JP2007033391A - フラットパネルディスプレイ検査装置、フラットパネルディスプレイ検査方法、および、フラットパネルディスプレイ検査プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】汎用的な撮像機器を利用してもフラットパネルディスプレイの検査ができるようにすることを課題とする。
【解決手段】配列情報のパラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆに基づいて、発光画素４１，４１，４１・・・の写像を構成する有効撮像画素数Ｇを算出する。そして、有効撮像画素数Ｇと同数の有効撮像画素を色信号値の上位から特定する。これにより、ＯＬＥＤパネル４０における発光画素４１，４１，４１・・・の物理的配列から見て妥当な数の撮像画素を有効撮像画素として特定することができる。従って、実際の発光画素４１，４１，４１・・・間に隙間があれば、画像データにおいても有効撮像画素で構成される発光画素４１，４１，４１・・・の写像の間に、無効撮像画素による隙間を形成することができる。
【選択図】図５

Description

本発明は、フラットパネルディスプレイ検査装置、フラットパネルディスプレイ検査方法、および、フラットパネルディスプレイ検査プログラムに関する。

従来、この種のフラットパネルディスプレイ検査装置として、多数の発光画素が表示面上に配列したフラットパネルディスプレイを撮像し、得られた画像データを２値化することにより、画像データにおいて発光画素の写像を特定するものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
? かかる構成によれば、画像データを２値化することにより、画像データにおいて各発光画素の写像とその隙間とを区別することができる。従って、画像データにおいて各発光画素の写像を個々に特定することができ、各写像の大きさ、位置等を解析することが可能であった。
特開２００４−１７２１２７号公報

フラットパネルディスプレイを汎用的なスキャナ等を用いて撮像した場合、フラットパネルディスプレイから光センサまでの光学経路や焦点距離によって発光画素の写像がぼやけて撮像される場合がある。この場合、本来、発光画素の隙間が撮像された画素であっても、発光画素が投影された画素であると誤判定され、各発光画素を個々に評価することができなくなるという問題があった。むろん、フラットパネルディスプレイを撮像するための専用の撮像機器を適用することにより、上記問題を解決することも可能であるが、コストや手間が問題となる。また、フラットパネルディスプレイ上の発光画素の配列密度に比べて、撮像機器の解像度が十分でない場合には、光の拡散がなくても、発光画素の隙間が２値化によって十分に検出できないという問題もあった。
? 本発明は、上記課題にかんがみてなされたもので、汎用的な撮像機器を利用しても検査を行うことが可能なフラットパネルディスプレイ検査装置、フラットパネルディスプレイ検査方法、および、フラットパネルディスプレイ検査プログラムの提供を目的とする。

課題を解決するための手段および効果

上記目的を達成するために、請求項１にかかる発明では、フラットパネルディスプレイの各発光画素を発光させ、その表示面を撮像手段が撮像する。上記撮像手段は、撮像結果から複数の撮像画素からなる画像データを生成する。画素属性特定手段は、上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報を取得する。上記発光画素の配列情報は、上記フラットパネルディスプレイの仕様から予め得ることができるし、実験的な上記フラットパネルディスプレイの撮像によっても予め得ることができる。

そして、得られた上記配列情報と各撮像画素の色信号値に基づいて、上記画像データにおいて上記発光画素が撮像された有効撮像画素と、上記発光画素の隙間が撮像された無効撮像画素を特定する。すなわち、上記配列情報が得られているため、上記画像データにおいてどれだけの有効撮像画素がどのように配列しているかを予想することができる。従って、上記撮像画素の色信号値とあわせて上記配列情報に基づいて、より正確に上記有効撮像画素と上記無効撮像画素を特定することができる。さらに、不具合検出手段は、上記画像データにおける上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の配列に基づいて上記発光画素の不具合を検出する。すなわち、上記無効撮像画素数によって、上記画像データにおける上記発光画素の写像間の隙間を形成することができる。各発光画素の写像間の隙間が形成されれば、各写像を独立して評価し、その評価結果を各発光画素と対応づけることができる。

さらに、上記撮像画素の色信号値とあわせて上記配列情報に基づいて、上記有効撮像画素と上記無効撮像画素を特定する手法の具体的な一例として請求項２にかかる発明では、所定の閾値と各撮像画素の上記色信号値を比較することにより上記有効撮像画素と上記無効撮像画素と特定する。そして、上記閾値は、閾値設定手段が上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報に基づいて設定する。すなわち、上記配列情報に基づいて上記閾値を設定することにより、上記有効撮像画素と上記無効撮像画素との特定結果に上記配列情報を反映させることができる。上記配列情報に適合した上記閾値が設定できるため、画一的な閾値によって特定を行う場合よりも、正確に上記有効撮像画素と上記無効撮像画素との特定を行うことができる。

さらに、上記配列情報に基づいて上記閾値を設定する具体的な手法として、請求項３にかかる発明では、発光画素サイズ取得手段が上記画像データにおいて単一の上記発光画素が投影された写像が占める上記撮像画素数を発光画素サイズとして取得する。上記撮像手段が撮像する際の解像度と上記発光画素の大きさに基づいて、上記画像データにおける上記発光画素サイズを推定してもよいが、実際に単一の上記発光画素を撮像したものが画像データにおいてどれだけの大きさとなっているかを予め調査することにより上記発光画素サイズを取得してもよい。一方、発光画素数取得手段は上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の総数を取得する。

上記発光画素の総数は上記フラットパネルディスプレイの仕様から得ることができる。むろん、縦方向および横方向の上記発光画素数を乗算することにより、上記発光画素の総数を算出するものであってもよい。さらに、推定有効撮像画素数取得手段は、上記発光画素の総数に上記発光画素サイズを乗算することにより推定有効撮像画素数を算出する。すなわち、上記画像データを構成する撮像画素のうち何画素が上記発光画素の写像を構成するかを推定有効撮像画素数として推定する。すなわち、上記配列情報に基づいて上記推定有効撮像画素数を算出する。

上記画像データを構成する各撮像画素の上記色信号値についての分布を把握し、この分布において上記色信号値が上位から上記推定有効撮像画素数番目となる上記撮像画素を特定する。そして、同特定した上記撮像画素の色信号値を上記閾値として設定する。これにより、上記推定有効撮像画素数と同じ画素数だけ上記有効撮像画素であると特定することができる。すなわち、上記配列情報からみて妥当であると推定される画素数の上記有効撮像画素が特定できるように上記閾値を設定することができ、上記発光画素の写像がぼやけた場合でも、不当に多い数の上記撮像画素が上記有効撮像画素として特定されることはない。

