JP2017080345A5 - - Google Patents

Description

本発明に係る画像処理装置の一つは、
光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する第一の演算手段と、
前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する第二の演算手段と、
前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、を有する。

また、本発明に係る画像処理装置の一つは、
光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、を有する。

Claims (14)

1. 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
   前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する第一の演算手段と、
   前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
   前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する第二の演算手段と、
   前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、
   を有することを特徴とする画像処理装置。
2. 前記第一の抽出手段は、前記リターデーション画像における前記演算されたリターデーションの値の分布が３５°以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記第一の抽出手段は、前記リターデーション画像に設定するウィンドウ内における前記演算されたリターデーションの値の分布の平均値が閾値以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
4. 前記抽出された偏光解消領域に基づいて、前記被検体の平面方向のマップを生成する画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
5. 前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体の平面方向の複数の位置で深さ方向におけるリターデーションの代表値を特定し、前記特定された代表値を用いてリターデーションマップを生成する画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
6. 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
   前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
   前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、
   を有することを特徴とする画像処理装置。
7. 前記第一の抽出手段は、前記偏光の位相差を示す画像における前記偏光の位相差を示す値が３５°以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
8. 前記第二の抽出手段は、前記演算された偏光の均一性を示す値が閾値以下である領域を、前記偏光解消領域として抽出することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
9. 前記抽出された偏光解消領域を、前記複数の断層信号に基づいて生成された前記被検体の断層輝度画像に重ねて表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
10. 測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉して得た干渉光を分割して得た互いに異なる偏光の光を検出する検出手段を有する光干渉断層撮影装置に通信可能に接続され、
    前記検出された互いに異な偏光の光に基づいて前記断層信号が取得されることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像処理装置。
11. 前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の画像処理装置。
12. 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理方法において、
    前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する工程と、
    前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する工程と、
    前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する工程と、
    前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する工程と、
    を有することを特徴とする画像処理方法。
13. 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理方法において、
    前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する工程と、
    前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する工程と、
    を有することを特徴とする画像処理方法。
14. 請求項１２または１３に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。