JP2017098410A - 発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】隣接する発光領域への光の漏出を防止しかつ発光領域間の暗部を低減し、かつ製造時の歩留まりの高い発光装置を提供する。【解決手段】発光装置10は、実装基板11と、実装基板11上に配された複数の支持体及び複数の支持体の上面に配された複数の発光素子19を各々が含み、かつ実装基板11上に配列されている複数のモノリシック発光ユニット15と、を含み、複数の発光素子19は、複数の支持体の配列方向に垂直な方向に沿って複数配列されている。【選択図】図1A

Description

本発明は、発光装置、特に、発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)を用いた発光装置に関する。
複数の発光素子を搭載した発光装置が、照明、バックライト、産業機器等に従来から用いられてきた。特許文献1及び特許文献2には、絶縁基板である実装基板上に1の複数の発光ダイオード素子をマトリクス状に実装した発光素子が開示されている。
特開2009−267423号公報 特開2009−296012号公報
特許文献1及び2に記載の発光装置のように、1の実装基板上に複数の発光素子を実装して発光装置を形成する際、実装誤差が発生してしまう。従って、発光素子間の実装間隔を大きく取る必要がある。また、特許文献1及び2に記載の発光装置においては、発光素子間において発光素子からの照射光を遮る位置に配線が形成されている。
そのため、例えば、発光装置点灯時に発光素子間に暗部が形成されるという問題があった。また、例えば、発光素子の実装誤差故に、発光装置の発光領域の間隔が不均一になってしまい、照射光に不均一が生じるという問題があった。
また、特許文献1及び2に記載の発光装置のように、1の実装基板上に多数の発光素子を実装する場合、実装されている発光素子に1つでも不良があると、発光素子全体が不良品となってしまい、製造時の歩留まりが低下してしまうという問題があった。
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、隣接する発光領域への光の漏出を防止しかつ発光領域間の暗部を低減し、かつ製造時の歩留まりの高い発光装置を提供することを目的とする。
本発明の発光装置は、実装基板と、当該実装基板上に配された複数の支持体及び当該複数の支持体の上面に配された複数の発光素子を各々が含み、かつ当該実装基板上に配列されている複数のモノリシック発光ユニットと、を含み、当該複数の発光素子は、当該複数の支持体の配列方向に垂直な方向に沿って複数配列されていることを特徴とする。
本発明の実施例である発光装置の上面図である。 図1Aの1B−1B線に沿った断面図である。 発光ユニットの上面図である。 発光ユニットの断面図である。 発光装置を用いた照明ユニットの一例を示す図である。 変形例の発光ユニットの上面図である。 変形例の発光ユニットの断面図である。 変形例の発光装置の断面図である。 変形例の発光ユニットの上面図である。 変形例の発光ユニットの上面図である。 変形例の発光ユニットの上面図である。
以下においては、本発明の好適な実施例について説明する。しかし、これらを適宜改変し、組み合わせてもよい。また、以下の説明及び添付図面において、実質的に同一又は等価な部分には同一の参照符を付して説明する。
以下に、LED素子を用いた発光装置を例にして、本発明の実施例に係る発光装置10について、図1A及び図1Bを参照しつつ説明する。実装基板11は、矩形状の平面形状を有する基板である。実装基板11は、Si等の半導体、Cu等の金属、またはAlN、SiC等の絶縁性材料からなっている。
接合層としての基板接合層13は、実装基板11の上面にTi、Pt、Auがこの順に積層されて形成されている金属層である。基板接合層13は、実装基板11上において互いに離間して一列に配されている矩形形状の複数の接合領域13A、これらを電気的に接続する接続領域13B、及び最外に配されている接合領域13Aから延在するパッド領域13Cを有している。接合領域13Aは、その配列方向と垂直な方向に長辺を有している。なお、図中において接合領域13A、接続領域13B及びパッド領域13Cの境界を破線で示している。
