JP2017163183A - 超音波素子アレイ、超音波プローブ、超音波装置および超音波素子アレイの製造方法 - Google Patents

超音波素子アレイ、超音波プローブ、超音波装置および超音波素子アレイの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】配線が交差するレイアウトであっても水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる超音波素子アレイを提供する。
【解決手段】超音波素子アレイ1は第1電極12と第2電極13とに圧電体16が挟まれた第1圧電素子3、第2圧電素子4、第3圧電素子5及び第4圧電素子6と、第1圧電素子3の第2電極13と第2圧電素子4の第2電極13とを接続する第1配線8と、第3圧電素子5の第2電極13と第4圧電素子6の第2電極13とを接続する第2配線9と、第1配線8を跨いで第2配線9と接続する第3配線10bと、第1配線8と第3配線10bとの間に位置する絶縁膜21と、を備え、絶縁膜21は無機物からなる無機絶縁膜7と有機物からなる有機絶縁膜18とを有し、無機絶縁膜7は圧電素子2を覆う。
【選択図】図1

Description

本発明は、超音波素子アレイ、超音波プローブ、超音波装置および超音波素子アレイの製造方法に関するものである。
電圧を加えることにより変形する圧電体が広く用いられている。圧電体には2つ以上の電極が設置されている。その電極間に電圧を加えることにより圧電体が変形する。また、圧電体が変形するとき、2つの電極間に電位差が生じる。圧電体の性質を利用して、超音波を発生させることができる。さらに、超音波を受けて圧電体が振動するとき、電極間の電位差の変動を検出して超音波を検出することができる。
圧電体に電極が設置された圧電素子がアレイ状に配置された超音波素子アレイが特許文献1に開示されている。圧電体は板状であり、表面と裏面とが平行な面になっている。そして、圧電体の平面形状は長方形であり、圧電体の両面に電極が設置されている。電極の一方は総ての圧電体に設置され、同じ電位となる共通電極である。そして、他方の電極は各圧電体に設置された個別電極である。配線も個別電極毎に設置されていた。
特開2011−137768号公報
特許文献1の超音波素子アレイでは圧電素子が5行5列に配置されていた。そして、配列の上下左右の四方向に端子が設置され、端子と個別電極とが配線により接続されていた。このときには、配線が交差しないように配線を配置することができた。配列の四方向に端子を設置するとき、端子を設置する場所が配列の四方向に必要となる。一方、配列の対向する2方向に端子を設置するとき圧電素子がアレイの幅を短くすることができる。このとき、端子と個別電極とを接続する配線が交差する場所が必要になる。また、圧電素子の行数または列数が多いときにも端子と個別電極とを接続する配線が交差する場所が必要になる。
超音波素子は30ボルト程度の電圧で駆動される。そして、個別電極と接続する配線が交差する場所では配線間に絶縁膜が設置される。通常、配線間の絶縁膜は耐湿性のよい無機物からなる無機膜が用いられている。このとき、無機膜は薄いので配線間で電流が漏洩することがあった。そこで、配線が交差するレイアウトであっても水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる超音波素子アレイが望まれていた。
本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
[適用例1]
本適用例にかかる超音波素子アレイであって、2つの電極に圧電体が挟まれた第1圧電素子、第2圧電素子、第3圧電素子及び第4圧電素子と、前記第1圧電素子と前記第2圧電素子とを接続する第1配線と、前記第3圧電素子と前記第4圧電素子とを接続する第2配線と、前記第1配線を跨いで前記第2配線と接続する第3配線と、前記第1配線と前記第3配線との間に位置する絶縁膜と、を備え、前記絶縁膜は無機物からなる無機膜と有機物からなる有機膜とを有し、前記無機膜は前記圧電素子を覆うことを特徴とする。
本適用例によれば、超音波素子アレイは第1圧電素子〜第4圧電素子を備え、各圧電素子では圧電体が2つの電極に挟まれている。2つの電極に所定の波形の電圧を印加することにより圧電体が振動して超音波を射出する。第1配線は第1圧電素子と第2圧電素子とを接続する。第2配線は第3圧電素子と第4圧電素子とを接続する。第3配線は第1配線を跨いで第2配線と接続する。第1配線と第3配線との間には絶縁膜が位置し、絶縁膜により第1配線と第3配線とが短絡しないようになっている。
絶縁膜は無機物からなる無機膜と有機物からなる有機膜とを有している。無機膜は耐湿性があり水分が通過することを防止する。有機膜は無機膜より厚い膜であり電気的な耐圧性がある。従って、第1配線と第3配線とが短絡し難い構造にできる。さらに、無機膜は圧電素子を覆っている。圧電素子に水分が浸透すると振動する特性が劣化する。無機膜が圧電素子に水分が浸透することを抑制する。従って、超音波素子アレイは水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる。
[適用例2]
上記適用例にかかる超音波素子アレイにおいて、前記有機膜は隣り合う前記圧電体の間に設置されていることを特徴とする。
本適用例によれば、有機膜は隣り合う圧電体の間に設置されているので、圧電素子と対向しない場所に設置されている。圧電素子に有機膜が重なっているとき有機膜が振動の抵抗になる。本適用例では圧電素子に有機膜が重なっていないので、圧電素子が効率よく超音波を射出できる。
[適用例3]
上記適用例にかかる超音波素子アレイにおいて、前記有機膜は前記無機膜に重ねて設置されていることを特徴とする。
本適用例によれば、有機膜は無機膜に重ねて設置されている。有機膜上に無機膜は設置し難いが、無機膜上に有機膜を容易に設置することができる。従って、生産性良く絶縁膜を設置することができる。
[適用例4]
上記適用例にかかる超音波素子アレイにおいて、前記第1圧電素子、前記第2圧電素子、前記第3圧電素子及び前記第4圧電素子を含む圧電素子がマトリックス状に配置され、前記第1圧電素子と前記第2圧電素子との間には1本の配線が設置されることを特徴とする。
