびに付着物量、輝度値および換算輝度値の下限値、上限値および適正範囲が、それぞれ示されている。また、基準サンプルA〜Gを黒丸でプロットした左横には、それぞれの基準サンプル第1および第2の検出条件で撮像した際の輝度値および/または換算輝度値が示されている。
具体的には、第1の検出条件の光量が、第2の検出条件の光量の4倍あり、第1の検出条件の関係情報における輝度値の適正範囲が50〜200で、第2の検出条件の関係情報における輝度値の適正範囲が50〜200である場合、第2の検出条件で撮像された画像の実際の輝度値の4倍の値を、第1の検出条件で撮像された画像の輝度に相当する換算輝度値とする。つまり、第2の検出条件の関係情報における輝度値の適正範囲50〜200を、第1の検出条件で撮像された画像の輝度に相当する換算輝度値200〜800として扱う。なお、本発明を適用する上で、エネルギー強度の一類型として輝度値を用いる場合、それに対応するように換算エネルギー強度は、「換算輝度値」と呼ぶ。つまり、換算輝度値は、本発明に係る換算エネルギー強度の一類型である。
より具体的には、第2の検出条件の関係情報における輝度値が適正範囲にある基準サンプルD〜Gの輝度値が66,100,133,182なので、それぞれの数値が4倍されて、換算輝度値が264,400,532,728として扱われる。一方、第1の検出条件の関係情報における輝度値が適正範囲にある基準サンプルA〜Cについては、そのままの輝度値:70,130,180で取り扱われる。
そして、予め準備した付着物量が既知の品種の基準サンプルA〜Gに対して、適正範囲にある輝度値または換算輝度値との紐付けをして、一元化された「一元化関係情報」として記憶部5に記憶しておく。
なお、上述では、一元化関連情報が一直線(つまり、一次式で定義が可能)として説明を行っているが、実際には一次関数による近似ができない場合がある。その様な場合は、多次関数やその他の近似式にて、一元化関連情報を定義しても良い。或いは、一元化関連情報は、ルックアップテーブルや線形補間などにて定義しても良い。
このとき、第1の検出条件と第2の検出条件とで、関係情報や適正範囲が正比例的に対応する関係に無くても、第1領域付着物量と第2領域付着物量を個別に正しく算出して、全体としての付着物量を正しく算出することができる。具体的には、従来技術(例えば、特許文献3)の手法を用いた場合であれば、輝度比の計算で誤差が生じていた(例えば、基準サンプルCでの輝度比Pを計算すると、180÷47=約3.8となってしまい、本来設定すべき換算のための輝度比4と異なる)が、本発明を適用すればこの様な誤差も生じない。さらに、第1及び第2の検出条件の相関関係が各々保たれた状態で一元化関連情報として定義されているため、複数の検出条件があったとしても関係情報の取り扱いは1つのみで良く、付着物量の算出を迅速に行うことができるので、好ましい。
[バリエーション]
上述の付着物量の測定装置1は、上記構成に加え、他品種関係情報生成部7をさらに加えた構成としても良い。
図6は、本発明を具現化する別の形態の一例の全体を示す概略図であり、本発明に係る付着物量の測定装置1Bの概略を示すものである。
付着物量の測定装置1Bは、図1を用いて上述した付着物量の測定装置1の変形例である。本発明に係る付着物量の測定装置1Bは、光源2と、検出部3と、検出条件切替部4と、記憶部5と、付着物量算出部6と、他品種関係情報生成部7を備えて構成されている。なお、付着物量の測定装置1Bは、付着物量の測定装置1と同様に制御処理部CNを備え、制御処理部CNの一部として検出条件切替部4、記憶部5、付着物量算出部6ならびに、他品種関係情報生成部7が備えられている。
他品種関係情報生成部7は、先に登録されている付着物についての前記関係情報と、これから登録しようとする付着物の付着物量と、当該付着物量に対するエネルギー強度の代表値に基づいて、当該これから登録しようとする付着物に対する前記関係情報を生成するものである。
図7は、本発明を具現化する別の形態の一例における他品種関係情報の算出イメージを示す、イメージ図である。
記憶部5には、既存の付着物(例えば、品種P,Q)について、それぞれ一元化関連情報が登録されている。
他品種関係情報生成部7では、既存の品種Pまたは品種Qの一元化関連情報における付着物量と輝度値または換算輝度との相関関係を参考にして、既存の品種とは異なる他の品種(つまり、新品種)の一元化関連情報を算出する。
具体的には、これから関係情報を登録しようとする新品種の基準サンプルXの付着物量と、基準サンプルXを撮像した画像の換算輝度値が近い、品種Pの一元化関係情報に基づいて、新品種の一元化関係情報を算出する。このとき、基準サンプルXの付着物量と同等の付着物量が、品種Pの一元化関係情報においてどれくらいの換算輝度値となるかを算出する。そして、この値と、基準サンプルXを撮像した画像の換算輝度値と比率を算出する。そして、この比率を、品種Pの一元化関係情報にあてはめ、新品種の一元化関係情報の算出(つまり、生成)を行う。この比率を用いた新品種の関係情報生成は、既存の品種の一元化関連情報が、一次式や多次関数のほか、ルックアップテーブルなどであっても適用できる。