さらに、上記閾値の好適な一例として、請求項４にかかる発明では、上記画像データにおいて隣接する上記写像の隙間の上記撮像画素数を取得し、この撮像画素数が所定値よりも小さい場合には上記発光画素サイズを下方修正する。すなわち、上記画像データにおいて隣接する上記写像の隙間が形成されないほど拡散が著しいか撮像の解像度が低い場合には、上記発光画素サイズを下方修正することにより上記推定有効撮像画素数も下方修正する。これにより、上記有効撮像画素として特定される上記撮像画素数が少なくなるように上記閾値が修正されるため、相対的に上記無効撮像画素数を増加させることができる。従って、増加した上記無効撮像画素数によって、上記画像データにおける上記発光画素の写像間の隙間を強制的に形成させることができる。各発光画素の写像間の隙間が形成されれば、各写像を独立して評価し、その評価結果を各発光画素と対応づけることができる。

一方、上記有効撮像画素と上記無効撮像画素との特定が完了した後に行う処理の具体的な一例として、請求項５にかかる発明では、中心位置算出手段は上記画像データにおいて上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の境界を検出する。そして、同境界によって閉じられた領域を上記発光画素が投影された上記写像として検出する。そして、同境界で囲まれた領域の中心を当該写像の中心位置として検出する。さらに、対応関係特定手段は、上記画像データにおける上記写像の上記中心位置の配列と、上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の上記配列情報とを比較することにより同写像と同発光画素との対応関係を特定する。すなわち、どの位置の上記写像が、上記フラットパネルディスプレイにおけるどの上記発光画素に対応するかをマッピングする。不具合発光画素特定手段は、上記写像を評価することにより不具合のある同写像を特定する。そして、上記対応関係に基づいて、不具合であると判定した上記写像が対応する上記発光画素を特定する。これにより、上記フラットパネルディスプレイにおけるどの上記発光画素に不具合が生じているかを特定することができる。

また、各写像を順に検出していく手法の一例として、請求項６にかかる発明では、上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の上記配列情報に基づいて、上記画像データにおいて隣接する上記写像の配列周期を推定する。そして、上記中心位置から上記配列周期だけずれた位置にて隣接する上記写像が存在するとして、同位置にて隣接する上記写像の検出を行う。かかる処理を繰り返して行うことにより、順に上記写像を検出していくことができる。上記フラットパネルディスプレイが傾いて撮像されていたとしても、その傾きによって生じる隣接写像間の位置ずれは小さいため、順次、隣接する上記写像を検出していくことができる。

各写像を順に検出していく手法のより好適な一例として、請求項７にかかる発明では、上記中心位置から上記配列周期のＮ（Ｎは整数）周期分ずれた位置にて隣接する上記写像が検出できない場合には、もう一周期ずれた位置には次の上記写像が存在すると推定する。そして、上記配列周期の（Ｎ＋１）周期分ずれた位置にて隣接する上記写像を検出する。これにより、一部の上記発光画素が発光しておらず、上記写像が欠損していても、順次、上記写像を検出していくことができる。

さらに、各写像を順に検出していく手法のより好適な一例として、請求項８にかかる発明では、上記画像データにおいて隣接する上記写像の上記中心位置間の距離を算出する。そして、この距離と上記配列周期とを比較し、同距離が同配列周期と大きく異なるとき、他の上記中心位置から同配列周期だけずれた位置にて隣接する上記写像を検出する。すなわち、上記距離が上記配列周期と大きく異なるとき当該中心位置は周期的でないと推定できるため、他の周期的な上記中心位置を基準として隣接する上記写像を検出する方が好ましい。

さらに、本発明にて検出する各発光画素の不具合の一例として、請求項９にかかる発明では、上記写像に属する上記撮像画素の最高色信号値を検出し、この値が所定の判定値よりも小さいときに当該写像に対応する上記発光画素が暗点であると判定する。すなわち、上記境界によって閉じられた領域に属する上記撮像画素の最高色信号値に基づいて、当該写像に対応する上記発光画素が意図する輝度を有していないと判定する。

また、上記判定値の好適な一例として、請求項１０にかかる発明では、上記判定値が上記有効撮像画素の平均的な色信号値に基づいて設定される。すなわち、上記有効撮像画素として特定された上記撮像画素の平均的な色信号値を基準として、暗点の判定が行われる。相対的な基準で判定を行うことができるため、判定結果を撮像条件に影響されにくくすることができる。

また、上記撮像手段の好適な一例として、請求項１１にかかる発明では、上記フラットパネルディスプレイが載置可能なフラットベットスキャナによって同フラットパネルディスプレイの撮像が行われる。汎用的なフラットベットスキャナによって検査を行うことができるため、コストを抑えることができる。

むろん、以上の発明は、装置のみならず、請求項１２のようなフラットパネルディスプレイ検査方法によって実現することも可能であるし、請求項１３のように上記方法に従った処理を実行するフラットパネルディスプレイ検査プログラムによって実現することも可能である。さた、本発明にかかる装置、方法、プログラムは単独で実施される場合もあるし、ある機器に組み込まれた状態で他の装置、方法、プログラムとともに実施されることもあるなど、発明の思想としてはこれに限らず、各種の態様を含むものであり、適宜、変更可能である。

さらに、本発明のプログラムを記録した記録媒体として提供することも可能である。このプログラムの記録媒体は、磁気記録媒体であってもよいし光磁気記録媒体であってもよいし、今後開発されるいかなる記録媒体においても全く同様に考えることができる。また、一次複製品、二次複製品などの複製段階については全く問う余地無く同等である。さらに、一部がソフトウェアであって、一部がハードウェアで実現されている場合においても発明の思想において全く異なるものではなく、一部を記録媒体上に記憶しておいて必要に応じて適宜読み込まれるような形態のものとしてあってもよい。また、必ずしも全部の機能を単独のプログラムで実現するのではなく、複数のプログラムにて実現させるようなものであっても良い。この場合、各機能を複数のコンピュータに実現させるものであればよい。

