JP2017151702A - 表示装置 - Google Patents

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Kenta Seki
健太 関
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Hajime Koide
元 小出
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Hayato Kurasawa
隼人 倉澤
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Abstract

【課題】 表示装置の表示品位を改善すること。【解決手段】 一実施形態の表示装置は、複数の映像信号線と、複数の走査信号線と、各映像信号線と各走査信号線が交差することで形成された複数の画素と、各画素を含む表示領域と、各画素に形成された複数の画素電極と、各画素電極に対向する複数の共通電極とを備える。この表示装置において、複数の共通電極は、表示領域への物体の接触又は近接を検出する電極の機能と、表示領域に画像を表示する電極の機能とを兼ねている。各共通電極は、第1方向に並ぶ第1共通電極と第2共通電極とを含む。第1共通電極と第2共通電極の間に第1スリットが形成されている。第1共通電極と第2共通電極は電気的に独立している。第1共通電極内に第2スリットが形成されている。第1スリットと第2スリットは、映像信号線と重畳し、映像信号線の延在方向に延びている。【選択図】 図5

Description

本発明の実施形態は、表示装置に関する。
近年、表示領域に配置された共通電極を、画素電極との間で電界を形成する表示用の電極、及び、表示領域に接触又は近接する物体の検出用の電極の双方として機能させる表示装置が開発されている。
例えば特許文献1においては、走査信号線(ゲート線)の延在方向に延びるとともに映像信号線(ソース線)の延在方向に並ぶ複数の共通電極を備え、この共通電極を物体の検出に用いる液晶表示装置が開示されている。この液晶表示装置においては、各共通電極の間に、走査信号線の延在方向に延びるスリットが形成される。このスリットが設けられた領域と他の領域では、液晶分子の配向が異なり得る。そこで、特許文献1では、共通電極内にもスリットを設けることで、表示領域全体におけるスリットの影響の均一化を試みている。
共通電極に検出用の電極としての機能を持たせるに際し、各共通電極が映像信号線の延在方向に延びるとともに走査信号線の延在方向に並ぶ構成を採用すれば、狭額縁化などの観点から有利である。このような構造においては、隣り合う共通電極の間のスリットが映像信号線に沿って延びるため、映像信号線からの電界がスリットを介して漏れて表示に影響を及ぼし得る。したがって、この種の表示装置においても、表示品位を改善するための手段を講じる必要がある。
特開2012−47801号公報
本開示の一態様における目的は、表示領域に接触又は近接する物体を検出する機能を備えた表示装置において、表示品位を改善することである。
一実施形態に係る表示装置は、複数の映像信号線と、複数の走査信号線と、上記複数の映像信号線と上記複数の走査信号線とが交差することによって形成された複数の画素と、上記複数の画素を含む表示領域と、上記複数の画素の各々に形成された複数の画素電極と、上記複数の画素電極に対向する複数の共通電極と、を備える。この表示装置において、上記複数の共通電極は、上記表示領域への物体の接触又は近接を検出する電極としての機能と、上記表示領域に画像を表示する電極としての機能とを兼ねている。上記複数の共通電極は、第1方向に並ぶ第1共通電極と第2共通電極とを含む。上記第1共通電極と上記第2共通電極の間に第1スリットが形成されている。上記第1共通電極と上記第2共通電極は、電気的に独立している。上記第1共通電極内に第2スリットが形成されている。上記第1スリットと上記第2スリットは、上記映像信号線と重畳し、上記映像信号線の延在方向に延びている。
図1は、第1実施形態に係る表示装置の概略構成を示す図である。 図2は、上記表示装置の画像表示に関わる等価回路を示す図である。 図3は、副画素に適用し得る構造の一例を概略的に示す平面図である。 図4は、図3のIV−IV線に沿う断面を示す図である。 図5は、複数の共通電極の概略的な形状を示す平面図である。 図6は、共通電極のより詳細な構造を示す図である。 図7は、共通電極間のスリットの影響を説明する図である。 図8は、スリットに起因したスジに関する実験結果を示すグラフである。 図9は、表示装置の性能とスリット間の画素数の関係を示すグラフである。 図10は、金属配線と共通電極のレイアウトの一例を示す平面図である。 図11は、第2実施形態の構成を概略的に示す平面図である。 図12は、第3実施形態の構成を概略的に示す平面図である。 図13は、第4実施形態の構成を概略的に示す平面図である。 図14は、図13のXIV−XIV線に沿う断面を示す図である。