この様にすることで、新たな測定対象となる新品種の関係情報に必要な、単位面積あたりの付着物の質量と検出部で検出されるエネルギー強度との相関関係を求め直す手間が省ける。また、既存の一元化関係情報に含まれる付着物量と輝度値(エネルギー強度の一類型)の相関関係を流用して、新品種での輝度値の代表値を測定すれば、新品種用の一元化関係情報が容易に生成できる。
[検出条件切替部のバリエーション]
上述では、白色光23の光量の切り替えにより、検出条件を切り替える構成を例示したが、これに限らず、撮像カメラ30の検出感度など(つまり、他の検出条件)のいずれか、又は複数の検出条件を切り替える構成であっても良い。また、これら検出条件の切り替えは、制御処理部CNにより行う構成であっても良いが、手作業により切り替えを行っても良い。なお、検出条件を手動で切り替える場合、どの検出条件に設定したかを、制御処理部CNに通知したり、把握したりできる構成としておく。
[光源のバリエーション]
上述では、光エネルギーの一類型として、白色光23を例示して詳細な説明をした。しかし、検出部3として一般的な撮像カメラ30(つまり、可視光領域に受光感度があるもの)を用いる場合、白色光23に代えて、赤色、黄色、緑色、青色など、可視光領域内の特定範囲の波長成分の光であっても良い。
また、光源2の一類型として、LEDモジュールを備えた照明ユニット20を例示したが、LEDに限らず、他の光源を用いても良い。例えば、他の光源として、レーザダイオードやレーザ光源、蛍光灯や、白熱電球、ハロゲン照明、メタルハライド照明、水銀灯照明などを用いても良い。また、これらの光源に、特定の波長帯域の光を通過させつつ他の波長帯域の光を減衰させるフィルタなどを組み合わせて用いても良い。
なお上述では、光エネルギーとして付着物を検出するための照明光を例示し、放出エネルギーとして付着物から放出された光を例示し、エネルギー強度として撮像カメラ30で撮像された画像における輝度値を例示して、付着物量の測定について説明した。
この様な構成とすることで、安価で入手可能な光源、撮像カメラ、画像処理装置などを用いて、付着物量の測定装置を構成できるため好ましい。
[別の形態]
なお上述では、光源2から照射される光エネルギーと同じ性質のエネルギーが、付着物の表面で反射または散乱する形態を示した。しかし、本発明の具現化においては、上述の形態に限らず、下述のような形態であっても良い。
例えば、付着物が蛍光発光特性示す物質の場合、光エネルギーと放出エネルギーが、異なる波長帯域の光である構成とする。具体的には、付着物が励起光を吸収することで、当該付着物の表面または内部でエネルギー変換され、当該励起光とは異なる波長成分の光(例えば、可視光や近赤外光)を発する特性(つまり、蛍光発光特性)を備えたものであれば、光エネルギーとして付着物を蛍光発光させるための励起光を用い、放出エネルギーとして付着物が蛍光発光した波長成分の光を用いる。
より具体的には、光源2として、上述の照明ユニット20に代えて、励起光照射ユニットを備えた構成とする。一方、検出部3として、上述の撮像カメラ30に代えて、蛍光撮像カメラを備えた構成とする。
励起光照射ユニットは、検査対象領域に向けて紫外線を照射するものであり、UV−LED照明、紫外レーザ、水銀灯照明やメタルハライド照明とUV透過フィルタを組み合わせたもの等で構成する。一方、蛍光撮像カメラは、付着物が蛍光発光した波長成分の光を撮像するものであり、上述の撮像カメラ30の構成に蛍光観察フィルタを組み合わせたもの等で構成する。蛍光観察フィルタは、励起光成分を減衰させ、蛍光発光の波長成分を通過させるものである。
この様な構成とすることで、付着物が付着している検査対象領域が反射率の高い部材で構成されていたとしても、付着物から放出される光の波長成分(つまり、検出対象成分)と、付着物の無い検査対象領域から放出される反射光や散乱光の波長成分(つまり、ノイズ成分)とが異なるため、低ノイズ(つまり、高コントラスト)の画像を取得して、付着物量の測定を高精度に行うことができるため、好ましい。また、一般的に入手可能な光源、撮像カメラ、画像処理装置などを用いて、付着物量の測定装置を構成できるため好ましい。
また、付着物が、光源から照射された光エネルギーを吸収し、付着物の表面または内部でエネルギー変換されて、当該光エネルギーとは異なる性質の放出エネルギーを放出する特性を備えたものであれば、本発明に係る付着物量の測定装置は、当該放出エネルギーを検出部3で検出する構成とする。