（１）フラットパネルディスプレイ検査装置の構成：
（２）検査処理の流れ：
２−１）画素属性特定処理：
２−２）対応関係特定処理：
（３）まとめ：

（１）フラットパネルディスプレイ検査装置の構成：
図１は、本発明の一実施形態にかかるフラットパネルディスプレイ検査装置の構成を示している。同図において、フラットパネルディスプレイ検査装置１はコンピュータ１０とスキャナ２０によって構成されている。なお、フラットパネルディスプレイ検査においては、塵やゴミがノイズ要因となるため、クリーンルーム内で行うことが望ましい。コンピュータ１０は、内部にＣＰＵ１１とＲＡＭ１２とＲＯＭ１３とハードディスク（ＨＤＤ）１４を備えており、これらはバス１０ａによって接続されている。また、バス１０ａにはビデオインターフェイス（Ｉ／Ｆ）１５とＵＳＢインターフェイス（Ｉ／Ｆ）１６が接続されており、それぞれディスプレイ３０とスキャナ２０を動作させることが可能となっている。なお、本実施形態において検査対象となるフラットパネルディスプレイはＯＬＥＤ（Organic Light-Emitting Diode）パネルとされている。

図２は、ＯＬＥＤパネルの基本構造を模式的に示している。同図において、ＯＬＥＤパネル４０は、フラットに形成された表示面４０ａの内側に多数の発光画素４１，４１，４１・・・をドットマトリクス状に配列させている。発光画素４１，４１，４１・・・には、それぞれ３組の白色ＯＬＥＤ４２ｒ，４２ｇ，４２ｂが備えられている。白色ＯＬＥＤ４２ｒの発光方向側には赤色の波長のみを透過させるカラーフィルター４３ｒが設けられている。同様に、白色ＯＬＥＤ４２ｇの発光方向側には緑色の波長のみを透過させるカラーフィルター４３ｇが設けられており、白色ＯＬＥＤ４２ｂの発光方向側には青色の波長のみを透過させるカラーフィルター４３ｂが設けられている。

そして、白色ＯＬＥＤ４２ｒ，４２ｇ，４２ｂに印加する電流を個別に制御することにより、ＲＧＢ各色の混色比率を任意に制御することができ、各発光画素４１，４１，４１・・・が任意の色にて発光することが可能となる。さらに、任意の色に発光する発光画素４１，４１，４１・・・を多数組み合わせることにより、表示面４０ａにて任意の画像を再現することができる。発光画素４１，４１，４１・・・が単位面積当たりに多く形成されるほど、ＯＬＥＤパネル４０の解像度が高くなり、精細な画像を再現することが可能となる。

図３は、本発明の撮像手段に相当するスキャナ２０の外観を示している。同図において、スキャナ２０は上面にフラットなガラス面によって構成される原稿台２１を有しており、同原稿台２１に面状の被写体Ａを載置して、画像データの取り込みを行う。画像データの取り込みを行うにあたっては、原稿台２１の内側に備えられたラインセンサ２２を走査することにより、原稿台２１全体の撮像を行う。ラインセンサ２２には多数のフォトダイオードが線状に配列されており、各フォトダイオードにてＲＧＢ各チャンネルの入射光量に応じたデジタル信号を生じさせる。そして、ラインセンサ２２の走査位置、および、各フォトダイオードの配列に基づいて上記デジタル信号を配置することにより、２次元の画像データを生成することが可能となっている。スキャナ２０が生成可能な画像データの最大解像度は、フォトダイオードの配列周期とラインセンサ２２の走査速度に依存し、実際に取り込む際の解像度は１００〜４８００ｐｐｉの間で任意に設定することができる。スキャナ２０にて生成した画像データはＵＳＢＩ／Ｆ１６を介して、コンピュータ１０に出力することができる。

図４は、コンピュータ１０にて実行されるフラットパネルディスプレイ検査プログラムのソフトウェア構成を示している。同図において、ＨＤＤ１４に記憶されたプログラムデータ１４ａをＣＰＵ１１が読み出すことにより、フラットパネルディスプレイ検査プログラムＰが実行されており、適宜、ＲＡＭ１２がワークエリアとして使用されている。フラットパネルディスプレイ検査プログラムＰは、メインモジュールとしての画像データ取得部Ｐ１と画素属性特定部Ｐ２と不具合検出部Ｐ３とユーザーインターフェイス（ＵＩ）部Ｐ４から構成されている。さらに、画素属性特定部Ｐ２は、サブモジュールとしての発光画素サイズ取得部Ｐ２ａと発光画素数取得部Ｐ２ｂと推定有効撮像画素数取得部Ｐ２ｃと閾値設定部Ｐ２ｄから構成されている。一方、不具合検出部Ｐ３は、サブモジュールとしての中心位置算出部Ｐ３ａと対応関係特定部Ｐ３ｂと不具合発光画素特定部Ｐ３ｃとから構成されている。各モジュールの機能については、後述する検査処理の流れにおいて詳細に説明する。

（２）検査処理の流れ：
２−１）画素属性特定処理：
図５は、画素属性特定処理の流れを示している。ステップＳ１００においては、ＵＩ部Ｐ４が配列情報入力画面をディスプレイ３０に表示させる。配列情報入力画面においては下記の項目について使用者が本発明の配列情報としてのパラメータを指定することが可能となっている。
・画像データ上における発光画素４１の写像の大きさ（発光画素サイズ）
・・・縦Ａ×横Ｂ［pixel］
・ＯＬＥＤパネル４０上の発光画素数・・・縦Ｃ×横Ｄ［個］
・画像データ上における発光画素４１の隙間の幅・・・縦Ｅ×横Ｆ［pixel］
パラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆは、スキャナ２０にて検査を行うときと同一の条件（解像度）でＯＬＥＤパネル４０を予め撮像しておき、その画像データを人為的に解析することにより得られる。パラメータＣ、Ｄについては、ＯＬＥＤパネル４０の仕様から得ることができる。