本適用例によれば、複数の圧電素子がマトリックス状に配置されている。そして、第1圧電素子と第2圧電素子との間には配線が1本のみ設置されている。従って、第1圧電素子と第2圧電素子との間に複数の配線が設置された配置に比べて配線が占める面積を小さくすることができる。従って、圧電素子の密度を高くすることができる。
[適用例5]
上記適用例にかかる超音波素子アレイにおいて、前記第1圧電素子及び前記第3圧電素子を含む圧電素子は行方向に並んでおり、前記第1圧電素子及び前記第2圧電素子を含む前記圧電素子は前記行方向と直交する列方向とに並んでおり、隣り合う前記圧電素子の行と行との間には前記行方向の第1方向に延びる第4配線または前記第4配線と分離し前記第1方向と逆向きの第2方向に延びる第5配線が設置されていることを特徴とする。
本適用例によれば、圧電素子は行方向及び列方向に並んでいる。そして、隣り合う圧電素子の行と行との間には第4配線または第5配線が設置されている。第4配線は行方向の第1方向に延びており、第5配線は第1方向と逆向きの第2方向に延びている。従って、行間に位置する配線は第4配線及び第5配線の2系統の配線として機能する。第1配線及び第2配線は列方向に延びる配線である。そして、第4配線及び第5配線は列方向に延びる配線と接続されている。従って、行間に設置された配線は列方向に延びる異なる列の圧電素子に異なる電圧を通電することができる。
[適用例6]
本適用例にかかる超音波プローブであって、超音波を出力する超音波素子アレイを備え、前記超音波素子アレイが上記のいずれか一項に記載の超音波素子アレイであることを特徴とする。
本適用例によれば、超音波プローブは、超音波を出力する超音波素子アレイを備えている。そして、超音波素子アレイには上記の超音波素子アレイが用いられている。上記の超音波素子アレイは水分及び電圧に対して耐性が高い。従って、超音波プローブは水分及び電圧に対して耐性が高い超音波素子アレイを備えた装置とすることができる。
[適用例7]
本適用例にかかる超音波装置であって、超音波を出力する超音波素子アレイを備え、前記超音波素子アレイが上記のいずれか一項に記載の超音波素子アレイであることを特徴とする。
本適用例によれば、超音波装置は、超音波を出力する超音波素子アレイを備えている。そして、超音波素子アレイには上記の超音波素子アレイが用いられている。上記の超音波素子アレイは水分及び電圧に対して耐性が高い。従って、超音波装置は水分及び電圧に対して耐性が高い超音波素子アレイを備えた装置とすることができる。
[適用例8]
本適用例にかかる超音波素子アレイの製造方法であって、2つの電極に圧電体が挟まれた複数の圧電素子の各前記電極と接続する第1配線上と前記圧電素子上とに無機物からなる無機膜を設置し、隣り合う前記圧電体の間の一部の前記無機膜上に有機物からなる有機膜を設置し、前記有機膜に重ねて第3配線を設置することを特徴とする。
本適用例によれば、複数の圧電素子が設置されている。各圧電素子では2つの電極に圧電体が挟まれて設置されている。そして、各圧電素子の電極は第1配線によって接続されている。第1配線上と圧電素子上に無機物からなる無機膜が設置される。次に、無機膜上に有機物からなる有機膜が設置される。この有機膜は圧電素子と対向しない場所で第1配線と対向する場所に設置される。次に、第3配線が設置される。第3配線は有機膜に重ねて設置される。
第3配線と第1配線との間には無機膜と有機膜との絶縁膜が設置されるので短絡が抑制される。そして、圧電素子に重ねて無機膜が設置されるので圧電素子に水分が進入することが抑制される。圧電素子に設置される無機膜と第1配線に設置される無機膜とは同じ工程で設置される。従って、圧電素子に設置される無機膜と第1配線に設置される無機膜とを別の工程で設置するときに比べて工程の数を減らすことができる。従って、短絡し難い超音波素子アレイを生産性良く製造することができる。
第1の実施形態にかかわる超音波素子アレイの構造を説明するための要部模式平面図。 下部配線を説明するための要部模式平面図。 第1配線を説明するための要部模式平面図。 第2配線を説明するための要部模式平面図。 超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図。 超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図。 超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図。 超音波素子アレイの製造方法のフローチャート。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図。 第2の実施形態にかかわる超音波素子アレイの模式平面図。 第3の実施形態にかかわる超音波画像装置の構造を示す概略斜視図。
以下、実施形態について図面に従って説明する。尚、各図面における各部材は、各図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各部材毎に縮尺を異ならせて図示している。
(第1の実施形態)
本実施形態では、超音波素子アレイと、この超音波素子アレイの製造方法との特徴的な例について、図に従って説明する。第1の実施形態にかかわる超音波素子アレイについて図1〜図7に従って説明する。図1は、超音波素子アレイの構造を説明するための要部模式平面図である。図1に示すように、超音波素子アレイ1はマトリックス状に配列された圧電素子2を備えている。圧電素子2が並ぶ方向をX方向及びY方向とする。X方向及びY方向と直交する方向をZ方向とする。
圧電素子2の一部を第1圧電素子3、第2圧電素子4、第3圧電素子5及び第4圧電素子6とする。第1圧電素子3と第3圧電素子5とはX方向に並んでおり、第2圧電素子4と第4圧電素子6とはX方向に並んでいる。X方向に並ぶ圧電素子2の群を行とする。第1圧電素子3と第2圧電素子4はY方向に並んでおり、第3圧電素子5と第4圧電素子6とはY方向に並んでいる。Y方向に並ぶ圧電素子2の群を列とする。
