JP2017091047A - 電子制御装置及び電子制御方法 - Google Patents

電子制御装置及び電子制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017091047A
JP2017091047A JP2015217550A JP2015217550A JP2017091047A JP 2017091047 A JP2017091047 A JP 2017091047A JP 2015217550 A JP2015217550 A JP 2015217550A JP 2015217550 A JP2015217550 A JP 2015217550A JP 2017091047 A JP2017091047 A JP 2017091047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
failure
microcomputer
hardware resource
cpu
electronic control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015217550A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6407127B2 (ja
Inventor
暁仁 窪田
Akihito Kubota
暁仁 窪田
康司 湯浅
Koji Yuasa
康司 湯浅
新井 敏央
Toshinaka Arai
敏央 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Astemo Ltd
Original Assignee
Hitachi Automotive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Automotive Systems Ltd filed Critical Hitachi Automotive Systems Ltd
Priority to JP2015217550A priority Critical patent/JP6407127B2/ja
Priority to US15/758,484 priority patent/US20180259577A1/en
Priority to CN201680049611.2A priority patent/CN107924355A/zh
Priority to PCT/JP2016/082656 priority patent/WO2017078093A1/ja
Priority to DE112016005096.8T priority patent/DE112016005096B4/de
Publication of JP2017091047A publication Critical patent/JP2017091047A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6407127B2 publication Critical patent/JP6407127B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3187Built-in tests
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/16Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
    • G06F11/20Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31724Test controller, e.g. BIST state machine
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/27Built-in tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microcomputers (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

【課題】電子制御装置のハードウエア資源に故障が発生しても、制御対象システムを継続して制御できるようにする。【解決手段】電子制御装置は、ハードウエア資源の診断回路及びプロセッサが組み込まれたマイクロコンピュータ340を備える。そして、プロセッサは、診断回路によりハードウエア資源、例えば、タイマ348に故障が発生していると診断すると、タイマ348に対してソフトウエアによる診断機能を実行し、タイマ348のタイマA〜Cのどれに故障が発生しているかを特定する。プロセッサは、例えば、タイマ348のタイマCに故障が発生していると特定すると、タイマCの機能を停止すると共に、他のハードウエア資源である入出力回路350でタイマCの機能を代替する。【選択図】図17