図６は、上述したパラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆを模式的に説明する図である。同図において、ＯＬＥＤパネル４０における発光画素４１，４１，４１・・・と、同発光画素４１，４１，４１・・・をスキャナ２０にて撮像したときの画像データを対比して示している。上述したとおりＯＬＥＤパネル４０の解像度よりもスキャナ２０が生成する画像データの解像度の方が高いため、発光画素４１，４１，４１・・・の写像は複数の撮像画素によって構成されることとなる。なお、スキャナ２０が生成する画像データを構成する画素のことを撮像画素というものとする。各撮像画素は各フォトダイオードにおける入射光量から得られたＲＧＢ各チャンネルの色信号値の階調を有している。なお、色信号値は入射光量に比例しており、各発光画素４１，４１，４１・・・の輝度と考えてよい。

なお、撮像したときの解像度に基づいて、ＯＬＥＤパネル４０上の実際の大きさを画像データの撮像画素数に換算することができる。従って、ＯＬＥＤパネル４０の仕様から発光画素の大きさやピッチを取得して撮像画素数に換算することにより、パラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆを得ることも可能である。しかしながら、発光画素４１から発光された光の拡散や、撮像画素に対する光線のエッジの掛かり具合によっては、誤差が生じることがある。従って、予め検査を行うときと同一の条件（解像度）でＯＬＥＤパネル４０を撮像しておき、パラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆを実験的に取得しておくことが望ましい。ステップＳ１１０においては、発光画素サイズ取得部Ｐ２ａがＵＩ部Ｐ４から配列情報入力画面にて入力されている発光画素サイズ（Ａ×Ｂ）を取得し、発光画素数取得部Ｐ２ｂが配列情報入力画面にて入力されている発光画素数（Ｃ×Ｄ）を取得する。

ステップＳ１２０においては、発光画素サイズ（Ａ×Ｂ）に発光画素数（Ｃ×Ｄ）を乗算することにより推定有効撮像画素数Ｇを算出する。基本的には、どの発光画素４１，４１，４１・・・も同様の発光画素サイズ（Ａ×Ｂ）で撮像されると考えることができるため、発光画素サイズ（Ａ×Ｂ）に発光画素数（Ｃ×Ｄ）を乗算することにより、画像データにおいて発光画素４１，４１，４１・・・の写像が占める撮像画素の総数を得ることができ、その算出結果を推定有効撮像画素数取得部Ｐ２ｃが推定有効撮像画素数Ｇ＝Ａ×Ｂ×Ｃ×Ｄとして取得する。

ステップＳ１３０においては、画像データ上における発光画素４１の隙間の幅Ｅ，Ｆがそれぞれ０［pixel］となっているかどうかを判定する。すなわち、撮像した画像データにおいて発光画素４１の隙間が０画素となっていないかどうかを判定する。デバイスの設計上、各発光画素４１，４１，４１・・・の間には隙間が形成されるが、発光画素４１，４１，４１・・・から発光された光の拡散状態や光線のエッジのかかり具合やスキャナ２０の解像度によってはＥ＝０またはＦ＝０となる場合も考えられる。Ｅ＝０またはＦ＝０である場合には、ステップＳ１４０にて、推定有効撮像画素数Ｇを下方修正する。具体的には、縦方向の隙間幅Ｅ＝０である場合には、縦方向の発光画素サイズＡを一画素分下方修正して、推定有効撮像画素数Ｇ＝（Ａ−１）×Ｂ×Ｃ×Ｄを再度算出する。一方、横方向の隙間幅Ｆ＝０である場合には、横方向の発光画素サイズＢを一画素分下方修正して、推定有効撮像画素数Ｇ＝Ａ×（Ｂ−１）×Ｃ×Ｄを再度算出する。

ステップＳ１５０においては、スキャナ２０がＯＬＥＤパネル４０の表示面を撮像し、生成された画像データを画像データ取得部Ｐ１が取得する。少なくとも表示面４０ａがフラットであるため、図３に示す被写体Ａと同様に同表示面４０ａが原稿台２１に対面するようにＯＬＥＤパネル４０を載置することができる。なお、本実施形態においてはスキャナ２０を制御するコンピュータ１０と、検査処理を実行するコンピュータ１０が同一であるが、異なるコンピュータにて処理を分担させてもよい。原稿台２１に載置したＯＬＥＤパネル４０に対して、テスト信号発生装置を接続し、全発光画素４１，４１，４１・・・においてＲ，Ｇ，Ｂいずれかのチャンネルの白色ＯＬＥＤ４２ｒ，４２ｇ，４２ｂのみを最大階調にて発光させるような映像信号を出力する。これにより、ＯＬＥＤパネル４０の表示面４０ａにおいては赤べた画面、または、緑べた画面、または、青べた画面が表示される。従って、全体に赤、緑、青のいずれかの色をした発光画素４１，４１，４１・・・の写像がドットマトリクス状に分布した画像データが撮像される。なお、本実施形態におい赤べた画像が表示面４０ａにて表示されているものとする。ステップＳ１６０においては、閾値設定部Ｐ２ｄが画像データにおける各撮像画素のＲチャンネルの色信号値を取得し、ヒストグラムを作成する。

図７は、ステップＳ１６０にて作成されるヒストグラムを示している。同図において、縦軸が度数（撮像画素数）Ｚ（ｒ）を示し、横軸がＲチャンネルの色信号値ｒを示している。発光画素４１，４１，４１・・・の写像によって占められている各撮像画素の色信号値ｒは最高階調（２５５）に近い値となっており、発光画素４１，４１，４１・・・の写像によって占められていない各撮像画素の色信号値ｒは最低階調（０）に近い値となっている。すなわち、ＯＬＥＤパネル４０において発光画素４１，４１，４１・・・を一様な色信号値で発光させているため、図７の度数分布は概ね２局化する。ただし、発光画素４１から発光された光の拡散や、撮像画素に対する光線のエッジの掛かり具合の影響によって、色信号値ｒにばらつきが生じ、度数分布に広がりが生じている。ステップＳ１７０においては、閾値設定部Ｐ２ｄが下記式（１）を満足する閾値ｒｔを算出する。