圧電素子2に重ねて無機膜としての無機絶縁膜7が設置されている。そして、無機絶縁膜7には第1開口部7a及び第2開口部7bが設置されている。第1開口部7aの1つからは配線としての第1配線8が露出し、第2開口部7bからは配線としての第2配線9が露出している。第1配線8及び第2配線9はY方向に延びる配線である。圧電素子2は水分の進入により圧電機能が劣化する。無機絶縁膜7は水分を通過し難い膜であり圧電素子2の圧電機能が劣化することを抑制する。
無機絶縁膜7上には第3配線10a及び第3配線10bの第3配線10が設置されている。図中の第3配線10は第3配線10の一部である。そして、第1開口部7aでは第3配線10aと第1配線8とが接続され、第2開口部7bでは第3配線10bと第2配線9とが接続されている。
図2は下部配線を説明するための要部模式平面図である。図2に示すように、超音波素子アレイ1には下部配線11a及び下部配線11bの下部配線11が設置されている。図中の下部配線11は下部配線11の一部である。下部配線11aは第1圧電素子3及び第3圧電素子5と接続し、下部配線11bは第2圧電素子4及び第4圧電素子6と接続している。圧電素子2と接続する部分の下部配線11の一部が電極としての第1電極12として機能する。図中網掛けの部分が第1電極12を示す部分である。
図3は第1配線を説明するための要部模式平面図である。図3に示すように、第3配線10aと第1配線8とが接続され、第1配線8は第1圧電素子3及び第2圧電素子4と接続されている。そして、圧電素子2と接続する部分の第1配線8の一部が電極としての第2電極13として機能する。図中網掛けの部分が第2電極13を示す部分である。従って、第1配線8は第1圧電素子3の第2電極13と第2圧電素子4の第2電極13とを接続する。第1電極12と第2電極13とは対向して配置されている。第3配線10a及び第1配線8を通して第2電極13に電圧が供給される。
図4は第2配線を説明するための要部模式平面図である。図4に示すように、第3配線10bと第2配線9とが接続され、第2配線9は第3圧電素子5及び第4圧電素子6と接続されている。そして、圧電素子2と接続する部分の第2配線9の一部が第2電極13として機能する。図中網掛けの部分が第2電極13を示す部分である。従って、第2配線9は第3圧電素子5の第2電極13と第4圧電素子6の第2電極13とを接続する。第1電極12と第2電極13とは対向して配置されている。第3配線10b及び第2配線9を通して第2電極13に電圧が供給される。第3配線10bは第1配線8と交差する配置になっており、第1配線8を跨いで第2配線9と接続する。
図5は超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図であり、図1のAA線に沿う断面側から見た図である。図5に示すように、超音波素子アレイ1は基板14を備えている。基板14の材質は剛性があり精密な加工ができれば良く特に限定されない。本実施形態では、例えば、基板14の材質にシリコン基板を用いている。
基板14に重ねて振動板15が設置されている。振動板15は振動して超音波を発信する部位である。振動板15の材質は振動特性の良い材質であれば良く特に限定されない。振動板15は絶縁性があると好ましい。本実施形態では、例えば、振動板15の材質に2酸化シリコンや2酸化ジルコニウムを用いている。基板14は圧電素子2と対向する場所に凹部14aが設置されている。凹部14aでは振動板15が露出している。これにより、振動板15が振動し易くなっている。
振動板15上には下部配線11bが設置されている。下部配線11bはX方向に延びる配線である。下部配線11bにはイリジウムの膜とプラチナの膜とが積層された膜を用いている。下部配線11b上には矩形の圧電体16が設置されている。圧電体16を構成する材料は特に限定されないが、本実施形態では例えば、PZT(ジルコン酸チタン酸鉛)が用いられている。
第2圧電素子4では圧電体16上にY方向に延びる第1配線8が設置されている。第1配線8において圧電体16と対向する部分が第2電極13である。下部配線11bにおいて圧電体16と対向する部分が第1電極12である。第4圧電素子6では圧電体16上にY方向に延びる第2配線9が設置されている。第2配線9において圧電体16と対向する部分が第2電極13である。下部配線11bにおいて圧電体16と対向する部分が第1電極12である。第2圧電素子4及び第4圧電素子6では第1電極12及び第2電極13が圧電体16を挟む構造になっている。同様に、第1圧電素子3及び第3圧電素子5でも第1電極12及び第2電極13が圧電体16を挟む構造になっている。
圧電体16の+X方向側及び−X方向側には導電膜17が設置されている。圧電体16の平面形状を形成する工程で下部配線11が薄くなることがある。導電膜17は薄くなった下部配線11を厚くして導電抵抗をさげる機能を有している。
圧電素子2を覆って無機絶縁膜7が設置されている。無機絶縁膜7の材質には酸化シリコンや酸化アルミニウム等の無機物を用いることができる。本実施形態では、例えば、無機絶縁膜7の材質に酸化アルミニウムを採用している。
図6は超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図であり、図1のBB線に沿う断面側から見た図である。図6に示すように、第1圧電素子3と第2圧電素子4との間では振動板15上に第1配線8が設置されている。第3圧電素子5と第4圧電素子6との間では振動板15上に第2配線9が設置されている。第1配線8及び第2配線9はY方向に延びる配線である。
第1配線8上には無機絶縁膜7が設置され、無機絶縁膜7上には有機物からなる有機膜としての有機絶縁膜18が設置されている。そして、有機絶縁膜18上に第3配線10bが設置されている。無機絶縁膜7及び有機絶縁膜18が第1配線8と第3配線10bとを絶縁する絶縁膜21になっている。絶縁膜21は第1配線8と第3配線10bとの間に位置し第1配線8と第3配線10bとが短絡しないようにしている。
絶縁膜21は無機物からなる無機絶縁膜7と有機物からなる有機絶縁膜18とを有している。無機絶縁膜7は耐湿性があり水分が通過することを防止する。有機絶縁膜18は無機絶縁膜7より厚い膜であり電気的な耐圧性がある。従って、第1配線8と第3配線10bとが短絡し難い構造にできる。さらに、無機絶縁膜7は圧電素子2を覆っている。圧電素子2に水分が浸透すると振動する特性が劣化する。無機絶縁膜7が圧電素子2に水分が浸透することを抑制する。従って、超音波素子アレイ1は水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる。