実装基板11の基板接合層13の接合領域13Aの各々の上には、発光ユニット15が配されている。すなわち、発光ユニット15は、実装基板11上に一列に配されている。発光ユニット15は、支持体17及び支持体17の頂面17Aに接合されており、発光層(図示せず)を有する半導体構造層(図示せず)を含む複数の発光素子19を有している。なお、図中においては一例として、発光ユニット15が一列に4つ配されているように示しているが、発光ユニット15の個数は3以下または5以上であってもよい。また、発光ユニット15は2列以上で配列してもよい。
発光ユニット15の各々の支持体17は、例えばSi等の導電性基板からなっている。支持体17は、矩形の頂面(上面)17A及び底面(下面)17Bを有する四角柱状である。隣接する支持体17は、互いに離間して配されている。すなわち、隣接する支持体17の間には空間SPが形成されている。
支持体17の底面17Bには、当該底面17Bを覆うようにTi、Pt、Auをこの順に積層してなる下面電極(図示せず)が形成されている。下面電極は、例えば熱圧着等によって基板接合層13に接合されている。支持体17の頂面17A上には、発光層(図示せず)を有する半導体構造層(図示せず)を含む複数の発光部19が形成されている。本実施例において、発光素子19は、支持体17の上面の長手方向と平行な配列方向に沿って5個ずつ、二列に配列されている。すなわち、発光素子19は、発光ユニット15の配列方向と垂直な方向に、2列に複数個配列されている。
なお、本実施例において、発光素子19は、サファイア等の成長基板(図示せず)上に形成された発光層を含む半導体層を成長基板上で複数の素子に区画し、当該区画された複数の素子を支持体17に貼り合わせ、その後、成長基板を除去することで形成されている。すなわち、発光ユニット15は、複数の発光素子19及び支持体17が一体となって形成されたモノリシックな発光ユニットである。換言すれば、発光ユニット15は、シンフィルムLED構造を有している。従って、支持体17上において、発光素子19は非常に近接して配置することが可能である。
また、このように形成することにより、発光素子19の膜厚、すなわち支持体17の上面と垂直な方向の厚さを10μm以下にすることができ、これにより隣接した発光素子19への光の導波を低減することができる。
発光素子19を配列する間隔は、発光ユニット15の配列方向に垂直な方向においては、発光素子19間に発生する暗線を低減するために、できるだけ近接して配するのが好ましい。また、発光ユニット15の配列方向に沿った方向においては、発光ユニット15内で隣接する発光素子19同士の間隔D1を、隣接した発光ユニット15を跨いで隣接している発光素子19同士の間隔D2に応じて設定するのが好ましい。間隔D1と間隔D2とが出来るだけ同一となるように、間隔D1を調整することがさらに好ましい。
隣接する発光ユニット15を跨いで隣接する発光素子19は、支持体17の配置精度等の故に、発光ユニット15内で隣接する発光素子19よりも近接して配置することが難しい。従って、間隔D1と間隔D2とを合わせる場合、間隔D1に合わせて間隔D2を設定して支持体17上に発光素子19を配置することとなる。間隔D2を間隔D1に応じて調整することで、発光装置10内での輝度ムラの発生を防止することが可能である。
なお、もちろんのことながら、発光ユニット15上に発光素子19間の間隔D1を予め設定しておき、それに合わせて発光ユニット15の配置間隔を調整し、隣接する発光ユニット15を跨いで隣接する発光素子19の間隔D2を間隔D1に応じて調整することとしてもよい。
蛍光体層21は、支持体17上において発光部19を埋設するように形成されている。すなわち、蛍光体層21は、実装基板11上に配されている複数の発光ユニット15の全てに亘って、当該複数の発光ユニット15上に連続的に形成されている。
蛍光体層21は、例えば、蛍光体粒子及び光散乱材が含まれている樹脂シートである。蛍光体粒子には、例えば青色光によって励起されて黄色蛍光を出射するCe附活イットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAG:Ce)、Ce附活テルビウム・アルミニウム・ガーネット(TAG:Ce)、オルトシリケート蛍光体((BaSrCa)SiO4、他)、αサイアロン蛍光体(Ca−α−SiAlON:Euなど)などの蛍光体粒子を用いる。光散乱材は、例えばTiO2、SiO2、ZnO、Al23等からなる光散乱性粒子である。