この場合、検出部3は、上述の撮像カメラ30等に代えて、サーモパイル、熱電対アレイ、焦電素子、ボロメータ、半導体素子などの赤外線検出器により熱エネルギーを検出し、電気信号として出力する構成としても良い。
そうすることで、可視光や蛍光発光成分の光を撮像するだけでは付着物量の違いに対応した輝度値の変化が把握しづらい(つまり、正しい付着物量の測定が出来ない)付着物であっても、付着物量の違いに対応した熱エネルギー(光エネルギーとは異なる性質の、放出エネルギーの一類型)のエネルギー強度を検出することで、付着物量の測定ができるので、好ましい。
なお、上述した各形態において、各検出条件の関係情報は、実際に用いる光エネルギーや放出エネルギーに対応させて、予め基準サンプルを用いて定義しておくことは言うまでもない。
[検出条件のバリエーション(3段階以上)]
また、上述では説明の便宜上、本願発明を具現化しうる最小限の2段階(つまり、低濃度用、高濃度用)の検出条件を例示して説明をしたが、3段階(つまり、低濃度用、中濃度用、高濃度用)の検出条件を設定して、それぞれの検出条件の関係情報を定義し、これら関係情報を記憶部5に記憶する構成であっても良い。この場合、上述と同様に付着物量の基準となる基準サンプルを用いて、付着物量と各検出条件で撮像した画像の輝度値または換算輝度値との相関関係を紐付ける。そして、それぞれの検出条件での撮像(つまり、画像取得)ならびに付着物量の算出を行う。そうすることで、広範囲の粒径、密度または濃度の付着物に対して、付着物量の測定が可能となる。また、中濃度の付着物量に対して、2段階の検出条件を用いる形態では高濃度用の検出条件の関係情報を用いて測定していたものが、中濃度用の検出条件の関係情報を用いることで付着物量に対する輝度値の分解能が向上し、高精度な測定が可能となるので好ましい。
或いは、本願発明を具現化する上で、4段階またはそれ以上の検出条件の関係情報を定義し、それぞれの検出条件での撮像(つまり、画像取得)ならびに付着物量の算出を行っても良い。
また、本願発明を具現化しうる最小限の2段階(つまり、低濃度用、高濃度用)に、より高濃度側を加えて3段階以上の検出条件を設定した構成としても良い。
1 付着物量の測定装置
2 光源
3 検出部
4 検出条件切替部
5 記憶部
6 付着物量算出部
7 他品種関係情報生成部
20 照明ユニット
21 LED照明
23 白色光
30 撮像部
31 レンズ
33 撮像カメラ
35 付着物から放出された光
A〜G 基準サンプル(ある品種用)
X 基準サンプル(新品種用)

Claims (7)

  1. 検査対象領域に付着した付着物の付着物量を測定する装置であって、
    前記検査対象領域に向けて光エネルギーを照射する光源と、
    前記検査対象領域に付着した付着物から放出する放出エネルギーを検出する検出部と、
    前記光源から照射する前記光エネルギーの量および前記検出部で検出する前記放出エネルギーの検出感度のうち少なくとも一方に関する検出条件を切り替える検出条件切替部と、
    単位面積あたりの前記付着物の質量とエネルギー強度との相関関係が関連付けられた関係情報が、前記検出条件毎に記憶された記憶部と、
    前記検出部で検出した異なる検出条件の前記放出エネルギーの検出結果に基づいて、
    第1の検出条件で検出された前記放出エネルギーの検出結果におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第1の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第1領域付着物量として算出し、
    前記第1の検出条件で検出されたエネルギー強度が適正範囲にない領域に対応する領域であって、第2の検出条件で検出された前記放出エネルギーの検出結果におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と当該第2の検出条件に対応する関係情報に基づく付着物量を、第2領域付着物量として算出し、
    前記第1領域付着物量に前記第2領域付着物量を加えて前記付着物量の算出を行う、付着物量算出部を備えた
    ことを特徴とする、付着物量の測定装置。
  2. 前記付着物量算出部は、
    前記第1の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が当該第1の検出条件における適正範囲にあるか否か、
    前記第2の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が当該第2の検出条件における適正範囲にあるか否か、
    の判定処理について、前記検出部で検出された画像を構成する画素単位で行う
    ことを特徴とする、請求項1に記載の付着物量の測定装置。