有機絶縁膜18は無機絶縁膜7に重ねて設置されている。有機絶縁膜18上に無機絶縁膜7は設置し難いが、無機絶縁膜7上に有機絶縁膜18を容易に設置することができる。従って、生産性良く絶縁膜21を設置することができる。
第3配線10bは第2配線9と接続している。第2配線9は第3圧電素子5及び第4圧電素子6の第2電極13と接続している。従って、第3配線10bから第3圧電素子5及び第4圧電素子6の第2電極13に電圧を供給できる。第3配線10の材質は低抵抗で電気を供給できれば良く特に限定されない。本実施形態では、例えば、第3配線10の材質に金を用いている。
図7は超音波素子アレイの構造を示す要部模式側断面図であり、図1のCC線に沿う断面側から見た図である。図7に示すように、有機絶縁膜18は無機絶縁膜7と第3配線10bとの間に設置され、圧電素子2と対向する場所には設置されていない。換言すれば、有機絶縁膜18は隣り合う第1圧電素子3と第2圧電素子4との間に設置され、圧電素子2と対向しない場所に設置されている。圧電素子2に有機絶縁膜18が重なっているとき有機絶縁膜18が振動の抵抗になる。圧電素子2に有機絶縁膜18が重なっていないので、圧電素子2が効率よく超音波を射出できる。
次に上述した超音波素子アレイ1の製造方法について図8〜図22にて説明する。図8は、超音波素子アレイの製造方法のフローチャートであり、図9〜図22は超音波素子アレイの製造方法を説明するための模式図である。図8のフローチャートにおいて、ステップS1は振動板設置工程である。この工程は基板14上に振動板15を設置する工程である。次にステップS2に移行する。ステップS2は下電極設置工程である。この工程は、振動板15上に下部配線11を設置する工程である。次にステップS3に移行する。ステップS3は圧電体設置工程である。この工程は、下部配線11上に圧電体16を設置する工程である。次にステップS4に移行する。ステップS4は第1配線設置工程である。この工程は、圧電体16上に第1配線8及び第2配線9を設置する工程である。次にステップS5に移行する。
ステップS5は無機絶縁膜設置工程である。この工程は、第1配線8及び第2配線9に重ねて無機絶縁膜7を設置する工程である。次にステップS6に移行する。ステップS6は有機絶縁膜設置工程である。この工程は、無機絶縁膜7上に有機絶縁膜18を設置する工程である。次にステップS7に移行する。ステップS7は第2配線設置工程である。この工程は、有機絶縁膜18上に第3配線10を設置する工程である。次にステップS8に移行する。ステップS8は凹部設置工程である。この工程は、基板14に凹部14aを設置する工程である。以上の工程により超音波素子アレイが形成される。
次に、図9〜図22を用いて、図8に示したステップと対応させて、製造方法を詳細に説明する。
図9はステップS1の振動板設置工程に対応する図である。図9に示すように、基板14を用意する。そして、基板14上に振動板15を設置する。まず、基板14の表面に酸化シリコン層(SiO2)を積層し、酸化シリコン層の表面に酸化ジルコニウム層(ZrO2)を積層する。材料を積層する方法としてはスパッタ法やCVD(CVD(chemical vapor deposition)法を用いることができる。
図10はステップS2の下電極設置工程に対応する図である。図10に示すように、ステップS2において、振動板15上に下部配線11を設置する。まず、振動板15上に金属膜を設置する。本実施形態では、例えば、金属膜は酸化イリジウム上にプラチナが積層される。プラチナは白金とも称される。金属膜の設置方法は特に限定されないが本実施形態では、例えば、スパッタ法を用いて設置される。
次に、金属膜上に感光性のレジストを設置し、下部配線11の形状のマスクを重ねて露光する。次に、感光性のレジストをエッチングして除去し、さらに、レジストをマスクにして金属膜をエッチングした後でレジストを除去する。その結果、振動板15上に下部配線11が設置される。
図11〜図13はステップS3の圧電体設置工程に対応する図である。図11に示すように、ステップS3において、焦電体材料層22を設置する。焦電体材料層22は圧電体16の材料になる層であり、PZT膜の層である。焦電体材料層22はスパッタ法やゾルゲル法を用いて設置される。スパッタ法では特定成分のPZT焼結体をスパッタリングのターゲットとして用い、振動板15上にスパッタリングによりアモルファス状の圧電体膜前駆体膜を形成する。
次に、このアモルファス状の圧電体膜前駆体膜を加熱し結晶化し、焼結させる。この加熱は例えば、酸素または酸素とアルゴン等の不活性ガスとの混合ガス等の酸素雰囲気中において行われる。加熱工程では酸素雰囲気中で圧電体膜前駆体膜を500〜700℃の温度で加熱する。加熱によって圧電体膜前駆体膜を結晶化する。
ゾルゲル法では焦電体材料層22の材料となるチタン、ジルコニウム、鉛等の水酸化物の水和錯体であるゾルを作成する。このゾルを脱水処理してゲルとする。このゲルを加熱焼成して無機酸化物である焦電体材料層22を調製する。チタン、ジルコニウム、鉛、さらには他の金属成分のそれぞれのアルコキシドまたはアセテートを出発原料とする。この出発原料がゾルになっている。このゾルは有機高分子化合物と混合された組成物として用いられる。この有機高分子化合物は、乾燥及び焼成時に焦電体材料層22の残留応力を吸収し、焦電体材料層22にクラックが生ずる虞を低減する。
次に、基板14上にゾル組成物を塗布する。塗布方法には各種のコート法や印刷法が用いられる。塗布後ゾル組成物の膜を乾燥する。乾燥は自然乾燥、または80℃以上200℃以下の温度に加熱して乾燥する。次に、ゾル組成物の膜を焼成する。焼成温度は300〜450℃の範囲で10〜120分程度焼成する。焼成によりゾル組成物の膜がゲル化する。