Description

本発明は、電子制御装置及び電子制御方法に関する。
電子制御装置のマイクロコンピュータには、タイマ,入出力回路,A/Dコンバータなどのハードウエア資源を診断する目的で、特開2012−181564号公報(特許文献1)に記載されるように、BIST(Built In Self Test)が組み込まれているものがある。BISTは、LSI(Large Scale Integration)チップにLSIテスタの機能の一部を組み込んだものであって、テストパターンを発生する回路と、テスト結果と期待値とを照合する回路と、を有する。そして、BISTにおいては、テストパターンをハードウエア資源に入力し、ハードウエア資源から出力されるテスト結果と期待値とを照合することで、そのハードウエア資源に故障が発生しているか否かを診断する。
特開2012−181564号公報
BISTによってハードウエア資源に故障が発生していると診断された場合、機能安全規格ISO26262の観点から、制御不能の要因となるハードウエア資源の使用を禁止することが望ましい。しかし、重要なハードウエア資源の使用を禁止すると、制御対象システムを継続して制御できなくなってしまう。
そこで、本発明は、ハードウエア資源に故障が発生しても、制御対象システムを継続して制御できる、電子制御装置及び電子制御方法を提供することを目的とする。
電子制御装置は、ハードウエア資源の診断回路及びプロセッサが組み込まれたマイクロコンピュータを備える。そして、電子制御装置のプロセッサは、診断回路によりハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、故障が発生しているハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替する。
電子制御方法では、ハードウエア資源の診断回路を内蔵したマイクロコンピュータが、診断回路によりハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、故障が発生しているハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替する。
本発明によれば、ハードウエア資源に故障が発生しても、制御対象システムを継続して制御することができる。
自動車に搭載された内燃機関の一例を示すシステム図である。 電子回路基板の一例を示すブロック図である。 BISTの一例を示すブロック図である。 タイマの一例を示すブロック図である。 初期化処理の一例を示すフローチャートである。 タイマの故障部位を特定する方法の説明図である。 タイマの故障部位特定処理の一例を示すフローチャートである。 入出力回路の故障部位を特定する方法の説明図である。 入出力回路の故障部位を特定する他の方法の説明図である。 入出力回路の故障部位特定処理の一例を示すフローチャートである。 不揮発性メモリの故障部位を特定する方法の説明図である。 不揮発性メモリの故障部位特定処理の一例を示すフローチャートである。 揮発性メモリの故障部位を特定する方法の説明図である。 揮発性メモリの故障部位特定処理の一例を示すフローチャートである。 タイマ機能の説明図である。 タイマを代替する方法の説明図である。 タイマの代替処理の概要を示す説明図である。 揮発性メモリを代替する方法の説明図である。 演算装置を代替する方法の説明図である。
以下、添付された図面を参照し、本発明を実施するための実施形態について詳述する。
図1は、自動車に搭載された内燃機関の一例を示す。
内燃機関100の吸気通路110には、吸気流通方向に沿って、空気中の埃などを濾過するエアクリーナ120、電子制御スロットルチャンバ130、図示しない動弁機構により開閉する吸気バルブ140がこの順番で配設されている。電子制御スロットルチャンバ130と吸気バルブ140との間に位置する吸気通路110には、吸気バルブ140の傘部に向けて燃料を噴射する、電子制御式の燃料噴射弁150が取り付けられている。
電子制御スロットルチャンバ130は、吸気流量を調整するスロットルバルブ132と、スロットルバルブ132を回動させるステッピングモータなどのアクチュエータ134と、スロットルバルブ132の開度(スロットル開度)を検出するポテンショメータなどのスロットルポジションセンサ136と、を有する。そして、電子制御スロットルチャンバ130は、外部からの開度信号に応じて、アクチュエータ134によってスロットルバルブ132を開閉する。
一方、内燃機関100の排気通路160には、排気流通方向に沿って、排気バルブ170、排気中のCO(一酸化炭素),HC(炭化水素)及びNOx(窒素酸化物)を同時に還元浄化する三元触媒コンバータ180、排気音を低減するマフラー190がこの順番で配設されている。
また、内燃機関100のシリンダヘッド102には、燃焼室104を臨むように、ディストリビュータ200からの点火電流に応答して、燃料と空気との混合気を火花点火する点火プラグ210が取り付けられている。なお、ディストリビュータ200は、内燃機関100の各気筒に配設された点火プラグ210に対して、運転状態に応じたタイミングで点火電流を分配する。
内燃機関100の所定箇所には、内燃機関100の回転速度を検出する回転速度センサ220と、内燃機関100の負荷を検出する負荷センサ230と、が取り付けられている。ここで、内燃機関100の負荷としては、例えば、吸気流量、吸気圧力、過給圧力など、内燃機関100の出力トルクと密接に関連する状態量を使用することができる。
車両の運転者が操作するアクセルペダル240には、アクセルペダル240の踏み込み量(アクセル操作量)を検出するアクセルセンサ250が併設されている。ここで、アクセルセンサ250としては、例えば、ポテンショメータを使用することができる。
スロットルポジションセンサ136、回転速度センサ220、負荷センサ230及びアクセルセンサ250の各出力信号は、電子制御装置300に入力される。
電子制御装置300は、各種の電子部品が実装された電子回路基板320を内蔵している。電子回路基板320には、図2に示すように、マイクロコンピュータ340が実装されている。マイクロコンピュータ340は、プロセッサの一例として挙げられるCPU(Central Processing Unit)342と、揮発性メモリの一例として挙げられるRAM(Random Access Memory)344と、不揮発性メモリの一例として挙げられるROM(Read Only Memory)346と、時間を計時するタイマ348と、入出力回路350と、A/Dコンバータ352と、これらを相互に接続するバス354と、を一体的に組み込んでいる。要するに、マイクロコンピュータ340は、1つのチップに、CPU342、RAM344、ROM346、タイマ348、入出力回路350、A/Dコンバータ352及びバス354を集積することで製造されている。
そして、電子制御装置300は、ROM346に格納された制御プログラムを実行することで、スロットル開度,回転速度,負荷,アクセル操作量などに応じて、電子制御スロットルチャンバ130,燃料噴射弁150及びディストリビュータ200を夫々電子制御する。
即ち、電子制御装置300は、内燃機関100の回転速度及び負荷に応じた燃料噴射量及び燃料噴射時期を求め、クランク角度が燃料噴射時期になったときに、燃料噴射弁150に燃料噴射量に応じた作動信号を出力する。また、電子制御装置300は、内燃機関100の回転速度及び負荷に応じた点火時期を求め、クランク角度が点火時期になったときに、ディストリビュータ200に作動信号を出力する。さらに、電子制御装置300は、アクセル操作量及びその変化量に応じた目標スロットル開度を求め、目標スロットル開度とスロットル開度との偏差に応じて、電子制御スロットルチャンバ130のアクチュエータ134をフィードバック制御する。
また、マイクロコンピュータ340には、そのハードウエア資源、例えば、CPU342、RAM344、ROM346、タイマ348、入出力回路350及びA/Dコンバータ352などを診断する診断回路の一例として挙げられる、BIST360が組み込まれている。BIST360は、図3に示すように、被診断回路(ハードウエア資源)HWに入力するテストパターンを発生する発生回路362と、被診断回路HWの出力と期待値とを照合して故障を診断する照合回路364と、を有する。
BIST360は、所定の機能を提供するグループごとに、ハードウエア資源に故障が発生しているか否かを診断する。時間を計時するタイマ348は、例えば、図4に示すように、キャプチャ、コンペア及びPWM(Pulse Width Modulation)出力を有する、複数のタイマA〜Cを含んでいる。しかし、BIST360は、時間を計時するタイマという括りで、そのハードウエア資源に故障が発生しているか否かを診断し、個別のタイマA〜Cについては故障の有無を診断できない。