すなわち、上記式（１）によって、色信号値ｒの上位から推定有効撮像画素数Ｇ番目の色信号値ｒを閾値ｒｔとして算出している。ステップＳ１８０においては、画像データにおいて閾値ｒｔ以上の色信号値ｒを有する撮像画素を有効撮像画素と定義し、閾値ｒｔより小さい色信号値ｒを有する撮像画素を無効撮像画素と特定する。これにより、推定有効撮像画素数Ｇと同数の撮像画素が有効撮像画素として特定されることとなる。このように、配列情報のパラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆに基づいて閾値ｒｔを設定し、推定有効撮像画素数Ｇと同数の撮像画素が有効撮像画素として特定されるようにしておくことにより、ＯＬＥＤパネル４０において発光画素４１，４１，４１・・・の配列から見て妥当な数の撮像画素が有効撮像画素として特定することができる。すなわち、有効撮像画素数と無効撮像画素数の比率は、実際の発光画素４１，４１，４１・・・の配列に即したものとすることができる。従って、例えば撮像時の光の拡散が大きく実際よりも発光画素４１，４１，４１・・が大きく撮像される場合にも、有効撮像画素数が不当に多くならないように制限することができる。

図８は画素属性特定処理が行われた画像データを示している。図８において、各撮像画素が格子によって仕切られており、無効撮像画素については斜線で塗りつぶされている。発光画素４１，４１，４１・・・の間には隙間が形成されているため、画像データにおける発光画素４１，４１，４１・・・の写像の間にも格子状の隙間が形成される。すなわち、画像データにおいて発光画素４１，４１，４１・・・の写像は有効撮像画素で表され、発光画素４１，４１，４１・・・の隙間には無効撮像画素が対応することとなる。上述したとおり有効撮像画素数と無効撮像画素数の比率は、実際の発光画素４１，４１，４１・・・の配列に即したものとなっているため、実際の発光画素４１，４１，４１・・・に隙間があれば、原則的には画像データにおいても無効撮像画素による隙間が形成されることとなる。

しかし、発光画素４１，４１，４１・・・から発光された光の拡散が大きかったり、撮像した解像度と比して発光画素４１，４１，４１・・・の間隔が極めて小さかったりした場合に、画像データにおいて隙間が形成されないことも考えられる。すなわち、実際のＯＬＥＤパネル４０においては発光画素４１，４１，４１・・・の間に隙間があっても、画像データにおいては発光画素４１，４１，４１・・・の写像の間にはっきりとした隙間が形成されない場合が考えられる。

図９は、発光画素４１，４１，４１・・・から発光された光の拡散が大きい場合の発光画素４１の写像とその色信号値分布を示している。同図において、拡散が大きい場合、発光画素４１の写像が拡大し、隣接する写像と合体しているように視認されることとなる。また、光源から距離が離れるほど拡散光量が減衰するため、本来、発光画素４１，４１，４１・・・の隙間に相当する撮像画素の色信号値ｒはやや低い値となる。従って、色信号値ｒの分布に広がりが生じることとなる。

このような撮像条件においては、一見して発光画素４１，４１，４１・・・の写像の隙間が見られないため、ステップＳ１００の配列情報入力画面において隙間幅Ｅ，Ｆ＝０という指定が受け付けられ得ることとなる。同時に、発光画素サイズＡ×Ｂは実際よりも大きめの値が受け付けられ得ることとなる。しかし、隙間幅Ｅ，Ｆ＝０である場合にはステップＳ１４０において、推定有効撮像画素数Ｇが下方修正されるため、推定有効撮像画素数Ｇが実際と近い値に修正される。発光画素サイズＧが下方修正されると、上記式（１）を満足する閾値ｒｔが引き上げられることとなる。従って、本来、発光画素４１，４１，４１・・・の隙間に相当する撮像画素の色信号値ｒは閾値ｒｔよりも低い値の無効撮像画素と判断されることになり、強制的に画像データにおいて発光画素４１，４１，４１・・・の写像間の隙間を形成することができる。以上のように、発光画素４１，４１，４１・・・の写像とその隙間によって構成された画像データが生成されると、画素属性特定処理を完了し、次に対応関係特定処理を実行する。

２−２）対応関係特定処理：
図１０は、対応関係特定処理の流れを示している。ステップＳ２００では、画像データにおいて最も左上に位置する有効撮像画素を検出する。ステップＳ２１０にて有効撮像画素が検出できると、ステップＳ２２０において、検出された有効撮像画素から反時計回りに有効撮像画素と無効撮像画素との境界を追跡する。

図１１は、境界を検出する様子を模式的に示している。上述したとおり、有効撮像画素が発光画素４１，４１，４１・・・の写像に対応し、無効撮像画素が同写像の隙間に対応するため、異常がない限りステップＳ２２０では左上端の発光画素４１の写像１個分の輪郭を検出することができる。ステップＳ２３０においては、中心位置算出部Ｐ３ａが境界の上下左右の外縁線ＬH1，ＬH2，ＬV1，ＬV2を検出し、同外縁線ＬH1，ＬH2，ＬV1，ＬV2によって囲まれる矩形を形成する。そして、同矩形の対角線を作成し、同対角線の交点を発光画素４１の写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）として算出する。ステップＳ２４０では、算出された発光画素４１の写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）を記憶する。

ステップＳ２５０においては、現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）と直前に算出した隣接する写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）との距離Ｉを算出する。なお、はじめの段階では、現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）のみ算出されているため、距離Ｉは０であると算出されるものとする。ステップＳ２６０においては、ステップＳ１００の配列情報入力画面において取得した横方向の発光画素サイズＡと隙間幅Ｅとの和（Ａ＋Ｅ）を発光画素４１，４１，４１・・・の配列周期Ｈとして算出し、同配列周期Ｈに正の整数カウンタＮを乗算する。そして、ステップＳ２５０にて算出した距離ＩからＮ周期分の配列周期（Ｈ×Ｎ）を減じたものが所定の基準値Ｊ［pixel］よりも小さいかどうかが判定される。基準値Ｊは、中心位置（Ｃx，Ｃy）同士の距離Ｉが配列周期Ｈの整数Ｎ倍からどれだけずれているかを判定するための数値であり、例えば発光画素サイズＡ［pixel］の０．５倍程度としてもよい。なお、はじめの段階では距離Ｉは０であり、（Ｈ×Ｎ）が正であるため、距離ＩからＮ周期分の配列周期（Ｈ×Ｎ）を減じたものは正の基準値Ｊよりも小さくなり、ステップＳ２７０が実行される。なお、ステップＳ２６０の判定を行う意義は後述する。