次に温度を変えて再焼成する。焼成温度としては400〜800℃の範囲で、0.1〜5時間程度焼成する。再焼成では400〜600℃の範囲の温度の第一段階を行い。次に、600〜800℃以下の範囲の温度で第二段階を行う。これにより、多孔質ゲル薄膜が結晶質の金属酸化物からなる膜に変換される。この膜を積層膜にするときには出発原料の塗布から焼成までの工程を繰り返す。その後でプレアニールする。
図12に示すように、ステップS3において、上金属膜23を設置する。本実施形態では、例えば、上金属膜23はイリジウム膜、チタン膜、イリジウム膜がこの順に積層される。上金属膜23の設置方法は特に限定されないが本実施形態では、例えば、スパッタ法を用いて設置される。
図13に示すように、焦電体材料層22及び上金属膜23をパターニングする。上金属膜23の上にマスク膜の材料からなる膜を設置する。そして、フォトリソグラフィー法を用いて露光及び現像しマスク膜の材料からなる膜をパターニングしてマスク膜を形成する。詳しくは、まず、感光性のレジスト膜を設置し、圧電体16の形状のマスクを重ねて露光する。次に、レジスト膜をエッチングして除去し、マスク膜を設置する。マスク膜の形状は圧電体16の形状にする。
マスク膜をマスクにしたドライエッチング法を用いて焦電体材料層22の一部を除去する。ドライエッチングにより、焦電体材料層22及び上金属膜23がエッチングされて四角形になる。このとき、下部配線11の表面も少しエッチングされる。次に、剥離液を用いてマスク膜を剥離する。その結果、振動板15上に下部配線11、圧電体16及び第2電極13が形成される。尚、第2電極13は第1配線8のうち圧電体16と重なっている部分を示す。
図14及び図15はステップS4の第1配線設置工程に対応する図である。図14及び図15に示すように、ステップS4において、第1配線8及び第2配線9を設置する。まず、金属膜を成膜する。金属膜は第1配線8及び第2配線9の材料となる膜である。金属膜の成膜方法は特に限定されないが本実施形態では、例えば、スパッタ法を用いている。
次に、金属膜の上に感光性の材料からなる膜を成膜する。続いて、フォトリソグラフィー法を用いて露光及び現像し膜をパターニングしてマスク膜を形成する。マスク膜の形状を第1配線8及び第2配線9の形状にする。次に、マスク膜をマスクにして金属膜をドライエッチングする。その結果、金属膜から第1配線8及び第2配線9が形成される。ドライエッチングはウエットエッチングに比べて平面方向のオーバーエッチング量が少ないので微細なパターンを精度良く形成することができる。
図16及び図17はステップS5の無機絶縁膜設置工程に対応する図である。図16及び図17に示すように、ステップS5において、無機絶縁膜7を設置する。まず、第1配線8、第2配線9及び複数の圧電素子2に重ねて無機膜を設置する。圧電素子2は第1電極12、圧電体16、第2電極13が重ねて設置されている。無機膜はアルミナ(Al23)の膜であり、CVD法を用いて成膜する。次に、感光性の材料からなる膜を成膜する。続いて、フォトリソグラフィー法を用いて露光及び現像し膜をパターニングしてマスク膜を形成する。マスク膜の形状は第1開口部7a及び第2開口部7bを除去する形状にする。次に、マスク膜をマスクにして無機膜をドライエッチングする。その結果、無機膜から無機絶縁膜7が形成される。
図18及び図19はステップS6の有機絶縁膜設置工程に対応する図である。図18及び図19に示すように、ステップS6において、有機絶縁膜18を設置する。まず、無機絶縁膜7に重ねて有機ベタ膜を設置する。有機ベタ膜は感光性樹脂膜である。感光性樹脂材料を溶解した溶液を基板14に塗布する。塗布方法は溶液が所定の量が均等に塗布されれば良く特に限定されない。本実施形態では、例えば、スピンコーターを用いて溶液を塗布した。次に、溶液を乾燥して溶媒を除去する。
次に、有機ベタ膜を所定のパターンでマスクして露光する。さらに、有機ベタ膜をエッチングしてパターニングする。これにより、第3配線10bを設置する場所のうち隣り合う第1圧電素子3と第2圧電素子4との間を残して有機ベタ膜を除去する。その結果、無機絶縁膜7上には第2開口部7bと対向しない場所に有機絶縁膜18が設置される。これにより、圧電素子2と対向しない場所で第1配線8と対向する場所の一部の無機絶縁膜7上に有機絶縁膜18が設置される。
図20及び図21はステップS7の第2配線設置工程に対応する図である。図20及び図21に示すように、ステップS7において、第3配線10を設置する。まず、金属膜を成膜する。金属膜は第3配線10の材料となる金の膜である。金属膜の成膜方法は特に限定されないが本実施形態では、例えば、スパッタ法を用いている。
次に、金属膜をパターニングする。金属膜の上にマスク膜の材料からなる膜を設置する。そして、フォトリソグラフィー法を用いて露光及び現像しマスク膜の材料からなる膜をパターニングしてマスク膜を形成する。マスク膜の形状は第3配線10の形状にする。次に、マスク膜をマスクにして金属膜をウエットエッチングしさらにマスク膜を除去する。その結果、金属膜から第3配線10が形成され、有機絶縁膜18に重ねて第3配線10bが設置される。
図22はステップS8の凹部設置工程に対応する図である。図22に示すように、ステップS8において、基板14がパターニングされて、凹部14aが設置される。基板14上の−Z方向側の面にマスク膜の材料からなる膜を設置する。そして、フォトリソグラフィー法を用いて露光及び現像しマスク膜の材料からなる膜をパターニングしてマスク膜を形成する。マスク膜の形状は凹部14aが開口した平面形状にする。次に、マスク膜をマスクにして基板14をエッチングする。エッチング方法としては、例えば、湿式の異方性エッチング、平行平板型反応性イオンエッチング等の活性気体を用いた異方性エッチングを用いて、基板14のエッチングを行う。振動板15がエッチングストップ層として機能する。次に、マスク膜を除去する。その結果、基板14に凹部14aが形成される。以上の工程により超音波素子アレイ1が完成する。
上述したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、超音波素子アレイ1は第1圧電素子3〜第4圧電素子6を備え、各圧電素子2では圧電体16が第1電極12と第2電極13とに挟まれている。第1電極12と第2電極13の間に所定の波形の電圧を印加することにより圧電体16が振動して超音波を射出する。第1配線8は第1圧電素子3と第2圧電素子4とを接続する。第2配線9は第3圧電素子5と第4圧電素子6とを接続する。第3配線10bは第1配線8を跨いで第2配線9と接続する。第1配線8と第3配線10bとの間には絶縁膜21が位置し、絶縁膜21により第1配線8と第3配線10bとが短絡しないようになっている。