なお、蛍光体層21は、蛍光体粒子及び光散乱材が含まれている液状の樹脂またはガラスバインダーを支持体17上に塗布して、熱硬化等で硬化させることによって形成されていてもよい。また、蛍光体層21は、蛍光体を含有しているプレート状のものであってもよい。各発光素子19が蛍光体層21内に埋め込まれずに、各発光素子19の上方に蛍光体層21が載置されているのみであってもよい。
図2Aに1つの発光ユニット15の上面図を示す。また、図2Bに、図2の2B−2B線に沿った断面図を示す。上述したように、発光ユニット15は、サファイア等の成長基板(図示せず)上に形成された半導体層を成長基板上で複数の素子に区画し、当該区画された複数の素子を支持体17に貼り合わせ、その後、成長基板を除去することで形成されている。
図2A及び図2Bに示すように、支持体17の発光素子19が載置されている面と反対側の面すなわち下面には、下面電極23が形成されている。下面電極23は、例えば、支持体17の表面からTi、Pt、Auをこの順に積層して形成されている。なお、支持体17としてSi基板を用いる場合には、下面電極23を形成する前に、支持体17の下面の熱酸化膜を研削またはウェットエッチング等で除去しておく。
発光ユニット15を実装基板11上に搭載する際には、例えば、基板接合層13上の発光ユニット15を搭載する位置にAuSnペーストを塗布し、当該AuSnペースト上に下面電極23が持ち来されるように、実装基板11上に発光ユニット15を載置する。その後、加熱することで、基板接合層13と下面電極23を接合させる。
支持体17の上面には、SiO2等の絶縁体材料からなる第1の絶縁層としての上面絶縁層25が形成されている。なお、支持体17がSi基板である場合、上面絶縁層25は、Si基板の表面に形成される熱酸化膜であってもよい。
上面絶縁層25上には、Au等の導電体からなり、互いに離間して形成されている複数の個別配線27が形成されている。複数の個別配線27は、各々が、支持体17の上面の長手方向における一端から発光素子19の各々の直下の領域にまで伸長している。
すなわち、複数の個別配線27は、支持体17の上面の長手方向における一端において露出している一端と、発光素子19の下に配されている他端とを有している。また、個別配線27の当該露出している一端には、Au等の導体からなり、例えばワイヤボンディング等によって外部との電気的接続をとることが可能な、個別配線パッド27Aが設けられている。
上面絶縁層25及び個別配線27上には、SiO2等の絶縁体材料からなる第2の絶縁層としての層間絶縁層29が形成されている。層間絶縁層29には、発光素子19の各々の直下の領域において開口部29Hが形成されており、当該開口部29Hを介して個別配線27の上面の一部が露出している。また、層間絶縁層29は、個別配線パッド27A上には形成されていない。すなわち、層間絶縁層29は、個別配線パッド27Aを露出させかつ発光素子19の直下の領域において個別配線27の上面を一部露出させつつ、上面絶縁層25上において個別配線27を覆うように形成されている。
層間絶縁層29上には、Au等の導電体からなり、各発光素子19に共通して電気的に接続されている層状の共通配線31が形成されている。共通配線31は、開口部29Hを避けるように形成されている。すなわち、開口部29H及びその周辺領域は共通配線31から露出している。
貫通配線33は、Au等の導電体からなり、いずれか1の発光素子19の下の領域において(図では、中央の発光素子)、支持体17の表面に接し、上面絶縁層25及び層間絶縁層29を貫通して層間絶縁層29上面に至るまで形成されている。すなわち、貫通配線33は、支持体17及び共通配線31と接しており、これらを電気的に接続している。なお、貫通配線33は、2以上形成されていてもよく。2以上の発光素子19の下の領域に形成されていてもよい。
個別配線27の開口部29Hから露出している上面上には、Au等の導体からなる個別電極35が形成されている。個別電極35の各々は、例えば、共通配線31と離間して形成されることで、共通配線31と電気的に絶縁されている。
発光素子19は、共通配線31及び個別電極35と接合して、支持体17上に設けられている。発光素子19は、支持体17側からp型半導体層37A、発光層37B及びn型半導体層37Cの順に積層されてなる半導体構造層37を有している。半導体構造層37は、例えば、AlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1、0≦y≦1)の組成を有している。