本実施形態では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、BIST360によりハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、故障が発生しているハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替するように構成されている。
図5は、電子制御装置300に電源が投入されたことを契機として、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ROM346に格納された制御プログラムに従って実行する、初期化処理の一例を示す。
ステップ1(図では「S1」と略記する。以下同様。)では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、マイクロコンピュータ340に組み込まれたBIST360を実行する。即ち、マイクロコンピュータ340のCPU342は、BIST360の照合回路364の出力信号に基づいて、ハードウエア資源に故障が発生しているか否かを診断する。ここで、BIST360は、前述したように、所定の機能を提供するグループごと、具体的には、CPU342、RAM344、ROM346、タイマ348、入出力回路350及びA/Dコンバータ352に故障が発生しているか否かを診断する。
ステップ2では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、BIST360の実行結果に基づいて、マイクロコンピュータ340のいずれかのハードウエア資源に故障が発生しているか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、すべてのハードウエア資源が正常であると判定すれば(Yes)、処理をステップ5へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、いずれかのハードウエア資源に故障が発生していると判定すれば(No)、処理をステップ3へと進める。
ステップ3では、故障が発生したすべてのハードウエア資源に関して、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ソフトウエアによる診断機能を夫々実行し、ハードウエア資源の故障部位(例えば、タイマ348におけるタイマCなど)を特定する。なお、診断機能の詳細については後述する。
ステップ4では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、例えば、ROM346に格納された制御構成情報を参照することで、ハードウエア資源の故障部位が未使用であるか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、故障部位が未使用であると判定すれば(Yes)、処理をステップ5へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、故障部位が使用されていると判定すれば(No)、処理をステップ6へと進める。
ステップ5では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、マイクロコンピュータ340のハードウエア資源に故障が発生していない、通常時の初期化処理を実行する。ここで、通常時の初期化処理としては、例えば、制御変数をリセットする、ROM346から各種の学習値を読み込むなどを挙げることができる。
ステップ6では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、マイクロコンピュータ340のハードウエア資源に故障が発生している、故障時の初期化処理を実行する。ここで、故障時の処理化処理としては、その詳細を後述するように、故障が発生しているハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替する、代替処理の準備などを挙げることができる。
かかる電子制御装置300によれば、電源が投入されたことを契機として、マイクロコンピュータ340のCPU342が、BIST360を実行して、ハードウエア資源に故障が発生しているか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ハードウエア資源に故障が発生していないと判定すれば、通常時の初期化処理を実行する。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ハードウエア資源に故障が発生していると判定すれば、ソフトウエアによる診断機能によって故障部位を特定する。マイクロコンピュータ340のCPU342は、故障部位が未使用であれば、制御対象システムへの影響がないため、通常時の初期化処理を実行する。また、マイクロコンピュータ340のCPU342は、故障部位が使用されていれば、制御対象システムへの影響を軽減すべく、故障時の初期化処理を実行する。
要するに、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ハードウエア資源の故障部位を特定したとき、その故障部位により提供される機能についてのみ、故障時の初期化処理を実行する。また、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ハードウエア資源の故障部位が未使用であるとき、その故障部位により提供される機能の代替を禁止する。
次に、診断機能及び代替処理の詳細について説明する。
[診断機能]
(1)タイマの故障部位特定
BIST360は、タイマ機能を提供するタイマ348に故障が発生しているか否かを診断することはできるが、複数のタイマのどれに故障が発生しているかを特定することができない。そこで、図6に示すように、パルスを出力する時間間隔が異なる3つ以上(図では、3つ)のタイマA,C及びEを使用し、マイクロコンピュータ340のCPU342が、所定時間に亘ってタイマA,C及びEから出力されるパルスを夫々カウントする。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、タイマA,C及びEの各カウント値から時間を求め、これを相互に比較することで、どのタイマに故障が発生しているかを特定できる。
図7は、タイマの故障部位を特定する処理の一例を示す。
ステップ11では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、所定時間に亘ってタイマA,C及びEから出力されるパルスを夫々カウントし、このカウント値と各パルスに割り付けられた時間間隔とを乗算することで、タイマA,C及びEによる計時結果を取得する。
ステップ12では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマAの計時結果とタイマCとの計時結果とを比較し、その偏差が所定値以内であるか否かを判定する。ここで、所定値は、2つのタイマのいずれかが故障しているか否かを判定するための閾値であって、例えば、タイマの精度、計算誤差などに応じて適宜設定することができる。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値より大きければ、タイマA及びCの一方が故障していると判定し(NG)、処理をステップ13へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値以内であれば、タイマA及びCは正常であると判定し(OK)、処理をステップ16へと進める。
ステップ13では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマAの計時結果とタイマEの計時結果とを比較し、その偏差が所定値以内であるか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値より大きいと判定すれば(NG)、処理をステップ14へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値以下であると判定すれば(OK)、処理をステップ15へと進める。
ステップ14では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマAに故障が発生していると特定する。
ステップ15では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマCに故障が発生していると特定する。