ステップＳ２７０においては、基準座標を現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）とする。次に、ステップＳ２８０においてはカウンタＮを１にリセットする。ステップＳ３１０においては、発光画素４１，４１，４１・・・の配列周期ＨにカウンタＮを乗じた距離だけ、ステップＳ２７０にて基準座標とされた現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）から右方向にシフトさせる。すなわち、基準座標とされた現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）の横方向の座標Ｃxに（Ｈ×Ｎ）を加算した座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）を算出する。なお、ステップＳ２８０においてカウンタＮが１にリセットされているため、（Ｃx＋Ｈ，Ｃy）に座標がシフトさせられる。このことは、図１１に示すように、最初に検出された発光画素４１の写像に隣接する写像の中心位置と推定される位置に座標をシフトさせたことを意味する。すなわち、ステップＳ１００の配列情報入力画面において取得した横方向の発光画素サイズＡと隙間幅Ｅとに基づいて画像データにおける発光画素４１，４１，４１・・・の写像の配列周期Ｈを推定することができ、現在算出されている写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）に配列周期Ｈの整数Ｎ倍を加算することにより、横方向に並ぶ写像が存在する座標を推定することができる。

ステップＳ３２０においては、ステップＳ３１０にてシフトさせた座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）の周辺において有効撮像画素を検出する。上述したとおり、当該座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）には発光画素４１の写像が存在していることが推定されるため、異常がない限り有効撮像画素が検出される可能性が高い。ステップＳ３３０において、有効撮像画素が検出されたことが確認されると、ステップＳ２２０以降が繰り返される。すなわち、ステップＳ３１０において配列周期Ｈの１周期分ずつ座標がシフトされては、ステップＳ２４０にて検出された写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）が記憶されていくため、一列分の写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）を順に特定していくことができる。

図１２は、境界を検出する様子の一例を模式的に示している。同図の１行目に示すように、ある発光画素４１が発光せず、画像データにおいて写像が欠損する場合がある。この場合、カウンタＮが１にリセットされた状態で、ステップＳ３１０にて座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy），（Ｎ＝１）にシフトしたとしても、同座標の周辺にて有効撮像画素を検出することができない。すると、ステップＳ３３０で有効撮像画素が検出されないとして、ステップＳ３４０にてカウンタＮに１をインクリメントする。カウンタＮに１をインクリメントすると、ステップＳ３５０にてカウンタＮが５以上でないことが確認される。カウンタＮが５以上でないと、ステップＳ３１０に戻り、基準座標とされた現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）から配列周期ＨのＮ周期分だけ右方向にずれた座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）にシフトされることとなる。そして、当該座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）にて有効撮像画素が検出されることとなる。

このようにすることにより、１周期分ずれた位置にて有効撮像画素が検出されない場合には、さらにもう１周期ずれた座標にて有効撮像画素を検出させることができる。従って、いくつかの発光画素４１が全く発光しなかったとしても、次に隣接する発光画素４１の写像の座標を正確に推定し、その発光画素４１の写像の検出を行うことができる。なお、ステップＳ３５０においては、カウンタＮの上限値を５としているため、発光画素４１が連続して３個発光しなかったとしても、発光画素４１の写像の検出を続行することができる。また、カウンタＮの上限値を設定しておくことにより、横方向に連続する発光画素４１，４１，４１・・・の写像の右端を検出することができる。すなわち、５周期程度、右方向に座標をシフトさせても、有効撮像画素が検出されない場合には、現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）が右端の写像のものであると推定することができる。

そのため、ステップＳ３５０においてカウンタＮが５以上である場合には、ステップＳ２００に戻り、再度、画像データにおいて最も左上の有効撮像画素を検出する。なお、このとき、すでに検出された写像に含まれる有効撮像画素を除外しておくことにより、次の列の左端の写像を検出することができる。次の列の左端の発光画素４１の写像が検出されれば、当該列について順に発光画素４１の写像、および、その中心位置（Ｃx，Ｃy）の検出を行うことができる。これにより、画像データにおける発光画素４１の写像の検出を列ごとに順に下方にシフトさせて行うことができる。従って、最終的にステップＳ２００にて有効撮像画素が検出されなくなるまで、上述した処理を繰り返すことにより、最終的に全ての発光画素４１，４１，４１・・・の写像、および、その中心位置（Ｃx，Ｃy）の検出を行うことができる。

ところが、図１２の２行目に示すように、異物等によって発光画素４１，４１の写像同士が画像データにおいて合体する場合がある。この場合、ステップＳ２２０において検出される境界は、ひとまとまりとなるため、その中心位置（Ｃx，Ｃy）は周期的ではなくなってしまう。中心位置（Ｃx，Ｃy）が周期的でなくなると、同中心位置（Ｃx，Ｃy）を基準として発光画素４１，４１，４１・・・の配列周期Ｈを加算することにより行う発光画素４１の写像の位置の推測は不正確なものとなってしまう。例えば、図１２の２行目に示すように合体した写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）にＮ周期分の配列周期（Ｈ×Ｎ）をいくら加えたとしても、シフトされる座標は、写像の隙間を意味する無効撮像画素上となる。そこで、ステップＳ２６０においては、中心位置（Ｃx，Ｃy）の周期性について下記式（２）よって判定している。
Ｉ−Ｈ×Ｎ＜Ｊ ・・・式（２）

すなわち、上記式（２）において、左辺（Ｉ−Ｈ×Ｎ）は現在の写像を検出するにあたり推定した座標（Ｃx＋Ｈ×Ｎ，Ｃy）に対して、実際に検出された中心位置（Ｃx＋Ｉ，Ｃy）のずれを意味し、このずれが所定の基準値Ｊよりも小さいことが確認されている。そして、このずれが大きい場合には、実際に算出された現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）が周期的でないとして、ステップＳ２９０が実行される。ステップＳ２９０においては、基準座標を現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）ではなく、１つ前に検出された他の中心位置（Ｃx，Ｃy）を基準位置として設定する。現在の中心位置（Ｃx，Ｃy）は周期的ではなく、発光画素４１の写像の位置の推定に適さないからである。さらに、ステップＳ３００においては、カウンタＮに１をインクリメントする。