いくつかの実施形態につき、図面を参照しながら説明する。
なお、開示はあくまで一例に過ぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有される。また、図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べて模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。各図において、連続して配置される同一又は類似の要素については符号を省略することがある。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同一又は類似した機能を発揮する構成要素には同一の参照符号を付し、重複する詳細な説明を省略することがある。
各実施形態においては、表示装置の一例として、タッチ検出機能を有した液晶表示装置を開示する。ただし、各実施形態は、他種の表示装置に対する、各実施形態にて開示される個々の技術的思想の適用を妨げるものではない。他種の表示装置としては、有機エレクトロルミネッセンス表示装置などの自発光型の表示装置、或いは電気泳動素子等を有する電子ペーパ型の表示装置などが想定される。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る表示装置1の概略構成を示す図である。表示装置1は、表示パネル2と、複数の共通電極CEと、各共通電極CEと対向する複数の検出電極RXと、画像表示を制御するドライバIC3と、タッチ検出を制御するタッチ検出IC4とを備えている。
表示パネル2は、アレイ基板AR(第1基板)と、アレイ基板ARよりも外形が小さい対向基板CT(第2基板)と、各基板AR,CTの間に配置された液晶層(後述の液晶層LC)とを備えている。各基板AR,CTの対向領域において、表示パネル2は、画像を表示する表示領域DAと、表示領域DAの外側の周辺領域SAとを有している。さらに、アレイ基板ARは、対向基板CTと対向しない端子領域NAを有している。
各検出電極RXは、表示領域DAにおいて、第1方向D1に延びるとともに第2方向D2に並んでいる。各共通電極CEは、表示領域DAにおいて、第2方向D2に延びるとともに第1方向D1に並んでいる。本実施形態では、各方向D1,D2が垂直に交わる。各方向D1,D2は垂直以外の角度で交わっても良い。
ドライバIC3は、例えば端子領域NAに実装されている。端子領域NAには、画像データを表示パネル2に供給する第1フレキシブル配線基板6が実装端子5を介して接続されている。対向基板CTの端部には、検出電極RXからの検出信号を出力する第2フレキシブル配線基板8が実装端子7を介して接続されている。各検出電極RXは、例えば周辺領域SAに形成された検出配線DLを介して実装端子7と接続されている。
図2は、表示装置1の画像表示に関わる概略的な等価回路を示す図である。表示装置1は、第1ドライバDR1と、第2ドライバDR2と、第1ドライバDR1に接続された複数の走査信号線Gと、第2ドライバDR2に接続された複数の映像信号線Sとを備えている。各走査信号線Gは、表示領域DAにおいて第1方向D1に延びるとともに第2方向D2に並んでいる。各映像信号線Sは、表示領域DAにおいて第2方向D2に延びるとともに第1方向D1に並び、各走査信号線Gと交差している。
各走査信号線G及び各映像信号線Sで区画された領域は、副画素SPに相当する。本実施形態においては、1つの画素PXが赤色、緑色、青色をそれぞれ表示する副画素SPR,SPG,SPBを1つずつ含む場合を想定する。但し、画素PXは白色を表示する副画素SP等をさらに含んでも良いし、同一色に対応する複数の副画素SPを含んでも良い。
各副画素SPは、スイッチング素子SWと、共通電極CEに対向する画素電極PEとを備えている。スイッチング素子SWは、走査信号線G、映像信号線S、及び画素電極PEと電気的に接続されている。第1ドライバDR1は各走査信号線Gに対して走査信号を供給し、第2ドライバDR2は各映像信号線Sに対して映像信号を供給する。画素電極PEと共通電極CEとの間に生じる電界が液晶層LCに作用することにより、表示領域DAに画像が表示される。
共通電極CEは、表示用の電極として機能するとともに、表示領域DAに接触又は近接するユーザの指などの物体(導体)の検出用の電極としても機能する。ドライバIC3は、検出に際して各共通電極CEに駆動信号を順次供給する。各検出電極RXは各共通電極CEと容量結合している。各検出電極RXは、共通電極CEに供給された駆動信号に応じた検出信号を出力する。タッチ検出IC4は、この検出信号に基づいて、表示領域DAに接触又は近接する物体を検出する。なお、ここで説明した検出方式は一例であり、他の検出方式を適用することも可能である。例えば、検出電極RX或いは共通電極CE自体が有する容量(自己容量)を利用して物体を検出する方式を採用することもできる。