ステップ16では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマAの計時結果とタイマEの計時結果とを比較し、その偏差が所定値以内であるか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値より大きいと判定すれば(NG)、処理をステップ17へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計時結果の偏差が所定値以下であると判定すれば(OK)、処理をステップ18へと進める。
ステップ17では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマEに故障が発生していると特定する。
ステップ18では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タイマA,C及びEに故障が発生していないと特定する。即ち、マイクロコンピュータ340のCPU342は、例えば、ノイズ重畳などによって、BIST360が誤診断したと判断する。
(2)入出力回路の故障部位特定
マイクロコンピュータ340は、信号を入出力する複数の端子を備えている。しかし、BIST360は、入出力機能を提供する入出力回路350に故障が発生しているかを診断することができるが、複数の端子のうち、どの端子に割り付けられた入出力機能に故障が発生しているかを特定することができない。そこで、マイクロコンピュータ340のCPU342は、図8に示すように、入出力回路350に内蔵された、ON/OFF指令レジスタ350Aの指令値とその出力をモニタするレベルモニタレジスタ350Bの出力値とを比較することで、故障が発生している端子を特定できる。
なお、マイクロコンピュータ340のCPU342は、図9に示すように、電子回路基板320の入力端子を利用して出力をモニタするレベルモニタレジスタ350Bを使用することもできる。また、入出力機能の故障部位特定は、マイクロコンピュータ340のすべての端子ではなく、制御対象システムに重大な影響を及ぼす端子のみとすることもできる。
図10は、タイマの故障部位を特定する処理の一例を示す。
ステップ21では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ON/OFF指令レジスタ350Aの指令値とレベルモニタレジスタ350Bの出力値とを比較し、指令通りの出力となっているか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、指令通りの出力となっていないと判定すれば(NG)、処理をステップ22へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、指令通りの出力となっていると判定すれば(OK)、処理をステップ23へと進める。
ステップ22では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、診断対象の端子に故障が発生していると特定する。
ステップ23では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、診断対象の端子に故障が発生していないと判定する。
(3)不揮発性メモリの故障部位特定
マイクロコンピュータ340のROM346には、図11に示すように、制御対象システムを制御するタスクのプログラム、例えば、タスク1を格納するタスク格納領域1と、タスク2を格納するタスク格納領域2と、が確保されている。また、ROM346には、タスク格納領域1及び2に格納されたタスク1及び2に夫々関連付けて、そのサム値(基準値)を格納するサム値格納領域1及び2が確保され、そこにタスク1及び2のサム値が格納されている。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、タスク格納領域1及び2に格納されているタスク1及び2のサム値を計算し、これとサム値格納領域1及び2に格納されているサム値とを比較することで、ROM346の記憶領域のうち、データを正常に記憶できない故障部位を特定できる。なお、ROM346の故障部位は、サム値に代えて、例えば、パリティ値などを使用して特定することもできる。
図12は、不揮発性メモリの故障部位を特定する処理の一例を示す。
ステップ31では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、診断対象となるタスク格納領域に格納されているデータのサム値を計算する。
ステップ32では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、タスク格納領域のサム値(計算値)とサム値格納領域のサム値(基準値)とを比較し、両者が一致しているか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計算値と基準値とが一致していないと判定すれば(NG)、処理をステップ33へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、計算値と基準値とが一致していると判定すれば(OK)、処理をステップ34へと進める。
ステップ33では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、診断対象のタスク格納領域に故障が発生していると特定する。
ステップ34では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、診断対象のタスク格納領域に故障が発生していないと特定する。
(4)揮発性メモリの故障部位特定
マイクロコンピュータ340のRAM344の故障部位を特定するために、RAM344のアドレスを指し示すポインタを準備する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、図13に示すように、ポインタが指し示すアドレスにテストデータを書き込み(手順1)、そこからテストデータを読み出す(手順2)。また、マイクロコンピュータ340のCPU342は、RAM344に書き込んだテストデータとRAM344から読み出したテストデータとを比較し、両者が一致しているか否かを介して、RAM344に故障が発生しているか否かを判定する(手順3)。その後、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ポインタを更新する(手順4)。このように、マイクロコンピュータ340のCPU342は、RAM344の先頭アドレスから最終アドレスまで、上記処理を繰り返し実行することで、どのアドレスに故障が発生しているかを特定できる。
図14は、揮発性メモリの故障部位特定を特定する処理の一例を示す。
ステップ41では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタにRAM344の先頭アドレスを設定する。
ステップ42では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタが指し示すアドレスに、テストデータを書き込む。
ステップ43では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタが指し示すアドレスから、テストデータを読み出す。
ステップ44では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、RAM344に書き込んだテストデータ(書込み値)とRAM344から読み出したテストデータ(読出し値)とを比較し、両者が一致しているか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、書込み値と読出し値とが一致していると判定すれば(OK)、処理をステップ46へと進める。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、書込み値と読出し値とが一致していないと判定すれば(NG)、処理をステップ45へと進める。
ステップ45では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタが指し示すアドレスに、例えば、素子固着などの故障が発生していると判定する。その後、マイクロコンピュータ340のCPU342は、処理をステップ46へと進める。