そして、ステップＳ３１０においては、１つ前に検出された中心位置（Ｃx，Ｃy）を基準位置として、当該中心位置（Ｃx，Ｃy）から座標をカウンタＮ周期分シフトさせる。ステップ３２０では、シフトさせた座標の周辺にて有効撮像画素が検出される。このように、最後に検出された写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）が周期的でない場合には、一つ前の中心位置（Ｃx，Ｃy）を基準として、隣接する写像の位置を推定することにより、複数の写像が合体した場合でも、正確に隣接する写像の位置を推定することができる。なお、合体する写像の大きさは不特定であるため、ステップＳ３００にて１周期分シフトさせてもステップＳ２２０にて再度同一の写像が検出される場合も考えられる。その場合は、ステップＳ２４０では同一座標の中心位置が重複して記憶されることとなる。この場合も、ステップＳ３００が繰り返され、順次、カウンタＮがインクリメントされるため、ある程度繰り返したところで次の独立した写像を検出することができる。

以上のようにして、発光している全ての発光画素４１，４１，４１・・・の写像、および、その中心位置（Ｃx，Ｃy）が検出できると、ステップＳ３６０にて、重複して記憶された同一の中心位置（Ｃx，Ｃy）が削除される。この段階で、発光している全ての発光画素４１，４１，４１・・・の写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）が重複なく記憶されたこととなる。ステップＳ３７０においては、対応関係特定部Ｐ３ｂが画像データにおける写像と、実際のＯＬＥＤパネル４０上の発光画素４１，４１，４１・・・との対応関係を特定する。

具体的には、画像データにおいて中心位置（Ｃx，Ｃy）が最も端の座標となる写像は、実際のＯＬＥＤパネル４０の端の発光画素４１に対応しているというように、写像の中心位置（Ｃx，Ｃy）の相対位置関係から両者の対応関係を順に特定する。端の発光画素４１の対応写像が特定できれば、発光画素４１，４１，４１・・・の配列の周期性に基づいて、隣接する発光画素４１の対応写像を順にマッピングしていくことができる。その際、存在すべき位置に対応する写像がない発光画素４１や、存在すべきでない位置に写像が存在するという情報も得ることができる。

これにより、実際のＯＬＥＤパネル４０において、どの発光画素４１，４１，４１・・・が実際に発光していないかを特定することができるとともに、どの発光画素４１，４１，４１・・・の周辺に不正な輝点が存在しているかということが判明する。前者の場合には対応する発光画素４１が暗点であると判断することができるし、後者の場合には対応する発光画素４１，４１，４１・・・の周辺に異物が付着していると判断することができる。なお、中心位置（Ｃx，Ｃy）の全体的な配置に基づいて、写像の列および行の傾斜を検出し、同傾斜を打ち消すような補正を行ってもよい。このようにすれば、ＯＬＥＤパネル４０がスキャナ２０上に斜めに置かれても、検査を正常に行うことができる。なお、ステップＳ３１０にて隣接する写像を順にシフトさせて検出しているため、多少傾いてパネル４０がスキャナ２０上に斜めに置かれても、隣接する写像を順に検出していくことができる。すなわち、各隣接画素間では傾斜によるずれは微少であるため、ステップＳ３１０における写像検出を問題なく行うことができる。なお、スキャナ２０においては、ＯＬＥＤパネル４０の反転画像が撮像されるため、対応関係を特定する際に、中心位置（Ｃx，Ｃy）の座標を反転させておいてもよい。

ステップＳ３８０においては、不具合発光画素特定部Ｐ３ｃが輝度不足の発光画素４１，４１，４１・・・の特定を行う。上述したとおり各写像が検出されているため、同写像の中から色信号が小さいものを検索する。各写像は複数の撮像画素から構成されるため、各写像を構成する撮像画素が有する色信号のうち最も大きいものを、各写像に対応する発光画素４１，４１，４１・・・の輝度とする。そして、輝度が所定の判定値Ｋよりも小さい場合には、当該発光画素４１，４１，４１・・・の輝度が不足した暗点であると判定する。本実施形態において判定値Ｋは、下記式（３）によって決定される。

すなわち、上記式（３）において判定値Ｋは、色信号値が閾値ｒｔを上回る有効撮像画素について平均的な色信号値を意味する。以上のように、Ｒチャンネルについての暗点の判定が完了すると、順次、Ｇ，Ｂチャンネルについても検査を実行する。これにより、ＲＧＢチャンネルについて、それぞれ発光画素４１，４１，４１・・・の欠損や異常発光や異物や暗点等の不具合を検出することができ、ＯＬＥＤパネル４０の検査を実現することができる。

（３）まとめ：
以上説明したように、本発明では、配列情報のパラメータＡ，Ｂ，Ｅ，Ｆに基づいて、発光画素４１，４１，４１・・・の写像を構成する有効撮像画素数Ｇを算出する。そして、有効撮像画素数Ｇと同数の有効撮像画素を色信号値の上位から特定する。これにより、ＯＬＥＤパネル４０における発光画素４１，４１，４１・・・の物理的配列から見て妥当な数の撮像画素を有効撮像画素として特定することができる。従って、実際の発光画素４１，４１，４１・・・間に隙間があれば、画像データにおいても有効撮像画素で構成される発光画素４１，４１，４１・・・の写像の間に、無効撮像画素による隙間を形成することができる。写像の間に隙間が確保できれば、各写像を独立して評価することができ、評価結果を発光画素４１，４１，４１・・・と対応させることができる。また、図２では、白色ＯＬＥＤ(有機ＬＥＤ)を背面に配置し、ＲＧＢのカラーフィルターを通してフルカラーを出力するカラーフィルター方式で説明しているが、この他にも、ＲＧＢそれぞれの色に発光する有機分子を用意し、順番に配置してサブピクセルを構成する「３色独立方式」でも実現可能である。さらに、白色光をカラーフィルターに通すのではなく、青色光や紫外線(短い波長の光)を蛍光体に吸収させ、赤色光や緑色光(長い波長の光)を出力させる「色変換方式」でも実施可能である。

本発明の一実施形態にかかるフラットパネルディスプレイ検査装置のハードウェア構成図である。 ＯＬＥＤパネルの斜視図である。 スキャナの斜視図である。 コンピュータにて実行されるソフトウェア構成図である。 画素属性特定処理のフローチャートである。 ＯＬＥＤパネルと画像データの比較図である。 色信号値の分布を示すヒストグラムである。 画像データを示す図である。 ＯＬＥＤパネルと画像データの比較図である。 対応関係特定処理のフローチャートである。 写像検出を説明する図である。 写像検出を説明する図である。