半導体構造層37には、半導体構造層37の支持体側の面、すなわちp型半導体層37Aの表面からp型半導体層37A及び発光層37Bを貫通し、n型半導体層37Cの内部にまで達している貫通孔37Hが形成されている。尚、貫通孔37Hは、各発光素子19に1つのみしか図示していないが、実際は複数形成されている。
n型半導体層37Cの表面には、発光層37Bからの出射光をn型半導体層37Cの表面から効率よく外部に放出するための、錐状突起37P(図中破線内の構造)が形成されている。この錐状突起37Pは、n型半導体層37Cの表面を、例えばTMAH溶液等のアルカリ溶液に浸し、n型半導体層37Cの表面に半導体結晶構造由来の凹凸構造を形成することで形成してもよい。なお、錐状突起37Pは設けられていなくともよい。
p型半導体層37Aの表面には、例えば、当該表面からAg、TiWがこの順に積層されたpコンタクト電極39が形成されている。pコンタクト電極39は、p型半導体層37Aの表面の貫通孔37Hの周縁領域及びp型半導体層37Aの表面の端部領域には形成されていない。すなわち、貫通孔37Hの周縁領域及びp型半導体層37Aの表面の端部領域は、pコンタクト電極39から露出している。
絶縁層41は、p型半導体層37A及びpコンタクト電極39及び貫通孔37Hの側面を覆うように形成されている。すなわち、貫通孔37Hの底部において、n型半導体層37Cが絶縁層41から露出している。また、絶縁層41には、絶縁層41の表面からpコンタクト電極39に達する貫通孔41Hが形成されている。すなわち、pコンタクト電極39の一部は、貫通孔41Hを介して絶縁層41から露出している。
貫通孔41H内には絶縁層41から露出しているn型半導体層37Cの表面に接して、金属材料からなるnコンタクト電極43が形成されている。nコンタクト電極43は、例えば、絶縁層41の表面から突出するように形成されている。
p電極45は、貫通孔41H内に、絶縁層41から露出しているpコンタクト電極39の表面に接して形成されている。p電極45は、pコンタクト電極39の表面から、Ti、Pt、Auをこの順に積層して形成されている。p電極45は、絶縁層41から突出するように形成されている。
n電極47は、絶縁層41の表面に形成されている。n電極47は、絶縁層41の表面から、Ti、Pt、Auをこの順に積層して形成されている。n電極47は、p電極45と離間して形成されている。
p電極45及びn電極47は、それぞれ、支持体17に形成されている個別電極35及び共通配線31と、例えば、真空中で加熱圧着されて接合されている。すなわち、個別電極35とp電極45とが電気的に接続され、かつ共通配線31とn電極47とが電気的に接続されている。従って、各発光素子19は、基板接合層13のパッド部13Aと個別配線パッド27Aとの間で電気的に並列に接続されている。従って、発光素子19の各々は、個別配線パッドの各々への電力供給の入切によって個別に駆動させることが可能である。
上述のように、発光素子19は、支持体17上に貼り合わせによって形成されている。従って、発光ユニット15内において、支持体17上において発光素子19は非常に間隔を小さく配することが可能である。これにより、隣接する発光素子19間に形成される暗線の発生を低減することが可能である。
また、上記実施例の発光装置10によれば、1の発光装置を、各々が複数の発光素子19が形成された支持体17からなる複数の発光ユニット15を配列することによって形成する。すなわち、上記実施例の発光装置10においては、必要数の発光素子を有する1の発光ユニット15によって1の発光装置を形成するのではなく、独立した複数の発光ユニット15を配列して必要数の発光素子を有する発光装置を形成する。
1の発光ユニットによって1の発光装置を形成する場合、発光ユニットに欠陥がある場合には、発光ユニットの一部に欠陥がある場合、発光装置に必要な数の発光素子全てを保持する発光ユニットを交換しなければならない。それに対して、上記実施例の発光装置10のように、複数の発光ユニット15を配列して発光装置を形成する場合、発光ユニット15に欠陥がある場合は、当該欠陥がある発光ユニット15のみを交換すれば良いので,発光装置10の歩留まりを向上させることが可能である。