ステップ46では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタがRAM344の最終アドレスを指し示しているか、要するに、RAM344のすべての領域を診断したか否かを判定する。そして、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ポインタがRAM344の最終アドレスを指し示していると判定すれば(Yes)、処理を終了させる。一方、マイクロコンピュータ340のCPU342は、ポインタがRAM344の最終アドレスを指し示していないと判定すれば(No)、処理をステップ47へと進める。
ステップ47では、マイクロコンピュータ340のCPU342が、ポインタを更新、要するに、ポインタがテストデータに対応したRAM344の次のアドレスを指し示すようにする。その後、マイクロコンピュータ340のCPU342は、処理をステップ42へと戻す。
なお、他のハードウエア資源、即ち、CPU342及びA/Dコンバータ352に関しては、例えば、所定のデータを入力した場合の出力データとその期待値とを比較することで、故障が発生しているか否かを診断することができる。また、マイクロコンピュータ340のハードウエア資源は、CPU342、RAM344、ROM346、タイマ348、入出力回路350及びA/Dコンバータ352に限らず、他の機能を提供する要素も含むことができる。
[代替処理]
(1)タイマ
内燃機関100の点火制御では、タイマ348は、図15に示すように、コンペアマッチを利用して、所定のタイミングになったときにON信号を出力している。このタイマ機能を代替するため、マイクロコンピュータ340のCPU342は、図16に示すように、内燃機関100の運転状態に応じたタイミングで、入出力回路350のON/OFF指令レジスタ350Aに0又は1を書き込む。入出力回路350のON/OFF指令レジスタ350Aに1が書き込まれると、その出力信号がONとなり、タイマ348と略同等の機能を発揮することができる。なお、入出力回路350のON/OFF指令レジスタ350Aに0又は1を書き込んだ場合、その出力が変化するまでに多少の時間を要するが、タイマ機能の代替処理としては支障がない程度に抑えることができる。
このようにすれば、図17に示すように、例えば、タイマ348のタイマCに故障が発生すると、タイマCの機能を停止し、入出力回路350から代替信号たる出力信号C’が出力される。このため、タイマ348のすべてのタイマ機能が停止して、例えば、内燃機関100の点火制御が実行できなくなることが回避される。このとき、点火制御に若干の遅れが生じるが、少なくともリンプホーム制御を確保できる程度の制御性は確保することができる。なお、マイクロコンピュータ340の所定の端子が、選択可能な複数の機能を提供するマルチファンクション化されている場合には、この端子の機能を所望の機能に切り替えてもよい。
(2)揮発性メモリ
マイクロコンピュータ340のRAM344は、図18に示すように、領域A,B,・・・及び予約領域に論理的に分割されている。そして、例えば、領域Bに故障が発生すると、マイクロコンピュータ340のCPU342は、領域Bを使用不可にすると共に、予約領域を領域Bの代替領域B’として使用すべく、例えば、領域Bをアクセスするアドレスをオフセットする。
このようにすれば、RAM344の一部に故障が発生すると、その領域の使用が禁止されると共に、その領域の代わりに予約領域が使用される。このため、故障が発生した領域を使用しないことから機能安全を確保しつつ、正常時と略同等の制御を実行することができる。
(3)演算装置(CPU)
マイクロコンピュータ340のCPU342が、図19に示すように、CPU1及び2を備えたマルチコアプロセッサである場合を考える。CPU1及び2は、論理演算、加算及び減算を行う算術論理演算装置ALU(Arithmetic Logic Unit)と、浮動小数点演算を専門に行う浮動小数点演算装置FPU(Floating Point Unit)と、を有する。CPU1において、タスク1−Bを実行していたFPUに故障が発生すると、CPU1のFPUで実行していたタスク1−Bを、CPU2のFPUに移管して実行する。
このようにすれば、CPU342の一部、具体的には、ALU、FPUに故障が発生しても、CPU342がフェイルセーフ処理に移行することがなく、従来と同等な制御性を確保することができる。
従って、電子制御装置300のハードウエア資源に故障が発生しても、故障が発生しているハードウエア資源により提供される機能が他のハードウエア資源で代替されるため、制御対象システムを継続して制御することができる。
ここで、前記実施形態から把握し得る請求項以外の技術的思想について、以下に効果と共に記載する。
(A)前記ハードウエア資源が、少なくとも3つのタイマである場合、前記プロセッサが、少なくとも3つのタイマの計時結果を比較して、故障が発生している前記タイマを特定するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、3つのタイマの計時結果を比較することで、故障が発生しているタイマを特定することができる。
(B)前記ハードウエア資源が、複数の入出力回路である場合、前記プロセッサが、前記入出力回路の指令値と出力値とを比較して、故障が発生している前記入出力回路を特定するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4及び(A)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、入出力回路の指令値と出力値とを比較することで、故障が発生している入出力回路を特定することができる。
(C)前記ハードウエア資源が不揮発性メモリである場合、前記プロセッサが、前記不揮発性メモリにおける所定領域に格納されたデータから求めた計算値と前記不揮発性メモリにおける前記所定領域に格納されたデータの基準値とを比較することで、故障が発生している前記所定領域を特定するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4、(A)及び(B)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、不揮発性メモリの所定領域における計算値と基準値とを比較することで、故障が発生している所定領域を特定することができる。
(D)前記ハードウエア資源が揮発性メモリである場合、前記プロセッサが、前記揮発性メモリの所定アドレスに書き込んだデータと前記揮発性メモリの所定アドレスから読み出したデータとを比較することで、故障が発生している前記揮発性メモリのアドレスを特定するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4及び(A)〜(C)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、揮発性メモリに書き込んだデータと揮発性メモリから読み出したデータとを比較することで、故障が発生している揮発性メモリのアドレスを特定することができる。
(E)前記ハードウエア資源がタイマである場合、前記プロセッサが、前記タイマから出力される信号を、入出力回路から出力される信号で代替するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4及び(A)〜(D)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、入出力回路によってタイマを代替することができる。
(F)前記ハードウエア資源が不揮発性メモリである場合、前記プロセッサが、故障が発生した所定領域のアドレスを、前記不揮発性メモリに確保された予約領域のアドレスにオフセットすることで代替するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4及び(A)〜(E)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、不揮発性メモリの所定領域を代替することができる。
(G)前記ハードウエア資源がマルチコアプロセッサの場合、前記プロセッサが、故障が発生したコアを他のコアで代替するように構成された、ことを特徴とする請求項1〜請求項4及び(A)〜(F)のいずれか1つに記載の電子制御装置。
このようにすれば、マルチコアプロセッサの1つのコアに故障が発生しても、他のコアで代替することができる。
300 電子制御装置
340 マイクロコンピュータ
342 CPU(プロセッサ、ハードウエア資源)
344 RAM(ハードウエア資源)
346 ROM(ハードウエア資源)
348 タイマ(ハードウエア資源)
350 入出力回路(ハードウエア資源)
352 A/Dコンバータ(ハードウエア資源)
360 BIST(診断回路)