図3は、副画素SPに適用し得る構造の一例を概略的に示す平面図である。副画素SPは、隣り合う2本の走査信号線Gと、隣り合う2本の映像信号線Sとで区画されている。この図の例においては、映像信号線Sが屈曲しながら第2方向D2に延びている。副画素SPは、映像信号線Sの延在方向に長尺な2本の枝部BPを備えている。画素電極PEの形状はここに示したものに限定されず、より多くの枝部BPを有しても良い。画素電極PEに対向して、共通電極CEが配置されている。
第1方向D1に隣り合う副画素SPの境界には、金属配線MLが配置されている。金属配線MLは、映像信号線Sと対向して映像信号線Sの延在方向に延びている。図3の例において、金属配線MLは映像信号線Sと平面視で完全に重なっている。但し、金属配線MLと映像信号線Sとは、平面視で部分的に重なっていても良い。
副画素SPの境界には、遮光層BMが形成されている。図3においては、遮光層BMの輪郭を1点鎖線にて示している。平面視において、遮光層BMは、走査信号線G、映像信号線S、及び金属配線MLと重畳するとともに、副画素SP内で開口している。
図4は、図3におけるIV−IV線に沿う断面を示す図である。アレイ基板ARは、第1絶縁基板10と、第1絶縁層11と、第2絶縁層12と、第3絶縁層13と、第1配向膜14と、映像信号線Sと、画素電極PEと、共通電極CEとを備えている。
第1絶縁層11は第1絶縁基板10の一面を覆っている。映像信号線Sは、第1絶縁層11の上に形成されている。第2絶縁層12は、第1絶縁層11及び映像信号線Sを覆っている。共通電極CEは、第2絶縁層12の上に形成されている。金属配線MLは、共通電極CEの上に形成されている。第3絶縁層13は、金属配線ML及び共通電極CEを覆っている。画素電極PEは、第3絶縁層13の上に形成されている。第1配向膜14は、画素電極PE及び第3絶縁層13を覆っている。画素電極PE及び共通電極CEは、例えばインジウム・ティン・オキサイド(ITO)等の透明導電材料で形成することができる。
対向基板CTは、第2絶縁基板20と、カラーフィルタ21と、平坦化層22と、第2配向膜23と、遮光層BMとを備えている。遮光層BM及びカラーフィルタ21は、第2絶縁基板20の一面に形成されている。平坦化層22は、カラーフィルタ21を覆っている。第2配向膜23は、平坦化層22を覆っている。
液晶層LCは、第1配向膜14と第2配向膜23の間に封入されている。検出電極RXは、例えば第2絶縁基板20の外面に形成されている。
図4に示すように、金属配線MLと共通電極CEとは接触している。これにより、金属配線MLと共通電極CEとが電気的に接続される。なお、金属配線MLは、第2絶縁層12と共通電極CEの間に形成されても良い。
ここで、共通電極CEの構成について説明する。図5は、第2方向D2に並ぶ複数の共通電極CEの概略的な形状を示す平面図である。隣り合う共通電極CEの間には、第1スリットSL1が形成されている。また、各共通電極CE内には、複数の第2スリットSL2(ダミースリット)が形成されている。各スリットSL1,SL2は、いずれも第2方向D2(映像信号線Sの延在方向)に延び、平面視において映像信号線Sと重畳している。
第1スリットSL1は、各共通電極CEを物理的に分離している。すなわち、隣り合う共通電極CEは、第1スリットSL1により電気的に独立している。一方で、第2スリットSL2は、各共通電極CEを完全には分離しない。すなわち、第2スリットSL2の左右に存在する共通電極CEの部分同士は、電気的に接続されている。なお、電気的に独立としている関係とは、互いに異なる電位を供給することが可能な関係をいう。
第1スリットSL1の第1方向D1における幅はW1であり、第2スリットSL2の第1方向D1における幅はW2である。幅W1と幅W2は、例えば同じである。但し、第1スリットSL1を介して隣り合う共通電極CEは確実に絶縁する必要があることから、幅W1を幅W2より大きくしても良い(W1>W2)。
各スリットSL1,SL2は、ピッチPで第1方向D1に並んでいる。すなわち、第1スリットSL1とこの第1スリットSL1に隣り合う第2スリットSL2との間隔、及び、隣り合う第2スリットSL2同士の間隔は、いずれも同じである。
図6は、共通電極CEのより詳細な構造を示す図である。ここでは、1本の第1スリットSL1と、1本の第2スリットSL2とを示している。各スリットSL1,SL2は、例えば図3に示した映像信号線Sと同じく、屈曲しながら第2方向D2に延びている。
表示領域DAにおいて、これらスリットSL1,SL2の間には、画素PXが配列されている。図6の例では、画素PXにおいて、副画素SPR(R),SPG(G),SPB(B)が第1方向D1に並んでいる。
各スリットSL1,SL2は、第1方向D1に隣り合う画素PXの境界に形成されている。したがって、図6の例では、副画素SPR,SPBの間にスリットSL1,SL2が延在している。なお、スリットSL1,SL2は、他の色の副画素SPの間に延在しても良い。