また、上記実施例の発光装置10においては、隣接する発光ユニット15の各々の支持体17の間に空間SP(図1参照)が形成されている。1の発光ユニット15の発光素子19から出射して、蛍光体層21を伝播して当該1の発光ユニット15に隣接する発光ユニット15に向かう光は、この隣接する支持体17の間の空間SPに入り込むと減衰して当該空間SPからほとんど出てこない。
従って、1の発光ユニット15の発光素子19から出射した光が、蛍光体層21を伝播して隣接する発光ユニット15へ漏出することを防止することが可能である。特に、発光装置10を、例えばADB(Adoptive Driving Beam:配向可変ヘッドランプ)等に用いる場合に発光素子19を個別駆動する際、隣接する発光ユニット15への光の漏出、いわゆる光のクロストークを低減させることが可能である。
また、本発明においては、発光素子19の膜厚を10μm以下とすることが可能となるため、発光素子19の側壁からの光出射が減少し、隣接素子へのクロストークをさらに低減することが可能となる。
また、上述のように、発光装置10においては、互いに独立した複数の発光ユニット15を配列して必要数の発光素子19を有する発光装置を形成する。すなわち、発光装置10に必要な数の発光素子19が、互いに離間して配されている複数の支持体17上に分散して設けられている。このように、発光装置に必要な発光素子の全てを1の支持体上に配置する場合よりも、1つ1つの支持体の平面形状を小さくすることで、実装基板と支持体の熱膨張率の差の故に支持体に発生するクラック等の破損を防止することが可能である。
また、上述のように、発光装置10においては、発光ユニット15の配列方向に垂直な方向においては、非常に近接して発光素子19を配置することが可能である。従って、発光ユニットの配列方向に垂直な沿った方向においては、発光素子19間の間隙に起因する暗線がほとんど発生しない。
よって、発光装置10の照射方向に配置するレンズ等の光学系によって、照射光の暗線を低減しようとする場合に、発光ユニット15の配列方向に沿った方向において発生する暗線のみを考慮した光学系にすることができる。従って、発光装置10に伴って設けられる光学系の構造を単純化することが可能である。
図3に、発光装置10を用いた照明機器の一例として、照明ユニット50を示す。照明ユニット50においては、金属基板51の表面に実装基板11を接合して発光装置10を金属基板51上に固定している。また、発光装置10の光出射方向(図中白抜き矢印)には、蛍光体層21の上面と対向する位置にレンズ53が設けられている。なお、金属基板51には,放熱フィン等の放熱を促進する構造を設けたり別体として取り付けたりしてもよい。
上述のように、発光装置10からの照射光の暗線を低減しようとする場合、発光ユニット15の配列方向に沿った方向において発生する暗線のみを考慮すればよい。従って、レンズ53は、発光ユニット15の配列方向に沿った方向にのみ、例えば発光素子からの出射光による像を互いに重ね合わせるような複数のシリンドリカルレンズを配列するような繰り返し構造を形成すればよい。
すなわち、発光ユニット15の配列方向と垂直な方向においては、暗線低減のための構造を必ずしも設ける必要がない。従って、発光装置10を用いることで、レンズ53に構造の単純なレンズを用いることが可能である。
[変形例1]
以下に、発光装置10の発光素子19への給電を、下面電極23を用いずに行う例について説明する。図4Aは、変形例1の発光装置10の発光ユニット15Aの上面図である。図4Bは、図4Aの4B−4B線に沿った断面図である。
変形例1の発光装置の発光ユニット15Aは、上記実施例の発光ユニット15と、共通配線31の構成が異なる。また、変形例の発光ユニット15Aにおいては貫通配線33が設けられていない。これ以外の構成は、上記実施例の発光ユニット15と変形例の発光ユニット15Aで同一である。
変形例1の発光ユニット15Aにおいて、共通配線31には、支持体17上の個別配線パッド27Aが形成されている端部と反対側の端部に、Au等の導体からなり、例えばワイヤボンディング等によって外部との電気的接続をとることが可能な、共通配線パッド31Aが設けられている。すなわち、変形例1の発光ユニット15Aにおいては、個別配線パッド27Aと共通配線パッド31Aとの間で、発光素子19が電気的に並列に接続されている。