絶縁膜21は無機物からなる無機絶縁膜7と有機物からなる有機絶縁膜18とを有している。無機絶縁膜7は耐湿性があり水分が通過することを防止する。有機絶縁膜18は無機絶縁膜7より厚い膜であり電気的な耐圧性がある。従って、第1配線8と第3配線10bとが短絡し難い構造にできる。さらに、無機絶縁膜7は圧電素子2を覆っている。圧電素子2に水分が浸透すると振動する特性が劣化する。無機絶縁膜7は圧電素子2に水分が浸透することを抑制する。従って、超音波素子アレイ1は水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる。
(2)本実施形態によれば、有機絶縁膜18は圧電素子2と対向しない場所に設置されている。圧電素子2に有機絶縁膜18が重なっているとき有機絶縁膜18が振動の抵抗になる。本実施形態では圧電素子2に有機絶縁膜18が重なっていないので、圧電素子2が効率よく超音波を射出できる。
(3)本実施形態によれば、有機絶縁膜18は無機絶縁膜7に重ねて設置されている。有機膜上に無機膜は設置し難いが、無機膜上に有機膜を容易に設置することができる。従って、生産性良く絶縁膜21を設置することができる。
(4)本実施形態によれば、基板14には複数の圧電素子2が設置されている。各圧電素子2では第1電極12、圧電体16、第2電極13が重ねて設置されている。そして、第1圧電素子3と第2圧電素子4の各第2電極13は第1配線8によって接続されている。第1配線8上と圧電素子2上に無機物からなる無機絶縁膜7が設置される。次に、無機絶縁膜7上に有機物からなる有機絶縁膜18が設置される。この有機絶縁膜18は圧電素子2と対向しない場所で第1配線8と対向する場所に設置される。次に、第3配線10bが設置される。第3配線10bは有機絶縁膜18に重ねて設置される。
第3配線10bと第1配線8との間には無機絶縁膜7と有機絶縁膜18との絶縁膜21が設置されるので短絡が抑制される。そして、圧電素子2に重ねて無機絶縁膜7が設置されるので圧電素子2に水分が進入することが抑制される。圧電素子2に設置される無機絶縁膜7と第1配線8上に設置される無機絶縁膜7とは同じ工程で設置される。従って、圧電素子2に設置される無機絶縁膜7と第1配線8上に設置される無機絶縁膜7とを別の工程で設置するときに比べて工程の数を減らすことができる。従って、第1配線8と第3配線10とが短絡し難い超音波素子アレイ1を生産性良く製造することができる。
(第2の実施形態)
次に、超音波素子アレイの一実施形態について図23の超音波素子アレイの模式平面図を用いて説明する。本実施形態が第1の実施形態と異なるところは、6行12列の圧電素子2が配置されている点にある。尚、第1の実施形態と同じ点については説明を省略する。
すなわち、本実施形態では、図23に示すように、超音波素子アレイ24は長方形の平面形状をしており、長手方向をX方向とする。基板14の平面においてX方向と直交する方向をY方向とする。X方向及びY方向と直交する方向をZ方向とする。図中X方向を行方向25としY方向を列方向26とする。行方向25に並ぶ12個の圧電素子2の群を1つの行とし、列方向26に並ぶ6個の圧電素子2の群を1つの列とする。超音波素子アレイ24では基板14上に6行12列の圧電素子2が配置されている。
Y方向に並ぶ圧電素子2の行を−Y方向側から順に第1行27、第2行28、第3行29、第4行30、第5行31、第6行32とする。同様に、X方向に並ぶ圧電素子2の列を−X方向側から順に第1列33、第2列34、第3列35、第4列36、第5列37、第6列38、第7列39、第8列40、第9列41、第10列42、第11列43、第12列44、とする。
各圧電素子2は圧電体16を第1電極12及び第2電極13で挟んだ構造になっている。各行の圧電素子2の−Z方向側には共通配線47が設置され、各圧電素子2の第1電極12は共通配線47に接続されている。第1列33の−X方向側と第12列44の+X方向側には下接続配線48が設置されている。下接続配線48は各行毎に設置された共通配線47と接続されている。
−X方向側の下接続配線48の−X方向側には端子がY方向に並んで配置されている。この端子のうちの2つの共通端子49が共通配線47と接続されている。同様に、+X方向側の下接続配線48の+X方向側には端子がY方向に並んで配置されている。この端子のうちの2つの共通端子49が共通配線47と接続されている。従って、共通端子49の電位は各圧電素子2の第1電極12と同じ電位になる。
各列の圧電素子2において第1行27、第2行28及び第3行29の第2電極13は同じ第1上電極配線50により接続されている。同様に、各列の圧電素子2において第4行30、第5行31及び第6行32の第2電極13は同じ第2上電極配線51により接続されている。
第1列33及び第2列34の第1上電極配線50は第1接続配線52と接続され、第1接続配線52は第1端子53と接続されている。共通端子49と第1端子53とに電圧を印加するとき、第1列33及び第2列34において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
同様に、第3列35及び第4列36の第1上電極配線50は第2接続配線54と接続され、第2接続配線54は第2端子55と接続されている。共通端子49と第2端子55とに電圧を印加するとき、第3列35及び第4列36において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
同様に、第5列37及び第6列38の第1上電極配線50は第3接続配線56と接続され、第3接続配線56は第3端子57と接続されている。共通端子49と第3端子57とに電圧を印加するとき、第5列37及び第6列38において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