共通電極CEは、第1領域A1と、第1領域A1に隣り合う第2領域A2と、第2領域A2に隣り合う第3領域A3とを有している。各領域A1〜A3は、第2方向D2に並んでいる。第1領域A1は、図中の上側(端子領域NAの反対側)の周辺領域SAに位置している。第3領域A3は、図中の下側(端子領域NA側)の周辺領域SAに位置している。第2領域A2は、表示領域DAに位置している。図6の例では、第2領域A2は、上下の周辺領域SAの一部にも及んでいる。
第1領域A1及び第3領域A3は、第2スリットSL2が形成されない領域である。一方で、第2領域A2は、第2スリットSL2が形成される領域である。このような構成においては、第2スリットSL2を介して隣り合う共通電極CEの一部同士は、上下の周辺領域SAにおいて接続される。
上述の遮光層BMは、周辺領域SAにも形成されている。図6における1点鎖線は、周辺領域SAに形成された遮光層BMの縁部を示す。ここでは表示領域DAに形成される遮光層BMの図示を省略している。第1領域A1及び第3領域A3は、平面視において遮光層BMと重畳している。
なお、第2スリットSL2を介して隣り合う共通電極CEの一部同士の接続態様は、ここで挙げた例に限られない。例えば、これら一部同士は、上下のいずれか一方の周辺領域SAのみで接続されても良いし、表示領域DAにおいて例えば走査信号線Gと重畳する位置で接続されても良い。
ここで、第1スリットSL1が表示品位に与え得る影響につき、図7を用いて説明する。この図においては、表示パネル2の平面形状を示している。表示領域DAに、例えば白色の画像である矩形状の高輝度領域HAと、その周囲の低輝度領域LAとが表示されている場合を想定する。
上述のように、第1スリットSL1は、映像信号線Sと平面視で重畳する。そのため、第1スリットSL1を介して映像信号線Sと画素電極PEとの間で電界が生じ、この電界が液晶層LCに作用する。これにより、第1スリットSL1に沿った不所望なスジが視認され得る。
このスジは、高輝度領域HAを通る映像信号線S(本実施形態では青副画素用の映像信号線とする)と重畳する第1スリットSL1において顕著となる。図7の例では、高輝度領域HAの下側(端子領域NA側)の領域MA1に生じたスジL1と、上側(端子領域NAの反対側)の領域MA2に生じたスジL2とを示している。スジL1,L2から漏れる光の色は、第1スリットSL1を介して隣り合う副画素SPの色(本実施形態では赤と青)の中間調となる。また、端子領域NAから離れるほど映像信号線Sに印加された電圧は弱まるため、スジL1よりもスジL2の方が映像信号線Sからの電界漏れが少ない。この場合、例えば、低輝度領域LAが青色であれば、青色用の電界漏れの影響でスジL1は、輝度の高い明線となり、電界漏れの影響が少ないスジL2は、スジL1よりも輝度の低い暗線となる。また、低輝度領域LAが赤色であれば、青色用の電界漏れは、赤色表示に影響を与えるためスジL1は暗線となり、電界漏れの影響が少ないスジL2は、スジL1よりも明線となる。
本実施形態では、第1スリットSL1の間に第2スリットSL2が設けられている。この場合、第2スリットSL2においても、同様のスジが生じる。但し、各スリットSL1,SL2によるスジは、第2スリットSL2を設けない場合に比べて小さいピッチ(高周波数)で並ぶ。このピッチを十分に小さくすることで、人の目では個々のスジを視認できなくなり、画質への影響を抑えることができる。
発明者らは、各スリットSL1,SL2のピッチPと、スジの視認性との関連性を実験により検証した。図8は、この実験の結果を示すグラフである。実験は、ピッチPを複数通りに変化させ、各ピッチPにおいて生じるスジを複数人で観察することにより行った。横軸はピッチP[μm]であり、縦軸はスジを視認できた人の割合(視認率)である。
ピッチPが2000μmと大きい場合には、視認率が略100%となった。ピッチPを低下させるほど視認率は低下し、180μm付近では十分に低い値となり、さらに150μm以下では0%となった。この結果から、ピッチPは180μm以下であれば十分であり、150μmとすれば一層好適である。
なお、ピッチPを小さくし過ぎると、スジは視認できないものの、電界漏れの影響を受ける副画素が増え過ぎてしまう。この結果、図7に示した領域MA1,MA2の表示色が目標の表示色と異なってしまう可能性がある。この現象を防ぐために、ピッチPは、180μm以下或いは150μm以下の条件のもとで、出来るだけ大きい方が良い。例えば、ピッチPは80μm以上であることが好ましい。ピッチPを100μm以上とすれば一層好適である。
各スリットSL1,SL2は、画素PXの境界に形成することが好ましい。これにより、各スリットSL1,SL2を介して隣り合う副画素SPの色が統一されるので、各スジの色が近くなり、ピッチPを高めた際にスジの視認性が低下し易くなる。また、各スリットSL1,SL2と重畳する映像信号線Sは、同一色用の映像信号線Sであるとよい。例えば、共に青副画素用の映像信号線Sであるとよい。