Claims (5)

  1. ハードウエア資源の診断回路及びプロセッサが組み込まれたマイクロコンピュータを備えた電子制御装置であって、
    前記プロセッサが、前記診断回路により前記ハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、故障が発生している前記ハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替するように構成された、
    ことを特徴とする電子制御装置。
  2. 前記プロセッサが、前記ハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、ソフトウエアによる診断機能を実行し、前記ハードウエア資源の故障部位を特定するように構成された、
    ことを特徴とする請求項1に記載の電子制御装置。
  3. 前記プロセッサが、前記故障部位を特定したとき、当該故障部位により提供される機能のみを、他のハードウエア資源で代替するように構成された、
    ことを特徴とする請求項2に記載の電子制御装置。
  4. 前記プロセッサが、前記診断回路により故障が発生していると診断したハードウエア資源が未使用であるとき、当該ハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替することを禁止するように構成された、
    ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1つに記載の電子制御装置。
  5. ハードウエア資源の診断回路を内蔵したマイクロコンピュータが、
    前記診断回路により前記ハードウエア資源に故障が発生していると診断したとき、故障が発生している前記ハードウエア資源により提供される機能を、他のハードウエア資源で代替する、
    ことを特徴とする電子制御方法。
JP2015217550A 2015-11-05 2015-11-05 電子制御装置及び電子制御方法 Active JP6407127B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015217550A JP6407127B2 (ja) 2015-11-05 2015-11-05 電子制御装置及び電子制御方法
US15/758,484 US20180259577A1 (en) 2015-11-05 2016-11-02 Electronic control apparatus and method
CN201680049611.2A CN107924355A (zh) 2015-11-05 2016-11-02 电子控制装置及电子控制方法
PCT/JP2016/082656 WO2017078093A1 (ja) 2015-11-05 2016-11-02 電子制御装置及び電子制御方法
DE112016005096.8T DE112016005096B4 (de) 2015-11-05 2016-11-02 Elektronische Steuervorrichtung und elektronisches Steuerverfahren