  3. 前記検出条件毎に記憶されている複数の関係情報は、前記第1の検出条件の関係情報におけるエネルギー強度を基準として、前記第2の検出条件の関係情報におけるエネルギー強度が当該第1の検出条件の関係情報におけるエネルギー強度に相当する換算エネルギー強度に換算されて、互いに補完し合うように一元化された一元化関連情報として記憶されており、
    前記付着物量算出部では、
    前記検出部で検出された検出条件の異なる画像に基づいて、
    前記第1の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該エネルギー強度と前記一元化関連情報に基づく付着物量を、第1領域付着物量として算出し、
    前記第1の検出条件で検出されたエネルギー強度が適正範囲にない領域に対応する領域であって、前記第2の検出条件で検出された画像におけるエネルギー強度が適正範囲にある領域については、当該第2の検出条件におけるエネルギー強度を前記第1の検出条件におけるエネルギー強度に換算した換算エネルギー強度と前記一元化関連情報に基づく付着物量を、第2領域付着物量として算出し、
    前記第1領域付着物量に前記第2領域付着物量を加えて前記付着物量の算出を行う
    ことを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載の付着物量の測定装置。
  4. 前記記憶部には、前記関係情報が前記付着物の品種毎に記憶されており、
    先に登録されている付着物についての前記関係情報と、これから登録しようとする付着物の付着物量と、当該付着物量に対するエネルギー強度の代表値に基づいて、当該これから登録しようとする付着物に対する前記関係情報を生成する、他品種関係情報生成部をさらに備えた
    ことを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の付着物量の測定装置。
  5. 前記光エネルギーは、前記付着物を検出するための照明光であり、
    前記放出エネルギーは、前付着物から放出された光であり、
    前記エネルギー強度は、前記検出部で検出された画像における輝度値である
    ことを特徴とする、請求項1〜4に記載の付着物量の測定装置。
  6. 前記放出エネルギーは、前記光源から照射された光エネルギーが前記付着物に吸収されてエネルギー変換されて放出されたものである
    ことを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の付着物量の測定装置。
  7. 前記光エネルギーは、前記付着物を蛍光発光させるための励起光であり、
    前記放出エネルギーは、前記付着物が蛍光発光した波長成分の光である
    ことを特徴とする、請求項6に記載の付着物量の測定装置。
JP2016066216A 2016-03-29 2016-03-29 付着物量の測定装置 Pending JP2017181190A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016066216A JP2017181190A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 付着物量の測定装置
PCT/JP2017/000002 WO2017168909A1 (ja) 2016-03-29 2017-01-04 付着物量の測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016066216A JP2017181190A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 付着物量の測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017181190A true JP2017181190A (ja) 2017-10-05

Family

ID=59962934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016066216A Pending JP2017181190A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 付着物量の測定装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2017181190A (ja)
WO (1) WO2017168909A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115792878B (zh) * 2023-02-08 2023-06-02 北京市农林科学院智能装备技术研究中心 雾滴沉积量测量方法、装置及系统