各スリットSL1,SL2を画素PXの境界に形成する場合、ピッチPは画素PXのサイズによる制約を受ける。図9は、表示装置1のppi(pixel per inch)と、各スリットSL1,SL2の間に配置すべき画素PXの数(画素数m)との関係を示すグラフである。ここでは、ピッチPを150μm以下の範囲で出来る限り大きくする場合を想定している。このグラフから分かるように、350ppi程度以下の表示装置であればm=1とすれば良く、650ppi程度以上の高精細な表示装置であればm=4とすれば良い。また、これらの間のppiにおいては、m=3、4と段階的に定めれば良い。
ここで、画素PXに含まれる副画素SPの数をn個と定義する。各スリットSL1,SL2を画素PXの境界に形成する場合、隣り合うスリットSL1,SL2の間、及び、隣り合う2本の第2スリットSL2の間において第1方向D1に並ぶ副画素SPの数は、nの整数倍となる。本実施形態では、n=3である。
第1方向D1において、1つの共通電極CEと重畳する画素PXの数(重畳画素数q)と上述の画素数mとの関係次第では、ピッチPを一定にできない箇所が生じ得る。例えばm=3の場合においてq=43であれば、少なくとも一箇所において、隣り合うスリット間の画素PXの数を2個又は4個に調整しなければならない。この場合、ピッチPの周期性が崩れるので、当該調整した箇所に応じたスジが視認され得る。そこで、重畳画素数qが画素数mの整数倍となるように共通電極CEの形状等を定めることが好ましい。この場合には、ピッチPを一定に定めることが可能である。
各共通電極CEの重畳画素数qは、異なる値であっても良い。この場合であっても、各共通電極CEの重畳画素数qをそれぞれ画素数mの整数倍とすれば良い。例えば、m=3の場合において、ある共通電極CEの重畳画素数q1を42個とし、その隣の共通電極CEの重畳画素数q2を45個とすれば、これら共通電極CEに亘ってピッチPを一定にできる。
続いて、金属配線ML及び共通電極CEの関係の詳細について説明する。図10は、金属配線ML及び共通電極CEのレイアウトの一例を概略的に示す平面図である。ここでは、連続する3本の走査信号線Gの近傍における2つの共通電極CEと金属配線MLの一部とを示している。これら2つの共通電極CEを、第1共通電極CE1及び第2共通電極CE2と呼ぶ。
金属配線MLは、各スリットSL1,SL2が形成されていない位置のみならず、各スリットSL1,SL2が形成された位置にも設けられている。以下、各共通電極CE1,CE2の間の第1スリットSL1に対応する金属配線MLを第1金属配線ML1と呼び、第1共通電極CE1が有する第2スリットSL2に対応する金属配線MLを第2金属配線ML2と呼ぶ。
共通電極CEは、複数の構成電極SEで構成されている。構成電極SEは、隣り合う2本の走査信号線Gと、隣り合う2本のスリット(SL1とSL2、或いはSL2とSL2)とで区画される領域に相当する。図10においては、6つの構成電極SEを示している。以下、これら構成電極SEを、第1乃至第6構成電極SE1〜SE6と呼ぶ。
各構成電極SE1,SE2,SE4,SE5は第1共通電極CE1に含まれ、各構成電極SE3,SE6は第2共通電極CE2に含まれる。第1構成電極SE1と第2構成電極SE2は、第2スリットSL2を介して隣り合う。第2構成電極SE2と第3構成電極SE3は、第1スリットSL1を介して隣り合う。第4構成電極SE4と第5構成電極SE5は、第2スリットSL2を介して隣り合う。第5構成電極SE5と第6構成電極SE6は、第1スリットSL1を介して隣り合う。第1構成電極SE1と第4構成電極SE4、第2構成電極SE2と第5構成電極SE5、第3構成電極SE3と第6構成電極SE6は、いずれも第2方向D2において隣り合う。
第1金属配線ML1は、第1スリットSL1の一部を覆っている。第1金属配線ML1は、各構成電極SE3,SE6の縁部に接するとともに、各構成電極SE2,SE5との間に隙間を有している。
第2金属配線ML2は、第2スリットSL2の一部を覆っている。第2金属配線ML2は、各構成電極SE1,SE4の縁部に接するとともに、各構成電極SE2,SE5との間に隙間を有している。
例えば、第1金属配線ML1が第1スリットSL1と重畳する幅は、第1金属配線ML1が各構成電極SE3,SE6と重畳する幅よりも大きい。第2金属配線ML2と第2スリットSL2及び各構成電極SE1,SE4との関係も同様である。各共通電極CE1,CE2の短絡を防ぐ観点から、第1金属配線ML1の幅を第2金属配線ML2や他の金属配線MLに比べて小さくしても良い。
図10の例において、各スリットSL1,SL2の左方の副画素は副画素SPBであり、右方の副画素は副画素SPRである。本実施形態においては、金属配線MLが副画素SPB側の構成電極SEの縁部と接するスリットと、副画素SPR側の縁部に接するスリットとが、第1方向D1において交互に繰り返される。