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015217550A JP6407127B2 (ja) 2015-11-05 2015-11-05 電子制御装置及び電子制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017091047A true JP2017091047A (ja) 2017-05-25
JP6407127B2 JP6407127B2 (ja) 2018-10-17

Family

ID=58662895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015217550A Active JP6407127B2 (ja) 2015-11-05 2015-11-05 電子制御装置及び電子制御方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20180259577A1 (ja)
JP (1) JP6407127B2 (ja)
CN (1) CN107924355A (ja)
DE (1) DE112016005096B4 (ja)
WO (1) WO2017078093A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019012319A (ja) * 2017-06-29 2019-01-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2020009001A (ja) * 2018-07-04 2020-01-16 アズビル金門株式会社 出力端子異常判定装置
JP2020016511A (ja) * 2018-07-25 2020-01-30 三菱電機株式会社 半導体集積回路および回転検出装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7039377B2 (ja) * 2018-04-18 2022-03-22 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及び、プログラム
US11550649B2 (en) 2021-03-17 2023-01-10 Qualcomm Incorporated System-on-chip timer failure detection and recovery using independent redundant timers

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04102930A (ja) * 1990-08-22 1992-04-03 Nec Corp 中央処理装置
JPH1021112A (ja) * 1996-06-27 1998-01-23 Nec Home Electron Ltd マイクロコンピュータ装置
JPH1185560A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Hitachi Koki Co Ltd マイコンボード自己診断装置
JP2000040016A (ja) * 1998-07-22 2000-02-08 Sony Corp 電子回路の自己診断方法および自己診断機能を備えたデジタル式データ処理装置および記録媒体およびワンチップ半導体集積装置
JP2001022608A (ja) * 1999-07-07 2001-01-26 Denso Corp 電子制御装置の検査方法および検査装置
JP2010186242A (ja) * 2009-02-10 2010-08-26 Mitsubishi Electric Corp 計算機システム
WO2011087020A1 (ja) * 2010-01-15 2011-07-21 株式会社日立製作所 組み込み装置及び組み込みシステム
JP2012181564A (ja) * 2011-02-28 2012-09-20 Renesas Electronics Corp 自己診断回路および自己診断方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000187600A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Nec Corp ウオッチドッグタイマ方式
JP4325817B2 (ja) * 1999-04-05 2009-09-02 株式会社日立製作所 ディスクアレイ装置
US7251746B2 (en) * 2004-01-21 2007-07-31 International Business Machines Corporation Autonomous fail-over to hot-spare processor using SMI
US7426708B2 (en) * 2005-01-31 2008-09-16 Nanotech Corporation ASICs having programmable bypass of design faults
JP4456552B2 (ja) * 2005-03-31 2010-04-28 富士通株式会社 動的代替機能を持つ論理集積回路、これを用いた情報処理装置及び論理集積回路の動的代替方法
WO2007055068A1 (ja) * 2005-11-14 2007-05-18 Mitsubishi Electric Corporation メモリ診断装置
US8412981B2 (en) * 2006-12-29 2013-04-02 Intel Corporation Core sparing on multi-core platforms
US8719648B2 (en) * 2011-07-27 2014-05-06 International Business Machines Corporation Interleaving of memory repair data compression and fuse programming operations in single fusebay architecture