符号の説明

１…フラットパネルディスプレイ検査装置，１０…コンピュータ，１０ａ…バス，１１…ＣＰＵ，１２…ＲＡＭ，１３…ＲＯＭ，１４…ＨＤＤ，１４ａ…プログラムデータ，１５…ビデオＩ／Ｆ，１６…ＵＳＢＩ／Ｆ，２０…スキャナ，２１…原稿台，２２…ラインセンサ，３０…ディスプレイ，４０…ＯＬＥＤパネル，４１…発光画素，Ｐ…フラットパネルディスプレイ検査プログラム，Ｐ１…画像データ取得部，Ｐ２…画素属性特定部，Ｐ２ａ…発光画素サイズ取得部，Ｐ２ｂ…発光画素数取得部，Ｐ２ｃ…推定有効撮像画素数取得部，Ｐ２ｄ…閾値設定部，Ｐ３…不具合検出部、Ｐ３ａ…中心位置算出部，Ｐ３ｂ…対応関係特定部，Ｐ３ｃ…不具合発光画素特定部

Claims (13)

1. 複数の発光画素を表示面に配列させたフラットパネルディスプレイを検査するフラットパネルディスプレイ検査装置において、
   上記発光画素を発光させた状態の上記表示面を撮像し、複数の撮像画素からなる画像データを生成する撮像手段と、
   上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報と各撮像画素の色信号値に基づいて、上記画像データにおいて上記発光画素が撮像された有効撮像画素と、上記発光画素の隙間が撮像された無効撮像画素を特定する画素属性特定手段と、
   上記画像データにおける上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の配列に基づいて上記発光画素の不具合を検出する不具合検出手段とを具備することを特徴とするフラットパネルディスプレイ検査装置。
2. 上記画素属性特定手段は、
   上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報に基づいて、上記画像データの各撮像画素の色信号値についての閾値を設定する閾値設定手段を具備するとともに、
   上記閾値と上記色信号値を比較することにより上記有効撮像画素と上記無効撮像画素と特定することを特徴とする請求項１に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
3. 上記閾値設定手段は、
   上記画像データにおいて単一の上記発光画素が投影された写像が占める上記撮像画素数を発光画素サイズとして取得する発光画素サイズ取得手段と、
   上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の総数を取得する発光画素数取得手段と、
   上記発光画素の総数に上記発光画素サイズを乗算することにより推定有効撮像画素数を算出する推定有効撮像画素数取得手段と具備するとともに、
   色信号値についての各撮像画素の分布において、上位から上記推定有効撮像画素数番目となる色信号値を上記閾値として設定することを特徴とする請求項２に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
4. 上記閾値設定手段は、
   上記画像データにおいて隣接する上記写像の隙間の上記撮像画素数を取得するとともに、同隙間の上記撮像画素数が所定値よりも小さいとき上記発光画素サイズを下方修正することを特徴とする請求項３に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
5. 上記不具合検出手段は、
   上記画像データにおいて上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の境界の内側を上記写像であると検出し、同境界の中心を当該写像の中心位置として検出する中心位置算出手段と、
   上記画像データにおける上記写像の上記中心位置の配列と、上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の上記配列情報とを比較することにより同写像と同発光画素との対応関係を特定する対応関係特定手段と、
   上記対応関係に基づいて、対応する上記写像が上記画像データにおいて不具合となっている上記発光画素を特定する不具合発光画素特定手段とを具備することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
6. 上記中心位置算出手段は、
   上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の上記配列情報から上記画像データにおいて隣接する上記写像の配列周期を推定するとともに、上記中心位置から同配列周期だけずれた位置にて隣接する上記写像を検出することを特徴とする請求項５に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
7. 上記中心位置算出手段は、
   上記中心位置から上記配列周期のＮ（Ｎは整数）周期分ずれた位置にて隣接する上記写像が検出できないとき、上記配列周期の（Ｎ＋１）周期分ずれた位置にて隣接する上記写像を検出することを特徴とする請求項６に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
8. 上記中心位置算出手段は、
   上記画像データにおいて隣接する上記写像の上記中心位置間の距離が上記配列周期と大きく異なるとき、他の上記中心位置から同配列周期だけずれた位置にて隣接する上記写像を検出することを特徴とする請求項６または請求項７のいずれかに記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
9. 上記不具合発光画素特定手段は、
   上記写像に属する上記撮像画素の最高色信号値が所定の判定値よりも小さいときに当該写像に対応する上記発光画素が暗点であると判定することを特徴とする請求項５から請求項８のいずれかに記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
10. 上記判定値は、上記有効撮像画素の平均的な色信号値に基づいて設定されることを特徴とする請求項９に記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
11. 上記撮像手段は、
    上記フラットパネルディスプレイが載置可能なフラットベットスキャナによって同フラットパネルディスプレイの撮像を行うことを特徴とする請求項１から請求項９のいずれかに記載のフラットパネルディスプレイ検査装置。
12. 複数の発光画素を表示面に配列させたフラットパネルディスプレイを検査するフラットパネルディスプレイ検査方法において、
    上記発光画素を発光させた状態の上記表示面を撮像し、複数の撮像画素からなる画像データを生成する撮像工程と、
    上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報と各撮像画素の色信号値に基づいて、上記画像データにおいて上記発光画素が撮像された有効撮像画素と、上記発光画素の隙間が撮像された無効撮像画素を特定する画素属性特定工程と、
    上記画像データにおける上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の配列に基づいて上記発光画素の不具合を検出する不具合検出工程とを具備することを特徴とするフラットパネルディスプレイ検査方法。
13. 複数の発光画素を表示面に配列させたフラットパネルディスプレイを検査する機能をコンピュータにて実現させるフラットパネルディスプレイ検査プログラムにおいて、
    上記発光画素を発光させた状態の上記表示面を撮像することにより得られ、複数の撮像画素からなる画像データを取得する画像データ取得機能と、
    上記フラットパネルディスプレイにおける上記発光画素の配列情報と各撮像画素の色信号値に基づいて、上記画像データにおいて上記発光画素が撮像された有効撮像画素と、上記発光画素の隙間が撮像された無効撮像画素を特定する画素属性特定機能と、
    上記画像データにおける上記有効撮像画素と上記無効撮像画素の配列に基づいて上記発光画素の不具合を検出する不具合検出機能とをコンピュータにて実現させることを特徴とするフラットパネルディスプレイ検査プログラム。

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