なお、図10においては3本の走査信号線Gの間のレイアウトのみを示しているが、金属配線MLの配置態様は、例えば金属配線MLの全長に亘って同一である。
仮に、各スリットSL1,SL2に金属配線MLを配置しない場合には、表示領域DAを視認する視野角に応じて、画素PXの表示色が目標の色から異なる色へシフトし得る。これは、副画素SPBの領域においてアレイ基板AR側から入射した光が副画素SPRと対向するカラーフィルタ21を通過したり、この逆が生じたりすることに起因する。本実施形態では、各スリットSL1,SL2に配置した金属配線MLが副画素SPR,SPBの境界において遮光層として機能するために、このような色シフトが抑制される。
また、仮にスリットSL1,SL2において金属配線MLを副画素SPR,SPBのいずれか一方側に統一して配置した場合、色シフトの防止機能が副画素SPR,SPBのいずれか一方に偏る可能性がある。この点、図10の構成では、スリットごとに金属配線MLの配置位置を変えているので、色シフトの影響を副画素SPR,SPBに分散することができる。
以上説明したように、本実施形態においては、共通電極CEに映像信号線Sと重畳する第2スリットSL2を設けたこと、さらには各スリットSL1,SL2のピッチPや金属配線MLの配置態様を工夫したことにより、表示装置1の表示品位を高めることができる。その他にも、本実施形態からは種々の好適な効果を得ることができる。
(第2実施形態)
第2実施形態について説明する。第1実施形態と同一又は類似の要素には同一の符号を付す。また、特に言及しない構成は第1実施形態と同様である。
図11は、第2実施形態の構成を概略的に示す平面図である。ここでは、第1スリットSL1を介して隣り合う第1共通電極CE1及び第2共通電極CE2の一部に着目している。
表示領域DAには、多数の第1スペーサSP1及び第2スペーサSP2が配置されている。例えば、第1スペーサSP1はアレイ基板ARに形成され、第2スペーサSP2は対向基板CTに形成されている。各スペーサSP1,SP2は、アレイ基板ARと対向基板CTの間において互いに接触し、第1配向膜14と第2配向膜23との間にセルギャップを形成する。
各スペーサSP1,SP2の形成位置は、例えば、走査信号線G、映像信号線S、及び遮光層BMと平面視において重畳する位置である。図11の例では、第1スペーサSP1が第2方向D2に長尺であり、第2スペーサSP2が第1方向D1に長尺である。このような形状であれば、各スペーサSP1,SP2が十分なマージンを有して接触する。そのため、製造誤差で各スペーサSP1,SP2の位置がずれたり、外力により対向基板CTとアレイ基板ARが相対的にずれたりした場合であっても、セルギャップを良好に保つことができる。
本実施形態において、第1スリットSL1の近傍の第1金属配線ML1は、基本的には第1実施形態と同じく第1スリットSL1に沿って連続的に延びている。但し、第1金属配線ML1は、平面視において第1スペーサSP1と重畳しないように、第1スペーサSP1の近傍で分断されている。さらに、第1スペーサSP1の近傍において、各共通電極CE1,CE2は凹部RPを有している。第1スペーサSP1は、これら凹部RPで囲われた領域に形成されているため、各共通電極CE1,CE2と重畳しない。
本実施形態のように、第1スペーサSP1と、各共通電極CE1,CE2及び第1金属配線ML1とが重畳しなければ、第1スペーサSP1の高さを正確に定めることができる。
なお、図11では第1スリットSL1と重畳するスペーサSP1,SP2に着目したが、第2スリットSL2と重畳するスペーサSP1,SP2の近傍の構成も同様である。さらに、各スリットSL1,SL2と重畳しない金属配線MLについても同様に、第1スペーサSP1の位置で金属配線MLが分断されている。この場合には、第1スペーサSP1と共通電極CEとが重畳しないように、第1スペーサSP1の近傍で共通電極CEを開口させれば良い。
本実施形態では、2つのスペーサSP1,SP2によりセルギャップが形成される場合を想定したが、アレイ基板AR或いは対向基板CTから延出する1つのスペーサでセルギャップが形成されても良い。この場合でも、当該スペーサの近傍で、図11と同様の構成を適用することができる。
(第3実施形態)
第3実施形態について説明する。第1実施形態と同一又は類似の要素には同一の符号を付す。また、特に言及しない構成は第1実施形態と同様である。
図12は、第3実施形態における金属配線ML及び共通電極CEのレイアウトの一例を概略的に示す平面図である。この図の例は、各スリットSL1,SL2の近傍で金属配線MLが断続的に形成されている点で、図10に示した例と異なる。
図12においては、第1スリットSL1の近傍に第1金属配線ML1及び第3金属配線ML3が配置され、第2スリットSL2の近傍に第2金属配線ML2及び第4金属配線ML4が配置されている。各金属配線ML1〜ML4は、隣り合う走査信号線Gの間で各スリットSL1,SL2に沿って延びている。