変形例1の発光ユニット15Aにおいて、下面電極23は、接合領域13A(図1A参照)との単なる接合層として機能する。また、変形例1の発光ユニット15Aを用いる発光装置10においては、基板接合層13には接合領域13Aのみがあればよく、接続領域13B及びパッド領域13Cは形成されていなくともよい。
また、変形例1の発光ユニット15Aを用いる発光装置10においては、支持体17を介しての電力供給を行う必要が無いので、支持体17は導電性基板でなくともよい。すなわち、支持体17は絶縁性基板であってもよい。支持体17を絶縁性基板で形成する場合には、上面絶縁層25は形成する必要はない。
[変形例2]
以下に、上記実施例とは支持体17の形状が異なる例について説明する。図5は、変形例2の発光装置10の断面図である。図5に示すように、支持体17は、各側面において底面17Bから切り込まれている切り欠き凹部Cを有しており、支持体17の頂面17Aよりも底面17Bの方が狭くなっている。すなわち、支持体17は、頂部において頂面17Aと平行な方向かつ外方に向かって突出している庇形状の突出部Pを有している。
換言すれば、支持体17は、複数の発光ユニット15の各々の間の隣接領域に面した側面において、頂面17Aにより近い部分に突出部Pを有している。
従って、隣り合う発光ユニット15の支持体17の側面は、頂面17A近傍の突出部Pが形成されている部分に比べて、突出部Pが形成されていない部分において離間している。換言すれば、隣接している支持体17間の突出部Pが形成されている部分よりも下の部分に、隣接する支持体17の突出部P間よりも広い間隔を有する空間が形成されている。この突出部P及び切り欠き凹部Cによって形成される空間は、発光ユニット15と実装基板11とを接合する際に使用するフラックスを含むAuSn等の金属ペーストから溶出するフラックスの逃げとして機能する。
すなわち、変形例2の発光装置10の製造においては、実装基板11と発光ユニット15との接合時に、突出部P及び切り欠き凹部Cによって形成された空間がフラックスの逃げとして機能し、フラックスが支持体17の間の空間を完全に充填しない。従って、接合時に、溶け出したフラックスによって支持体17の側面にかかる応力が低減され、溶融接合時における発光ユニット15の載置位置からの位置ずれ及び傾きを防止することが可能である。
[発光素子の配置例]
上記実施例においては、1つの発光ユニット15において、支持体17上に同一サイズの発光素子19を2列に5個ずつ配置する場合を例に図示及び説明をした。しかし、発光素子19の他の配列も可能である。例えば、発光素子19を発光ユニット15の配列方向と垂直な方向に1列または3列以上に配列してもよい。また、発光素子19の各々のサイズは異なっていてもよい。例えば、発光ユニット15の配列方向に垂直な方向において、発光素子19の素子長を互いに異ならしめてもよい。
図6Aに、発光素子19の配列態様の変形例を示す。例えば、発光装置10をADBの光源として用いる場合、発光装置10の中央部で発光領域を細かく変更する必要がある場合がある。そのような際には、例えば、発光素子19の発光ユニット15の配列方向とは垂直な方向の素子長を、発光ユニット15の配列方向に沿った中心軸AXに近い発光素子19ほど小さくすることとしてもよい。すなわち、図5に示すように中心軸AXから近い順に、すなわち発光ユニットの配列方向に垂直な方向における中心位置に近い順に、発光素子19の幅をL1、L2、L3とした際に、L1<L2<L3としてもよい。
また、発光素子19の数を発光ユニット15によって変えることとしてもよい。図6においては、発光装置10の中央に近づくに従って発光ユニット15に搭載する発光素子19の数を増加させている。すなわち、発光装置10の中央に近づくに従って、発光素子の数を増加させ、細かい領域毎に点灯及び消灯の制御を行うこととしてもよい。この際も、必要に応じて、中心軸Cから近い発光素子ほど幅(素子長)を小さくしてもよい。例えば、中心軸AXから近い順に発光素子19の幅をL4、L5、L6とした際に、L4<L5<L6としてもよい。
また、図6Bに示すように最も小さい発光素子19Sを発光装置10の中心からずれた位置に配置してもよい。当該最も小さい発光素子19S以外の他の発光素子19のサイズ(素子長)は、当該最も小さい発光素子19Sから遠ざかるほど大きくなっている。例えば、他の発光素子19のサイズは、最も小さい発光素子19Sから離れるに従って、単調に増加することとしてもよい。なお、各発光ユニット15は同じものを使用している。