同様に、第7列39及び第8列40の第1上電極配線50は第4接続配線58と接続され、第4接続配線58は第4端子59と接続されている。共通端子49と第4端子59とに電圧を印加するとき、第7列39及び第8列40において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
同様に、第9列41及び第10列42の第1上電極配線50は第5接続配線60と接続され、第5接続配線60は第5端子61と接続されている。共通端子49と第5端子61とに電圧を印加するとき、第9列41及び第10列42において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
同様に、第11列43及び第12列44の第1上電極配線50は第6接続配線62と接続され、第6接続配線62は第6端子63と接続されている。共通端子49と第6端子63とに電圧を印加するとき、第11列43及び第12列44において第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2には同じ電圧が印加される。
第4行30、第5行31及び第6行32の圧電素子2と接続する接続配線及び端子は第1行27、第2行28及び第3行29の圧電素子2と接続する接続配線及び端子と同様の配置になっているので説明を省略する。
第2行28且つ第2列34の圧電素子2を第1圧電素子3とし、第1行27且つ第2列34の圧電素子2を第2圧電素子4とする。さらに、第2行28且つ第3列35の圧電素子2を第3圧電素子5とし、第1行27且つ第3列35の圧電素子2を第4圧電素子6とする。第1圧電素子3、第2圧電素子4、第3圧電素子5及び第4圧電素子6を含む圧電素子2がマトリックス状に配置されている。そして、第1圧電素子3と第2圧電素子4との間には第2接続配線54が1本のみ設置される。第2接続配線54は第1実施形態の第3配線10bに相当する。従って、各行の圧電素子2の間に複数の接続配線が設置された配置に比べて接続配線が占める面積を小さくすることができる。従って、基板14に占める圧電素子2の密度を高くすることができる。
第2行28且つ第11列43の圧電素子2を第1圧電素子3とし、第1行27且つ第11列43の圧電素子2を第2圧電素子4とする。さらに、第2行28且つ第10列42の圧電素子2を第3圧電素子5とし、第1行27且つ第10列42の圧電素子2を第4圧電素子6とする。このとき、第1圧電素子3及び第3圧電素子5を含む圧電素子2は行方向25に並んでおり、第1圧電素子3及び第2圧電素子4を含む圧電素子2は列方向26に並ぶ。そして、第5接続配線60は第1実施形態の第3配線10bに相当する。
−X方向を第1方向66とし、+X方向を第2方向67とする。第1方向66と第2方向67とは逆向きの方向になっている。隣り合う第1行27と第2行28との間には第1上電極配線50から第1方向66に延びる第2接続配線54が配置されている。さらに、隣り合う第1行27と第2行28との間には第1上電極配線50から第2方向67に延びる第5接続配線60が配置されている。
第2接続配線54と第5接続配線60とはともに第1行27と第2行28との間に位置しており第3配線10bに相当する。そして、第2接続配線54と第5接続配線60とは分離し、接続している第1上電極配線50に対して互いに逆方向に延びている。従って、第1行27と第2行28との間に位置する第3配線10bは第4配線としての第2接続配線54及び第5配線としての第5接続配線60の2系統の配線として機能する。そして、第2接続配線54は第3列35及び第4列36の第1上電極配線50と接続する。第5接続配線60は第9列41及び第10列42の第1上電極配線50と接続する。従って、第2接続配線54と第5接続配線60とはそれぞれ異なる列の圧電素子2に異なる電圧を通電することができる。
上述したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、複数の圧電素子2がマトリックス状に配置されている。そして、第2列34では第1圧電素子3と第2圧電素子4との間には第2接続配線54が1本のみ設置されている。従って、第1圧電素子3と第2圧電素子4との間に複数の配線が設置された配置に比べて配線が占める面積を小さくすることができる。従って、基板14に設置された圧電素子2の密度を高くすることができる。
(2)本実施形態によれば、圧電素子2はX方向及びY方向に並んでいる。そして、隣り合う第1行27と第2行28との行間には第2接続配線54または第5接続配線60が設置されている。第2接続配線54は第1上電極配線50から行方向25の第1方向66に延びており、第5接続配線60は第1方向66と逆向きの第2方向67に延びている。従って、行間に位置する配線は第2接続配線54及び第5接続配線60の2系統の配線として機能する。第1上電極配線50はY方向に延びる配線である。そして、第2接続配線54及び第5接続配線60はY方向に延びる第1上電極配線50と接続されている。従って、行間に設置された配線は列方向26に延びる異なる列の圧電素子2に異なる電圧を通電することができる。そして、第1方向66に設置された端子と第2方向67に設置された端子から別の列の圧電素子2に異なる電圧を通電することができる。
(第3の実施形態)
次に、超音波素子アレイを備えた超音波画像装置の一実施形態について図24の超音波画像装置の構造を示す概略斜視図を用いて説明する。尚、第2の実施形態と同じ点については説明を省略する。
すなわち、本実施形態では、図24に示すように、超音波装置としての超音波画像装置70は超音波プローブ71、画像データ演算部72及び画像表示部73を備えている。超音波プローブ71は超音波を被検体74に送信する。そして、超音波プローブ71は被検体74の内部にて反射する超音波の反射波を受信して画像データ演算部72に反射波信号を出力する。画像データ演算部72は反射波信号を用いて被検体74の断面画像データを演算する。そして、画像データ演算部72は断面画像を画像表示部73に出力する。画像表示部73は被検体74の断面画像を表示する。