各金属配線ML1,ML3は、第1スリットSL1の一部を覆っている。第1金属配線ML1は、第3構成電極SE3の縁部に接するとともに、第2構成電極SE2との間に隙間を有している。第3金属配線ML3は、第5構成電極SE5の縁部に接するとともに、第6構成電極SE6との間に隙間を有している。
各金属配線ML2,ML4は、第2スリットSL2の一部を覆っている。第2金属配線ML2は、第1構成電極SE1の縁部に接するとともに、第2構成電極SE2との間に隙間を有している。第4金属配線ML4は、第5構成電極SE5の縁部に接するとともに、第4構成電極SE4との間に隙間を有している。
図12の例においては、各金属配線ML1〜ML4の両端部に突出部分PRが形成されている。各金属配線ML1〜ML4の突出部分PRは、各金属配線ML1〜ML4が接する構成電極SEの方向に延びている。突出部分PRは、各金属配線ML1〜ML4の一方の端部にのみ設けられても良い。
以上の本実施形態では、各スリットSL1,SL2において、副画素SPR寄りに配置される金属配線MLと、副画素SPB寄りに配置される金属配線MLとが、スリットの延在方向において交互に並ぶ。第1方向D1においても、図10の例と同様に、副画素SPR寄りに配置される金属配線MLと、副画素SPB寄りに配置される金属配線MLとが交互に並ぶ。このように各スリットSL1,SL2における金属配線MLの配置位置を第1方向D1だけでなく各スリットSL1,SL2の延在方向にも分散すれば、上述の色シフトやスリットからの電界漏れによるスジの影響を一層抑制することができる。
さらに、突出部分PRを設けることで、各スリットSL1,SL2の近傍の金属配線MLと構成電極SEとの電気的な接続を確実なものとすることができる。これにより、製造誤差などによって金属配線MLが構成電極SEと接触せずにフローティングとなることを防止できる。
以上の他にも、本実施形態からは第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第4実施形態)
第4実施形態について説明する。第1実施形態と同一又は類似の要素には同一の符号を付す。また、特に言及しない構成は第1実施形態と同様である。
図13は、第4実施形態の構成を概略的に示す平面図である。ここでは、第1スリットSL1を介して隣り合う第1共通電極CE1及び第2共通電極CE2の一部に着目している。本実施形態においては、第1実施形態の構成に対し、シールド電極30をさらに追加している。シールド電極30は、例えばITOなどの透明導電材料で形成されている。シールド電極30の電位は任意であるが、例えば共通電極CEと同電位であり、共通電圧が印加される。
シールド電極30は、第1金属配線ML1とともに映像信号線Sの延在方向に延びている。図13の例において、シールド電極30は、第1スリットSL1の全領域と重畳している。他の例として、シールド電極30は、第1スリットSL1の第1金属配線ML1に覆われていない部分と重畳し、第1スリットSL1の第1金属配線ML1に覆われた部分と重畳していなくても良い。
図14は、図13におけるXIV−XIV線に沿う断面の一例を概略的に示す図である。この図の例において、シールド電極30は、画素電極PEと同層、すなわち第3絶縁層13と第1配向膜14との間に形成されている。シールド電極30は、遮光層BMと対向している。
なお、シールド電極30は、画素電極PEと異なる層に配置されても良い。例えば、第3絶縁層13を2つの層に分け、これらの層の間にシールド電極30が配置されても良い。図13及び図14では第1スリットSL1の近傍に着目したが、第2スリットSL2においても同様にシールド電極30が配置されている。
本実施形態のようにシールド電極30を配置すれば、各スリットSL1,SL2において、金属配線MLのみでは防ぎきれない電界漏れを防ぐことができる。したがって、表示装置1の表示品位を一層高めることが可能となる。
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
例えば、各実施形態にて開示した構成は、適宜に組み合わせることができる。
また、各実施形態においては、タッチ検出機能を有する表示装置1を例示した。しかしながら、各実施形態にて開示した技術的思想は、タッチ検出機能を有さない表示装置に適用することもできる。
また、各実施形態においては、各スリットSL1,SL2が副画素SPR,SPBの間に配置された例を示した。しかしながら、各スリットSL1,SL2は、副画素SPR,SPGの間、或いは副画素SPG,SPBの間に配置されても良い。
また、各実施形態における共通電極CEは、構成電極SEごとに物理的に分離していても良い。この場合には、金属配線MLによって各構成電極SEを電気的に接続することで、1つの共通電極CEを構成することができる。