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6361146A (ja) * 1986-09-01 1988-03-17 Nippon Steel Corp 防錆油の付着量測定方法及び装置
JPS6489770A (en) * 1987-09-30 1989-04-04 Fuji Photo Film Co Ltd Electronic still camera
JP2803443B2 (ja) * 1992-02-24 1998-09-24 日本電気株式会社 表面検査方法およびその装置
JPH0720066A (ja) * 1993-06-30 1995-01-24 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス繊維マットのバインダー付着量測定方法
JP3353456B2 (ja) * 1994-05-30 2002-12-03 住友金属工業株式会社 下地処理のオンライン管理方法
JPH1167704A (ja) * 1997-08-20 1999-03-09 Sony Corp 半導体ウェハの洗浄装置
JP2001292370A (ja) * 2000-04-05 2001-10-19 Furoobell:Kk 画像処理装置および方法、並びに記録媒体
JP4517479B2 (ja) * 2000-09-04 2010-08-04 富士ゼロックス株式会社 画像形成装置、トナー量測定装置、およびトナー量測定方法
JP2004020263A (ja) * 2002-06-13 2004-01-22 Minolta Co Ltd 光輝感評価装置及び光輝感評価方法
JP2009236791A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP6408354B2 (ja) * 2014-11-19 2018-10-17 東レエンジニアリング株式会社 検査装置及び生産管理方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017168909A1 (ja) 2017-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108027328B (zh) 宝石的颜色测量
TW201305552A (zh) 使用光致發光成像檢驗發光半導體裝置之方法及設備
JP6483940B2 (ja) エフェクト顔料によるコーティングを調査するための装置機構及び方法
JP5124705B1 (ja) はんだ高さ検出方法およびはんだ高さ検出装置
JP2020016577A (ja) 光学系異常を検出する測距装置
US20200408916A1 (en) Distance measurement device having external light illuminance measurement function and external light illuminance measurement method
WO2002039076A1 (fr) Procede de correction de sortie de capteur
JP2005070025A (ja) 光源テストシステム及び光源のテスト方法
JP2009025189A (ja) 計測器
JP2007139676A (ja) 基板の検査装置及び検査方法
WO2017168909A1 (ja) 付着物量の測定装置
US8705698B2 (en) X-ray analyzer and mapping method for an X-ray analysis
JP5349257B2 (ja) 視認状況測定装置
JP2791265B2 (ja) 周期性パターン検査装置
JP7051260B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測方法
JP3339221B2 (ja) 面方向検出装置
JP2015210226A (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
JP2007024604A (ja) 蛍光測定装置及び蛍光測定方法
JP7282307B2 (ja) 応力発光データ処理装置、応力発光データ処理方法、応力発光測定装置および応力発光試験システム
JP2007033391A (ja) フラットパネルディスプレイ検査装置、フラットパネルディスプレイ検査方法、および、フラットパネルディスプレイ検査プログラム
JP2525893B2 (ja) 螢光特性検査装置
JPH08320253A (ja) 全光束測定装置
JP7074400B2 (ja) 光学測定装置
JP5135899B2 (ja) 周期性パターンのムラ検査方法及びムラ検査装置
JP5647504B2 (ja) 画像処理装置、検査装置、測定装置、画像処理方法、測定方法