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04102930A (ja) * 1990-08-22 1992-04-03 Nec Corp 中央処理装置
JPH1021112A (ja) * 1996-06-27 1998-01-23 Nec Home Electron Ltd マイクロコンピュータ装置
JPH1185560A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Hitachi Koki Co Ltd マイコンボード自己診断装置
JP2000040016A (ja) * 1998-07-22 2000-02-08 Sony Corp 電子回路の自己診断方法および自己診断機能を備えたデジタル式データ処理装置および記録媒体およびワンチップ半導体集積装置
JP2001022608A (ja) * 1999-07-07 2001-01-26 Denso Corp 電子制御装置の検査方法および検査装置
JP2010186242A (ja) * 2009-02-10 2010-08-26 Mitsubishi Electric Corp 計算機システム
WO2011087020A1 (ja) * 2010-01-15 2011-07-21 株式会社日立製作所 組み込み装置及び組み込みシステム
JP2012181564A (ja) * 2011-02-28 2012-09-20 Renesas Electronics Corp 自己診断回路および自己診断方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019012319A (ja) * 2017-06-29 2019-01-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2020009001A (ja) * 2018-07-04 2020-01-16 アズビル金門株式会社 出力端子異常判定装置
JP2020016511A (ja) * 2018-07-25 2020-01-30 三菱電機株式会社 半導体集積回路および回転検出装置
US10969425B2 (en) 2018-07-25 2021-04-06 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor integrated circuit and rotation detection device

Also Published As

Publication number Publication date
CN107924355A (zh) 2018-04-17
WO2017078093A1 (ja) 2017-05-11
DE112016005096B4 (de) 2020-12-24
US20180259577A1 (en) 2018-09-13
DE112016005096T5 (de) 2018-08-02
JP6407127B2 (ja) 2018-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6407127B2 (ja) 電子制御装置及び電子制御方法
JP4491967B2 (ja) 自己診断機能を備えた車両用制御装置及び記録媒体
JP4763109B2 (ja) システムに対する制御装置および制御装置の駆動方法
US5490064A (en) Control unit for vehicle and total control system therefor
US20090319162A1 (en) Method to detect the presence of a liquid-cooled engine supplemental heater
US9494073B2 (en) Method and device for monitoring the function of an exhaust-gas sensor
JP2017151785A (ja) 半導体装置
US8240193B2 (en) Method for operating a sensor
JP6306530B2 (ja) 自動車用電子制御装置
JP6151473B2 (ja) 装置の少なくとも1つのシステムを診断および/または調整する方法
JP5842783B2 (ja) 車両用制御装置
JP4113934B2 (ja) フェールセーフ機能付き情報処理装置
JP2002091834A (ja) Rom診断装置
US8793975B2 (en) Device and method for diagnosing a technical apparatus
JP3846398B2 (ja) 車両制御装置
US8977478B2 (en) Method of setting a control parameter for emissions robustness
US20200005561A1 (en) Method for setting an iumpr of a vehicle, computer program, memory means, control unit and vehicle
JP2009080566A (ja) 車両制御用プログラムおよびプログラム生成方法、プログラム生成装置、及び自動車用制御装置
WO2017002939A1 (ja) 電子制御装置及びスタック使用方法
JP6877475B2 (ja) 電子制御装置及びスタック使用方法
CN118188195A (zh) 发动机的故障诊断方法、装置、电子设备及存储介质
JP2005055967A (ja) Cpu診断システム
JP2022045239A (ja) 電子制御装置
JP6442326B2 (ja) 車両用制御装置
JP3885011B2 (ja) 燃料噴射装置の運転制御方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170920

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180605

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180806

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180810

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180828

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180918

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6407127

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250