1…表示装置、2…表示パネル、AR…アレイ基板、CT…対向基板、LC…液晶層、10…第1絶縁基板、11…第1絶縁層、12…第2絶縁層、13…第3絶縁層、14…第1配向膜、20…第2絶縁基板、21…カラーフィルタ、22…平坦化層、23…第2配向膜、DA…表示領域、SA…周辺領域、CE…共通電極、SE…構成電極、PE…画素電極、G…走査信号線、S…映像信号線、PX…画素、SP…副画素、SW…スイッチング素子、ML…金属配線、BM…遮光層、P…スリットのピッチ、DR1…第1ドライバ、SL1…第1スリット、SL2…第2スリット。

Claims (9)

  1. 複数の映像信号線と、複数の走査信号線と、前記複数の映像信号線と前記複数の走査信号線とが交差することによって形成された複数の画素と、前記複数の画素を含む表示領域と、前記複数の画素の各々に形成された複数の画素電極と、前記複数の画素電極に対向する複数の共通電極と、を備えた液晶表示装置であって、
    前記複数の共通電極は、前記表示領域への物体の接触又は近接を検出する電極としての機能と、前記表示領域に画像を表示する電極としての機能とを兼ねており、
    前記複数の共通電極は、第1方向に並ぶ第1共通電極と第2共通電極とを含み、
    前記第1共通電極と前記第2共通電極の間に第1スリットが形成され、
    前記第1共通電極と前記第2共通電極は、電気的に独立しており、
    前記第1共通電極内に第2スリットが形成され、
    前記第1スリットと前記第2スリットは、前記映像信号線と重畳し、前記映像信号線の延在方向に延びている、表示装置。
  2. 前記第1スリットと前記第2スリットの間隔は、180μm以下である、
    請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記第1共通電極は、前記延在方向に沿って、第1領域と、前記第1領域に隣り合う第2領域と、前記第2領域に隣り合う第3領域と、を有し、
    前記第2スリットは、前記第2領域に形成され、前記第1領域及び前記第3領域には形成されていない、
    請求項1又は2に記載の表示装置。
  4. 前記表示領域の外側に位置する周辺領域と、前記周辺領域に重畳する遮光層と、をさらに備え、
    前記第1領域及び前記第3領域は、前記周辺領域に位置し、前記遮光層と重畳している、
    請求項3に記載の表示装置。
  5. 1つの前記画素は、n個の副画素を含み、
    前記第1共通電極内に、前記第1方向に並ぶ複数の前記第2スリットが形成され、
    隣り合う前記第2スリットの間において前記第1方向に並ぶ前記副画素の個数は、前記nの整数倍である、
    請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の表示装置。
  6. 前記第1方向において、前記第1共通電極に重畳する前記画素の個数と、前記第2共通電極に重畳する前記画素の個数とが異なる、
    請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載の表示装置。
  7. 前記映像信号線と重畳し、前記延在方向に延びるとともに前記共通電極に接した複数の金属配線を備え、
    前記複数の金属配線は、第1金属配線と、第2金属配線とを含み、
    前記第1金属配線は前記第1スリットの一部を覆い、前記第2金属配線は前記第2スリットの一部を覆う、
    請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の表示装置。
  8. 前記第1共通電極は、第1構成電極と、第2構成電極とを含み、
    前記第2共通電極は、第3構成電極を含み、
    前記第1構成電極及び前記第2構成電極は、前記第2スリットを介して隣り合い、
    前記第2構成電極及び前記第3構成電極は、前記第1スリットを介して隣り合い、
    前記第1金属配線は、前記第3構成電極に接するとともに、前記第2構成電極との間に隙間を有し、
    前記第2金属配線は、前記第1構成電極に接するとともに、前記第2構成電極との間に隙間を有する、
    請求項7に記載の表示装置。
  9. 前記複数の金属配線は、第3金属配線と、第4金属配線とをさらに含み、
    前記第1共通電極は、第4構成電極と、第5構成電極とをさらに含み、
    前記第2共通電極は、第6構成電極をさらに含み、
    前記第1構成電極と前記第4構成電極、前記第2構成電極と前記第5構成電極、前記第3構成電極と前記第6構成電極は、いずれも前記延在方向において隣り合い、
    前記第4構成電極と前記第5構成電極は、前記第2スリットを介して隣り合い、
    前記第5構成電極と前記第6構成電極は、前記第1スリットを介して隣り合い、
    前記第3金属配線は、前記第5構成電極に接するとともに、前記第6構成電極との間の隙間を有し、
    前記第4金属配線は、前記第5構成電極に接するとともに、前記第4構成電極との間の隙間を有する、
    請求項8に記載の表示装置。
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