超音波プローブ71には超音波素子アレイ1または超音波素子アレイ24が用いられている。超音波素子アレイ1及び超音波素子アレイ24は水分及び電圧に対して耐性が高く信頼性の高い超音波素子アレイである。従って、超音波画像装置70及び超音波プローブ71は水分及び電圧に対して耐性が高い超音波素子アレイを備えた装置とすることができる。
尚、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で当分野において通常の知識を有する者により種々の変更や改良を加えることも可能である。変形例を以下に述べる。
(変形例1)
前記第1の実施形態では、圧電素子2がマトリックス状に配置された。圧電素子2の配置はマトリックス状に限定されない。例えば、同心円状でも良く、正弦波に沿った配置にしても良い。他にも、放射状に設置されても良い。このときにも交差する配線の間に無機膜と有機膜との絶縁膜を設置することにより水分及び電圧に対して耐性を高くすることができる。
(変形例2)
前記第1の実施形態では、無機絶縁膜7と第3配線10bとの間にのみ有機絶縁膜18を設置した。有機絶縁膜18は圧電素子2と対向する場所以外の無機絶縁膜7上に設置しても良い。有機絶縁膜18を保護膜として用いることができる。
(変形例3)
前記第2の実施形態では、圧電素子2間に1つの配線のみを配置した。圧電素子2の素子数が多いときには圧電素子2間に複数の配線を設置しても良い。個別に駆動する圧電素子2の数を増やすことができる。
(変形例4)
前記第2の実施形態では、X方向に接続配線が延びる配置となっており、X方向の両側に端子が設置されていた。他にも、X方向に変えてY方向に接続配線が延びる配置にして、Y方向の両側に端子が設置されても良い。超音波プローブの形態に合った配置にしても良い。
1…超音波素子アレイ、2…圧電素子、3…第1圧電素子、4…第2圧電素子、5…第3圧電素子、6…第4圧電素子、7…無機膜としての無機絶縁膜、8…第1配線、9…第2配線、10b…第3配線、12…電極としての第1電極、13…電極としての第2電極、16…圧電体、18…有機膜としての有機絶縁膜、21…絶縁膜、25…行方向、26…列方向、70…超音波装置としての超音波画像装置。

Claims (8)

  1. 2つの電極に圧電体が挟まれた第1圧電素子、第2圧電素子、第3圧電素子及び第4圧電素子と、
    前記第1圧電素子と前記第2圧電素子とを接続する第1配線と、
    前記第3圧電素子と前記第4圧電素子とを接続する第2配線と、
    前記第1配線を跨いで前記第2配線と接続する第3配線と、
    前記第1配線と前記第3配線との間に位置する絶縁膜と、を備え、
    前記絶縁膜は無機物からなる無機膜と有機物からなる有機膜とを有し、
    前記無機膜は前記圧電素子を覆うことを特徴とする超音波素子アレイ。
  2. 請求項1に記載の超音波素子アレイであって、
    前記有機膜は隣り合う前記圧電体の間に設置されていることを特徴とする超音波素子アレイ。
  3. 請求項1または2に記載の超音波素子アレイであって、
    前記有機膜は前記無機膜に重ねて設置されていることを特徴とする超音波素子アレイ。
  4. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の超音波素子アレイであって、
    前記第1圧電素子、前記第2圧電素子、前記第3圧電素子及び前記第4圧電素子を含む圧電素子がマトリックス状に配置され、
    前記第1圧電素子と前記第2圧電素子との間には1本の配線が設置されることを特徴とする超音波素子アレイ。
  5. 請求項4に記載の超音波素子アレイであって、
    前記第1圧電素子及び前記第3圧電素子を含む圧電素子は行方向に並んでおり、前記第1圧電素子及び前記第2圧電素子を含む前記圧電素子は前記行方向と直交する列方向とに並んでおり、
    隣り合う前記圧電素子の行と行との間には前記行方向の第1方向に延びる第4配線または前記第4配線と分離し前記第1方向と逆向きの第2方向に延びる第5配線が設置されていることを特徴とする超音波素子アレイ。
  6. 超音波を出力する超音波素子アレイを備え、
    前記超音波素子アレイが請求項1〜5のいずれか一項に記載の超音波素子アレイであることを特徴とする超音波プローブ。
  7. 超音波を出力する超音波素子アレイを備え、
    前記超音波素子アレイが請求項1〜5のいずれか一項に記載の超音波素子アレイであることを特徴とする超音波装置。
  8. 2つの電極に圧電体が挟まれた複数の圧電素子の各前記電極と接続する第1配線上と前記圧電素子上とに無機物からなる無機膜を設置し、
    隣り合う前記圧電体の間の一部の前記無機膜上に有機物からなる有機膜を設置し、
    前記有機膜に重ねて第3配線を設置することを特徴とする超音波素子アレイの製造方法。
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US4756808A (en) * 1985-05-31 1988-07-12 Nec Corporation Piezoelectric transducer and process for preparation thereof
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US20110062824A1 (en) * 2009-09-15 2011-03-17 Fujifilm Corporation Ultrasonic transducer, ultrasonic probe and producing method
JP5421766B2 (ja) 2009-12-29 2014-02-19 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波アレイセンサおよび超音波測定方法
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JP6828389B2 (ja) * 2016-11-16 2021-02-10 セイコーエプソン株式会社 超音波トランスデューサーデバイス、超音波プローブおよび超音波装置

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