このような発光装置を照明ユニット50として組んだ場合、レンズの光軸と位置を合わせる軸は、発光ユニット15の中心よりも、最も小さい発光素子19S側に近い位置に配置される。
また、図7に示すように、互いに異なる大きさを有する発光ユニット15を配列することとしてもよい。この際、図7に示すように、発光ユニット15の配列方向に対して、発光ユニット15を互いにオフセットさせて配置してもよい。
上記実施例においては、発光素子19を個別に駆動する例を説明したが、配線を適宜変更することで、発光素子の駆動方法を個別駆動、又は全体もしくは発光素子19のグループ毎の一括駆動などの駆動制御も可能となる。
また、上記実施例においては、発光素子19がLED素子である場合を例に説明したが、発光素子19は垂直共振器型発光ダイオード等、他の発光素子であってもよい。
なお、上記実施例においては、蛍光体層21は、全ての発光ユニット15に亘って連続的に形成されている場合を例に説明したが、これに限られない。例えば、発光ユニット毎、発光ユニット内で一列毎、発光素子毎に蛍光体層21を夫々形成することで断続的に蛍光体層21を形成することとしてもよい。また、この場合、夫々形成された蛍光体層21同士間の間隙に、例えば、白樹脂や黒樹脂等を埋めて遮光を行うこととしてもよい。このようにすることで、蛍光体層21を伝播して、隣接する発光素子19の領域への光の漏出、いわゆる光のクロストークを低減させることが可能である。
上述した実施例における種々の数値、寸法、材料等、例えば半導体構造層の構成または金属層の構成は、例示に過ぎず、用途及び製造される半導体素子等に応じて、適宜選択することができる。
10 発光装置
11 実装基板
13 基板接合層
15、15A 発光ユニット
17 支持体
19、19S 発光素子
21 蛍光体層
23 下面電極
25 上面絶縁層
27 個別配線
29 層間絶縁層
31 共通配線
33 貫通配線
35 個別電極
37 半導体構造層
39 pコンタクト電極
41 絶縁層
43 nコンタクト電極
45 p電極
47 n電極
50 照明ユニット
51 金属基板
53 レンズ
C 切り欠き凹部
P 突出部

Claims (7)

  1. 実装基板と、
    前記実装基板上に配された複数の支持体及び前記支持体の上面に配された複数の発光素子を含み、
    前記複数の発光素子は、前記複数の支持体の配列方向に垂直な方向に沿って複数配列されていることを特徴とする発光装置。
  2. 前記複数の発光素子は、1つの前記支持体上で前記配列方向に沿って複数配され、1つの前記支持体上で隣接する発光素子は、隣接する前記支持体間で隣接する発光素子間の間隔と略等しい間隔で前記配列方向に沿って配されていることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記複数の発光素子は、前記複数の支持体の配列方向に垂直な方向において、異なる素子長を有することを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置。
  4. 前記複数の発光素子は、前記複数の支持体の配列方向に垂直な方向において、前記垂直な方向における素子長が最も小なる発光素子から離れるに従って、前記垂直な方向における素子長が単調に増加することを特徴とする請求項3に記載の発光装置。
  5. 1つの前記支持体上の前記複数の発光素子は、電気的に互いに並列に接続されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1に記載の発光装置。
  6. 前記複数発光素子は、その膜厚が10μm以下であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1に記載の発光装置。
  7. 前記発光素子の上に、少なくとも1つの前記支持体上の全ての前記複数の発光素子に亘って連続的に亘って連続的に形成されている蛍光体層を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1に記載の発光装置。
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